CN208422886U - 太阳模拟器校准装置及晶硅组件定位装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型实施例中提供了一种太阳模拟器校准装置及晶硅组件定位装置，该定位装置包括固定支架及连接部件，其中：连接部件设置于固定支架一端，可与太阳模拟器测试面的边框活动连接，固定支架可通过连接部件沿所述太阳模拟器测试面的边框移动；晶硅组件可与固定支架活动连接并沿固定支架移动，晶硅组件的移动方向在测试面内与固定支架的移动方向垂直。本实用新型实施例中的装置可以使得晶硅组件在太阳模拟器的测试面上下左右随意移动，在校准中可以快速准确的将晶硅组件移动至需校准区域，解放了测试人员双手，提高了测试效率，且还可以避免人工托举晶硅组件在校准中出现晃动导致的短路电流采集误差，大幅度提升了太阳模拟器校准的准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及太阳模拟器测试领域，特别是涉及一种太阳模拟器校准装置及晶硅组件定位装置。
背景技术
在太阳能电池片的生产过程中，电池片在出厂前还需要利用太阳模拟器对太阳能电池片进行测试，以保证电池片的质量。测试太阳能电池片的太阳模拟器在进行测试前，还需对该设备进行评级并根据评级结果进行校准，以便于判定模拟器是否符合测试要求。在校准太阳模拟器时，一般是根据IEC 60904-9对太阳模拟器的校准要求，将太阳模拟器的有效测试平面至少分成64格且单格面积不小于400cm2的区域，通过将晶硅组件移动到各单位区域内，与模拟器的公母接头相连接并测试。然后记录每个点测试的短路电流，再通过公式计算模拟器的不均匀性 (Non-uniformity of irradiance)。依据不均匀性的结果，结合给定数据对其进行评级。
目前在对太阳模拟器进行校准时，并没有专用的工具，一般是工作人员手动将晶硅组件托举至指定位置以获取每个区域的短路电流。但是这种人工托举晶硅组件进行测试的方式很难保证测试结果的准确性：其不能保证晶硅组件位置放置的准确性，同时也不能保证晶硅组件与光源始终垂直；且人工托举晶硅组件进行测试费时费力，校准效率低下。
实用新型内容
本实用新型实施例中提供了一种晶硅组件定位装置，用以保证校准的准确性，提升校准效率，所述定位装置包括固定支架及连接部件，其中：
所述连接部件设置于所述固定支架一端，可与太阳模拟器测试面的边框活动连接，所述固定支架可通过所述连接部件沿所述太阳模拟器测试面的边框移动；
晶硅组件可与所述固定支架活动连接并沿所述固定支架移动，所述晶硅组件的移动方向在测试面内与所述固定支架的移动方向垂直。
一个实施例中，所述连接部件设置于所述固定支架底端，与太阳模拟器测试面的下边框活动连接，所述固定支架可通过所述连接部件沿所述太阳模拟器测试面的下边框左右移动；所述晶硅组件可沿所述固定支架上下移动。
一个实施例中，所述固定支架设置有与所述晶硅组件尺寸匹配的内部空间，所述晶硅组件可设置于所述内部空间中。
一个实施例中，所述固定支架还设置有定位销和多个定位槽，所述多个定位槽沿所述晶硅组件移动方向设置于所述固定支架；所述定位销可与所述晶硅组件固定连接，在所述晶硅组件移动至指定位置时，所述定位销可搭接至所述定位槽。
一个实施例中，所述连接部件为与所述太阳模拟器测试面边框契合的卡槽，所述卡槽可卡接于所述太阳模拟器测试面边框。
一个实施例中，所述固定支架为铝合金材质支架。
本实用新型实施例中还提供一种太阳模拟器校准装置，用以保证模拟器符合测试要求，所述太阳模拟器校准装置包括晶硅组件和晶硅组件定位装置。
一个实施例中，所述晶硅组件的表面积等于或大于400cm2。
本实用新型实施例中提供的晶硅组件定位装置，包括用于放置晶硅组件的固定支架和用于将固定支架连接至太阳模拟器测试面的边框，晶硅组件可与固定支架活动连接并可沿固定支架移动，固定支架通过连接部件与太阳模拟器测试面的边框活动连接并可边框移动，晶硅组件与固定支架的移动方向在测试面内垂直。本实用新型实施例中的装置可以使得晶硅组件在太阳模拟器的测试面上下左右随意移动，在校准中可以快速准确的将晶硅组件移动至需校准区域，解放了测试人员双手，提高了测试效率，且还可以避免人工托举晶硅组件在校准中出现晃动导致的短路电流采集误差，大幅度提升了太阳模拟器校准的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
图1是本实用新型实施例中晶硅组件、晶硅组件定位装置及太阳模拟器的结构示意图；
图2是本实用新型实施例中晶硅组件及晶硅组件定位装置的结构示意图；
图3是本实用新型实施例中晶硅组件定位装置的前视图；
图4是本实用新型实施例中晶硅组件定位装置的结构示意图；
图5是本实用新型实施例中晶硅组件定位装置的侧视图；
图6是本实用新型实施例中晶硅组件及定位销的结构示意图；
图7是本实用新型实施例中定位销的结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本实用新型实施例做进一步详细说明。在此，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。
如图1至图3所示，本实用新型实施例中提供了一种晶硅组件定位装置，用以保证校准的准确性，提升校准效率，所述定位装置100包括固定支架101及连接部件102，其中：
所述连接部件102设置于所述固定支架101一端，可与太阳模拟器测试面的边框活动连接，所述固定支架101可通过所述连接部件102沿所述太阳模拟器测试面的边框移动；
晶硅组件200可与所述固定支架101活动连接并沿所述固定支架101 移动，所述晶硅组件200的移动方向在测试面内与所述固定支架101的移动方向垂直。
本实用新型实施例中晶硅组件定位装置的工作原理为：在校准太阳模拟器时，将晶硅组件200连接至本装置根据测试需要将本装置在太阳模拟器测试面内进行移动，通过晶硅组件200获得各个区域的短路电流；在完成一个区域的校准后，只需要将本装置在测试面内再次移动，便可以将晶硅组件200移动至下一个区域。
一个实施例中，定位装置100与太阳模拟器测试面的边框的连接、晶硅组件200与固定支架101的连接可以有多种实施方案。例如，图1 所示，所述连接部件102可以设置于所述固定支架101底端，与太阳模拟器测试面的下边框活动连接，所述固定支架101可通过所述连接部件 102沿所述太阳模拟器测试面的下边框左右移动；所述晶硅组件200可沿所述固定支架101上下移动。再例如，所述连接部件102还可以设置于所述固定支架101左端和/或右端，与太阳模拟器测试面的左边框和/或右边框活动连接，所述固定支架101可通过所述连接部件102沿所述太阳模拟器测试面的左边框和/或右边框上下移动；所述晶硅组件200可沿所述固定支架101左右移动。
一个实施例中，晶硅组件200与固定支架100的活动连接可以有多种实施方案。例如，如图4所示，所述固定支架101设置有与所述晶硅组件200尺寸匹配的内部空间，晶硅组件200可设置于所述内部空间中。实施中，可将晶硅组件200由固定支架101的顶部开口放入其内部空间，由于固定支架101的内部空间尺寸与晶硅组件200的尺寸匹配，可以使得晶硅组件200在移动中也不会改变朝向，有效固定晶硅组件200的朝向。
一个实施例中，为了保证晶硅组件200在上下移动时可以准确移动至需要校准的区域内，还可以在固定支架101上设置定位装置。定位装置的设置可以有多种实施方案。例如，如图4、图5所示，所述固定支架 101沿所述晶硅组件200移动方向上还可以设置有多个定位槽104，为了使得晶硅组件200每次移动的距离相等，且可以准确移动至指定的区域，所述多个定位槽104的间距可以相等；如图2、图6及图7所示，为了使得晶硅组件200在到达指定位置后可以更为稳定的固定，所述固定支架 101还可以设置有定位销103，所述定位销103在所述晶硅组件200移动至指定位置时，可搭接至所述定位槽104。进一步的，定位槽104可以设置于晶硅组件200两侧，当晶硅组件200上下移动，底部与定位槽101 平齐时，晶硅组件200便进入了某一校准区域。置晶硅组件200的底部可以固定连接两个定位销103，两个定位销104可以分别向晶硅组件200 的两侧伸出，当晶硅组件200移动到指定位置时，两个定位销103向两侧伸出，便可以搭接至晶硅组件200两侧的定位槽104中，从而固定晶硅组件200至固定支架101；当需要校准下一区域，再次移动晶硅组件 200时，可以将定位销103缩回，避免妨碍晶硅组件200在固定支架101 的内部空间中上下移动。
一个实施例中，连接部件102与太阳模拟器测试面的下边框活动连接可以有多种方案。例如，图1、图4及图5所示，连接部件102为与所述太阳模拟器测试面下边框契合的卡槽，所述卡槽可卡接于所述太阳模拟器测试面边框，所述固定支架101可通过所述卡槽与所述太阳模拟器测试面下边框活动连接。实施中，卡槽可以呈U形，开口大小与太阳模拟器测试面下边框的宽度契合，即卡槽开口宽度略宽于边框，从而可以将卡槽卡接于边框，使得固定支架101只可以沿测试面的下边框左右移动，有效避免了固定支架101的前后晃动。
一个实施例中，为了使得固定支架101沿所述太阳模拟器测试面的下边框左右移动更为顺滑，减小移动阻力，可以在卡槽与边框卡接处设置滚轮，或是在卡接处覆盖诸如润滑油等摩擦力较小的材质。
一个实施例中，固定支架101材质的选用可以有多种实施方案。例如，由于铝合金材质具有坚固轻盈，不易变形等优点，所述固定支架101 可以为铝合金材质支架。
如图1所示，本本实用新型实施例中还提供一种太阳模拟器校准装置，用以保证模拟器符合测试要求，所述太阳模拟器校准装置包括晶硅组件200和晶硅组件定位装置100。
一个实施例中，晶硅组件200表面积大小的设置可以有多种实施方案。例如，为了使得晶硅组件200可以有效覆盖校准区域，晶硅组件200 的表面积可以等于或大于400cm2。
一个实施例中，为了使得太阳模拟器可以采集得到晶硅组件200的短路电流，还可以将晶硅组件200与太阳模拟器公母接头进行连接。晶硅组件200与太阳模拟器公母接头的连接可有多种实施方案，例如，如图3、图6所示，所述晶硅组件200还设置有与所述太阳模拟器公母接头连接的线缆。当晶硅组件200移动至指定位置后，便可以通过线缆连接太阳模拟器公母接头和晶硅组件200。
综上所述，本实用新型实施例中提供的晶硅组件定位装置，包括用于放置晶硅组件的固定支架和用于将固定支架连接至太阳模拟器测试面的边框，晶硅组件可与固定支架活动连接并可沿固定支架移动，固定支架通过连接部件与太阳模拟器测试面的边框活动连接并可边框移动，晶硅组件与固定支架的移动方向在测试面内垂直。本实用新型实施例中的装置可以使得晶硅组件在太阳模拟器的测试面上下左右随意移动，在校准中可以快速准确的将晶硅组件移动至需校准区域，解放了测试人员双手，提高了测试效率，且还可以避免人工托举晶硅组件在校准中出现晃动导致的短路电流采集误差，大幅度提升了太阳模拟器校准的准确性。
以上所述的具体实施例，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限定本实用新型的保护范围，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种晶硅组件定位装置，其特征在于，所述定位装置(100)包括固定支架(101)及连接部件(102)，其中：
所述连接部件(102)设置于所述固定支架(101)一端，可与太阳模拟器测试面的边框活动连接，所述固定支架(101)可通过所述连接部件(102)沿所述太阳模拟器测试面的边框移动；
晶硅组件(200)可与所述固定支架(101)活动连接并沿所述固定支架(101)移动，所述晶硅组件(200)的移动方向在测试面内与所述固定支架(101)的移动方向垂直。
2.如权利要求1所述的晶硅组件定位装置，其特征在于，所述连接部件(102)设置于所述固定支架(101)底端，与太阳模拟器测试面的下边框活动连接，所述固定支架(101)可通过所述连接部件(102)沿所述太阳模拟器测试面的下边框左右移动；所述晶硅组件(200)可沿所述固定支架(101)上下移动。
3.如权利要求2所述的晶硅组件定位装置，其特征在于，所述固定支架(101)设置有与所述晶硅组件(200)尺寸匹配的内部空间，所述晶硅组件(200)可设置于所述内部空间中。
4.如权利要求3所述的晶硅组件定位装置，其特征在于，所述固定支架(101)还设置有定位销(103)和多个定位槽(104)，所述多个定位槽(104)沿所述晶硅组件(200)移动方向设置于所述固定支架(101)；所述定位销(103)可与所述晶硅组件(200)固定连接，在所述晶硅组件(200)移动至指定位置时，所述定位销(103)可搭接至所述定位槽(104)。
5.如权利要求4所述的晶硅组件定位装置，其特征在于，所述连接部件(102)为与所述太阳模拟器测试面边框契合的卡槽，所述卡槽可卡接于所述太阳模拟器测试面边框。
6.如权利要求1至5任一项所述的晶硅组件定位装置，其特征在于，所述固定支架(101)为铝合金材质支架。
7.一种太阳模拟器校准装置，其特征在于，所述太阳模拟器校准装置包括晶硅组件和如权利要求1至6任一项所述的晶硅组件定位装置。
8.如权利要求7所述的太阳模拟器校准装置，其特征在于，所述晶硅组件(200)的表面积等于或大于400cm2。
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