CN1941099A - 最佳化写入策略参数的系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明揭露了一种最佳化写入策略参数的系统及方法，该方法包括：取得代表相应于一个写入策略的重读结果的品质指标；根据取得的品质指标从多个调整程序中决定出一个调整程序；执行所决定的调整程序来最佳化写入策略；写入策略包括多个写入策略参数，每一个调整程序包括欲被调整的写入策略参数中的至少一个以及欲被调整的写入策略参数的顺序。

Description

最佳化写入策略参数的系统及方法
技术领域
本发明涉及一种光储存媒体烧录技术，特别是一种最佳化写入策略参数的系统及方法。
背景技术
随着数字储存与多媒体应用需求的快速增加，光储存装置已经变成个人计算机的标准配备，例如DVD烧录机。对于每一种光储存格式，有许多制造商生产不同类型的光盘片。为获得最佳写入性能且能够广泛地支持各种光盘片，通常光驱的制造商会针对各种光盘片，预先调好与其搭配的光驱的最佳写入策略，再根据其辨识码(disc identification code)，将最佳写入策略储存于光驱里的记忆装置中，以便将来消费者可以获得良好的烧录品质。
然而市面上不断有许多新的光盘片制造出来，欲支持所有的光盘片将会耗费大量的储存空间与高昂成本，但是如果光盘片没有支持的话，会局限该光驱的实用性。解决方式之一是消费者可上网至光驱制造商的网站下载最新的光驱韧体(firmware)程序，但对消费者而言则增添麻烦。如果该机器无法直接上网，例如DVD录像机，又形成另一项问题。有一些专利提供的解决方式是使用内建的数个写入策略，分别试写，以其中较佳的写入策略之一或数个间的组合作为写入策略，但是通常获得的写入性能是有限的。
光盘片制造商众多与生产的光盘片种类繁多所衍生出的另外一个问题是，很容易在市面上购得辨识码相同的光盘片，但是使用相同的写入策略却有极大的烧录性能差异。部分原因可能是厂商于不同时期生产的光盘片，虽然方法已经改变，但还是使用相同的辨识码。所以传统通过光盘片的辨识码来选用写入策略的方法已经不可靠，该方法很可能发生挑片的问题。习知的解决办法之一是在辨识出光盘片的辨识码后，再对光盘片上预刻录的写入策略与写入功率等信息作进一步的比对，以确认其对应的真正写入策略，这种做法必须耗费大量的储存空间来储存其余相关的信息，并且所能支持的光盘片是有限的。
此外，使用内建的写入策略，再以习知的最佳激光功率校正(OPC)程序获得最佳写入激光功率的做法，往往会由于光驱的制造差异，使得所使用的写入策略不是最佳的设定，记号成形效果很可能不够理想，其写入品质不可靠而导致写入性能退化(degrade)。
发明内容
为了克服现有技术的缺陷，本发明提供一种最佳化写入策略参数的方法，根据品质指标来采用不同的调整程序。该方法的实施例包括下列步骤：取得代表一写入策略的重读结果的品质指标；根据所取得的品质指标从多个调整程序中决定一调整程序；以及执行所决定的调整程序以最佳化写入策略，所述写入策略包括多个写入策略参数。每一个调整程序包括至少一欲被调整的写入策略参数以及欲被调整的写入策略参数的顺序。
所述重读结果为一射频信号的一对称性、一数据错误率、一抖动量、所有图案组合的一平均长度偏差量或一平均边缘偏移量。
所述写入策略为一城堡式激光输出，所述写入策略参数为一激光功率大小、一过驱动值、一nT图案的一前缘的一增幅宽度、或一nT图案的一后缘的一增幅宽度、相应于一(平面，凹洞)及(凹洞，平面)组合的在前一个理论平面之后的一段距离的一位置，或在后一个理论平面之前的一段距离的一位置。
所述写入策略为一多脉波激光输出，所述写入策略参数指出一激光功率大小、一中间脉波宽度相对时脉基频的一比例，一nT图案的一前缘的一增幅宽度、一nT图案的一后缘的一增幅宽度、相应于一(平面，凹洞)及(凹洞，平面)组合的在前一个理论平面之后的一段距离的一位置，或在后一个理论平面之前的一段距离的一位置。
所述写入策略参数区分为多个静态写入策略参数及多个动态写入策略参数，所述静态写入策略参数关联于一光储存媒体上的一凹洞的一信号宽度而动态写入策略参数用来克服形成所述凹洞的热干涉效应，所述方法进一步包括：决定所述品质指标是否符合一软性限制及/或未符合一硬性限制；当所述品质指标符合所述软性限制并且未符合所述硬性限制时，执行一微调程序来最佳化所述动态写入策略参数；以及当所述品质指标未符合所述软性限制，执行一完整调整程序来最佳化所述静态及动态写入策略参数，其中所述硬性限制相对于所述软性限制较为严苛。
所述完整调整程序包括：决定欲被调整的至少一静态写入策略参数以及一最佳化顺序，所述最佳化顺序包括根据所述取得的品质指标排序所述决定的静态写入策略参数；以所述决定的最佳化顺序来执行一静态最佳化程序以最佳化所述决定的静态写入策略参数；以及在所述静态最佳化程序执行后，执行一动态最佳化程序以最佳化所述决定的动态写入策略参数。
当所述静态写入策略参数最佳化程序所调整的所述写入策略的写入品质的一结果不被接受时，执行所述动态写入策略参数最佳化程序。
所述完整调整程序为重复执行直到经由先前的完整调整程序所调整的所述写入策略的写入品质的一结果被接受，或代表所述完整调整程序的调整次数的一数值大于一预定值。
本发明亦提供一种最佳化写入策略参数的系统。该系统的实施例包括一信号读取单元；一写入参数调整单元，用以从信号读取单元中取得相应于一写入策略的至少一重读的品质指标，根据重读的品质指标来决定一调整程序以最佳化写入策略；以及一图案写入单元，用以从写入参数调整单元来输出写入策略，所述写入策略包括多个写入策略参数，并且所述调整程序包括欲被调整的所述写入策略参数中的至少一个以及所述欲被调整的写入策略参数的顺序。
所述写入参数调整单元进一步包括一写入品质检测单元以及一写入参数调整控制器。
所述写入品质检测单元包括从由一对称性检测器、一错误检测器、一抖动量检测器、一长度偏差量检测器及一边缘偏差量检测器所组成的群组所选出的至少一单元。
所述至少一重读品质指标为由一射频信号的对称性、一数据错误率、一抖动量、所有图案组合的一平均长度偏差量以及一平均边缘偏移量所组成的一群组中选择出至少一个。
所述写入策略为一城堡式激光输出，所述写入策略参数为一激光功率大小、一过驱动值、一nT图案的一前缘的一增幅宽度、或一nT图案的一后缘的一增幅宽度、相应于一(平面，凹洞)及(凹洞，平面)组合的在前一个理论平面之后的一段距离的一位置，或在后一个理论平面之前的一段距离的一位置。
所述写入策略为一多脉波激光输出，所述写入策略参数指出一激光功率大小、一中间脉波宽度相对时脉基频的一比例，一nT图案的一前缘的一增幅宽度、一nT图案的一后缘的一增幅宽度、相应于一(平面，凹洞)及(凹洞，平面)组合的在前一个理论平面之后的一段距离的一位置，或在后一个理论平面之前的一段距离的一位置。
所述写入策略参数区分为多个静态写入策略参数及多个动态写入策略参数，所述静态写入策略参数关联于一光储存媒体上的一凹洞的一信号宽度，并且所述动态写入策略参数用于克服形成所述凹洞的热干涉效应，所述写入参数调整控制器决定所述品质指标是否符合一软性限制及/或未符合一硬性限制，当所述品质指针符合所述软性限制并且未符合所述硬性限制时，执行一微调程序来最佳化所述动态写入策略参数，以及当所述品质指标未符合所述软性限制，执行一完整调整程序来最佳化所述静态及动态写入策略参数，并且所述硬性限制相对于所述软性限制较为严苛。
所述完整调整程序包括：决定欲被调整的至少一静态写入策略参数以及一最佳化顺序，所述最佳化顺序包括根据所述取得的品质指标排序所述决定的静态写入策略参数；以所述决定的最佳化顺序来执行一静态最佳化程序以最佳化所述决定的静态写入策略参数；以及在所述静态最佳化程序执行后，执行一动态最佳化程序以最佳化所述决定的动态写入策略参数。
当所述静态写入策略参数最佳化程序所调整的所述写入策略的写入品质的一结果不被接受时，执行所述动态写入策略参数最佳化程序。
所述完整调整程序重复执行直到经由先前的完整调整程序所调整的所述写入策略的写入品质的一结果被接受，或代表所述完整调整程序的调整次数的一数值大于一预定值。
所述系统更包括一写入参数储存单元，用于通过所述写入参数调整单元来储存所述写入策略输出。
所述写入参数储存单元为一EPROM或一FLASH-ROM。
相比于现有技术中需要将与光盘片的辨识码、光盘片上预刻录的写入策略与写入功率等信息存储于光驱，本发明的方法及系统通过品质指标藉由采用不同的调整程序最佳化写入策略参数，可减少存储空间并降低成本，还可提高写入性能。
附图说明
图1a和图1b为范例烧录凹洞的写入策略示意图；
图2为实施例的最佳化写入策略参数系统的硬件环境示意图；
图3为本发明实施例中根据品质指标采用不同调整程序来最佳化写入策略参数的方法流程图；
图4提供由图3的步骤S1100所执行的初始写入策略参数的方法流程图；
图5为调整动态写入策略参数方法的第一实施例流程图；
图6为调整动态写入策略参数方法的第二实施例流程图；
图7为实施例所有写入策略参数的完整调整的方法流程图。
图8为实施例使用一维搜寻最佳值的方法流程图；
主要组件符号说明：
Pw～激光功率大小；
POD～短图案增幅功率比例的过驱动值；
Sk～短图案的前缘的增幅宽度；
Ek～短图案的后缘的增幅宽度；
Rik～在前一个理论平面之后的一段距离的一位置；
Fkm～在后一个理论平面之前的一段距离的一位置；
m～中间脉波相对时脉基频的一比例；
100～光驱；                  10～读写头；
11～光盘片；                 12～射频信号；
20～信号读取单元；           22～均衡器；
23～等化信号；               24～切割器；
25～切割信号；               30～写入参数调整单元；
31～写入品质检测单元；
32～写入参数调整控制器；
40～图案写入单元；           33～对称性检测器；
34～错误率检测器；           35～抖动量检测器；
36～平均长度偏差量检测器；
37～平均边缘偏移量检测器；
33s～射频信号的对称性(β值)；
34s～数据错误率；            35s～抖动量；
36s～所有图案组合的平均长度偏差量；
37s～所有图案组合的平均边缘偏移量；
38～写入策略参数；           41～写入脉波控制信号；
42～写入脉波产生器；         43～调制的信号；
44～写入脉波；               45～激光二极管驱动器；
46～驱动信号；               50～写入参数储存单元；
S1100、S1200、S1300、S1400、S1500～方法步骤；
S1600、S1700、S1700a、S1800、S1810、S1900～方法步骤；
S1110、S1120、S1130、S1131、S1140～方法步骤；
S1610、S1620、S1630、S1640、S1650、S1660～方法步骤；
S1610b、S1620b、S1630b、S1640、S1650、S1660～方法步骤；
S1710、S1720、S1730、S1740～方法步骤；
S1750、S1760、S1770、S1780～方法步骤；
S1731、S1732、S1733、S1734～方法步骤。
具体实施方式
本发明可用于最佳化两种写入策略。图1a和图1b为范例的烧录凹洞的写入策略示意图，分别为范例的城堡式(castle type)写入策略及范例的多脉波式(multipulse type)写入策略。参考图1a，Pw代表激光功率大小、POD(overdrive)代表短图案增幅功率比例的过驱动值、Sk及Ek分别代表短图案的前缘的增幅宽度及短图案的后缘的增幅宽度。短图案可包括3T至5T的图案。在另一个实施例中，Pw、POD、Sk及Ek用以刻录5T至11T、14T的长图案。在本实施例中，写入策略参数Pw、POD、Sk及Ek代表静态写入策略参数。静态写入策略参数关系着图案能否成形以及成形的品质。此外，Rik及Fkm代表动态写入策略参数，其中ik及km分别代表前后不同T长度图案的组合，T长度可为3T至6T，或以上。动态写入策略参数与前后T长度图案的组合有关。Rik为相对于先前iT图案之当前kT图案的写入脉波的上升时间点。Fkm为相对于后续mT图案的当前kT图案的写入脉波的下降时间点。其意味着会影响动态写入策略参数的先前与后续T长度图案的组合。通过调整Rik及Fkm能有效克服相邻图案间的热干涉效应，用以产生更准确的图案。参考图1b，在多脉波写入策略中，Pw代表激光功率大小、Sk及Ek分别代表起始脉波与结束脉波的宽度，m代表中间脉波相对时脉基频(base clock)T的一比例。Pw、m、Sk及Ek作为静态写入策略参数，而Rik及Fkm则作为动态写入策略参数。
图2为依据本发明实施例的最佳化写入策略参数系统的硬件环境示意图。实施例的光驱100包括光学读写头(optical pick-up，OPU)10、信号读取单元20、写入参数调整单元30以及图案写入单元40。信号读取单元20包括均衡器(waveform equalizer)22及切割器(slicer)24，为光驱100习知的读取信道(read channel)的一部份。在另一个实施例中，可用边缘检测器取代切割器。光学读写头10从光盘片11中读取数据图案，来产生射频(RF)信号12。均衡器22将射频信号12重建为等化信号23。等化信号23经由切割器24(或边缘检测器)被切割为切割信号25。等化信号23及切割信号25为写入参数调整单元30的输入信号。
写入参数调整单元30包含二个装置：写入品质检测单元31与写入参数调整控制器32。写入品质检测单元31包括一对称性检测器33、一错误率检测器34、一抖动量(jitter)检测器35、一长度偏差量(length deviations)检测器36与一边缘偏移量(edge shifts)检测器37。等化信号23为对称性检测器33的输入信号。切割信号25为错误率检测器34、抖动量检测器35、长度偏差量检测器36与边缘偏移量检测器37的输入信号。计算输入信号后，对称性检测器33的输出信号为射频信号的对称性(也就是β值)33s，错误率检测器34的输出信号为数据错误率34s，抖动量检测器35的输出信号为抖动量35s，长度偏差量检测器36的输出信号为各种图案组合的平均长度偏差量36s，而边缘偏移量检测器37的输出信号则为各种图案组合的平均边缘偏移量37s。
写入参数调整控制器32的输入信号可以是射频信号的对称性β值33s、数据错误率34s、抖动量35s、各种图案组合的平均长度偏差量36s与各种图案组合的平均边缘偏移量37s中的任何一项信号或其中的组合，视写入参数调整作业的步骤而定。例如当判断写入品质是否被接受时，数据错误率34s与抖动量35s作为输入信号输入至写入参数调整控制器32。当调整动态写入策略参数时，各种图案组合的平均长度偏差量36s或各种图案组合的平均边缘偏移量37s作为输入信号输入至写入参数调整控制器32。在此特别强调，虽然本发明采用上述多种参数其中一种或多种之组合，不必然需要同时参考所有参数。另外，除了上述参数外，熟悉此技艺之人士亦可使用其它用以表示写入品质的各种参数来作为调整写入策略的依据。写入参数调整控制器32的输出信号则作为写入脉波控制信号41与写入策略参数38，其中写入脉波控制信号41用于控制写入脉波的波形。而写入策略参数38则储存至写入参数储存单元50。
写入参数调整控制器32在一般的写入策略参数调整程序中会设定数个候选的写入策略参数，经由逐一预写来获得写入策略参数的最佳设定。而在动态写入策略参数调整中，会依据实际测量的各种图案组合的平均长度偏差量或平均边缘偏移量来计算相对应的动态写入策略参数偏差量，并据以调整出新的动态写入策略参数。接着，写入参数调整控制器32送出控制信号41至写入脉波产生器42。详细的写入参数调整流程将在下文的实施流程中进一步描述。
图案写入单元40包含写入脉波产生器(write pulse generator)42与激光二极管驱动器(laser diode driver)45，为光驱100的习知写入信道(writechannel)的一部分。写入脉波产生器42的输入信号为控制信号41与调制的(modulated)信号43，调制的信号43可以为一般编码数据经由调制所得到的信号或者是特殊样式(pattern)的信号。写入脉波产生器42会根据控制信号41与调制信号43产生相对应的写入脉波44，然后再由激光二极管驱动器45产生相对应的驱动信号46来驱动光学读写头10执行写入图案的动作。
写入参数储存单元50则是用来记录经过调整学习后，写入品质指标符合预先设定的标准的写入参数。写入参数储存单元50可以是EEPROM或FLASH-ROM等等。
图3为依据本发明实施例的根据品质指标采用不同调整程序来最佳化写入策略参数方法的流程图，由写入参数调整控制器32(如图2所示)所执行。需注意的是，当使用城堡式写入策略时，静态写入策略参数包括Pw、POD、Sk与Ek，当使用多脉波写入策略时，静态写入策略参数包括Pw、m、Sk与Ek。如步骤S1100，准备初始的写入策略参数W(Xj、P0)，其中写入策略参数Xj包括POD/m、Sk、Ek、Rik及Fkm。将于图4更进一步描述步骤S1100的细节。图4为依据本发明实施例初始化写入策略参数方法的流程图。如步骤S1110，先检查所加载的光盘片11(如图2所示)的光盘片型态与辨识码(ID)。光盘片的型态(例如CD、DVD-R、DVD+R、DVD-RW、SACD等)与识别码可从光盘片11中获得。如步骤S1120，判断是否支持所加载的光盘片11，所谓支持是指该光驱100对该光盘片11有内建的写入策略。若目前的媒体有内建的写入策略支持，流程进行至步骤S1130，若否，至步骤S1131。如步骤S1130，取出关联于获得的光盘片型态及识别码的内建的写入策略参数Wm(Xj)，m表示内建的识别码且Xj表示如图1a及图1b所示的写入策略参数之一。步骤S1131中，取得默认的写入策略参数Wd(Xj)作为初始写入策略参数。如步骤S1140，根据所取得的写入策略参数，执行一次习知的最佳激光输出功率校准程序(optimum power calibration，OPC)，以取得初始写入激光功率P0，并且更进一步取得写入策略参数W(Xj、P0)的候选的设定(亦即初始设定)。
请再次参考图3，步骤S1200为测试写入品质步骤，利用所加载的光盘片11的内圈或外圈测试区域进行试写。如步骤S1300，重读先前试写的射频信号，并据以测量先前试写的写入品质指标。写入品质指标可以是一个或多个写入品质检测单元的输出信号，如射频信号的对称性33s、数据错误率34s、抖动量35s、所有图案组合的平均长度偏差量36s与所有图案组合的平均边缘偏移量37s的其中一项或数项的组合。
步骤S1400中，决定所测量的写入品质指标是否大于硬性限制(亦即未符合硬性限制hard limit)。若是，流程进行至步骤S1500，若否，至步骤S1900。所测量的写入品质指标(由步骤S1300所产生)符合硬性限制表示目前的写入策略参数适合该光驱100与所加载的光盘片11，无须再进行任何调整，可以直接进行步骤S1900的数据写入程序。如果所测量的写入品质指标(由步骤S1300所产生)未符合硬性限制表示目前的写入策略参数不完全适合，需于步骤S1500进一步检验来决定所测量的写入品质指标是否符合软性限制(soft limit)。
步骤S1500中，决定所测量的写入品质指标是否大于软性限制(亦即未符合软性限制)。若是，流程进行至步骤S1700，若否，至步骤S1600。所测量的写入品质指标(由步骤S1300所产生)符合软性限制表示可能由于光驱的机台差异造成写入品质变差，而目前的写入策略参数只需为光驱100及所加载的光盘片11进行微调(slight adjustment)，亦即调整动态写入策略参数Rik及Fkm。所测量的写入品质指标(由步骤S1300所产生)未符合软性限制表示写入品质已经偏离设定的目标太远，而目前的写入策略参数需要完整的写入策略调整，于是流程进行至步骤S1700。
请注意，用以检验是否符合硬性限制与软性限制的步骤S1400与步骤1500，并没有必然的优先级。步骤S1400及步骤S1500甚至可以合并于同一个步骤中完成。步骤S1400及步骤S1500分开的目的主要在于将所测量的写入品质指标分级，分成不需调整(亦即写入品质良好)、需要微调(写入品质可以有效改善)与需要重新设定(写入品质极差)等三种等级。适当地将所测量的品质指标分级，可以有效减少写入策略参数最佳化所需进行的流程步骤与花费的时间。
在步骤S1600进行微调Rik与Fkm程序之后，流程进行至步骤S1800，将目前的写入策略参数储存起来，以作为将来提供同一种类光盘片的初始写入策略参数。而在步骤S1700完整的写入策略参数调整之后，流程进行至步骤S1700a来进一步检验调整结果。若写入品质指标符合预先设定目标，则流程进行至步骤S1800，来储存目前的写入策略参数，若否，至步骤S1810，透过诸如IDE(Integrated Device Electronics)、SATA或通用序列总线(Universal SerialBus，USB)的接口，将目前的写入品质指标传送至主控端(host)，再由主控端作进一步的决策。用于检验调整结果的步骤S1700a可以包含于完全调节写入策略参数的步骤S1700之中，无须再额外进行试写动作。也就是说，如果已经由步骤S1700获得相关的写入品质或性能指标，可以由步骤S1700来决定接着进行步骤S1800或S1810。
步骤S1800储存调整后的写入策略参数。将调整后的写入策略参数储存于光驱100的记忆装置中，例如EPROM或FLASH ROM，或是透过诸如IDE、SATA或USB的接口将调整后的写入策略参数与光盘片的辨识码一起传送至主控端，储存在主控端的储存装置中。
图5为调整动态写入策略参数的方法的第一实施例流程图，由图3的步骤S1600所执行。如步骤S1610，根据从先前预写区域所读取的重读射频信号，测量与一般的(平面，凹洞)(Land，pit)及(凹洞，平面)(pit，land)组合中的理想值间的差异的平均长度偏差量。如步骤S1620，判断所测量的平均长度偏差量是否低于一预定的规格。若是(亦即所测量的平均长度偏差量是被接受的)，流程进行至步骤S1660，若否，至步骤S1630。如步骤S1660，输出调整后的动态写入策略参数Dn+1(Rik、Fkm)。在此特别强调，前述所称凹洞是指激光在光盘片上所形成特定长度的记号，其在某种类光盘片中，形成特定长度的凹洞，但在另一种光盘片中，则是在光盘片上造成相变化但不形成明显凹洞，仅使其和平面具有不同的光反射量。
相应的组合(Rik、Fkm)的动态写入策略参数修正量通常与相应的组合(Rik、Fkm)的理想值间的平均长度偏差量有关。如步骤S1630，根据所测量的相应的组合Sn(Rik、Fkm)的平均长度偏差量来计算出动态写入策略修正量dn(Rik、Fkm)。例如，(Rik、Fkm)的任何组合的修正量可由下列方程式决定出：
d(Fik，Rkm)＝K(Fik，Rkm)*S(Fik，Rkm)，
其中，d(Rik、Fkm)代表(Rik、Fkm)的特定组合的修正量，S(Rik、Fkm)代表所测量的(Rik、Fkm)的特定组合的平均长度偏差量，以及K(Fik，Rkm)代表(Rik、Fkm)的特定组合的比例常数。
图6为调整动态写入策略参数方法的第二实施例流程图，由图3的步骤S1600所执行。它与图5的第一个实施例的差别在于步骤S1610b、S1620b与S1630b。第二实施例是利用一般(平面，凹洞)与(凹洞，平面)组合与理想值间的平均边缘偏移量(而非如图5的步骤S1610所示的平均长度偏差量)作为修正依据。因此，如步骤S1610b，根据从先前试写区域所读取的重读射频信号来测量一般(平面，凹洞)与(凹洞，平面)组合与理想值间的平均边缘偏移量。如步骤S1620b，判断所测量的平均边缘偏移量(而非如图5的步骤S1630所示的平均长度偏差量)是否小于预先设定值。如步骤S1630b，根据所测量的相应组合S(Fik，Rkm)的平均边缘偏移量(而非如图5的步骤S 1630所示的平均长度偏差量)来计算出动态写入策略修正量Sn(Rik、Fkm)。
完成动态写入策略修正量计算后，在步骤S1640判断修正次数是否小于预定测试限制。若是，流程进行至步骤S1650，若否，至步骤S1660。通常将预定测试限制设为1，亦即经过一次微调之后，就可以相当程度改善动态写入策略参数的写入品质。如步骤S1650，以动态写入策略参数Dn+1(Rik、Fkm)＝Dn(Rik、Fkm)+dn(Rik、Fkm)来执行下一个试写。
图7为依据本发明实施例的所有写入策略参数的完整调整方法的流程图。将写入策略参数分成两种：静态及动态写入策略参数。静态写入策略参数，如图1a和图1b所示的Pw、POD/m、Ek与Sk，仅与该图案长度相关，不需视前后图案组合变化。动态写入策略参数，如图1a和图1b所示的Rik和Fkm，与前后不同T长度图案的组合相关，其中i、k、m(亦即T长度)可为3T至6T或以上。在步骤S1710至S1750间通过一维(one-dimensional)搜寻的方式获得最佳化的静态写入策略参数。在步骤S1760执行动态写入策略参数调整，经由计算修正量来取得(Rik、Fkm)组合的最佳化动态写入策略参数，并且根据所计算出的修正量逐步加以修正。
如步骤S1710，选定需要作最佳化的静态写入策略参数，可以是Pw、POD/m、Ek与Sk的任意组合，同时在步骤S1710决定出包含所选定的静态写入策略参数的最佳化顺序，例如Pw→POD→Pw→Ek→Sk。通常所选的静态写入策略参数组合与步骤S1400及S1500的软性/硬性限制条件相关。不同的硬性及软性限制条件对应不同的静态写入策略参数组合。也就是说，利用不同的软性/硬性限制条件可以筛选必须最佳化的静态写入策略参数，组合出最有效的最佳化顺序。
如步骤S1720，根据选定的最佳化顺序来设定目前进行最佳化的静态写入策略参数。图8为实施例的使用一维搜寻最佳值的方法流程图。如步骤S1731，从所选定的静态写入策略参数的目前数值来产生一组候选值X1至Xn，其中n代表候选值的数量。例如，候选值之一为基准值增减一个偏移值而得。如步骤S1732，以所选定的静态写入策略参数的先前产生的候选值X1至Xn，与其余固定的静态写入策略参数，来执行一系列试写。如步骤S1733，从先前的试写上重读射频信号来衡量重读信号的写入品质。如步骤S1734，从先前产生的候选值决定出相对最佳候选值。步骤S1734中，决定一对应于最佳写入品质指标的候选参数值作为所选定的静态写入策略参数的最佳值，或决定写入品质指标超出默认值的候选值的平均值作为所选定的静态写入策略参数的最佳值。如步骤S1732至S1734，可完全执行完所有试写后来衡量写入品质指标，或于执行完一段试写后测量其写入品质，再进行下一段试写并且依序测量，直到执行完所有试写。写入品质指标可以是写入品质检测单元31(如图3所示)输出的射频信号的对称性33s、数据错误率34s、抖动量35s、所有图案组合的平均长度偏差量36s与所有图案组合的平均边缘偏移量37s。
参考图7，如步骤S1740，判断目前的写入策略参数的写入品质是否被接受。若是，流程进行至步骤S1780，若否，至步骤S1750。步骤S1740不需要再进行试写，只需测量相对最佳值的试写区域即可获得写入品质指标。如步骤S1750，决定所有选择的写入策略参数是否已最佳化并且是否已完成整个最佳化顺序。若是，流程进行至步骤S1760来执行动态写入策略参数调整，若否，至步骤S1720。
步骤S1760可参考如图6及图7所示的动态写入策略参数调整之两个实施例。根据所测量的相应组合的平均长度偏差量或平均边缘偏移量来计算出动态写入策略参数修正量，计算的细节如前所述。
如步骤S1770，判断以新取得的写入策略参数作先前试写的写入品质是否符合预定的目标，或最佳化的次数是否已超过设定值。若是，流程进行至步骤S1780以输出所测量出的写入品质与最佳化的写入策略参数，若否，至步骤S1710来开始下一次的写入策略参数最佳化作业。步骤S1770不需再进行试写，只需测量前一步骤中最后试写区域即可获得写入品质指标。实际上，所有写入策略参数仅执行单一一次的完整调整即可取得可接受的写入品质。因此，将预定限制设为1即可取得最佳的写入品质。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此项技艺者，在不脱离本发明之精神和范围内，当可做些许更动与润饰，因此本发明的保护范围应当以权利要求书的范围为准。

Claims (20)

1.一种最佳化写入策略参数的方法，其特征在于，所述方法包括：
取得代表相应于一写入策略的重读结果的品质指标；
根据所述取得的品质指标从多个调整程序中决定出一调整程序；以及
执行所述决定的调整程序来最佳化所述写入策略，
其中所述写入策略包括多个写入策略参数，并且每一调整程序包括欲被调整的所述写入策略参数中的至少一个以及所述欲被调整的写入策略参数的顺序。
2.根据权利要求1所述的最佳化写入策略参数的方法，其特征在于，所述重读结果为一射频信号的一对称性、一数据错误率、一抖动量、所有图案组合的一平均长度偏差量或一平均边缘偏移量。
3.根据权利要求1所述的最佳化写入策略参数的方法，其特征在于，所述写入策略为一城堡式激光输出，所述写入策略参数为一激光功率大小、一过驱动值、一nT图案的一前缘的一增幅宽度、或一nT图案的一后缘的一增幅宽度、相应于一(平面，凹洞)及(凹洞，平面)组合的在前一个理论平面之后的一段距离的一位置，或在后一个理论平面之前的一段距离的一位置。
4.根据权利要求1所述的最佳化写入策略参数的方法，其特征在于，所述写入策略为一多脉波激光输出，所述写入策略参数指出一激光功率大小、一中间脉波宽度相对时脉基频的一比例，一nT图案的一前缘的一增幅宽度、一nT图案的一后缘的一增幅宽度、相应于一(平面，凹洞)及(凹洞，平面)组合的在前一个理论平面之后的一段距离的一位置，或在后一个理论平面之前的一段距离的一位置。
5.根据权利要求1所述的最佳化写入策略参数的方法，其特征在于，所述写入策略参数区分为多个静态写入策略参数及多个动态写入策略参数，所述静态写入策略参数关联于一光储存媒体上的一凹洞的一信号宽度而动态写入策略参数用来克服形成所述凹洞的热干涉效应，所述方法进一步包括：
决定所述品质指标是否符合一软性限制及/或未符合一硬性限制；
当所述品质指标符合所述软性限制并且未符合所述硬性限制时，执行一微调程序来最佳化所述动态写入策略参数；以及
当所述品质指标未符合所述软性限制，执行一完整调整程序来最佳化所述静态及动态写入策略参数，
其中所述硬性限制相对于所述软性限制较为严苛。
6.根据权利要求5所述的最佳化写入策略参数的方法，其特征在于，所述完整调整程序包括：
决定欲被调整的至少一静态写入策略参数以及一最佳化顺序，所述最佳化顺序包括根据所述取得的品质指标排序所述决定的静态写入策略参数；
以所述决定的最佳化顺序来执行一静态最佳化程序以最佳化所述决定的静态写入策略参数；以及
在所述静态最佳化程序执行后，执行一动态最佳化程序以最佳化所述决定的动态写入策略参数。
7.根据权利要求6所述的最佳化写入策略参数的方法，其特征在于，当所述静态写入策略参数最佳化程序所调整的所述写入策略的写入品质的一结果不被接受时，执行所述动态写入策略参数最佳化程序。
8.根据权利要求6所述的最佳化写入策略参数的方法，其特征在于，所述完整调整程序为重复执行直到经由先前的完整调整程序所调整的所述写入策略的写入品质的一结果被接受，或代表所述完整调整程序的调整次数的一数值大于一预定值。
9.一种最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述系统包括：
一信号读取单元；
一写入参数调整单元，用以从所述信号读取单元中取得相应于一写入策略的至少一重读的品质指标，根据所述重读的品质指标来决定一调整程序以最佳化所述写入策略；以及
一图案写入单元，用以从所述写入参数调整单元来输出所述写入策略；
其中所述写入策略包括多个写入策略参数，并且所述调整程序包括欲被调整的所述写入策略参数中的至少一个以及所述欲被调整的写入策略参数的顺序。
10.根据权利要求9所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述写入参数调整单元进一步包括一写入品质检测单元以及一写入参数调整控制器。
11.根据权利要求10所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述写入品质检测单元包括从由一对称性检测器、一错误检测器、一抖动量检测器、一长度偏差量检测器及一边缘偏差量检测器所组成的群组所选出的至少一单元。
12.根据权利要求11所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述至少一重读品质指标为由一射频信号的对称性、一数据错误率、一抖动量、所有图案组合的一平均长度偏差量以及一平均边缘偏移量所组成的一群组中选择出至少一个。
13.根据权利要求9所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述写入策略为一城堡式激光输出，所述写入策略参数为一激光功率大小、一过驱动值、一nT图案的一前缘的一增幅宽度、或一nT图案的一后缘的一增幅宽度、相应于一(平面，凹洞)及(凹洞，平面)组合的在前一个理论平面之后的一段距离的一位置，或在后一个理论平面之前的一段距离的一位置。
14.根据权利要求9所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述写入策略为一多脉波激光输出，所述写入策略参数指出一激光功率大小、一中间脉波宽度相对时脉基频的一比例，一nT图案的一前缘的一增幅宽度、一nT图案的一后缘的一增幅宽度、相应于一(平面，凹洞)及(凹洞，平面)组合的在前一个理论平面之后的一段距离的一位置，或在后一个理论平面之前的一段距离的一位置。
15.根据权利要求14所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述写入策略参数区分为多个静态写入策略参数及多个动态写入策略参数，所述静态写入策略参数关联于一光储存媒体上的一凹洞的一信号宽度，并且所述动态写入策略参数用于克服形成所述凹洞的热干涉效应，所述写入参数调整控制器决定所述品质指标是否符合一软性限制及/或未符合一硬性限制，当所述品质指针符合所述软性限制并且未符合所述硬性限制时，执行一微调程序来最佳化所述动态写入策略参数，以及当所述品质指标未符合所述软性限制，执行一完整调整程序来最佳化所述静态及动态写入策略参数，并且所述硬性限制相对于所述软性限制较为严苛。
16.根据权利要求15所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述完整调整程序包括：
决定欲被调整的至少一静态写入策略参数以及一最佳化顺序，所述最佳化顺序包括根据所述取得的品质指标排序所述决定的静态写入策略参数；
以所述决定的最佳化顺序来执行一静态最佳化程序以最佳化所述决定的静态写入策略参数；以及
在所述静态最佳化程序执行后，执行一动态最佳化程序以最佳化所述决定的动态写入策略参数。
17.根据权利要求16所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，当所述静态写入策略参数最佳化程序所调整的所述写入策略的写入品质的一结果不被接受时，执行所述动态写入策略参数最佳化程序。
18.根据权利要求16所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述完整调整程序重复执行直到经由先前的完整调整程序所调整的所述写入策略的写入品质的一结果被接受，或代表所述完整调整程序的调整次数的一数值大于一预定值。
19.根据权利要求9所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述系统更包括一写入参数储存单元，用于通过所述写入参数调整单元来储存所述写入策略输出。
20.根据权利要求19所述的最佳化写入策略参数的系统，其特征在于，所述写入参数储存单元为一EPROM或一FLASH-ROM。
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