CN118150092A - 一种振动试验装置及振动试验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种振动试验装置及振动试验方法。所述装置用于将待检测器件固定在振动设备的台面上;所述装置包括:一个正方体结构和两个固定结构;两个固定结构分别与正方体结构的两个相对的面固定连接;其中,正方体结构用于固定待检测器件;固定结构用于将正方体结构固定在振动设备的台面上。
Description
技术领域
本发明涉及振动试验技术领域,尤其涉及一种振动试验装置及振动试验方法。
背景技术
振动试验是模拟产品在运输、安装及使用环境中可能经历的各种振动环境。振动试验的主要目的是评估产品的耐振性,也就是检查产品是否能在承受特定频率和强度的振动后仍能正常工作。发明人在实现本发明的过程中发现:现有的振动试验的方法,通常是将待检测器件直接固定在振动设备的台面上,这就使得现有的振动试验方法存在一个时段内对待检测器件只能实现一个方向或维度的振动试验的问题;并且,由于受振动设备台面大小的限制,因此现有的振动试验方法一次能安装到台面上的待检测器件数量并不多,这也使得现有的振动试验方法还存在试验效率低的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种振动试验装置及振动试验方法,用于解决现有技术中存在的一个时段内对待检测器件只能实现一个方向或维度的振动试验及试验效率低的问题。
第一方面,本发明实施例提供了一种振动试验装置,用于将待检测器件固定在振动设备的台面上;所述装置包括:一个正方体结构10两个固定结构11;
所述两个固定结构11分别与所述正方体结构10的两个相对的面固定连接;其中,所述正方体结构10用于固定待检测器件;所述固定结构11用于将所述正方体结构10固定在所述振动设备的台面上。
可选的,所述正方体结构10的每一个面上都布置有螺孔100,所述正方体结构10每一个面上的螺孔100用于固定所述待检测器件。
可选的,所述固定结构11包括:一个固定板110和两个长方体固定架111;其中,所述固定板110与所述正方体结构的一个面固定连接;所述两个长方体固定架111分别固定在所述固定板110的两侧;所述长方体固定架111用于将所述正方体结构10固定在所述振动设备的台面上。
可选的,所述固定板110的中间设有一个开口;
所述固定板110通过中间的开口与所述正方体结构10的一个面固定连接;
所述长方体固定架111中,与所述固定板110固定连接的面相对的面及与该相对的面相邻的侧面上设有一个开口。
可选的,所述正方体结构10的每一个面上都安装有传感器;所述传感器用于在振动试验过程中实时的反馈所述待检测器件的试验数据,以实现根据所述传感器反馈的试验数据,实时的调整所述振动设备的参数。
第二方面,本发明实施例提供了一种应用于第一方面所述的振动试验装置的振动试验方法,所述方法,包括:
分别将多个待检测器件固定在正方体结构的每一个面上;
利用所述振动试验装置中的固定结构,将已固定有待检测器件的所述振动试验装置固定在振动设备的台面上;
根据预设的试验条件,配置所述振动设备的参数;
启动所述振动设备,对待检测器件进行振动试验。
可选的,所述分别将多个待检测器件固定在所述正方体结构的每一个面上的步骤,包括:
根据所述待检测器件的类型,分别将多个待检测器件固定在所述正方体结构的每一个面上。
可选的,所述待检测器件包括A类待检测器件、B类待检测器件和C类待检测器件中的至少一类,其中,所述A类待检测器件为需要在三个维度上进行振动试验的器件;所述B类待检测器件为需要在一个维度上进行振动试验的器件;所述C类待检测器件为需要在两个维度上进行振动试验的器件;
所述根据所述待检测器件的类型,分别将多个待检测器件固定在所述正方体结构的每一个面上的步骤,包括:
先将多个所述A类待检测器件,分别固定在所述正方体结构的每一个面上;
当所述A类待检测器件的数量不足于布满所述正方体结构的每一个面时,确认所述C类待检测器件的数量是否能够布满所述正方体结构的第一剩余面;其中,所述第一剩余面为在固定完全部的所述A类待检测器件后,所述正方体结构所剩余的面;
如果是,则将所述C类待检测器件固定在所述正方体结构的第一剩余面上;
如果否,则在将所述C类待检测器件全部固定在所述正方体结构的第一剩余面上后,确认是否有所述B类待检测器件;如果有,则将所述B类待检测器件固定在所述正方体结构的第二剩余面上;其中,所述第二剩余面为在固定完全部的所述A类待检测器件和全部的所述C类待检测器件后,所述正方体结构所剩余的面。
可选的,在所述启动所述振动设备,对待检测器件进行振动试验的步骤之后,还包括:
利用所述正方体结构上安装的传感器,在振动试验过程中实时的反馈所述待检测器件的试验数据;
根据所述传感器反馈的试验数据,实时的调整所述振动设备的参数。
而本发明实施例提供的振动试验装置中正方体结构的六个面可以对应X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2这六个方向,这就表明使用本发明实施例提供的振动试验装置,可以实现更符合电子器件振动方向的同时多个方向和维度对待检测器件进行振动试验,解决了现有技术中存在的一个时段内对待检测器件只能实现一个方向或维度的振动试验的问题。
另外,本发明实施例提供的振动试验装置,可以实现在正方体结构的六个面上都固定待检测器件;这就使得,使用本发明实施例提供的装置,每次振动试验的可检测的待检测器件数量,要远远多于现有技术中每次可检测的待检测器件的数量,从而也就解决了现有技术中所存在的试验效率低的问题。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1为本发明实施例提供的一种振动试验装置的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的一种振动试验装置中正方体结构的任意一个面的结构的一种示意图;
图3为非圆柱形半导体器件对加速力方向的取向的一种示意图;
图4为圆柱形半导体器件对加速力方向的取向的一种示意图;
图5为应用于本发明实施例提供的振动试验装置的振动试验方法的一种流程示意图;
图6为应用于本发明实施例提供的振动试验装置的振动试验方法的另一种流程示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
图1为本发明实施例提供的一种振动试验装置的结构示意图,该装置用于将待检测器件固定在振动设备的台面上。如图1所示,该装置包括:
一个正方体结构10和两个固定结构11;
两个固定结构11分别与正方体结构10的两个相对的面固定连接;其中,正方体结构10用于固定待检测器件;固定结构11用于将正方体结构10固定在振动设备的台面上。
具体的,图2为本实施例提供的一种振动试验装置中正方体结构10的任意一个面的结构的一种示意图。参见图2可知,正方体结构10的每一个面上都布置有螺孔100,正方体结构10每一个面上的螺孔100用于固定待检测器件。
在一种具体的实施例中固定结构11可以包括:一个固定板110和两个长方体固定架111;其中,固定板110可以与正方体结构10的一个面固定连接;两个长方体固定架111分别固定在固定板110的两侧;长方体固定架111可以用于将正方体结构10固定在振动设备的台面上;
具体的,固定板110的中间可以设有一个开口;固定板110可以通过中间的开口与正方体结构10的一个面固定连接;长方体固定架111中,与固定板110固定连接的面相对的面及与该相对的面相邻的侧面上设有一个开口。在实际应用中在长方体固定架111与固定板110固定连接的面相对的面及与该相对的面相邻的侧面上设置一个开口的目的是为了在用螺丝将装置固定在振动设备的台面上时,可以有足够大的操作空间。
在一种具体的实施例中,固定板110通过中间的开口与正方体结构10的一个面的边沿通过焊接的方式固定连接。当然,在另一种具体的实施例中固定板110通过中间的开口与正方体结构10的一个面的边沿通过螺丝固定的方式固定连接。两个长方体固定架111可以通过焊接的方式或螺丝固定的方式分别与固定板110的两侧固定连接。长方体固定架111可以通过螺丝固定或通过压板和螺栓固定的方式将正方体结构10固定述振动设备的台面上。
优选地,固定板110的中间的开口的大小形状与正方体结构10的正方形面的大小形状相匹配。具体地,固定板110的中间的开口为正方形且略大于正方体结构10的正方形面。固定板110的中间的开口的周向边沿各延伸出一个朝向正方体结构10方向延伸的短边,该短边用于将固定板110和正方体结构10固定起来。具体的,可以用焊接或螺丝固定的方式利用上述短边将固定板110和正方体结构10固定起来。
优选地,两个长方体固定架111位于固定板110的中间的开口两侧,两个长方体固定架111为中空的长方体结构,长方体固定架111与固定板110固定连接的面相对的面,及与该相对的面相邻且背向另一个长方体固定架111的侧面上设有一个开口,两个开口相连通且为梯形形状。
在本实施例中,两个长方体固定架111的作用是将正方体结构10固定在振动设备的台面上。在实际应用中,用户还可以根据实际情况将固定架设置成其他形状,只要能满足将正方体结构10固定在振动设备的台面上的要求即可。
在一种具体的实施例中,正方体结构10的每一个面上都安装有传感器;传感器用于在振动试验过程中实时的反馈待检测器件的试验数据,以实现根据传感器反馈的试验数据,实时的调整振动设备的参数。
在实际应用中,可以在正方体结构10的每一个面上都安装一个或多个螺纹传感器;用于在振动试验过程中实时的反馈待检测器件的试验数据。用户可以根据传感器反馈的试验数据实时的调整振动设备的参数,从而保证在整个振动试验过程中振动设备提供的振动条件能一直满足振动试验的要求。
对于大对数电子器件,例如半导体器件,半导体器件一般分为非圆柱形半导体器件和圆柱形半导体器件,分别参见图3和图4,可以看出它们对加速力方向的取向也就是它们可能的振动方向都分为六个方向:X轴方向的X1和X2、Y轴方向的Y1和Y2、Z轴方向的Z1和Z2。而本发明实施例提供的振动试验装置中正方体结构的六个面可以对应X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2这六个方向,这就表明使用本发明实施例提供的振动试验装置,可以实现更符合电子器件振动方向的同时多个方向和维度对待检测器件进行振动试验,解决了现有技术中存在的一个时段内对待检测器件只能实现一个方向或维度的振动试验的问题。
在实际应用中,还可以根据实际需求,分别将正方体结构的每一个面依次的固定在振动设备的台面上,进行振动试验。这使得当六个面依次转动完成后,正方体结构的每个面都完成了X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2这六个方向的振动试验,从而提高了振动试验的吞吐量。
另外,本发明实施例提供的振动试验装置,可以实现在正方体结构的六个面上都固定待检测器件;这就使得,使用本发明实施例提供的装置,每次振动试验的可检测的待检测器件数量,要远远多于现有技术中每次可检测的待检测器件的数量,从而也就解决了现有技术中所存在的试验效率低的问题。
参见图5,应用于本发明实施例提供的一种振动试验装置的振动试验方法,包括如下步骤:
S501:分别将多个待检测器件固定在正方体结构的每一个面上;
在具体实施例中,分别将多个待检测器件固定在正方体结构的每一个面上的步骤,可以包括:
根据待检测器件的类型,分别将多个待检测器件固定在正方体结构的每一个面上。
例如,待检测器件包括A类待检测器件、B类待检测器件和C类待检测器件中的至少一类,其中,A类待检测器件为需要在三个维度上进行振动试验的器件;B类待检测器件为需要在一个维度上进行振动试验的器件;C类待检测器件为需要在两个维度上进行振动试验的器件。那么,根据待检测器件的类型,分别将多个待检测器件固定在正方体结构的每一个面上的步骤,可以包括:
先将多个A类待检测器件,分别固定在正方体结构的每一个面上;
当A类待检测器件的数量不足于布满正方体结构的每一个面时,确认C类待检测器件的数量是否能够布满正方体结构的第一剩余面;其中,第一剩余面为在固定完全部的A类待检测器件后,正方体结构所剩余的面;
如果是,则将C类待检测器件固定在正方体结构的第一剩余面上;
如果否,则在将C类待检测器件全部固定在正方体结构的第一剩余面上后,将B类待检测器件固定在正方体结构的第二剩余面上;其中,第二剩余面为在固定完全部的A类待检测器件和全部的C类待检测器件后,正方体结构所剩余的面。
S502:利用振动试验装置中的固定结构,将已固定有待检测器件的振动试验装置固定在振动设备的台面上;
S503:根据预设的试验条件,配置振动设备的参数;
在实际应用中,预设的试验条件可以是对于振幅、频率、扫频次数及振动时长要求。根据振幅、频率、扫频次数及振动时长要求配置振动设备的参数,使得振动设备可以提供符合要求的振动。
S504:启动振动设备,对待检测器件进行振动试验。
在一种具体的实施例中,在振动试验装置的正方体结构上还安装有传感器,那么,在振动试验的过程中,还可以利用传感器,实时的反馈待检测器件的试验数据;使得用户可以根据传感器反馈的试验数据,实时的调整振动设备的参数,从而保证在整个振动试验过程中振动设备提供的振动条件可以一直满足振动试验的要求。
由于本发明实施例提供的振动试验装置的中正方体结构的六个面可以对应X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2这六个方向,这就表明使用本发明实施例提供的振动试验装置,可以实现更符合电子器件振动方向的同时多个方向和维度对待检测器件进行振动试验,解决了现有技术中存在的一个时段内对待检测器件只能实现一个方向或维度的振动试验的问题。
另外,本发明实施例提供的振动试验装置,可以实现在正方体结构的六个面上都固定待检测器件;这就使得,使用本发明实施例提供的装置,每次振动试验的可检测的待检测器件数量,要远远多于现有技术中每次可检测的待检测器件的数量,从而也就解决了现有技术中所存在的试验效率低的问题。
下面来举一个实际的例子对本发明实施例所提供的振动试验装置的使用方法做进一步更为详细的说明。在该实施例中振动试验装置中正方体结构的每一个面上都安装有螺纹传感器,具体的,螺纹传感器可以是通过螺纹固定在正方体结构的面上的。在该实施例中试验条件为:
1、振幅:使器件承受最少196m/s2的恒定峰值的加速度。
2、频率:振动频率在100Hz到2000Hz之间,近似对数变化。
3、扫频次数及振动时长:从100Hz到2000Hz并回到100Hz整个频率范围的扫频时间不少于4分钟,这个从100Hz到2000Hz并回到100Hz的循环在X1、Y1及Z1方向各进行4次(总计12次)。总计振动时长不少干48分钟。
待检测器件包括:需要在三个维度上进行振动试验的A类待检测器件、需要在一个维度上进行振动试验的B类待检测器件和需要在二个维度上进行振动试验的C类待检测器件中的至少一类。
参见图6,应用于本实施例所提供振动试验装置的振动试验方法的具体步骤如下:
S601:将多个A类待检测器件,分别固定在正方体结构的每一个面上;
S602:当A类待检测器件的数量不足于布满正方体结构的每一个面时,确认C类待检测器件的数量是否能够布满正方体结构的第一剩余面;如果是,则执行步骤S603;如果否,则执行步骤S604;
其中,第一剩余面为在固定完全部的A类待检测器件后,正方体结构所剩余的面。
具体的,如果A类待检测器件的数量可以布满正方体结构的所有面时,则在将A类待检测器件布满正方体结构的所有面后,就可以开始本次振动试验了。
S603:将C类待检测器件固定在正方体结构的第一剩余面上;
S604:在将C类待检测器件全部固定在正方体结构的第一剩余面上后,将B类待检测器件固定在正方体结构的第二剩余面上;
其中,第二剩余面为在固定完全部的A类待检测器件和全部的C类待检测器件后,正方体结构所剩余的面。
具体的,如果A类待检测器件不能布满正方体结构的六个面,那么可以与需要在一个维度上进行振动试验B类待检测器件,或与需要在两个维度上进行振动试验的C类待检测器件进行组合安装。不同类型的待检测器件在进行组合测试时,需要至少在一个维度上的试验条件是相同的,例如:至少在一个维度上振幅、频率、扫频次数或振动时长是相同。
具体的可以是,当A类待检测器件不能布满正方体结构的六个面时,确认剩余几个维度的面,其中,一个维度对应正方体结构的两个面。如果剩余两个维度的面,那么优先确认是否有待检测的C类待检测器件。当C类待检测器件能布满剩余的面时,在固定完C类待检测器件后,首先进行C类待检测器件所在的维度方向的振动试验。在完成C类待检测器件所在的维度方向的振动试验后,拆除C类待检测器件。继续确认是否仍有待检测的C类或B类待检测器件。
如果剩余一个维度的面,那么优先确认是否有待检测的B类待检测器件。当B类待检测器件能布满剩余的面时,在固定完B类待检测器件后,首先进行B类待检测器件所在的维度方向的振动试验。在完成B类待检测器件所在的维度方向的振动试验后,拆除B类待检测器件。继续确认是否仍有待检测的B类待检测器件。
正方体结构的六个面对应三个维度:X轴、Y轴和Z轴,每个维度可以对应有两个面用于固定待检测器件。在实际应用中,为了可以提供多任务组合在一起试验的效率和吞吐量,通常是先布置多个A类待检测器件,并且,在布置A类待检测器件时,优先使其布满一个维度的两个面。
S605:在已固定有待检测器件的振动试验装置中的正方体结构的六个面中确定一个待朝下的面;
在该实施例中,需要分别将正方体结构的每一个面作为一个待朝下的面依次的固定在振动设备的台面上,进行振动试验。
S606:利用振动试验装置中的固定结构,将振动试验装置中正方体结构的待朝下的面,朝下固定在振动设备的台面上;
S607:根据预设的试验条件,配置振动设备的参数;
在该实施例中,具体的是根据试验条件:
1、振幅:使器件承受最少196m/s2的恒定峰值的加速度。
2、频率:振动频率在100Hz到2000Hz之间,近似对数变化。
3、扫频次数及振动时长:从100Hz到2000Hz并回到100Hz整个频率范围的扫频时间不少于4分钟,这个循环在、X1、Y1及Z1方向各进行4次(总计12次)。总计振动时长不少于48分钟。配置振动设备的参数。
S608:启动振动设备,对待检测器件进行振动试验;
S609:在振动试验的过程中,利用螺纹传感器实时的反馈待检测器件的试验数据,使得用户可以根据传感器反馈的试验数据,实时的调整振动设备的参数;
S610:当本次振动试验结束时,判断已固定有待检测器件的振动试验装置中的正方体结构中是否还存在待朝下的面,如果是,则返回至步骤S605继续执行;如果否,则执行步骤S611;
S611:判断是否还有待检测器件,如果是则返回至步骤S601继续执行;如果否,则结束。
本发明实施例提供的振动试验装置中正方体结构的六个面可以对应X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2这六个方向,这就表明使用本发明实施例提供的振动试验装置,可以实现更符合电子器件振动方向的同时多个方向和维度对待检测器件进行振动试验,解决了现有技术中存在的一个时段内对待检测器件只能实现一个方向或维度的振动试验的问题。
在该实施例中,分别将正方体结构的每一个面依次的固定在振动设备的台面上,进行振动试验。这使得当六个面依次转动完成后,正方体结构的每个面都完成了X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2这六个方向的振动试验,从而提高了振动试验的吞吐量。
另外,本发明实施例提供的振动试验装置,可以实现在正方体结构的六个面上都固定待检测器件;这就使得,使用本发明实施例提供的装置,每次振动试验的可检测的待检测器件数量,要远远多于现有技术中每次可检测的待检测器件的数量,从而也就解决了现有技术中所存在的试验效率低的问题。
本领域内的技术人员应明白,本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (9)
1.一种振动试验装置,其特征在于,用于将待检测器件固定在振动设备的台面上;所述装置包括:一个正方体结构(10)和两个固定结构(11);
所述两个固定结构(11)分别与所述正方体结构(10)的两个相对的面固定连接;其中,所述正方体结构(10)用于固定待检测器件;所述固定结构(11)用于将所述正方体结构(10)固定在所述振动设备的台面上。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述正方体结构(10)的每一个面上都布置有螺孔(100),所述正方体结构(10)每一个面上的螺孔(100)用于固定所述待检测器件。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述固定结构(11)包括:一个固定板(110)和两个长方体固定架(111);其中,所述固定板(110)与所述正方体结构(10)的一个面固定连接;所述两个长方体固定架(111)分别固定在所述固定板(110)的两侧;所述长方体固定架(111)用于将所述正方体结构(10)固定在所述振动设备的台面上。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,
所述固定板(110)的中间设有一个开口;
所述固定板(110)通过中间的开口与所述正方体结构(10)的一个面固定连接;
所述长方体固定架(111)中,与所述固定板(110)固定连接的面相对的面及与该相对的面相邻的侧面上设有一个开口。
5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述正方体结构(10)的每一个面上都安装有传感器;
所述传感器用于在振动试验过程中实时的反馈所述待检测器件的试验数据,以实现根据所述传感器反馈的试验数据,实时的调整所述振动设备的参数。
6.一种振动试验方法,其特征在于,应用于权利要求1-5任一项所述的振动试验装置,所述方法,包括:
分别将多个待检测器件固定在正方体结构的每一个面上;
利用所述振动试验装置中的固定结构,将已固定有待检测器件的所述振动试验装置固定在振动设备的台面上;
根据预设的试验条件,配置所述振动设备的参数;
启动所述振动设备,对待检测器件进行振动试验。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述分别将多个待检测器件固定在正方体结构的每一个面上的步骤,包括:
根据所述待检测器件的类型,分别将多个待检测器件固定在所述正方体结构的每一个面上。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,
所述待检测器件包括A类待检测器件、B类待检测器件和C类待检测器件中的至少一类,其中,所述A类待检测器件为需要在三个维度上进行振动试验的器件;所述B类待检测器件为需要在一个维度上进行振动试验的器件;所述C类待检测器件为需要在两个维度上进行振动试验的器件;
所述根据所述待检测器件的类型,分别将多个待检测器件固定在所述正方体结构的每一个面上的步骤,包括:
先将多个所述A类待检测器件,分别固定在所述正方体结构的每一个面上;
当所述A类待检测器件的数量不足于布满所述正方体结构的每一个面时,确认所述C类待检测器件的数量是否能够布满所述正方体结构的第一剩余面;其中,所述第一剩余面为在固定完全部的所述A类待检测器件后,所述正方体结构所剩余的面;
如果是,则将所述C类待检测器件固定在所述正方体结构的第一剩余面上;
如果否,则在将所述C类待检测器件全部固定在所述正方体结构的第一剩余面上后,将所述B类待检测器件固定在所述正方体结构的第二剩余面上;其中,所述第二剩余面为在固定完全部的所述A类待检测器件和全部的所述C类待检测器件后,所述正方体结构所剩余的面。
9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述启动所述振动设备,对待检测器件进行振动试验的步骤之后,还包括:
利用所述正方体结构上安装的传感器,在振动试验过程中实时的反馈所述待检测器件的试验数据;
根据所述传感器反馈的试验数据,实时的调整所述振动设备的参数。
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