CN200965557Y - 电子元件检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种电子元件检测装置，包括设有发射件及接收件的承载件，以及与该发射件及该接收件相连接的处理单元，且于该发射件及该接收件之间形成一光信号传输路径，通过该处理单元提供光信号至该发射件，以令该光信号自该发射件发射至该光信号传输路径，并分析由该接收件接收该光信号的信号状态，以将该信号状态转换为电信号，从而检测设于电子元件上的待测部的设置态样是否正确。

Description

电子元件检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种检测装置，更具体地，涉及一种检测电子元件设置状态的电子元件检测装置。

背景技术

一般操作人员将该电源插座装载于电路板上后且对该电源插座进行焊接操作之前，需进行电子元件的检测步骤，以检测该电源插座组设于电路板上的设置态样是否正确，即检测其是否存在例如漏插或极性插反等情形，并于产生漏插或极性插反等情形时，可及时更正，以确保电子元件可正确地装载于电路板上。

请参阅图1，其是显示现有电子元件检测装置的示意图，如图所示，该电子元件检测装置包括装置承板10以及多设于该装置承板10上的弹性探针11，该多弹性探针11是以邻近且交错地排列，以可使该多弹性探针11于初始状态下相互分离。而该弹性探针11包括弹性部111，以及与该弹性部111连接的探针112，当该多弹性探针11的探针112相互接触时，则显示为短路信号；当该多弹性探针11的探针112相互分离时，则显示为开路信号，另外，该弹性探针11可与远端的信号生成设备(未予以图示)电性连接。

欲当通过该电子元件检测装置对待测电路板100进行电子元件的检测时，将该电子元件检测装置置于该待测电路板100上，并令该多弹性探针11中设置较低者对应该电路板100上应设置电子元件的位置处，若该待测电路板100上的电子元件漏插，该多弹性探针11则保持分离状态，并于远端信号发生设备上显示为开路信号；若该电子元件装设于待测电路板100上，该多弹性探针11因受到该电子元件的止档而弹性活动使其相互接触，并于远端信号发生设备上显示为短路信号，由此可令测试人员检测待测电路板100是否存在漏插电子元件、以及电源插座等具正负极性端的电子元件是否存在极性插反等情形以及检测例如的情形发生，避免测试人员以目视检测电子元件所导致检测错误频发的情形。

然而，上述多弹性探针的弹性件往往会因多次使用或其他因素而导致其弹性疲劳，或是因该多弹性探针始终保持接触，即使当存在电子元件漏插情形时，于远端信号发生设备上显示为短路信号，也使测试人员误以为电子元件是按要求设于电路板上，未能及时发现漏插情形，或因使用不当令弹性探针的探针于进行上下活动过程中可能会因受外力作用而相互卡制在一起，且于后续操作中无法分离，同样产生上述因无法分离而导致无法检测电子元件是否设置正确的问题。

因此，如何提供一种可提供快速且正确检测电子元件设置态样的电子元件检测装置，乃是目前需要解决的问题。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的主要目的在于提供一种快速且正确检测电子元件设置态样的电子元件检测装置。

本实用新型的另一目的在于提供一种结构简单且便于操作的电子元件检测装置。

为达上述及其他目的，本实用新型提供一种电子元件检测装置，用以检测设于电子元件上的待测部的设置状态，该电子元件检测装置包括具有多定位孔的承载件、发射件、接收件以及处理单元，该发射件与该接收件分别穿设于该定位孔中，以固设于该承载件上，且该接收件设于对应该发射件，以于与该发射件之间形成一光信号传输路径，而该处理单元分别与该发射件及该接收件相连接，用以提供光信号至该发射件，以令该光信号自该发射件发射至该光信号传输路径，使该接收件接收经由该发射部发射至该光信号传输路径的光信号的信号状态，并分析由该接收件接收该光信号的信号状态，以将该信号状态转换为电信号，供检测设置于该电子元件的待测部的设置状态是否正确。

本实用新型的电子元件检测装置主要是避免如现有技术般因利用传统弹性探针易发生自身弹性疲劳及相互间卡制等物理故障造成使用不便，进而误导该待测电子元件的设置状态测试错误的问题，避免如现有技术般因利用传统弹性探针易发生自身弹性疲劳及相互间卡制等物理故障造成使用不便，进而误导该待测电子元件的设置状态测试错误的问题。

再者，本实用新型的电子元件检测装置的结构简单，以便于组装并易于操作，且由于该发射件与该接收件是可为相隔一定距离地正对设列，从而避免如现有技术般因利用二探针的相互作用及接触，易造成探针发生结构变形并进而导致检测错误的缺点。

附图说明

图1是显示现有电子元件检测装置的示意图；

图2是显示本实用新型的该电子元件检测装置示意图；

图3是显示本实用新型的该电子元件检测装置的第一实施例示意图；以及

图4是显示本实用新型的该电子元件检测装置的第二实施例示意图。

主要元件符号说明

10  装置承板

100 电路板

11  弹性探针

111 弹性部

112 探针

20  承载件

200 定位孔

21  发射件

210 发射部

22  接收件

220 接收部

23  处理单元

30  电子元件

300 待测部

301、302  极性端

具体实施方式

以下通过特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容轻易地了解本实用新型的其他优点及功效。本实用新型也可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同的观点与应用，在不背离本实用新型的精神下进行各种修饰与变更。

请参阅图2，显示本实用新型的该电子元件检测装置示意图，如图所示，该电子元件检测装置包括承载件20、发射件21、接收件22以及处理单元23，用以检测设于电子元件上的待测部的设置状态。

该承载件20具有多定位孔200，用以供该发射件21及该接收件22穿设固定于该承载件20上，其中，该承载件20可为一般金属治板或其他复合材料制成。

该发射件21是穿设于该定位孔200中，以固设于该承载件20上，该发射件21可为侧视式光纤模块，且具有一发射部210，设于该发射件21的一端位置处，用以发射光信号。

该接收件22是穿设于该定位孔200中，并设于对应该发射件21上，以于与该发射件21之间形成一光信号传输路径，该接收件22可为侧视式光纤模块，且于该接收件22的底端位置处具有接收部220，用以接收经由该发射部210发射至该光信号传输路径的光信号的信号状态。

该处理单元23是分别与该发射件21及该接收件22相连接，用以提供光信号至该发射件21，以令该光信号自该发射件21发射至该光信号传输路径，并分析由该接收件22接收该光信号的信号状态，以将该信号状态转换为电信号，供检测设置于该电子元件的待测部的设置状态是否正确，其中，该处理单元23是可为光纤感测器，通过光纤导线连接该发射件21及接收件22，且该处理单元23复可显示该所转换的电信号，以供测试人员参考。

须注意的是，上述该承载件20复可依据该电子元件的待测部设置位置而采用平移或上下调整，以使该待测部位于该发射件21与该接收件22所形成的光信号传输路径上，以供该光信号照射至该待测部。另外，该发射件21与该接收件22可为相隔一定距离地正对设列，从而避免如现有技术般因利用二探针的相互作用及接触，易造成探针发生结构变形并进而产生检测错误的问题。

请继续参阅图3，其为本实用新型的该电子元件检测装置的第一实施例示意图，如图所示，是将设有待测元件300的电子元件30置放于该发射件21与该接收件22所形成的光信号传输路径上，通过处理单元23产生一光信号，并经由该发射件21自该发射部210射出，以令该光信号照射至该待测元件300，再通过该接收件22的接收部220接收经由该待测部300的光信号的信号状态，令该处理单元23依据该接收件22所接收的光信号的信号状态进行分析，以将该光信号的信号状态转换为电信号，从而检测设置于该电子元件30上的待测部300的设置态样是否正确。

其中，该电信号是指当该光信号受到待测部300阻隔时为非零状态，并由该处理单元23进行光电转换以将为非零状态的光信号状态转换为开路信号；而当该光信号未受到待测部300阻隔时为零状态，通过该处理单元23进行光电转换以将该零状态的光信号状态转换为短路信号，其表示该待测部300可能存在漏插错误、或极性插反等情形。

请继续参阅图4，其为本实用新型的该电子元件检测装置的第二实施例示意图，如图所示，于本实施例中，该电子元件30是可例如电源插座，其待测部300为具有高度不一致以表征正、负极性的二极性端301、302，因此，该发射件21及该接收件22的设置位置是对应于该待测部300的高度较高的极性端301，且其设置高度是可确保该发射件21所产生的光信号可穿越该该待测元件300的高度较低的极性端302而被该待测部300的高度较高的极性端301所阻隔，故于进行检测时，若该光信号为短路信号时，则表示该待测部300是可能存在极性插反的错误。

综上所述，本实用新型的电子元件检测装置，其主要是包括设有发射件及接收件的承载件，以及与该发射件及该接收件相连接的处理单元，且于该发射件及该接收件之间形成一光信号传输路径，通过该处理单元提供光信号至该发射件，以令该光信号自该发射件发射至该光信号传输路径，并分析由该接收件接收该光信号的信号状态，以将该信号状态转换为电信号，从而检测设于电子元件上的待测部的设置态样是否正确，避免如现有技术般因利用传统弹性探针易发生自身弹性疲劳及相互间卡制等物理故障造成使用不便，进而误导该待测电子元件的设置状态测试错误的问题，避免如现有技术般因利用传统弹性探针易发生自身弹性疲劳及相互间卡制等物理故障造成使用不便，进而误导该待测电子元件的设置状态测试错误的问题。

再者，本实用新型的电子元件检测装置的结构简单，以便于组装并易于操作，且由于该发射件与该接收件是可为相隔一定距离地正对设列，从而避免如现有技术般因利用二探针的相互作用及接触，易造成探针发生结构变形并进而导致检测错误的缺点。

上述实施例仅为例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新型，也即，本实用新型事实上仍可作其他改变，举例来说，该电子元件检测装置也可设于该可携式电子装置的二机体的侧端。因此，任何本领域技术人员均可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修改。因此本实用新型的权利保护范围，应如后述的权利要求书所列。

Claims (8)

1.一种电子元件检测装置，用以检测设于电子元件上的待测部的设置状态，其特征在于，该电子元件检测装置包括：

承载件；

发射件，设于该承载件上，用以发射光信号；

接收件，设于对应该发射件的承载件上，用以接收经由该发射件发射至于该光信号传输路径上的光信号的信号状态，并于与该发射件间形成光信号传输路径，从而令该电子元件的待测部位于该光信号传输路径中；以及

处理单元，分别与该发射件及该接收件连接，用以提供光信号至该发射件，并分析由该接收件接收该光信号的信号状态，以将该信号状态转换为电信号，供检测该待测部的设置状态。

2.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，该发射件具有一用以发射光信号的发射部。

3.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，该接收件具有接收部，以供接收经由该发射部发射至于该光信号传输路径上的信号状态。

4.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，该承载件具有多个用以供该发射件及该接收件穿设的定位孔。

5.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，该电信号是开路信号及短路信号的其中之一。

6.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，该电子元件包括具有正、负极性的电源插座。

7.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，该发射件及接收件为侧视式光纤模块。

8.根据权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于，该处理单元为光纤感测器。

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