CN1434384A - 触摸屏的快速线性测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种触摸屏的快速线性测试方法，其主要内容是在触摸屏的制程中，将整片具有复数个未经测试的触摸屏半成品的玻璃基板，放置在测试设备上，以压条治具接触每一触摸屏半成品的各单一轴向两个输出端点，再以测试设备上的一压着针头压着在表面上进行触摸屏线性测试，该压着针头依序对X与Y轴向，对触摸屏半成品单元作单一轴向的线性测试，可将测试结果直接显示在电脑屏幕上并记录在电脑中，接着用切割机将整片的玻璃基板切割为各触摸屏半成品单元。本发明与现有技术相比既节省工时、节约成本又大幅提高了测试效率。

Description

触摸屏的快速线性测试方法

                          技术领域本发明涉及一种触摸屏的快速线性测试方法，尤其涉及一种形成有数个触摸屏半成品单元的软性薄膜与玻璃基板贴合后，在尚未切割成各触摸屏半成品单元前，即以测试设备上的压着针头配合压条治具顺序完成各触摸屏半成品单元单一轴向线性测试的触摸屏的快速线性测试方法。

                           背景技术现代人的生活周围充满了各式各样的电子产品，诸如电脑、PDA、电子翻译机等，这些电子产品许多都设有触摸屏(Touch Panel)作为手写输入或点选输入的介面装置，尤其在手写输入时随着字体笔划的移动，对电脑而言需要一种能输入连续座标点的触摸屏，或者在其他需要使用触摸屏作为大量按键输入装置或需以线性方式输入的触摸屏装置，类比式(Analog)触摸屏成为非常合适的选择。

类比式触摸屏主要可由一软性薄膜(Film)与一玻璃基板(Glass)构成，在制作触摸屏时，会同时在一大整片的软性薄膜与玻璃基板上，规划有数个相同的线路图案，一次完成所有线路图案的蚀刻与氧化铟锡(ITO)导电层的制作后，继续进入贴合与切割制程，再对已完成切割的触摸屏半成品贴着导电胶片(Tail)形成触摸屏成品后，进行触摸屏的线性测试，并将合板品与不合格品分出。

传统触摸屏制作方法是将整片贴合有数单元软性薄膜的玻璃基板，先行切割成各触摸屏半成品单元，并在X、Y轴导接点贴合有导电胶片，以形成触摸屏成品。

参见附图3和附图4所示，现有的类比式触摸屏线性测试方法是将一片触摸屏成品70放置在测试设备上，该触摸屏成品70上用一导电胶片71贴着在X1、X2、Y1和Y2四个输出端点上，并以一夹治具72夹合连接该导电胶片71，并用线路连接于后端电脑主机上，用测试设备上的一压着针头80压着在该触摸屏成品70的表面上，再对该触摸屏成品70进行线性测试。该压着针头80先以X轴向移动进行X轴向的线性测试，再以Y轴向移动进行Y轴向的线性测试。

然而，现有使用触摸屏的线性测试方法，至少存在下列几项缺点：

1、在切割和贴着后测试出不合格品，造成工时浪费。由于每一触摸屏成品都是在完成切割和贴着导电胶片程序后，再做触摸屏的线性测试，在此时才测试出是不合格品，已经浪费之前所投入的贴着导电胶片的工时。

2、测试效率低。由于触摸屏的线性测试一次只对一片触摸屏成品进行测试，每一片测试完成后，对下一片触摸屏成品测试要重新夹合夹治具，这样从操作上耗工费时，效率不高。以3.8英寸的触摸屏产品而言，平均每片夹合夹治具及测试的时间需耗费72秒。

3、增加成本。贴着不合格品的导电胶片的材料与工时成本的浪费与测试效率低落造成生产能力的损失，必然导致生产成本增加。

因此，本发明人针对上述现有触摸屏的线性测试方法的缺点，从测试流程与治具上加以改良，使本发明大幅改善了上述的缺点。

                          发明内容

本发明目的是提供一种快速自动化测试的触摸屏的线性测试方法。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：在制作触摸屏的过程中，将已完成软性薄膜贴合形成数个未切割触摸屏半成品单元的玻璃基板，整片放置在测试设备上，并以数压条治具分别同时压至每一未切割的触摸屏半成品的两个输出端点，压条治具设有线路连接于电脑，再以测试设备上的数个压着针头，分别压着在各触摸屏半成品单元的表面上，依序快速连续对各个触摸屏半成品单元进行触摸屏线性测试，可将测试结果直接显示在电脑屏幕上并记录合格品与不合格品，然后用切割机切割各个触摸屏半成品单元，并分出合格品与不合格品后，再对合格品进行贴着导电胶片的制程。

由于上述技术方案运用，本发明与现有技术相比改善了触摸屏成品的线性测试方法，并具有以下特点和功效：

1、节省工时。由于本发明对整片完成贴合程序的玻璃基板在尚未切割成触摸屏半成品前即进行测试，并将不合格品与合格品进行区分，只针对合格品部份继续进行贴着导电胶片程序，节省了原来浪费对不合格品贴着导电胶片的工时。

2、提高了测试效率。全部制作过程由贴合到测试再到切割完成，可以用自动化机械快速完成，而且由于压条治具一次可测试位于同一整片玻璃基板上的各X或Y轴向触摸屏半成品，提高了测试效率，以一片4×4矩阵形式制作16片3.8英寸的触摸屏半成品的玻璃基板为例，用本发明方法的4个X、Y轴向压条及压着针头测试，相比于现有的线性测试方法平均约需72秒，而以本发明的线性测试方法平均仅需约7.3秒，节省了将近90％的时间。

3、成本减少。导电胶片材料与工时的节省再加上测试效率的提高，相对减少了生产成本的有形支出，增加企业无形的竞争力。

综合上述，本发明具有上述所言的特点和功效，大幅提高了触摸屏贴合方法的合格品率和生产效率，因此具有显著地创造性和实用性。

                            附图说明

附图1为触摸屏部份制程，包含本发明的触摸屏线性测试方法流程图；

附图2为本发明实施例的触摸屏线性测试方法的测试治具示意图；

附图3为触摸屏的部份制程，包含现有的触摸屏线性测试方法流程图；

附图4为现有触摸屏线性测试方法的测试设备状态示意图。

以上附图中：10、玻璃基板；12、触摸屏半成品单元；122、输出端点；14、压条；16、测试压针；162、压着针头；164、测试路径；70、触摸屏成品；71、导电胶片；72、夹治具；80、压着针头。

                   具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述：

参见附图1所示，本发明主要是在构成数个触摸屏半成品单元12的软性薄膜与玻璃基板上，先依照所需尺寸分别规划出线路图案，然后以该线路图案依次序排列而成且位置相对应的排列关系，并进行电路的蚀刻与氧化铟锡导电层的制作后，完成将软性薄膜贴在玻璃基板的贴合程序。

同时，将整片已经完成贴合程序形成数个触摸屏半成品的玻璃基板，放置在本发明方法X轴向测试设备上，并以数个X轴向压条治具同时分别压置接触在每一半成品单元的X轴向的输出端点上，压条治具设有线路与后端电脑主机连接。当对各触摸屏半成品单元作线性测试时，先以测试设备上供测试X轴向的复数个压着针头，分别压着于排列在玻璃基板X轴向上的最前端的各触摸屏半成品单元的表面上，该压着针头以X轴向移动，完成排列在玻璃基板X轴向上的最前端各触摸屏半成品单元的X轴向的线性测试后，继而，各压着针头依序进行排列在玻璃基板X轴向上的下一列各触摸屏半成品单元的X轴向的线性测试，并利用电脑软件将测试结果分别记录，待完成所有各触摸屏半成品单元X轴向的线性测试后，将整片玻璃基板移至下一Y轴向测试设备上，以各Y轴向压条治具及Y轴压着针头运用相同的方法对各触摸屏半成品单元的Y轴向输出端点作线性测试。完成X、Y轴向线性测试后，并在屏幕上显示出每一触摸屏的半成品为合格品与不合格品。

继而，用切割机来切割该玻璃基板，分出合格品继续进行下一道贴着导电胶片的程序。不合格品则进行不合格品处理。

再参见附图2所示的实施例，将一玻璃基板10制作形成四个呈2×2矩阵排列的触摸屏半成品单元12。该触摸屏半成品单元12设有四个输出端点122作为X与Y轴向的信号输出，并用X轴向连杆式压条14同时压着于每一触摸屏半成品单元12的X轴向的输出端点122上，压条14设有线路并与后端电脑主机连接，X轴向测试设备在该触摸屏半成品单元12的板面上，设有X轴向测试压针16。该测试压针16设有两个Y轴向排列的压着针头162，各压着针头162并可顺着一测试路径164对各触摸屏半成品单元12进行X轴向的线性测试。完成后，将整片玻璃基板10再移至下一Y轴向测试设备，用Y轴向压条治具及Y轴测试压针16及X轴向排列的压着针头162运用相同方法对Y轴向输出端点作触摸屏线性测试。

Claims (2)

1、一种触摸屏的快速线性测试方法，其特征在于包含有：提供一具有复数个触摸屏半成品单元于整片玻璃基板上的待测试半成品；先以一X轴向测试设备配合数个X轴向压条治具，该压条治具设有线路连接于电脑主机，同时分别接触每一触摸屏半成品单元的X轴向输出端点，并分别依序用测试压针的压着针头对位于同一轴向的每一个触摸屏半成品单元作X轴向线性测试，并记录其结果；

继而以一Y轴向测试设备配合数个Y轴向压条治具，各Y轴向压条治具设有线路连接于电脑主机，同时分别接触每一个触摸屏半成品单元的Y轴向输出端点，并分别依序用测试压针的压着针头对位于同一轴向的每一个触摸屏半成品单元作Y轴向线性测试，并记录其结果；

使用一切割机切割该玻璃基板，分割开每一触摸屏半成品，利用电脑软件的记录区分合格品与不合格品。

2、根据权利要求1所述的触摸屏的快速线性测试方法，其特征在于：所述的X轴向与Y轴向的线性测试顺序，也可以先作Y轴向线性测试，再作X轴向线性测试。

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