CN201107386Y

CN201107386Y - 测试电路板

Info

Publication number: CN201107386Y
Application number: CNU2007201822687U
Authority: CN
Inventors: 滕贞勇; 许丽娇; 蒋维棻; 吴永裕; 陈弘伟; 陈辉煌
Original assignee: Princeton Technology Corp
Current assignee: Princeton Technology Corp
Priority date: 2007-11-16
Filing date: 2007-11-16
Publication date: 2008-08-27
Anticipated expiration: 2017-11-16

Abstract

本实用新型揭露一种测试电路板，用来置放一待测试元件，并根据一测试机所产生的多个测试信号对该待测试元件进行测试，该测试电路板包括有一电路基板以及多组基座。电路基板设置有多个插孔。多组插槽设置于该多个插孔上，该多组插槽通过多个连接接口电连接于该待测试元件，用以传递该多个测试信号以对该待测试元件进行测试。本实用新型所述的测试电路板，可有效的节省测试所需的时间，更可提升测试效率。

Description

测试电路板

技术领域

本实用新型相关于测试电路板，尤指一种用来根据一测试机所产生的多个测试信号对一集成电路进行测试的测试电路板。

背景技术

为了确保集成电路(integrated circuit，IC)出货时的品质，在完成制造过程之后，一般都会对每一个IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定此IC是否合格，并据以判断是否可将此IC供应给下游的厂商。

请参阅图1，图1所示为已知技术用来执行IC量产测试的测试架构示意图。在此一测试架构中，是使用测试机(tester)10来作为测试一待测试元件(Device Under Test，DUT)22的工具。其中，待测试元件22可为一待测的集成电路(IC)，而为了测试方便，待测试元件22通常设置于一待测试元件电路板(DUTboard)20上。

然而，测试机10在进行测试时，通常都搭配专属的待测试元件电路板20来进行测试，而且根据不同的待测试元件22，其待测试元件电路板20上的电路也有所不同，待测试元件电路板20上通常包括有一些基本的测试连接端点用以对待测试元件22进行测试，例如：电源端(DPS)、继电器控制端(RELAYCONTROL)、通道端(CHANNEL)、CBIT端、万用孔等等。而，上述的测试连接端点皆是凌乱的散布于待测试元件电路板20的四周，因此制作待测试元件电路板20是相当麻烦的，不仅耗费时间又耗费人力，而且在制作时，有可能会因为将复杂的连接线错误连接而导致必须浪费额外的时间进行除错。此外，当要对不同的待测试元件22进行测试时，必须将相对应于该待测试元件22的专属电路设置在待测试元件电路板20上，此种方式不仅会耗费人力以及时间，相对的亦会提升对待测试元件进行测试所需的成本。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的之一，在于提供一种可提升芯片测试的便利性以及降低测试成本的测试电路板，以解决已知技术所面临的问题。

本实用新型提供一种测试电路板，用来置放一待测试元件，并根据一测试机所产生的多个测试信号对该待测试元件进行测试，该测试电路板包括有一电路基板以及多组基座。电路基板设置有多个插孔。多组插槽设置于该多个插孔上，该多组插槽通过多个连接接口电连接于该待测试元件，多组插槽用以传递该多个测试信号以进一步对该待测试元件进行测试。

本实用新型所述的测试电路板，该电路基板为一印刷电路板。

本实用新型所述的测试电路板，该电路基板上另设置有一乘载板，该乘载板用以乘载该待测试元件。

本实用新型所述的测试电路板，该乘载板设置有多个拴锁孔，该电路基板上则设置有多个拴锁基座，该多个拴锁孔相对应于该多个拴锁基座而设置，其中该乘载板通过该多个拴锁基座以及该多个拴锁孔锁固于该电路基板。

本实用新型所述的测试电路板，该多个拴锁基座以及该多个拴锁孔通过多个拴锁柱相互锁固。

本实用新型所述的测试电路板，该乘载板另设置有多组连接槽，该多组连接槽相对应于该多组插槽而设置，该待测试元件通过该乘载板的该多组连接槽电连接于该多组插槽。

本实用新型所述的测试电路板，该乘载板的该多组连接槽通过该多个连接接口电连接于该多组插槽。

本实用新型所述的测试电路板，该多个连接接口分别为一总线。

本实用新型所述的测试电路板，该待测试元件为一集成电路(Integrated Circuit，IC)。

本实用新型所述的测试电路板，该多组插槽包括有至少一组电源插槽，该至少一组电源插槽耦接于一电源供应模块，该电源供应模块用以提供该测试机对该待测试元件进行测试时所需的电源，而该至少一组电源插槽用以传递该电源。

本实用新型所述的测试电路板，该多组插槽包括有至少一组通道插槽，该至少一组通道插槽用以提供该测试机对该待测试元件进行测试时所需的信号通道。

本实用新型所述的测试电路板，该多组插槽包括有至少一组控制插槽，该测试机所产生的该多个测试信号中则包括有多个控制信号，而该至少一组控制插槽用以传递该多个控制信号以对该待测试元件进行测试。

本实用新型所述的测试电路板，该至少一组控制插槽为继电器控制端插槽。

本实用新型所述的测试电路板，该多组插槽包括有至少一组CBIT插槽，该多个测试信号中包括有多个CBIT测试信号，该至少一组CBIT插槽用以传递该多个CBIT测试信号以对该待测试元件进行CBIT测试。

本实用新型所述的测试电路板，可有效的节省测试所需的时间，更可提升测试效率。

附图说明

图1为已知技术用来执行IC量产测试的测试架构示意图。

图2所示为本实用新型所提出测试电路板的示意图。

图3所示为本实用新型所提出测试电路板的另一实施例的示意图。

具体实施方式

请参阅图2以及图3，图2所示为本实用新型所提出测试电路板的示意图。图3所示为本实用新型所提出测试电路板的另一实施例的示意图。如图2以及图3所示，本实用新型揭露一种测试电路板30，该测试电路30用来置放一待测试元件50，并根据一测试机(图未示)所产生的多个测试信号对该待测试元件50进行测试。于一实施例中待测试元件50为一集成电路(IntegratedCircuit，IC)。测试电路板30包括有一电路基板32以及多组插槽341～344。电路基板32设置有多个插孔324。于一实施例中，电路基板32为一印刷电路板。多组插槽341～344设置于该多个插孔324上，该多组插槽341～344通过多个连接接口(图未示)电连接于该待测试元件50，用以传递该多个测试信号以对该待测试元件50进行测试。于一实施例中，多个连接接口(图未示)分别为一总线。

于一较佳实施例中，电路基板32上更设置有一乘载板60，乘载板60用以乘载该待测试元件50。其中，乘载板60上设置有多个拴锁孔(图未示)，电路基板32上则设置有多个拴锁基座322，该多个拴锁孔(图未示)相对应于该多个拴锁基座322而设置。乘载板60通过该多个拴锁基座322以及该多个拴锁孔(图未示)锁固于该电路基板32上。此外，于另一实施例中，多个拴锁基座322以及多个拴锁孔(图未示)通过多个拴锁柱62相互锁固，多个拴锁柱62穿置于乘载板60的多个拴锁孔(图未示)，并进一步锁固于电路基板32上的多个拴锁基座322，借此即可将乘载板60锁固于电路基板32上。

而，乘载板60另外还设置有多组连接槽641～644，该多组连接槽641～644相对应于该多组插槽341～344而设置，该待测试元件50通过乘载板60的多组连接槽641～644电连接于该多组插槽341～344。于一实施例中，乘载板60的多组连接槽641～644通过该多个连接接口(图未示)电连接于该多组插槽341～344。

其中，多组插槽341～344包括有至少一组电源插槽341，该至少一组电源插槽341连接于一电源供应模块(图未示)，电源供应模块(图未示)用以提供该测试机(图未示)对该待测试元件50进行测试时所需的电源。而该至少一组电源插槽341则用以传递该电源。于另一实施例中，多组插槽341～344包括有至少一组通道插槽342，该至少一组通道插槽342用以提供该测试机(图未示)对该待测试元件50进行测试时所需的信号通道。此外，多组插槽341～344包括有至少一组控制插槽343，其中该测试机(图未示)所产生的该多个测试信号中则包括有多个控制信号，而该至少一组控制插槽343用以传递该多个控制信号以对该待测试元件进行测试。其中该测试机(图未示)所产生的该多个控制信号可用以控制该待测试元件50进行各种不同的测试。于一具体实施例中，该至少一组控制插槽343为一组继电器控制端插槽。于另一实施例中，该多组插槽341～344包括有至少一组CBIT插槽344，该多个测试信号中包括有多个CBIT测试信号，该至少一组CBIT插槽344用以传递该多个CBIT测试信号以对该待测试元件50进行CBIT测试。

于上述实施例中，是举具有四个电源插槽341且每个电源插槽341皆有使用的状况为例，因此连接槽641的数目亦相对应为四个(图3中仅示出3个连接槽641)，才能相对连接电源插槽341。相同的，本实施例中是举仅需使用一个控制插槽343的状况为例，所以只需相对应具有一个连接槽643即可，因此，多组连接槽641～644的个数可随着实际状况而增加或减少。

在本实用新型的各个实施例中，本实用新型的测试电路板设计成能符合各种不同类型的待测试元件的测试电路板(即为一般所称的公板)，将测试电路板上所有连接到测试机的连接插槽分区分类进行设置，然后再将分类分区好的连接点集中到对应的基座，如此只需使用本实用新型的测试电路板再搭配对应各个待测试元件所需要的电路的载板(即为一般所称的子板)结合在一起，这样只需在不同产品的子板上做变化的就可以重复使用公板降低成本及人力制作及时间。相较于已知技术的测试架构，本实用新型各实施例的测试架构可以有效的节省测试所需的时间，更可以提升测试效率，这些都是本实用新型优于已知技术的特点。

以上所述仅为本实用新型较佳实施例，然其并非用以限定本实用新型的范围，任何熟悉本项技术的人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，可在此基础上做进一步的改进和变化，因此本实用新型的保护范围当以本申请的权利要求书所界定的范围为准。

附图中符号的简单说明如下：

30：测试电路板

32：电路基板

50：待测试元件

60：乘载板

62：栓锁柱

322：栓锁基座

324：插孔

341～344：插槽

641～644：连接槽。

Claims

1.一种测试电路板，其特征在于，用来置放一待测试元件，并根据一测试机所产生的多个测试信号对该待测试元件进行测试，该测试电路板包括有：

一电路基板，该电路基板设置有多个插孔；以及

多组插槽，设置于该多个插孔上，该多组插槽通过多个连接接口电连接于该待测试元件，用以传递该多个测试信号以对该待测试元件进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，该电路基板为一印刷电路板。

3.根据权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，该电路基板上另设置有一乘载板，该乘载板用以乘载该待测试元件。

4.根据权利要求3所述的测试电路板，其特征在于，该乘载板设置有多个拴锁孔，该电路基板上则设置有多个拴锁基座，该多个拴锁孔相对应于该多个拴锁基座而设置，其中该乘载板通过该多个拴锁基座以及该多个拴锁孔锁固于该电路基板。

5.根据权利要求4所述的测试电路板，其特征在于，该多个拴锁基座以及该多个拴锁孔通过多个拴锁柱相互锁固。

6.根据权利要求3所述的测试电路板，其特征在于，该乘载板另设置有多组连接槽，该多组连接槽相对应于该多组插槽而设置，该待测试元件通过该乘载板的该多组连接槽电连接于该多组插槽。

7.根据权利要求6所述的测试电路板，其特征在于，该乘载板的该多组连接槽通过该多个连接接口电连接于该多组插槽。

8.根据权利要求7所述的测试电路板，其特征在于，该多个连接接口分别为一总线。

9.根据权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，该待测试元件为一集成电路。

10.根据权利要求7所述的测试电路板，其特征在于，该多组插槽包括有至少一组电源插槽，该至少一组电源插槽耦接于一电源供应模块，该电源供应模块用以提供该测试机对该待测试元件进行测试时所需的电源，而该至少一组电源插槽用以传递该电源。

11.根据权利要求7所述的测试电路板，其特征在于，该多组插槽包括有至少一组通道插槽，该至少一组通道插槽用以提供该测试机对该待测试元件进行测试时所需的信号通道。

12.根据权利要求7所述的测试电路板，其特征在于，该多组插槽包括有至少一组控制插槽，该测试机所产生的该多个测试信号中则包括有多个控制信号，而该至少一组控制插槽用以传递该多个控制信号以对该待测试元件进行测试。

13.根据权利要求12所述的测试电路板，其特征在于，该至少一组控制插槽为继电器控制端插槽。

14.根据权利要求7所述的测试电路板，其特征在于，该多组插槽包括有至少一组CBIT插槽，该多个测试信号中包括有多个CBIT测试信号，该至少一组CBIT插槽用以传递该多个CBIT测试信号以对该待测试元件进行CBIT测试。