CN1874013A - 发光二极管的制法及其结构 - Google Patents
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Abstract
一种发光二极管的制法及其结构,其制法主要包括下列步骤:1.于基材上蚀刻出一凹槽;2.于凹槽底部以离子植入出二掺杂区以形成一双向二极管;3.蒸镀一金属电极于凹槽上;4.对金属电极加工,而将单一金属电极分为正、负二电极;以及5.将晶体结合于正、负二电极之间,并将其封装成型,以完成发光二极管的制作;而依上述步骤制出的发光二极管具有高效率发光、抗静电保护以及延长使用寿命等功效。
Description
技术领域
本发明旨在提供一种缩短制程、节省成本,且令制出的发光二极管具有高效率发光、抗静电保护以及延长使用寿命等功效的发光二极管的制法及其结构,尤适于应用在发光二极管或类似结构。
背景技术
发光二极管由于耗电量少、体积小,目前广泛地应用于家电用品的指示灯、行动电话的背光光源、交通号志、广告看板以及汽车第三煞车灯等等,近几年来,由于新的发光材料被成功的开发,如磷化铝铟镓(AlGaInP)及氮化铝铟镓(AlGaInN)等,使发光二极管的亮度能更进一步提升。
如TW专利证书号第506145号“具有透明基板覆晶式发光二极管晶粒的高亮度发光二极管”、第474030号“发光二极管的封装方法”等案,主要将高反射率物质涂布在具有倾斜侧壁的基板凹槽;又,或如TW专利证书号第465123号“高功率白色发光二极管”、第554549号“铝镓铟氮覆晶发光二极管的高反射性欧姆接点”等案,乃提到将反射层涂布于透明欧姆电极上,以提升发光效率。
然而,上述专利虽可提升发光二极管的发光效率,但该些提升发光效率的方法皆无考虑到发光晶粒会遭受静电破坏,进而缩减发光二极管的寿命,乃为其最主要的缺陷。
因此,提出一种可缩减制程、节省成本,并使所制出的发光二极管具有高效率发光、抗静电保护以及延长使用寿命等功效,实为本发明的用意。
发明内容
本发明的主要目的在提供一种缩减制程、节省成本的发光二极管的制法。
本发明的次要目的在提供一种具有高效率发光、抗静电保护以及延长使用寿命的发光二极管结构。
为达上述的目的,本发明的方法所采取的步骤包括:1、于基材上蚀刻出一凹槽;2、于凹槽底部以离子植入出二掺杂区以形成一双向二极管;3、蒸镀一金属电极于凹槽上;4、对金属电极加工,而将单一金属电极分为正、负二电极;以及5、将晶体结合于正、负二电极之间,并将其封装成型,以完成发光二极管的制作;而依上述步骤制出的发光二极管具有高效率发光、抗静电保护以及延长使用寿命等功效。
通过上述精减步骤,令所制出的发光二极管具有高效率发光、抗静电保护以及延长使用寿命等功效。
本发明的其它特点及具体实施例可于以下配合附图的详细说明中,进一步了解。
附图说明
图1为本发明的制造流程图。
图2为本发明硅基材蚀刻凹槽的示意图。
图3为本发明制成掺杂区的示意图。
图4为本发明制出金属电极的示意图。
图5为依本发明步骤制出的发光二极管剖示图。
图6为依本发明步骤制出的发光二极管的等效电路图。
图中符号说明:
10 硅基材
11 凹槽
20 掺杂区
30 正电极
31 负电极
40 晶体
41 透明基板
42 欧姆接触层
50 封胶
具体实施方式
请参阅图1,本发明的制程包括以下步骤:
1、于基材上蚀刻出一凹槽;
2、于凹槽底部以离子植入出二掺杂区以形成一双向二极管;
3、蒸镀一金属电极于凹槽上;
4、对金属电极加工,而将单一金属电极分为正、负二电极;以及
5、将晶体结合于正、负二电极之间,并将其封装成型,以完成发光二极管的制作。
如图2所示,实际制造时,取一磊晶结晶方向为<100>的硅基材10,于其上涂布光阻,经显影利用湿蚀刻后,制出具有倾斜角度的凹槽11,该蚀刻液可为氢氧化钾(KOH)或其它非等向蚀刻液;亦或于硅基材10上沉积氮化硅(SiNx)或氧化硅(SiOx),经曝光、显影、蚀刻后进行湿蚀刻或干蚀刻,制得具有倾斜角度的凹槽11。
请参阅图3,又于该凹槽11的底部再涂布光阻,以离子植入或气体扩散方式制作出二掺杂区20,使凹槽11底部的硅基材10形成一NPN或PNP结构的双向二极管,而被植入的离子可为硼(B)或磷(P)元素。
如图4所示,将上述设有凹槽11以及掺杂区20的硅基材10表面,蒸镀一层具有导电及光反射效应的金属电极层,该金属电极层的材质可为Al、Ag、Ni、Ti、Pt、Au、Sn、Cu等金属或合金,并利用激光加工或是用干、湿蚀刻方式将凹槽11内的金属电极层一分为二,形成正电极30与负电极31接触面。
请参阅图5,再将晶体40以覆晶接合方式与硅基材10结合,该晶体40制于一透明基板41上,由元素周期表III族及V族元素所组成的半导体化合物,结合时将晶体40反转,即透明基板41在上、P及N电极在下,藉二金属凸块45与凹槽11内的正电极30与负电极31连结,该结合的金属凸块45可为Au、Sn、AuSn、Al其中任一种或组合;该晶体40的P极涂布有具光反射功能的欧姆接触层42,该欧姆接触层42的材质可为Al、Ni、Ti、Pt、Ag、Au、Sn、Cu等金属或合金。最后以一封胶50将晶体40与硅基材10封装,完成一发光二极管的制作。
对该发光二极管施予一电流时,该晶体40所发出的光会穿越背面的透明基板41,而不会被正面的P极电极遮蔽;况且,该硅基材10凹槽11上所设的金属电极层(含正电极30及负电极31)均具有导电及光反射效应,同时该晶体40的P电极同样涂布具光反射功能的欧姆接触层42,皆可大大提升该发光二极管的发光效率。
请参阅图6,依本发明步骤所制出的发光二极管,其晶体40与二掺杂区20呈并联方式连接,即相当于发光二极管并联一双向二极管,故当电流通过时,该二掺杂区20所形成的双向二极管,由于具有双向崩溃电压的特性,故可保护该晶体40,以避免晶体40遭受静电破坏而延长该发光二极管的寿命。
由上可知,以本发明的制法及制出的结构具有如下实用优点:
1、以精简的制程,使所制出的发光二极管不仅具有高效率发光与抗静电保护等优点,并可节省成本。
2、由于制出的发光二极管等同并联一双向二极管,由于双向二极管具有双向崩溃电压特性,故可保护晶体避免遭受静电破坏,而可延长发光二极管的使用寿命。
以上所述,仅为本发明的较佳实施例而已,举凡依本发明申请专利范围所做的均等设计变化,均应为本案的技术所涵盖。
综上所述,本发明揭示一创新的发光二极管的制法及其结构,改进了现有技术用的发光二极管虽可提升发光效率,但未考虑到静电破坏的缺陷,而提供一种制程精简、降低成本同时可提升发光效率、并可延长使用寿命的发光二极管的制法及其结构,具有新颖性,以及产业上的利用价值,依法提出发明专利申请。
Claims (20)
1、一种发光二极管的制法,其特征是,包括下列步骤:
于基材上蚀刻出一凹槽;
于凹槽底部以离子植入出二掺杂区以形成一双向二极管;
蒸镀一金属电极于凹槽上;
对金属电极加工,而将单一金属电极分为正、负二电极;
将晶体结合于正、负二电极之间,并将其封装成型,以完成发光二极管的制作。
2、一种发光二极管结构,其特征是,包括:
一设有凹槽的基材;
二掺杂区,设于上述基材的凹槽底,以形成一双向二极管;
二金属电极,设于基材凹槽的相对侧;以及
一晶体,结合于上述二金属电极之间;
并藉封胶将上述组件封装成型。
3、如权利要求1或2所述发光二极管的制法及其结构,其特征是,该基材选用<100>结晶方向的磊晶硅基材。
4、如权利要求1或2所述发光二极管的制法及其结构,其特征是,该基材选用<110>结晶方向的磊晶硅基材。
5、如权利要求1或2所述发光二极管的制法及其结构,其特征是,该基材选用<111>结晶方向的磊晶硅基材。
6、如权利要求1或2所述发光二极管的制法及其结构,其特征是,该基材蚀刻出的凹槽角度为44~64度。
7、如权利要求1所述发光二极管的制法,其特征是,该基材的凹槽涂布光阻后,经显影利用湿蚀刻法制出。
8、如权利要求7所述发光二极管的制法,其特征是,该湿蚀刻法的蚀刻液为氢氧化钾,即KOH或其它非等向蚀刻液。
9、如权利要求1所述发光二极管的制法,其特征是,该基材的凹槽使用沉积氮化硅,即SiNx或氧化硅,即SiOx后,经上光阻、曝光、显影后利用干蚀刻法制出。
10、如权利要求9所述发光二极管的制法,其特征是,该干蚀刻法为反应性离子蚀刻。
11、如权利要求1所述发光二极管的制法,其特征是,该离子以气体扩散方式制作二掺杂区以形成一双向二极管。
12、如权利要求1所述发光二极管的制法,其特征是,该离子为硼(B)或磷(P)元素。
13、如权利要求1所述发光二极管的制法,其特征是,该离子植入所形成的双向二极管与基材呈并联方式连接。
14、如权利要求2所述发光二极管结构,其特征是,该二掺杂区所形成的双向二极管与基材呈并联方式连接。
15、如权利要求1或2所述发光二极管的制法及其结构,其特征是,该金属电极为具有导电及光反射效应。
16、如权利要求1所述发光二极管的制法,其特征是,该晶体制于一透明基板上,并为元素周期表III族及V族元素所组成的半导体化合物,且该晶体的P电极设有一欧姆接触层。
17、如权利要求2所述发光二极管结构,其特征是,该晶体具有一透明基板,且该晶体的P电极设有一欧姆接触层。
18、如权利要求16项或17所述发光二极管的制法及其结构,其特征是,该欧姆接触层的材质为Al、Ni、Ti、Pt、Ag、Au、Sn、Cu等金属或合金。
19、如权利要求15所述发光二极管结构,其特征是,该金属电极的材质可为Al、Ag、Ni、Ti、Pt、Au、Sn、Cu等金属或合金。
20、如权利要求1或2所述发光二极管的制法及其结构,其特征是,该晶体与基材的结合点材质可为Au、Sn、AuSn、Al、Cr、Ni、Ti、Pt、Cu、W其中任一种或组合。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNB2005100742500A CN100444416C (zh) | 2005-06-02 | 2005-06-02 | 发光二极管的制法及其结构 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNB2005100742500A CN100444416C (zh) | 2005-06-02 | 2005-06-02 | 发光二极管的制法及其结构 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1874013A true CN1874013A (zh) | 2006-12-06 |
CN100444416C CN100444416C (zh) | 2008-12-17 |
Family
ID=37484369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB2005100742500A Expired - Fee Related CN100444416C (zh) | 2005-06-02 | 2005-06-02 | 发光二极管的制法及其结构 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN100444416C (zh) |
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---|---|---|---|---|
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CN114171422A (zh) * | 2022-02-11 | 2022-03-11 | 浙江里阳半导体有限公司 | 半导体器件的制造方法及其蒸镀缺陷的检测方法 |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
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