CN1722248A - 光信息记录装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种在与记录同时进行校正的实时校正中，对检测再现信号有效的方法。通过将由激光二极管(110)输出的激光，使用衍射光栅(114)进行分支，形成多个射束点，将其中的一个作为记录用的射束点来进行使用，并且将另一个作为再现用的射束点来进行使用。然后，通过由检波器(122)分别独立地检测出由这些射束点所获得的反射光，将记录用激光处于接通状态的期间作为门信号，对由再现用射束点所获得的RF信号进行屏蔽，有选择地检测在记录用激光处于接通状态下所再现的坑。

Description

光信息记录装置

技术领域

本发明涉及一种光信息记录装置，特别涉及能够实时地校正记录条件的光信息记录装置。

背景技术

对光盘等光信息记录介质的信息记录，通过以下的方式进行，即：将记录数据以EFM(Eight to Fourteen Modulation)格式、8-16调制格式进行调制，根据该调制信号形成记录脉冲，根据该记录脉冲控制激光的强度或照射定时，在光盘上形成记录坑。

此处，记录坑的形成，由于是利用通过激光的照射产生的热来进行的，因此记录脉冲需要进行考虑了蓄热效果或热干扰等的设定。于是，以往按光盘的种类以策略(strategy)的形式对构成记录脉冲的各种参数的设定进行多个定义，从这些策略中选择最适合于该记录环境的策略，进行对光盘的记录。

该策略不仅依赖于例如光拾取器(pick-up)的点径偏差、机构精度偏差等光信息记录装置个体差别，还依赖于用于记录再现时的光盘的制造商类别和记录速度，因此设定最佳策略将提高记录品质。

为此，人们提出了这样的方法：求出对应于各制造商类别的光盘的最佳策略，将该策略对应于各制造商类别预先存储到存储器中，在对光盘记录信息时，读取记录在光盘中的光盘的制造商类别，从上述存储器读出与该所读取的制造商类别对应的最佳策略来进行使用。

但是，根据上述方法，虽然可以对于预先存储在存储器中的制造商类别的光盘进行最佳记录，但对于没有存储在存储器中的制造商类别的光盘，则无法进行最佳记录，此外，即使是预先存储在存储器中的制造商类别的光盘，当记录速度不同时，也不能进行最佳记录。

因此，如下述专利文献1～4所示那样，提出了按记录条件预先进行测试记录，根据该测试记录确定最佳策略，从而能应对各种光盘的方法。

[专利文献1]日本特开平5-144001号公报

[专利文献2]日本特开平4-137224号公报

[专利文献3]日本特开平5-143999号公报

[专利文献4]日本特开平7-235056号公报

然而，上述专利文献1～4所示的方法，由于在开始信息记录前需要进行测试记录，因此无法在记录的同时对策略进行校正，难以进行对内外周的最佳条件不同的情况的应对。

作为解决由于存在着光盘从内周部到外周部若干个记录特性有差异、记录装置一方在内周部和外周部的记录速度不同的情况，因此记录品质产生内外差这样的问题的方法，以下的专利文献揭示了通过调整激光输出来缓解内外差的技术。

[专利文献5]日本特开昭53-050707号公报

在该专利文献5中，公开了通过检测出副光束的光量变化，自动地进行激光输出的优化的方法，该种方法被称为OPC。

上述这样的OPC，由于是调整功率的方法，能够通过不对称(asymmetry)值等统计上的指标求出校正条件，因此也可以实现一边记录一边进行校正的实时校正，但在校正脉冲宽度或脉冲的相位条件时，由于需要记录脉冲与在光盘上所形成的坑之间的偏移量，因此用现有的OPC难以进行应对。

因此，为了进行脉冲条件的实时校正，就需要在记录的同时检测出坑的位置或长度的技术。作为解决这一问题的一个方法(approach)，在下述专利文献6中公开了对与记录位置几乎相同的位置进行再现的技术。

[专利文献6]日本特开昭51-109851号公报

但是，该方法虽然能够适用于光磁记录，但对于不使用磁的光记录却难以适用。即，在光磁记录中，由于通过磁调制进行信息的记录，因此激光的输出是无调制的，但在光记录中，由于通过激光的输出调制来进行信息的记录，因此会产生该调制的影响波及到再现一方的问题。

作为解决该问题的方法，已知有下述文献所揭示的方法。

[专利文献7]日本特开平1-287825号公报

[专利文献8]日本特开平7-129956号公报

[专利文献9]日本特开2004-22044号公报

[专利文献1O]日本特开平9-147361号公报

专利文献7为这样的技术，即：向未记录区域和记录区域照射不同的光束，通过使所获得的不同的信号相互之间进行除法计算而取出再现信号，根据该方法，能够校正在记录信息时由于激光的光强度调制造成的再现信号波形的失真。

此外，专利文献8为以下的技术，即：通过由AGC(Auto GainControl)适当放大后的激光输出和反相时钟来抵消接受了调制的输出而获得再现信号。

此外，专利文献9为以下的技术，即：将伴随记录脉冲的波形变动的再现信号的失真，通过延迟反相等价电路生成相当于该记录脉冲的波形变动的信号并进行抵消，从而消除该失真。

专利文献7至9所揭示的方法，都是通过运算消除调制成分的技术。虽然在理论上认为是可以抵消的，但在抵消的精度和运算速度上，在实用化方面存在种种问题。

此外，专利文献10为以下的技术，即：通过使用将用于记录的脉冲延迟后的延迟脉冲，和将被调制信号反相后的门信号，连同再现脉冲一起输入相位比较器，从而实时地检测出记录状态的偏差。

然而，该专利文献10所公开的方法，由于是在记录脉冲断开(OFF)时进行坑的再现，因此在副光束(sub beam)的输出低的情况下，难以获得具有足够高品质的再现信号。尤其在由记录用的主光束(main beam)分支生成再现用的副光束的结构中，当分支比率变成20∶1或者30∶1时，要分配给副光束足够的输出将会变得困难。

即，在专利文献10中的分支比率为8∶1，但伴随着记录速度的高速化，该分支比倾向于越变越大，此外，由于在记录脉冲断开时光束输出通常为小于或等于1mW，因此在记录脉冲断开时能够检测出的记录面反射光的强度变得非常小。由于当能够检测出的光的强度变弱时，容易受到电路噪声(noise)、介质噪声等的影响，结果造成无法获得良好的检测信号。

发明内容

本发明提供一种在与记录同时进行校正的实时校正中，对再现信号的检测有效的方法。

为了实现上述目的，本发明的第1装置，为一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于：上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲来进行；上述坑的检测，在上述记录用激光以上述高输出区域照射的期间内进行。

此处，所谓高输出区域，指的是记录脉冲变成接通(ON)状态的区域；所谓低输出区域，指的是记录脉冲变成断开状态的区域。

如此，通过在记录用激光的高输出区域进行坑的检测，即使是在通过分支形成再现用激光的情况下，也能够确保再现光的输出。尤其是在记录用激光与再现用激光的分支比率大、对于再现用激光难以确保足够的输出的情况下，本方法是有效的。

即，由于在对坑进行记录期间，输出发光强度比正常再现时强的激光，因此通过有选择地取出该输出高的条件，并取入再现信号，就可以检测出噪声比较少的高精度的再现信号。

通过以上这样根据所检测出的坑信息，实时地校正记录条件，能够谋求内外周差的应对。另外，通过在比检测对象长的坑的记录中读取短的坑，进行策略的优化的方法也包含在本发明中，不中断记录动作而立刻取出刚记录的信息，检测出记录信号的偏差，根据该检测出的偏差来校正策略的方法也包含在本发明中。

此外，本发明的第2装置，为一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于：上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲进行；上述再现用激光的脉冲照射，以与上述记录用激光的脉冲照射同步的定时进行；上述坑的检测，在上述再现用激光的高输出区域内进行。

如此，通过使再现用激光与记录用激光同步，在再现用激光的高输出区域进行坑的检测，可以进行高精度的信号检测。另外，作为同步的形式，包括基于衍射的分支、2光束照射、双激光驱动。

此外，本发明的第3装置，为一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于：上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲进行；上述高输出区域具有上述记录脉冲的电平变得恒定的恒定输出区域；上述坑的检测，在上述记录用激光以上述恒定输出区域照射的期间内进行。

此处，所谓恒定输出区域，指的是记录脉冲为接通状态，并且调制少的恒定的区域，最好设定为无调制状态持续一定时间以上的区域。更具体地说，记录脉冲的高输出区域，最好使用长为14T或11T的恒定输出区域。

如此，通过在记录脉冲的恒定输出区域内进行坑的检测，可以避免调制的影响。即，即使在记录和再现是使用同一光源的情况下，记录脉冲也能够通过有选择地使用无急剧变化的恒定的无调制区域，而进行基于高输出且恒定输出的激光的坑的检测，其结果是能够获得高精度的信号。

此外，本发明的第4装置，为一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于：上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲进行；上述高输出区域具有上述记录脉冲的电平变得恒定的恒定输出区域；上述再现用激光的脉冲照射，以与上述记录用激光的脉冲照射同步的定时进行；上述坑的检测，在上述再现用激光的恒定输出区域内进行。

如此，通过使再现用激光与记录用激光同步，在再现用激光的恒定输出区域进行坑的检测，可以进行高精度的信号检测。

此外，本发明的第5装置，为一种光信息记录装置，将一束激光分支后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过上述再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于，包括：生成至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲的脉冲生成装置；和使用上述记录脉冲的高输出区域，对通过上述再现用激光的照射所获得的再现信号进行屏蔽的屏蔽装置。

如此，通过在记录脉冲的高输出区域屏蔽再现信号，可以有选择地取出以高输出的激光所再现的信号。另外，作为屏蔽的形式，包括屏蔽由再现用激光所获得的RF信号的方法、屏蔽转换为2进制的再现信号的方法。

此外，本发明的第6装置，为一种光信息记录装置，将一束激光分支后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过上述再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于，包括：生成至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲的脉冲生成装置；确定在上述高输出区域中的、上述记录脉冲的电平变得恒定的恒定输出区域的装置；以及使用上述记录脉冲的恒定输出区域，对通过上述再现用激光的照射所获得的再现信号进行屏蔽的屏蔽装置。

如此，通过在记录脉冲的恒定输出区域屏蔽再现信号，可以有选择地取出以高输出和恒定状态的激光再现的信号。

此外，本发明的第7装置，为一种光信息记录装置，将一束激光分支后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过上述再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于，包括：生成至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲的脉冲生成装置；使用上述记录脉冲的高输出区域生成门信号的门信号生成装置；确定上述记录用激光与上述再现用激光的时间差的装置；确定具有比上述门信号短的长度的检测对象脉冲的装置；以及在考虑了上述时间差时，以在上述门信号内包含上述检测对象脉冲的定时，取得通过上述再现用激光的照射所获得的再现信号的坑检测装置。

如此，通过有选择地检测出长度比门信号短的坑，可以进行更可靠的坑的检测。即，在记录长的坑的情况下，相比记录短的坑的情况，将激光输出维持在高的状态的时间变长。由此，通过在记录用激光的发光时间的长度以内，以再现用激光有选择地检测出具有比这更短的记录时间的记录坑，可以进行准确地取得坑的长度和相位信息。

另外，作为门信号的利用形式，包括下述内容。

通过生成与比检测对象长的坑的记录脉冲对应的门信号，与再现检测用射束点(beam spot)的检测信号进行比较，有选择地只取出长的坑的记录中的再现信号。

通过生成与相对地比检测对象长的坑的记录脉冲对应的门信号，与再现检测用射束点的检测信号进行比较，有选择地只取出长的坑的记录脉冲。

此外，本发明的第8装置，为一种光信息记录装置，将一束激光分支后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过上述再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于，包括：通过取第1脉冲和第2脉冲的逻辑和，生成记录脉冲的脉冲生成装置；根据上述记录脉冲，进行上述记录用激光的脉冲照射的装置；通过取上述第1脉冲的反相信号和上述第2脉冲的逻辑积，生成门脉冲的门脉冲生成装置；以及根据上述门脉冲，取得通过上述再现用激光的照射所获得的再现信号的坑检测装置。

如此，通过利用用于驱动记录用激光的脉冲元件，生成再现信号屏蔽用的门脉冲，从而能够谋求门信号生成的高效率。

如上所述，根据本发明，由于激光在高输出的状态下进行坑的检测，因此可以进行更高精度的实时校正。

附图说明

图1是表示本发明的驱动的内部结构的框图。

图2是表示被装入图1所示的驱动内的光拾取器的构造的分解斜视图。

图3是表示照射在光盘的盘面上的点(spot)的配置的平面图。

图4是表示照射在光盘的盘面上的点与检波器(detector)之间的关系的概念图。

图5是表示记录脉冲的形状与恒定区域的关系的概念图。

图6是表示图1所示的脉冲生成电路的内部结构的电路框图。

图7是表示图6所示的门信号的生成概念的时序图。

图8是表示图1所示的LD驱动器的内部结构的电路图。

图9是表示图1所示的屏蔽电路的内部结构的电路框图。

图10是表示记录脉冲与门脉冲以及再现信号之间的关系的时序图。

图11是表示图1所示的CPU执行的标志信号的生成方法的概念图。

图12是表示记录用的主光束与再现用的副光束之间的关系的时序图。

图13是表示记录脉冲与使该记录脉冲延迟的脉冲以及RF信号之间的关系的时序图。

图14是表示了在长的坑的记录中检测出短的坑或者空间(space)的方法的例子的框图。

图15是表示图14所示的计数器256与图1的脉冲生成电路300之间的关系的框图。

图16是表示图14所示的缓冲器250-2存储位串时的例子的概念图。

图17是表示在14T坑的记录中作为检测对象的4T空间的变化的概念图。

图18是表示了在长的坑的记录中检测出短的坑或者空间的方法的其他例子的框图。

图19是表示图18所示的电路块的处理例的时序图。

图20是表示由图18的电路块生成的判断信号的判断基准的概念图。

图21是表示了在长的坑的记录中检测出短的坑或者空间的方法的其他例子的框图。

图22是表示图21所示的电路块的处理例的时序图。

图23是表示图21所示的复位脉冲生成电路426的处理例的时序图。

具体实施方式

以下，参照附图对本发明的光信息记录装置进行详细说明。另外，本发明并不局限于以下说明的实施形式，可以进行适当的变更。

图1是表示本发明的驱动的内部结构的框图。如图1所示那样，该驱动100，使用由激光二极管110输出的激光，对光盘500进行信息的记录和再现，与个人计算机600等外部装置之间进行数据的收发。

在对光盘500进行信息的记录时，经由接口电路218从个人计算机600所接收的记录数据，由EFM编码/解码器216进行编码，通过用CPU212对该已编码的记录数据进行处理，从而确定成为对于该光盘500的记录条件的策略，由脉冲生成电路300将该策略转换成记录脉冲，将该记录脉冲输出到LD驱动器124。

LD驱动器124根据所输入的记录脉冲驱动激光二极管110，激光二极管110应对于该记录脉冲，控制输出激光，将该被控制的激光经由准直透镜112、衍射光栅114、半反射镜116、物镜118，照射到以恒定的线速度或者恒定的角速度进行转动的光盘500上，由此在光盘500上记录由与所希望的记录数据对应的坑、空间串构成的记录模式(pattern)。

另一方面，在对光盘500上所记录的信息进行再现时，再现激光从激光二极管110经由准直透镜112、衍射光栅114、半反射镜116、物镜118，照射到光盘500。

此时，再现激光使用比记录时的激光强度低的激光，来自光盘500的基于该再现激光的反射光，经由物镜118、半反射镜116、受光镜120，由检波器122受光，转换成电信号。

由检波器122输出的电信号，与具有记录在光盘500上的坑、空间的记录模式对应，该电信号通过限幅器(slicer)210被二值化，进而由EFM编码/解码器216解码后作为再现信号输出。

图2是表示被装入图1所示的驱动内的光拾取器的构造的分解斜视图。如图2所示那样，设置于激光二极管110与光盘500的盘面之间的衍射光栅，由2张衍射光栅114-1、114-2构成，在各衍射光栅上，分别形成有方向不同的沟115-1、115-2。

在激光20入射这样构成的衍射光栅时，由第1衍射光栅115-1分支成3道激光，进而，再由第2衍射光栅115-2分支成3道激光，在光盘的盘面上照射出5个点20A～20E。

图3是表示照射在光盘的盘面上的点的配置的平面图。如图2所示那样，在光盘500的盘面上，照射有记录用主光束20A、跟踪用前副光束20B、跟踪用后副光束20C、再现用前副光束20D、再现用后副光束20E。

此处，记录用主光束20A，照射在形成于光盘500上的沟槽502-2上，通过该射束点的照射，在沟槽502-2内形成坑506。该记录用主光束20A，为了能够形成基于热模式的坑，设定为最高的发光强度。

跟踪用前副光束20B，照射在与被主光束20A所照射的沟槽502-2邻接的岸(land)504-3上，跟踪用后副光束20C，照射在与被主光束20A所照射的沟槽502-2邻接的岸、与被副光束20B所照射的沟槽处于相反侧的岸504-2上。

再现用前副光束20D，照射在与主光束20A所照射的沟槽相同的沟槽502-2上的、比主光束20A靠前的位置上，再现用后副光束20E，照射在与被主光束20A所照射的沟槽相同的沟槽502-2上的、比主光束20A靠后的位置上。

这样配置各点，从而能够以再现用后副光束20E，检测出由主光束20A所形成的记录模式，即由坑506和空间508的组合所构成的记录模式。

图4是表示照射在光盘的盘面上的点与检波器的关系的概念图。如图4所示那样，图1所示的检波器122，由122A～122E这5个受光部构成，与点20A～20E对应的反射光22A～22E分别照射到各受光部，被转换成电信号。

图5是表示记录脉冲的形状与恒定区域的关系的概念图。如图5所示那样，由图1所示的LD驱动124输出的记录脉冲，有各种各样的形状，分别具有表示记录脉冲的接通状态的高输出区域50、表示断开状态的低输出区域52、以及为接通状态而调制少的恒定输出区域54。

更具体地说，图5的(a)，为在接通的状态下构成恒定的输出的记录脉冲，图5的(b)，为在最前部与后续部强度各不相同的记录脉冲，图5的(c)，为在最前部、中间部与后续部强度各不相同的记录脉冲，图5的(d)，为在最前部形成了恒定输出部之后，在后续部使输出发生数次变化的记录脉冲。

本发明由于意图在记录脉冲变为接通的状态下，取入再现信号，因此希望应对于高输出区域50而生成后述的门信号，但更希望应对于不易受调制影响的恒定输出区域54而进行生成。该恒定输出区域54为了方便而定义为高输出区域50中的最恒定的状态的长的区间，但是，即使是比恒定状态最长的区间短的恒定区域，也可以作为恒定输出区域来使用。另外，在以后的说明中，以图5的(c)中被称为城堡(castle)型的脉冲形状为例进行说明，但本发明也可以适用于其他的记录脉冲。

例如，也可以设定为以下这样的结构：在适用于图5所示那样的相变类型的光盘所使用的记录功率时，通过高输出和低输出的反复，应对在记录脉冲中的相当于消除功率的恒定输出区域54而生成门信号，向该恒定输出区域54取入以副光束再现的信号。其中，记录脉冲具有：相变材料骤冷后变成非晶(amorphous)状态的高输出区域50、输出用于以主光束进行伺服控制的程度的0.7～1mW左右的功率的低输出区域52、以及缓慢冷却后变成结晶状态的恒定输出区域54。

图6是表示图1所示的脉冲生成电路的内部结构的电路框图。如图6所示那样，在本脉冲生成电路300中，由脉冲单元生成电路310-1、310-2分别接收从图1的CPU212送出的策略条件SD1、SD2，生成已与时钟信号CLK同步的脉冲信号PW1、PW2。

此处，策略条件SD1、SD2，是将脉冲的接通期间和断开期间的长度，作为以时钟数所表示的数值数据来定义，接受了这些信号数据的脉冲单元生成电路310-1、310-2，使用在驱动内所生成的时钟信号CLK，生成策略条件SD1、SD2所表示的条件的脉冲信号。

这些脉冲信号PW1、PW2，被输出到图1的LD驱动器124，并且用逻辑乘(AND)运算器316取脉冲信号PW1的反相信号与脉冲信号PW2的逻辑积，作为门信号Gate输出到图1的屏蔽电路400。另外，脉冲信号PW1的反相信号，通过反相电路314生成。

图7是表示图6所示的门信号的生成概念的时序图。如图7中的各图所示那样，与记录脉冲的恒定输出区域对应的门信号，使用构成记录脉冲的构成要素的脉冲信号PW1、PW2而生成。即，如图7的(b)和(c)所示那样，脉冲信号PW1、PW2，与图7的(a)的时钟信号CLK同步生成，由该脉冲信号PW1生成图7的(d)所示的反相信号。

然后，只要如图7中的各图所示那样定义图7的(c)的脉冲信号PW2与图7的(d)所示的反相信号之间的电平，并取逻辑积，就能获得图7的(e)所示的门信号。其结果是，这样所获得的门信号，将与记录脉冲的恒定输出区域相对应。

图8是表示图1所示的LD驱动器的内部结构的电路图。如图8所示那样，LD驱动器124，具有使用了电阻R1、R2的分压电路，和合成这些输出电压的合成器126，来自脉冲生成电路300的脉冲信号PW1、PW2，经由电阻R1、R2，被放大至预定的输出电平后，由合成器126合成逻辑和，生成记录脉冲PWR，输出到图1的激光二极管110。

图9是表示图1所示的屏蔽电路的内部结构的电路框图。如图9所示那样，屏蔽电路400，由2个逻辑乘运算器410-1、410-2构成，由图1的脉冲生成电路300生成的门信号Gate，和图1的CPU212生成的标志信号Flag输入初级的逻辑乘运算器410-1，取了由图1的脉冲生成电路300生成的门信号Gate，和图1的CPU212生成的标志信号Flag的逻辑积的门信号Gate′，被输出到后级的逻辑乘运算器410-2。

逻辑乘运算器410-2，使用该门信号Gate′，对由图4的检波器122E输出的再现用后副光束20E再现的RF信号RF-Sub进行屏蔽，抽取与门信号Gate′对应的部分的RF信号RF-Sub′，输出到图1的限幅器210。其结果，由于是有选择地抽取在记录脉冲的恒定输出区域再现的RF信号RF-Sub′，因此能进行高精度的坑的检测。

然后，根据该被检测出的坑的长度和相位信息，图1的CPU212算出策略的校正条件，对输出到脉冲生成电路300的策略条件进行校正。其结果是能在数据的记录中进行记录条件得到了校正的实时校正。

图10是表示记录脉冲与门脉冲以及再现信号之间的关系的时序图。如图10的(a)所示那样，记录脉冲PWR，与预定的数据模式对应地构成接通/断开进行变化的脉冲模式。此处，在假设将具有最长的无调制区域的坑14T的恒定输出区域54作为门信号使用的情况时，由图1的脉冲电路300生成的门信号Gate，被以图10的(b)所示的定时输出；由图1的CPU212生成的标志信号Flag，被以图10的(c)所示的定时输出；在图9的屏蔽电路400内所生成的门信号Gate′，被以图10的(d)所示的定时输出，使用该门信号Gate′，抽取了图10的(e)的RF-Sub信号的结果，形成该图(f)的RF-Sub′信号。

如此，由于最终抽取的再现信号RF-Sub′，为在记录脉冲PWR的恒定输出区域54中再现的信号，因此可以通过使用该信号进行高精度的坑的检测，进而可以对策略进行准确的校正。

图11是表示图1所示的CPU执行的标志信号的生成方法的概念图。该图所示的例子，为有选择地检测出在坑14T的恒定输出区域内存在的空间14T的情况的例子。如图11所示那样，CPU212将与记录脉冲的数据长对应的数值依次存储到存储器214中，确定在坑14T(在该图中，表示为“P14”)的恒定输出区域内存在空间4T(在图11中，表示为“L4”)的数据，对该确定的坑14T的数据建立标志。

此处，在将记录用的主光束与再现用的副光束的时间差定义为τ时，CPU212以时钟数对时间差τ进行换算，将存在于从坑14T到空间4T之间的数据长与时间差τ进行比较。其结果是，只要在从坑14T离开时间差τ的区域，并且在相当于该坑14T的恒定输出区域的范围内存在空间4T的数据，就对该坑14T建立标志，以图10所示的定时输出标志信号Flag。

图12是表示记录用的主光束与再现用的副光束之间的关系的时序图。如图12的(a)所示那样，记录用主光束的输出，为形成坑所需要的高输出的脉冲模式，通过该脉冲照射在光盘上所形成的坑模式，形成如图12的(b)所示那样。

另一方面，如图12的(c)所示那样，再现用副光束的输出，为与记录用主光束的输出模式相同的定时，形成输出比记录用主光束缩小了分支比率那部分的脉冲模式，通过该再现用副光束再现的坑模式，如图12的(d)所示那样，形成由记录中的坑延迟了时间差τ的模式。

因此，在检测出坑14T的记录中再现的空间4T时，如图12的(e)所示那样，变成只需确定使记录脉冲的模式延迟了时间差τ的脉冲的空间4T，与记录脉冲的坑14T的恒定输出区域这两者重叠的位置即可。即，在记录脉冲中由长的坑的恒定输出区域生成第1门信号，并且在使记录脉冲延迟了时间差τ的脉冲模式中，由相当于作为检测对象的短的坑或者空间的脉冲生成第2门信号，使用这些第1门信号和第2门信号，对由再现用副光束所获得的RF信号进行屏蔽的结构将变得有用。

图13是表示记录脉冲与使该记录脉冲延迟的脉冲以及RF信号之间的关系的时序图。如图13的各图所示那样，只需生成使记录脉冲PWR延迟了时间τ的脉冲PWR′，在记录脉冲PWR的坑14T的恒定输出区域内，将包含延迟脉冲PWR′的空间4T的部分设定为门信号Gate′，就可以在长的坑的记录中有选择地检测出短的坑或者空间，其结果是能够准确地检测出坑的长度偏差和相位偏差。

图14是表示了在长的坑的记录中检测出短的坑或者空间的方法的例子的框图。图14为通过图1的EFM编码/解码器216，在主光束记录14T坑的期间，检测出存在于副光束下的4T空间的情况的结构例。

在这样构成时，EFM编码/解码器216，如该图所示那样，将由图1的限幅器210输入的8位2进制信号，临时存储到缓冲器250-1中，将由该缓冲器输出的8位数据按照转换表252转换成16位的数据，输出到缓冲器250-2。此时，基于延迟器254的时间T的延迟操作，为每转换一次就执行一次。

存储到缓冲器250-2中的数据，被输出到计数器256，作为表示脉冲长nT(n＝3～14)的数据，经过图1所示的CPU212，输出到脉冲生成电路300，生成相符的记录脉冲。

图15是表示图14所示的计数器256与图1的脉冲生成电路300之间的关系的框图。如图15所示那样，计数器256具有从由缓冲器250-2朝脉冲生成电路300流动的数据流中，确定相当于14T坑的位串的14T解码器258；和确定相当于4T空间的位串的4T解码器259。

图16是表示图14所示的缓冲器250-2存储位串时的例子的概念图。如图16的(c)所示那样，在缓冲器250-2中，存储有以与图16的(a)所示时钟信号同步的形式表示坑或者空间的长度的数据。

例如，3T的长度，以“100”表现；4T的长度，以“1000”表现；5T的长度，以“10000”表现；14T的长度，以“10000000000000”表现。

因此，在输入如图16的(b)所示那样的脉冲时，存储到缓冲器250-2中的位串，如图16的(c)所示那样，相当于4T空间的部分为“10000”，相当于14T坑的部分为“10000000000000”，各自的脉冲宽度通过以位数表现的格式而存储。

此处，在记录用的主光束与再现用的副光束的间隔相当于300位时，如图16(c)所示那样，从存储在缓冲器250-2中的位串中，确定当前记录中的14T坑的位置，判断在从该14T坑离开300位的位置上是否存在4T空间的位串。

其结果是，当存在4T空间的位串时，判断为能够在基于主光束的14T坑的记录中，通过副光束检测出4T空间的定时，使用通过该定时获得的信号确定实时校正的条件。

图17是表示在14T坑的记录中作为检测对象的4T空间的变化的概念图。如图17的(a)所示那样，在14T坑的记录脉冲为由高输出的3T脉冲、恒定输出的9T脉冲、高输出的2T脉冲构成时，收纳于恒定输出区域内的4T空间成为检测对象。

因而，最好是能抽取在14T脉冲的中央部出现的4T空间，但是，由于在这种情况下出现几率将变低，因此预先设置计数器电路，使得即使4T空间的两端不溢出14T坑的恒定输出区域也成为抽取对象。

例如，由图17的(a)所示的14T坑的脉冲，生成图17的(b)所示的门信号，事先准备好能够确定收纳于该门信号中以图17的(c)的阴影线(hatch)表示的4T空间的数据模式，抽取与该数据模式一致的位串。

图18是表示了在长的坑的记录中检测出短的坑或者空间的方法的其他例子的框图。该图所示的例子，为以在某段时间内产生的脉冲数作为基准，判断在长的坑的记录中是否存在短的坑或者空间的例子。

在图18所示的电路块中，将由限幅器210输出的2进制信号SLRF-Sub′，经由反相电路420-1输入逻辑乘运算器422，并且将由图1所示的脉冲生成电路300输出的门信号Gate输入逻辑乘运算器422。

逻辑乘运算器422，将这些输入的信号的逻辑积输出到计数器424的置位(set)端子，接受了该信号的计数器424，对在由反相电路420-2反相的门信号所表示的区间内产生的脉冲数进行计数，将其结果作为判断信号Detection Enable，输出到图1的CPU212。另外，由反相电路420-2反相的门信号，作为计数器424的复位信号使用。

CPU212以该判断信号表示的脉冲数是否不小于预定数，例如是否发生不小于2次为基准，判断在14T坑的记录中是否存在4T空间，在判断为是时，进行由该4T空间获得的信号的取入。

图19是表示图18所示的电路块的处理例的时序图。如图19的(a)所示那样，输入到限幅器210中的信号RF-Sub′，在某一电平被转换为2进制，生成如图19的(b)所示那样的脉冲信号SL RF-Sub′。

然后，通过取图19的(e)所示的门信号Gate与该图(f)所示的反相信号的逻辑积，生成图19的(g)所示的判断信号DetectionEnable。所述门信号Gate，是用图1所示的脉冲生成电路300从图19的(c)和图19的(d)所示的信号而生成的；所述反相信号，是用反相电路420-1而生成的。

图20是表示由图18的电路块生成的判断信号的判断基准的概念图。如图20中的各图所示的那样，在该例中，在图20的(a)的区间内计数了大于或等于2次的脉冲时，判断为在14T坑的记录中存在收纳于表示14T的恒定区域的门信号Gate内的空间、例如存在3T～7T的空间，进行由该4T空间获得的信号的取入。

因此，如图20的(b)所示那样，在门信号内计数到了2次脉冲时，判断为在14T坑的记录中存在收纳于表示14T的恒定区域的门信号Gate内的空间、例如存在3T～7T的空间，取入由该4T空间获得的信号。另一方面，如图20的(c)和(d)所示那样，在只计数到1次时，判断为在14T坑的记录中不存在4T空间，不进行信号的取入。

图21是表示了在长的坑的记录中检测出短的坑或者空间的方法的其他例子的框图。图21所示的例子，为通过测量在门信号内已产生的脉冲的长度，来判断在长的坑的记录中是否存在短的坑或者空间的例子。

在图21所示的电路块中，通过逻辑乘运算器422计算由限幅器210输出的2进制信号SL RF-Sub′，与由图1的脉冲生成电路300输出的门信号Gate，以及时钟信号CLK这三者的逻辑积，作为可以计数的信号Countable Pulse而输入计数器424的置位端子，通过计数器424对该信号的长度进行计数。另外，复位脉冲生成电路426生成了的复位脉冲被输入到该计数器中。

图22是表示图21所示的电路块的处理例的时序图。如图22的(a)所示那样，输入到限幅器210中的信号RF-Sub′，在某一电平被转换为2进制，而生成如图22的(b)所示那样的脉冲信号SL RF-Sub′。

然后，通过计算由图1所示的脉冲生成电路300生成的、图22的(c)所示的门信号Gate，与图22的(d)所示的时钟信号CLK的逻辑积，生成图22的(e)所示的可以计数的信号Countable Pulse。另外，此处提出的时钟信号，使用“1T＝1个周期”的情况作为例子进行了说明，但是，也可以使用更高速的时钟，例如使用“1T＝40周期”的时钟来提高长度检测的分辨能力。

图23是表示图21所示的复位脉冲生成电路426的处理例的时序图。如图23所示那样，复位脉冲生成电路426，对图23的(a)所示的时钟信号CLK计数2次中的1次，生成图23的(b)所示的中间信号CLK/2，进而，对该中间信号CLK/2计数2次中的1次，生成图23的(c)所示的中间信号CLK/4。

然后，如图23的(d)所示那样，生成与图23的(c)的第2次的上升同步地上升、在扫描了相当于门信号Gate的长度时下降的复位信号Reset。通过该复位信号输入图21所示的计数器424的复位端子，计数器的计数结果被复位。

另外，在作为图23的(a)所示的时钟信号使用“1T＝40周期”的信号的情况下，门信号Gate拥有相当于9T的宽度，在对时钟信号计数了360次时，图23的(d)所示的复位信号Reset下降，计数器424被复位。

同样地，在作为图23的(a)所示的时钟信号使用“1T＝2.5周期”的信号的情况下，门信号Gate拥有相当于9T的宽度，在对时钟信号计数了22.5次时，该图(d)所示的复位信号Reset下降，计数器424被复位。只是，在如“1T＝2.5周期”这样，时钟信号的周期不为单位长T的整倍数的情况下，就如“2T＝5周期”这样作为整倍数处理。

根据本发明，可以进行更高精度的实时校正，因此可以期待将其应用到光盘的内外周记录条件发生变化的记录环境中。

Claims (9)

1.一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射而在光记录介质上形成坑和岸，同时通过再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于：

上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲来进行；

上述坑和/或岸的检测，在上述记录用激光以上述高输出区域进行照射的期间内进行。

2.一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射而在光记录介质上形成坑和岸，同时通过再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于：

上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲来进行；

上述再现用激光的脉冲照射，以与上述记录用激光的脉冲照射同步的定时进行；

上述坑和/或岸的检测，在上述再现用激光的高输出区域内进行。

3.一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上而形成坑和岸，同时通过再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于：

上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲来进行，

上述高输出区域具有上述记录脉冲的电平变得恒定的恒定输出区域，

上述坑和/或岸的检测，在上述记录用激光以上述恒定输出区域照射的期间内进行。

4.一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上来形成坑和岸，同时通过再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于：

上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲来进行，

上述高输出区域具有上述记录脉冲的电平变得恒定的恒定输出区域，

上述再现用激光的脉冲照射，以与上述记录用激光的脉冲照射同步的定时进行，

上述坑和/或岸的检测，在上述再现用激光的恒定输出区域内进行。

5.一种光信息记录装置，将一束激光分支后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上而形成坑和岸，同时通过上述再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于，包括：

生成至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲的脉冲生成装置；和

使用上述记录脉冲的高输出区域，对通过上述再现用激光的照射所获得的再现信号进行屏蔽的屏蔽装置。

6.一种光信息记录装置，将一束激光分支后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上而形成坑和岸，同时通过上述再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于，包括：

生成至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲的脉冲生成装置；

确定在上述高输出区域中的、上述记录脉冲的电平变得恒定的恒定输出区域的装置；以及

使用上述记录脉冲的恒定输出区域，对通过上述再现用激光的照射所获得的再现信号进行屏蔽的屏蔽装置。

7.一种光信息记录装置，将一束激光分支后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑和岸，同时通过上述再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于，包括：

生成至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲的脉冲生成装置；

使用上述记录脉冲的高输出区域生成门信号的门信号生成装置；

确定上述记录用激光与上述再现用激光的时间差的装置；

确定具有比上述门信号长度短的检测对象脉冲的装置；以及

在考虑了上述时间差时，以在上述门信号内包含上述检测对象脉冲的定时，取得通过上述再现用激光的照射所获得的再现信号的检测装置。

8.一种光信息记录装置，将一束激光分支后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上而形成坑和岸，同时通过上述再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于，包括：

通过取第1脉冲和第2脉冲的逻辑和，生成记录脉冲的脉冲生成装置；

根据上述记录脉冲，进行上述记录用激光的脉冲照射的装置；

通过取上述第1脉冲的反相信号与上述第2脉冲的逻辑积，来生成门脉冲的门脉冲生成装置；以及

根据上述门脉冲，取得通过上述再现用激光的照射所获得的再现信号的检测装置。

9.一种光信息记录方法，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上而形成坑和岸，同时通过再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，其特征在于：

上述记录用激光的脉冲照射，基于至少具有高输出区域和低输出区域这2个输出区域的记录脉冲来进行，

上述坑和/或岸的检测，在上述记录用激光以上述高输出区域照射的期间内进行。

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