CN1947002A - 玻璃的识别方法及玻璃识别装置 - Google Patents

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Abstract

在再循环工序中，玻璃碎片的同质性低，再循环玻璃的质量也降低。为了解决该课题，本发明在粉碎显示器之前，利用荧光X线分析器实施各衬底的玻璃组成成分分析，由此判别相同组成的玻璃，进行碎玻璃化并回收。

Description

玻璃的识别方法及玻璃识别装置
技术领域
本发明涉及识别玻璃的方法及其装置，尤其涉及用于识别显示器用的玻璃衬底的种类的方法及其装置。
背景技术
近年，伴随显示器装置的大型化和薄型化，例如，等离子体显示面板(以下，称为PDP)装置的开发正在发展，同时其再循环的必要性也提高。
如图8所示，PDP通常是由未图示的密封材料密封由玻璃构成的前面衬底81和背面衬底82，并在密封后的前面衬底81和背面衬底82之间封入放电气体而形成放电空间的结构。在前面衬底81上依次形成有显示电极83、总线(bus)电极84、介质层85、保护层86。在背面衬底82上形成地址电极87，在其上经由介质层88涂敷红、绿、蓝中的任一种荧光体89。如图所示，各地址电极87上的红、绿、蓝的各荧光体89由隔壁90相互隔离(例如，参照专利文献1、专利文献2、专利文献3)。
历来，在制造工序中产生的不合格品或作为产品而被使用后的电气化产品，通常通过掩埋等进行废弃处理。上述PDP由于在形成于前面衬底81或背面衬底82的上述各层或密封材料中含有铅等有害物质，因此必须在实施有害物的固化处理之后再进行掩埋。另外，为了实现桢面的大型化，前面衬底81或背面衬底82使用大的玻璃衬底。因此，两衬底在产品中所占的容积及重量大，从环境方面及成本方面出发，都希望实现它们的再循环。以往，公开有一种用于将在制造工序中成为不合格品的、PDP的前面/背面衬底所使用的玻璃衬底作为工业用材料而进行再循环的方法(例如，参照专利文献4。)。
图9表示在PDP制作工序S10中组合了再循环工序S11的以往的工序。省略S10的详细内容，在老化(ageing)工序S95结束之后，在玻璃检查工序S96中进行不合格品的识别。此时，被识别为不合格品的PDP回到S11中。S11主要包括：对所回收的PDP中组合的前面衬底和背面衬底进行分离的工序S98、对在分离后的前面/背面衬底上形成的各层(表面层)进行剥离的工序S99、然后对前面/背面衬底和被剥离的表面层的剥离成分分别进行分离回收的工序S100和S101。在此，在S100中，为了将表面层被剥离的前面/背面衬底作为玻璃原料而进行再循环，使用将前面/背面衬底细小地粉碎成玻璃碎片(glass cullet)(以下，称为碎玻璃)的方法。
专利文献1：日本特许第2503072号公报
专利文献2：日本特开平4-366526号公报
专利文献3：日本特开昭55-70873号公报
专利文献4：日本特开2002-50294号公报
通常，PDP等电气化产品的装配厂家，出于材料质量或价格的目的，大多从多个材料厂家供给材料(在此，为玻璃)。在该情况下，玻璃的组成成分因材料厂家而异。因此，在未按照厂家识别、分类碎玻璃而进行回收的情况下，回收的碎玻璃中将混有来自多个材料厂家的玻璃。其结果是，存在回收的碎玻璃的同质性降低的问题。这样的碎玻璃成为再循环用途被限制的材料，无法期望高的有价性。例如，在将PDP的玻璃衬底的不合格品再循环时，理想的是将该不合格品再次再循环成PDP用的玻璃衬底，但若回收的碎玻璃的同质性低，则由此制作的玻璃衬底的质量也降低。
发明内容
本发明为解决上述课题，而提供一种识别、分类所回收的碎玻璃的方法。
本发明的第一技术方案的玻璃识别方法是用于再利用包含玻璃的识别对象物的玻璃识别方法，其中，该识别方法具有：对识别对象物照射X线，获得识别对象物的荧光X线光谱的工序；和将识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组进行分析、比较，识别识别对象物中包含的玻璃的种类的工序。识别玻璃的种类的工序，通过进行识别对象物的荧光X线光谱的组成成分分析、和规定的物质组的荧光X线光谱组的组成成分分析，并比较分析结果来判断一致度而进行。
由此，回收的识别对象物的同质性提高，再循环的精度提高。
第二技术方案的玻璃识别方法是用于再利用包含玻璃的识别对象物的玻璃识别方法，其中，该识别方法具有：对识别对象物照射X线，获得识别对象物的荧光X线光谱的工序；和将识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组进行分析、比较，识别识别对象物中包含的玻璃的种类的工序。识别玻璃的种类的工序，通过获得识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组的各光谱的差分，并判断一致度而进行。
由此，回收的识别对象物的同质性提高，再循环的精度提高。
第三技术方案的玻璃识别方法，在第一或第二玻璃的识别方法中，其特征在于，识别对象物、规定的物质组中的至少任一方是显示器用的玻璃衬底。
由此，可进行显示器用的玻璃衬底的再循环。
第四技术方案的玻璃识别方法，在第一或第二玻璃的识别方法中，其特征在于，识别对象物及规定的物质组具有从钾、钙、铁、锶、锆、钡、铪中选择的至少一种元素。
由于显示器用的玻璃衬底大多在上述元素的含有率中具有特征，因此通过分析这些元素，可实现玻璃的种类的识别。
第五技术方案的玻璃的识别装置具备：X线管，其对包含玻璃的识别对象物照射X线；检测器，其测定从识别对象物放射的荧光X线的强度；存储部，其存储规定的物质组的荧光X线光谱组的数据；和运算器，其由检测器的测定结果求出识别对象物的荧光X线光谱，并通过分析、比较识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组的数据，来识别识别对象物中包含的玻璃的种类。
由此，可识别识别对象物的同质性。
以上，根据本发明，由于回收的碎玻璃的同质性提高，因此可防止再循环的PDP玻璃的质量降低，从而有价性提高。
附图说明
图1是本发明的PDP的制作工序和再循环工序的流程图；
图2是表示本发明的识别装置的结构的图；
图3是样本试料的荧光X线光谱图；
图4是参考试料1的荧光X线光谱图；
图5是参考试料2的荧光X线光谱图；
图6是表示样本试料和参考试料1的荧光X线光谱图的差分结果的图；
图7是表示样本试料和参考试料2的荧光X线光谱图的差分结果的图；
图8是表示PDP的结构的图；
图9是以往的PDP的制作工序和再循环工序的流程图。
图中：1-衬底，2-X线管，3-X线，4-荧光X线，5-检测器，6-放大器，7-存储部，8-运算部，9-显示器，10-载物台，11-荧光X线分析器，81-前面衬底，82-背面衬底，83-显示电极，84-总线电极，85、88-介质层，86-保护层，87-地址电极，89-荧光体，90-隔壁。
具体实施方式
在本方式中，将识别对象物作为PDP用的玻璃衬底进行说明。
本发明在表面层的剥离及粉碎显示器之前，实施回收的PDP的玻璃衬底的组成成分分析，仅收集组成成分相同的PDP玻璃，进行碎玻璃化，由此提高碎玻璃的同质性，从而再次作为高质量的PDP用的玻璃衬底而进行再循环。
以下，更为详细地对本发明进行说明，但本发明并不限定于此。
(实施方式)
图1是表示包括本发明的再循环工序的PDP的制作工序的流程图。本发明的要点在于，对于在PDP制作工序S1的玻璃检查工序S16中成为NG的前面衬底及背面衬底，通过再循环工序S2的玻璃组成成分分析工序S19识别玻璃的组成成分，并按此对碎玻璃进行分类。
图2表示执行该S19工序的玻璃识别装置即荧光X线分析器11(エスアイアイ·超精加工技术公司制荧光X线分析器(SEA-2210A))的结构。使用荧光X线是由于：在测定时不破坏衬底本身，还能够抑制设备成本的增大。另外，由于荧光X线分析器能够进行数10ppm级的组成成分分析，因此在识别上述衬底时，精度上也具有足够的性能。进而，荧光X线分析器11是能量分散型荧光X线分析器。能量分散型荧光X线分析器利用荧光X线的能量在组成成分中是固有的这一事实，通过测定并解析荧光X线的能量光谱来进行试料的组成成分分析，从而能够提供低价的装置，因此适用于本发明。
在图2中，荧光X线分析器11具备：对衬底照射规定的X线3的X线管2；测定接受该X线3而从衬底放射的荧光X线4的强度的检测器5；对该检测器5的检测结果进行放大的放大器6；和存储分别与规定的多种PDP的衬底的组成成分对应的荧光X线光谱组的数据的存储部7。此外，还具备运算器8，其由放大器6的结果求得荧光X线光谱，并将该荧光X线光谱和存储部7中存储的数据进行比较、分析。另外，还可以具备显示运算器8的结果的显示器9。
在前面或背面衬底分离的衬底1，以未实施玻璃加工的面为X线照射面，设置在载物台10上。若从X线管2发射的X线3照射到衬底1，则从衬底1放射荧光X线4，荧光X线4由检测器5检测。检测出的X线量由放大器6放大，并由运算器8作为荧光X线光谱进行测定。
以下，表示实施例及其结果。
(实施例1)
在本实施例中，作为PDP玻璃的识别基准，使用组成成分分析。
将在制作工序中成为不合格品的PDP玻璃作为样本试料，实施利用荧光X线分析而进行的组成成分分析。在表1中表示结果。各组成成分的含有量以重量％(wt％)表示。
[表1]
  组成成分的含有量(wt％)
  样本试料
  Al2O3   10.282
  SiO2   66.533
  K2O   5.498
  CaO   3.780
  Fe2O3   0.108
  SrO   5.137
  ZrO2   1.926
  BaO   6.653
  HfO2   0.084
然后，从作为供给衬底的玻璃厂家的两家公司(以下，称为A公司、B公司)获得PDP玻璃，将它们作为参考试料，与表1的情况同样，实施荧光X线分析。在表2中表示结果。参考试料分别设为试料1(A公司制)和试料2(B公司制)。
[表2]
    组成成分的含有量(wt％)
  试料1   试料2
  Al2O3   10.282   10.562
  SiO2   66.533   70.279
  K2O   5.498   5.452
  CaO   3.780   1.720
  Fe2O3   0.108   0.076
  SrO   5.137   4.806
  ZrO2   1.926   2.145
  BaO   6.653   4.905
  HfO2   0.084   0.055
比较表1和表2的结果可知，本实施例的样本试料的组成成分与参考试验1的组成成分一致。因此，可知回收的PDP玻璃是试料1即A公司制的玻璃。
根据上述方法，回收约100Kg的被识别为试料1的衬底，再次熔解，确认是否可作为PDP玻璃而再循环。其结果是，确认了无需在制作工序S11中追加新的工序，即可作为PDP玻璃充分地再循环。
(实施例2)
在本实施例中，作为PDP玻璃的识别基准，使用由荧光X线分析而获得的各试料的光谱。具体地说，在玻璃组成成分分析工序S19中，通过由运算器8获得样本试料和参考试料的光谱的差分，来判断样本试料的同质性。样本试料、参考试料、识别装置与实施例同样。
图3表示样本试料的利用荧光X线分析而得到的光谱图。另外，图4、图5分别表示同样地测定的参考试料1、试料2的光谱图。另外，图6表示样本试料的光谱和试料1的光谱的差分，图7表示样本试料的光谱和试料2的光谱的差分。在该情况下，能够识别为样本试料是光谱的差分结果的凹凸少的参考试料。
比较图6和图7，可知本实施例的样本试料是试料1，即A公司制的玻璃。
(其它实施方式)
(A)
在实施例1中，采用了在玻璃组成成分分析工序S19中进行组成成分分析，来识别相同组成成分的衬底的方法，但也可以代替该方法，而基于具有特征的组成的元素的有无、或含有量来进行识别。在此，由于衬底的玻璃中含有的钾、钙、铁、锶、锆、钡、铪等元素存在特有的含有率，因此可使用这些元素的有无或含有量。
(B)
在玻璃组成成分分析工序S19中，在识别样本试料时，还存在活用在荧光X线分析器11中标准地附属的软件的方法。通常，在荧光X线分析器中，大多搭载有比较光谱并评价类似性的软件(称为光谱比较软件、光谱匹配软件等)。在该软件中，存在预先测定成为参考试料的衬底的组成成分，并存储其光谱的软件。因此，通过利用上述软件，对照被回收的衬底的测定光谱和预先存储的光谱，能够识别各衬底。
例如，在SII公司制荧光X线分析器中，装备有评价所测定的光谱是否与存储的光谱中的哪一个一致这一功能即“光谱匹配”。在光谱匹配中，用百分率表示光谱的一致度。
利用该功能，登记参考试料1、试料2的光谱波形，实施与样本试料的光谱波形的对照。其结果是，样本试料的光谱波形的一致率为99.82％，可识别为是试料1的光谱。该结果与实施例1、2相同，可知本方法也是有效的。
(C)
在所述本发明的实施方式中，使用了荧光X线分析器，但作为分析衬底的方法，还可应用普通的元素分析方法。例如，也可以利用电容耦合型等离子体发光光谱分析(ICP-MASS)、原子吸光分析(AA)等。
(工业上的可利用性)
本发明的玻璃识别方法或玻璃识别装置可活用于图像显示装置的玻璃衬底的再循环工业中。另外，还可以适用于在建筑工业中使用的窗户玻璃或在家具中使用的玻璃制品、其它在食品工业中使用的玻璃瓶等的再循环中。

Claims (5)

1.一种玻璃的识别方法，其用于再利用包含玻璃的识别对象物，其中，具有：
对所述识别对象物照射X线，获得所述识别对象物的荧光X线光谱的工序；和
将所述识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组进行分析、比较，识别所述识别对象物中包含的所述玻璃的种类的工序，
识别所述玻璃的种类的工序，通过进行所述识别对象物的荧光X线光谱的组成成分分析、和所述规定的物质组的荧光X线光谱组的组成成分分析，并比较分析结果来判断一致度而进行。
2.一种玻璃的识别方法，其用于再利用包含玻璃的识别对象物，其中，具有：
对所述识别对象物照射X线，获得所述识别对象物的荧光X线光谱的工序；和
将所述识别对象物的荧光X线光谱和规定的物质组的荧光X线光谱组进行分析、比较，识别所述识别对象物中包含的所述玻璃的种类的工序，
识别所述玻璃的种类的工序，通过获得所述识别对象物的荧光X线光谱和所述规定的物质组的荧光X线光谱组的各光谱的差分，并判断一致度而进行。
3.根据权利要求1或2所述的玻璃的识别方法，其特征在于，
所述识别对象物、所述规定的物质组中的至少任一方是显示器用的玻璃衬底。
4.根据权利要求1或2所述的玻璃的识别方法，其特征在于，
所述识别对象物及所述规定的物质组具有从钾、钙、铁、锶、锆、钡、铪中选择的至少一种元素。
5.一种玻璃识别装置，其中，具备：
X线管，其对包含玻璃的识别对象物照射X线；
检测器，其测定从所述识别对象物放射的荧光X线的强度；
存储部，其存储规定的物质组的荧光X线光谱组的数据；和
运算器，其由所述检测器的测定结果求出所述识别对象物的荧光X线光谱，并通过分析、比较所述识别对象物的荧光X线光谱和所述规定的物质组的荧光X线光谱组的数据，来识别所述识别对象物中包含的所述玻璃的种类。
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