CN1338062A - 透镜装置 - Google Patents

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Abstract

一种透镜装置,其中,透镜元件的第一和第二阵列位于该装置的第一和第二表面上。设置第一和第二阵列,因此,当穿过第一阵列观察第二阵列时,可看到表示代表第二阵列的一个元件的放大图像的莫尔图案。至少一个阵列可包括至少一个预定的可识别的不连续变化,该变化是对应于阵列相邻元件的相同特征的阵列的至少一个元件的特征。至少一个元件可包括向至少一个元件提供横截面的压纹,该横截面与其上形成至少一个元件的表面平行,与穿过不包括所述压纹的至少一个元件的部分的平行横截面相比,其形状是不规则的。至少一个预定的并可识别的缺陷可被编码于至少一个第一和第二阵列中,对于独立观察者而言,缺陷基本上是难以分辨的。

Description

透镜装置
本发明涉及一种透镜装置。具体而言，但不排他地，本发明涉及一种包括第一和第二光学微元件阵列的透镜片形式的透镜装置，所述元件阵列一起提供一种莫尔条纹图案。这种透镜片可位于例如光盘等记录载体中或具有例如光盘等记录载体。从给定片出现期望莫尔条纹图案表示与该片相关的物体为真实的。
已将提供莫尔条纹图案的透镜片用作防伪装置。图1中说明了一种已知的透镜片。该片包括在第一侧2上的层1，该侧具有带有间距t1的凸起显微凸透镜4的透镜阵列4。在该层的第二侧3上具有带有稍不同间距t2的凸起显微凸透镜7的透镜阵列6。因为阵列4和6的微透镜相差t2-t1，所以该片提供一周期为(t1*t2)/|t2-t1|的莫尔条纹图案。
当从第一侧2看过去，莫尔条纹图案表现为第二侧3上显微透镜7的放大图像的副本。因为第二侧3上的光学微元件为圆显微凸透镜，所以每个莫尔条纹图案中的放大图像都具有深度。
复制透镜片是困难的。难以精确复制片阵列的位置关系。与原始片相比的复制片阵列的位置关系中的缺陷将导致复制片的莫尔条纹图案不同于原始片的图案。本征片生成的图案和不准确复制片之间的判别可由肉眼或检验装置识别出来。因此可识别出具有缺陷复制透镜片的伪造物体。
然而，并非不可能复制出图1所示的透镜片。通过精确地映射片阵列的位置关系，可生成具有阵列底片的模。然后使用该模来批量生成精确复制的片以供伪造物体使用。
WO9923513A公开了一种透镜片，一个透镜阵列的显微透镜在与包括至少两个不连续面的对应表面垂直的平面中具有横截面，在该阵列的每个显微透镜中提供一环形反射部，因此可提高穿过其它阵列所看到的莫尔条纹图案的可见性。
WO9427254A公开了一种透镜装置，该装置包括一个透镜阵列和一个二维缩微图像阵列。该透镜阵列可被固定于、或增加到缩微图像阵列上。通过印刷处理来形成缩微图像，其中，穿过对应于透镜阵列的微透镜阵列的形状暴光光刻胶来形成印刷板。值得注意的是，与压印的相比，这种图像印刷提供了一种不同的视觉效果，其中，通过改变不同入射角度上的内部反射的程度、而不是图像的对比度来形成该可视图案。
US-A-3-357-773公开了一种透镜片材料，在该材料的一侧上具有透镜阵列，在另一侧上具有不同的透镜阵列。在两侧重合前不同地拉伸该材料的一侧或另一侧可产生不同类型的莫尔图案。然而，这种在至少一个阵列的间距中产生连续变化的拉伸所产生的效果可被相对容易地再现，但难以检验为是本征的，并可能仅提供装饰效果。
期望提供一种具有可检验特征的镜镜装置，该特征致使该装置更难以被复制。
根据本发明的一个方面，提供一种透镜装置，包括：
在该装置的第一表面上的第一透镜元件阵列；和
在该装置的第二表面上的第二透镜元件阵列，其中，
该第一和第二阵列如此设置，以致当穿过第一阵列观察第二阵列时，可看到表示代表第二阵列元件的放大图像的莫尔图案，其特征在于：
至少一个阵列包括至少一个预定的可检验的不连续变化，该变化处于对应于阵列相邻元件的相同特性的至少一个阵列元件一特性中。
根据本发明的另一方面，提供一种透镜装置，包括：
在该装置的第一表面上的第一透镜元件阵列；和
在该装置的第二表面上的第二元件阵列，所述元件阵列由基本上相似的元件构成，其中，
该第一和第二阵列如此设置，以致当穿过第一阵列观察第二阵列时，可看到表示代表第二阵列元件的放大图像的莫尔图案，其特征在于：
所述第二阵列包括至少一个预定的可检验的不连续变化，该变化处于对应于阵列相邻元件的相同特性的至少一个阵列元件一特性中。
不连续变化是不会在阵列长度或宽度上平稳产生的变化。仅通过拉伸其上形成阵列的材料不能实现相邻元件之间的不连续变化。
根据本发明的再一方面，提供一种透镜装置，包括：
在该装置的第一表面上的第一透镜元件阵列；和
在该装置的第二表面上的第二透镜元件阵列，其中，
该第一和第二阵列如此设置，以致当穿过第一阵列观察第二阵列时，可看到表示代表第二阵列元件的放大图像的莫尔图案，其特征在于：
至少一个元件包括一个凸起，使至少一个元件具有横截面，该横截面平行于其上形成至少一个元件的表面，该表面具有预定的可检验的形状，与穿过部分不包括所述凸起的至少一个元件的平行横截面的形状相比，所述形状是不规则的。
这种装置的结构使得该装置更难以复制。因为凸起引起的横截面的形状是预定的，所以由形状的变化就可检测到有缺陷的复制，同时由独立观测员或辅助观测员可容易地检验出本征项目，如下面将进一步详细描述的。
根据本发明的又一方面，提供一种透镜装置，包括：
在该装置的第一表面上的第一透镜元件阵列，其元件为透镜；和
在该装置的第二表面上的第二透镜元件阵列，其中，
该第一和第二阵列如此设置，以致当穿过第一阵列观察第二阵列时，可看到表示代表第二阵列元件的放大图像的莫尔图案，其特征在于：
至少一个预定的可检验的缺陷被编码在至少一个第一和第二阵列中，对于独立观察者而言，该缺陷基本上是看不见的。
这种装置在阵列中具有一种保密结构，它使得片难以复制，但不会产生任何可见的影响。需要由例如显微镜等装置来检验该结构的有或没有。
下面权利要求阐明了本发明的上述和其它特征，本发明的上述和其它特征以及优点将通过结构附图、参考下面本发明的典型实施例的详细说明变得更清楚，其中：
图1表示这里已描述的已知透镜片的横截面；
图2表示根据本发明的透镜片第一实施例的横截面；
图3(A)、3(B)和3(C)表示可用于第一实施例中的凸起的不同实例；
图4表示根据本发明的透镜片第二实施例的横截面；
图5(A)表示沿根据本发明的透镜片的第三实施例的第一方向的横截面；
图5(B)表示沿透镜片的第三实施例的第二方向的横截面；
图6表示由透镜片的第三实施例生成的莫尔图案的示意说明；
图7表示根据本发明的透镜片第四实施例的横截面；
图8表示根据本发明的透镜片第五实施例的横截面；和
图9表示根据本发明的透镜片第六实施例的横截面。
参见附图中的图2，表示根据本发明的透镜片第一实施例的横截面。中央层1和其每侧上的两个侧层2、3形成片的主体。一个侧层2具有透镜阵列4，该阵列具有多个排列成规则阵列图案的显微镜5，显微镜之间具有预定的中心至中心间隔t1，例如336μm。每个显微镜5为凸出突起形式，当从侧层2的方向观察片时为一凸透镜。显微镜5的焦距约与片的厚度相同。另一侧层3具有透镜阵列6，该阵列具有多个排列成规则阵列图案的显微镜7，显微镜之间具有预定的中心至中心间隔t2，例如326μm。在任何情况下，为了生成一适当的莫尔图案，t1必须不同于t2，t1与t2之间的差不能太大，例如|t1－t2|/(t1＋t2)＜1/10。
另一层3上的每个显微镜7也为凸出突起形式，如果从侧层3的方向观察片时为一凸透镜。如果例如侧层3被覆盖于反射涂层内，则从该方向看不到该片。在任何情况下，无论是否从该方向看到该片，当从相反方向(从侧层2的方向)看到该片时，显微镜7不作为透镜，而是提供由入射光位置和角度决定内部反射数量的反射元件。
透镜片提供的莫尔图案在其中测量了中心至中心间隔的方向上具有周期(t1*t2)/|t1-t2|。在上述实例中，该莫尔图案的周期为(336*326)/(336-326)＝10.95微米。当从阵列侧3观察时，莫尔图案是显微镜7的放大图像的副本。
在本发明的该实施例中，每个显微镜7包括一基本球形或抛物面突起7a，其上提供一相同的特殊形状的压纹7b。该压纹7b最好设置成与突起7a同轴。
在平行于该片的平面内的突起7b的横截面与显微镜截面的基本形状(为圆形)相比，为不规则形状。“不规则形状”意味着该突起本身是不成形，例如圆或椭圆，基本上随着显微镜的形状。突起为对应于期望形状的升起或凹进的轮廓。突起可以是图3(A)中所示面部图像所示例的、图3(B)中所示十字形状所示例的和/或图3(C)中所示名字“PHILLIP”所示例的图示图像。
图2中所示透镜片提供了一种有用的防伪装置。压纹7b以及突起7a的提供意味着片难以被复制。另外，各元件在莫尔图案中的放大图像可视地表示由压纹7b产生的可检验标记，它可以是、或可成为一与众不同的商标。为了生成该片的可靠复制，不仅需要准确复制阵列4、6的位置关系，而且要复制每个显微镜7中的特殊成形部7b和每个突起7a和每个部分7b之间的位置关系。通过莫尔图案中的所得可视差异可分辨出具有不准确复制片的伪造物体。
图4表示本发明的第二实施例。透镜片与图2中所示相似，除了显微镜17为凸透镜，基本为球形或抛物面形，突起17a具有一基本上与显微镜同心的平整部17c。识别压纹17b与第一实施例中所述相似，位于每个平整部17c上。
图5(A)和5(B)表示本发明的第三实施例。图5a表示沿片中第一方向的透镜片的横截面，而图5b表示沿与第一方向基本垂直的方向上的片的横截面。在如上所述的片中，图5的透镜片包括中央层31和在其每侧上的两个侧层32、33。第一透镜阵列34位于第一侧层32上，第二透镜阵列36位于第二侧层33上。
第一透镜阵列34包括多个间隔开的显微镜35，每个显微镜都是可用作透镜的凸出的、基本上为球形或抛物面形的突起。类似地，第二透镜阵列36也包括多个间隔开的显微镜37，每个显微镜都是可用作透镜的凸出的、基本上为球形或抛物面形的突起。
与垂直于第一方向的第二方向上的排列相比，显微镜35可沿第一方向不同地排列。沿第一方向上有第一阵列34区域，其尺寸最好足够大以基本上显示代表第二阵列36中至少一个显微镜37的完整放大图像，其中，显微镜35之间的间隔(间距)为t1，其尺寸最好足够大以基本上显示代表第二阵列36中至少一个显微镜37的完整放大图像的不同阵列区域中显微镜35之间的间隔为t3。在不同区域中间的阵列34的某一区域中，例如图5(A)所示的显微镜38、39的区域中，发生从t1到t3的间隔的不连续变化。然而，如图5(B)所示，沿片的第二方向，在该实例中，相邻显微镜的中心至中心间隔总是t1。
阵列34中的显微镜35可如此设置在一图案中，该图案中，包含设置在边长为t1的正方形中的显微镜组的区域和包含设置在边长为t1和t3的矩形中的显微镜组的区域相互交替。
阵列36中的显微镜37的中心间隔在第一和第二方向上均为t2。t1和t3的值都略微不同于t2的值。
由该片提供的、可从上述第一阵列34看到的莫尔图案的示意说明如图6所示。对于该特定实例，|t1-t2|的值大于|t2-t3|的值。
沿任何给定方向，图像放大倍数的值取决于两个因素，i)第二阵列36中显微镜37的间隔t2和ii)第一阵列34和第二阵列36的间隔的t1或t3差。因为第二阵列36中显微镜37的间隔总为t2，第一阵列34和第二阵列36的差总为|t1-t2|，所以沿第二方向的放大倍数总为t2/|t1-t2|。
沿第一方向，第二阵列36中显微镜37的间隔仍总为t2，但第一阵列34和第二阵列36的间隔的差不同，为|t1-t2|或|t2-t3|，取决于第一阵列34中的显微镜35的间隔是t1还是t3。因此，所以放大倍数的值在不同区域变为不同的值，为t2/|t1-t2|或t2/|t2-t3|。
莫尔图案为代表显微镜37的放大图像的副本。一些放大图像为圆形，而另一些放大图像为椭圆形。之所以出现形状的差异是因为沿第一方向上放大倍数不同。其中，放大倍数在两个方向上均为t2/|t1-t2|，则自身具有平行于片平面的圆形交叉部的显微镜37的放大图像呈现为圆形。其中，放大倍数在第一方向上为t2/|t2-t3|而在第二方向上为t2/|t1-t2|，因为t2/|t2-t3|大于t2/|t1-t2|，所以显微镜37的放大图像被拉伸，因而呈现椭圆形。因此，第一方向上两个阵列之间的间隔不连续变化导致从圆形到椭圆形的对应图像的不连续变化。
如从相反方向、即从上述第二阵列36观察片36可看到包含突起35的图像的相似莫尔图案。
通过不连续改变第一方向上阵列34和36的间隔，可形成显著的莫尔图案。如果第一阵列34和第二阵列36的间隔的差在多于一个方向上不连续变化，则可形成更复杂的图案。
因为需要准确映射和再现第一和第二阵列的规则变化位置关系，所以难以复制图5(A)和5(B)所示片。片所提供的莫尔图案是显著而容易被识别的。通过莫尔图案中的结果可视差异可识别具有非准确复制片的伪造物体。
第一阵列34和第二阵列36不必都是显微镜阵列。一个阵列36可包括一组任何适于用作由另一阵列34成像的物体的基本相同的元件。例如，一个阵列36可包括如上述参考图2至4所述的特殊成形压纹，或印刷在适当层上的微型图像阵列。则在显微镜阵列或其它阵列中产生引起放大倍数改变的间距变化。
图7表示本发明的第四实施例。中央层41和在其每侧上的第一侧层42和第二侧层43形成片的主体。第一侧层42具有第一透镜阵列44。第一透镜阵列44包括至少一组用作透镜的第一显微镜45a，和至少一组形状不同、因而与第一显微镜45a相比具有不同聚焦强度的、也用作透镜的第二显微镜45b。第一显微镜45a例如基本为球形，第二显微镜45b例如基本为抛物面形，并具有比显微镜45a高的高度。这样，如图7所示，在显微镜48和49之间产生显微镜聚焦强度(和高度和/或形状)上的在连续变化。第一显微镜45a的中心至中心间隔和第二显微镜45b的中心至中心间隔不变，等于t1。
第二侧层43具有透镜阵列46。透镜阵列46包括不变间隔的球形或抛物面形突起47，每个突起具有略大于t1的中心至中心间隔t2。
最好是，阵列44包括在预定图案中与显微镜组45b交替的显微镜组45a。每个组最好包括足够的压印显微镜以提供代表至少一个其它阵列46的显微镜47的放大图像。
显微镜45a和45b的形状差别是特别选择的，因此显微镜45a和显微镜45b具有不同焦距，而两个焦距与片的厚度基本一致。
当从阵列44上面观察时，片所提供的莫尔图案是显著的。该图案为显微镜47的放大图像的副本，作为显微镜45a和显微镜45b焦距不同的结果，由显微镜45a成像的显微镜47的放大图像平面呈现与由显微镜45b成像的显微镜47的放大图像平面非共面。
显微镜45a和45b可以是任何适当形状，只要其形状具有不同宽度以提供不同焦距。
因为需要复制阵列44和46之间的位置关系，并且还需要复制不同形状显微镜45a和45b以及显微镜45a和45b的空间排列，所以难以复制图7中所示透镜片。该片所提供的莫尔图案是显著的并可容易识别的。通过莫尔图案中结果可视差异可识别出具有不准确复制片的伪造物体。
图8表示本发明的第五实施例。该片包括中央层51和两个侧层52、53。在设置在片的第一侧层52上的透镜阵列54中，相邻显微镜55的中心至中心间隔不是常数，而是不连续地变化的，但限于一些或所有显微镜在规定间隔的阵列中仅从其点稍微偏离来定位。位置变化限于规定间隔阵列的点的±5μm内，以保证该变化不会对生成的莫尔图案产生容易识别的可视影响。可发生某些莫尔图案的不清楚，但这基本上是肉眼无法识别的。
在该特定实例中，对于五个连续显微镜55的线而言，相邻的第一对55a、55b之间的间隔为t1，相邻的第二对55b、55c之间的间隔为t2，相邻的第三对55c、55d之间的间隔为t3，相邻的第四对55d、55e之间的间隔为t4。间隔t1为336μm，间隔t2、t3和t4均在336μm的±5μm内，并且所有间隔的平均值为(336μm)。例如，t2＝340μm，t3＝334μm和t4＝335μm。在第一层52的有限部分或整个部分上重复该图案。
第二侧层53上的阵列56中显微镜57之间间隔为t5，它不同于其它阵列54的显微镜的平均间隔，例如326μm。
如上详细所述，片所提供的莫尔图案的形状取决于两个阵列54和56的间隔差。
当从第一侧层52上看去，莫尔图案呈现为显微镜57的放大图像的副本，或如果从第二侧层53上看去，则呈现为显微镜55的放大图像的副本。任一图案包括源自上述阵列54中间距中的细微变化的良好结构。用光学装置、例如显微镜仅可检测该改变的间距。因此，细微间距变化的顺序代表编码在阵列54中的安全“代码”，其出现不能被肉眼检测。
值得注意的是，间距不必如上述实例中定常地改变。正确位于阵列中的多个步变间距显微镜可跟随以一个或多个在显微镜阵列中偏离其正确位置的显微镜。例如，可以这种方式偏离显微镜线中的每第二十个显微镜，以提供一可检验的不连续的间距变化顺序。另外，可颠倒编码顺序以提供进一步的安全。
由于涉及解码和准确再现编码在原始片中的细微间距变化的额外困难，所以难以复制图8所示透镜片。通过适当的识别机、例如显微镜可识别出具有与原始片大致相同排列并提供相同可视莫尔图案的、但其中不出现或差地再现编码间距变化的复制片的伪造物体。
上述间距变化的特定顺序只是举例。变化的其它可能顺序对本领域的技术人员而言是显而易见的。事实上，为了提供可检验编码间距变化，仅需在阵列中将一单个元件偏离其正确位置。
第一阵列54和第二阵列56不必都是显微镜阵列。一个阵列可包括一组适于用作由另一阵列54成像的物体的基本相同的元件。例如，一个阵列56可包括如上述参考图2至4所述的特殊成形压纹，或印刷在适当层上的微型图像阵列。则在显微镜阵列或其它阵列中产生编码间距变化。
图9表示本发明的第六实施例。透镜片包括中央层61和两个侧层62、63。形成于第二层上的显微镜67的阵列66与上述图中所示相当阵列相同。设置于第一侧层62上的阵列64中的显微镜65具有中心至中心间隔t1。每个显微镜65包括形成于预定义位置上的预定可检验压纹M。该压纹M可以是最简单形式的小突起或小凹坑，但最好为起码的复杂形式，例如图示图像、符号和/或字母等。可在一定数量的显微镜后旋转显微镜上压纹M的位置，以在压纹位置中加入编码顺序。
并不必每个显微镜65都包括压纹M。显微镜65可被标记为任何适当图案，例如标记仅一个或每五个显微镜。如果在显微镜65的大致面积上包括压纹M，则最好设置透镜片以确保对于独立观察者而言，其中的压纹M的放大视图可视的莫尔图案是不可视的。这可通过确认物体中片的适当位置或通过包括在显微镜67侧的基本不透明层来实现。实际上，阵列66可由不是显微镜、而是压纹或印刷图像的光学微型元件构成。但通过使用例如显微镜等检验装置可检测并确认包括压纹M的本征片。
上述细微间距偏差或压纹M(下面称为“缺陷”)对于独立观察者而言基本上是分辨不出的。由此，意味着人的肉眼不能轻易地分辨出该特征。因此，当人的肉眼从20cm远处观察时，每个该特征都应大约小于0.1mm，或每个都对莫尔图案具有大约小于0.1mm的偏离影响。
编码在透镜片阵列内的缺陷可位于对应于片所生成的莫尔图案的预定位置上。该特征可被用来使缺陷更易被检验者分辨，并作为进一步确认的标准。例如，在上述莫尔图案中，所形成的图案一般为圆形，对于观察侧而言，为位于片相反侧上的显微镜图像。该缺陷或这些缺陷可被编码在显微镜中，它呈现在出现于莫尔图案中的一个圆形图像的中部。缺陷和莫尔图案之间的预定位置关系也是有用的，因为该缺陷可被用作阵列中的参考点，该阵列连同识别装置一起被用来确认携带透镜片的物体的真实性。这种识别装置的一个实例是其上印有参考图案的透明片，该图案是给定透镜片所提供的莫尔图案的一个再现或表现。可选择缺陷的位置，因此，当识别装置利用缺陷正上方具有给定的识别器对齐标记被夹持在透镜片上面的预定位置中时，所观察到的透镜片生成的莫尔图案与印在识别器上的参考图案一致。由复制透镜片生成的莫尔图案与识别器的图案不一致，该生成的图案中缺陷的位置与原始片相比是不准确的。
这里所述所有透镜片的实施例可被埋置于主体内以禁止片的复制或通过粘接层连接到如CD带盒等物体上。其上形成确认光学微型元件的该表面或这些表面可由具有不同于该片的折射率的材料的透明保护层保护。该层最好牢固地粘在它所保护的表面上，因此在不损害确认光学微型元件的外观时不能去除该层，所以防止了透镜装置自身的直接复制。
应该明白，这里所述实施例仅是举例，在不脱离权利要求所设定的本发明的范围下，具有适当常识和技巧的人可做出改进和修改。
显微镜或其它光学微型元件不必设置成上述的正方形或矩形阵列；它们也可被设置成三角形或六边形阵列。
可以设想，来自这里所述的两个或更多实施例的具有确认特征的透镜装置是被期望的。
这里所用的术语“显微镜”和“透镜”表示所述元件的形式，仅在某些情况下表示其必需的功能。在不同的实施例中，一个“显微镜”阵列不必用作透镜，但为了提供在穿过“显微镜”其它阵列所看到的莫尔图案中的可识别反射图像而被使用。“显微镜”的凸出形式被用来提供莫尔图案中的可识别的清楚的图像，该图案由在不同入射光角度上具有不同数量的反射的“显微镜”中不同位置上的反射产生。
类似地，这里所用的术语“压纹”用来表示成形、而不是使用表面反差所形成的光学微型元件。形成可由其产生模的正本的显微镜上的压纹的形成可通过分别压制一次形成的每个显微镜(或其底片)或通过在形成透镜的同时形成压制微型元件来实现。显微镜本身或其底片可独立地压制在正本内，或通过首先以设定间隔在第一方向上、接着以设定间隔在垂直方向上并达到相同深度压制部分圆柱型凹槽来形成，因此形成期望的显微镜阵列的底片。如图中所示的透镜片可使用具有透镜阵列底片形状的模来批量生成。制造所示透镜片的适用技术可EP-A-0156430中公开。

Claims (19)

1.一种透镜装置，包括：
在该装置的第一表面上的第一透镜元件阵列；和
在该装置的第二表面上的第二透镜元件阵列，其中，
该第一和第二阵列如此设置，以致当穿过第一阵列观察第二阵列时，可看到表示代表第二阵列元件的放大图像的莫尔图案，其特征在于：
至少一个所述阵列包括至少一个预定的可检验的不连续变化，该变化处于对应于该阵列相邻元件的相同特性而言该阵列至少一个元件一特性中。
2.根据权利要求1的透镜装置，其特征在于：至少一个变化包括聚焦强度的变化，由此生成一莫尔图案，其中，在相对于第一表面的不同视在高度上形成图像。
3.根据任一前面权利要求的透镜装置，其特征在于：至少一个变化包括至少两个元件之间间距的变化。
4.根据权利要求4的透镜装置，其特征在于：至少一个间距中的变化沿间距方向周期地产生。
5.根据权利要求3或4的透镜装置，其特征在于：至少一个间距变化被限制来确保其中发生至少一个变化的阵列元件基本设置成规则间隔的阵列，因此生成莫尔图案，其中，对于独立观察者而言，至少一个间距变化是基本分辨不出的。
6.根据权利要求5的透镜装置，其特征在于：由预定顺序中不同数量来改变间距。
7.根据权利要求5或6的透镜装置，其特征在于：阵列中元件的位置因规则间隔阵列而不同，阵列中的大部分元件被适当地设置在规则间隔阵列中。
8.根据任一前面权利要求的透镜装置，其特征在于：设置第一和第二阵列，发生所述至少一个变化，因此生成一莫尔图案，其中，可看到每个都代表所述第二阵列的一个元件的多个放大图像，并且其中，对于独立观察者而言，由至少一个变化引起的放大图像中或之间的改变是可见的。
9.一种透镜装置，包括：
在该装置的第一表面上的第一透镜元件阵列；和
在该装置的第二表面上的第二透镜元件阵列，其中，
该第一和第二阵列如此设置，以致当穿过第一阵列观察第二阵列时，可看到表示代表第二阵列元件的放大图像的莫尔图案，其特征在于：
至少一个元件包括一个凸起，使至少一个元件具有横截面，该横截面平行于其上形成至少一个元件的表面，该表面具有预定的可检验的形状，与穿过不包括所述凸起的至少一个元件一部分的平行横截面的形状相比，所述形状是不规则的。
10.根据权利要求9的透镜装置，其特征在于：所述元件包括一定义透镜状突起的第一部分和定义所述压纹的第二部分。
11.根据权利要求9或10的透镜装置，其特征在于：第二阵列包括多个元件，每个元件包括基本相同形状的所述压纹，因此，在所述莫尔图案中，压纹的形状是可视的。
12.根据权利要求9或10的透镜装置，其特征在于：所述压纹位于所述第一阵列中，并被设置成对于独立观察者而言是基本上难以分辨的。
13.根据权利要求9至12的任一透镜装置，其特征在于：所述压纹包括一图示图像、一符号和/或字母。
14.一种透镜装置，包括：
在该装置的第一表面上的第一透镜元件阵列，其元件为透镜；和
在该装置的第二表面上的第二透镜元件阵列，其中，
该第一和第二阵列如此设置，以致当穿过第一阵列观察第二阵列时，可看到表示代表第二阵列元件的放大图像的莫尔图案，其特征在于：
至少一个预定的可检验的缺陷被编码在至少一个第一和第二阵列中，对于独立观察者而言，该缺陷基本上是看不见的。
15.根据权利要求14的透镜装置，其特征在于：所述缺陷彼此对应地位于至少一个阵列的元件间隔中。
16.根据权利要求14的透镜装置，其特征在于：所述缺陷是在第一阵列的一个透镜元件上的标记。
17.根据权利要求14至16的任一透镜装置，其特征在于：缺陷类似地位于每个所述装置中，因此，在缺陷和出现于每个所述装置中的莫尔图案之间存在预定位置关系。
18.一种透镜装置，包括：
在该装置的第一表面上的第一透镜元件阵列；和
在该装置的第二表面上的第二元件阵列，所述元件阵列由基本上相似的元件构成，其中，
该第一和第二阵列如此设置，以致当穿过第一阵列观察第二阵列时，可看到表示代表第二阵列元件的放大图像的莫尔图案，其特征在于：
所述第二阵列包括至少一个预定的可检验的不连续变化，该变化属于对应于阵列相邻元件的某一特性而言至少一个阵列元件的相同特性的变化。
19.根据权利要求18的透镜装置，其特征在于：所述变化为间距间的变化。
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