CN118243360A - 一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示面板缺陷的磁场检测方法及磁场检测装置，显示面板缺陷的磁场检测方法包括：磁传感器测量得到待测显示面板上所有像素点点亮的磁场信号，将待测显示面板上所有像素点点亮的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮的磁场信号进行比较，确定待测显示面板是否存在缺陷；若待测显示面板存在缺陷，则测试待测显示面板上的测试行磁场信号和测试列磁场信号，以确定测试行和测试列是否存在缺陷；基于存在缺陷的测试行和测试列，获得存在缺陷的像素点的磁场信号。本发明能够在显示面板封装完成后，进行非接触的测试，进一步高精度、高效率的对显示面板缺陷进行检测。

Description

一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置

技术领域

本发明属于显示面板检测领域，涉及一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置。

背景技术

近些年来，显示面板行业快速发展，从而带动显示面板的质检需求急剧增加。传统的显示面板缺陷检测主要是由人眼辨别，但是人眼识别的效率低且不精准，这给生产显示面板的企业在质量和效率上带来了很大的困难。有鉴于此，采用一种新型的显示面板质量检测方式来代替人工检测是亟待解决的技术问题。近年来，许多基于计算机视觉的面板缺陷检测系统不断涌现，但各厂商利用的缺陷检测算法基本上都是比较传统的视觉方法。随着生产工艺的不断进步，检测要求随之提高，检测精度要求更加精准，对算法的实时性要求也大大提高。随着检测行业的发展，检测手段主要分为传统光学检测及传统电气检测，但是不管是传统电气检测还是传统光学检测，均存在缺陷不足，比如：

传统电气检测技术的精准却高效，但是在屏幕封装完成后无法检测，且资源使用率低，使用场景单一。

传统光学检测技术的设备昂贵，并且只能通过光学手段判断单一的缺陷类型，无法精确确定各种缺陷情况。国内众多厂商正在研发，但仍旧未能突破技术瓶颈。

因此，基于上述问题，有必要对显示面板缺陷的检测方法做进一步研究，从而提高检测精度。

应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本发明的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本发明的背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置，用于解决现有技术中传统光学检测技术的设备昂贵且无法精确确定各种缺陷，同时传统电气检测技术设备使用率低，使用场景单一的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种显示面板缺陷的磁场检测方法，所述显示面板缺陷的磁场检测方法包括：通过磁传感器测量得到待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号，将所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号进行比较；若所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号一致，则表示所述待测显示面板无缺陷；若所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号不一致，则所述待测显示面板存在缺陷；

若所述待测显示面板存在缺陷，则通过测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号，将所述待测显示面板的所述测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号进行比较，以确定所述测试行是否存在缺陷；通过测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号，将所述待测显示面板的所述测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号进行比较，以确定所述测试列是否存在缺陷，

基于所述存在缺陷的测试行和所述存在缺陷的测试列，获得存在缺陷的像素点的磁场信号。

可选地，测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号的步骤包括：选中所述待测显示面板的测试行，驱动芯片为所述测试行的像素点的阳极提供高电平信号，为所述测试行的像素点的阴极提供低电平信号，为未测试行的像素点的阴极提供高电平信号；以将所述测试行与所述驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试所述测试行的磁场信号

可选地，测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号的步骤包括：选中所述待测显示面板的测试列，驱动芯片为所述测试列的像素点的阳极提供高电平信号，为未测试列的像素点的阳极提供低电平信号，为所述测试列的像素点的阴极提供低电平信号，以将所述测试列与所述驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试所述测试列的磁场信号。

可选地，选中所述待测显示面板的测试列，驱动芯片的阳极为所述测试列的像素点提供高电平信号，为未测试列的像素点提供低电平信号，阴极为所述测试列的像素点提供低电平信号，以将所述测试列与所述驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试所述测试列的磁场信号。

可选地，所述显示面板缺陷的磁场检测方法还包括计算所述存在缺陷的行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号之间的行差值，根据所述行差值确定存在缺陷的行上的像素点产生缺陷的类型；或计算所述存在缺陷的列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号之间的列差值，根据所述列差值确定存在缺陷的列上的像素点产生缺陷的类型。

可选地，确定所述待测显示面板产生缺陷的类型的方法包括：若所述差值为点亮单个像素点的驱动电流的磁场信号n倍，则存在像素点无法点亮；其中n为大于等于1的自然数；

若所述差值小于点亮单个像素点的驱动电流的磁场信号，则存在像素点未能正常发光。可选地，确定所述待测显示面板上存在缺陷的行的步骤包括：

a)比较所述待测显示面板的测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号是否相等；

b)若相等，则判断是否为最后一行；若不相等，则标记所述测试行的对应位置及磁场信号；

若不是最后一行，则重复步骤a)至b)，直至扫描到所述待测显示面板的最后一行。

可选地，确定所述待测显示面板上存在缺陷的列的步骤包括：

d)比较所述待测显示面板的测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号是否相等；

e)若相等，则判断是否为最后一列；若不相等，则标记所述测试列的对应位置及磁场信号；

f)若不是最后一列，则重复步骤d)至e)，直至扫描到所述待测显示面板的最后一列。

本发明还提供一种显示面板缺陷的磁场检测装置，所述显示面板缺陷的磁场检测装置用于实现上述显示面板缺陷的磁场检测方法，所述显示面板缺陷的磁场检测装置包括磁传感器、驱动芯片和待测显示面板；

所述待测显示面板上设置有X行×Y列的像素点阵列；X、Y均为大于1的自然数；

所述驱动芯片用于驱动所述待测显示面板上的像素点；

所述磁传感器以测试所述待测显示面板的磁场信号。

可选地，所述磁传感器包括隧道磁电阻传感器、扫描磁力显微镜或光泵原子磁力计。

可选地，所述驱动芯片上与像素点阳极连接的相邻的管脚之间的间距相等，与像素点阴极连接的相邻的管脚之间的间距相等。

如上所述，本发明提供了一种显示面板缺陷的磁场检测方法及检测装置，具有以下有益效果：

1、本发明能够在显示面板封装完成后，进行非接触的测试，减少了对显示面板的潜在损伤风险。先通过磁传感器测量所有像素点点亮时的磁场信号确定显示面板，快速的确定显示面板是否存在缺陷；再通过对像素点阵列中的每一行和每一列的磁场信号进行测试，进一步高精度、高效率的对显示面板的缺陷进行检测。

2、本发明通过确定磁场信号减小的值判定像素点的缺陷类型，进一步针对对缺陷部分做对应处理，提高效率，进一步减少了错误判断和不必要的维修工作，从而降低了维护和修复的成本。

附图说明

图1显示为本发明磁场检测方法的流程示意图。

图2显示为本发明单个像素点点亮时的结构示意图。

图3显示为本发明单个像素点点亮时的磁场信号的仿真模拟图。

图4显示为本发明单个像素点点亮时的磁场信号仿真模拟的彩图。

图5显示为本发明显示面板上的像素点正常发光的磁场信号的仿真模拟图。

图6显示为本发明显示面板上的像素点正常发光的磁场信号的仿真模拟的彩图

图7显示为本发明显示面板上的像素点存在缺陷的磁场信号的仿真模拟图。

图8显示为本发明显示面板上的像素点存在缺陷的磁场信号的仿真模拟的彩图。

图9显示为本发明所有像素点亮时的磁场信号与正常发光的所有像素点亮时的磁场信号对比图。

图10显示为本发明测试列的磁场信号与正常发光的对应列的磁场信号对比图。

图11显示为本发明隧道磁电阻传感器磁法检测磁场信号的结构示意图。

图12显示为本发明扫描磁力显微镜磁法检测磁场信号的结构示意图。

元件标号说明

1 单个像素点点亮时的磁场信号的测量位置

11 最强磁场信号

L1 测试行

L2 测试列

S1 无缺陷区域

S2 无缺陷区域一

S3 无缺陷区域二

S4 有缺陷区域

S5 缺陷区域一

S6 缺陷区域二

Q1 无缺陷区域S1对应的磁场信号最大值

Q2 无缺陷区域一S2对应的磁场信号最大值

Q3 无缺陷区域二S3对应的磁场信号最大值

Q4 缺陷区域S4对应的磁场信号最大值

Q5 缺陷区域一S5对应的磁场信号最大值

Q6 缺陷区域二S6对应的磁场信号最大值

2 磁场检测装置

20 像素点阵列

201 阳极

202 阴极

21 驱动芯片

210 管脚

M 阴极连接的相邻管脚间距

N 阳极连接的相邻管脚间距

22 隧道磁电阻传感器

23 扫描磁力显微镜

具体实施方式

以下由特定的具体实例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。

请参阅图1至图12。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的装饰、比例关系的改变或大小的调整在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本发明可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本发明可实施的范畴。

如图1所示，本发明提供了一种显示面板缺陷的磁场检测方法，包括：通过磁传感器测量得到待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号，将待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号进行比较，以确定待测显示面板是否存在缺陷。

具体地，在本实施例中，若待测显示面板上所有像素点点亮(如图5和图6所示，全部检测行L1和全部检测列L2均点亮)时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号一致，则表示待测显示面板无缺陷，如图5和图6中标注的无缺陷区域S1。若待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号不一致，则待测显示面板存在缺陷，如图7和图8中标注的缺陷区域S4。其中，正常发光的显示面板满足毕奥萨伐尔定理的电流磁场分布模型，作为示例，磁传感器在距离驱动芯片上方500μm高度的情况下，100μA的驱动电流通过像素点时产生的磁场信号最大值为344nT。在实际使用中，磁传感器在驱动芯片上方检测的高度根据需要任意设置，不以本实施例为限。作为示例，如图2所示，当点亮单个像素点时，将磁传感器设置在单个像素点点亮时的磁场信号的测量位置1，以测得单个像素点亮时的磁场信号。如图3和图4所示为点亮单个像素点时的最强磁场信号11。

如图1所示，若待测显示面板存在缺陷，则通过测试待测显示面板上的测试行的磁场信号，将待测显示面板的测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号进行比较，以确定测试行是否存在缺陷。

具体地，在本实施例中，选中待测显示面板的测试行，驱动芯片为测试行的像素点的阳极提供高电平信号，为测试行的像素点的阴极提供低电平信号，为未测试行的像素点的阴极提供高电平信号；以将测试行与驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试该测试行的磁场信号。在实际使用中，任何能实现测试行与驱动芯片之间形成测试回路，同时将未测试行断路的方法均适用于本发明，在此不一一赘述。作为示例，

更具体地，在本实施例中，确定待测显示面板上存在缺陷的行的具体步骤包括：

a)比较待测显示面板的测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号是否相等；

b)若相等，则判断是否为最后一行；若不相等，则标记测试行的对应位置及磁场信号；

c)若不是最后一行，则重复步骤a)至b)，直至扫描到待测显示面板的最后一行。

即整个像素点阵列的所有行全部测试完成，同时获得存在缺陷的行的位置以及磁场信号。基于获得的存在缺陷的行的磁场信号，进一步计算存在缺陷的行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号之间的行差值，根据行差值确定存在缺陷的行上的像素点产生缺陷的类型。

如图1所示，通过测试待测显示面板上的测试列的磁场信号，将待测显示面板的测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号进行比较，以确定测试列是否存在缺陷。

具体地，在本实施例中，选中待测显示面板的测试列，驱动芯片为测试列的像素点的阳极提供高电平信号，为未测试列的像素点的阳极提供低电平信号，为测试列的像素点的阴极提供低电平信号，以将测试列与驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试该测试列的磁场信号。在实际使用中，任何能实现测试列与驱动芯片之间形成测试回路，同时将未测试列断路的方法均适用于本发明，在此不一一赘述。

更具体地，在本实施例中，确定待测显示面板上存在缺陷的列的具体步骤包括：

d)比较待测显示面板的测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号是否相等；

e)若相等，则判断是否为最后一列；若不相等，则标记测试列的对应位置及磁场信号；

f)若不是最后一列，则重复步骤d)至e)，直至扫描到待测显示面板的最后一列。

即整个像素点阵列的所有列全部测试完成，同时获得存在缺陷的列的位置以及磁场信号。基于获得的存在缺陷的行的磁场信号，进一步计算存在缺陷的列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号之间的列差值，根据列差值确定存在缺陷的列上的像素点产生缺陷的类型。

如图1所示，基于存在缺陷的行和存在缺陷的列，确定存在缺陷的像素点。在本实施例中，基于行差值和列差值确定存在缺陷的像素点产生缺陷的类型。在实际应用中，对像素点阵列上的行的像素点的检测和对像素点阵列上的列的像素点的检测的顺序可根据需要任意设置，不以本实施例为限。

更具体地，在本实施例中，待测显示面板产生缺陷的类型包括但不限于驱动损坏、有机材料老化，在此不一一赘述。若行差值或列差值为点亮单个像素点的驱动电流的磁场信号的n倍，则存在像素点无法点亮，其中n为大于等于1的自然数；即为驱动损坏。若行差值或列差值小于点亮单个像素点的驱动电流的磁场信号，则存在像素点未能正常发光，即为有机材料老化。

作为示例，待测显示面板上的像素点阵列为1列×8行，在磁传感器距离驱动芯片高度距离为500μm高度，固定一驱动电流通过所有像素点的情况下，将所有像素点点亮，如图9所示，待测显示面板的所有像素点点亮时，缺陷区域S4对应的磁场信号最大值Q4为2328354.47pT，正常发光的显示面板的所有像素点点亮时，无缺陷区域S1对应的磁场信号最大值Q1为2910581.29pT，此时，基于最强磁场信号数值比较确定待测显示面板是存在缺陷的。待测显示面板的所有像素点点亮时的最大磁场信号与正常发光的显示面板的所有像素点点亮的最大磁场信号的差值为582226.53pT。单个像素点点亮时的磁场信号为300000pT，由于不是完全线性叠加的，在误差范围内，即可确认该待测显示面板存在缺陷的个数为2个。由于本示例设置的是1列×8行的像素点阵列，所以只进行了列检测。如图10所示，通过列检测到正常发光的8个像素点的磁场信号,无缺陷区域一S2对应的磁场信号最大值Q2为2274765.76pT，无缺陷区域二S3对应的磁场信号最大值Q3。如图10所示，存在2个缺陷的待测显示面板的8行像素点的磁场信号，缺陷区域一S5对应的磁场信号最大值Q5为1914604.14pT，缺陷区域二S6对应的磁场信号最大值Q6。缺陷区域一S5的磁场信号相较于正常发光的无缺陷区域一S2的磁场信号，减少了360000pT，缺陷区域二S6的磁场信号相较于正常发光的无缺陷区域二S3的磁场信号，减少了180000pT。缺陷区域一S5和缺陷区域二S6两处的磁场信号是成比例关系的，从而确定缺陷区域一S5和缺陷区域二S6处的像素点为驱动损坏。

作为本发明的另一种实现方式，通过存在缺陷的行和存在缺陷的列确定存在缺陷像素点，再逐次挨个的对存在缺陷的像素点进行磁法检测，将获得的单个存在缺陷的像素点的磁场信号与正常发光的显示面板对应的像素点的磁场信号进行比较，以确定该存在缺陷的像素点产生缺陷的类型。在实际使用中，任何能确认存在缺陷的像素点产生缺陷的类型的检测方法均适用于本发明，在此不一一赘述。

如图11至图12所示，本发明海提供一种用于实现上述磁场检测方法的显示面板缺陷的磁场检测装置2，包括磁传感器、驱动芯片和待测显示面板。在实际使用中，任何能实现本发明的磁场检测方法的磁场检测装置均适用于本发明，不以本实施例为限。

具体地，在本实施例中，待测显示面板上设置有X行×Y列的像素点阵列20；X、Y均为大于1的自然数。驱动芯片21上与像素点阳极201连接的相邻的管脚210之间的间距M相等，与像素点阴极202连接的相邻的管脚210之间的间距N相等。在实际使用中，驱动芯片上与像素点阳极连接的相邻的管脚的间距M、驱动芯片上与像素点阴极连接的相邻的管脚的间距N可根据测试需求而任意设置，包括但不限于20μm、22μm，在此不一一赘述。

更具体地，在本实施例中，磁传感器包括但不限于隧道磁电阻传感器22、扫描磁力显微镜23或光泵原子磁力计，在此不一一赘述。作为示例一，如图11所示，使用隧道磁电阻传感器22(TMR)作为磁传感器进行磁法检测，将隧道磁电阻传感器设置在驱动芯片与像素点阵列之间连接的引线的旁边，即一根引线对应一个隧道磁电阻传感器，且每一个隧道磁电阻传感器22到对应引线的距离一致。同时隧道传感器22磁场敏感方向与电流方向垂直，以测试获得磁场信号。作为示例二，如图12所示，使用扫描磁力显微镜23(SSM)作为磁传感器进行磁法检测，将扫描磁力显微镜23设置于待测显示面板20的上方，且扫描磁力显微镜23磁场敏感方向与电流方向垂直，以测试获得磁场信号。作为示例三，使用光泵原子磁力计(OPM)作为磁传感器进行磁法检测，光泵原子磁力计(OPM)测试磁场信号的方式与扫描磁力显微镜23一致。

综上所述，本发明提供一种显示面板缺陷的磁场检测方法及磁场检测装置，显示面板缺陷地磁场检测方法包括：通过磁传感器测量得到待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号，将待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号进行比较，以确定待测显示面板是否存在缺陷；若待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号一致，则表示待测显示面板无缺陷；若待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号不一致，则待测显示面板存在缺陷；若待测显示面板存在缺陷，则通过测试待测显示面板上的测试行的磁场信号，将待测显示面板的测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号进行比较，以确定测试行是否存在缺陷；通过测试待测显示面板上的测试列的磁场信号，将待测显示面板的测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号进行比较，以确定测试列是否存在缺陷，基于存在缺陷的测试行和所述存在缺陷的测试列，获得存在缺陷的像素点的磁场信号。本发明能够在显示面板封装完成后，进行非接触的测试，减少了对显示面板的潜在损伤风险。先通过磁传感器测量所有像素点点亮时的磁场信号确定显示面板，快速的确定显示面板是否存在缺陷；再通过对像素点阵列中的每一行和每一列的磁场信号进行测试，进一步高精度、高效率的对显示面板的缺陷进行检测。还通过确定磁场信号减小的值判定像素点的缺陷类型，进一步针对对缺陷部分做对应处理，提高效率，进一步减少了错误判断和不必要的维修工作，从而降低了维护和修复的成本。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (10)

1.一种显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷的磁场检测方法包括：

通过磁传感器测量得到待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号，将所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号进行比较；若所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号一致，则表示所述待测显示面板无缺陷；若所述待测显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号与正常发光的显示面板上所有像素点点亮时的磁场信号不一致，则所述待测显示面板存在缺陷；

若所述待测显示面板存在缺陷，则通过测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号，将所述待测显示面板的所述测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号进行比较，以确定所述测试行是否存在缺陷；通过测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号，将所述待测显示面板的所述测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号进行比较，以确定所述测试列是否存在缺陷；

基于存在缺陷的行和所述存在缺陷的列，确定存在缺陷的像素点。

2.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，测试所述待测显示面板上的测试行的磁场信号的步骤包括：

选中所述待测显示面板的测试行，驱动芯片为所述测试行的像素点的阳极提供高电平信号，为所述测试行的像素点的阴极提供低电平信号，为未测试行的像素点的阴极提供高电平信号；以将所述测试行与所述驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试所述测试行的磁场信号。

3.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，测试所述待测显示面板上的测试列的磁场信号的步骤包括：

选中所述待测显示面板的测试列，驱动芯片为所述测试列的像素点的阳极提供高电平信号，为未测试列的像素点的阳极提供低电平信号，为所述测试列的像素点的阴极提供低电平信号，以将所述测试列与所述驱动芯片之间形成测试回路，通过磁传感器测试所述测试列的磁场信号。

4.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷的磁场检测方法还包括计算所述存在缺陷的行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号之间的行差值，根据所述行差值确定存在缺陷的行上的像素点产生缺陷的类型；或计算所述存在缺陷的列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号之间的列差值，根据所述列差值确定存在缺陷的列上的像素点产生缺陷的类型。

5.根据权利要求4所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，确定所述待测显示面板产生缺陷的类型的方法包括：

若所述行差值或列差值为点亮单个像素点的驱动电流的磁场信号的n倍，则存在像素点无法点亮；其中n为大于等于1的自然数；

若所述行差值或列差值小于点亮单个像素点的驱动电流的磁场信号，则存在像素点未能正常发光。

6.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于：确定所述待测显示面板上存在缺陷的行的步骤包括：

a)比较所述待测显示面板的测试行的磁场信号与正常发光的显示面板的对应行的磁场信号是否相等；

b)若相等，则判断是否为最后一行；若不相等，则标记所述测试行的对应位置及磁场信号；

c)若不是最后一行，则重复步骤a)至b)，直至扫描到所述待测显示面板的最后一行。

7.根据权利要求1所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，确定所述待测显示面板上存在缺陷的列的步骤包括：

d)比较所述待测显示面板的测试列的磁场信号与正常发光的显示面板的对应列的磁场信号是否相等；

e)若相等，则判断是否为最后一列；若不相等，则标记所述测试列的对应位置及磁场信号；

f)若不是最后一列，则重复步骤d)至e)，直至扫描到所述待测显示面板的最后一列。

8.一种显示面板缺陷的磁场检测装置，用于实现如权利要求1～7任意一项所述的显示面板缺陷的磁场检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷的磁场检测装置包括磁传感器、驱动芯片和待测显示面板；

所述待测显示面板上设置有X行×Y列的像素点阵列；X、Y均为大于1的自然数；

所述驱动芯片用于驱动所述待测显示面板上的像素点；

所述磁传感器用于测试所述待测显示面板的磁场信号。

9.根据权利要求8所述的显示面板缺陷的磁场检测装置，其特征在于，所述磁传感器包括隧道磁电阻传感器、扫描磁力显微镜或光泵原子磁力计。

10.根据权利要求8所述的显示面板缺陷的磁场检测装置，其特征在于，所述驱动芯片上与像素点阳极连接的相邻的管脚之间的间距相等，与像素点阴极连接的相邻的管脚之间的间距相等。