CN1822126A - 用来调整光学储存装置的写入策略参数的方法及其系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种用来调整一光学储存装置的写入策略参数的方法，其具有：检测多个长度，每一长度对应于该光学储存装置所存取的一光学储存媒体上的一凹洞或一平面；依据该多个长度与多个资料集类型进行计算，以产生分别对应于各资料集类型的计算结果；以及使用该多个计算结果分别调整对应于该多个资料集类型的写入策略参数。

Description

用来调整光学储存装置的写入策略参数的方法及其系统
技术领域
本发明是有关于光学储存装置的写入策略调整(write strategytuning)，尤指一种用来调整(tune)光学储存装置的写入策略参数的方法及系统。
背景技术
由于多媒体应用持续发展，储存大量数字资料的需求遂快速地成长。于是，储存容量高且体积小巧的光学储存媒体，例如：可记录式光盘片(CompactDisc-Recordable disc，CD-R disc)或DVD±R规格的数字多用途光盘片(Digital Versatile Disc，DVD)，就变得愈来愈流行，且光学储存装置，例如：光驱(CD drive)或数字多用途光驱(DVD drive)，已成为个人计算机的标准配备，用来进行上述的多媒体应用。
以上述的光驱为例，当该光驱被控制以将资料写入一可记录式(CD-R)光盘片时，该光驱中一激光二极管的写入功率(writing power)通常是被设为一特定值，而对应于该资料的多个写入脉冲(write pulse)则被用于在CD-R光盘片的沟槽(groove)上将该资料记录成多个凹洞(pit)与平面(land)。该写入功率的该特定值可从一最佳化功率校正(optimal power calibration，OPC)程序来取得。另一方面，透过一写入策略调整(write strategy tuning)程序，亦称为一记录策略调整(recording strategy tuning)程序，借由改变用来控制写入脉冲的宽度的写入策略参数，可增加该CD-R光盘片上凹洞与平面的长度的精确度。请参考CD-R光盘片规格的相关文件，例如：橘皮书第一部(Orange Book Part I)，以取得更多信息。
通常公知技术会利用一特定装置，例如：一示波器，来检验并调整写入策略。预先以试误性写入将预设资料写入光盘片中，再于示波器上检视多个重建波形(reproduced waveform)的眼状图(eye pattern)，用来控制写入脉冲的宽度，而新的一组写入策略参数通常是由工程师或研究员在观测到眼状图后、基于经验来决定。然而，使用这个方法会耗费该工程师或研究员许多时间，这是因为同样的程序必须针对各种媒体以及不同的记录速度而被重复地进行；这些需要重复进行的程序至少包括写入测试资料、检视示波器上所显示的重建波形的眼状图、以及借着经验依据该眼状图来决定新的一组写入策略参数。上述的写入策略调整程序相当耗时，这是由于借由检视眼状图来决定这些写入策略参数并非自动的运作。另外，由于借着经验依据该眼状图来决定新的一组写入策略参数并不是定量的，因此上述的写入策略调整程序整体而言是不明确的(indefinite)。在某些状况下，含糊不清的眼状图甚至会干扰该写入策略调整程序或使该写入策略调整程序失效。
一些特定的仪器，例如时间间距分析仪(time interval analyzer，TIA)或抖动计量器(jitter meter)，可能有助于取得用来决定新的一组写入策略参数的信息。然而，还是有类似的例行工作必须进行，且若该时间间距分析仪或该抖动计量器是简单地被耦接以供量测之用而不设置额外的控制系统，则手动调整程序所造成的相同缺点仍然存在。另外，自该特定仪器所取得的信息的意义通常是隐含的(implicit)，因此，即使是经验丰富的工程师或研究员也可能需要耗费许多时间才能据以决定新的一组写入策略参数。
发明内容
本发明的目的之一在于提供用来调整(tune)一光学储存装置的写入策略参数(write strategy parameter)的方法与系统。
本发明的一实施例揭露一种用来调整一光学储存装置的多个写入策略参数的方法。该方法包含有：检测多个长度，每一长度对应于该光学储存装置所存取(access)的一光学储存媒体上的一凹洞(pit)或一平面(land)；以及依据该多个长度与多个资料集类型(data set type)进行计算，以产生分别对应于各个资料集类型的计算结果。每一资料集类型对应于至少一特定目标(target)凹洞长度与一特定目标平面长度的组合、或至少一特定目标平面长度与一特定目标凹洞长度的组合，其中该组合对应于一特定写入策略参数。所产生的计算结果被使用于分别对各个资料集类型的写入策略参数做调整。
本发明的另一实施例揭露一种用来调整一光学储存装置的多个写入策略参数的系统。该系统包含有一检测器、一计算模块、与一控制器，其中该计算模块是耦接至该检测器，而该控制器是耦接至该计算模块与该检测器。该检测器检测多个长度，每一长度对应于该光学储存装置所存取的一光学储存媒体上的一凹洞或一平面。该计算模块依据该多个长度与多个资料集类型进行计算，以产生分别对应于各个资料集类型的计算结果。每一资料集类型对应于至少一特定目标凹洞长度与一特定目标平面长度的组合、或至少一特定目标平面长度与一特定目标凹洞长度的组合，其中该组合对应于一特定写入策略参数。该控制器使用所产生的计算结果，分别调整对应于各个资料集类型的写入策略参数。
附图说明
图1为本发明一实施例中、一系统控制器与一个八对十四调变长度量测装置(eight-to-fourteen modulation length measurement device，EFMlength measurement device)的组合的示意图。
图2为依据本发明一实施例、用来调整(tune)一光学储存装置的写入策略参数(write strategy parameter)的方法的流程图。
图3为图2所示的方法中所进行的长度补偿的示意图。
图4为本发明一实施例中、一系统控制器与一平均八对十四调变长度量测装置(average EFM length measurement device)的组合的示意图。
图5为本发明一实施例中、一系统控制器与一平均八对十四调变长度偏差量测装置(average EFM length deviation measurement device)的组合的示意图。
符号说明：
100                        八对十四调变长度量测装置
110                        八对十四调变长度检测器
120，232                   存储器
200                        平均八对十四调变长度量测装置
220，320                   计算模块
220C                       计算器
222                        长度分类器
224                        缓冲器
226                        型样依附分类器
234                        平均单元
300                        平均八对十四调变长度偏差量测装置
326                        长度偏差计算器
1000                       系统控制器
CLK                        参考时脉
EFMI                       剖析信号
L，P                       长度(平面长度/凹洞长度)
( L nT， P mT)，( P nT， L mT)     计算结果(平均长度集)
(Δ L nT，Δ P mT)，(Δ P nT，Δ L mT)                计算结果(平均长度偏差集)
223，225，227，229，233，235，327，329，333，335      信号
Ef，Er                                             凹洞之前/后位置误差
dFi，k，dRj，k                                       写入策略参数的补偿量
910                                                   方法
910S，910E，912～924                                  步骤
具体实施方式
本发明提供用来调整(tune)一光学储存装置的多个写入策略参数(writestrategy parameter)的系统。依据第一观点，这些系统可以是用来调整写入策略参数的电路，其中该电路是置于该光学储存装置中。依据第二观点，这些系统可以实质上(substantially)为该光学储存装置本身。依据第三观点，这些系统亦可包含一计算机(computer)与一光学储存装置的组合。于此仅概略地举例，以解释本发明于不同的实施例中可能采用各种不同的观点。
请参考图1，图1为本发明第一实施例的示意图，其中包括一系统控制器1000与一个八对十四调变长度量测装置(eight-to-fourteen modulationlength measurement device，EFM length measurement device)100。八对十四调变长度量测装置100通常是耦接至一光学储存装置中的一剖析器(slicer，未显示于图1)。该剖析器可依据一重建信号(reproduced signal)，例如：射频信号(radio frequency signal，RF signal)，来产生一剖析信号(sliced signal)，其中该射频信号载有被写在一光学储存媒体上的资料。于本实施例中，该剖析信号为图1所示的EFMI。该剖析器的运作与原理为熟悉此项技艺者所知悉，故不在此重复赘述。为了简明起见，本实施例采用一可记录式光盘片(CD-Recordable disc，CD-R disc)作为该光学储存媒体、以及采用一光驱(CD drive)作为该光学储存装置来进行说明。熟悉此项技艺者应可理解，其它种类的光学储存媒体，例如：数字多用途光盘片(DigitalVersatile Disc，DVD)中不论是DVD-R、DVD+R...等规格的数字多用途光盘片，以及对应的光学储存装置，例如：数字多用途光驱(DVD drive)，也可应用本发明的方法与系统达到自动调整写入策略参数的目的。
如图1所示，八对十四调变长度量测装置100包含有一个八对十四调变长度检测器(EFM length detector)110与一存储器120。八对十四调变长度检测器110可依据剖析信号EFMI来检测多个长度，其中剖析信号EFMI载有被写(记录)在该光学储存媒体上的资料。典型的实施方式中，八对十四调变长度检测器110检测剖析信号EFMI的上升边缘(rising edge)与下降边缘(falling edge)之间的间距(interval)及/或剖析信号EFMI的下降边缘与上升边缘之间的间距，来作为该多个长度。每一间距对应于该光学储存媒体上的一凹洞(pit)或一平面(land)。于是，上述的长度可以是对应于凹洞的凹洞长度(pit length)P以及对应于平面的平面长度(land length)L。依据本实施例，剖析信号EFMI具有八对十四调变资料(EFM information，EFMI)。每一个凹洞长度P代表沿着该光学储存媒体上沟槽(groove)的一凹洞所记录的资料，而每一个平面长度L代表沿着该沟槽的一平面所记录的资料。请留意，于本发明的另一实施例中，该剖析信号可载有加强型八对十四调变(EFM plus，EFM+)信息(例如：应用DVD-R规格的实施例)或其它兼容于八对十四调变/加强型八对十四调变的变化规格的信息。
依据该第一实施例，于该可记录式光盘片的一理想状况下，得自剖析信号EFMI的这些凹洞长度与平面长度均为时脉周期T的倍数，且这些凹洞长度与平面长度的分布范围为3T至11T。也就是说，凹洞的长度P或平面的长度L可为3T、4T、...、或11T。所以，甚为合理的是，参考时脉CLK(其是用来量测这些凹洞长度与这些平面长度的参考信号)具有小于或等于T的周期。依据本实施例，参考时脉CLK的周期为T/10。于一实际状况下，这些长度L与P通常并非T的确切倍数，即通常不是T的整数倍。存储器120储存八对十四调变长度检测器110所检测的长度L与P，并按照系统控制器1000的要求来输出这些长度L与P。然后一计算机或该光学储存装置中执行韧体码(firmware code)的微处理单元(micro-processing unit，MPU)可依据输出自存储器120的长度L与P来进行计算，以产生多个计算结果，这些计算结果是用来调整该光学储存装置的多个写入策略参数，其中该计算机可耦接至该光学储存装置并执行一应用程序(application program)。
需要留意的是，不论是计算机或是微处理单元被使用于计算，该多个写入策略参数皆可依据这些测量到的长度而被自动地调整，这是因为本发明并不需要一些额外的特定装置(例如：上述的示波器)。另外，依据本发明，若并不是使用计算机来进行计算，则写入策略参数可于系统或芯片上被自动地调整。
于执行该应用程序的计算机进行上述的计算以产生计算结果的实施选择中，显然的是，执行该应用程序的计算机可将计算结果送回该光学储存装置。所以，不论是执行该应用程序的计算机或是执行该韧体码的微处理单元，均可依据计算结果来调整该多个写入策略参数。另一方面，于执行该韧体码的微处理单元进行上述的计算以产生计算结果的实施选择中，该微处理单元可简单地依据微处理单元本身所产生的计算结果来调整写入策略参数。借由依据得自这些长度L与P的计算结果来调整写入策略参数，对应于被写到该光学储存媒体上的最新资料的凹洞长度或平面长度可达到T的倍数，其中上述的最新资料是借由使用写入策略参数的最新值而被写到该光学储存媒体上的。请留意，只要不影响本发明的实施，依据该第一实施例的一变化例，系统控制器1000可以是执行该韧体码的微处理单元。
图2为依据本发明一实施例、用来调整一光学储存装置的多个写入策略参数的方法910的流程图。方法910可透过图1所示的系统来实施。依据微处理单元进行上述的计算的实施选择，该第一实施例可说明如下：
于步骤912中，在该光学储存装置中的微处理单元(未显示)的控制下，该光学储存装置先使用一特定转速的写入策略参数的初始值，将资料写到该光学储存媒体上。
于步骤914中，该光学储存装置读取被写到该光学储存媒体上的最新资料以产生剖析信号EFMI。
于步骤916中，八对十四调变长度量测装置100的八对十四调变长度检测器110依据剖析信号EFMI来检测多个凹洞的长度P与多个平面的长度L。
于步骤918中，执行该韧体码的微处理单元依据步骤916中所检测的长度P与长度L以及多个资料集类型(LnT，PmT)与(PnT，LmT)来进行计算，以产生分别对应于各个资料集类型(LnT，PmT)与(PnT，LmT)的计算结果，其中于本实施例中，n＝3、4、...、或11且m＝3、4、...、或11。每一个资料集类型(LnT，PmT)，例如：当n＝n0且m＝m0，资料集类型为(Ln0*T，Pm0*T)，是用来将对应一平面与紧随其后的相邻的凹洞的资料集(L，P)予以分类(classify)，例如资料集类型(Ln0*T，Pm0*T)对应到目标平面长度为n0*T的平面，与紧随其后的目标凹洞长度为m0*T的凹洞。于本实施例中，资料集(L，P)亦可称为长度集(length set)。相仿地，每一个资料集类型(PnT，LnT)，例如：当n＝n0且m＝m0，资料集类型为(Pn0*T，Lm0*T)，是用来将对应一凹洞与紧随其后的相邻的平面的资料集(P，L)予以分类(classify)，例如资料集类型(Pn0*T，Lm0*T)对应到目标凹洞长度为n0*T的凹洞，与紧随其后的目标平面长度为m0*T的平面。于本实施例中，资料集(P，L)亦可称为长度集(length set)。需要留意的是，每一个资料集类型(LnT，PmT)，例如：资料集类型(Ln0*T，Pn0*T)，对应于一特定目标平面长度n0*T与一特定目标凹洞长度m0*T的组合(n0*T，m0*T)，且每一个资料集类型(PnT，LmT)，例如：资料集类型(Pn0*T，Lm0*T)，对应于一特定目标凹洞长度n0*T与一特定目标平面长度m0*T。因此资料集类型(LnT，PmT)与(PnT，LmT)的总数在此实施例中可由下列式子得到：
9*9*2＝162。
若下列方程式成立：
(n0-0.5)*T≤L≤(n0+0.5)*T，且(m0-0.5)*T≤P≤(m0+0.5)*T，
则微处理单元可将符合此方程式的数据集(L，P)分类为资料集类型(Ln0*T，Pm0*T)。相仿地，若下列方程式成立：
(n0-0.5)*T≤P≤(n0+0.5)*T，且(m0-0.5)*T≤L≤(m0+0.5)*T，
则微处理单元可将符合此方程式的数据集(P，L)分类为资料集类型(Pn0*T，Lm0*T)。
于取得对应于每一种资料集类型(LnT，PmT)的资料集(L，P)数量、以及对应于每一种资料集类型(PnT，LmT)的资料集(P，L)数量之后，微处理单元计算分别对应于各个资料集类型(LnT，PmT)的平均长度集(average length set)( L nT， P mT)，并计算分别对应于各个资料集类型(PnT，LmT)的平均长度集( P nT，L mT)，其中平均长度 L nT与 P mT分别代表属于此资料集类型(LnT，PmT)的长度L与P的平均值，同样地，平均长度 P nT与 L mT分别代表属于此资料集类型(PnT，LmT)的长度P与L的平均值。例如：平均长度 L n0*T与 P m0*T分别代表被分类至资料集类型(Ln0*T，Pm0*T)的长度L与P各自的平均值，而平均长度 P n0*T与 L m0*T分别代表被分类至资料集类型(Pn0*T，Lm0*T)的长度P与L各自的平均值。
于计算平均长度集( L nT， P mT)之后，分别对应于各个资料集类型(LnT，PmT)的计算结果(Δ L nT，Δ P mT)可由下列方程式取得：
Δ L nT＝ L nT-nT；以及
Δ P mT＝ P mT-mT。
相仿地，于计算平均长度集( P nT， L mT)之后，分别对应于各个资料集类型(PnT，LmT)的计算结果(Δ P nT，Δ L mT)可由下列方程式取得：
Δ P nT＝ P nT-nT；以及
Δ L mT＝ L mT-mT。
于步骤920中，执行该韧体码的微处理单元决定是否需要调整写入策略参数。若多个计算结果(Δ L nT，Δ P mT)与(Δ P nT，Δ L mT)的长度偏差值Δ L nT、Δ P mT、Δ P nT、与Δ L mT中的任一者大于一特定门槛值，则该微处理单元决定需要调整写入策略参数，步骤922将被执行；否则，进入步骤910E。针对步骤920的初次执行，若写入策略参数的初始值确定不够精确，则微处理单元可决定忽略步骤920的检查、直接进入步骤922。依据不同的实施选择，步骤920与922中所描述的写入策略参数可为一个写入策略参数或多个写入策略参数，这是由于有可能一次只需要调整一个写入策略参数。类似对应于此等单数与多数的不同实施选择的重复说明将不再赘述。
若执行该韧体码的微处理单元决定进入步骤922，则该微处理单元分别依据计算结果(Δ L nT，Δ P mT)与(Δ P nT，Δ L mT)来调整写入策略参数。依据本实施例，写入策略参数包含有Fi，k与Rj，k，分别用来控制凹洞与平面的开始位置，其中组合索引(combination index)I的值可为0、1、...、或80，分别对应81种资料集类型(LnT，PmT)，而组合索引j的值也可为0、1、...、或80，分别对应81种资料集类型(PnT，LmT)，且k为对应于写入策略调整(即调整写入策略参数)的次数的循环索引(loop index)。于本实施例中，Fi，0与Rj，0分别代表对应于组合索引i与j的写入策略参数的初始值，而Fi，1与Rj，1分别代表对应于组合索引i与j的写入策略参数于步骤922中初次被调整后的最新值。因此，Fi，k与Rj，k分别代表对应于组合索引i与j的写入策略参数于第k次执行步骤922后的最新值。
请注意，依据本发明应用于上述的数字多用途光盘片(例如：DVD-R规格或DVD+R规格的数字多用途光盘片)的另一实施例，资料集类型(LnT，PmT)与(PnT，LmT)的总数量可如下列计算来取得：
10*10*2＝200；
这是由于对DVD-R规格或DVD+R规格的数字多用途光盘片而言，n＝3、4、...、11、或14，且m＝3、4、...、11、或14。另外，只要不影响本发明的实施，依据本发明的另一实施例，上述的平均长度集并非全部都需要被计算。若全部组合(nT，mT)当中的某(些)特定组合，与资料集类型(LnT，PmT)与(PnT，LmT)有关的效能为可接受的，则不需要调整全部的写入策略参数。
图3为图2所示的方法910中所进行的长度补偿的示意图，在此是以目标凹洞长度为4T的一凹洞以及紧随该凹洞的目标平面长度为4T的一相邻平面为例来说明。图3所示的Ef与Er分别代表该凹洞的前位置误差(forelocation error)与后位置误差(rear location error)，图3所示的Er的值亦代表紧随该凹洞的相邻平面的前位置误差。如图3所示，补偿量dFi，k与dRj，k是分别用来调整写入策略参数Fi，k与Rj，k，其中补偿量dFi，k与dRj，k可自下列方程式取得。
dFi，k＝Gi，k，L*Δ L nT-Gi，k，P*Δ P mT；以及
dRj，k＝Hj，k，P*Δ P nT-Hj，k，L*Δ L mT。
借由分别将计算结果Δ L nT、Δ P mT、Δ P nT、与Δ L mT乘以加权系数(weightedfactor)Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、与Hj，k，L，该微处理单元能以加权系数Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、与Hj，k，L调整计算结果Δ L nT、Δ P mT、Δ P nT、与Δ L mT的比重，以产生调整结果(Gi，k，L*Δ L nT)、(Gi，k，P*Δ P mT)、(Hj，k，P*Δ P nT)、与(Hj，k，L*Δ L mT)，用来调整写入策略参数Fi，k与Rj，k，如上述的方程式中所示。然后微处理单元可依据下列方程式来调整写入策略参数Fi，k与Rj，k：
Fi，k+1＝Fi，k+dFi，k
Rj，k+i＝Rj，k+dRj，k
针对目前可应用于该光学储存媒体的材料，为了得到写入策略调整的较佳效能，加权系数Gi，k，L、Gi，k，P、Hj，k，P、与Hj，k，L可被设为小于1的值，且可被设为相应于k的增加而逐次减少的值。然而，此并非本发明的限制。另外，于该第一实施例的一特例中，加权系数Gi，k，L与Hj，k，P可被设为零，或是加权系数Gi，k，P与Hj，k，L可被设为零，以节省写入策略调整的计算量，并节省写入策略调整过程中所使用的存储器资源(例如：存储器120或其它实施例中的其它存储器)的储存容量需求。
于步骤924中，于执行该韧体码的微处理单元的控制下，该光学储存装置借由使用写入策略参数Fi，k与Rj，k于调整后(即执行步骤922之后)的最新的值，将资料写到光学储存媒体上。于执行步骤924之后，进入步骤914。于是，方法910的工作流程就持续地进行，直到写入策略参数被调整至符合步骤920中所设定的条件，例如借由比对特定门槛值以达到一预定精确度为止。
于获悉关于方法910的教导之后，熟悉此项技艺者应可理解，依据本发明的另一实施例，图2的步骤中至少一部分，能透过各种借由硬件、软件、或硬件与软件...等组合所实现的装置来执行。例如利用计算机进行上述的计算，步骤918、920、及/或922可被执行该应用程序的计算机所实现。依据此实施选择，所检测出的长度L与P可被送至计算机，将这些长度分类成长度集(L，P)与(P，L)，并计算平均长度偏差(average length deviation)，例如：上述的计算结果(Δ L nT，Δ P mT)与(Δ P nT，Δ L mT)。依据本发明的一实施选择，执行该应用程序的计算机可决定是否需要调整写入策略参数。依据各种实施选择，若需要调整写入策略参数，则执行该应用程序的计算机或执行该韧体码的微处理单元可计算写入策略参数Fi，k与Rj，k的最新值。计算机计算出写入策略参数Fi，k与Rj，k的最新值后，可以选择将写入策略参数Fi，k与Rj，k的最新值、或是补偿量dFi，k与dRj，k送回该光学储存装置。依据各种实施选择，执行该应用程序的计算机或执行该韧体码的微处理单元可调整写入策略参数Fi，k与Rj，k，所以执行该韧体码的微处理单元可借由使用写入策略参数Fi，k与Rj，k的最新值来将资料写到该光学储存媒体上。于执行步骤924之后，步骤914至920将被执行以检查是否需要进一步的写入策略调整。
图4为本发明第二实施例中、与一平均八对十四调变长度量测装置(average EFM length measurement device)200互相耦接的系统控制器1000的示意图。除了图1所示的八对十四调变长度检测器110之外，该第二实施例的平均八对十四调变长度量测装置200另包含有一计算模块220，用来执行步骤918的一部分，以产生多个平均长度集( L nT， P mT)与( P nT， L mT)来作为平均八对十四调变长度量测装置200的计算结果，然后执行另一韧体码的微处理单元可完成步骤918中所揭露的计算的其余部分。
如图4所示，计算模块220包含有一长度分类器(length classifier)222、一缓冲器224、一型样依附分类器(pattern dependency classifier)226、与一计算器220C，而计算器220C则包含有一存储器232与一平均单元(average unit)234。依据该第二实施例，长度分类器222可将每一个凹洞长度P分类为多个目标凹洞长度中之一(即3T、4T、...、或11T)。相仿地，长度分类器222亦可将每一个平面长度L分类为多个目标平面长度中之一(即3T、4T、...、或11T)。依据本实施例，长度分类器222将一长度L或P，以及对应的目标长度(即长度L或P应被分类的目标长度)，一并编码以产生一编码资料223，其中编码资料223具有长度(长度L或P)以及对应的目标长度两者的信息 缓冲器224能缓冲处理(buffering)编码数据223并输出缓冲数据225。在此，若编码资料223对应于一目前长度(current length)，则缓冲资料225对应于一先前长度(previous length)。于是，缓冲器224缓冲处理该先前长度，以供(于型样依附分类器226中)形成(forming)具有一先前长度与一目前长度的资料集(L，P)或(P，L)。
型样依附分类器226借由将每一个资料集(L，P)储存进存储器232当中、分别对应各种资料集类型(LnT，PmT)的存储器区域中的一个区块，将这些检测到的资料集(L，P)分类成资料集类型(LnT，PmT)。相仿地，型样依附分类器226借由将每一个资料集(P，L)储存进存储器232当中、分别对应各种资料集类型(PnT，LmT)的存储器区域中的一个区块，将这些检测到的资料集(P，L)分类成资料集类型(PnT，LmT)。
针对每一个资料集类型(LnT，PmT)，平均单元234可将对应的平面长度L平均(averaging)以产生对应该特定资料集类型的平均长度LnT，并可将对应的凹洞长度P平均以产生对应该特定资料集类型的平均长度PmT。相仿地，针对每一个资料集类型(PnT，LmT)，平均单元234可将对应的凹洞长度P平均以产生对应该特定资料集类型的平均长度 P nT，并可将对应的平面长度L平均以产生对应该特定资料集类型的平均长度 L mT。
依据本实施例，平均单元234是借由使用一移动平均单元(movingaverage unit)来实施。另外，针对每一个资料集类型(LnT，PmT)，例如：符合n＝n0且m＝m0的一资料集类型(Ln0*T，Pm0*T)，平均单元234将对应n0的平面长度L平均，并将对应m0的凹洞长度P平均，以产生对应资料集类型(Ln0*T，Pm0*T)的一平均长度集( L n0*T， P m0*T)。因此计算器220C可利用这些对应到资料集类型(Ln0*T，Pm0*T)的资料集(L，P)，产生资料集类型(Ln0*T，Pm0*T)的计算结果( L n0*T，P m0*T)。广义而言，计算器220C会分别针对各种资料集类型(LnT，PmT)来产生计算结果( L nT， P mT)。
相仿地，针对每一个资料集类型(PnT，LmT)，例如：符合n＝n0且m＝m0的一资料集类型(Pn0*T，Lm0*T)，平均单元234将对应n0的凹洞长度P平均、并将对应m0的平面长度L平均，以产生对应资料集类型(Pn0*T，Lm0*T)的一平均长度集( P n0*T， L m0*T)。因此计算器220C可利用对应到资料集类型(Pn0*T，Lm0*T)的资料集(P，L)，产生资料集类型(Pn0*T，Lm0*T)的计算结果( P n0*T， L m0*T)。广义而言，计算器220C会分别针对各种资料集类型(PnT，LmT)来产生计算结果( P nT， L mT)。
相似于第一实施例，于第二实施例的一特例中，加权系数Gi，k，L与Hj，k，P可被设为零，或是加权系数Gi，k，P与Hj，k，L可被设为零，以节省写入策略调整的计算量，并节省写入策略调整过程中所使用的存储器资源(例如：存储器232)的储存容量需求。于此特例中，分别针对各种资料集类型(LnT，PmT)，计算器220C可产生多个平均长度 L nT或多个平均长度 P mT来作为计算结果(即计算模块220的输出)。相仿地，分别针对各种资料集类型(PnT，LmT)，计算器220C可产生多个平均长度 P nT或多个平均长度 L mT来作为计算结果。
图5为本发明一第三实施例中、与一平均八对十四调变长度偏差量测装置(average EFM length deviation measurement device)300互相耦接的系统控制器1000的示意图。除了图1所示的八对十四调变长度检测器110之外，第三实施例的平均八对十四调变长度偏差量测装置300另包含有一计算模块320，用来执行步骤918的一部分，以产生多个平均长度偏差集(Δ L nT，Δ P mT)与(Δ P nT，Δ L mT)来作为平均八对十四调变长度量测装置300的计算结果。
除了图4所示的长度分类器222、缓冲器224、型样依附分类器226、与计算器220C，图5所示的计算模块320另包含有一长度偏差计算器(lengthdeviation calculator)326。依据第三实施例，型样依附分类器226另将多个资料集(L，P)与(P，L)的这些长度L与P输出至长度偏差计算器326。如前面所述，长度分类器222将一长度L或P，以及对应的目标长度(即长度L或P应被分类的目标长度)，一并编码以产生编码资料223，其中编码资料223具有长度(长度L或P)与所对应的目标长度两者的信息。所以，这样的信息可以在该计算模块(例如：第二实施例的计算模块220与第三实施例的计算模块320)中的两组件之间传输。
于是，当长度偏差计算器326接收到借由编码资料229所传输的多个资料集(L，P)的长度L与P时，就可以简单地将对应于各个资料集类型(LnT，PmT)的资料集(L，P)的长度L与P分别取代为对应的长度偏差值ΔLnT与ΔPmT，其中长度偏差计算器326依据下列方程式来计算多个长度偏差值ΔLnT与ΔPmT：
ΔLnT＝L-nT
ΔPmT＝P-mT
相仿地，当长度偏差计算器326接收到借由编码资料229所传输的多个资料集(P，L)的长度P与L时，就可以简单地将对应于各个资料集类型(PnT，LmT)的资料集(P，L)的长度P与L分别取代为对应的长度偏差值ΔPnT与ΔLmT，其中长度偏差计算器326依据下列方程式来计算多个长度偏差值ΔPnT与ΔLmT：
ΔPnT＝P-nT
ΔLmT＝L-mT
依据图5所示的电路耦接方式的结果，针对每一个资料集类型(LnT，PmT)，计算器220C可简单地分别计算长度偏差值Δ L nT的平均值Δ L nT，而不须计算长度平均值 L nT，并可简单地分别计算长度偏差值ΔPmT的平均值Δ P mT，而不须计算长度平均值 P mT。相仿地，针对每一个资料集类型(PnT，LmT)，计算器220C可简单地分别计算长度偏差值ΔPnT的平均值Δ P nT，而不须计算长度平均值 P nT，并可简单地分别计算长度偏差值ΔLmT的平均值Δ L mT，而不须计算长度平均值 L mT。
相似于第一实施例，于第三实施例的一特例中，加权系数Gi，k，L与Hj，k，P可被设为零，或是加权系数Gi，k，P与Hj，k，L可被设为零，以节省写入策略调整的计算量，并节省写入策略调整过程中所使用的存储器资源(例如：存储器232)的储存容量需求。于此特例中，分别针对多个资料集类型(LnT，PmT)，计算器220C可产生多个平均值Δ L nT或多个平均值Δ P mT来作为计算结果(即计算模块320的输出)。相仿地，分别针对多个资料集类型(PnT，LmT)，计算器220C可产生多个平均值Δ P nT或多个平均值Δ L mT来作为计算结果。
于第二实施例的一变化例中，耦接至平均八对十四调变长度量测装置200的一长度偏差计算器是被用于执行步骤918的一部分，以借由如前面所揭露的相似计算来产生平均长度偏差集(Δ L nT，Δ P mT)与(Δ P nT，Δ L mT)。本变化例的长度偏差计算器依据接收自平均八对十四调变长度量测装置200的计算结果( L nT，P mT)与( P nT， L mT)来产生平均长度偏差集(Δ L nT，Δ P mT)与(Δ P nT，Δ L mT)，并输出平均长度偏差集(Δ L nT，Δ P mT)与(Δ P nT，Δ L mT)。所以，如前面所述，执行该应用程序的计算机或是执行该韧体码的微处理单元可使用输出自本变化例的长度偏差计算器的平均长度偏差集(Δ L nT，Δ P mT)与(Δ P nT，Δ L mT)，以继续执行后续某(些)步骤，例如：步骤920及/或922。
由于对一群资料进行平均运算所得到的平均结果是与对同一群资料进行一总和(summing)运算所得到的总和结果成正比，依据本发明的另一实施例，平均单元234可被代换为一总和单元。因此，平均单元234的平均运算也可被代换为总和单元的总和运算。于获悉关于本发明的教导之后，熟悉此项技艺者应可理解，此等计算的各种变化可被应用于本发明的其它实施例。
另外，虽然于上述的各实施例中，每一资料集类型对应于两个长度的组合(例如：一特定目标凹洞长度与一特定目标平面长度的组合、或一特定目标平面长度与一特定目标凹洞长度的组合)，此并非本发明的限制。于本发明的其它实施例中，这些资料集类型中的一资料集类型或每一资料集类型可对应于至少一特定目标凹洞长度与多个特定目标平面长度的组合、或至少一特定目标平面长度与多个特定目标凹洞长度的组合、或多个特定目标平面长度与多个特定目标凹洞长度的组合。例如：每一资料集类型可应用如(P1，L，P2)、(L1，P，L2)...等三个长度的组合。于是，写入策略参数可进一步依据更多相邻凹洞或平面而被调整。
需要留意的是，本发明可借由使用具有多个有区别的(distinct)组件的硬件或借由使用适当地设计妥程序的计算机来实施。于申请专利范围中、详细说明了多个组件的系统项当中，有些组件可借由使用同一硬件、韧体、或软件装置来实现。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (28)

1.一种用来调整一光学储存装置的多个写入策略参数的方法，其包含有：
检测多个长度，每一长度对应于该光学储存装置所存取的一光学储存媒体上的一凹洞或一平面；
依据该多个长度与多个资料集类型进行计算，以产生分别对应于该多个资料集类型的多个计算结果，每一资料集类型对应于至少一特定目标凹洞长度与一特定目标平面长度的组合、或至少一特定目标平面长度与一特定目标凹洞长度的组合，其中该组合对应于一特定写入策略参数；以及
使用该多个计算结果调整分别对应于该多个资料集类型的写入策略参数。
2.如权利要求1所述的方法，其中检测该多个长度的步骤另包含有：
依据存取该光学储存媒体的该光学储存装置所产生的一重建信号来检测该多个长度。
3.如权利要求2所述的方法，其中检测该多个长度的步骤另包含有：
剖析该重建信号以产生一剖析信号；以及
检测该剖析信号的多个上升边缘与多个下降边缘之间的多个间距及/或该剖析信号的多个下降边缘与多个上升边缘之间的多个间距，来作为该多个长度，其中每一间距对应于一凹洞或一平面。
4.如权利要求1所述的方法，其另包含有：
于系统或芯片上自动地调整该多个写入策略参数。
5.如权利要求1所述的方法，其中依据该多个长度与该多个资料集类型进行计算的步骤另包含有：
将多个资料集分类进该多个资料集类型，每一资料集包含分别对应于一凹洞与一相邻的平面的长度或分别对应于一平面与一相邻的凹洞的长度；以及
使用对应于一资料集类型的多个资料集，来产生该资料集类型的计算结果。
6.如权利要求5所述的方法，其中依据该多个长度与该多个资料集类型进行计算的步骤另包含有：
将该多个长度中的一长度辨识为一目标凹洞长度或一目标平面长度，以供进一步将该多个资料集分类进该多个资料集类型。
7.如权利要求5所述的方法，其中依据该多个长度与该多个资料集类型进行计算的步骤另包含有：
缓冲处理一先前长度，以供形成具有该先前长度与一目前长度的资料集。
8.如权利要求1所述的方法，其中依据该多个长度与该多个资料集类型进行计算的步骤另包含有：
针对该多个资料集类型中的每一资料集类型，进行多个长度的平均运算以产生对应该资料集类型的一计算结果，其中针对该多个资料集类型中之一所进行的平均运算中所使用的长度对应于多个凹洞，或者针对该多个资料集类型中之一所进行的平均运算中所使用的长度对应于多个平面，或者针对该多个资料集类型中之一所进行的平均运算中所使用的长度包含有对应于多个平面的长度与对应于多个凹洞的长度。
9.如权利要求1所述的方法，其中依据该多个长度与该多个资料集类型进行计算的步骤另包含有：
针对该多个资料集类型中的每一资料集类型，进行多个长度的总和运算以产生对应该资料集类型的一计算结果，其中针对该多个资料集类型中之一所进行的总和运算中所使用的长度对应于多个凹洞，或者针对该多个资料集类型中之一所进行的总和运算中所使用的长度对应于多个平面，或者针对该多个资料集类型中之一所进行的总和运算中所使用的长度包含有对应于多个平面的长度与对应于多个凹洞的长度。
10.如权利要求1所述的方法，其中依据该多个长度与该多个资料集类型进行计算的步骤另包含有：
计算多个差值，其包含有多个第一差值或多个第二差值，其中每一差值为对应于一凹洞的一长度与一目标凹洞长度之间的差值，或每一差值为对应于一平面的一长度与一目标平面长度之间的差值；以及
针对该多个资料集类型中的一资料集类型，进行多个第一差值的平均运算及/或进行多个第二差值的平均运算，以产生对应该资料集类型的一计算结果。
11.如权利要求1所述的方法，其中依据该多个长度与该多个资料集类型进行计算的步骤另包含有：
计算多个差值，其包含有多个第一差值或多个第二差值，其中每一差值为对应于一凹洞的一长度与一目标凹洞长度之间的差值，或每一差值为对应于一平面的一长度与一目标平面长度之间的差值；以及
针对该多个资料集类型中的一资料集类型，进行多个第一差值的总和运算及/或进行多个第二差值的总和运算，以产生对应该资料集类型的一计算结果。
12.如权利要求1所述的方法，其中于依据该多个长度与该多个资料集类型进行计算的步骤中，每一资料集类型是对应于至少一特定目标凹洞长度与多个特定目标平面长度的组合、或至少一特定目标平面长度与多个特定目标凹洞长度的组合、或多个特定目标平面长度与多个特定目标凹洞长度的组合。
13.如权利要求1所述的方法，其中使用该多个计算结果的步骤另包含有：
以至少一加权系数来调整该多个计算结果，以产生分别对应于该多个计算结果的多个调整结果；以及
使用该多个调整结果，以调整对应于每一资料集类型的写入策略参数。
14.一种用来调整一光学储存装置的写入策略参数的系统，该系统包含有：
一检测器，用来检测多个长度，每一长度对应于该光学储存装置所存取的一光学储存媒体上的一凹洞或一平面；
一计算模块，耦接至该检测器，用来依据该多个长度与多个资料集类型进行计算，以产生分别对应于该多个资料集类型的多个计算结果，每一资料集类型是对应于至少一特定目标凹洞长度与一特定目标平面长度的组合、或至少一特定目标平面长度与一特定目标凹洞长度的组合，其中该组合是对应于一特定写入策略参数；以及
一控制器，耦接至该计算模块，该控制器使用该多个计算结果调整分别对应于该多个资料集类型的写入策略参数。
15.如权利要求14所述的系统，其中该检测器依据存取该光学储存媒体的该光学储存装置所产生的一重建信号来检测该多个长度。
16.如权利要求15所述的系统，其另包含有：
一剖析器，用来剖析该重建信号以产生一剖析信号；
其中该检测器检测该剖析信号的多个上升边缘与多个下降边缘之间的多个间距及/或该剖析信号的多个下降边缘与多个上升边缘之间的多个间距，来作为该多个长度，以及每一间距对应于一凹洞或一平面。
17.如权利要求14所述的系统，其中该多个写入策略参数是于系统或芯片上被自动地调整。
18.如权利要求14所述的系统，其中该计算模块另包含有：
一型样依附分类器，用来将多个资料集分类进该多个资料集类型，每一资料集包含分别对应于一凹洞与一相邻的平面的长度或分别对应于一平面与一相邻的凹洞的长度；以及
一计算器，耦接至该型样依附分类器，用来使用对应于一资料集类型的多个资料集，来产生该资料集类型的计算结果。
19.如权利要求18所述的系统，其中该计算模块另包含有：
一长度分类器，用来将该多个长度中的一长度辨识为一目标凹洞长度或一目标平面长度，以供进一步将该多个资料集分类进该多个资料集类型。
20.如权利要求18所述的系统，其中该计算模块另包含有：
一缓冲器，用来缓冲处理一先前长度，以供形成具有该先前长度与一目前长度的资料集。
21.如权利要求14所述的系统，其中该计算模块另包含有：
一平均单元，针对该多个资料集类型中的每一资料集类型，该平均单元进行多个长度的平均运算以产生对应该资料集类型的一计算结果，其中针对该多个资料集类型中之一所进行的平均运算中所使用的长度对应于多个凹洞，或者针对该多个资料集类型中之一所进行的平均运算中所使用的长度对应于多个平面，或者针对该多个资料集类型中之一所进行的平均运算中所使用的长度包含有对应于多个平面的长度与对应于多个凹洞的长度。
22.如权利要求14所述的系统，其中该计算模块另包含有：
一总和单元，针对该多个资料集类型中的每一资料集类型，该总和单元进行多个长度的总和运算以产生对应该资料集类型的一计算结果，其中针对该多个资料集类型中之一所进行的总和运算中所使用的长度对应于多个凹洞，或者针对该多个资料集类型中之一所进行的总和运算中所使用的长度对应于多个平面，或者针对该多个资料集类型中之一所进行的总和运算中所使用的长度包含有对应于多个平面的长度与对应于多个凹洞的长度。
23.如权利要求14所述的系统，其中该计算模块另包含有：
一长度偏差计算器，用来计算多个差值，其包含有多个第一差值或多个第二差值，其中每一差值为对应于一凹洞的一长度与一目标凹洞长度之间的差值，或每一差值为对应于一平面的一长度与一目标平面长度之间的差值；以及
一平均单元，耦接至该长度偏差计算器，针对该多个资料集类型中的一资料集类型，该平均单元进行多个第一差值的平均运算及/或进行多个第二差值的平均运算，以产生对应该资料集类型的一计算结果。
24.如权利要求14所述的系统，其中该计算模块另包含有：
一长度偏差计算器，用来计算多个差值，其包含有多个第一差值或多个第二差值，其中每一差值为对应于一凹洞的一长度与一目标凹洞长度之间的差值，或每一差值为对应于一平面的一长度与一目标平面长度之间的差值；以及
一总和单元，耦接至该长度偏差计算器，针对该多个资料集类型中的一资料集类型，该总和单元进行多个第一差值的总和运算及/或进行多个第二差值的总和运算，以产生对应该资料集类型的一计算结果。
25.如权利要求14所述的系统，其中于该计算模块所进行的计算中，每一资料集类型对应于至少一特定目标凹洞长度与多个特定目标平面长度的组合、或至少一特定目标平面长度与多个特定目标凹洞长度的组合、或多个特定目标平面长度与多个特定目标凹洞长度的组合。
26.如权利要求14所述的系统，其中于该控制器能以至少一加权系数来调整该多个计算结果以产生分别对应于该多个计算结果的多个调整结果，以及使用该多个调整结果以调整对应于每一资料集类型的写入策略参数。
27.如权利要求14所述的系统，其中该系统实质上为该光学储存装置。
28.如权利要求14所述的系统，其中该系统为置于该光学储存装置中的一电路，或该系统为耦接至该光学储存装置的一电路。
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