CN118035024A - 通用端口的功能测试装置以及方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种通用端口的功能测试装置以及方法，包括：信号选择传输模块与集成芯片的多个通用端口连接，每个通用端口与多个功能单元连接；每个功能测试单元与其对应的信号选择传输模块连接以及上位机连接；信号选择传输模块将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使目标测试单元基于输出信号产生对应的测试信号，并将测试信号传输至上位机进行功能测试结果分析。在针对不同的功能单元进行测试时，通过信号选择传输模块可以将每个通用端口的输出信号传输至对应的功能测试单元，使得功能测试单元能够复用，从而在通用端口的功能复用状态检测时降低了测试成本。

Description

通用端口的功能测试装置以及方法

技术领域

本申请涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种通用端口的功能测试装置以及方法。

背景技术

随着设计与制造技术的发展，集成电路设计从晶体管的集成发展到逻辑电路的集成，现在又发展到集成电路知识产权核(Intellectual Property core，IP)的集成，以形成集成芯片(System-on-a-Chip，SOC)，从而能够有效地降低电子产品或信息系统产品的开发成本，缩短开发周期。由于集成芯片中通常设置有用于实现功能复用的多个通用输入/输出端口(General-Purpose Input/Output Ports，GPIO)，通过传统的测试方式对集成芯片中每个通用输入/输出端口进行功能复用状态测试时，通用输入/输出端口的功能复用状态测试的测试成本较高，因此如何对通用输入/输出端口的功能复用状态进行低成本的测试为当前亟待解决的问题。

发明内容

本申请提出了一种通用端口的功能测试装置以及方法。

第一方面，本申请实施例提供了一种通用端口的功能测试装置，所述通用端口的功能测试装置包括：信号选择传输模块，所述信号选择传输模块的多个第一传输端口用于与集成芯片的多个通用端口一一对应连接，所述集成芯片包括多个功能单元，每个所述通用端口用于与多个所述功能单元连接；多个功能测试单元，所述多个功能测试单元与所述信号选择传输模块的多个第二传输端口一一对应，每个所述功能测试单元的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块的第二传输端口连接，每个所述功能测试单元的第二传输端口均与上位机连接，所述多个功能测试单元与所述多个功能单元一一对应；其中，信号选择传输模块用于将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使所述目标测试单元基于所述输出信号产生对应的测试信号，并将所述测试信号传输至所述上位机进行功能测试结果分析，所述目标通用端口为存在输出信号的任一通用端口，所述目标测试单元为产生所述输出信号的功能单元所对应的功能测试单元。

第二方面，本申请实施例提供了一种通用端口的功能测试方法，应用于上述的通用端口的功能测试装置，所述方法包括：通过信号选择传输模块的多个第一传输端口与集成芯片的多个通用端口一一对应连接，所述集成芯片包括多个功能单元，每个所述通用端口用于与多个所述功能单元连接；根据多个功能测试单元与所述信号选择传输模块的多个第二传输端口一一对应，通过每个所述功能测试单元的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块的第二传输端口连接，每个所述功能测试单元的第二传输端口均与上位机连接，所述多个功能测试单元与所述功能单元一一对应；通过信号选择传输模块将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使所述目标测试单元基于所述输出信号产生对应的测试信号，并将所述测试信号传输至所述上位机进行功能测试结果分析，所述目标通用端口为存在输出信号的任一通用端口，所述目标测试单元为产生所述输出信号的功能单元所对应的功能测试单元。

本申请实施例提供的通用端口的功能测试装置包括：信号选择传输模块，信号选择传输模块的多个第一传输端口用于与集成芯片的多个通用端口一一对应连接，集成芯片包括多个功能单元，每个通用端口用于与多个功能单元连接；多个功能测试单元，多个功能测试单元与信号选择传输模块的多个第二传输端口一一对应，每个功能测试单元的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块的第二传输端口连接，每个功能测试单元的第二传输端口均与上位机连接，多个功能测试单元与多个功能单元一一对应；其中，信号选择传输模块用于将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使目标测试单元基于输出信号产生对应的测试信号，并将测试信号传输至上位机进行功能测试结果分析，目标通用端口为存在输出信号的任一通用端口，目标测试单元为产生输出信号的功能单元所对应的功能测试单元。基于此，由于每个功能测试单元可以用于对对应的功能单元输出的信号进行测试，在针对不同的功能单元进行测试时，通过信号选择传输模块可以将每个通用端口的输出信号传输至对应的功能测试单元，基于每次检测时多个通用端口与多个功能测试单元之间的连接线序不同，通过设置信号选择传输模块实现连接线序的灵活调整，避免了相关技术中需要针对每次功能测试对应设计功能测试单元，从而实现了通用端口的功能测试装置中功能测试单元的复用，降低了通用端口的功能复用状态的检测成本。

本申请的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本申请一实施例提供的通用端口的功能测试装置的结构示意图。

图2示出了本申请另一实施例提供的通用端口的功能测试装置的结构示意图。

图3示出了本申请提供的信号选择传输模块的一种连接线序示意图。

图4示出了本申请提供的信号选择传输模块的另一种连接线序示意图。

图5示出了本申请又一实施例提供的通用端口的功能测试装置的结构示意图。

图6示出了本申请一实施例提供的信号选择传输模块的结构示意图。

图7示出了本申请一实施例提供的通用端口的功能测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明的是，在本申请的说明书、权利要求书及上述附图中描述的一些流程中，包含了按照特定顺序出现的多个操作，这些操作可以不按照其在本文中出现的顺序来执行或并行执行。操作的序号如S110、S120等，仅仅是用于区分各个不同的操作，序号本身不代表任何的执行顺序。另外，这些流程可以包括更多或更少的操作，并且这些操作可以按顺序执行或并行执行。以及，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或子模块的过程、方法、系统、产品或服务器不必限于清楚地列出的那些步骤或子模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或子模块。

请参阅图1，图1示出了本申请一实施例提供的通用端口的功能测试装置的结构示意图。下面将结合图1对本申请实施例提供的通用端口的功能测试装置100进行详细阐述。本实施例提供的通用端口的功能测试装置100至少包括信号选择传输模块110以及多个功能测试单元120。

可选地，集成芯片200通常配置有一个以上的嵌入式中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)或数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)，能够用于实现复杂的系统功能。其中，集成芯片200中包括多个功能单元210以及多个通用端口220，且多个功能单元210中包含用于实现不同应用功能的多类功能单元210，每类功能单元210的数量至少为一个，且每个通用端口220用于与多个功能单元210连接，即每个通用端口220与集成芯片200中多个功能单元210的至少部分功能单元210连接，实现了多个通用端口220的功能复用。

可选地，通用端口220为集成芯片200上的通用输入/输出端口(General-PurposeInput/Output Ports，GPIO)，多个功能单元210通过一个通用端口220连接到外部设备或者电路时，该通用端口220一次只允许一个功能单元210连接到对应的外部设备或者电路，这样可以确保共用同一个通用端口220的多个功能单元210之间不会发生冲突。

其中，在对集成芯片200进行开发设计时，需要对集成芯片200中每个通用端口220的功能复用状态进行检测，而在对通用端口220的功能复用状态进行检测时，需要在通用端口220连接的每一个功能单元210连接至对应的外部设备或者电路时，对通用端口220传输的信号进行检测。本申请实施例提供的通用端口的功能测试装置100能够对集成芯片200中的多个通用端口220的功能复用状态进行自动检测。

在本实施例中，在对多个通用端口220的功能复用状态进行检测时，通过在通用端口的功能测试装置100设置多个功能测试单元120，多个功能测试单元120与多个功能单元210一一对应。每个功能单元210对应的功能测试单元120用于实现每个功能单元210对应的应用功能，能够对功能单元210进行功能检测，判断功能单元210是否达到使用要求。其中，功能单元210基于预设输入信号产生输出信号，功能测试单元120在接收到对应的功能单元210产生的输出信号后，执行功能单元210对应的应用功能，从而产生对应的测试信号，在信号传输质量较好，传输至功能测试单元120中的输出信号的信号值处于理想的信号值范围时，功能测试单元120基于输出信号产生的测试信号才能够与预设输入信号所对应的预设结果信号匹配。

在多个通用端口220中的目标通用端口存在输出信号时，由于产生输出信号的功能单元210所对应的功能测试单元120为目标测试单元，将目标通用端口连接至目标测试单元，以使目标测试单元能够基于目标通用端口输出的输出信号产生对应的测试信号，从而基于目标测试单元产生的测试信号对目标输入端口的功能复用状态进行检测。

可选地，当多个功能单元210中包含用于实现不同应用功能的多类功能单元210，多个功能测试单元120包括多类功能测试单元120，多类功能测试单元120与多类功能单元210一一对应，每类功能测试单元120的数量为一个。可选地，在对多个通用端口220的功能复用状态进行检测时，需要将每个通用端口220连接至产生输出信号的功能单元210所对应的功能测试单元120，由于每次检测时多个通用端口220中每个通用端口220对应的用于产生输出信号的功能单元210不同，导致每次检测时多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的连接线序不同。

在相关技术中，基于每次检测时多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的连接线序不同，设置包括多个功能测试单元120的测试子卡，不同测试子卡上多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的连接线序不同。在每次检测时根据多个通用端口220中每个通用端口220对应的用于产生输出信号的功能单元210，更换与集成芯片200连接的测试子卡，以使每个通用端口220连接至测试子卡上对应的功能测试单元120。由于多个功能单元210包括多类功能单元210，且每类功能单元210的数量至少为一个，不同测试子卡上设置的多个功能测试单元120可能存在重复，即不同测试子卡上设有同一类功能测试单元120，导致通用端口220的功能测试成本较高。

可选地，若设置包括多个功能测试单元120的一个测试子卡，基于每次检测时多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的连接线序不同，在每次检测时通过杜邦线或者飞线将每个通用端口220连接至测试子卡上对应的功能测试单元120，以改变测试子卡上的连接线序，能够避免功能测试单元120的复用，降低通用端口220的功能复用状态的检测成本。但由于通过杜邦线或者飞线连接多个通用端口220与多个功能测试单元120时，由于信号传输过程中缺失了参考层接地，信号传输的抗干扰能力较弱，最终传输至功能检测单元的输出信号不理想，从而导致对通用端口220的功能检测不准确。

在本实施例中，通过设置信号选择传输模块110，信号选择传输模块110的多个第一传输端口用于与集成芯片200的多个通用端口220一一对应连接，多个功能测试单元120与信号选择传输模块110的多个第二传输端口一一对应，每个功能测试单元120的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块110的第二传输端口连接。

可选地，信号选择传输模块110用于将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使目标测试单元基于输出信号产生对应的测试信号，目标通用端口为存在输出信号的任一通用端口220，目标测试单元为产生输出信号的功能单元210所对应的功能测试单元120。其中，每个功能测试单元120的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块110的第二传输端口连接，每个功能测试单元120的第二传输端口均与上位机130连接，目标测试单元基于输出信号产生对应的测试信号时，目标测试单元通过第二传输端口将测试信号传输至上位机130进行功能测试结果分析。

可选地，输出信号是目标测试单元对应的功能单元210基于预设输入信号产生的，上位机130用于将输出信号与预设输入信号所对应的预设结果信号进行匹配，并基于信号匹配结果确定目标通用端口的功能复用状态。

进一步地，上位机130用于在信号匹配结果表征输出信号与预设输入信号所对应的预设结果信号不匹配的情况下，输出第一提示信息，第一提示信息用于提示目标通用端口的功能复用状态异常。其中，第一提示信能够帮助设计人员迅速定位出功能复用状态异常的通用端口220，并能够用于提示设计人员对功能复用状态异常的通用端口220进行及时调整。

可选地，上位机130还用于在信号匹配结果表征输出信号与预设输入信号所对应的预设结果信号匹配的情况下，输出第二提示信息，第二提示信息用于提示目标通用端口的功能复用状态正常。

在本实施例中，基于每次检测时多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的连接线序不同，通过改变信号选择传输模块110中的多个第一传输端口与多个第二传输端口之间的连接线序，能够通过信号选择传输模块110将每个通用端口220连接至对应的功能测试单元120。此时，本实施例的通用端口的功能测试装置100中设置的多个功能测试单元120可以复用，降低了通用端口220的功能复用状态的检测成本；并且，本实施例中使用的用于连接多个通用端口220与多个功能测试单元120的信号选择传输模块110中设有接地端子，即信号选择传输模块110中存在参考地，能够保证多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的信号传输质量，从而使得本实施例的通用端口的功能测试装置100在完成对多个通用端口220的功能复用状态检测时，能够在低检测成本的同时实现高质量的检测。

在本申请的实施例中，在针对不同的功能单元210进行测试时，通过信号选择传输模块110可以将每个通用端口220的输出信号传输至对应的功能测试单元120，基于每次检测时多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的连接线序不同，通过设置能够将每个通用端口220的输出信号传输至对应的功能测试单元120的信号选择传输模块110，即信号选择传输模块110能够实现连接线序的灵活调整，从而实现了通用端口的功能测试装置100中功能测试单元120的复用，降低了通用端口220的功能复用状态的检测成本；并且，由于信号选择传输模块110能够保证多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的信号传输质量，从而提升了通用端口220的功能复用状态检测的准确性。

请参阅图2，图2示出了本申请另一实施例提供的通用端口的功能测试装置的结构示意图。如图2所示，本实施例提供的通用端口的功能测试装置至少包括信号选择传输模块110以及多个功能测试单元120。

可选地，通用端口的功能测试装置还包括测试子卡140，信号选择传输模块110以及多个功能测试单元120均设置于测试子卡140。集成芯片上设有主板连接器公座，主板连接器公座与多个通用端口连接；测试子卡140上设置有主板连接器母座，主板连接器母座与信号选择传输模块110的多个第一传输端口连接，以使得信号选择传输模块110的多个第一传输端口能够通过主板连接器母座以及主板连接器公座间接连接至多个通用端口。

在本实施例中，信号选择传输模块110用于从上位机130获取配置文件，配置文件至少包括目标通用端口对应的信号选择传输模块110的第一传输端口与目标测试单元对应的信号选择传输模块110的第二传输端口之间的传输逻辑电路的配置参数，以基于传输逻辑电路的配置参数，对目标通用端口对应的信号选择传输模块110的第一传输端口与目标测试单元对应的信号选择传输模块110的第二传输端口之间的传输逻辑电路进行配置。其中，信号选择传输模块110的多个第一传输端口以及多个第二传输端口为信号传输管脚，且信号传输管脚可以为高速连接器，通过在信号选择传输模块110中使用高速连接器，能够提升信号选择传输模块110的信号传输速度以及信号传输质量。

可选地，通用端口的功能测试装置还包括测试夹具150，测试夹具150设置于信号选择传输模块110，每个功能测试单元120的第二传输端口与测试夹具150连接，并通过测试夹具150与上位机130连接，目标测试单元用于通过测试夹具150将测试信号传输至上位机130进行功能测试结果分析。

具体地，信号选择传输模块110设置有测试点，每个功能测试单元120的第二传输端口连接至信号选择传输模块110上的测试点，每个功能测试单元120基于输出信号产生对应的测试信号后，通过第二传输端口将测试信号传输至信号选择传输模块110上的测试点。测试夹具150插设于信号选择传输模块110上的测试点，从而信号选择传输模块110能够将将测试信号传输至上位机130，且测试夹具150的设置能够实现通用端口的功能测试过程的自动化，从而提升了通用端口的功能测试的自动化程度。

可选地，信号选择传输模块110至少包括复杂可编程逻辑器件(ComplexProgrammable Logic Device，CPLD)以及现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray，FPGA)中的一种，在此不做限制。上位机130中预先存储有对应于多个第一传输端口与多个第二传输端口之间的不同连接线序的多个配置文件，配置文件(即位流文件)是一种需要加载到复杂可编程逻辑器件或现场可编程门阵列中以执行特定硬件设计的二进制数据文件，其记载了传输逻辑电路的配置参数，下载配置文件到信号选择传输模块110就可以实现所涉及的特定电路功能。

需要说明的是，集成芯片中的多个功能单元210包括但不限于联合测试工作组(Joint Test Action Group，JTAG)、以太网(Ethernet，ETH)、通用异步收发传输器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，UART)、NOR闪存、同步串行外设(SDHPhysical Interface，SPI)、控制器域网(Controller Area Network，CAN)、嵌入式多媒体卡(Embedded Multi Media Card，EMMC)、NAND闪存、服务数据对象(Service DataObjects，SDO)、通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)，多个功能测试单元120与多个功能单元210一一对应。

在本实施例中，集成芯片至少包括第一通用端口221、第二通用端口222、第三通用端口223、第四通用端口224以及第五通用端口225，且每个通用端口与多个功能单元210连接。

如图3所示，图3示出了本申请提供的信号选择传输模块110的一种连接线序示意图。当第一通用端口221接收到UART模块的输出信号，第三通用端口223接收到USB模块的输出信号、第五通用端口225接收到NAND模块的输出信号时，通过改变信号选择传输模块110中的多个第一传输端口与多个第二传输端口之间的连接线序，信号选择传输模块110能够将第一通用端口221连接至UART测试模块、将第三通用端口223连接至USB测试模块、将第五通用端口225连接至NAND测试模块。

如图4所示，图4示出了本申请提供的信号选择传输模块110的另一种连接线序示意图。当第一通用端口221接收到NAND模块的输出信号，第三通用端口223接收到UART模块的输出信号、第五通用端口225接收到USB模块的输出信号时，通过改变信号选择传输模块110中的多个第一传输端口与多个第二传输端口之间的连接线序，信号选择传输模块110能够将第一通用端口221连接至NAND测试模块、将第三通用端口223连接至UART测试模块、将第五通用端口225连接至USB测试模块。

在本实施例中，基于每次检测时多个通用端口与多个功能测试单元120之间的连接线序不同，信号选择传输模块110通过从上位机130获取对应的配置文件，对每个通用端口对应的信号选择传输模块110的第一传输端口与功能测试单元120对应的信号选择传输模块110的第二传输端口之间的传输逻辑电路进行配置，能够将每个通用端口连接至对应的功能测试单元120。此时，通过使用配置文件对信号选择传输模块110中的连接线序进行调整，能够实现对连接线序的灵活调整，而通用端口的功能测试装置中设置的多个功能测试单元120可以复用，降低了通用端口的功能复用状态的检测成本；并且，由于信号选择传输模块110中存在参考地，能够保证多个通用端口与多个功能测试单元120之间的信号传输质量，从而保证了本实施例对通用端口的功能复用状态检测的准确性。

请参阅图5，图5示出了本申请又一实施例提供的通用端口的功能测试装置的结构示意图。如图5所示，本实施例提供的通用端口的功能测试装置至少包括信号选择传输模块110、多个功能测试单元120以及上位机130。

在本实施例中，信号选择传输模块110为可更换的信号选择传输插卡，基于多个通用端口220与多个功能测试单元120之间具有多种不同的连接线序，设计多个信号选择传输插卡。根据每次测试时多个通用端口220中每个通用端口220对应的功能测试单元120，选择具有对应连接线序的信号选择传输插卡，从而通过信号选择传输插卡将每个通用端口220连接至对应的功能测试单元120。

在本实施例中，信号选择传输模块110以及多个功能测试单元120均设置于测试子卡140，且集成芯片上设有主板连接器公座，主板连接器公座与多个通用端口220连接；测试子卡140上设置有主板连接器母座，主板连接器母座与信号选择传输模块110的多个第一传输端口连接，以使得信号选择传输模块110的多个第一传输端口能够通过主板连接器母座以及主板连接器公座间接连接至多个通用端口220。

可选地，如图6所示，图6示出了本申请一实施例提供的信号选择传输模块110的结构示意图。本实施例的信号选择传输模块110包括连接公座111以及连接母座112。

在本实施例中，连接公座111设置于测试子卡140，连接公座111上设有信号选择传输模块110的多个第一传输端口以及多个第二传输端口，连接公座111分别与多个通用端口以及多个功能测试单元的第一传输端口间接连接。

在本实施例中，连接母座112插置于连接公座111，连接母座112包括多个第一传输端口以及多个第二传输端口，连接母座112的第一传输接口连接至连接公座111上对应的第一传输接口，连接母座112的第二传输接口连接至连接公座111上对应的第二传输接口。连接母座112上设置有不同的不同连接线序对应的传输逻辑电路，以通过连接公座111以及连接母座112将每个通用端口连接至每个通用端口对应的功能测试单元的第一传输端口。

在本实施例中，基于每次检测时多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的连接线序不同，通过更换为信号选择传输插卡的信号选择传输模块110，能够将每个通用端口220连接至对应的功能测试单元120。此时，通用端口的功能测试装置中设置的多个功能测试单元120可以复用，降低了通用端口220的功能复用状态的检测成本；并且，由于信号选择传输模块110中存在参考地，能够保证多个通用端口220与多个功能测试单元120之间的信号传输质量，从而保证了本实施例对通用端口220的功能复用状态检测的准确性。

请参照图7，图7示出了本申请一实施例提供的通用端口的功能测试方法的流程示意图，应用于前述任一实施例提及的通用端口的功能装置。下面将结合图7对本申请实施例提供的通用端口的功能测试方法进行详细阐述。该通用端口的功能测试方法可以包括以下步骤：

步骤S310：通过信号选择传输模块的多个第一传输端口与集成芯片的多个通用端口一一对应连接，集成芯片包括多个功能单元，每个通用端口用于与多个功能单元连接。

在本实施例中，集成芯片中的每个通用端口用于与多个功能单元连接，通过信号选择传输模块的多个第一传输端口与集成芯片的多个通用端口一一对应连接，将信号选择传输模块连接至集成芯片的多个通用端口。

步骤S320：根据多个功能测试单元与信号选择传输模块的多个第二传输端口一一对应，通过每个功能测试单元的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块的第二传输端口连接，每个功能测试单元的第二传输端口均与上位机连接，多个功能测试单元与功能单元一一对应。

在本实施例中，根据多个功能测试单元与信号选择传输模块的多个第二传输端口一一对应，且每个功能测试单元的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块的第二传输端口对应，能够通过信号选择传输模块的多个第二传输端口与多个功能测试单元的第一传输端口一一对应，将信号选择传输模块连接至多个功能测试单元。

步骤S330：通过信号选择传输模块将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使目标测试单元基于输出信号产生对应的测试信号，并将测试信号传输至上位机进行功能测试结果分析，目标通用端口为存在输出信号的任一通用端口，目标测试单元为产生输出信号的功能单元所对应的功能测试单元。

在本实施例中，对集成芯片中每个通用端口的功能复用状态进行检测时，需要将每个通用端口连接至产生输出信号的功能单元所对应的功能测试单元，基于每次检测时多个通用端口与多个功能测试单元之间的连接线序不同，在集成芯片与多个功能测试单元之间设置能够用于调整多个通用端口与多个功能测试单元之间的连接线序的信号选择传输模块，能够将每个通用端口连接至每个通用端口对应的功能测试单元。

可选地，信号选择传输模块用于将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使目标测试单元基于输出信号产生对应的测试信号，目标通用端口为存在输出信号的任一通用端口，目标测试单元为产生输出信号的功能单元所对应的功能测试单元。目标测试单元基于输出信号产生对应的测试信号时，目标测试单元通过第二传输端口将测试信号传输至上位机进行功能测试结果分析。

可选地，输出信号是目标测试单元对应的功能单元基于预设输入信号产生的，上位机用于将输出信号与预设输入信号所对应的预设结果信号进行匹配，并基于信号匹配结果确定目标通用端口的功能复用状态。

进一步地，上位机用于在信号匹配结果表征输出信号与预设输入信号所对应的预设结果信号不匹配的情况下，输出第一提示信息，第一提示信息用于提示目标通用端口的功能复用状态异常。其中，第一提示信能够帮助设计人员迅速定位出功能复用状态异常的通用端口，并能够用于提示设计人员对功能复用状态异常的通用端口进行及时调整。

可选地，上位机还用于在信号匹配结果表征输出信号与预设输入信号所对应的预设结果信号匹配的情况下，输出第二提示信息，第二提示信息用于提示目标通用端口的功能复用状态正常。

在本实施例中，基于每次检测时多个通用端口与多个功能测试单元之间的连接线序不同，通过改变信号选择传输模块中的多个第一传输端口与多个第二传输端口之间的连接线序，能够在每次检测时通过信号选择传输模块将每个通用端口连接至对应的功能测试单元，从而实现了对多个通用端口的功能复用状态检测时的高效检测。并且，由于本申请实施例通过使用连接线序可调整的信号选择传输模块，信号选择传输模块能够保证信号传输质量，且在检测时多个功能测试单元可以复用，从而保证对通用端口的功能复用状态检测的准确性的同时，降低了通用端口的功能复用状态的检测成本。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不驱使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种通用端口的功能测试装置，其特征在于，所述通用端口的功能测试装置包括：

信号选择传输模块，所述信号选择传输模块的多个第一传输端口用于与集成芯片的多个通用端口一一对应连接，所述集成芯片包括多个功能单元，每个所述通用端口用于与多个所述功能单元连接；

多个功能测试单元，所述多个功能测试单元与所述信号选择传输模块的多个第二传输端口一一对应，每个所述功能测试单元的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块的第二传输端口连接，每个所述功能测试单元的第二传输端口均与上位机连接，所述多个功能测试单元与所述多个功能单元一一对应；

其中，信号选择传输模块用于将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使所述目标测试单元基于所述输出信号产生对应的测试信号，并将所述测试信号传输至所述上位机进行功能测试结果分析，所述目标通用端口为存在输出信号的任一通用端口，所述目标测试单元为产生所述输出信号的功能单元所对应的功能测试单元。

2.根据权利要求1所述的通用端口的功能测试装置，其特征在于，所述通用端口的功能测试装置还包括测试夹具，所述测试夹具设置于所述信号选择传输模块，每个所述功能测试单元的第二传输端口与所述测试夹具连接，并通过所述测试夹具与所述上位机连接；

所述目标测试单元用于通过所述测试夹具将所述测试信号传输至所述上位机进行功能测试结果分析。

3.根据权利要求2所述的通用端口的功能测试装置，其特征在于，所述输出信号是所述目标测试单元对应的功能单元基于预设输入信号产生的，所述上位机用于将所述输出信号与所述预设输入信号所对应的预设结果信号进行匹配，并基于信号匹配结果确定所述目标通用端口的功能复用状态。

4.根据权利要求3所述的通用端口的功能测试装置，其特征在于，

所述上位机用于在所述信号匹配结果表征所述输出信号与所述预设输入信号所对应的预设结果信号不匹配的情况下，输出第一提示信息，所述第一提示信息用于提示所述目标通用端口的功能复用状态异常；

所述上位机用于在所述信号匹配结果表征所述输出信号与所述预设输入信号所对应的预设结果信号匹配的情况下，输出第二提示信息，所述第二提示信息用于提示所述目标通用端口的功能复用状态正常。

5.根据权利要求4所述的通用端口的功能测试装置，其特征在于，所述信号选择传输模块用于从所述上位机获取配置文件，所述配置文件至少包括所述目标通用端口对应的信号选择传输模块的第一传输端口与所述目标测试单元对应的信号选择传输模块的第二传输端口之间的传输逻辑电路的配置参数，以基于所述传输逻辑电路的配置参数，对所述目标通用端口对应的信号选择传输模块的第一传输端口与所述目标测试单元对应的信号选择传输模块的第二传输端口之间的传输逻辑电路进行配置。

6.根据权利要求1至5任一项所述的通用端口的功能测试装置，其特征在于，所述通用端口的功能测试装置还包括测试子卡，所述信号选择传输模块以及所述多个功能测试单元均设置于所述测试子卡。

7.根据权利要求6所述的通用端口的功能测试装置，其特征在于，所述信号选择传输模块包括连接公座，所述连接公座设置于所述测试子卡，所述连接公座分别与所述多个通用端口以及所述多个功能测试单元的第一传输端口连接；

所述信号选择传输模块还包括连接母座，所述连接母座插置于所述连接公座，所述连接母座用于将所述目标通用端口连接至所述目标通用端口对应的所述目标功能测试单元的第一传输端口。

8.根据权利要求1至5任一项所述的通用端口的功能测试装置，其特征在于，所述信号选择传输模块的多个第一传输端口以及多个第二传输端口为高速连接器。

9.根据权利要求1至5任一项所述的通用端口的功能测试装置，其特征在于，所述信号选择传输模块至少包括复杂可编程逻辑器件以及现场可编程门阵列中的一种。

10.一种通用端口的功能测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1至9任一项所述的通用端口的功能测试装置，所述方法包括：

通过信号选择传输模块的多个第一传输端口与集成芯片的多个通用端口一一对应连接，所述集成芯片包括多个功能单元，每个所述通用端口用于与多个所述功能单元连接；

根据多个功能测试单元与所述信号选择传输模块的多个第二传输端口一一对应，通过每个所述功能测试单元的第一传输端口与其对应的信号选择传输模块的第二传输端口连接，每个所述功能测试单元的第二传输端口均与上位机连接，所述多个功能测试单元与所述功能单元一一对应；

通过信号选择传输模块将目标通用端口的输出信号传输至目标测试单元，以使所述目标测试单元基于所述输出信号产生对应的测试信号，并将所述测试信号传输至所述上位机进行功能测试结果分析，所述目标通用端口为存在输出信号的任一通用端口，所述目标测试单元为产生所述输出信号的功能单元所对应的功能测试单元。