CN1950705B - 分析装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种分析装置(1)，其包括：用于载置分析用具(2)的载置部(11)，和用于进行分析用具(2)的测光的测光部(7)。在该分析装置(1)中，载置部(11)以分析用具(2)的试剂垫(20)的列朝向左右方向(D3、D4)的方式，载置分析用具(1)。测光部(7)设置在载置部(11)的里侧。而且，在多个试剂垫(20)在左右方向(D3、D4)上排列的状态下，向着测光部(7)，从前面将载置在载置部(11)上的分析用具(2)搬送至里侧(D1方向)。

Description

分析装置

技术领域

本发明涉及一种利用分析用具，进行尿等试样中所含特定成分分析的分析装置。

背景技术

作为分析装置，有如图18和图19所示，使用试验片，半自动地分析尿中的多种成分的结构(例如参照专利文献1)的分析用具。图示的分析装置9，通过使用者将在多个试剂垫90A中含浸尿的试验片90载置在分析装置9的载置部91上，利用光学方法，自动地进行尿的分析。更具体而言，首先用搬送臂92，将载置在载置部91上的试验片90搬送至测光部位93，在该测光部位93上，由测光部94进行测光。然后，用搬送臂92移动测光结束后的试验片90，收容在废弃盒95中。

这里，在分析装置9中，载置部91设在左手侧(N1方向侧)。这是因为具有下面所述的优点。即，在使用者惯用右手的情况下，通常用左手拿收容有尿的容器96，或者在将容器96置于分析装置9的左手侧(N1方向侧)或前面侧(N3方向侧)的状态下，进行试验片90的试剂垫90A的尿含浸。由此，如图20所示，假设如果将载置部91′设定在右手侧，则必需通过分析装置9′的显示面板97A′和操作面板97B′的上方，将附着尿的试验片90载置在载置部91′上。结果，在分析装置9′中，尿从试验片90撒落，存在该尿附着在显示面板97A′或操作面板97B′上的可能性，在卫生方面存在很大的问题。另一方面，为了在分析装置9′中，不使尿撒落在显示面板97A′或操作而板97B′上，使用者必需细心注意，将试验片90载置在载置部91′上，因此不方便。反之，在图18和图19所示的分析装置9中，由于载置部91设置在使用者的左手侧(N1方向侧)，具有容易将试验片90载置在载置部91上，能够保持卫生的优点。

在分析装置9中，在载置部91和测光部位93之间还设置有导向壁98。导向壁98，用于在将试验片90从载置部91移动至测光部位93时，纠正试验片90的姿势，具有离开载置部91(向着N2方向)、位于前面侧(N3方向)的锥面99。由此，试验片90在移动至测光部位93前的过程中，被搬送臂92压紧，在与导向壁98(锥面99)接触的状态下移动，处于与搬送臂92平行的姿势。结果，当试验片90位于导向壁98的端部98A甚至测光部位93上时，试验片90处于目的姿势(多个试剂垫90A在N3、N4方向排列的姿势)。因此，分析装置9具有即使比较粗略地将试验片90载置在载置部91上，也能够以目的姿势将试验片90搬送至测光部位93上的优点。

另外，在分析装置9中，测光部94中试验片90的测光，是通过例如在N3、N4方向往复移动测光部94的动作中，将光照射在试验片90上，同时，接受此时来自试验片90的反射光来进行。这样，在分析装置9中，可以从试验片90得到试验片90分析所必需的信息。

然而，在分析装置9中，以惯用右手的人为前提，将载置部91设定在左侧，因此对于惯用左手的人来说，产生惯用右手的人使用图20所示的分析装置9′时的缺点。

另外，在分析装置9中，在将尿含浸在试验片90的试剂垫90A中后，必须以试剂垫90A沿前后方向(N3、N4方向)排列的方式将该试验片90载置在载置部91上。即，在尿的含浸和试验片90的载置的一系列动作中，必须使试验片90的前端部大幅度转动。这样，为了进行试验片90的操作，使用者必须大幅度翻转手腕，将试验片90从容器96载置在载置部91上的作业也不容易。另外，在附着有尿的试验片90中，在大幅度转动其前端部的情况下，尿飞出的可能性增大，在卫生方面出现问题。并且，为了抑制尿的飞出，使用者必须过度的注意。

并且，在利用锥面99纠正试验片90的姿势的结构中，如果增大锥面99的倾斜(如果减小曲率半径)，则导致移动试验片90时，试验片90的角挂在锥面99上，无法维持试验片90与搬送臂92的平行性。另一方面，为了适当地维持试验片90与搬送臂92的平行性，并搬送试验片90，必须减小设定锥面99的倾斜(增大曲率半径)。在这种情况下，由于必须增大设定试验片90的搬送距离，分析装置9沿N1、N2方向的尺寸增大，导致装置的大型化。

另外，为了进行一个试验片90的测光，使测光部94在N1、N2方向往复移动的情况下，测光部94的移动距离中至少一半无助于试验片90的测光。由此，在分析装置9中，使测光部94回至初始位置，要徒劳地移动测光部94。结果，在分析装置9中，在测光时移动测光部94的过程中有时间的损失。这就意味着在连续地对多个试验片90进行测光的情况下，测光所必需的时间间隔增大。此外为了消除该缺点，需要高价的驱动机构，导致制造成本提高。

并且，如果一次测光所必需的测光部94的移动距离增大，则用于移动测光部94的机构容易劣化，装置寿命缩短。为了消除这个缺点，必须提高用于移动测光部94的机构的耐久性，制造成本增高。

专利文献1：日本特开2000-55922号公报

发明内容

本发明的目的在于，在分析装置中，与使用者的惯用手无关，且不需要使用者大幅度翻转手腕，易于将分析用具载置在载置部上，减轻分析操作时使用者的负担。

另外，本发明的目的还在于，不导致分析装置的大型化，能够以目的姿势将分析用具搬送至目的部位。

本发明的另一目的在于，提供一种不提高制造成本，可确保寿命长，同时与高速测光(分析)动作对应的分析装置。

本发明的分析装置，其特征在于：利用在基材上设置有一个或多个试剂垫的分析用具，进行试样的分析。包括用于载置上述分析用具的载置部，和用于进行上述分析用具的测光的测光部。并且可使上述分析用具沿着从上述载置部向上述测光部的搬送方向移动。上述载置部可选择下述两种状态载置上述分析用具：上述基材的设置有至少一个试剂垫的第一端部，相对于上述基材的不设置上述一个或多个试剂垫的第二端部，位于与上述搬送方向正交的第一方向侧的状态；和上述第一端部相对于上述第二端部，位于与上述第一方向相反方向的第二方向侧的状态。

本发明的分析装置，使用例如多个试剂垫包括第一和第二试剂垫的分析用具。在这种情况下，载置部可选择下述两种状态载置分析用具：第一试剂垫位于第二试剂垫的上述第一方向侧的状态；和第一试剂垫位于第二试剂垫的上述第二方向侧的状态。

本发明的分析装置，在例如多个试剂垫在左右方向排列的状态下，从载置部向测光部搬送上述分析用具。

测光部例如设置在载置部的后侧，在这种情况下，上述分析装置可从前面向里侧搬送分析用具。

优选载置部向上方、上述第一和第二方向开放。

测光部例如沿着多个试剂垫列，在设定在上述第一方向侧的第一待机位置和设定在上述第二方向侧的第二待机位置之间沿左右方向进行往复移动。在这种情况下，优选上述分析装置还包括：控制部，其用于控制测光部的动作，使得就一个分析用具的分析而言，当测光部位于第一待机位置时，使测光部从第一待机位置向第二待机位置移动后，使测光部在第二待机位置待机；另一方面，当测光部位于第二待机位置时，使测光部从第二待机位置向第一待机位置移动后，使测光部在第一待机位置待机；和运算部，其根据测光部从第一待机位置向第二待机位置移动，或者从第二待机位置向第一待机位置移动时测光部的测光结果，对每一个上述试剂垫进行试样分析必需的运算。

在本发明的分析装置中，作为分析用具，可使用在多个试剂垫列的延长上与多个试剂垫列邻接，设有基准部的分析用具。在这种情况下，运算部利用包含下列步骤的方法，进行试样分析必需的运算：例如，第一步骤，确定使测光部从第一待机位置向第二待机位置移动，或者从第二待机位置向第一待机位置移动时的受光量的时程；第二步骤，检测与上述时程的基准部对应的基准部数据区域；第三步骤，以基准部数据区域为基准，确定与上述时程的各试剂垫对应的多个试剂垫数据区域。优选在第三步骤中，运算部确定测光部从第一待机位置移动至第二待机位置、或者从第二待机位置移动至第一待机位置的差别，并且考虑测光部的移动方向，确定试剂垫数据区域。在如此构成运算部的情况下，作为分析用具，优选使用与在多个试剂垫的排列方向的各试剂垫的尺寸相比，上述排列方向的基准部的尺寸小的用具。

分析装置的结构为，例如能够将多个分析用具连续搬送至测光部，在测光部中，连续地对分析用具进行测光。

测光部的结构例如包括多个发光部和一个受光部。在这种情况下，配置多个发光部，例如使得将光倾斜地照射在各试剂垫上，另一方面，配置一个受光部，例如使得接受从各试剂垫向上方前进的反射光。另外，配置多个发光部，例如使得从上方观察时，呈以一个受光部为对称中心的点对称的位置关系；或者，从上方观察时，与通过一个受光部、且沿着搬送方向延伸的假想直线呈线对称的位置关系。

本发明的分析装置还包括纠正单元，其用于例如在从载置在载置部之后、至在测光部进行测光的过程中，纠正分析用具向上述第一和第二方向的位置偏移。

纠正单元的结构为，例如可以选择将分析用具限制在第一和第二方向上的状态，和不进行限制的状态。在这种情况下，纠正单元的优选结构为，具有一个以上的、以可以选择将分析用具限制在第一和第二方向上的状态和不进行限制的状态的方式进行摇动的摇动部件。

一个以上的摇动部件，例如包括用于限制分析用具的限制部可以互相接近或离开的第一和第二摇动部件。在这种情况下，纠正单元例如通过以第一和第二摇动部件的限制部之间互相接近的方式，使第一和第二摇动件转动，将分析用具限制在第一和第二方向；另一方面，通过以第一和第二摇动部件的限制部之间互相离开的方式，使第一和第二摇动部件转动，分析用具处于不被限制在第一和第二方向的状态。

本发明的分析装置还包括移动体，其用于例如将分析用具滑动移动至设置有第一和第二摇动部件的部位或其前面，可在上述搬送方向和与其相反的方向上往复移动。在这种情况下，优选第一和第二摇动部件与移动体的动作连动转动。

第一和第二摇动部件的结构为，例如当从移动体不干涉的状态变化至移动体干涉的状态时，第一和第二摇动部件转动，使得将分析用具限制在第一和第二方向；另一方面，当从移动体干涉的状态变化至移动体不干涉的状态时，第一和第二摇动部件转动，使得分析用具处于不被限制在第一和第二方向的状态。具体而言，第一和第二摇动部件，例如具有用于干涉移动体的被干涉部，而且当被干涉部变位至下方时，为了限制分析用具，限制部转动。与此相对，移动体包括例如用于使被干涉部受到干涉的干涉部。在这种情况下，优选被干涉部和干涉部中的至少一个，具有用于在干涉部与被干涉部干涉时，对于被干涉部作用向下方的力的锥面。被干涉部，例如向与上述搬送方向相反的方向侧突出；干涉部，例如具有锥面，同时向上述搬送方向侧突出。

纠正单元的优选结构为，在将分析用具停止在设置在载置部和测光部之间的纠正位置的状态下，纠正分析用具的上述第一和第二方向上的位置偏移。

本发明的分析装置，例如在设置有纠正单元的位置的前面，纠正分析用具向上述第一和第二方向的位置偏移。更具体而言，分析装置例如通过在移动体和在上述第一、第二方向上延伸的竖起壁之间，插入分析用具，纠正分析用具向上述搬送方向的位置偏移。

本发明的分析装置，还可包括用于除去附着在分析用具上的剩余试样的剩余试样除去单元。在这种情况下，通过在剩余试样除去单元和移动体之间，插入分析用具，从分析用具除去剩余试样，同时纠正分析用具向上述搬送方向的位置偏移。剩余试样除去单元的结构为，例如利用使分析用具接触时的毛细管力，除去剩余试样。本发明的分析装置的结构也可以为，在分析用具与剩余试样除去单元接触后，跨过剩余试样除去单元，将分析用具移动至设置有纠正单元的位置。

本发明的分析装置还包括：废弃盒，其用于例如收容在测光部中测光结束后的分析用具；和拆毁机构，其用于拆毁堆积在废弃盒中的分析用具堆。

拆毁机构包括例如用于与堆积在废弃盒中的分析用具堆接触的接触元件。拆毁机构的优选结构为，可以选择接触元件的至少一部分存在于废弃盒内部、可与分析用具堆接触的第一状态；和接触元件整体存在于废弃盒的外部的第二状态。

本发明的分析装置，还包括例如将载置在载置部上的分析用具搬送至侧光部的搬送机构。具体而言，搬送机构具有例如为了搬送分析用具而转动的转动动作体。在这种情况下，接触元件的优选结构为，与转动动作体的动作连动，使得在上述第一状态和上述第二状态之间反复。优选接触元件通过转动动作体进行摇动。并且为板弹簧结构。

附图说明

图1为表示本发明的分析装置的整体立体图。

图2为说明图1所示的分析装置的内部结构的截面图。

图3为说明图1所示的分析装置的滑动搬送机构的主要部分的截面图。

图4为表示滑动搬送机构的构成元件的立体图。

图5为表示图1所示的分析装置的剩余尿除去部件(block)的整体立体图。

图6为沿图5的VI-VI线的截面图。

图7为说明图1所示的分析装置的位置纠正机构的主要部分的截面图。

图8为表示图7所示的位置纠正机构的摇动部件的立体图。

图9为说明图1所示的分析装置的间距(pitch)送进机构和拆毁机构的立体图。

图10为说明图1所示的分析装置的间距送进机构和拆毁机构的立体图。

图11为说明图1所示的分析装置的间距送进机构和驱动机构的截面图。

图12为透视表示图1所示的分析装置的测光机构的一部分的正视图。

图13为透视表示图12所示的测光机构的一部分的平面图。

图14为说明图1所示的分析装置的框图。

图15为说明图14所示的运算部动作的流程图。

图16为表示由图12和图13所示的测光机构的受光部得到的数据例的图表。

图17为说明位置纠正机构的另一个例子的截面图。

图18为说明现有的分析装置的平面图。

图19为局部切断图18所示的分析装置的平面图。

图20为说明图18所示的分析装置的优点的平面图。

具体实施方式

图1和图2所示的分析装置1，使用试验片2，半自动地分析尿中的多种成分。即，分析装置1，通过使用者将在试剂垫20中含浸尿的试验片2载置在分析装置1的试验片载置部11上，利用光学方法，自动地进行尿的分析。作为分析装置1中的使用对象的试验片2，在长方形的基材21的长度方向，保持指示剂的多个试剂垫20和黑色标识器22呈列状排列。在该试验片2中，基材21例如由白色树脂形成，黑色标识器22在基材21的长度方向的尺寸，小于各试剂垫20的基材21的长度方向的尺寸。

如图2所示，分析装置1除了筐体10、试验片载置部11和废弃盒12之外，还包括滑动搬送机构3、剩余尿除去机构4、位置纠正机构5、间距送进机构6、测光机构7和拆毁机构8。

如图1所示，在筐体10中设置有多个操作按钮13和显示面板14。各操作按钮13为，为了生成用于进行各种动作(分析动作或打印动作等)的信号，或者进行各种设定(分析条件设定和被验者ID输入等)，使用者进行操作的部分。显示面板14为，显示分析结果和错误的主要性能指标，同时显示设定时的操作顺序和操作状况等。

如图1和图2所示，试验片载置部11为用于载置在试剂垫20中含浸有作为分析对象的尿的试验片2的部分。该试验片载置部11，由在操作面板13的前面设置向上方和侧面开放的部分，使工作台15的一部分露出于筐体10而规定。即，试验片载置部11，向工作台15的上方和侧面开放，可在试验片2的试剂垫20在左右方向排列的状态下载置试验片2。另外，在试验片2的黑色标识器22存在于多个试剂垫20列在左侧的状态(以下称为“左置”)和存在于右侧的状态(以下称为“右置”)中的任何一种状态下，都可载置在试验片载置部11上。

如图2和图9所示，废弃盒12用于收容测光结束后的试验片2，设置在间距送进机构6的里侧。如图9和图10所示，在该废弃盒12中，在与后述的拆毁机构8的板弹簧部件80的爪部82的摇动轨迹对应的部分上，设有一对切口12a。

如图2～图4所示，滑动搬送机构3用于将载置在试验片载置部11(工作台15)上的试验片2搬送至后述的剩余尿除去机构4的剩余尿除去部件40上，具有滑架(carriage)30和推杆(pusher)31。

如图3和图4所示，滑架30的结构为，在工作台15下方，由齿条32和导杆33支承，由齿条和小齿轮机构带动自行。进一步具体而言，电机34安装在滑架30上，该电机34的驱动力，通过齿轮35，传递给固定在筐体10上的齿条32。即，因为齿条32固定在筐体10上，电机34的驱动力，作为使滑架30相对移动的力，作用在齿条32上。因此，通过控制电机34的驱动，滑架30由导杆33导向，并且可在箭头D1、D2方向往复移动。电机34的驱动控制利用后述的控制部17(参照图14)进行。滑架30还具有向D1方向突出的一对干涉部36。该干涉部36为用于与后述的位置纠正机构5的摇动部件50的被干涉部51干涉的部分，具有锥面36a。

另一方面，推杆31以位于工作台15的上方的方式与滑架30连接，与滑架30一体地运动。即，通过控制电机34的驱动，使滑架30移动，推杆31沿箭头D1、D2方向往复移动。该推杆31具有从主体部37突出形成的一对凸部38。各凸部38具有用于与试验片2直接接触的接触片39。各接触片39，当与滑架30一起移动推杆31时，在设置在台面15上的槽15a中移动。

如图3所示，剩余尿除去机构4具有用于与试验片2接触的剩余尿除去部件40。该剩余尿除去部件40可自由装拆地保持在设置在筐体10上的凹部10A中。如图5所示，剩余尿除去部件40具有多个槽41、一对第一切口42和一对第二切口43。

如图3和图5所示，各槽个41包含第一槽部41a第二槽部41b。第一槽部41a向上方开放，为使吸引力作用在试验片2的底面23上的部分。第二槽部41b沿上下方向延伸，为使吸引力作用在试验片2的侧面24上，而且使从试验片2除去的尿向下方移动的部分。

如图3所示，一对第一切口42为，利用推杆31将试验片2的剩余尿除去部件40压紧时，用于收容推杆31的接触片39的部分。各第一切口42设置在与工作台15的槽部15a对应的位置。

如图6清楚地所示，一对第二切口43用于容许后述的间距送进机构6的送进部件62的载置片65的转动运动。

如图3和图7所示，位置纠正机构5通过在一对摇动部件50之间插入试验片2，纠正试验片2向D3、D4方向的位置偏移。如图3、图7和图8所示，各摇动部件50具有限制部51和被干涉部52，图中没有明确表示，它们在互相离开方向被加力。限制部51具有L字形的形态。该限制部51，在拐角部51a上，通过轴52，大致在D3、D4方向可摇动地支承在筐体10上。被干涉部52从限制部51向D2方向突出地形成，可以沿上下方向移动。被干涉部52配置在滑架30的干涉部36的移动轨迹上。因此，在使滑架30沿D1方向移动的情况下，干涉部36与被干涉部52干涉。这时，由于干涉部36具有锥面36a，干涉部36中与被干涉部52干涉的部分慢慢地向D2方向位移。结果，在干涉部36与被干涉部52干涉后，通过使滑架30沿D1方向移动，对被干涉部52作用向下方的力，被干涉部52向下位移。由此，如图7清楚地所示，各限制部51在互相接近的方向转动。

如图9所示，间距送进机构6用于将位于剩余尿除去部件40上的试验片2(参照图3)向废弃盒12间距送进和搬送。如图9～图11所示，该间距送进机构6具有搬送台60、一对轨道61、送进部件62和驱动机构63。

如图7和图10所示，搬送台60规定搬送区域，同时支承一对轨道61。在该搬送台60上设置有一对切槽60A和一对切口60B。一对切槽60A容许后述的送进部件62的载置片65(参照图9)的转动运动。在互相隔开一定间隔的状态下，沿箭头D1、D2方向延伸。另一方面，一对切口60B容许位置纠正机构5的摇动部件50的摇动。

一对轨道61用于支承试验片2，在箭头D3、D4方向隔开一定间隔，沿D1、D2方向延伸形成。在各轨道61上，设置有沿图中的D1、D2方向并列的多个凹部61A。各轨道61A的多个凹部61A沿D1、D2方向隔开一定间隔设置，在一对轨道61上，以平行于D3、D4方向的状态支承试验片2。另外，在试验片2支承在位于最靠近D2方向侧的凹部61A上的状态下，利用位置纠正机构5纠正试验片2向D3、D4方向的位置偏移。反之，在试验片2支承在位于最靠近D1方向侧的凹部61A上的状态下，利用测光机构7进行试验片2的测光。

如图9和图11所示，送进部件62用于将载置在一对轨道61的特定的凹部61A上的试验片2，依次间距送进至邻接的凹部61A上。该送进部件62由后述驱动机构63(参照图11)驱动，可做圆运动。送进部件62具有从支承板64A向下方突出的一对连接板64Ba、64Bb，和从支承板65A向上方突出的一对载置片65。一对载置片65在支承板64A上，以在D3、D4方向上隔开间隔的状态，沿D1、D2方向延伸配置。各载置片65具有沿D1、D2方向排列的多个切口65A。各载置片65的各切口65A由一对倾斜面65Aa、65Ab规定。在试验片2的底面23与倾斜面65Aa接触的状态下，搬送试验片2。

如图11所示，驱动机构63用于使送进部件62作转动运动。具有电机66和第一～第四带轮67A～67D。

电机66用于向送进部件62施加转动力。通过齿轮68A、68B，与第一带轮67A连接。即，由电机66产生的转动力输入第一带轮67A，利用电机66第一带轮67A转动。该电机66由后述的控制部17(参照图14)控制。

第一～第四带轮67A～67D可转动地支承在支承支架68C、68D上。第一带轮67A通过皮带68E与第二带轮67B互相连接。因此，当利用电机66使第一带轮67A转动时，第二带轮67B也在与第一带轮67A向相同方向转动。第一带轮67A还通过连部件69A与第三带轮67C连接。连接部件69A具有主轴部69Aa和第一、第二从动轴部69Ab、69Ac。

主轴部69Aa不能相对于第一和第三带轮67A～67C转动，作成一体，同时可转动地支承在支承支架68C上。即，当第一带轮67A转动时，第三带轮67C向与第一带轮67A向相同方向转动。

第一和第二从动轴部69Ab、69Ac通过臂部69Ad、69Ae与主轴部69Aa连接。即，从D3或D4方向看时，第一和第二从动轴部69Ab、69A设置在偏离主轴部69Aa的位置上。因此，第一和第二从动轴部69Ab、69Ac可在主轴部69Aa的周围转动。第一和第二从动轴部69Ab、69Ac与送进部件62的连接板64Ba、64Bb连接。因此，第一带轮67A和第三带轮67C的转动力可使连接板64Ba、64Bb转动运动。

第四带轮67D通过皮带68F与第三带轮67C连接。即，通过使第一带轮67A转动，第三带轮67C转动时，第三带轮67C的转动力被传递至第四带轮67D。第四带轮67D再通过连接部件69B与第二带轮67B连接。连接部件69B与上述的连接部件69A同样，具有：不能相对于第二和第四带轮67B、67D转动，而且可在支承支架68B上转动的主轴部69Ba；和与送进部件62的连接板64Ba、64Bb连接的第一和第二从动轴部69Bb、69Bc。因此，当通过使第一带轮67A转动，转动第二带轮67B时，第二带轮67B的转动力作为使第四带轮67D转动的力发挥作用。这时，第二和第四带轮67B、67D的转动力作为使连接板64Ba、64Bb作转动运动的力发挥作用。

在上述说明的驱动机构63中，通过将电机66的转动力输入第一带轮67A，第一～第四带轮67A～67D向相同方向转动，同时，这些带轮67A～67D的转动力作为使连接板64Ba、64Bb(送进部件62)、即载置片65转动的力发挥作用。结果，驱动机构63通过利用后述的控制部17(参照图14)控制电机66的驱动，可使载置片65做圆运动。

如图2、图12和图13所示，测光机构7接受将光照射在试验片2的各试验垫片20上时的反射光，得到与各试剂垫20的发色程度相应的信息。该测光机构7，具有固定在座70上的多个发光部71和一个受光部72。如图2所示，座70通过导杆73和螺杆74支承在筐体10上。螺杆74上形成有螺纹槽，图中没有明确表示，与座70螺合。在螺杆74的端部74A上安装带轮75。该带轮75与通过皮带76连接在与电机77连接的带轮78上。即，电机77的转动力，作为用于使螺杆74的转动的力被传递，通过使螺杆74转动，座70可向D3、D4方向移动。

如图12和图13所示，各发光部71可以射出例如具有特定峰值波长的光，由LED构成。各发光部71以射出光中心轴71A与水平面(各试剂垫20)呈45度倾斜的状态，固定在座70上。另一方面，受光部72用于接受从各试剂垫20反射的光，例如由光电二极管构成。该受光部72固定在座70上，使得受光中心轴72A垂直。即，受光部72，在由各发光部72照射在各试剂垫20上的光中，接受与试剂垫20呈45度散射的反射光。如上所述，多个发光部71和一个受光部72固定在座70上。因此，通过移动座70，可使多个发光部71和一个受光部72，与座70一起移动。

多个发光部71，位于从垂直方向看以受光部72为中心的同一圆周上。进一步具体而言，配置多个发光部71，使得呈以受光部72为对称中心的点对称，和对于沿着通过受光部72的试验片2的搬送方向D1的对称线7A呈线对称中的至少一种的位置关系。图13表示多个发光部71的个数为6个，各发光部71在同一圆周上以45度的间隔配置的例子。在将多个发光部71按这种点对称或线对称的位置关系与受光部72配置的情况下，对于试验片载置部11，试验片2右置和左置的情况下，都可在受光部72上得到同样的受光数据。

即，在制造分析装置时，产生各零件的尺寸公差或装配公差等。因此，分析装置1中，不必一定以水平姿势搬送试验片2，当试验片2位于测光机构7的对应部分上时，不限于水平姿势。在对于一个受光部组装一个发光部的测光机构中，在将试验片2右置和左置的情况下，这种姿势的偏移(倾斜)可作为反的误差发挥作用。因此，在左置和右置两种载置方式均可的分析装置中，在采用对于一个受光部组装一个发光部的测光机构的情况下，由于试验片2的姿势(倾斜)，产生测定误差。另外，在测光机构7中，当使座70移动时，有时发光部71或受光部72的中心轴偏移，一般这种偏移在使移动座70向右方向移动时和向左方向移动时不同。在这种情况下，与产生试验片2的姿势偏移(倾斜)的情况相同，在右置和左置两种载置均可的分析装置中，在采用对于一个受光部组装一个发光部的测光机构的情况下，会产生测定误差。从以上例子中可看出，在存在试验片2和发光部71、受光部72的中心轴位置关系产生偏差或偏移的主要原因的状态下，会产生上述测定误差。

反之，分析装置1的测光机构7，对于一个受光部72组装多个发光部71，并且以多个发光部71呈上述的点对称或线对称关系的方式配置。因此，当同时点亮全部发光部71，使受光部72接受此时的反射光量的情况下，正误差和负误差抵消，与试验片2和发光部71、受光部72的中心轴的位置关系的偏差或偏移没有关系，右置和左置时均可接收同样光量的光。结果，在测光机构7中，能够避免因右置和左置的差别而得到不同的结果。换言之，在测光机构7中，由于难以受到试验片2和发光部71、受光部72的中心轴的位置关系的偏差或偏移的影响，向右方向移动座70时得到的结果和向左方向移动座70时得到的结果相同。

在不同的分析装置相互之间，也可能产生的试验片2和发光部71、受光部72的中心轴的位置关系的偏差或偏移的影响。即，由于各零件的尺寸公差或装配公差，在多个分析装置相互之间，会产生试验片2和发光部71、受光部72的中心轴的位置关系的偏差或偏移。另外，在使用相同的分析装置1的情况下，假定每一次测定试验片2的姿势均不同。即便在这些情况下，根据与右置和左置的情况相同的理由，能够抑制分析装置相互的测定精度的偏差或同一个分析装置每次测定的偏差。

图13表示多个发光部71的个数为6个，各发色部71在同一圆周上以45度的间隔配置的例子，但多个发光部71的配置例可根据发光部71的数目进行选择。例如，在多个发光部71的个数为3个的情况下，在同一圆周上，以120度间隔配置多个发光部71；在多个发光部71的个数为4个的情况下，在同一圆周上，以90的间隔配置多个发光部71即可。

如图9和图10所示，拆毁机构8用于抑制收容在废弃盒12中的多个试验片2在同一个位置堆积，其具有板弹簧部件80。该板弹簧部件80具有一对爪部82从T字形部分81向D1方向突出的形态。如图9所示，板弹簧部件80在D2方向受到附加力的作用，而且与送进部件62的支承板64A贴紧的状态下，在T字形部分81的下端部，固定在筐体10上。即，当送进部件62做圆运动时，板弹簧部件80也维持与支承板64A贴紧的状态，由于送进部件62的圆运动而摇动。如上所述，在废弃盒12中，在与爪部82的摇动轨迹对应的部分上设置有一对切口12a。因此，在送进部件62(支承板64)在D1方向侧位移，板弹簧部件80在D1方向转动的情况下，爪部82处于通过切口12a，向废弃盒12的内部突出的状态(在图9中，用实线表示板弹簧部件80的状态)。与此相对，在送进部件62(支承板64A)在D2方向侧位移，板弹簧部件80在D2方向转动的情况下，爪部82处于不向废弃盒12内部突出的状态(在图9中，用双点划线表示板弹簧部件80的状态)。即，在拆毁机构8中，根据送进部件62(支承板64A)的圆运动，选择爪部82向废弃盒12内部突出的状态和不突出的状态。

如图14所示，分析装置除了上述各元件外，还具有运算部16和控制部17。这些元件可以组合例如CPU、RAM和ROM构成。

运算部16根据测光机构7的受光部72的接收光的结果，按后述的顺序(参照图15)，运算尿中特定成分的浓度。

控制部17用于控制各元件的动作。典型的是，控制部17控制电机34的驱动，限制滑架30(推杆31(参照图3))的往复运动；控制电机66的驱动，限制送进部件62(载置片65(参照图11))的圆运动；控制电机77的驱动，限制座70(发光部71和受光部72(参照图12))的往复运动。

然后，以连续地将试验片2载置在试验片载置部11上，连续地进行试验片2的分析情况为例，说明分析装置1的分析动作。

在分析装置1中，例如通过操作特定的操作按钮13，根据控制部17的控制，驱动各电机34、66，使滑架30(推杆31)往复运动，使送进部件62(载置片65)做圆运动。

如图2和图3清楚地所示，在滑动送进机构3中，推杆31在D1方向，从D2方向侧的待机位置移动至与剩余尿除去部件40对应的位置后，在D2方向移动，回到待机位置。推杆61在待机位置停止一定时间。即，通过控制部17(参照图14)控制电机34的驱动，控制推杆31反复进行间歇的往复运动。

另一方面，当推杆31在待机位置上待机时，使用者可将试验片2载置在试验片载置部11上。如上所述，由于试验片载置部11向上方和左右方向开放(参照图1)，可以在右置和左置任何一种状态下，将试验片2载置在试验片载置部11上。因此，在分析装置1中，在使用者用右手和左手的任何一种情况下，与使用的手无关，都可以容易地将试验片2载置在试验片载置部11上。因此，在分析装置1中，与使用者惯用的手或载置收容有尿的容器的位置无关，可以简单地将试验片2载置在试验片载置部11上。另外，使用者可以以多个试剂垫20在D3、D4方向排列的方式将试验片2载置在试验片载置部11上。因此，与以多个试剂垫20在D1、D2方向排列的方式载置试验片2的情况相比，由于使用者载置试验片2的必要动作小，将试验片2载置在试验片载置部11上的动作容易。

当推杆31在D1方向移动时，载置在试验片载置台11上的试验片2压紧在推杆31的接触片39上，移动至与剩余尿除去部件40对应的部分，利用推杆31(接触片39)压紧在剩余尿除去部件40上。这样，试验片2向D1、D2方向位置偏移被纠正，形成与搬送方向D1正交的姿势。

如图3清楚地所示，在利用推杆31将试验片2压紧在剩余尿除去部件40上的状态下，剩余尿除去部件40的第一槽部41a被试验片2的底面23塞住。这样，第一槽部41a使吸引力作用在试验片2的底面23上，剩余尿可以从试验片2的底面23除去。另外，剩余尿除去部件40的第二槽部41b使吸引力作用在试验片2的侧面24上，可以从试验片2的侧面24除去剩余尿。

另一方面，如图9所示，在间距送进机构6中，如上所述，使送进部件62乃至载置片65做圆运动。如从图9和图10预想的那样，控制载置片65的圆运动。使得先将试验片2移动至剩余尿除去部件40，至再次将试验片移动至剩余尿除去部件40的过程中，将与剩余尿除去部件40接触的试验片2移动至搬送台60上(正确的是位于一对轨道61最靠近D2方向上的凹部61A)。因此，在间距送进机构6中，在连续地将试验片2供给剩余尿除去部件40的情况下，可连续地将这些试验片2移动至搬送台60(凹部61A)上。

如图7清楚所示，利用位置纠正机构5，纠正移动至搬送台60(凹部61A)上的试验片2向D3、D4方向上的位置偏移。如图3和图7所示，在位置纠正机构5中，使滑架30在D1方向移动时，滑架30的干涉部36与位置纠正机构5的摇动部件50的被干涉部52干涉，使一对摇动部件50的限制部51在互相接近的方向地转动。因此，当滑架30在D1方向移动时，通过摇动部件50的限制部51在互相接近的方向上转动，可将位于凹部61A的试验片2插入限制部51之间，纠正向D3、D4方向的位置偏移。

在分析装置1中，通过摇动位置纠正机构5的一对摇动部件50，可反复地纠正试验片2向D3、D4方向的位置偏移。即，在位置纠正机构5中，不是在使试验片2移动一定距离的过程中，纠正试验片2向D3、D4方向的位置偏移，而是在特定部位上，纠正试验片2向D3、D4方向的位置偏移。因此，在分析装置1中，作为用于纠正试验片2向D3、D4方向的位置偏移的区域，不必确保在D1、D2方向的距离大。结果，在分析装置1中，不会使装置在D1、D2方向的尺寸增大，可以纠正试验片2向D3、D4方向的位置偏移。

如从图9预想的那样，通过在间距送进机构6的载置片65的每一个周期的圆运动中，移载至邻接的凹部65上，可以进行纠正了D3、D4方向的位置的试验片2的间距送进。

进一步具体而言，首先，当载置片65的切口65A从搬送台62的下方向上方，通过轨道61的凹部61A时，利用切口65A，抬起凹部61A中的试验片2。此时，试验片2由于自重，位于切口65A的最深部，并且在与倾斜面65Aa贴紧的状态下被抬起。因此，试验片2在维持与D3、D4方向的平行性的状态下被抬起。其次，在载置片65的切口65A描绘圆弧轨迹，并通过轨道61的上方后，当载置片65的切口65A从轨道61的上方，向下方通过对应的凹部61A时，试验片2从切口65A移送至凹部61A。利用载置片65的多个周期的圆运动，可反复进行这种从凹部61A抬起试验片2和将试验片2从切口65A向凹部61A的移载。于是，位于轨道61最靠近D1方向侧的凹部61A的试验片2，在利用测光机构7进行测光后，可通过载置片65的下一周期的圆运动，移动至废弃盒12中。

将测光结束后的试验片2陆续收容在废弃盒12中，但由于利用间距送进机构6中的载置片65的圆运动，进行试验片2的废弃，因此在废弃盒12中，堆积在同一个位置。

与此相对，分析装置1设置有拆毁机构8。即，对应于载置片65的圆运动，摇动板弹簧部件80，板弹簧部件80反复处于爪部82向废弃盒12的内部突出的状态和不突出状态。由此，在试验片2大量堆积在废弃盒12中的情况下，当爪部82处于向废弃盒12内部突出的状态时，与大量堆积的试验片2干涉。结果，在废弃盒12中，利用拆毁机构8，试验片2堆被拆毁。于是，因为利用载置片65的圆运动，反复进行爪部82向废弃盒12中的突出，因此，在废弃盒12中，多个试验片2不会堆积得超过一定高度。由此，堆积的试验片不会与测光机构7等其他元件干涉而产生分析误差。另外，在对堆积的试验片2堆进行拆毁的情况下，存在于被拆毁的部分中的试验片2被收容在废弃盒12的空的空间中。结果，能够有效地利用废弃盒12中的收容空间。由此，在分析装置1中，以有效地利用废弃盒12中的收容空间为目的，不必确保废弃盒12的上下方向的大的尺寸，或者对搬送机构的结构想办法，再或者设置复杂结构的废弃机构。因此，在分析装置1中，不会导致装置的大型化和制造成本增加，能够抑制试验片在废弃盒12中大量堆积。

另一方面，如从图2预想的那样，在测光机构7中，在D3方向或D4方向上移动座70，并进行试验片2的测光。将测光机构7的受光部72(参照图12和图13)的受光结果送至图14所示的运算部16，在运算部14中进行尿的特定成分的分析。这种测光和运算的一系列的试样分析处理，按照例如图15所示的流程图进行。

在利用分析装置1的试样分析处理中，首先，图14所示的运算部16确认座70的位置(S1)。即，识别座70是在左侧待机位置(图2中用实线表示的位置)待机，还是在右侧待机位置(图2中用双点划线表示的位置)待机。这种位置的识别，可通过例如在左待机位置和右待机位置两者上均设置光断续器等传感器，确认座70的存在，或者在座70位于现在的位置之前，确认座70在右方向或左方向中任何一个方向移动来进行。

其次，图14所示的控制部17，当座70位于右待机位置时，使座70向左方向移动至左待机位置；当座70位于左待机位置时，使座70向右方向移动至右待机位置(S2)。座70的移动方向存储在例如运算部16中。当送进部件62的载置片65位于轨道61的多个切口61A的下方时，进行座70的移动(参照图9)。此时，在运算部16中，通过多个发光部71，将光照射在试验片2的试剂垫20上，并且在受光部72中通过接收光，得到试样分析所必需的数据(S3)。在运算部16中得到的数据例如如图16所示。即，当将光照射在与试验片2的黑色标识器22对应的部分上时，得到反射率(受光率)小于阈值、而且有一定宽度的峰值波形区域。当将光照射在各试剂垫20上时，得到与试剂垫20的发色程度对应的反射率(受光量)的有一定宽度的峰值波形区域。

在图14所示的运算部16中，考虑座70的移动方向，并且根据S3中的受光结果，识别试验片2的黑色标识器22的位置(S4)。进一步具体而言，首先从得到的数据，特别指定反射率(受光量)在阈值以下的峰值部分，识别黑色标识器存在于该部分。阈值设定为例如小于假定作为试剂垫20的反射率(受光量)的最小值的小值。通过掌握峰值波形的宽度，识别黑色标识器22的位置。即，在图示的试验片2中，因为黑色标识器的尺寸小于各试剂垫20的宽度尺寸，因此通过掌握宽度尺寸小的峰值波形，能够识别黑色标识器22的位置。

然后，运算部16特别指定试验片2的方向(S5)。试验片2的方向，例如通过考虑座70的移动方向，且在得到的数据随时间变化中与黑色标识器22对应的峰值波形区域比与试剂垫20对应的多个峰值波形区域先得到或者后得到，进行识别。

再在运算部16中，特别指定与各个试剂垫20对应的数据区域(峰值波形区域)(S6)。数据区域的特别指定，通过根据在S3～S5中得到的信息，使试验片2的黑色标识器22和各试剂垫20的位置关系与得到的数据随时间变化对应来进行。

然后，运算部16对每个试剂垫均进行试样分析所必需的运算，进行与试剂垫20对应的成分的分析(S7)。进一步具体而言，运算部16，通过将S6中对每个试剂垫20特别指定的数据区域中的反射率(受光量)的峰值，用于预先决定的检量线中，进行试样中的特定成分的浓度运算。运算结果显示在例如显示面板14中，使用者可以确认分析结果。

在分析装置1中，不使座70在D3、D4方向往复移动，使座70从一个待机位置向另一个待机位置的一个方向移动，进行试验片2的测光，根据该测光结果，在运算部16中进行试样分析所必需的运算。即，在分析装置1中，可以使一次测光所必需的座70的移动距离为使座70往复移动进行测光时的一半。因此，在分析装置1中，可以缩短测光时间，使试样分析的速度提高，还可以通过减小一次测光所必需的座70的移动距离，抑制用于驱动座70的机构的劣化，可确保增长寿命。

本发明不限于上述实施方式，可以进行各种变更。例如，位置纠正机构5不一定需要包含一对摇动部件50。即，如图17所示，也可以使位置纠正机构5′包含一个摇动部件50′，通过在该摇动部件50′和壁面59′之间插入试验片2，纠正试验片2在D3、D4方向位置。另外，用于使间距送进机构6的送进部件做圆运动的驱动机构，可以采用凸轮机构等其他机构。另外，从位置纠正机构至测光机构的试验片的搬送，不一定必须采用对试验片进行间距送进的机构，也可以采用例如使试验片进行滑动移动的机构。并且，拆毁机构8的结构为，通过送进部件62的载置片65的圆运动而被摇动的板弹簧件80，拆毁收容在废弃盒12中的多个试验片堆，但拆毁机构只要可以作用拆毁收容在废弃盒中的多个试验片堆的力即可。即，拆毁机构的结构也可以为，使与送进部件分别驱动的元件，和试验片堆进行干涉的结构；对废弃盒给予振动的结构；或向试验片堆上吹空气等的结构。

Claims (24)

1.一种分析装置，

利用在基材上设置有一个或多个试剂垫的分析用具，进行试样的分析，

所述分析装置包括用于载置所述分析用具的载置部和用于进行所述分析用具的测光的测光部，并且可使所述分析用具沿着从所述载置部向所述测光部的搬送方向移动，其特征在于：

所述载置部可选择下述两种状态载置所述分析用具：所述基材的长度方向上设置有至少一个试剂垫的第一端部，相对于所述基材的长度方向上未设置试剂垫的第二端部，位于与所述搬送方向正交的所述基材的长度方向上的第一方向侧的状态；和所述第一端部相对于所述第二端部，位于与所述第一方向侧的相反方向侧的第二方向侧的状态。

2.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于：

所述多个试剂垫包括第一和第二试剂垫，

所述载置部可选择下述两种状态载置所述分析用具：所述第一试剂垫相对地位于所述第二试剂垫的所述第一方向侧的状态；和所述第一试剂垫位于所述第二试剂垫的所述第二方向侧的状态。

3.如权利要求2所述的分析装置，其特征在于：

在所述多个试剂垫在左右方向排列的状态下，从所述载置部向所述测光部搬送所述分析用具。

4.如权利要求3所述的分析装置，其特征在于：

所述测光部设置在所述载置部的里侧，并且

可从前面向里侧搬送所述分析用具。

5.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于：所述载置部向上方、所述第一和第二方向侧开放。

6.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于：

所述多个试剂垫，以在长方形的基材的长度方向上形成多个试剂垫列的方式呈列状排列，

所述分析用具在所述多个试剂垫列的延长部分上，具有与所述多个试剂垫列邻接设置的基准部，

所述测光部，可沿着所述多个试剂垫列，在设定在所述第一方向侧的第一待机位置和设定在所述第二方向侧的第二待机位置之间进行往复移动，

还包括：控制部，其用于控制所述测光部的动作，使得就一个分析用具的分析而言，当所述测光部位于所述第一待机位置时，使所述测光部从所述第一待机位置向所述第二待机位置移动后，使所述测光部在所述第二待机位置待机；另一方面，当所述测光部位于所述第二待机位置时，使所述测光部从所述第二待机位置向所述第一待机位置移动后，使所述测光部在所述第一待机位置待机；和

运算部，其根据所述测光部从所述第一待机位置向所述第二待机位置移动，或者从所述第二待机位置向所述第一待机位置移动时所述测光部的测光结果，对每一个所述试剂垫进行试样中所含特定成分的浓度的运算，

所述运算部，利用包含下列步骤的方法，进行试样中所含特定成分的浓度的运算：第一步骤，确定使所述测光部从所述第一待机位置向所述第二待机位置，或者从所述第二待机位置向所述第一待机位置移动时的受光量的时程；第二步骤，检测与所述时程的所述基准部对应的基准部数据区域；第三步骤，以所述基准部数据区域为基准，确定与所述时程的所述各试剂垫对应的多个试剂垫数据区域。

7.如权利要求6所述的分析装置，其特征在于：

在所述第三步骤中，所述运算部确定所述测光部从所述第一待机位置移动至所述第二待机位置、或者从所述第二待机位置移动至所述第一待机位置的差别，并且考虑所述测光部的移动方向，确定所述试剂垫数据区域。

8.如权利要求6所述的分析装置，其特征在于：

在所述分析用具中，与在所述多个试剂垫的排列方向上的所述各试剂垫的尺寸相比，所述排列方向上的所述基准部的尺寸小。

9.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于：

将多个分析用具连续搬送至所述测光部，在所述测光部，能够连续地对分析用具进行测光。

10.如权利要求6所述的分析装置，其特征在于：

所述测光部包括多个发光部和一个受光部，

配置所述多个发光部，使得将光倾斜地照射在所述各试剂垫上，

配置所述一个受光部，使得接受从所述各试剂垫向上方前进的反射光，

所述多个发光部，位于从上方看时，以所述受光部为中心的同一圆周上，配置成以所述受光部为对称中心的中心对称，或相对于沿着通过所述受光部的所述分析用具的搬送方向的对称轴呈轴对称。

11.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于：

还包括纠正单元，其用于在从将所述分析用具载置在所述载置部之后、至在所述测光部进行测光的过程中，纠正所述分析用具向所述第一和第二方向侧的位置偏移，

所述纠正单元具有能够选择将所述分析用具限制在所述第一和第二方向侧的状态，和不进行限制的状态的方式进行摇动的两个摇动部件。

12.如权利要求11所述的分析装置，其特征在于：

所述两个摇动部件，包括用于限制所述分析用具的限制部可以互相接近或离开的第一和第二摇动部件，

所述纠正单元，通过以所述第一和第二摇动部件的限制部之间互相接近的方式，使所述第一和第二摇动部件转动，将所述分析用具限制在所述第一和第二方向侧；另一方面，通过以所述第一和第二摇动部件的限制部之间互相离开的方式，使所述第一和第二摇动部件转动，使所述分析用具处于不被限制在所述第一和第二方向侧的状态。

13.如权利要求12所述的分析装置，其特征在于：

还包括滑动搬送机构，其用于将所述分析用具滑动移动至设置有所述第一和第二摇动部件的部位或其前面，能够在所述搬送方向和与其相反的方向上往复移动，

所述第一和第二摇动部件与所述滑动搬送机构的动作连动转动。

14.如权利要求13所述的分析装置，其特征在于：

当从所述滑动搬送机构不干涉的状态变化至所述滑动搬送机构干涉的状态时，所述第一和第二摇动部件转动，使得将所述分析用具限制在所述第一和第二方向；另一方面，当从所述滑动搬送机构干涉的状态变化至所述滑动搬送机构不干涉的状态时，所述第一和第二摇动部件转动，使得所述分析用具处于不被限制在所述第一和第二方向的状态。

15.如权利要求14所述的分析装置，其特征在于：

所述第一和第二摇动部件，具有用于干涉所述滑动搬送机构用的被干涉部，而且当所述被干涉部变位至下方时，为了限制所述分析用具，所述限制部转动，

所述滑动搬送机构包括用于使所述被干涉部受到干涉的干涉部，而且

所述被干涉部和所述干涉部中的至少一个，具有用于在所述干涉部与所述被干涉部干涉时，对于所述被干涉部作用向下方的力的锥面。

16.如权利要求15所述的分析装置，其特征在于：

所述被干涉部，向与所述搬送方向相反的方向侧突出，

所述干涉部，具有所述锥面，同时向所述搬送方向侧突出。

17.如权利要求11所述的分析装置，其特征在于：

所述纠正单元，在将所述分析用具停止在设置在所述载置部和所述测光部之间的纠正位置的状态下，纠正所述分析用具的所述第一和第二方向侧的位置偏移。

18.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于：

还包括用于除去附着在所述分析用具上的剩余试样的剩余试样除去单元，

所述剩余试样除去单元具有多个槽，在与所述分析用具接触时，利用所述多个槽的毛细管力，除去剩余试样。

19.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，还包括：

废弃盒，其用于收容在所述测光部中测光结束后的分析用具；和

拆毁机构，其用于拆毁堆积在所述废弃盒中的分析用具堆。

20.如权利要求19所述的分析装置，其特征在于：

所述拆毁机构包括用于与堆积在所述废弃盒中的分析用具堆接触的接触元件。

21.如权利要求20所述的分析装置，其特征在于：

所述拆毁机构可以选择所述接触元件的至少一部分存在于所述废弃盒内部、可与所述分析用具堆接触的第一状态；和所述接触元件整体存在于所述废弃盒的外部的第二状态。

22.如权利要求21所述的分析装置，其特征在于：

还包括用于除去附着在所述分析用具上的剩余试样的剩余试样除去单元，所述剩余试样除去单元具有多个槽，在与所述分析用具接触时，利用所述多个槽的毛细管力，除去剩余试样，

还包括间距送进机构，其在从所述分析用具的搬送路径中的从所述剩余试样除去单元至所述废弃盒为止的区间，用于在所述分析用具的搬送方向上搬送所述分析用具，

所述间距送进机构具有为了搬送所述分析用具而转动的转动动作体，

所述接触元件与所述转动动作体的动作连动，使得在所述第一状态和所述第二状态之间反复。

23.如权利要求22所述的分析装置，其特征在于：所述接触元件通过所述转动动作体进行摇动。

24.如权利要求23所述的分析装置，其特征在于：所述接触元件为板簧。

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