CN1181582A - 用于光学拾取系统的刀口方法 - Google Patents

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Abstract

一种光学拾取系统,读取光盘记录表面上的信息信号,包括生成光束的光源、检测光盘上的信息信号的光学检测器、将入射至其上的光束的一部分聚焦到光盘及将光盘反射的光束聚焦到检测器上的物镜及一刀口,该刀口有一平行六面体底座。它由对光束透明的材料制成,第一、第二反射层形成在该平行六面体底座上,其中第二反射层反射光束部分至物镜,第一反射层反射由光盘反射的光束至光束检测器以使该光学拾取系统从光盘上读取信息信号。

Description

用于光学拾取系统的刀口方法
本发明涉及一种光学拾取系统，特别是涉及一种用于光学拾取系统中的改进的刀口方法，通过装入其中具有一对反射表面的刀口而减小尺寸。
光学信息记录盘例如LD的一个通常的问题是发生聚焦误差，已经引进了刀口方法来解决该问题。
在图1中，说明了一种利用刀口方法的已有技术的光学拾取系统100，如在共有未决的申请中国专利申请号94120131.7题为“用于检测光学拾取系统中的聚焦误差信号的刀口方法”中所公布的，在此它作为参考。该光学拾取系统100包括一光源110、一刀口120、一物镜130、一光盘140和一光学检测器150。在系统100中，从光源(例如激光二极管)110发射的光束进入刀口120，并被装入其中的反射表面122部分地反射。由反射表面122反射的光束穿过物镜133到达光盘140作为一聚焦的光束。该聚焦的光束从光盘140反射，然后经过刀口120。刀口120安排得使得反射表面122相对于光轴倾斜一预定的角度θ，该光轴由光学检测器150的中点和物镜130的焦点形成。经过刀口120的聚焦的光束照射到光学检测器150的光电元件152、154上。每个光电元件能够产生光束强度测量值形式的一个输出，从第1和第2光电元件152、154来的输出被发送到差分放大器160的两个输入端口162、164上，该放大器通过比较来自光学检测器150的第1和第2光电元件152、154的输出来产生一个聚焦误差信号。
上述光学拾取系统100的一主要的缺点是尺寸大，这是由于光学检测器150的位置是在相对于刀口120的光盘的对面，由此使整个光学拾取系统的尺寸很大。
因此本发明的主要目的是提供一种减小了尺寸的光学拾取系统。
根据本发明，提供了一种利用刀口方法读取存储在光盘上的信息信号的光学拾取系统，所述系统包括：用于产生光束的光源；用于检测该光束的光学检测器；用于将照射到其上的光束的一部分聚焦到光盘上及将光盘反射的光束聚焦到光学检测器的物镜；和带有第1、第2表面的刀口，其中第2表面反射光束部分至物镜，第1表面反射由光盘所反射的光束至光学检测器，由此使得该光学拾取系统可从光盘上读取信息信号。
本发明及上述和其他的目的与优点将从下面的对优选实施例的说明变得显而易见，结合以下的附图，其中：
图1表示已有技术的光学拾取系统的侧视图；
图2表示利用根据本发明的刀口的光学拾取系统的侧视图。
图2中显示了根据本发明的光学拾取系统200的侧视图，它包括：光源210，例如半导体激光或激光二极管，用于产生一光束；一物镜230；一光学检测器250和一带有一平行六面体底座222的刀口220，平行六面体底座由对光束透明的玻璃制成，该刀口220还有上、下、第1、第2侧表面223、225、224、226，其中刀口220可以例如通过分别在第1、第2侧表面224、226上沉淀能够反射光束的物质来制成，由此利用第1、第2侧表面224、226的每个部分作为第1、第2反射层227、228，其中第1反射层227从上表面223向下沿伸一第1预定长度，第2反射层228从上表面223向下沿伸一第2预定长度。在本发明的优选实施例中，因为刀口220是平行六面体的，上表面223与下表面225是平行的，上表面和第1侧表面223、224之间的角度等于下表面与第2侧表面225、226之间的角度，并且第2预定长度大于第1预定长度。另外，如果上表面和第2侧表面223、226之间的角度为45°，那么最好第2预定长度等于第1预定长度的二倍。
在系统200中，从光源210发出的光束进入刀口220的第2侧表面，其中上表面223和第2侧表面226之间的角度小于90°，并且第2侧表面226和下表面225之间的角度大于90°。第2侧表面226安排得使第1光轴260穿过第1反射层227的上边缘线的中心及第2反射层228的下边缘线的中心，其中该第1光轴260通过连接物镜230的中点和物镜230的焦点244而形成。光源210放置的位置使得第2侧表面相对于第2光轴262倾斜一预定的角度θ1，例如45°，第2光轴262是通过连接光源210的中点和第1光轴与第2反射层228的下边缘线的交点而形成的。值得注意的是从光源210发出的光束的中心线是沿着第2光轴262的方向。本例中，第2侧表面226的第2反射层228作为刀口，由此从光源210发出的光束被分成两部分，即由第2反射层228通过平行六面体底座222的上表面223反射到物镜230的第一部分和穿过第2侧表面226的其余部分的对读取存储在光盘240上的信息信号不起任何作用的光束的剩余部分。然后，物镜230将入射到其上的光束聚焦到光盘240的记录表面242上。随后，由光盘240的记录表面242反射的光束在第1反射层227反射之后，由物镜230聚焦到光学检测器250上，其中上表面223和第1侧表面224之间的角度大于90°。
图2中点划线代表由光盘240反射之后的由刀口220的第1反射层227反射的照射到光学检测器250上的光束的光路。光学检测器250放置在从第1侧表面224反射之后的光束的焦点处。光学检测器250的位置可以通过改变预定的角度θ1来调节，由此使得光学检测器250位于物镜230和光源210之间。
经过刀口220的第1反射层227的光束入射到光学检测器250的光电元件上(未示出)。每个光电元件能够产生光束强度测量值形式的输出。来自第1和第2光电元件的输出被发送到一个差分放大器(未示出)，差分放大器通过比较来自光学检测器250之第1和第2光电元件的输出来生成一个聚焦误差信号，由此使得光学拾取系统可读取光盘240的记录表面242上的信息信号。
与已有技术的光学拾取系统100相比，本发明的光学拾取系统200具有更简单的结构。这是通过在其中结合具有第1、第2反射层227、228的刀口220实现的，第1、第2反射层227、228用于反射入射到其上的光束，第2反射层228能够反射由光源210发出的光束的一部分到物镜230，且第1反射层227能够反射由光盘240反射的光束至光学检测器250，由此使得光学检测器250放置在光源210和物镜230之间，这将减小光学拾取系统200的长度。
尽管已结合优选实施例对本发明进行了描述，在不脱离后叙权利要求中所规定的本发明的精神和范围的情况下可以作出其他的修改和变化。

Claims (12)

1、一种光学拾取系统，用于利用刀口法读取存储于光盘上的信息信号，所述系统包括：
用于产生一光束的装置；
用于检测该光束的装置；及
具有第一和第二表面的光学装置，其中第二表面反射从该生成装置发出的光束的一部分至光盘，第一表面反射由该光盘反射的光束至该检测装置以由此使该光盘拾取系统可从该光盘上读取信息信号。
2、如权利要求1的光学拾取系统，还包括一物镜，用于将第二表面所反射的光束的一部分聚焦到该光盘上，及在该光学装置的第一表面反射之后将该光盘反射的光束聚焦到该检测装置上。
3、如权利要求2的光学拾取系统，其中该光学装置包括具有第一和第二表面并由对光束透明的玻璃制成的平行六面体底座，其中第二表面的一部分包覆一层可反射入射其上的光束的一部分的材料，第二表面的其余部分传送光束的其余部分，且第一表面的一部分包覆同样的材料，该材料反射从该光盘反射的光束至该检测装置。
4、如权利要求3的光学捡取系统，其中该第二表面安排得使得第一光轴穿过第一表面包覆部分的上边缘线的中心及第二表面的包覆部分的下边缘线的中心，其中第一光轴是由连接物镜的中点至物镜的焦点形成的。
5、如权利要求4的光学拾取系统，其中该生成装置所处的位置使得第二表面部分相对于第二光轴倾斜一预定的角度θ1，第二光轴是由连接生成装置的中点至第一光轴与第二表面的交点形成的。
6、如权利要求5的光学拾取系统，其中该预定的角度θ1为45度。
7、如权利要求6的光学拾取系统，其中该检测装置放置于被从第一表面的包覆部分反射之后的光束的焦点。
8、如权利要求7的光学拾取系统，其中从生成装置发出的光束的中心线沿着第二光轴方向。
9、如权利要求8的光学拾取系统，其中第二表面部分用作刀口。
10、一种用于光学拾取系统的光学设备，所述设备包括：
一平行六面体底座，由对光学拾取系统中所使用的光束透明的材料制成，具有第一、第二、上、下表面，其中第一、下表面之间的角度大于90度；
第一反射层，由能够反射光束的材料制成，形成在第一表面的一部分之上，其中该部分从平行六面体底座的上表面向下延伸一第一预定长度；及
第二反射层，由相同材料制成，形成在第二表面的一部分上，其中该部分从平行六面体底座的上表面向下延伸一第二预定长度。
11、如权利要求10的光学设备，其中该第二预定长度大于该第一预定长度。
12、如权利要求11的光学设备，其中若上表面与第二表面之间的角度为45°，由此使该第二预定长度等于第一预定长度的两倍。
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