CN1320529C - 光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光盘装置，该光盘装置即使在记录面上存在光盘制造阶段中产生的残损等的缺陷部分时，也能将对跟踪控制的干扰限制得很小。输出端子(2)，与光拾取器(1)连接，输出将在主光束之前的先行副光束的返回光转换为电信号后得到的先行副光束返回光信号。缺陷期间检测电路(5)，根据来自上述输出端子(2)的先行副光束返回光信号，检测光束通过光盘(8)的缺陷部分的过程中的缺陷期间。伺服保持电路(7)，在上述检测出的缺陷期间中，保持跟踪伺服。因此，即使在缺陷期间中RF信号的振幅急剧地衰减，也能在其衰减的早期阶段检测缺陷期间，并能将跟踪误差信号的振幅的变化抑制得很小。

Description

光盘装置

技术领域

本发明涉及对记录在光盘上的信息进行再现和输出的3光束式光盘装置。

背景技术

一般地说，在对CD(Compact Disk)或DVD(Digital Versatile Disk)等光盘进行再现的光盘装置中，用于使来自光拾取器的光束的读取光点跟踪光盘上的具有坑(pit)串的轨道的跟踪控制(跟踪伺服)是必不可少的。该跟踪伺服，是利用基于由光拾取器检测的来自光盘的返回光(反射光)的信号生成跟踪误差信号，从而根据该跟踪误差信号来进行的。

但是，在光盘面上有划伤、附着了异物、或所记录的坑有伤损的情况下(将这种情况称为缺陷(defect))，当光束进入缺陷部分时，缺陷将对跟踪误差信号产生干扰，使光束的跟踪发生变化，当光束从缺陷部分脱离出时，跟踪将被扰乱或产生偏离。

因此，例如，如专利文献“日本特开昭61-96529号公报”所述，通过检测缺陷期间(即，光束在缺陷部分上通过的期间)并且在该缺陷期间中对跟踪误差信号进行噪声抑制(固定为适当的中间电平信号)或将跟踪误差信号固定于紧接在缺陷期间之前的电平，可以抑制缺陷期间中对跟踪误差信号的干扰。由此，可以减少由缺陷引起的跟踪偏差的发生。

以下，用图14对现有的光盘装置进行说明。

图14表示对记录在光盘上的信息进行再现和输出的现有的3光束式光盘装置的结构。

在图14中，1是光拾取器，包括用于检测主光束的返回光(反射光)的被分成4个部分的主光束传感器、为进行跟踪伺服而配置在主光束传感器的前后且配置在相对于坑的扫描方向的左右两侧的2个用于检测副光束的副光束传感器。这里，将在由主光束传感器转换为电信号的4个电信号作为A～D信号、将在主光束之前的副光束作为先行副光束、将在主光束之后的副光束作为后续副光束，进一步，将检测先行副光束的返回光的副光束传感器作为E、将检测后续副光束的返回光的副光束传感器作为F，并将由副光束传感器E检测出的信号作为E信号、将由副光束传感器F检测出的信号作为F信号。

在图14中，2和3是与光拾取器1连接的第1及第2输出端子，在第1输出端子2上输出E信号，在第2输出端子3上输出F信号。

另外，4是与上述第1及第2输出端子连接并根据上述E信号和F信号进行E信号值-F信号值的运算从而生成跟踪误差信号(以下，称为TE信号)的跟踪误差信号生成电路，6是用TE信号进行跟踪伺服的跟踪控制电路。

9是与光拾取器1连接的第3输出端子，用于输出将来自主光束传感器的4个A～D信号相加后的信号(RF信号(数字调制信号))。10是与上述第3输出端子9连接并将上述RF信号按一定的振幅标准化的AGC(Automatic Gain Control：自动增益控制)电路，11是根据来自上述第3输出端子9的RF信号生成聚焦误差信号的聚焦控制电路。

上述跟踪控制电路6，根据来自上述跟踪误差信号生成电路4的TE信号控制上述光拾取器1的跟踪传动装置的驱动放大器(图中未表示)。由此，一边进行跟踪伺服一边从记录在光盘8上的信息生成RF信号，并且，一边由聚焦控制电路11进行聚焦伺服，一边根据来自AGC电路10的标准化后的RF信号对记录在光盘8上的信息进行再现。

进一步，在图14中，40是根据来自AGC电路10的标准化后的RF信号检测缺陷期间并输出缺陷期间信号的缺陷期间检测电路，7是包含在上述跟踪控制电路6内的伺服保持电路，用于根据由上述缺陷期间检测电路40检测出的缺陷期间信号将TE信号保持在缺陷期间前的值(电平)。此外，39是接受来自上述缺陷期间检测电路40的缺陷期间信号的AGC保持电路，用于在缺陷期间中将AGC电路10的增益保持在固定值。

图15表示光盘表面上的主光束、副光束及缺陷部分的位置关系。在图15中，相对于光盘的转动方向，按先行副光束45、主光束44、后续副光束46的顺序排列。这里，当存在缺陷部分47时，在图14所示的光盘装置中，缺陷期间的检测，由缺陷期间检测电路40根据从光拾取器1通过第3输出端子9并由AGC电路10标准化了的RF信号进行，所以从先行副光束进入缺陷部分的时刻起直到RF电平减低因而检测出缺陷期间为止存在一定的时间滞后，但如果是光盘表面的划伤或表面上附着了异物等存在于光盘表面的缺陷，则如图16所示，进入缺陷部分时的RF信号的振幅的衰减，需花费远比E信号开始变化和F信号开始变化的时间差长的时间，因此，保持伺服时的TE信号的振幅a很小，而且伺服的保持被解除的瞬间的TE信号的变化振幅b也很小，所以由缺陷引起的对跟踪的干扰很小，不存在任何问题。

发明内容

但是，从本发明人等研究的情况可知，当在记录面上存在着光盘制造阶段中产生的残损等缺陷时，如图17所示，进入缺陷部分时的RF信号的振幅，以与E信号开始变化和F信号开始变化的时间差同样短的时间急剧地衰减。所以，在现有的光盘装置中，如由跟踪误差信号生成电路4根据RF信号的电平进行缺陷期间的检测，则保持跟踪伺服时的TE信号的振幅A增大，而跟踪伺服的保持被解除的瞬间的TE信号的变化振幅B也增大，因此，由缺陷引起的对跟踪控制的干扰增大，当该干扰过大时，会使伺服发生偏离。

本发明是为解决上述现有技术的问题而开发的，其目的在于，提供一种光盘装置，即使是对存在于光盘记录面上的缺陷也能尽力地抑制对TE信号的干扰，从而可以有效地抑制因缺陷引起的对跟踪控制的干扰的发生。

为实现上述目的，在本发明中，当光束进入存在于光盘记录面上的缺陷部分时，即使RF信号的振幅急剧地衰减，也能在其衰减的早期阶段检测缺陷期间，该检测不是根据由主光束的返回光产生的RF信号进行，而是根据由在主光束之前的先行副光束产生的RF信号进行。

具体地说，本发明的第1技术方案的光盘装置，包括将主光束和在上述主光束之前及之后的先行副光束及后续副光束输出到光盘的光拾取器，为了对记录在上述光盘上的信息进行再现，基于上述光拾取器的主光束的读取光点进行数字调制信号和聚焦误差信号的检测，并基于上述光拾取器的先行及后续副光束的读取光点进行跟踪误差信号的检测，该光盘装置的特征在于，包括：上述光拾取器；跟踪误差信号生成装置，与取得将上述光拾取器的先行副光束的返回光转换为电信号后得到的先行副光束返回光信号的第1输出端子及取得将上述光拾取器的后续副光束的返回光转换为电信号后得到的后续副光束返回光信号的第2输出端子连接，并根据来自该2个输出端子的先行及后续副光束返回光信号生成跟踪误差信号；跟踪控制装置，接受上述跟踪误差信号生成装置的上述跟踪误差信号，并根据上述跟踪误差信号进行跟踪控制；缺陷期间检测装置，根据来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号或来自上述第1及第2输出端子双方的先行及后续副光束返回光信号检测上述光盘的缺陷期间并输出缺陷期间信号；以及保持装置，接受上述缺陷期间检测装置的上述缺陷期间信号，并根据上述缺陷期间信号保持由上述跟踪控制装置进行的跟踪控制。

本发明的第2技术方案，其特征在于：在上述第1技术方案所述的光盘装置中，上述缺陷期间检测装置，包括：第1基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并根据该先行副光束返回光信号的暗电平生成第1基准电平；第2基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并利用该先行副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第2基准电平；第3基准电平生成装置，生成具有由上述第1及第2基准电平生成装置生成的上述第1及第2基准电平之间的值的第3基准电平；第1脉冲生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并以上述第3基准电平生成装置的第3基准电平为基准将该先行副光束返回光信号二值化后生成第1脉冲；以及单稳态电路，通过将由上述第1脉冲生成装置生成的第1脉冲的后沿延长预定时间而生成缺陷期间检测信号。

本发明的第3技术方案，其特征在于：在上述第2技术方案所述的光盘装置中，上述缺陷期间检测装置，包括波谷保持装置，配置在从上述第1输出端子将先行副光束返回光信号输入到第1脉冲生成装置的路径上，用于保持先行副光束返回光信号的波谷。

本发明的第4技术方案，其特征在于：在上述第2技术方案所述的光盘装置中，上述缺陷期间检测装置，包括标准化电平调整装置，配置在从上述第1输出端子将先行副光束返回光信号输入到第1脉冲生成装置的路径及将上述第3基准电平生成装置的第3基准电平输入到第1脉冲生成装置的路径中的至少一个路径上，用于对上述先行副光束返回光信号及上述第3基准电平的一方或双方进行调整。

本发明的第5技术方案，其特征在于：在上述第1技术方案所述的光盘装置中，上述缺陷期间检测装置，包括：第1基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并根据该先行副光束返回光信号的暗电平生成第1基准电平；第2基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并利用该先行副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第2基准电平；第3基准电平生成装置，生成具有由上述第1及第2基准电平生成装置生成的上述第1及第2基准电平之间的值的第3基准电平；第1脉冲生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并以上述第3基准电平生成装置的第3基准电平为基准将该先行副光束返回光信号二值化后生成第1脉冲；第4基准电平生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并根据该后续副光束返回光信号的暗电平生成第4基准电平；第5基准电平生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并利用该后续副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第5基准电平；第6基准电平生成装置，生成具有由上述第4及第5基准电平生成装置生成的上述第4及第5基准电平之间的值的第6基准电平；第2脉冲生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并以上述第6基准电平生成装置的第6基准电平为基准将该后续副光束返回光信号二值化后生成第2脉冲；以及第1OR(“或”)电路，接受来自上述第1及第2脉冲生成装置的第1及第2脉冲，并求取该第1脉冲与第2脉冲的逻辑和。

本发明的第6技术方案，其特征在于：在上述第1技术方案所述的光盘装置中，上述缺陷期间检测装置，包括：第1基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并根据该先行副光束返回光信号的暗电平生成第1基准电平；第2基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并利用该先行副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第2基准电平；第3基准电平生成装置，生成具有由上述第1及第2基准电平生成装置生成的上述第1及第2基准电平之间的值的第3基准电平；第4基准电平生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并根据该后续副光束返回光信号的暗电平生成第4基准电平；第5基准电平生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并利用该后续副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第5基准电平；第6基准电平生成装置，生成具有由上述第4及第5基准电平生成装置生成的上述第4及第5基准电平之间的值的第6基准电平；第1波谷保持装置，输出上述第1输出端子的先行副光束返回光信号的下侧包络；第1波峰保持装置，输出上述第1输出端子的先行副光束返回光信号的上侧包络；第2波谷保持装置，输出上述第2输出端子的后续副光束返回光信号的下侧包络；第2波峰保持装置，输出上述第2输出端子的后续副光束返回光信号的上侧包络；第1脉冲生成装置，根据上述第3基准电平生成装置的第3基准电平将上述第1波谷保持装置的输出信号二值化后生成第1脉冲；第2脉冲生成装置，根据第6基准电平生成装置的第6基准电平将上述第2波谷保持装置的输出信号二值化后生成第2脉冲；第3脉冲生成装置，根据上述第3基准电平生成装置的第3基准电平将上述第1波峰保持装置的输出信号二值化后生成第3脉冲；第4脉冲生成装置，根据上述第6基准电平生成装置的第6基准电平将上述第2波峰保持装置的输出信号二值化后生成第4脉冲；第1下降率可变装置，利用上述第1脉冲生成装置的第1脉冲的上升加快上述第1波峰保持装置的下降率，另一方面，利用上述第3脉冲生成装置的第3脉冲的下降延缓上述第1波峰保持装置的下降率；第2下降率可变装置，利用上述第2脉冲生成装置的第2脉冲的上升加快上述第2波峰保持装置的下降率，另一方面，利用上述第4脉冲生成装置的第4脉冲的下降延缓上述第2波峰保持装置的下降率；第1“或”电路，接受来自上述第1及第3脉冲生成装置的第1及第3脉冲，并求取该第1脉冲与第3脉冲的逻辑和；第2“或”电路，接受来自上述第2及第4脉冲生成装置的第2及第4脉冲，并求取该第2脉冲与第4脉冲的逻辑和；以及第5脉冲生成装置，生成由上述第1“或”电路的输出信号的上升表明上述缺陷期间的开始的脉冲，并生成由上述第2“或”电路的输出信号的下降表明从上述缺陷期间脱出的脉冲。

本发明的第7技术方案，其特征在于：在上述第1技术方案所述的光盘装置中，包括：自动增益控制装置，与取得将上述光拾取器的主光束的返回光转换为电信号后得到的主光束返回光信号的第3输出端子连接，并生成将上述主光束返回光信号的振幅按一定值标准化了的数字调制信号；第2缺陷期间检测装置，生成与上述缺陷期间检测装置生成的缺陷期间信号相比进入缺陷期间的检测晚而从缺陷期间脱出的检测早的用于表明第2缺陷检测期间的第2缺陷期间信号；以及自动增益控制保持装置，在由上述第2缺陷期间检测装置的第2缺陷期间信号表明的上述第2缺陷检测期间内，将上述自动增益控制装置的增益固定在一定值。

本发明的第8技术方案，其特征在于：在上述第7技术方案所述的光盘装置中，上述第2缺陷期间检测装置，接受来自上述自动增益控制装置的数字调制信号，并根据该数字调制信号生成上述第2缺陷期间信号。

本发明的第9技术方案的光盘装置，包括将主光束和在上述主光束之前及之后的先行副光束及后续副光束输出到光盘的光拾取器，为了对记录在上述光盘上的信息进行再现，基于上述光拾取器的主光束的读取光点进行数字调制信号和聚焦误差信号的检测，并基于上述光拾取器的先行及后续副光束的读取光点进行跟踪误差信号的检测，该光盘装置的特征在于，包括：上述光拾取器；跟踪误差信号生成装置，与取得将上述光拾取器的先行副光束的返回光转换为电信号后得到的先行副光束返回光信号的第1输出端子及取得将上述光拾取器的后续副光束的返回光转换为电信号后得到的后续副光束返回光信号的第2输出端子连接，并根据来自该2个输出端子的先行及后续副光束返回光信号生成跟踪误差信号；跟踪控制装置，接受上述跟踪误差信号生成装置的上述跟踪误差信号，并根据上述跟踪误差信号进行跟踪控制；缺陷期间检测装置，根据来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号或来自上述第1及第2输出端子双方的先行及后续副光束返回光信号检测上述光盘的缺陷期间，并生成第1缺陷期间信号、和与上述第1缺陷期间信号相比进入缺陷期间的检测晚而从缺陷期间脱出的检测早的用于表明第2缺陷检测期间的第2缺陷期间信号；保持装置，接受上述缺陷期间检测装置的上述第1缺陷期间信号，并根据上述第1缺陷期间信号保持由上述跟踪控制装置进行的跟踪控制；自动增益控制装置，与取得将上述光拾取器的主光束的返回光转换为电信号后得到的主光束返回光信号的第3输出端子连接，并生成将上述主光束返回光信号的振幅按一定值标准化了的数字调制信号；及自动增益控制保持装置，在由上述缺陷期间检测装置的第2缺陷期间信号表明的上述第2缺陷检测期间内，将上述自动增益控制装置的增益固定在一定值。

由上述可知，在第1～第9技术方案所述的光盘装置中，由于用先行副光束返回光信号进行缺陷期间的检测，与以往那样用主光束返回光信号检测的情况相比，可以按主光束和先行副光束之间的时间差更快地检测缺陷期间。因此，可以将保持伺服时的TE信号的振幅抑制得很小，因而对跟踪的干扰很小。

另外，在第2技术方案所述的光盘装置中，可以由缺陷期间检测装置检测作为缺陷期间的从先行副光束进入缺陷部分因而使先行副光束返回光信号降低到第3基准电平以下的时刻起直到先行副光束返回光信号超过第3基准电平并经过了预定时间(例如，先行副光束返回光信号和后续副光束返回光信号开始变化的时间差)的期间。

进一步，在第3技术方案所述的光盘装置中，在缺陷期间检测装置中，在将先行副光束返回光信号二值化之前的阶段，由波谷保持电路对该先行副光束返回光信号进行波谷保持，因此可以防止对先行副光束返回光信号进行二值化时产生振荡。

此外，在第4技术方案所述的光盘装置中，在缺陷期间检测装置中，当对先行副光束返回光信号进行二值化时，由标准化电平调整装置对上述先行副光束返回光信号及上述第3基准电平的一方或双方进行电平调整，所以，即使是先行副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平变化很大的光盘，也可以调整缺陷期间的检测灵敏度，以使缺陷期间的错误检测减少，因而可以稳定地进行缺陷期间的检测。

另外，在第5技术方案所述的光盘装置中，将从先行副光束和后续副光束的任何一方进入缺陷部分的时刻起直到先行副光束和后续副光束双方从缺陷部分脱出的期间作为缺陷期间进行检测，因此，即使是缺陷部分的边界相对于光盘的半径方向偏斜这样形状的缺陷部分，也能精确地检测缺陷期间。

进一步，在第6技术方案所述的光盘装置中，除上述第5技术方案所述的光盘装置的结构以外，在将先行副光束返回光信号及后续副光束返回光信号二值化之前的阶段，还由第1及第2波谷保持电路对该先行及后续副光束返回光信号进行波谷保持，因此，除第5技术方案所述的光盘装置的作用以外，还可以防止对先行及后续副光束返回光信号分别进行二值化时产生振荡。

此外，在第7技术方案所述的光盘装置中，与缺陷期间检测装置检测的缺陷期间相比，第2缺陷期间检测装置检测的第2缺陷期间，进入该期间晚且从该期间脱出早。因此，在自动增益控制装置中，仅限于在上述短的第2缺陷期间保持数字调制信号振幅的标准化，因此，在数据检测上很少失效。

另外，在第8技术方案所述的光盘装置中，第2缺陷期间检测装置，根据来自自动增益控制装置的数字调制信号生成第2缺陷期间信号，因此，对跟踪控制的干扰很小，同时，能够将自动增益控制装置的增益的保持延迟到可以对数字调制信号的振幅进行标准化的限度，因此，在数据检测上很少失效。

进一步，在第9技术方案所述的光盘装置中，由1个缺陷期间检测装置根据先行副光束返回光信号生成灵敏度不同的第1及第2缺陷期间信号，所以，与第8技术方案所述的光盘装置相比，电路结构简单且成本减低。

如上所述，根据本发明第1～第9技术方案所述的光盘装置，根据先行副光束返回光信号进行缺陷期间的检测，与以往相比可以更早地检测出缺陷期间，因此，即使是存在于记录面上的缺陷部分，也可以将保持跟踪伺服时的跟踪误差信号的振幅抑制得很小，因而具有可以减少对跟踪控制的干扰的效果。

特别是，根据本发明第3技术方案所述的光盘装置，可以防止对先行副光束返回光信号进行二值化时产生的振荡。

另外，根据本发明第4技术方案所述的光盘装置，由于可以调整检测缺陷期间的检测灵敏度，因此，即使先行副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平变化很大时，也可以稳定地进行缺陷期间的检测。

进一步，根据本发明第5技术方案所述的光盘装置，即使是缺陷部分的形状为其边界相对于光盘的半径方向偏斜的缺陷部分，也能精确地检测缺陷期间。

进一步，根据本发明第6技术方案所述的光盘装置，能有效地防止对先行及后续副光束返回光信号分别进行二值化时产生振荡，并且即使是缺陷部分的形状为其边界相对于光盘的半径方向偏斜的缺陷部分，也能精确地检测缺陷期间。

此外，根据本发明第7技术方案所述的光盘装置，可以减小由光盘的缺陷部分引起的对跟踪控制的干扰，同时，将保持数字调制信号振幅的标准化的期间限制为短的期间，因此可以减少数据检测的失效。

另外，根据本发明第8技术方案所述的光盘装置，只在根据来自自动增益控制装置的数字调制信号生成的第2缺陷期间信号的期间内，将自动增益控制装置的增益保持在固定值，所以，能够将其保持期间延迟到可以对数字调制信号进行二值化的限度，因而具有使数据检测的失效很少的效果。

进一步，根据本发明第9技术方案所述的光盘装置，用1个缺陷期间检测装置根据先行副光束返回光信号生成灵敏度不同的第1及第2缺陷期间信号，所以，电路结构简单且成本减低，并可以取得与第8技术方案所述的光盘装置相同的效果。

附图说明

图1是表示本发明第1实施方式的光盘装置的图。

图2是表示第1实施方式的光盘装置中的缺陷期间检测电路的图。

图3是表示当通过存在于光盘的记录面上的缺陷部分时第1实施方式的缺陷期间检测电路中的主要部分的波形的图。

图4是表示本发明第2实施方式的光盘装置的图。

图5是表示第2实施方式的光盘装置中的缺陷期间检测电路的图。

图6是表示当通过存在于光盘的记录面上的缺陷部分时第2实施方式的缺陷期间检测电路中的主要部分的波形的图。

图7是表示本发明第3实施方式的光盘装置中的缺陷期间检测电路的图。

图8(a)～图8(c)是表示当通过存在于光盘的记录面上的缺陷部分时第3实施方式的缺陷期间检测电路中的主要部分的波形的图。

图9是表示本发明第4实施方式的光盘装置的图。

图10是表示当通过通常的缺陷部分时第4实施方式的光盘装置中的主要部分的波形的图。

图11是表示本发明第5实施方式的光盘装置的图。

图12是表示该光盘装置中的缺陷期间检测电路的图。

图13是当通过通常的缺陷部分时该缺陷期间检测电路中的主要部分的波形的图。

图14是表示现有的光盘装置的图。

图15是表示光盘表面上的主光束、副光束及缺陷部分的位置关系的图。

图16是表示当通过通常的缺陷部分时现有的光盘装置中的主要部分的波形的图。

图17是表示当通过存在于光盘的记录面上的缺陷部分时现有的光盘装置中的主要部分的波形的图。

具体实施方式

以下，根据附图详细说明本发明。

(第1实施方式)

图1表示本发明第1实施方式的光盘装置。

在图1表示的光盘装置中，1是光拾取器，8是光盘，2是取得先行副光束返回光的第1输出端子，3取得后续副光束返回光的第2输出端子，9是取得主光束返回光的第3输出端子，4是TE信号生成电路(跟踪误差信号生成装置)，6是跟踪控制电路(跟踪控制装置)，7是伺服保持电路(保持装置)，10是AGC电路(AGC装置)，11是聚焦控制电路(聚焦控制装置)，39是AGC保持电路(AGC保持装置)。以上的结构，与已说明过的图14的光盘装置相同，所以其详细的说明省略。

如第1技术方案所示，本发明与图14中表示的现有例的不同点在于，将缺陷期间检测电路(缺陷期间检测装置)5与输出E信号的第1输出端子2连接，而不是与AGC装置10的输出连接。因此，可以使用进入缺陷部分比主光束早的E信号检测缺陷期间，从而可以将保持跟踪伺服时的跟踪误差信号的振幅抑制得很小，所以可以提供对跟踪控制的干扰很小的光盘装置。

其次，用图2说明本发明第1实施方式的光盘装置中的缺陷期间检测电路的结构(第2技术方案)。

将第1基准电平生成电路(第1基准电平生成装置)12与上述第1输出端子2连接，基准电平生成电路12，根据E信号的暗电平生成第1基准电平。此外，与第1输出端子2连接的第2基准电平生成电路(第2基准电平生成装置)14，通过对E信号进行波谷保持，根据E信号的RF分量的下侧电平生成第2基准电平。

另外，在本实施方式中，采用了波谷保持作为第2基准电平生成方法，但当然也可以不使用该波谷保持而是根据E信号的平均电平和E信号的RF分量的振幅的1/2求出E信号的RF分量的下侧电平。此外，当然也可以根据对E信号进行了波峰保持的电平和E信号的RF分量的振幅求出E信号的RF分量的下侧电平。

其次，与上述第1基准电平生成电路12的输出及上述第2基准电平生成电路14的输出连接的第3基准电平生成电路(第3基准电平生成装置)16，生成具有上述第1基准电平和上述第2基准电平之间的固定值的第3基准电平。与上述第1输出端子2及上述第3基准电平生成电路16的输出连接的第1脉冲生成电路17，用上述第3基准电平将E信号二值化。由此，生成用于表明从E信号进入缺陷期间到从缺陷期间脱出的第1脉冲。

另外，在本实施方式中，也可以在第1输出端子2和第1脉冲生成电路17之间设置波谷保持电路(第3技术方案)。由此，可以有效地抑制将E信号二值化时产生的振荡，因而可以稳定地进行缺陷期间的检测。此外，当然也可以将第1脉冲生成电路17用作带有滞后的脉冲生成电路。

进一步，在本实施方式中，由于将第3基准电平作为固定值，如将第3基准电平设定为接近于E信号的RF分量的下侧电平的固定值，则在E信号的RF分量的下侧电平变化很大的光盘上，当确定了上述第3基准电平之后E信号的RF分量的下侧电平变化时，有时会发生错误检测。为防止发生这种情况，也可以在第1脉冲生成电路17的输入侧设置标准化电平调整电路(第4技术方案)，并利用该电路对E信号或上述第3基准电平的一方或双方进行调整。根据这种结构，可以调整检测缺陷期间的检测灵敏度，并调整检测灵敏度使得当E信号的RF分量的下侧电平变化时不发生错误检测，因此可以稳定地进行缺陷期间的检测。

接着，在图2中，由连接于第1脉冲生成电路17的输出侧的单稳态多谐振荡器(monostable multivibrator，单稳态电路)18，将上述第1脉冲生成电路17的第1脉冲的后沿延长((光盘上的先行副光束和后续副光束的光点间距离)/光盘的转速)时间或该时间以上。由此，生成表明缺陷期间的缺陷期间检测信号。

用图3说明当光束通过存在于光盘8的记录面上的缺陷时按如上方式构成的缺陷期间检测电路5中的主要部分的波形。

在图3中，自上而下地表示由先行副光束产生的E信号、由主光束产生的A～D信号、由后续副光束产生的F信号、TE信号、本实施方式的缺陷期间信号、现有例的缺陷期间信号、及采样周期。此外，对于TE信号，虚线表示未进行保持时的波形，实线表示进行保持时的波形，

当先行副光束进入存在于光盘8的记录面上的缺陷部分时，E信号先开始衰减。当E信号这样开始衰减时，TE信号的振幅开始增大，在E信号的电平降低到第3基准电平以下的时刻检测缺陷期间，并将TE信号保持在先前值、即前1个采样时间的值。因此，例如，当先行副光束和主光束的时间差为采样周期的2倍时，在本实施方式中，与以往的用主光束进行的缺陷期间的检测相比，可以提前2个采样周期进行缺陷期间的检测，因此，保持了TE信号时的振幅C很小，从而可以防止跟踪伺服在缺陷期间进入异常动作状态。

另外，未保持的TE信号，直到后续副光束从缺陷部分脱出为止是不稳定的，因此，当只用E信号检测缺陷期间时，TE信号的保持的恢复将提前相当于E信号和F信号的时间差的时间，但在本实施方式的缺陷期间检测电路5中，将只用E信号检测出的缺陷期间信号的后沿延长了预定时间、例如相当于E信号和F信号的时间差的时间，因此，可以将TE信号的保持延迟到F信号从缺陷期间脱出为止。

(第2实施方式)

图4表示本发明第2实施方式中的光盘装置。对与图1相同的部分标以相同的符号而将其说明省略。

本实施方式的光盘装置与图1中表示的第1实施方式的不同点在于，不仅将缺陷期间检测电路5与输出E信号的第1输出端子2连接，而且还与输出F信号的第2输出端子3连接。由此，可以用进入缺陷期间比主光束早的E信号和从缺陷期间脱出比主光束晚的F信号检测缺陷期间，从而既可以将保持跟踪伺服时的跟踪误差信号的振幅抑制得很小又可以精确地检测从缺陷期间的脱出，因此可以提供对跟踪控制的干扰很小的光盘装置，

其次，用图5说明本实施方式的光盘装置中的缺陷期间检测电路5的结构(第5技术方案)。此外，对与图2相同的部分标以相同的符号而将其说明省略。将第1基准电平生成电路(第1基准电平生成装置)12与上述第1输出端子2连接，该基准电平生成电路12，根据E信号的暗电平生成第1基准电平。另外，将第4基准电平生成电路(第4基准电平生成装置)19与第2输出端子3连接，该第4基准电平生成电路19，根据F信号的暗电平生成第4基准电平。进一步，与上述第1输出端子2连接的第2基准电平生成电路(第2基准电平生成装置)14，通过对E信号进行波谷保持，根据E信号的RF分量的下侧电平生成第2基准电平。此外，与上述第2输出端子3连接的第5基准电平生成电路(第5基准电平生成装置)21，通过对F信号进行波谷保持，由此根据F信号的RF分量的下侧电平生成第5基准电平。

另外，在本实施方式中，采用了波谷保持作为第2及第5基准电平生成方法，但当然也可以不使用该波谷保持而是分别根据E信号及F信号的平均电平和E信号及F信号的RF分量的振幅的1/2求出E信号及F信号的RF分量的下侧电平。此外，当然也可以根据分别对E信号及F信号进行了波峰保持的电平和E信号及F信号的RF分量的振幅求出E信号的RF分量的下侧电平。

接着，与上述第1基准电平生成电路12的输出及上述第2基准电平生成电路14的输出连接的第3基准电平生成电路(第3基准电平生成装置)16，生成具有上述第1基准电平和上述第2基准电平之间的固定值的第3基准电平。与上述第1输出端子2及上述第3基准电平生成电路16的输出侧连接的第1脉冲生成电路17，用第3基准电平将E信号二值化。由此，生成用于表明从E信号进入缺陷期间到从缺陷期间脱出的第1脉冲。

同样，与第4基准电平生成电路19的输出及第5基准电平生成电路21的输出连接的第6基准电平生成电路(第6基准电平生成装置)23，生成具有第4基准电平和第5基准电平之间的固定值的第6基准电平。然后，与上述第2输出端子3及上述第6基准电平生成电路23的输出连接的第2脉冲生成电路25，用第6基准电平将F信号二值化。由此，生成用于表明从F信号进入缺陷期间到从缺陷期间脱出的第2脉冲。

另外，在本实施方式中，由于将E信号及F信号直接二值化，有可能产生振荡，但当然也可以与第1实施方式所示一样在第1输出端子2和第1脉冲生成电路17之间及第2输出端子3和第2脉冲生成电路25之间设置波谷保持电路。此外，当然也可以将第1脉冲生成电路17及第2脉冲生成电路25用作带有滞后的脉冲生成电路。

另外，在本实施方式中，由于将第3及第6基准电平作为固定值，如将第3基准电平设定为接近于E信号的RF分量的下侧电平的固定值、或将第6基准电平设定为接近于F信号的RF分量的下侧电平的固定值，则在E信号或F信号的RF分量的下侧电平变化很大的光盘上，当确定了上述第3及第6基准电平之后E信号或F信号的RF分量的下侧电平变化时，会发生错误检测。为处理这种情况，当然也可以与第1实施方式所示电路一样在第1脉冲生成电路17的输入侧设置标准化电平调整电路(图中未表示)，并对E信号或上述第3基准电平的一方或双方进行调整，或在第2脉冲生成电路25的输入侧设置标准化电平调整电路(图中未表示)，并对F信号或上述第6基准电平的一方或双方进行调整。

另外，在本实施方式中，分别设定了对E信号的二值化的基准电平和对F信号的二值化的基准电平，但当然也可以将第3基准电平或第6基准电平的任何一个公共地用作E信号和F信号的二值化的基准。

进一步，在图5中，上述第1脉冲生成电路17的输出和上述第2脉冲生成电路25的输出，输入到第1OR(“或”)电路27。该OR电路27，求取表明从E信号进入缺陷期间到从缺陷期间脱出的第1脉冲与表明从F信号进入缺陷期间到从缺陷期间脱出的第2脉冲的逻辑和。因此，即使是对于缺陷期间的边界相对于光盘8的半径方向偏斜这样的形状的缺陷部分，也能利用上述OR电路27的输出将从先行副光束和后续副光束的任何一方进入缺陷部分的时刻起直到先行副光束和后续副光束双方从缺陷部分脱出的期间作为缺陷期间来精确地检测。

但是，在本实施方式中，仅当在第1输出端子2和第1脉冲生成电路17之间、以及在第2输出端子3和第2脉冲生成电路25之间分别设置了波谷保持电路(图中未表示)时，从缺陷部分脱出的检测才比实际脱出的时间晚。

用图6说明当通过存在于光盘8的记录面上的缺陷部分时按如上方式构成的缺陷期间检测电路5中的主要部分的波形。

在图6中，自上而下地按顺序表示由先行副光束产生的E信号、由主光束产生的A～D信号、由后续副光束产生的F信号、TE信号、来自第1脉冲生成电路17的第1脉冲、来自第2脉冲生成电路25的第2脉冲、及采样周期。此外，对于TE信号，虚线表示未进行保持时的波形，实线表示进行了保持时的波形，

当先行副光束进入存在于光盘8的记录面上的缺陷部分时，E信号先开始衰减。当E信号这样开始衰减时，TE信号的振幅开始增大，在E信号的电平降低到第3基准电平以下的时刻，根据该E信号的变化检测缺陷期间，并将TE信号保持在先前值、即前1个采样时间的值。例如，当先行副光束和主光束的时间差为采样周期的2倍时，与以往的用主光束进行的缺陷期间的检测相比，可以提前2个采样周期进行缺陷期间的检测，因此，保持有TE信号时的振幅E很小，从而可以防止跟踪伺服在缺陷期间进入异常动作状态。

接着，当从缺陷期间脱出时，E信号先从缺陷部分脱出，但是，根据F信号的缺陷期间检测结果，直到F信号从缺陷部分脱出为止TE信号的保持仍未解除。在E信号和F信号都从缺陷部分脱出后，TE信号的保持才被解除。因此，在本实施方式的缺陷期间检测电路5中，可以在从E信号进入缺陷部分的时刻起直到F信号从缺陷期间脱出的期间保持TE信号。

另外，在图6中，举例说明了E信号对缺陷期间的进入和脱出在F信号之前的情况，但是，本实施方式的缺陷期间检测电路5，即使是缺陷部分具有其边界相对于光盘8的半径方向偏斜的形状因而使根据E信号和F信号检测出的各缺陷期间的长度各不相同的例子、或F信号对缺陷期间的进入和脱出在E信号的进入和脱出之前的例子，也仍可以将从先行副光束和后续副光束的任何一方进入缺陷部分的时刻起直到先行副光束和后续副光束双方从缺陷部分脱出的期间作为缺陷期间精确地进行检测。

(第3实施方式)

以下，说明第3实施方式的光盘装置。本实施方式，表示缺陷期间检测电路的进一步的实施方式。

图7表示本实施方式的缺陷期间检测电路的结构(第6技术方案)。对与图5相同的部分标以相同的符号而将其说明省略。与图5的不同点在于，在E信号及F信号和二值化电路(脉冲生成电路)之间连接了波峰保持电路和波谷保持电路，并在上述波峰保持电路和二值化电路的输出之间连接了下降率可变电路。

以下，说明详细的结构。但是，与第3及第6基准电平生成有关的结构，因与图5完全相同而省略。

第1脉冲生成电路(第1脉冲生成装置)17，通过用第3基准电平将由连接于第1输出端子2的第1波谷保持电路(第1波谷保持装置)28进行了波谷保持的E信号二值化，生成由上升表明E信号进入缺陷期间的第1脉冲。

同样，第3脉冲生成电路(第3脉冲生成装置)30，通过用第3基准电平将由连接于第1输出端子2的第1波峰保持电路(第1波峰保持装置)29进行了波峰保持的E信号二值化，生成由下降表明E信号从缺陷期间脱出的第3脉冲。这时，第1下降率可变电路32，利用来自第1脉冲生成电路17的第1脉冲的上升加快与第1输出端子2连接的第1波峰保持电路29的下降率(droop rate)。

因此，在E信号进入缺陷期间后，由于第3脉冲快速上升，即使是缺陷期间短的情况下，第3脉冲也能可靠地上升。第1下降率可变电路32，利用来自第3脉冲生成电路30的第3脉冲的上升，使第1波峰保持电路29的下降率快速地恢复到原来的速度。因此，可以使从缺陷期间脱出后的波峰保持波形变得稳定。

同样，第2脉冲生成电路25，通过用第6基准电平将由连接于第2输出端子3的第2波谷保持电路(第2波谷保持装置)33进行了波谷保持的F信号二值化，生成由上升表明F信号进入缺陷期间的第2脉冲。

与此同时，第4脉冲生成电路(第4脉冲生成装置)35，通过用第6基准电平将由连接于第2输出端子3的第2波峰保持电路(第2波峰保持装置)34进行了波峰保持的F信号二值化，生成由下降表明F信号从缺陷期间脱出的第4脉冲。这时，第2下降率可变电路37，利用来自第2脉冲生成电路25的第2脉冲的上升加快与第2输出端子3连接的第2波峰保持电路33的下降率。

因此，在F信号进入缺陷期间后，由于第4脉冲快速上升，即使是缺陷期间短的情况下，第4脉冲也能可靠地上升。第2下降率可变电路37，利用来自上述第4脉冲生成电路35的第4脉冲的上升，使第2波峰保持电路33的下降率快速地恢复到原来的速度。因此，可以使从缺陷期间脱出后的波峰保持波形变得稳定。

进一步，在图7中，第1OR电路27，通过求取上述第1脉冲生成电路17的输出信号与上述第2脉冲生成电路25的输出信号的逻辑和，生成由上升表明E信号或F信号进入缺陷期间的第5脉冲。

同样，第2OR电路37，通过求取上述第3脉冲生成电路30的输出信号与上述第4脉冲生成电路35的输出信号的逻辑和，生成由下降表明E信号或F信号从缺陷期间脱出的第6脉冲。

最后，与上述第1OR电路27的输出及上述第2OR电路37的输出连接的第5脉冲生成电路38，利用第5脉冲的上升和第6脉冲的下降，生成表明从E信号或F信号进入缺陷期间的时刻起直到E信号和F信号从缺陷期间脱出的检测脉冲(缺陷期间信号)。

因此，通过波峰保持和波谷保持，可以防止振荡，并且，对于即使是通过存在于光盘8的记录面上的缺陷部分的边界相对于半径方向偏斜这样的形状的缺陷部分时使根据E信号和F信号检测出的缺陷期间的长度各不相同的例子、或F信号对缺陷期间的进入和脱出在E信号的进入和脱出之前的例子，也仍可以将从先行副光束和后续副光束的任何一方进入缺陷部分的时刻起直到先行副光束和后续副光束双方从缺陷部分脱出为止的期间作为缺陷期间精确地检测。

用图8(a)～图8(c)说明当通过存在于光盘8的记录面上的缺陷部分时按如上方式构成的缺陷期间检测电路中的主要部分的波形。

图8(a)，自上而下地按顺序表示由先行副光束产生的E信号、来自第1脉冲生成电路17的第1脉冲、来自第3脉冲生成电路30的第3脉冲。图8(b)，表示由后续副光束产生的F信号、来自第2脉冲生成电路25的第2脉冲、来自第4脉冲生成电路35的第4脉冲。此外，图8(c)，自上而下地按顺序表示上述第1脉冲、第2脉冲、第1OR电路27的输出信号、上述第3脉冲、第4脉冲、第2OR电路37的输出信号、及第5脉冲生成电路38的输出信号即缺陷期间信号。

以下，说明本实施方式的动作。当先行副光束进入存在于光盘8的记录面上的缺陷部分时，对E信号进行波谷保持后得到的信号和进行波峰保持后得到的信号先开始衰减。由于波谷保持后的信号比该波峰保持后的信号下降得早，在对E信号进行波谷保持后得到的信号的电平先下降到第3基准电平以下的时刻，第1脉冲生成电路17的第1脉冲上升。与此同时，通过加快第1波峰保持电路29的下降率，使对E信号进行波峰保持后得到的信号也快速下降，而第3脉冲生成电路30的第3脉冲上升。这时，由第1脉冲的上升精确地表示E信号进入缺陷期间，第3脉冲比第1脉冲稍微延迟后上升。

然后，当E信号从缺陷期间脱出时，由于波峰保持后的信号比波谷保持后的信号上升得早，在对E信号进行波峰保持后得到的信号的电平先超过了第3基准电平的时刻，第3脉冲生成电路30的第3脉冲下降。与此同时，为使从缺陷脱出后的波峰保持波形稳定，延缓第1波峰保持电路29的下降率。这时，由第3脉冲的下降精确地表示E信号从缺陷期间的脱出，第1脉冲比第3脉冲稍微延迟后下降。

同样，当后续副光束进入存在于光盘8的记录面上的缺陷部分时，对F信号进行波谷保持后得到的信号和进行波峰保持后得到的信号先开始衰减。由于波谷保持后的信号比该波峰保持后的信号下降得早，在对F信号进行波谷保持后得到的信号的电平先下降到第6基准电平以下的时刻，第2脉冲生成电路25的第2脉冲上升。与此同时，通过加快第2波峰保持电路29的下降率，使对F信号进行波峰保持后得到的信号也快速下降，而第4脉冲生成电路35的第4脉冲上升。这时，由第2脉冲的上升精确地表示F信号进入缺陷期间，第4脉冲比第2脉冲稍微延迟后上升。

当F信号从缺陷期间脱出时，由于波峰保持后的信号比波谷保持后的信号上升得早，在对F信号进行波谷保持后得到的信号的电平先超过了第6基准电平的时刻，第4脉冲生成电路35的第4脉冲下降。与此同时，为使从缺陷脱出后的波峰保持波形稳定，延缓第2波峰保持电路34的下降率。这时，由第4脉冲的下降精确地表示F信号从缺陷期间的脱出，第2脉冲比第4脉冲稍微延迟后下降。

因此，上述第1OR电路27的输出，其上升精确地表示进入缺陷期间，上述第2OR电路37的输出，其下降精确地表示从缺陷期间脱出，因此，通过取得第1OR电路27的输出脉冲的上升沿和第2OR电路37的输出脉冲的下降沿，生成精确地表示缺陷期间的缺陷期间信号。

另外，在图8中，举例说明了E信号对缺陷期间的进入和脱出在F信号之前的情况，但是，本实施方式的缺陷期间检测电路，即使是通过缺陷部分的边界相对于光盘8的半径方向偏斜这样的形状的缺陷部分时使根据E信号和F信号检测出的缺陷期间的长度不同的例子、或F信号对缺陷期间的进入和脱出在E信号进入和脱出之前的例子，也仍可以将从先行副光束和后续副光束的任何一方进入缺陷部分的时刻起直到先行副光束和后续副光束双方从缺陷部分脱出的期间作为缺陷期间精确地进行检测。

(第4实施方式)

以下，根据图9说明本发明第4实施方式中的光盘装置。此外，对与图1相同的部分标以相同的符号而将其说明省略。

本实施方式的光盘装置与图1中表示的第1实施方式的不同点在于，不是将使用E信号的缺陷期间检测电路5而是将第8技术方案中给出的第2缺陷期间检测电路40与AGC保持电路(AGC保持装置)39的输入侧连接。

上述第2缺陷期间检测电路(第2缺陷期间检测装置)40，与AGC电路10的输出侧连接，根据RF信号的电平检测缺陷期间。例如，如A～D信号的电平降低到AGC电路10的标准化振幅除以AGC电路10的最大增益后得到的基准电平以下，该第2缺陷期间检测电路40就检测为进入缺陷期间。

另外，在本实施方式中，作为缺陷期间检测电路5，只使用了E信号，但当然也可以如第2实施方式那样采用E信号和F信号这两者都使用的缺陷期间检测电路。

用图10说明当光束通过光盘8上有划伤或附着了异物等通常的缺陷部分时按如上方式构成的缺陷期间检测电路中的主要部分的波形。

在图10中，自上而下地按顺序表示由先行副光束产生的E信号、由主光束产生的A～D信号、由后续副光束产生的F信号、第1缺陷期间检测电路5的缺陷期间信号、第2缺陷期间检测电路40的缺陷期间信号、及采样周期。

当先行副光束进入光盘8的缺陷部分时，E信号先开始衰减。在该E信号的电平降低到第3基准电平以下的时刻，由第1缺陷期间检测电路5根据上述E信号检测进入缺陷期间。接着，A～D信号衰减，在A～D信号的电平降低到例如AGC电路10的标准化振幅除以AGC电路10的最大增益后得到的基准电平以下的时刻，由第2缺陷期间检测电路40根据A～D信号检测进入缺陷期间。这时，第1缺陷期间检测电路5，从稳定和保持跟踪伺服的目的考虑，构成为尽可能早地检测进入缺陷期间、且尽可能地避免直到延迟后才检测脱出。另一方面，第2缺陷期间检测电路40，构成为：在A～D信号变成AGC电路中能够标准化的最小的振幅之前不对进入缺陷期间进行检测，在A～D信号变成了能够由AGC电路10标准化的振幅的时刻，开始检测脱出。因此，与采用缺陷期间检测电路5并保持AGC电路10的增益的情况相比，无需将AGC电路10的增益的保持延长到超过需要，并且数据检测的失效将减少。

因此，在本实施方式中，可以将缺陷期间中的AGC电路10的增益的保持期间做成所需的最小限度，减少跟踪控制的干扰，并且，可以将数据检测的失效抑制为最低限度。

(第5实施方式)

接着，用图11说明本发明第5实施方式中的光盘装置。此外，对与图1相同的部分标以相同的符号而将其说明省略。

本实施方式的光盘装置与图1中表示的第1实施方式的不同点在于，备有第3缺陷期间检测电路5′(第9技术方案)，由该第3缺陷期间检测电路5′生成第1缺陷期间信号、及与表明上述第1缺陷期间的信号相比进入缺陷期间的检测晚且从缺陷期间脱出的检测早的第2缺陷期间信号。

另外，在本实施方式中，作为第3缺陷期间检测电路5′，只使用了E信号，但当然也可以如第2实施方式那样采用E信号和F信号两者都使用的缺陷期间检测电路。

其次，用图12说明本发明第5实施方式的光盘装置中的缺陷期间检测电路5′的结构。

本实施方式的缺陷期间检测电路5′与图2中表示的第1实施方式的不同点在于，备有第7基准电平生成电路41和第6脉冲生成电路42。上述第7基准电平生成电路41，根据第1基准电平生成电路12的第1基准电平及第2基准电平生成电路14的第2基准电平，生成其电平比第3基准电平生成电路16的第3基准电平低预定电平的第7基准电平。另外，上述第6脉冲生成电路42，与上述第7基准电平生成电路41的输出及第1输出端子2连接，用第7基准电平将E信号二值化。此外，在缺陷期间检测电路5＇中，关于用于保持跟踪伺服的第1缺陷期间信号的生成，与图2的缺陷期间检测电路5相同，因此将其说明省略。

在本实施方式中，第3缺陷期间检测电路5′，使用与第3基准电平不同的第7基准电平将E信号二值化，并且还生成与第1缺陷期间信号相比进入缺陷期间的检测晚且从缺陷期间脱出的检测早的第2缺陷期间信号，因此，无需如第4实施方式那样准备2个缺陷期间检测电路5、40，即可实现与第4实施方式相同的光盘装置。

用图13说明当通过通常的缺陷部分时按如上方式构成的缺陷期间检测电路5＇中的主要部分的波形。

在图13中，自上而下地按顺序表示由先行副光束产生的E信号、由主光束产生的A～D信号、由后续副光束产生的F信号、第1缺陷期间信号、第2缺陷期间信号、及采样周期。

当先行副光束进入光盘8的缺陷部分时，E信号先开始衰减。在该E信号的电平降低到第3基准电平以下的时刻，由第3缺陷期间检测电路5′根据上述E信号输出第1缺陷期间信号。然后，在上述E信号的电平降低到第7基准电平以下的时刻，由缺陷期间检测电路5′根据E信号输出第2缺陷期间信号。

这时，第1缺陷期间信号，从稳定和保持跟踪伺服的目的考虑，尽可能早地检测进入、且直到尽可能地延迟后才检测脱出，另一方面，第2缺陷期间信号，比上述第1缺陷期间信号晚地检测进入、且比其早地检测脱出。因此，与使用第1缺陷期间信号保持AGC电路10的增益的情况相比，可以缩短AGC电路10的增益保持期间，可以减少数据检测的失效。

如上所述，本发明根据先行副光束返回光信号进行缺陷期间的检测，与以往相比可以更早地检测出缺陷期间，因此，作为跟踪控制的干扰即使在位于记录面上的缺陷部分也很小的光盘装置等是非常有用的。

Claims (9)

1.一种光盘装置，包括将主光束和在上述主光束之前及之后的先行副光束与后续副光束输出到光盘的光拾取器，为了对记录在上述光盘上的信息进行再现，基于上述光拾取器的主光束的读取光点进行数字调制信号和聚焦误差信号的检测，并基于上述光拾取器的先行及后续副光束的读取光点进行跟踪误差信号的检测，

该光盘装置的特征在于，包括：

上述光拾取器；

跟踪误差信号生成装置，与取得将上述光拾取器的先行副光束的返回光转换为电信号后得到的先行副光束返回光信号的第1输出端子和取得将上述光拾取器的后续副光束的返回光转换为电信号后得到的后续副光束返回光信号的第2输出端子连接，并根据来自该2个输出端子的先行及后续副光束返回光信号生成跟踪误差信号；

跟踪控制装置，接受上述跟踪误差信号生成装置的上述跟踪误差信号，并根据上述跟踪误差信号进行跟踪控制；

缺陷期间检测装置，根据来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号或来自上述第1及第2输出端子双方的先行及后续副光束返回光信号，检测上述光盘的缺陷期间并输出缺陷期间信号；以及

保持装置，接受上述缺陷期间检测装置的上述缺陷期间信号，并根据上述缺陷期间信号保持由上述跟踪控制装置进行的跟踪控制。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：

上述缺陷期间检测装置，包括：

第1基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并根据该先行副光束返回光信号的暗电平生成第1基准电平；

第2基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并利用该先行副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第2基准电平；

第3基准电平生成装置，生成具有由上述第1及第2基准电平生成装置生成的上述第1及第2基准电平之间的值的第3基准电平；

第1脉冲生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并以上述第3基准电平生成装置的第3基准电平为基准将该先行副光束返回光信号二值化后生成第1脉冲；以及

单稳态电路，通过将由上述第1脉冲生成装置生成的第1脉冲的后沿延长预定时间而生成缺陷期间检测信号。

3.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于：

上述缺陷期间检测装置，包括：

波谷保持装置，配置在从上述第1输出端子将先行副光束返回光信号输入到第1脉冲生成装置的路径上，用于保持先行副光束返回光信号的波谷。

4.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于：

上述缺陷期间检测装置，包括：

标准化电平调整装置，配置在从上述第1输出端子将先行副光束返回光信号输入到第1脉冲生成装置的路径和将上述第3基准电平生成装置的第3基准电平输入到第1脉冲生成装置的路径中的至少一个路径上，用于对上述先行副光束返回光信号和上述第3基准电平的一方或双方进行调整。

5.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：

上述缺陷期间检测装置，包括：

第1基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并根据该先行副光束返回光信号的暗电平生成第1基准电平；

第2基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并利用该先行副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第2基准电平；

第3基准电平生成装置，生成具有由上述第1及第2基准电平生成装置生成的上述第1及第2基准电平之间的值的第3基准电平；

第1脉冲生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并以上述第3基准电平生成装置的第3基准电平为基准将该先行副光束返回光信号二值化后生成第1脉冲；

第4基准电平生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并根据该后续副光束返回光信号的暗电平生成第4基准电平；

第5基准电平生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并利用该后续副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第5基准电平；

第6基准电平生成装置，生成具有由上述第4及第5基准电平生成装置生成的上述第4及第5基准电平之间的值的第6基准电平；

第2脉冲生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并以上述第6基准电平生成装置的第6基准电平为基准将该后续副光束返回光信号二值化后生成第2脉冲；以及

第1“或”电路，接受来自上述第1及第2脉冲生成装置的第1及第2脉冲，并求取该第1脉冲与第2脉冲的逻辑和。

6.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：

上述缺陷期间检测装置，包括：

第1基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并根据该先行副光束返回光信号的暗电平生成第1基准电平；

第2基准电平生成装置，接受来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号，并利用该先行副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第2基准电平；

第3基准电平生成装置，生成具有由上述第1及第2基准电平生成装置生成的上述第1及第2基准电平之间的值的第3基准电平；

第4基准电平生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并根据该后续副光束返回光信号的暗电平生成第4基准电平；

第5基准电平生成装置，接受来自上述第2输出端子的后续副光束返回光信号，并利用该后续副光束返回光信号的数字调制分量的下侧电平生成第5基准电平；

第6基准电平生成装置，生成具有由上述第4及第5基准电平生成装置生成的上述第4及第5基准电平之间的值的第6基准电平；

第1波谷保持装置，输出上述第1输出端子的先行副光束返回光信号的下侧包络；

第1波峰保持装置，输出上述第1输出端子的先行副光束返回光信号的上侧包络；

第2波谷保持装置，输出上述第2输出端子的后续副光束返回光信号的下侧包络；

第2波峰保持装置，输出上述第2输出端子的后续副光束返回光信号的上侧包络；

第1脉冲生成装置，根据上述第3基准电平生成装置的第3基准电平将上述第1波谷保持装置的输出信号二值化后生成第1脉冲；

第2脉冲生成装置，根据上述第6基准电平生成装置的第6基准电平将上述第2波谷保持装置的输出信号二值化后生成第2脉冲；

第3脉冲生成装置，根据上述第3基准电平生成装置的第3基准电平将上述第1波峰保持装置的输出信号二值化后生成第3脉冲；

第4脉冲生成装置，根据上述第6基准电平生成装置的第6基准电平将上述第2波峰保持装置的输出信号二值化后生成第4脉冲；

第1下降率可变装置，利用上述第1脉冲生成装置的第1脉冲的上升加快上述第1波峰保持装置的下降率，另一方面，利用上述第3脉冲生成装置的第3脉冲的下降延缓上述第1波峰保持装置的下降率；

第2下降率可变装置，利用上述第2脉冲生成装置的第2脉冲的上升加快上述第2波峰保持装置的下降率，另一方面，利用上述第4脉冲生成装置的第4脉冲的下降延缓上述第2波峰保持装置的下降率；

第1“或”电路，接受来自上述第1及第3脉冲生成装置的第1及第3脉冲，并求取该第1脉冲与第3脉冲的逻辑和；

第2“或”电路，接受来自上述第2及第4脉冲生成装置的第2及第4脉冲，并求取该第2脉冲与第4脉冲的逻辑和；以及

第5脉冲生成装置，生成由上述第1“或”电路的输出信号的上升表明上述缺陷期间的开始的脉冲，并生成由上述第2“或”电路的输出信号的下降表明从上述缺陷期间脱出的脉冲。

7.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，包括：

自动增益控制装置，与取得将上述光拾取器的主光束的返回光转换为电信号后得到的主光束返回光信号的第3输出端子连接，并生成将上述主光束返回光信号的振幅按一定值标准化了的数字调制信号；

第2缺陷期间检测装置，生成与上述缺陷期间检测装置生成的缺陷期间信号相比进入缺陷期间的检测晚而从缺陷期间脱出的检测早的用于表明第2缺陷检测期间的第2缺陷期间信号；以及

自动增益控制保持装置，在由上述第2缺陷期间检测装置的第2缺陷期间信号表明的上述第2缺陷检测期间内，将上述自动增益控制装置的增益固定在一定值。

8.根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于：

上述第2缺陷期间检测装置，接受来自上述自动增益控制装置的数字调制信号，并根据该数字调制信号生成上述第2缺陷期间信号。

9.一种光盘装置，包括将主光束和在上述主光束之前及之后的先行副光束与后续副光束输出到光盘的光拾取器，为了对记录在上述光盘上的信息进行再现，基于上述光拾取器的主光束的读取光点进行数字调制信号和聚焦误差信号的检测，并基于上述光拾取器的先行及后续副光束的读取光点进行跟踪误差信号的检测，该光盘装置的特征在于，包括：

上述光拾取器；

跟踪误差信号生成装置，与取得将上述光拾取器的先行副光束的返回光转换为电信号后得到的先行副光束返回光信号的第1输出端子及取得将上述光拾取器的后续副光束的返回光转换为电信号后得到的后续副光束返回光信号的第2输出端子连接，并根据来自该2个输出端子的先行及后续副光束返回光信号生成跟踪误差信号；

跟踪控制装置，接受上述跟踪误差信号生成装置的上述跟踪误差信号，并根据上述跟踪误差信号进行跟踪控制；

缺陷期间检测装置，根据来自上述第1输出端子的先行副光束返回光信号或来自上述第1及第2输出端子双方的先行及后续副光束返回光信号检测上述光盘的缺陷期间，并生成第1缺陷期间信号、和与上述第1缺陷期间信号相比进入缺陷期间的检测晚而从缺陷期间脱出的检测早的用于表明第2缺陷检测期间的第2缺陷期间信号；

保持装置，接受上述缺陷期间检测装置的上述第1缺陷期间信号，并根据上述第1缺陷期间信号保持由上述跟踪控制装置进行的跟踪控制；

自动增益控制装置，与取得将上述光拾取器的主光束的返回光转换为电信号后得到的主光束返回光信号的第3输出端子连接，并生成将上述主光束返回光信号的振幅按一定值标准化了的数字调制信号；以及

自动增益控制保持装置，在由上述缺陷期间检测装置的第2缺陷期间信号表明的上述第2缺陷检测期间内，将上述自动增益控制装置的增益固定在一定值。

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