CN118191559A - Cpld可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents

Cpld可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN118191559A
CN118191559A CN202410377380.4A CN202410377380A CN118191559A CN 118191559 A CN118191559 A CN 118191559A CN 202410377380 A CN202410377380 A CN 202410377380A CN 118191559 A CN118191559 A CN 118191559A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
cpld
environmental stress
tested
environments
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202410377380.4A
Other languages
English (en)
Inventor
胡湘洪
胡凛
韩立帅
李家辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Research Institute
Original Assignee
China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Research Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Research Institute filed Critical China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Research Institute
Priority to CN202410377380.4A priority Critical patent/CN118191559A/zh
Publication of CN118191559A publication Critical patent/CN118191559A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

本申请涉及电路可靠性测试技术领域,涉及一种CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下,获取所述CPLD器件的待测功能项目请求;设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数;在多种测试环境下,响应于所述待测功能项目请求,对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试,获得测试数据;对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。采用本方法能够自动有效识别在不同运行环境下的参数差异,准确评估CPLD器件的可靠性。

Description

CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质
技术领域
本申请涉及电路可靠性测试技术领域,特别是涉及一种CPLD可靠性测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
背景技术
随着信息技术的迅猛发展和数字化浪潮的推进,复杂可编程逻辑器件(CPLD)作为数字系统的核心组成部分,在通信、计算机、消费电子、工业自动化等领域的应用日益广泛。然而,在实际工程应用中,CPLD的可靠性问题逐渐凸显。特别是在一些特殊应用环境,如高低温、高湿、振动、低气压等极端条件下,CPLD的性能稳定性和可靠性面临严峻挑战。由于封装材料、工艺等因素的影响,CPLD在这些环境中可能出现异常,导致整个系统的失效。因此,对CPLD的可靠性进行严格的验证测试显得尤为重要。
目前,对CPLD可靠性的验证测试主要依赖于软件仿真和实际应用场景的直接测试。软件仿真虽然可以在设计初期对CPLD的功能进行模拟,但由于忽视了器件本身的设计、工艺、材料等因素,仿真结果往往与实际应用情况存在显著差异。这种理想化的运行结果难以真实反映CPLD在各种复杂环境下的实际表现。另一方面,实际应用场景的直接测试虽然能够更接近实际使用情况,但这种方法需要针对不同的应用需求设计专门的测试板子,缺乏通用性。
因此,亟需一种CPLD可靠性测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机程序产品,能够自动有效识别在不同运行环境下的参数差异,准确评估CPLD器件的可靠性。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够自动有效识别在不同运行环境下的参数差异,准确评估CPLD器件的可靠性的CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
第一方面,本申请提供了一种CPLD可靠性测试方法,包括:
在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下,获取所述CPLD器件的待测功能项目请求;
设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数;
在多种测试环境下,响应于所述待测功能项目请求,对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试,获得测试数据;
对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。
在其中一个实施例中,所述设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数之前,还包括:
响应于所述待测功能项目请求,获取相应的预测试程序;
根据所述预测试程序,对所述CPLD器件待测功能进行预测试,获得预测试结果;
根据所述预测试结果,相应地调整CPLD器件的测试参数。
在其中一个实施例中,所述待测功能项目的类型包括:通信功能、存储器读取功能、运算功能和IO最大输出频率。
在其中一个实施例中,所述对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得所述待测功能项目请求相应的测试结果,包括:
根据单一环境应力下的参考数据,分别对多种测试环境中相同环境应力的测试数据进行分析,获得分析结果;
对所述分析结果进行拟合处理,获得拟合处理曲线,并作为所述待测功能项目请求相应的测试结果。
在其中一个实施例中,所述根据单一环境应力下的参考数据,分别对多种测试环境中相同环境应力的测试数据进行分析,包括:
将单一环境应力下的参考数据分别与不同环境参数下相同环境应力的测试数据进行对比,获得对比结果;
根据所述对比结果,将区别于所述参考数据的测试数据以及相应的环境应力参数进行标记。
在其中一个实施例中,所述对所述分析结果进行拟合处理,获得拟合处理曲线之后,还包括:
获取单一环境应力下的测试参考曲线;
将所述拟合处理曲线和所述测试参考曲线进行堆叠输出。
第二方面,本申请还提供了一种CPLD可靠性测试装置,包括:
获取模块,用于在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下,获取所述CPLD器件的待测功能项目请求;
设置模块,用于设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数;
测试模块,用于在多种测试环境下,响应于所述待测功能项目请求,对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试,获得测试数据;
处理模块,用于对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。
第三方面,本申请还提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,该处理器执行计算机程序时实现上述各方法实施例中的步骤。
第四方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
第五方面,本申请还提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
上述CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,通过设置多种测试环境,并在每种测试环境下进行环境应力偏置测试,可以模拟CPLD器件在实际应用中可能遇到的各种复杂环境。这种方法能够更全面地评估CPLD器件的可靠性,并准确识别在不同运行环境下的参数差异。而且测试方法能够自动响应待测功能项目请求,并在多种测试环境下进行测试,无需人工干预。这大大提高了测试的效率,减少了人为错误的可能性,使得测试过程更加便捷和可靠。并且通过对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,可以获得待测功能项目请求相应的测试结果。这种方法能够更精确地评估CPLD器件的性能,为设计者提供更有价值的参考信息。其次,测试方法适用于不同的CPLD器件和不同的待测功能项目,具有较高的通用性。同时,通过设置不同的测试环境和环境应力参数,可以灵活调整测试方案,以适应不同的测试需求。综上,本申请能够更准确地评估CPLD器件在各种复杂环境下的可靠性,同时提高了测试的效率和准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案,下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一个实施例中CPLD可靠性测试方法的应用环境图;
图2为一个实施例中CPLD可靠性测试方法的流程示意图;
图3为另一个实施例中CPLD可靠性测试方法的流程示意图;
图4为一个实施例中根据测试结果进行二项式拟合后的曲线图;
图5为一个实施例中CPLD可靠性测试装置的结构框图;
图6为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
图7为一个实施例中计算机设备的外部架构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
本申请实施例提供的CPLD可靠性测试方法,可以应用于如图1所示的应用环境中。其中,终端102通过网络与服务器104进行通信。数据存储系统可以存储服务器104需要处理的数据。数据存储系统可以集成在服务器104上,也可以放在云上或其他网络服务器上。
终端102在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下,获取CPLD器件的待测功能项目请求;在多种测试环境下,响应于待测功能项目请求,对CPLD器件进行环境应力偏置测试,获得测试数据;对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得待测功能项目请求相应的测试结果。
其中,终端102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑、物联网设备和便携式可穿戴设备,物联网设备可为智能音箱、智能电视、智能空调、智能车载设备等。便携式可穿戴设备可为智能手表、智能手环、头戴设备等。服务器104可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现。
在一个示例性的实施例中,如图2所示,提供了一种CPLD可靠性测试方法,以该方法应用于图1中的终端为例进行说明,包括以下步骤S202至步骤S208。其中:
步骤S202,在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下,获取CPLD器件的待测功能项目请求。
具体地,在CPLD器件(复杂可编程逻辑器件)的测试参数设置完毕后,获取CPLD器件的待测功能项目请求,这一步骤是整个测试流程的关键一环。这里可以从以下几个方面来理解:
首先,测试参数的设置是测试工作的基础。这些参数通常包括电压范围、时钟频率、工作环境温度、湿度等,它们定义了测试的基本条件和限制。这些参数的设定需要基于CPLD器件的规格书、设计要求和实际应用场景,确保测试环境能够模拟器件实际运行时的各种情况。
接着,获取待测功能项目请求是指明确测试的具体目标和内容。这通常涉及到对CPLD器件内部逻辑功能、输入输出接口、时序特性等方面的检测。测试人员或测试系统需要获取这些具体的测试需求,以便后续按照这些需求进行测试。在获取待测功能项目请求时,可能会涉及到与设计人员、产品经理或系统工程师的沟通,以确保对测试目标的准确理解。同时,测试请求通常会以测试计划、测试用例或测试脚本的形式存在,这些文档或代码详细描述了测试的具体步骤、条件和预期结果。
步骤S204,设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数。
具体地,多种测试环境的设置是为了全面模拟CPLD器件在实际应用中可能遇到的各种工作环境。这些环境可能包括高温、低温、高湿、振动、电磁干扰等多种条件,每种条件都可能对CPLD器件的性能和稳定性产生影响。因此,通过在这些不同的环境下进行测试,可以更全面地评估CPLD器件的可靠性和适应性。其次,环境应力参数的设置是为了在测试环境中引入一定的压力或挑战,以检验CPLD器件在极限条件下的表现。这些参数可能包括温度范围、湿度水平、振动频率等,它们能够模拟器件在极端工作环境下可能遇到的挑战。通过调整这些参数,测试人员可以逐步增加环境的严酷程度,从而更准确地评估CPLD器件的性能边界和失效模式。
步骤S206,在多种测试环境下,响应于待测功能项目请求,对CPLD器件进行环境应力偏置测试,获得测试数据。
具体地,环境应力偏置测试是一种特殊的测试方法,它通过在测试环境中引入额外的应力参数,来加速器件的老化或失效过程。这种测试方法有助于在较短时间内发现潜在的可靠性问题,提高测试效率。在测试过程中,测试系统会根据待测功能项目请求,对CPLD器件施加相应的环境应力,并观察其响应和性能表现。测试数据包括在各种测试环境下,CPLD器件对待测功能项目请求的响应情况、性能指标、错误率等。
需要注意的是,环境应力偏置测试虽然可以加速测试过程,但也可能引入一些非真实环境的因素。因此,在解释和分析测试数据时,需要综合考虑测试环境、应力参数以及器件的实际工作情况,以确保测试结果的准确性和可靠性。
步骤S208,对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得待测功能项目请求相应的测试结果。
具体地,测试数据拟合是一种数学方法,用于根据已有的测试数据来建立数学模型,进而预测或解释未知情况下的行为或性能。在CPLD器件的测试过程中,由于测试环境、条件、应力参数等因素众多,测试数据通常表现为一组复杂的数值序列。其次,拟合处理的目的在于找到能够最佳描述测试数据的数学模型。这个模型可以是一个数学公式、一个曲线或曲面等,它应该能够尽可能地接近实际测试数据,并能够预测或解释新的测试数据。在拟合过程中,通常会使用一些数学方法,如最小二乘法、多项式拟合等,来优化模型的参数,使模型与实际数据的误差达到最小。
最后,通过拟合处理获得的模型可以用来评估待测功能项目请求在多种测试环境下的表现。这意味着可以将模型的预测结果与实际测试数据进行比较,从而验证模型的准确性和可靠性。如果模型能够很好地拟合实际数据,并且预测结果与实际结果相符,那么就可以认为该模型能够有效地描述CPLD器件在特定测试环境下的性能表现。
上述CPLD可靠性测试方法中,通过设置多种测试环境,并在每种测试环境下进行环境应力偏置测试,可以模拟CPLD器件在实际应用中可能遇到的各种复杂环境。这种方法能够更全面地评估CPLD器件的可靠性,并准确识别在不同运行环境下的参数差异。而且测试方法能够自动响应待测功能项目请求,并在多种测试环境下进行测试,无需人工干预。这大大提高了测试的效率,减少了人为错误的可能性,使得测试过程更加便捷和可靠。并且通过对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,可以获得待测功能项目请求相应的测试结果。这种方法能够更精确地评估CPLD器件的性能,为设计者提供更有价值的参考信息。其次,测试方法适用于不同的CPLD器件和不同的待测功能项目,具有较高的通用性。同时,通过设置不同的测试环境和环境应力参数,可以灵活调整测试方案,以适应不同的测试需求。综上,本申请能够更准确地评估CPLD器件在各种复杂环境下的可靠性,同时提高了测试的效率和准确性。
在一个示例性的实施例中,如图3所示,设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数之前,还包括:
步骤S302,响应于待测功能项目请求,获取相应的预测试程序;
步骤S304,根据预测试程序,对CPLD器件待测功能进行预测试,获得预测试结果;
步骤S306,根据预测试结果,相应地调整CPLD器件的测试参数。
具体地,这一步骤序列的目的是在正式的环境应力偏置测试之前,对CPLD器件的待测功能进行初步的评估和准备,以确保后续的测试更加准确和有效。
步骤S302中的预测试程序是根据待测功能项目请求而设计的,它包含了针对该功能的初步测试流程和步骤。通过获取预测试程序,测试人员能够明确预测试的目的和方法,为后续的预测试工作提供指导。
例如,依据待测功能项目请求编制测试程序,对CPLD器件的关键功能进行测试。如运算功能测试:上位机通过控制模块向CPLD器件发送运算功能测试指令,CPLD按照预设的算法如乘累加进行运算,然后CPLD器件将运算结果通过控制模块转发到上位机,记录运算结果。
步骤S304中的预测试是在相对简单或标准的条件下进行的,旨在初步验证待测功能是否正常工作,并获取一些基本的性能数据。预测试的结果将作为后续测试参数调整的依据。
步骤S306中的预测试的结果可能揭示了待测功能在某些方面的性能表现,或者发现了潜在的问题。根据这些信息,测试人员可以对测试参数进行针对性的调整,以更好地适应待测功能的特点和测试需求。这种调整可能包括改变测试信号的幅度、频率或时序,调整测试环境的温度、湿度或振动水平等。
本实施例中,通过预测试初步评估CPLD器件待测功能的性能,并根据预测试结果调整测试参数,为后续的环境应力偏置测试提供更为准确和有效的测试条件和参数设置。这样做可以提高测试的效率和准确性,减少因测试参数设置不当而导致的测试误差或失败。
在一个示例性的实施例中,待测功能项目的类型包括:通信功能、存储器读取功能、运算功能和IO最大输出频率。
具体地,待测功能项目的类型包括通信功能、存储器读取功能、运算功能和IO最大输出频率,这些是指在进行CPLD器件测试时,需要特别关注和验证的器件功能或性能参数。
其中,通信功能是指CPLD器件在与其他设备或系统进行数据交换时的能力。在通信功能测试中,需要验证CPLD器件是否能够按照预定的通信协议正确发送和接收数据,确保数据格式、速率和时序等符合要求。这对于确保整个系统的通信稳定性和可靠性至关重要。
存储器读取功能是指CPLD器件对内部或外部存储器的访问和读取能力。在存储器读取功能测试中,需要验证CPLD器件是否能够准确读取存储器中的数据,并在需要时将其传输到其他部分或系统。这对于确保数据的完整性和准确性具有重要意义。
运算功能则是指CPLD器件执行数学运算或逻辑运算的能力。在运算功能测试中,需要验证CPLD器件是否能够按照预定的算法或逻辑规则正确执行运算操作,并输出正确的结果。这对于确保系统的计算准确性和效率至关重要。
IO最大输出频率是指CPLD器件的输入输出端口在最大工作状态下能够支持的频率。在IO最大输出频率测试中,需要验证CPLD器件的IO端口在高速工作状态下是否能够保持稳定和可靠的性能,以满足实际应用中对高速数据传输的需求。
本实施例中,通过对这些功能项目进行全面的测试和验证,可以确保CPLD器件在实际应用中能够满足设计要求并表现出稳定的性能。
在一个示例性的实施例中,对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得待测功能项目请求相应的测试结果,包括:
根据单一环境应力下的参考数据,分别对多种测试环境中相同环境应力的测试数据进行分析,获得分析结果;对分析结果进行拟合处理,获得拟合处理曲线,并作为待测功能项目请求相应的测试结果。
具体地,在多种测试环境中,每种环境都包含至少一个环境应力参数。这些环境应力参数可能是温度、湿度、压力等,它们对CPLD器件的性能和稳定性产生影响。测试数据是在这些不同环境下收集的,反映了器件在不同条件下的行为表现。
其次,根据单一环境应力下的参考数据,对多种测试环境中相同环境应力的测试数据进行分析的目的是为了比较和对照。参考数据提供了一个基准,用于评估其他测试环境中相同应力下的数据变化。通过对比这些数据,可以获得每个环境应力对器件性能的具体影响,以及这些影响在不同测试环境之间的相似性和差异性。
接着,对分析结果进行拟合处理。拟合处理是一种数学方法,用于根据已知数据点建立数学模型或曲线。在上下文中,拟合处理是根据分析结果中的数据点来构建一条曲线,这条曲线能够最佳地描述数据点之间的关系或趋势。拟合处理曲线的形状和参数反映了测试数据中的内在规律和特点。拟合处理曲线被作为待测功能项目请求相应的测试结果。这条曲线不仅展示了器件在不同环境应力下的性能表现,还可以用于预测和解释器件在未知环境下的行为。测试人员可以根据这条曲线来评估器件的可靠性、稳定性和性能边界,为后续的决策和优化提供依据。
例如,根据设置的电压范围,电源模块将在测试中开展不同的电压范围测试,如最小值、典型值、最大值;根据设定的温湿度范围,可靠性试验装置模块将均匀选取5个参数点并进行温湿度的排列组合对测试样品进行环境应力施加。
表1为示例性的CPLD器件的工作功耗测试结果:
参照图4,图4为根据测试结果进行二项式拟合后的曲线图,纵坐标为功耗,横坐标为温度;实线为拟合之前的工作功耗趋势曲线,虚线为线性拟合之后的工作功耗趋势曲线。
本实施例中,通过对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,有助于揭示测试数据中的内在规律和特点,并为评估待测功能项目请求的性能和可靠性提供有力的支持。
在一个示例性的实施例中,根据单一环境应力下的参考数据,分别对多种测试环境中相同环境应力的测试数据进行分析,包括:
将单一环境应力下的参考数据分别与不同环境参数下相同环境应力的测试数据进行对比,获得对比结果;根据对比结果,将区别于参考数据的测试数据以及相应的环境应力参数进行标记。
具体地,首先,参考数据是在单一环境应力下获得的,它代表了器件在某一特定条件下的性能基准。这些数据通常是在控制良好的环境中获取的,用于为后续测试提供对比依据。将单一环境应力下的参考数据分别与不同环境参数下相同环境应力的测试数据进行对比。这一步骤的关键在于保持环境应力的一致性,以便准确评估不同环境参数(如温度、湿度、振动等)对器件性能的影响。通过对比,可以获得不同环境下器件性能的变化情况,包括性能提升、下降或保持不变等。在对比过程中,如果发现某些测试数据与参考数据存在显著差异,这意味着这些环境参数对器件性能产生了显著影响。因此,需要将区别于参考数据的测试数据以及相应的环境应力参数进行标记。这些标记数据是后续分析和优化的重点,有助于识别器件在不同环境条件下的敏感点和潜在问题。
需要注意的是,对比和标记过程中应确保数据的准确性和可靠性,避免因数据误差导致的误判。同时,对于标记出的异常数据,还需要进一步分析和验证,以确认其真实性和影响程度。
本实施例中,通过这一过程,可以更全面地了解CPLD器件在不同环境参数和相同环境应力下的性能表现。这不仅有助于评估器件的可靠性和稳定性,还能为优化器件设计、改进生产工艺以及制定更合理的测试标准提供有力支持。
在一个示例性的实施例中,对分析结果进行拟合处理,获得拟合处理曲线之后,还包括:获取单一环境应力下的测试参考曲线;将拟合处理曲线和测试参考曲线进行堆叠输出。
具体地,首先,拟合处理曲线是基于多种测试环境下相同环境应力的测试数据经过拟合处理得到的。它反映了在不同环境参数影响下,CPLD器件性能随环境应力的变化趋势,用于了解器件在各种条件下的性能表现。
单一环境应力下的测试参考曲线通常是在标准或控制良好的环境条件下测得的,代表了器件在理想或基准条件下的性能。测试参考曲线作为一个基准,用于与拟合处理曲线进行对比,以揭示实际测试环境与理想环境之间的差异。
根据规格书所规定的参数最大值,如输出高电平电压规格书中设定为2.4V,将每次测试所获得的数据与规格书中相应的限定值进行对比。若测试数据中的某一项或多项超出规格书限定的最大值,将对这部分数据进行明确标记。将导致数据超出的环境应力参数记录并作为芯片的应用风险项进行输出,以供后续分析和优化参考。针对规格书中提及的单一环境应力,选取对应应力下的测试数据进行二项式拟合,生成拟合曲线。通过图像处理技术,将拟合曲线与规格书中的对应曲线进行堆叠,确保两者在同一坐标系中展示。对堆叠后的曲线进行美化处理,如添加图例、坐标轴标签等,以提高图表的可读性和解释性。
将拟合处理曲线和测试参考曲线进行堆叠输出。堆叠输出意味着将这两条曲线在同一张图表上进行展示,通常是将它们放在相同的坐标轴上,以便于直接比较。通过堆叠输出,可以清晰地看到两条曲线之间的差异和相似之处,从而更直观地了解环境参数对器件性能的具体影响。堆叠输出的方式有助于测试人员快速识别和分析数据。例如,可以通过观察两条曲线之间的偏离程度来判断环境参数对性能的影响程度;还可以通过观察曲线的变化趋势来预测器件在不同环境条件下的潜在问题。
需要注意的是,在堆叠输出时,应确保两条曲线的坐标轴范围、刻度等保持一致,以便进行准确的比较。此外,还可以根据需要添加图例、标签等元素,以提高图表的可读性和解释性。
本实施例中,将拟合处理曲线和测试参考曲线进行堆叠输出是一个有效的数据可视化方法,它有助于更直观地了解不同环境参数对CPLD器件性能的影响,并为后续的决策和优化提供有力支持。
应该理解的是,虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段,这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思,本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的CPLD可靠性测试方法的CPLD可靠性测试装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似,故下面所提供的一个或多个CPLD可靠性测试装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于CPLD可靠性测试方法的限定,在此不再赘述。
在一个示例性的实施例中,如图5所示,提供了一种CPLD可靠性测试装置,包括:获取模块502,用于在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下,获取CPLD器件的待测功能项目请求;
设置模块504,用于设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数;
测试模块506,用于在多种测试环境下,响应于待测功能项目请求,对CPLD器件进行环境应力偏置测试,获得测试数据;
处理模块508,用于对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得待测功能项目请求相应的测试结果。
在一个示例性的实施例中,获取模块502,还用于响应于待测功能项目请求,获取相应的预测试程序;
测试模块506,还用于根据预测试程序,对CPLD器件待测功能进行预测试,获得预测试结果;
设置模块504,还用于根据预测试结果,相应地调整CPLD器件的测试参数。
在一个示例性的实施例中,待测功能项目的类型包括:通信功能、存储器读取功能、运算功能和IO最大输出频率。
在一个示例性的实施例中,测试模块506,还用于根据单一环境应力下的参考数据,分别对多种测试环境中相同环境应力的测试数据进行分析,获得分析结果;还用于对分析结果进行拟合处理,获得拟合处理曲线,并作为待测功能项目请求相应的测试结果。
在一个示例性的实施例中,处理模块508,还用于将单一环境应力下的参考数据分别与不同环境参数下相同环境应力的测试数据进行对比,获得对比结果;根据对比结果,将区别于参考数据的测试数据以及相应的环境应力参数进行标记。
在一个示例性的实施例中,获取模块502,还用于获取单一环境应力下的测试参考曲线;处理模块508,还用于将拟合处理曲线和测试参考曲线进行堆叠输出。
上述CPLD可靠性测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个示例性的实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是终端,其内部结构图可以如图6所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口、通信接口、显示单元和输入装置。其中,处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接,通信接口、显示单元和输入装置通过输入/输出接口连接到系统总线。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信,无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种CPLD可靠性测试方法。该计算机设备的显示单元用于形成视觉可见的画面,可以是显示屏、投影装置或虚拟现实成像装置。显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图6中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个示例性的实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,该处理器执行计算机程序时实现上述各方法实施例中的步骤。
如图7所示,计算机设备还包括:电源模块、供电模块、ADC采集模块,接口模块、控制模块、上位机模块、可靠性试验装置模块。
电源模块:采用直流稳压电源,确保为器件提供稳定且可靠的充电电源。该直流稳压电源的输出电压范围设定为5V至20V,电流输出范围则为0A至5A。
供电模块:由电平转换单元和芯片供电控制单元构成。其主要职责在于将CPLD器件供电电源转换成CPLD器件所需的不同电压,并通过芯片供电控制单元对供电电压进行精准控制。
ADC采集模块:该模块负责采集芯片的电压、电流及温度信号,确保数据的准确性和实时性。
接口模块:主要由SMA接口和J30J接口构成。SMA接口用于连接示波器,实时监测芯片输出信号;J30J接口则用于连接CPLD器件的部分信号监测点,实现对这些信号的全面监测。此外,接口模块还包含时钟信号输入和输出检测单元。
控制模块:采用FPGA器件作为核心,实现与子板之间的通信。该模块负责向CPLD器件发送控制信息,并接收子板信息,随后将信息上传至上位机模块。
上位机模块:包含电脑与相应的控制程序。控制程序基于LabVIEW和Teststand构建。LabVIEW用于开发测试子程序、显示界面或封装驱动,同时支持复杂或独立功能的测试用例开发。Teststand则负责编写测试脚本,将测试子程序、界面或封装的驱动组织成测试用例,进而形成测试用例集,实现对一类芯片产品的全面测试。
可靠性试验装置模块:该模块专为CPLD器件提供可靠性试验环境。支持自动设置不同的试验条件,包括温度、湿度、振动等。温度范围可达-75℃至150℃,温度波动度控制在±1℃以内;湿度范围覆盖20%至98%R.H;振动加速度可达8g。结合上位机程序,可灵活设定不同的环境载荷加载步长。
在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
在一个实施例中,提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
需要说明的是,本申请所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等),均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据,且相关数据的收集、使用和处理需要符合相关规定。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory,ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory,MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory,FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory,PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限,RAM可以是多种形式,比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory,DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等,不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等,不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种CPLD可靠性测试方法,其特征在于,所述方法包括:
在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下,获取所述CPLD器件的待测功能项目请求;
设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数;
在多种测试环境下,响应于所述待测功能项目请求,对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试,获得测试数据;
对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数之前,还包括:
响应于所述待测功能项目请求,获取相应的预测试程序;
根据所述预测试程序,对所述CPLD器件待测功能进行预测试,获得预测试结果;
根据所述预测试结果,相应地调整CPLD器件的测试参数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测功能项目的类型包括:通信功能、存储器读取功能、运算功能和IO最大输出频率。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得所述待测功能项目请求相应的测试结果,包括:
根据单一环境应力下的参考数据,分别对多种测试环境中相同环境应力的测试数据进行分析,获得分析结果;
对所述分析结果进行拟合处理,获得拟合处理曲线,并作为所述待测功能项目请求相应的测试结果。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据单一环境应力下的参考数据,分别对多种测试环境中相同环境应力的测试数据进行分析,包括:
将单一环境应力下的参考数据分别与不同环境参数下相同环境应力的测试数据进行对比,获得对比结果;
根据所述对比结果,将区别于所述参考数据的测试数据以及相应的环境应力参数进行标记。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对所述分析结果进行拟合处理,获得拟合处理曲线之后,还包括:
获取单一环境应力下的测试参考曲线;
将所述拟合处理曲线和所述测试参考曲线进行堆叠输出。
7.一种CPLD可靠性测试装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下,获取所述CPLD器件的待测功能项目请求;
设置模块,用于设置多种测试环境,每种测试环境包含至少一个环境应力参数;
测试模块,用于在多种测试环境下,响应于所述待测功能项目请求,对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试,获得测试数据;
处理模块,用于对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理,获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。
8.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
CN202410377380.4A 2024-03-29 2024-03-29 Cpld可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 Pending CN118191559A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202410377380.4A CN118191559A (zh) 2024-03-29 2024-03-29 Cpld可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202410377380.4A CN118191559A (zh) 2024-03-29 2024-03-29 Cpld可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN118191559A true CN118191559A (zh) 2024-06-14

Family

ID=91394385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202410377380.4A Pending CN118191559A (zh) 2024-03-29 2024-03-29 Cpld可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN118191559A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109542761B (zh) 软件质量评估方法、装置及存储介质
CN104518924B (zh) 自动化测试及结果比对方法及系统
US20130111268A1 (en) Testing device capable of simulating plugging and unplugging operations and method thereof
CN112100957B (zh) 用于调试逻辑系统设计的方法、仿真器、存储介质
US20230195994A1 (en) Chip design verification system, chip design verification method, and computer readable recording media with stored program
CN104297665A (zh) 一种用于芯片量产测试的ate接口电路板管理组件
CN112649719A (zh) 一种芯片中线性稳压器的测试方法、装置以及设备
WO2020098557A1 (en) Method and apparatus for determining jitter, storage medium and electronic device
CN111638439B (zh) 通信模块测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN118191559A (zh) Cpld可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质
US8341579B2 (en) Method, apparatus, and system for analyzing operation of semiconductor integrated circuits
US20150293828A1 (en) Testing apparatus, testing system and testing method thereof
CN115713962A (zh) 内存测试方法、系统及计算机可读存储介质
CN113406473B (zh) 一种芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质
CN113779926A (zh) 一种电路的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN113360402A (zh) 一种测试方法、电子设备、芯片和存储介质
US11022575B1 (en) Systems and methods for measuring unique microelectronic electromagnetic signatures
CN115792582B (zh) 芯片测试方法、装置及设备
CN118194814A (zh) 针对电子元器件的评估方法、装置、设备、介质和产品
JP6304951B2 (ja) 半導体装置の試験プログラム、試験装置及び試験方法
CN114356061B (zh) 电源故障检测方法、装置、系统以及检测设备
CN116597887B (zh) Lpddr芯片的降容测试方法、系统、设备以及存储介质
US20210173989A1 (en) Simulation signal viewing method and system for digital product
CN109491845B (zh) 一种存储产品控制器的测试方法及系统
US20230086626A1 (en) System and method for detection of anomalies in test and measurement results of a device under test (dut)

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination