CN1963531A - 可快速更换电子零件的探针卡 - Google Patents
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Abstract
一种可快速更换电子零件的探针卡，包括有一电路板、复数个探针以及复数个容置座，电路板布设有电子电路并具有复数个用以连接被动组件的电性节点；探针为电性连接于电子电路，探针卡通过由探针对待测组件做电性量测；各容置座设有二具导电性的固接件，分别设于上述的电性节点上，各容置座形成有一容置部与至少一开口，容置部可用以容置上述的被动组件，使各被动组件与所对应的二固接件为电性导通，透过开口可换置各被动组件。
Description
技术领域
本发明是与探针卡有关，特别是指一种便于更换电子零件的探针卡。
背景技术
现有探针卡上的电子零件如电阻、电容等被动(passive)组件，是以焊接方式将其导电部位或金属引脚固设于电路板上，容易因焊接高温而使电路中其它组件受到高温的影响，因而改变组件原本应有的特性，间接导致探针卡的电性偏移，使探针卡用以电性量测时失去应有的准确性及可靠度(reliability)。
另外，探针卡于长时间使用后也会因为电路中的热消耗而使温度升高，因此经过多次量测使用后难免电子零件特性有所偏移，同样使探针卡用以电性量测时失去应有的准确性及可靠度；特别是，一般以探针卡量测电子组件时，不仅为正常电压或温度条件下的电测操作，往往也需测试电子组件于高、低温或高电压、电流操作时的特性，甚至做升温或升压等冲击(stress)下的破坏性检测，如此使探针卡上的电子零件也运作于恶劣的测试条件下，大幅缩减了该些电子零件的耐用寿命(lifetime)，因此探针卡上的电子零件需时常更新以维持电测应有的准确性；然更换电子零件的方式除了重新置换整个探针卡之外，则将焊接于探针卡上的电子零件先解焊再重新焊上新的零件，不但同样面临上述高温焊接的缺点，且重焊的作业费时又不具可靠性。
发明内容
因此，本发明的主要目的乃在于提供一种可快速更换电子零件的探针卡，不但方便于探针卡上电子零件的汰旧换新，且减少高温焊接对探针卡的影响，进而维持探针卡的电测品质。
本发明的另一目的乃在于提供一种可快速更换电子零件的探针卡，具有良好的散热功用以及减少探针卡中电路的热消耗功率，进而可延长电子零件的耐用寿命。
为达成前揭目的，本发明所提供一种可快速更换电子零件的探针卡，包括有一电路板、复数个探针以及复数个容置座，该电路板布设有电子电路并具有复数个用以连接被动组件的电性节点；该些探针为电性连接于该电子电路，该探针卡通过由该些探针对待测组件做电性量测；各该容置座设有二具导电性的固接件，分别设于上述的电性节点上，各该容置座形成有一容置部与至少一开口，该容置部可用以容置上述的被动组件，使各该被动组件与所对应的二该固接件为电性导通，透过该开口可换置各该被动组件。
以下，兹配合图示列举若干较佳实施例，用以对本发明的结构与功效作详细说明，其中所用图示的简要说明如下：
附图说明
图1是本发明所提供第一较佳实施例的结构示意图；
图2是上述较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图3是第二较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图4是第三较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图5是第四较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图6是第五较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图7是第六较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图8是第七较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图9是第八较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图10是第九较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图11是第十较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图12是第十一较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图13是第十二较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图14是第十三较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
图15是第十四较佳实施例所提供容置座的结构立体图；
【主要组件符号说明】
1探针卡
10电路板 11电子电路
110电性节点 20探针
21座体 22针头
30、50、51、52、60、70、80、90容置座
31、37、63固接件 310、630、840、850连接部
311卡榫 312箝制部
313、630插接部 314弹片
32底座 33、62、810上盖
331套孔 34、341、64、82容置部
35、351、65、83开口 36插座
370连接座 371锁片
372螺 40电子零件
41接点 61、81绝缘座体
631、841、851导电部 71绝缘底座
72、84第一固接件 73、85第二固接件
具体实施方式
请参阅图1所示本发明所提供的第一较佳实施例，为一探针卡1的装置示意图，具有一电路板10、多数个探针20、多数个容置座30以及各该容置座30中所设置的各电子零件40，其中：
该电路板10是布设有电子电路11，该电子电路11的布局(layout)有多个电性节点110，用以电性连接电阻、电容或电感等任一被动组件。
各该探针20是包括有一座体21以及一针头22，该电子电路11透过各座体21电气连接于针头22，使该探针卡1可将各该针头22与待测组件(图中未示)接触，并通过由该电子电路11与量测用机台(图中未示)相电气连接，因此对该待测组件做电性量测。
各该容置座30为对应设置于相邻二该电性节点110上，是具有相对的二固接件31、一底座32、一上盖33以及之间所形成的一容置部34，图2参照，且该上盖33为可拆卸式的结构，使于该容置部34上方具有一开口35，因此可透过开口35容置各该电子零件40并方便替换，各该电子零件40则为上述的被动组件，具有用以传导电性的二接点41，分别与各该固接件31相接触以作电性连接，以下是针对该容置座30的细部功能结构做更进一步的描述：
该二固接件31为具导电性的金属材料，并以该底座32作为连接该二固接件31的支撑材，该底座32为不具导电性的绝缘材料以免该二固接件31相互电性短路；该二固接件31由下而上分别设有一连接部310、一箝制部312以及一卡榫311，各该连接部310用以焊接于上述的各该电性节点110，各该箝制部312为以锯齿状的结构相对设置，可用以箝制各该电子零件40，该上盖33并有二套孔331可分别对应于各该卡榫311而相套设，使该二固接件31相对固定而避免因金属受热或外力影响发生形变导致电子零件40松脱，该上盖33同样需具有不使该二固接件31相互电性短路的特性。
因此将各该固接件31的连接部310焊接于电子电路11的电性节点110，使各该容置座30固设于电路板10上，再将适当的各电子零件40置入容置部34，则可通过由二固接件31的金属材料特性，使该电子零件40与该电子电路11为电性导通，达到该探针卡1电性量测的功用；由于各电子零件40未经直接焊接的高温影响，可确保其电性品质，且通过由以各该固接件31传导电性的连接方式，较之于现有直接以电子零件的金属引脚连接，具有更大的电性传导面积可降低电流传导线路中的寄生电性阻抗，因此减少整体电路板10的热消耗功率，并且利用大面积范围的金属散热作用，可辅助电路板10使用状态时的散热，进而延长各该电子零件40的耐用寿命；而当该探针卡1经过长时间使用或做过高温高压等冲击性测试后，欲更换部分的该电子零件40时，则将容置座30的上盖33移开，对各固接件31的卡榫311部位或附近稍微施以反向相背的力，使撑开容置部34的空间，因此可轻易自开口35取出所欲更换的电子零件40，重新置入电性稳定正常的电子零件40，同样不须经过焊接的高温影响，以使该探针卡1维持准确的电性量测。
如图3是本发明第二较佳实施例所示的容置座50，其异于第一较佳实施例中容置座30的各固接件31以连接部310直接焊接于电性节点110的设计，先将一插座36焊接于电性节点110，各固接件31改采为以一插接部313插设于一插座36上，由于该插座36同为具导电性的金属材料，故亦可使电子零件40与电性节点110为电性导通，如此不但电子零件40可方便替换，因此本实施例除了插座36外其余零件亦可替换更新，使更能有效达成本发明的目的。
如图4是本发明第三较佳实施例所示的容置座51，其中原先各固接件31是改为一弹片314，该弹片314侧边同样有凹凸状的箝制结构可使固定电子零件40，且通过由弹片314可伸缩的弹性使容置部34的空间随电子零件40大小变化而能有效固定电子零件40以避免松脱，更能有效达成本发明的目的；如图5是本发明第四较佳实施例，其不同于上述实施例为该容置座亦可利用上述插座36的应用结构，本实施例除了插座36外其余零件亦可替换更新。
如图6是本发明第五较佳实施例所示的容置座52，是改采为以锁设方式的二固接件37，各该固接件37具有一连接座370、一锁片371及一螺丝372，其中二连接座370、二锁片371及底座32之间形成有一容置部341，将电子零件40置于二连接座370上再以二锁片371抵制电子零件40，并锁入二螺丝372，则可稳固夹置电子零件40，连接座370及锁片371同为具导电性的金属材料，因此将连接座370焊接于电性节点110上可使电子零件40与电子电路11为电性导通；欲更换电子零件40时仅需将二螺丝372旋松并稍微将二锁片371向上撑开即可由容置部341两侧所形成的开口351取出或置入电子零件40，更能有效达成本发明的目的；如图7是本发明第六较佳实施例，其不同于上述实施例为当然该容置座亦可利用上述插座36的应用结构而同样具有可替换的功能。
请参阅图8是本发明第七较佳实施例所示的容置座60，包含有一绝缘座体61及一上盖62形成的封闭空间，并有沿绝缘座体61侧边所布设的二固接件63，该封闭空间为可放置电子零件40的一容置部64，且由于该上盖62为可拆卸式的结构，使于该容置部64上方具有一开口65，因此可透过开口65容置各该电子零件40并方便替换，该二固接件63同样为具导电性的金属材料，以一连接部630焊接于电性节点110，并以延伸至容置部64底层的一导电部631与电子零件40电性接触，各导电部631并无相互接触以免电性短路；因此当电子零件40内置于该容置座60时，则不易受到其它杂物的污染，能保持电子零件40的组件品质，更能有效达成本发明的目的；如图9是本发明第八较佳实施例，其不同于上述实施例为该容置座亦可利用上述插座36的应用结构而同样具有可替换的功能；如图10是本发明第九较佳实施例的容置座70，其不同于上述实施例，是以更佳金属散热功能的考量时，而具有一绝缘座体71，其仅于一侧设有侧壁，且一第一固接件72是直接横向凸伸置设于绝缘座体71，一第二固接件73是攀沿该绝缘座体71的侧壁后置设于绝缘座体71内，且该第二固接件73则将金属材质厚度增加；如图11是本发明第十较佳实施例，其不同于上述实施例为该容置座亦可利用上述插座36的应用结构而同样具有可替换的功能。
请参阅图12所示本发明第十一较佳实施例的容置座80，具有一绝缘座体81及一上盖810所形成的封闭空间，该封闭空间为可放置电子零件40的一容置部82，且由于该上盖810为可开启或关闭的结构，使于该容置部82上方具有一开口83，因此可透过开口83容置各该电子零件40并方便替换，该容置座80并有一第一及一第二固接件84、85，同样为具导电性的金属材料，该第一固接件84以一连接部840焊接于电性节点110，并以一导电部841穿入该绝缘座体81底部且沿着该容置部82底层而设置，该第二固接件85以一连接部850焊接于电性节点110，并沿着该绝缘座体81外侧而设置且以一导电部851延伸至该上盖810的底层；因此当电子零件40内置于该容置座80时，则与各该固接件84、85的导电部841、851电性导通，并不易受到其它杂物的污染，因此能保持电子零件40的组件品质，更能有效达成本发明的目的；如图13是本发明第十二较佳实施例，其不同于上述实施例为当然该容置座亦可利用上述插座36的应用结构而同样具有可替换的功能；再如图14是本发明第十三较佳实施例的容置座90，其不同于上述实施例为开口83的位置方向亦可变更而不限定由上方置入电子零件40的方式，是将原本以上方开口的该容置座80结构改为横向开口的结构；再如图15是本发明第十四较佳实施例的容置座，其不同于上述实施例为该容置座亦可利用上述插座36的应用结构而同样具有可替换的功能。
以上所述，仅为本发明的较佳可行实施例而已，故举凡应用本发明说明书及申请专利范围所为的等效结构变化，理应包含在本发明的专利范围内。
Claims (15)
1.一种可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，包括有：
一电路板，布设有电子电路，该电路板具有复数个用以连接被动组件的电性节点；
复数个探针，电性连接于该电子电路，该探针卡通过由该些探针对待测组件做电性量测；以及
复数个容置座，各该容置座设有二具导电性的固接件，分别设于上述的电性节点上，各该容置座形成有一容置部与至少一开口，该容置部可用以容置上述的被动组件，使各该被动组件与所对应的二该固接件为电性导通，透过该开口可换置各该被动组件。
2.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，相邻的二该固接件之间有一底座用以连接并支撑该二固接件，该底座为不具导电性的绝缘材料。
3.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述该容置部及该开口是由该二固接件所形成。
4.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述各该固接件具有一连接部及一箝制部，该连接部用以焊接于各该电性节点。
5.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述各该固接件具有一箝制部，且各该箝制部为锯齿状，用以箝制各该被动组件。
6.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述各该固接件具有一卡榫，各该容置座更包含有一上盖，该上盖设有二套孔分别对应套置于该二固接件的各卡榫，使该二固接件相对固定而避免各该被动组件松脱。
7.依据权利要求6所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述该上盖为可拆卸式的结构，使该上盖拆卸后于该容置部上方形成有该开口。
8.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述各该被动组件具有用以传导电性的二接点，分别与该容置座的各该固接件相接触以作电性连接。
9.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述各该固接件为具有弹性的金属弹片，使该容置部的空间可随被动组件的大小而变化。
10.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述各该固接件具有一连接座、一锁片及一螺丝，各该容置部为形成于二该连接座及二该锁片之间，各该螺丝为用以锁设所对应的各该连接座及锁片。
11.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述该容置座更具有一绝缘座体，各该绝缘座体并设有一上盖，该二固接件是设置于各该绝缘座体上且相互非为电性短路，各该容置部是位于各该绝缘座体内，该上盖并为可拆卸的结构使形成唯一的该开口。
12.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述该二固接件是沿绝缘座体的侧边所布设并分别具有一连接部及一导电部，各该连接部为焊接于电性节点，各该导电部并延伸至容置部底层与各该被动组件电性接触。
13.依据权利要求11所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述该绝缘座体于一侧设有侧壁，且其中一该固接件是直接横向凸伸置设于绝缘座体，另一该固接件是攀沿该绝缘座体的侧壁后置设于绝缘座体内。
14.依据权利要求11所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述一该固接件以一连接部焊接于电性节点，并以一导电部穿入该绝缘座体底部且沿着该容置部底层而设置，另一该固接件以一连接部焊接于电性节点，并沿着该绝缘座体外侧而设置且以一导电部延伸至该上盖的底层
15.依据权利要求1所述可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，所述探针卡更具有复数个插座，各该插座为焊接于各电性节点，各该固接件具有一插接部，各该固接件是以插接部对应插设于各插座上，且各该插座为具导电性的金属材料所制成。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN200510120307A CN1963531B (zh) | 2005-11-08 | 2005-11-08 | 可快速更换电子零件的探针卡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN200510120307A CN1963531B (zh) | 2005-11-08 | 2005-11-08 | 可快速更换电子零件的探针卡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN1963531A true CN1963531A (zh) | 2007-05-16 |
| CN1963531B CN1963531B (zh) | 2010-05-26 |
Family
ID=38082670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN200510120307A Expired - Fee Related CN1963531B (zh) | 2005-11-08 | 2005-11-08 | 可快速更换电子零件的探针卡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN1963531B (zh) |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
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