CN1249698C - 光学扫描装置 - Google Patents

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Abstract

一种用于径向跟踪误差检测和聚焦误差检测的辐射检测器阵列，其包括用于进行多点径向跟踪误差检测的第一多个点检测器(100、102、104)，该第一多个点检测器包括基本上布置在其中央的第一点检测器(100)。该阵列还包括第二点检测器(106)，用于与该第一点检测器组合来进行点尺寸的聚焦误差检测。

Description

光学扫描装置
技术领域
本发明涉及一种光学扫描装置，其包括用于进行聚焦误差检测和径向跟踪误差检测的辐射检测器阵列，本发明涉及这种辐射检测器阵列和用于调节这种光学扫描装置的方法。
背景技术
正在开发中的一种光学记录和回放系统是DVR(数字视频记录)系统。与常规的NA为0.45的致密盘(CD)和常规的NA为0.60的数字化视频光盘(DVD)相比较，该系统使用的物镜的数值孔径(NA)相对较高，为0.85，“蓝色”波长为大约400-430nm，并且只在沟槽轨道上或者在槽脊和沟槽数据轨道上进行记录。
各种不同的方法已知用于聚焦误差检测和径向跟踪误差检测。聚焦误差检测方法包括刀口光瞳(pupil)遮掩法，其中通过例如棱镜将光束分成两束并且两个点检测器上的点的位置指示正确的聚焦；象散聚焦法，其中通过柱面透镜或平面平行板来产生检测器上的象散点，并且点的形状从圆形开始的各种变化通过菱形象限点检测器来检测；以及点尺寸检测法，其中通过例如微棱镜将光束分成两束并且分别在重新聚焦之前和之后检测所得到的点尺寸。
径向跟踪误差检测方法包括推挽式(push-pull)径向跟踪法，其中在分离的检测器上测量两个光瞳半部之间的信号差；三个点(或三个光束)的中央孔径向跟踪法，其中通过衍射光栅将辐射束分成三束，以及外部(伴随)点设定成偏离主点四分之一轨道间距并且它们的信号差被用于产生跟踪误差信号；三个点的推挽式径向跟踪法，其中通过衍射光栅将辐射束分成三束，并且主点和伴随点的推挽式信号之间的差异被用作跟踪误差信号；以及微分相位或时间检测(DPD或DTD)径向跟踪法，其中(±1、±1)阶的相的径向偏移作用在方形的象限点检测器中。三个点的推挽式径向跟踪系统比一个点的推挽式系统的优势在于，包括对称误差和非对称误差的系统误差可以被自动地补偿。然而，该系统需要附加的检测器元件和连接，增加了检测器阵列的复杂性。DPD径向跟踪方法用于特定的系统，例如DVD+RW和DVD-RW扫描装置。DVD-ROM和DVD视频装置也使用DPD或DTD径向跟踪。
在DVR系统使用推挽式跟踪的情况下，DVR光学信号的相对较大的调制减小了常规的象散聚焦误差检测方法的有效性，这是因为其对径向到焦点的串扰的敏感性。
EP-A-0523319描述了一种包括检测器阵列的光学摄像单元，该检测器阵列布置成这样，使得推挽式方法用于检测跟踪误差，并且通过测量光束尺寸来检测焦点。即使在三个光束的方法中也仅仅使用单点检测器，建议用该三个光束的方法作为检测跟踪误差的可能的另一种方法。
由Sony公司生产并且称为“激光耦合器”的光学摄像单元的已知结构具有一检测器阵列，该检测器阵列将一个点的推挽式径向跟踪与点尺寸检测聚焦组合起来。
使用点尺寸检测聚焦和一个光束推挽式跟踪的实例描述于US-A-5278401、US-A-5347504、JP-A-5-266530、JP-A-4-229435、JP-A-5-274684和JP-A-5-62221中。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供了一种辐射检测器阵列，其包括多个用于检测扫描光学记录载体的辐射束的点检测器，该光学记录载体的形式是具有轨道所布置的切向方向和与其正交的径向方向的盘，每个该点检测器布置成检测由该光束形成的点的特性，并且每个该点检测器包括多个用于检测该点的不同部分的检测器元件，其中该检测器阵列用于径向跟踪误差检测和聚焦误差检测，该阵列包括：
用于进行多点径向跟踪误差检测的第一多个点检测器，该第一多个点检测器包括基本上布置在其中央的第一点检测器；以及
第二点检测器，用于与该第一点检测器组合来进行点尺寸的聚焦误差检测。
本发明的这个方面使得可以将多点径向跟踪误差方法与点尺寸聚焦误差检测有效地组合起来，使用数量相对较少的检测器元件和连接。
优选的是，该第二点检测器布置在偏移到该第一线的一侧的位置。更优选的是，该第二点检测器与该第一点检测器成一第二线地布置，该第二线相对于该第一线以至少15°的角布置。通过这种结构，阻止用于多点跟踪误差检测的衍射元件所产生的外部点与第一和第二点检测器检测到的聚焦误差信号相干涉。具体地说，阻止沿第一线的方向延伸的较高阶的点与所需的信号检测相干涉。
所述第一多个点检测器包括第三点检测器和第四点检测器，该第三和第四点检测器布置成并不参与所述聚焦误差检测。
优选的是，该第一点检测器包括多个由第一分离装置分开的检测器元件，该第一分离装置限定用于该径向跟踪误差检测的信号分离，并且所述第二点检测器包括多个由第二分离装置分开的检测器元件，该第二分离装置限定用于该聚焦误差检测的信号分离，其中该第一和第二分离装置基本平行地布置。这种结构会减少进行径向跟踪和聚焦误差检测所需的检测器元件的数量。
在这种平行的结构中，优选的是，该第二点检测器与该第一点检测器成一第二线地布置，该第二线相对于该第一线以小于75°的角布置。这就使得通过产生点分离的光学部件的方位转动，在制造期间调节光学扫描装置以便将该点正确地定中在用于点尺寸检测的第一和第二点检测器上。
在另一个结构中，该第一点检测器包括多个由第一分离装置分开的检测器元件，该第一分离装置限定用于该径向跟踪误差检测的信号分离，并且所述第二点检测器包括多个由第二分离装置分开的检测器元件，该第二分离装置限定用于该聚焦误差检测的信号分离，其中该第一和第二分离装置基本正交地布置。虽然在所包括的检测器元件的数量方面不够有效，但是这种可替换的结构还提供了另外的有效的结构。
一种辐射检测器阵列，其中该第二点检测器包括比该第一点检测器更少的检测器元件。
该第二点检测器优选布置成并不参与该径向跟踪误差检测。这减少了检测器阵列中所需的检测器元件和连接的数量。
所述第一分离装置布置在所述第一检测器的中央，并且所述第二分离装置布置在其外部。
另一种方案是，第五和第六点检测器可以沿着另外的线基本上线性地布置，该另外的线基本上平行于相当于径向的方向，并且该第五和第六点检测器具有基本上布置在其中央的该第二点检测器。这可用于改善径向跟踪的有效性。
所述第一点检测器和/或所述第二点检测器还被布置成进行微分相位检测的径向跟踪误差检测。
一种辐射检测器阵列，其中该第一和第二点检测器适于共同检测包括光学记录载体上记录的数据的数据信号。
根据本发明的第二个方面，提供了一种光学扫描装置，其包括所述的辐射检测器阵列。
该装置包括用于产生沿着衍射线布置的多个光束的衍射部件，以及光束分离部件，用于将该多个光束中的至少一个沿一方向分离成另两个光束，该方向使得至少一个分量相对于该衍射线成正交。该装置提供了用于第一方面的检测器阵列的适当的光束构形。
根据本发明的另一个方面，提供了一种方法，该方法包括：通过围绕着该多个光束中的该至少一个的轴线的方位转动，将该光束分离部件相对于该检测器阵列调节就位。这使得可以将该点相对于点尺寸检测结构定中。
参考附图，本发明的其他方面和优点将从下面对本发明的优选实施例的说明中变得明显，其中：
附图说明
图1是根据本发明的实施例布置的光学扫描装置的示意平面图；
图2A和2B是用于点尺寸检测的光束分离结构的另一个结构的示意平面图；
图3A、3B和3C是在不同的聚焦条件下，在常规的点尺寸检测器结构上检测到的点的示意平面图；
图4A和4B是分别聚焦在光盘的常规数据轨道和常规的三个点的推挽式跟踪误差检测器上的三个点的示意平面图；
图5是根据本发明的第一实施例布置的检测器阵列的示意平面图；
图6是根据本发明的第二实施例布置的检测器阵列的示意平面图；
图7是用于DPD径向跟踪的点的示意平面图；
图8是用于DPD径向跟踪的点检测器的示意平面图；
图9是根据本发明的第三实施例布置的检测器阵列的示意平面图；以及
图10是根据本发明的第四实施例布置的检测器阵列的示意平面图。
具体实施方式
根据本发明的实施例，可记录的光盘18例如DVR和/或DVD-RW用于存储数据，可以通过光学扫描装置对该光盘写入和读出。该盘包括覆盖着至少一个信息层的外部透明层。在多层光盘的情况下，两个或更多个信息层在该盘内以不同的深度布置于覆盖层的后面。通过保护层对背离透明层的信息层的侧面进行保护以防止环境的影响，或者在多层盘的情况下通过保护层对最远离覆盖层的层的侧面进行保护以防止环境的影响。面对该装置的透明层的侧面是盘的进入面。
信息可以存储在光盘的一个或多个信息层中，其形式是沿着基本上平行、同心或螺旋形的轨道布置的光学可检测的标记。这些标记可以采取任何光学可读的形式，例如其形式是反射系数不同于其周围部分的凹坑或区域。一个或多个信息层由光学可记录的材料形成。
光学扫描装置包括偏振辐射源2例如半导体激光器，其在预定的波长下操作，例如λ＝405nm，并且具有线偏振。该源2发射出发散的辐射束4。光程中包括衍射光栅元件6，用于在光束通过偏振光束分离器8之前形成三个分离的光束，即主光束和两个伴随光束。在光束分离器8后面放置着一个准直透镜10，光束在被折叠式反射镜12反射向盘18之前通过该准直透镜10。在到达盘之前，光束通过了将光束的线偏振转变成圆偏振的四分之一波片14和大功率复合物镜16，以便将光束聚焦在盘18中的信息层上的点上。在从盘上反射时，圆偏振的旋向性反转，并且在通过四分之一波片14时，光束的偏振变为线偏振，该线偏振垂直于光束的初始线偏振。在折过之后，光束通过光束分离器8被至少大部分地反射，并且通过光束分离部件22射到光检测器阵列24上，该光检测器阵列将光学信号转换成用于读出数据的电信号以及用于聚焦控制和跟踪误差控制的信号，如下面将更详细地描述的那样。
图2A表示了用于本发明的实施例中的本领域内已知的第一可替换方案，以便提供用于点尺寸检测的光束分离，其形式是包括形成两个分离光束的全息图的全息片22(a)，这些分离光束在检测器阵列24上形成两个点A和B。另一种方案示于图2B中，即，提供类似效果的微棱镜22(b)。点A是后聚焦的，而点B是先聚焦的(或者反之亦然)。当光束被正确地聚焦时，两个点具有相同的尺寸，如图3A中所示。如果物镜16太接近盘18，点A就相对较大，如图3B中所示。如果物镜16太远离盘18，点B就相对较大，如图3C中所示。图3A至3C表示了常规的点尺寸检测器结构，每个点A和B通过检测器阵列中的不同点检测器来检测，该检测器阵列分别由检测器元件A1、A2、A3和B1、B2、B3形成。常规的检测器阵列中形成连接以提供如下的聚焦误差信号(FE)：
FE＝(A1+A3+B2)-(A2+B1+B3)
图4A表示了三个光束a、b和c的用于本发明中的布置，这三个光束由衍射板6形成，正确地跟随着光盘18的轨道。图4B表示了三个点检测器的常规的结构，每个检测器分别包括两个检测元件a1、a2；b1、b2；c1、c2，用于检测三个光束点a、b和c中的推挽式径向跟踪误差。该点检测器a、b和c沿着基本上相当于切向(平行于轨道)的方向布置在光学扫描装置中。三个点的推挽式径向跟踪利用了所有三个点的推挽式信号。主点c以及两个伴随点a和b的推挽式信号被描述为脱离轨道的值(detracking)x的函数：
  PP(c)＝γmpp.sin(2πx/q)
  PP(a)＝mpp.sin(2π(x-xo)/q)
  PP(b)＝mpp.sin(2π(x+xo)/q)
在上述公式中，mpp是推挽调制，q是轨道间距，xo是点a和b中的每一个的偏移，通常设定成q/2以便使信号达到最大，并且γ是衍射效率，或者更具体而言在光栅的情况下，γ是光栅比。
在常规的检测器阵列中形成连接以提供如下的径向误差信号(RE)：
RE＝PP(c)-γ(PP(a)+PP(b))
图5表示了根据本发明的第一实施例的辐射检测器阵列。该检测器的形式是形成分离的点检测器的光电二极管元件，每个点检测器被分成通过分离线XC，XA，XD，YB分离的检测器元件，提供了所需的信号分离。
本实施例中的结构包括相同尺寸的四个点检测器。三个点检测器100、102、104一般沿着线X-X布置，该线是检测器阵列中基本上相当于轨道切向的方向。例如，伴随点可以各自间隔半个轨道间距。中央点检测器100包括四个矩形检测器元件A1-A4，这些检测器元件并排布置并且被沿着基本上相当于轨道切向的方向布置的三个分离线分开，以便检测主点A的位置。伴随点检测器102和104各自分别包括两个检测器元件C1、C2和D1、D2，这两个检测器元件形成点检测器的相等半部，被沿着相当于轨道切向的方向布置的分离线XC，XD分开。检测器102、104检测主点A的伴随点C、D。点检测器100、102、104布置成进行三个点的推挽式径向跟踪误差检测。
设置有另外的点检测器106以便检测由光束分离器22形成的第二主点B的尺寸。检测器106布置成沿着通过点检测器100的中心延伸的线Y-Y偏移到线X-X的一侧，相对于线X-X形成角α。角α在这个实施例中优选为至少15°，以便防止点B的伴随点和/或主点A、B中任一个的较高阶的点与点检测器上的所需点信号检测之间的干涉。而且，α越高，点A和B之间所需的空间间距越小，这对于降低全息板的复杂性或者减小用作光束分离器的微棱镜的尺寸来说是有利的。而且，角α在本实施例中优选小于75°，使得在制造期间，通过光学扫描装置中的光束分离部件22的方位转动可以有效地调节点c沿着相当于径向的方向的位置。因此，对于在正确地聚焦的结构中时的点A和B的分离，以及对于各点的方位布置，可以对有用程度的制造公差进行校正，同时保证点A和B可以分别精确地保持对中在检测器元件100和106上。由于沿着相当于切向的方向的分离线的布置，因为沿着相当于切向的方向的正确聚焦的点的位置不像点检测器上的沿着相当于径向的方向的点的位置的要求那样高，所以可提供这种程度的公差。因此，15°＜α＜75°。在一个实施例中，干涉的防止是迫切需要的，并且45°＜α＜75°。在另一个实施例中，制造期间的调节的便利性是迫切需要的，并且15°＜α＜45°。
点检测器106被布置为只用于点尺寸的检测器，其具有中央检测器元件B2和外部检测器元件B1和B3。检测器元件被平行于相当于切向的方向延伸的两条分离线YB(形成在点检测器106内)分开。
点检测器100的检测器元件A1和A4在尺寸和形状方面对应于点检测器106的元件B1和B3。组合的检测器元件A2和A3在尺寸和形状方面对应于点检测器106的元件B2，并且被中央分离线分开。
在这个实施例的检测器阵列中形成连接以提供如下的聚焦误差信号(FE)、径向误差信号(RE)和数据读出信号(RF)：
FE＝(A1+A4+B2)-(A2+A3+B1+B3)
RE＝(A1+A2-A3-A4)+γ(C1-C2+D1-D2)
RF＝(A1+A2+A3+A4+B1+B2+B3)
在这个实施例中，用于点尺寸的聚焦误差检测和推挽式跟踪误差检测中的分离信号的分离线是平行的，其具有的效果是减少检测器阵列中所需的信号连接的总数量。还有，主点B的伴随点未被检测以便减少所用的信号连接的数量。
图6表示了本发明的第二实施例，该第二实施例在功能方面与第一实施例的结构类似，只是点B的伴随点(E和F)被检测并用于增强推挽式跟踪误差信号。点检测器200、202、204与检测器100、102、104相对应，如前所述。前述点检测器106用一组三个点检测器206、208、210来代替，这三个点检测器在形状和结构方面对应于前述检测器100、102、104并且布置成大致平行于线X-X，尽管偏移向该线X-X的一侧。检测器206沿着线Y-Y布置，该线Y-Y通过检测器200的中心，与线X-X形成角α。出于上述原因，该结构优选为这样，即15°＜α＜75°。在一个实施例中，干涉的防止是迫切需要的，并且45°＜α＜75°。在另一个实施例中，制造期间的点的定中调节的便利性是迫切需要的，并且15°＜α＜45°。
在这个实施例的检测器阵列中形成连接以提供如下的聚焦误差信号(FE)、径向误差信号(RE)和数据读出信号(RF)：
FE＝(A1+A4+B2+B3)-(A2+A3+B1+B4)
RE＝(A1+A2-A3-A4-B1-B2+B3+B4)+γ(C1-C2+D1-D2-E1+
E2-F1-F2)
RF＝(A1+A2+A3+A4+B1+B2+B3+B4)
图7是光学扫描系统中的主光束点的四个(±1、±1)阶的示意图。图8表示了用于进行DPD径向跟踪的常规的点检测器阵列，其包括方形点检测器的四个象限1-4。信号(1+3)和(2+4)的相差或者时间差是跟踪偏移的度量值。
图9表示了本发明的第三实施例，其中点尺寸的聚焦误差检测、三个点的推挽式径向跟踪误差检测和DPD径向跟踪误差检测都可以进行。这种结构类似于第一实施例的结构，点检测器300、302、304和306与前述点检测器100、102、104和106相对应，只是第一点检测器300适于进行DPD径向跟踪。出于这个目的，点检测器300包括另外的分离线，该另外的分离线在中央布置成垂直于其余的分离线，以便将所述检测器元件A1-A4中的每一个分成两半，由此形成另外的四个(总共为八个)一半尺寸的矩形检测器元件A5-A8。
出于上述原因，该结构优选是这样，即15°＜α＜75°。在一个实施例中，干涉的防止是迫切需要的，并且45°＜α＜75°。在另一个实施例中，制造期间的点的定中调节的便利性是迫切需要的，并且15°＜α＜45°。
在这个实施例的检测器阵列中形成连接以提供如下的聚焦误差信号(FE)、推挽式径向误差信号(RE1)、DPD径向误差信号(RE2)和数据读出信号(RF)：
FE＝(A1+A4+A5+A8+B2)-(A2+A3+A6+A7+B1+B3)
RE1＝(A1+A2+A5+A6-A3-A4-A7-A8)+γ(C1-C2+D1-D2)
RE2＝(A1+A2+A7+A8)-(A3+A4+A5+A6)
RF＝(A1+A2+A3+A4+A5+A6+A7+A8+B1+B2+B3)
图10表示了本发明的第四实施例，其中点尺寸的聚焦误差检测、三个点的推挽式径向跟踪误差检测和DPD径向跟踪误差检测都可以进行。这种结构类似于第三实施例的结构，点检测器400、402、404和406与前述点检测器300、302、304和306相对应，只是用于提供点尺寸检测信号分离的分离线ZB布置成与用于提供推挽式跟踪误差信号检测的分离线XA，XC，XD垂直而不是与其平行，即，沿着相当于径向的方向。在这个实施例中，检测器406沿着通过检测器400的中心的线Z-Z布置。关于15°＜α＜75°的第一至第三实施例中的线Y-Y的布置描述的所有优点在此处通过15°＜β≤90°来获得。在优选实施例中，45°＜β＜90°，从而增强了所得到的优点的效果。
在这个实施例的检测器阵列中形成连接以提供如下的聚焦误差信号(FE)、推挽式径向误差信号(RE1)、DPD径向误差信号(RE2)和数据读出信号(RF)：
FE＝(A1+A4+A5+A8+B2)-(A2+A3+A6+A7+B1+B3)
RE1＝(A1+A2+A3+A4-A5-A6-A7-A8)+γ(C1-C2+D1-D2)
RE2＝(A1+A2+A7+A8)-(A3+A4+A5+A6)
RF＝(A1+A2+A3+A4+A5+A6+A7+A8+B1+B2+B3)
上述实施例将被理解为本发明的示意性实例。设想了本发明的另外的实施例。例如，用于在第四实施例中产生聚焦误差信号和推挽式径向误差信号的正交分离线也可以用于其它类似于第一或第二实施例的实施例中。而且，用于第二实施例中的附加的推挽式信号检测器可以用于第三或第四实施例中。应该理解，对于一个实施例所述的任何特征也可以用于其他的实施例中。而且，也可以应用以上没有描述的等效装置和变型，而不脱离在本发明的范围。

Claims (19)

1.一种辐射检测器阵列，其包括多个用于检测扫描光学记录载体的辐射束的点检测器，每个所述点检测器布置成检测由所述光束形成的点的特性，并且每个所述点检测器包括多个用于检测所述点的不同部分的检测器元件，其中所述检测器阵列用于径向跟踪误差检测和聚焦误差检测，所述阵列包括：
用于进行多点径向跟踪误差检测的第一多个点检测器(100，102，104；200，202，204；300，302，304；400，402，404)，所述第一多个点检测器包括布置在其中央的第一点检测器(100，200，300，400)；以及
第二点检测器(106，206，306，406)，用于与所述第一点检测器组合来进行点尺寸的聚焦误差检测。
2.根据权利要求1所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第一多个点检测器沿着第一线(X)线性地布置。
3.根据权利要求2所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第二点检测器(106，206，306，406)布置在偏移到所述第一线(X)的一侧的位置。
4.根据权利要求3所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第二点检测器与所述第一点检测器成一第二线(Y，Z)布置，该第二线相对于所述第一线(X)以至少15°的角布置。
5.根据前述权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第一多个点检测器布置成进行三个点的推挽式跟踪误差检测。
6.根据前述权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第一多个点检测器包括第三点检测器(102，202，302，402)和第四点检测器(104，204，304，404)，该第三和第四点检测器布置成并不参与所述聚焦误差检测。
7.根据前述权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第一点检测器包括多个由第一分离装置(XC，XA，XD)分开的检测器元件，该第一分离装置限定用于所述径向跟踪误差检测的信号分离，并且所述第二点检测器包括多个由第二分离装置(YB)分开的检测器元件，该第二分离装置限定用于所述聚焦误差检测的信号分离，其中所述第一和第二分离装置平行地布置。
8.根据权利要求7所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第一分离装置(XC，XA，XD)布置在所述第一检测器的中央，并且所述第二分离装置(YB)布置在其外部。
9.根据权利要求2所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第二点检测器与所述第一点检测器成一第二线(Y，Z)布置，该第二线相对于所述第一线(Y，Z)以小于75°的角布置。
10.根据权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第一点检测器包括多个由第一分离装置(XC，XA，XD)分开的检测器元件，该第一分离装置限定用于所述径向跟踪误差检测的信号分离，并且所述第二点检测器包括多个由第二分离装置(ZB)分开的检测器元件，该第二分离装置限定用于所述聚焦误差检测的信号分离，其中所述第一和第二分离装置正交地布置。
11.根据前述权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第二点检测器(106，206，306，406)包括比所述第一点检测器(100，200，300，400)更少的检测器元件。
12.根据前述权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第一点检测器和/或所述第二点检测器还被布置成进行微分相位检测的径向跟踪误差检测。
13.根据前述权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第二点检测器布置成并不参与所述径向跟踪误差检测。
14.根据权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述检测器阵列包括第五点检测器(208)和第六点检测器(210)，该第五和第六点检测器具有布置在其中央的所述第二点检测器(206)。
15.根据权利要求14所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第五和第六点检测器(208，210)以及所述第二点检测器(206)沿着平行于所述第一线(X)的另外线布置。
16.根据前述权利要求1-4中任一项所述的辐射检测器阵列，其特征在于，所述第一和第二点检测器适于共同检测包括光学记录载体上记录的数据的数据信号。
17.一种光学扫描装置，其包括根据前述权利要求1-16中任一项所述的辐射检测器阵列。
18.根据权利要求17所述的光学扫描装置，其特征在于，所述装置包括用于产生沿着衍射线布置的多个光束的衍射部件，以及光束分离部件，用于将所述多个光束中的至少一个沿一方向分离成另两个光束，该方向使得至少一个分量相对于所述衍射线成正交。
19.一种用于调节根据权利要求18所述的光学扫描装置的方法，所述方法包括：通过围绕着所述多个光束中的所述至少一个的轴线的方位转动，将所述光束分离部件相对于所述检测器阵列调节就位。
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