CN1404045A - 光学信息记录装置的最佳刻录功率测定方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种最佳刻录功率测定的方法，应用于可刻录式光盘片。这个刻录功率测定方法在光盘片的最外圈重新规划一个刻录功率测定区域，同时对光盘片内圈的刻录功率测定区域和光盘片外圈的重新规划刻录功率测定区域进行两次刻录功率测定；接着根据该整体最佳刻录功率，对该记录型光学储存媒体进行刻录，例如：利用所得的这两个最佳刻录功率值，使用内插法建立最佳刻录功率与刻录位置到盘片中心的距离的关系曲线图，使得光驱在做正常数据刻录时，可针对不同的刻录位置选择其最佳刻录功率。

Description

光学信息记录装置的最佳刻录功率测定方法

技术领域

本发明涉及一种关于最佳刻录功率测定的方法，且特别涉及一种可以针对储存媒体的任意位置找出其最佳刻录功率的方法，其可应用于可刻录式光盘片。

背景技术

目前市上可由使用者自行储存数据的光盘片主要有两种：可重复刻录式光盘片(CD-RW)和可刻录式光盘片(CD-R)。可重复刻录式光盘片，是指光盘片可以被重复写入不同的数据，有别于只能刻录一次的可刻录式光盘片。不论是可重复刻录式光盘片或是可刻录式光盘片，在光驱做正式刻录数据之前都必须先做所谓的最佳刻录功率测定(Optimal Power Calibration，简称OPC)，以得知所需使用的最佳刻录功率为何。常见的光盘片最佳刻录功率的测定都是在位于光盘片内圈的功率测定区块(Power Calibration Area，简称PCA)中进行。常见的最佳刻录功率测定的过程流程图如图1所示。请参考图1，首先，读写头先跳至位于内圈的刻录功率测定区域中的计数区域，读出目前已经被刻录过的区块数目，以得知空白的刻录功率测定区域位置(步骤100、110)。接着刻录器的读写头跳至这个空白的刻录功率测定区域(步骤120)，开始进行十五种不同刻录功率的测定。刻录器先利用十五利刻录功率将十五个笔(frame)测试数据写入空白的刻录功率测定区域中(步骤130)，接着跳回刚刚开始刻录测试数据的位置，将这些测试数据读出，以判断最佳的刻录功率为何(步骤140、150、160)。之后刻录器便利用这个所测得的最佳刻录功率将所有待写入的数据刻录进光盘片中(步骤170、180、190)。

常见这样的测量光盘片最佳刻录功率方法只能适用于固定线速度刻录方式(Constant Linear Velocity，简称CLV)，而不适用于固定角速度刻录方式(Constant Angular Velocity，简称CAV)。其原因是固定光驱的运转角速度使得光驱在刻录光盘片的内外圈时所使用的刻录速度是不一样的，其刻录速度与其刻录位置到盘片中心的距离成正比。在固定角速度的情形下，一般光盘片外圈的刻录速度可达内圈刻录速度的2.5倍左右，这样的差距使得光驱在进行外圈刻录时无法使用在内圈的刻录功率测定区域所测得知最佳刻录功率。是以，目前的刻录方式都是以固定线速度的方式进行，相较于固定角速度的方式，固定线速度的刻录方式需花费较多的时间。此外，即便是采用固定线速度的刻录方式，也可能因为光盘片内外圈的材质不同而对最佳刻录功率有不同的需求。而常见的最佳刻录功率测定方式却只功率测出适用于盘片内圈的最佳刻录功率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种最佳刻录功率测定的方法，这个刻录功率测定方法测得光盘片内圈与外圈的最佳刻录功率，并使用内插法建立一个最佳刻录功率与刻录位置到盘片中心的距离的关系曲线图。如此一来，不论是使用固定线速度刻录方式，固定角速度刻录方式，或是针对光盘片内外圈不同的刻录材质，本发明都可以针对不同的刻录位置使用最佳的刻录功率进行数据刻录的动作。

为达上述及其它目的，本发明提供一种最佳刻录功率测定的方法，此方法应用于各式记录型光学储存媒体，包括可重复刻录式光盘片以及可刻录式光盘片等。这两种光盘片都包括一个位于内圈的刻录功率测定区域与一般数据刻录区域。此刻录测定方法首先在刻录功率测定区域进行一般的刻录功率测定动作，接着在光盘片的最外圈一个重新规划的刻录功率测定区域再进行一次刻录功率测定动作。此方法的最后，根据该整体最佳刻录功率，对该记录型光学储存媒体进行刻录，例如：利用所得到的两个最佳刻录功率值，使用内插法得到一个最佳刻录功率与刻录位置到盘片中心的距离的关系曲线图，做为日后正常刻录时的最佳刻录功率参考图。此刻录功率测定方法使得光驱在做正常的数据刻录时可以针对目前的刻录位置选择最佳的刻录功率。此方法可以支持固定角速度的刻录方式，以提升刻录数据的速率。

依据本发明的较佳实施例，上述的特殊刻录功率测定中在最外圈规划一个新的刻录功率测定区域进行刻录功率测定可能会破坏日后正常数据刻录时所刻录进去的「lead-out」区域。此方法虽然可能缩短「lead-out」区域的长度，但对一般正常数据的读取将不造成任何影响。此刻录功率测定方法利用测量得光盘片上内外圈的最佳刻录功率，使得光盘刻录动作不论是固定线速度或是固定角速度的刻录方式，都得以使用最佳的刻录功率对盘片上所有位置的数据区块进行刻录动作。

为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1显示一种常见最佳刻录功率测定方法的流程示意图；

图2A及图2B显示根据本发明较佳实施例的最佳刻录功率测定方法的流程示意图；

图3显示根据本发明较佳实施例的光盘片刻录功率测定区域规划示意图；

图4显示本发明较佳实施例中最佳刻录功率与刻录位置的关系曲线示意图。标号简单说明

300原有的刻录功率测定区域

310原有的「lead-out」区域

320重新规划的刻录功率测定区域

具体实施方式

图2A及图2B所示，为根据本发明一较佳实施例的最佳刻录功率测定方法的流程示意图。请参考图2A、图2B与图3，本发明所提出的刻录功率测定方法首先将读写头跳至位于光盘片内圈的原有刻录功率测定区域300，读出其中刻录功率测试计数值，以得知已经进行过的刻录功率测试次数，算出空白的内圈刻录功率测定区域位置(步骤200、205)。接着刻录器的读写头跳至这个空白的内圈刻录功率测定区域(步骤210)，开始进行十五种不同刻录功率的测定。刻录器先利用十五种刻录功率将十五个笔(frame)测试数据写入空白的内圈刻录功率测定区域中(步骤215)，接着读写头跳回刚刚开始刻录测试数据的位置，将这些测试数据读出，以判断光盘片内圈(或是低线速度区)的最佳刻录功率为何(步骤220、225、230)。之后刻录器的读写头跳到刻录功率测定计数区域最后的空白区域，利用这个所测得的内圈最佳刻录功率进行一次刻录动作(步骤235、240)。

如图2A及图2B所示，将最佳功率记录于PCA中后，将读写头跳至光盘片的最外圈，在图3所示的重新规划刻录功率测定区域320中进行最佳刻录功率的测试动作(步骤245)。同样的，读写头从计数区域中读出其中刻录功率测试计数值，以得知已经进行过的刻录功率测试次数，算出空白的外圈刻录功率测定区域位置(步骤250)。接着刻录器的读写头跳至空白的外圈刻录功率测定区域(步骤255)，开始进行十五种不同刻录功率的测定。刻录器先利用十五种刻录功率将十五个笔(frame)测试数据写入空白的外圈刻录功率测定区域320中(步骤260)，接着读写头跳回刚刚开始刻录测试数据的位置，将这些测试数据读出，以判断光盘片外圈(或是高线速度区)的最佳刻录功率为何(步骤265、270、275)。之后刻录器的读写头跳到外圈刻录功率测定计数区域最后的空白区域，利用这个所测得的外圈最佳刻录功率进行一次刻录动作(步骤280、285)。

最后，如图2A及图2B所示，此方法利用所测得的内圈最佳刻录功率与外圈最佳刻录功率，使用内插法建立一个最佳刻录功率与刻录位置到盘片中心的距离的关系曲线图(步骤290)。图4即为这种关系图的示意图。如此一来，刻录器在刻录每一笔数据的时候，都可以利用目前的刻录位值查得一个最佳的刻录功率进行正常数据的刻录动作(步骤295)。本发明在最外圈所重新规划的刻录功率测定区域会与日后正常数据刻录时所刻录进去的「lead-out」区域310发生重迭。此方法虽然可能会缩短「lead-out」区域的长度，但对一般正常数据的读取将不造成任何影响。再者，为了避免违反橘皮书的规范，使刻录过后的光盘片变成不可读，因此规范在光盘片最大容量往内推30秒以内的区域来制定外圈的重新规划的刻录功率测定区域。因为橘皮书规定，「lead-out」区域的长度至少需要30秒，如果光盘片并没有被完全刻满，规划的区域完全不会被使用到，光盘片一定可读。而如果光盘片完全被刻满，也只是造成「lead-out」区域的缩短，对数据读取并无影响。

此刻录功率测定方法测量得光盘片上内圈与外圈的最佳刻录功率，并使用内插法得到一个最佳刻录功率与刻录位置到盘片中心的距离的关系曲线图，使得光盘刻录动作不论是固定线速度或是固定角速度的刻录方式，都得以使用最佳的刻录功率对盘片上所有位置的数据区块进行刻录动作。

本领域普通技术人员知道，本实施例针对可刻录式光盘片，但其实可应用于所有可刻录式储存媒体，而新规划刻录功率测定区最好是非数据操作的区域，例如光盘片的最外围等。另外，本实施例采用内插法来得到关系曲线图，但其实可利用其它数值分析的方法来得到不同的关系曲线图。

虽然本发明已以较佳实施例公开如上，然其并非用于限定本发明，任何本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，可作一些等效变化和变动，因此本发明的保护范围以权利要求为准。

Claims (8)

1、一种光学信息记录装置的最佳刻录功率测定方法，应用于将数据记录一记录型光学储存媒体中，该记录型光学储存媒体包括一刻录功率测定区块，其特征在于，该方法包括下列步骤：

在该记录型光学储存媒体的非数据记录区中，制定一重新规划的刻录功率测定区；

在该重新规划的刻录功率测定区进行刻录功率测定；

取得一重新规划区域的最佳刻录功率；

利用该重新规划区域的最佳刻录功率，以取得该记录型光学储存媒体上的一待刻录区域的一整体最佳刻录功率；以及

根据该整体最佳刻录功率，对该记录型光学储存媒体进行刻录。

2、如权利要求1所述的最佳刻录功率测定方法，其特征在于，还包括：利用该刻录功率测定区块，来得到内圈的最佳刻录功率。

3、如权利要求1所述的最佳刻录功率测定方法，其特征在于，该重新规划的刻录功率测定区位于一「lead-out」区域内。

4、一种光学信息记录装置的最佳刻录功率测定方法，应用于将数据记录一记录型光学储存媒体，该记录型光学储存媒体包括位于最内圈的一原有刻录功率测定区域，其特征在于，该方法包括下列步骤：

在该记录型光学储存媒体的最外圈制定一重新规划的刻录功率测定区；

在该原有刻录功率测定区域进行刻录功率测定以取得一第一最佳刻录功率；

在该重新规划的刻录功率测定区进行刻录功率测定以取得一第二最佳刻录功率；以及

根据该第一最佳刻录功率与该第二最佳刻录功率，得到该记录型光学储存媒体的一整体最佳刻录功率与位置的关系，并根据该整体最佳刻录功率，对该记录型光学储存媒体进行刻录。

5、如权利要求4所述的最佳刻录功率测定方法，其特征在于，该重新规划的刻录功率测定区位于一「lead-out」区域内。

6、如权利要求4所述的最佳刻录功率测定方法，其特征在于，利用内插法来得到该整体最佳刻录功率与位置的关系。

7、一种光学信息记录装置的最佳刻录功率测定方法，应用于将数据记录一可刻录式储存媒体，该可刻录式储存媒体包括一原有刻录功率测定区域，其特征在于，该方法包括下列步骤：

在该可刻录式储存媒体上的非数据记录区中制定一重新规划的刻录功率测定区；

在该原有刻录功率测定区域进行刻录功率测定以取得一第一最佳刻录功率；

在该重新规划的刻录功率测定区进行刻录功率测定以取得一第二最佳刻录功率；以及

根据该第一最佳刻录功率、该第二最佳刻录功率、该原有刻录功率测定区域的位置，以及该重新规划的刻录功率测定区的位置，得到该可刻录式储存媒体的一整体最佳刻录功率与位置的关系，并根据该整体最佳刻录功率与位置的关系，对该可刻录式储存媒体进行刻录。

8、如权利要求7所述的最佳刻录功率测定方法，其特征在于，利用内插法来得到该整体最佳刻录功率与位置的关系。

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