CN117711476A - 存储装置的生产方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明涉及存储装置生产领域，公开了一种存储装置的生产方法及存储介质。该方法包括：根据预置扫描数据，对预置初步存储装置进行扫描数据写入处理，得到扫描写入装置；根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置；对所述格式化装置进行质量检测处理，得到存储装置。在本发明实施例中，解决了目前的存储量产工序过于复杂且生产成本过高的技术问题。

Description

存储装置的生产方法及存储介质

技术领域

本发明涉及存储装置生产领域，尤其涉及一种存储装置的生产方法及存储介质。

背景技术

传统的存储装置量产工序通常分为四个流程。首先是写入扫描程序进入存储装置中，在这一阶段，生产人员会将必要的程序和软件写入存储设备中，以确保设备能够正常运行并执行其预期的功能。这个步骤非常关键，因为它直接影响到设备后续的表现和稳定性。其次是对存储装置进行检测处理，以确保其中没有潜在的缺陷或错误，对存储设备进行可靠性检测能发现可能存在的问题，并对该问题予以纠正处理。最后一步是写入存储系统程序，设备将被写入系统程序，以确保设备能够与其它硬件和软件正常通信和协作。这个过程也会经历多道严格的测试，以确保系统的稳定性和兼容性。

最后是质量检测阶段，这一步是整个生产流程的最后关键环节。在这一阶段，设备将会经历一系列严格的质量检测和测试，以确保其性能和质量达到预期标准。只有通过了质量检测的设备才会被认定为合格品，可以进入市场销售。但是，目前的存储量产工序过于复杂且生产成本过高，需要一种技术来解决当前的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于解决目前的存储量产工序过于复杂且生产成本过高的技术问题。

本发明第一方面提供了一种存储装置的生产方法，所述存储装置的生产方法包括：

根据预置扫描数据，对预置初步存储装置进行扫描数据写入处理，得到扫描写入装置；

根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置；

对所述格式化装置进行质量检测处理，得到存储装置。

可选的，在本发明第一方面的第一种实现方式中，在所述根据预置扫描数据，对预置初步存储装置进行扫描数据写入处理，得到扫描写入装置之前，包括：

对预置初步存储装置进行电源测试、接口测试、读写性能测试、容量验证处理，得到第一测试结果；

当所述第一测试结果为合格时，则将所述初步存储装置确定为合格的初步存储装置。

可选的，在本发明第一方面的第二种实现方式中，所述根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置包括：

对所述扫描写入装置进行第二功能测试处理，得到第二测试装置；

对所述第二测试装置进行固件烧录处理，得到格式化装置。

可选的，在本发明第一方面的第三种实现方式中，所述对所述扫描写入装置进行第二功能测试处理，得到第二测试装置包括：

对所述扫描写入装置进行温度测试、数据一致性测试、随机访问性能测试处理，得到第二测试结果；

当所述第二测试结果为合格时，则将所述扫描写入装置确定为第二测试装置。

可选的，在本发明第一方面的第四种实现方式中，所述对所述第二测试装置进行固件烧录处理，得到更新后的格式化装置包括：

将操作系统和驱动程序烧录至所述第二测试装置中，得到格式化装置。

可选的，在本发明第一方面的第五种实现方式中，在所述对所述扫描写入装置进行第二功能测试处理，得到第二测试装置之后，在所述对所述第二测试装置进行固件烧录处理，得到格式化装置之前，还包括：

对所述第二测试装置进行老化测试记录处理，生成所述第二测试装置对应的老化记录数据。

可选的，在本发明第一方面的第六种实现方式中，所述根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置还包括：

对所述扫描写入装置进行脱机扫描处理，得到脱机扫描数据。

可选的，在本发明第一方面的第七种实现方式中，所述根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置还包括：

根据预置格式化算法和脱机扫描数据，对所述扫描写入装置进行离线建表格式化处理，得到格式化装置。

本发明的第二方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述的存储装置的生产方法。

在本发明实施例中，通过对存储装置写入扫描程序后，利用格式化算法，自动将存储装置进行格式处理，节约整个生产流程。实现过程上既可以是离线开卡也可以是自动开卡，降低了整个存储装置的生产过程，将原有的生产过程步骤缩减，并最后进行质量校验，完成整个生产过程，解决了目前的存储量产工序过于复杂且生产成本过高的技术问题。

附图说明

图1为本发明实施例中存储装置的生产方法的一个实施例示意图；

图2为本发明实施例中102步骤的一个具体实施方式示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种存储装置的生产方法及存储介质。

下面将参照附图更详细地描述本发明公开的实施例。虽然附图中显示了本发明公开的某些实施例，然而应当理解的是，本发明公开可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本公开。应当理解的是，本发明公开的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本发明公开的保护范围。

在本发明公开的实施例的描述中，术语“包括”及其类似用语应当理解为开放性包含，即“包括但不限于”。术语“基于”应当理解为“至少部分地基于”。术语“一个实施例”或“该实施例”应当理解为“至少一个实施例”。术语“第一”、“第二”等等可以指代不同的或相同的对象。下文还可能包括其他明确的和隐含的定义。

为便于理解，下面对本发明实施例的具体流程进行描述，请参阅图1，本发明实施例中存储装置的生产方法的一个实施例包括：

101、根据预置扫描数据，对预置初步存储装置进行扫描数据写入处理，得到扫描写入装置；

在本实施例中，利用Windows系统计算机、自动化存储芯片拾取机台、量产读卡器开卡板，在Windows平台量产工具软件上，对量产的存储装置先进行扫描程序也即是扫描数据的写入处理。在写入扫描数据过程中，可以将LLF代码((低级格式化处理，生产固件)将FTL(闪存映射转换程序)和RDT(脱机扫描测试程序)代码以及相应数据烧录到存储装置中)，载入到存储装置中的存储芯片Ram中运行，配合LLF(低级格式化处理，生产固件)代码将S-LLF代码和FTL(闪存映射转换程序)代码暂存在存储装置中。FTL通常由固件组成，它负责实现逻辑块到物理页的映射、处理写放大(Write Amplification)、执行垃圾回收等操作，以确保存储装置的性能、可靠性和寿命。FTL的设计和优化对存储装置的整体性能具有重要影响，因此是存储装置技术中的一个关键部分。该操作能使得扫描写入装置能自动脱机运行RDT测试，根据RDT测试结果运行LLF流程，完成开卡过程。

在一个具体实施方式中，在101步骤之前，包括以下具体实施方式：

1011、对预置初步存储装置进行电源测试、接口测试、读写性能测试、容量验证处理，得到第一测试结果；

1012、当所述第一测试结果为合格时，则将所述初步存储装置确定为合格的初步存储装置。

在1011-1012步骤中，存储装置要写入程序之前需要进行功能性测试，如检测装置的电源供应是否正常，包括电压、电流等参数，验证装置的各种接口(如SATA、PCIe等)是否能正常通信和数据传输。当所述第一测试结果为合格时，则将所述初步存储装置确定为合格的初步存储装置，则能进行扫描程序的写入处理。

102、根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置；

在本实施例中，LLF低级格式化处理的格式化方式有两种实现过程。

第一种，在101步骤中说明，将LLF代码(低级格式化处理，生产固件)将FTL(闪存映射转换程序)/RDT(脱机扫描测试程序)代码以及相应数据烧录到存储装置中)，载入到存储装置中的存储芯片Ram中运行，配合LLF(低级格式化处理，生产固件)代码将S-LLF代码和FTL代码(闪存映射转换程序)暂存在存储装置中。

S-LLF代码会被写在Boot点上，存储芯片在可靠性测试板中上电时，即会运行S-LLF代码，S-LLF代码的执行流程如下：上电->运行RDT测试->根据RDT测试结果运行LLF流程->开卡完成。

第二种，将RDT(脱机扫描测试程序)代码烧录到存储装置中。控制重上电后自动运行RDT(脱机扫描测试程序)，RDT(脱机扫描测试程序)执行过程会由Windows平台量产工具软件监控，监控到RDT脱机扫描测试程序)运行结束之后会根据工具流程自动执行FTL(闪存映射转换程序)的烧录流程，实现整个扫描写入装置的物理层面的格式化处理，得到格式化装置。

在一个实施例中，请参考图2，图2为本发明实施例中102步骤的一个具体实施方式示意图，在102步骤中包括以下具体实施方式：

1021、对所述扫描写入装置进行第二功能测试处理，得到第二测试装置；

1022、对所述第二测试装置进行固件烧录处理，得到格式化装置。

在1021-1022步骤中，先对扫描写入装置进行相关功能测试，测试装置的读取和写入性能，包括顺序读写速度、随机读写速度等，验证装置的存储容量是否符合规格要求，得到第二测试装置，然后，对所述第二测试装置进行固件烧录处理，得到更新后的格式化装置。监控到RDT(脱机扫描测试程序)运行结束之后会根据工具流程自动执行FTL(闪存映射转换程序)的烧录流程，实现整个扫描写入装置的物理层面的格式化处理，得到格式化装置。也即是将脱机扫描与写入系统数据合并执行，利用烧录工具执行烧录流程。也即是在脱机扫描之后调用第三方烧录工具，对扫描写入装置进行格式化烧录处理，得到格式化装置。

详细的，在1021步骤包括以下具体实施方式：

10211、对所述扫描写入装置进行温度测试、数据一致性测试、随机访问性能测试处理、闪存坏块检测处理，得到第二测试结果；

10212、当所述第二测试结果为合格时，则将所述扫描写入装置确定为第二测试装置。

在10211-10212步骤中，对所述扫描写入装置执行第二个功能测试(FunctionalTest2)。它是存储设备量产过程中的第二个工序，用于进一步测试设备的功能性和性能。可以执行温度测试、数据一致性测试、随机访问性能测试处理，得到第二测试结果。当所述第二测试结果为合格时，则将所述扫描写入装置确定为第二测试装置。

详细的，在1022步骤中包括以下具体实施方式：

10221、将操作系统和驱动程序烧录至所述第二测试装置中，得到格式化装置。

在10221步骤中，烧录过程将特定的软件或固件加载到存储设备中，该特定软件包括有操作系统和驱动程序。

详细的，在1021步骤之后，在1022步骤之前，还包括以下具体实施方式：

10222、对所述格式化装置进行老化测试记录处理，生成所述格式化装置对应的老化记录数据。

在10222步骤中，本步骤是一个自动化过程，用于记录存储设备在老化测试期间的性能和可靠性数据。它可能会记录存储设备的经过时间、写入/擦除次数、温度变化等信息。通过将脱机扫描和写入系统程序进行合并，并使用量产工具集，可以提高生产效率和流程自动化程度。同时，调用第三方的烧录工具和自动记录老化结果的过程可以进一步完善生产流程和数据追踪。

在另一个实施例中，在102步骤包括以下具体实施方式：

1023、对所述扫描写入装置进行脱机扫描处理，得到脱机扫描数据。

在1023步骤中，将LLF代码(低级格式化处理，生产固件)将FTL(闪存映射转换程序)和RDT(脱机扫描测试程序)代码以及相应数据烧录到存储装置中)，载入到存储装置中的存储芯片Ram中运行，配合LLF(低级格式化处理，生产固件)代码将S-LLF代码和FTL代码(闪存映射转换程序)暂存在存储装置中。

S-LLF代码会被写在Boot点上，存储芯片在可靠性测试板中上电时，即会运行S-LLF代码，S-LLF代码的执行流程如下：上电->运行RDT测试->根据RDT测试结果运行LLF流程->开卡完成。

详细的，在102步骤，还包括以下具体实施方式：

1024、根据预置格式化算法和脱机扫描数据，对所述扫描写入装置进行离线建表格式化处理，得到格式化装置。

在1024步骤中，离线流程为“写入扫描程序-RDT&LLF-质量检测“，即在写入扫描程序工序的时候同时写入RDT程序与LLF程序，然后执行RDT脱机扫描，得到脱机扫描数据。扫描完成之后。直接调用LLF(低级格式化处理，生产固件)利用脱机扫描数据通过FTL代码(闪存映射转换程序)进行离线建表，建表完成之后，得到格式化装置。

103、对所述格式化装置进行质量检测处理，得到存储装置。

在本实施例中，利用Windows系统计算机、自动化存储芯片拾取机台、量产读卡器开卡板，在Windows平台QC工具软件上运行。将芯片从可靠性测试板中取出，放置到量产读卡器开卡板中，使用QC工具对离线生产的结果进行质量检测，符合要求的即完成整个生产过程，也即是得到存储装置。

在本发明实施例中，通过对存储装置写入扫描程序后，利用格式化算法，自动将存储装置进行格式处理，节约整个生产流程。实现过程上既可以是离线开卡也可以是自动开卡，降低了整个存储装置的生产过程，将原有的生产过程步骤缩减，并最后进行质量校验，完成整个生产过程，解决了目前的存储量产工序过于复杂且生产成本过高的技术问题。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以为非易失性计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质也可以为易失性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行所述存储装置的生产方法的步骤。

在本公开的上下文中，机器可读介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

此外，虽然采用特定次序描绘了各操作，但是这应当理解为要求这样操作以所示出的特定次序或以顺序次序执行，或者要求所有图示的操作应被执行以取得期望的结果。在一定环境下，多任务和并行处理可能是有利的。同样地，虽然在上面论述中包含了若干具体实现细节，但是这些不应当被解释为对本公开的范围的限制。在单独的实施例的上下文中描述的某些特征还可以组合地实现在单个实现中。相反地，在单个实现的上下文中描述的各种特征也可以单独地或以任何合适的子组合的方式实现在多个实现中。

尽管已经采用特定于结构特征和/或方法逻辑动作的语言描述了本主题，但是应当理解所附权利要求书中所限定的主题未必局限于上面描述的特定特征或动作。相反，上面所描述的特定特征和动作仅仅是实现权利要求书的示例形式。

Claims (9)

1.一种存储装置的生产方法，其特征在于，包括步骤：

根据预置扫描数据，对预置初步存储装置进行扫描数据写入处理，得到扫描写入装置；

根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置；

对所述格式化装置进行质量检测处理，得到存储装置。

2.根据权利要求1所述的存储装置的生产方法，其特征在于，在所述根据预置扫描数据，对预置初步存储装置进行扫描数据写入处理，得到扫描写入装置之前，包括：

对预置初步存储装置进行电源测试、接口测试、读写性能测试、容量验证处理，得到第一测试结果；

当所述第一测试结果为合格时，则将所述初步存储装置确定为合格的初步存储装置。

3.根据权利要求1所述的存储装置的生产方法，其特征在于，所述根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置包括：

对所述扫描写入装置进行第二功能测试处理，得到第二测试装置；

对所述第二测试装置进行固件烧录处理，得到格式化装置。

4.根据权利要求3所述的存储装置的生产方法，其特征在于，所述对所述扫描写入装置进行第二功能测试处理，得到第二测试装置包括：

对所述扫描写入装置进行温度测试、数据一致性测试、随机访问性能测试处理、闪存坏块检测处理，得到第二测试结果；

当所述第二测试结果为合格时，则将所述扫描写入装置确定为第二测试装置。

5.根据权利要求3所述的存储装置的生产方法，其特征在于，所述对所述第二测试装置进行固件烧录处理，得到更新后的格式化装置包括：

将操作系统和驱动程序烧录至所述第二测试装置中，得到格式化装置。

6.根据权利要求3所述的存储装置的生产方法，其特征在于，在所述对所述扫描写入装置进行第二功能测试处理，得到第二测试装置之后，在所述对所述第二测试装置进行固件烧录处理，得到格式化装置之前，还包括：

对所述第二测试装置进行老化测试记录处理，生成所述第二测试装置对应的老化记录数据。

7.根据权利要求1所述的存储装置的生产方法，其特征在于，所述根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置还包括：

对所述扫描写入装置进行脱机扫描处理，得到脱机扫描数据。

8.根据权利要求7所述的存储装置的生产方法，其特征在于，所述根据预置格式化算法，对所述扫描写入装置进行物理格式化处理，得到格式化装置还包括：

根据预置格式化算法和脱机扫描数据，对所述扫描写入装置进行离线建表格式化处理，得到格式化装置。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的存储装置的生产方法。