CN111209146A - 一种raid卡老化测试方法及系统 - Google Patents

一种raid卡老化测试方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN111209146A
CN111209146A CN201911338161.0A CN201911338161A CN111209146A CN 111209146 A CN111209146 A CN 111209146A CN 201911338161 A CN201911338161 A CN 201911338161A CN 111209146 A CN111209146 A CN 111209146A
Authority
CN
China
Prior art keywords
raid card
raid
card
error
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201911338161.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111209146B (zh
Inventor
周建伟
付卿峰
秦晓宁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dawning Information Industry Beijing Co Ltd
Original Assignee
Dawning Information Industry Beijing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dawning Information Industry Beijing Co Ltd filed Critical Dawning Information Industry Beijing Co Ltd
Priority to CN201911338161.0A priority Critical patent/CN111209146B/zh
Publication of CN111209146A publication Critical patent/CN111209146A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111209146B publication Critical patent/CN111209146B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Abstract

本发明公开了一种RAID卡老化测试方法和RAID卡老化测试方法系统,该方法包括加载测试环境,接入待测试RAID卡,并在测试环境下,进行RAID卡状态信息检查;和/或PCIe链路检测;和/或SAS链路检测;和/或RAID卡IO性能测试;和/或RAID卡日志检查;以在出厂前完成这些RAID卡检查,有效拦截硬件损伤、信号差的RAID卡,减少终端用户RAID掉盘事件的发生;在一定程度上提高产品质量,本发明还提供了用于实施上述本发明方法的系统,以完成对RAID卡出厂前的自动化检测,以确保出厂的RAID卡处于健康状态,能稳定工作;实现测试的自动化,减轻产线员工的压力;并在检测过程中对RAID卡问题原因快速诊断,有效提高Raid卡老化测试效率,提高测试结果准确性。

Description

一种RAID卡老化测试方法及系统
技术领域
本发明属于硬盘测试技术领域,具体而言,为一种RAID卡老化测试方法及系统。
背景技术
RAID(Redundant Array of Independent Disks,独立冗余磁盘阵列)是一种把多块独立的物理硬盘按不同方式组合起来形成一个逻辑硬盘,通过磁盘条带化、磁盘镜像等技术从而提供比单个硬盘有着更高的性能和提供数据冗余。
RAID卡就是用来实现RAID功能的板卡,通常是由I/O处理器、硬盘控制器、硬盘连接器和缓存等一系列零组件构成的。不同的RAID卡支持的RAID功能不同,主流使用的RAID级别主要有RAID0、RAID1、RAID5、RAID6等。
由于使用的芯片质量不佳或者生产过程中连接器压接等制造工艺问题,RAID卡SAS链路质量参差不齐,SAS链路信号质量差的系统会出现RAID磁盘读写性能下降,甚至RAID磁盘无法正常工作甚至离线掉盘等故障。
在服务器生产老化测试中,会对RAID卡及其连接的硬盘链路进行老化测试,检测出RAID卡故障,以保证服务器正常运行。传统测试手段主要是测试RAID的创建、手动拔插硬盘模拟RAID掉盘,这种测试方法耗费人力也容易出错,测试内容单一且效率低。
例如,申请号为“201110040385.0”的发明专利申请文件中,公开了一种RAID自动化测试系统及方法,通过模拟磁盘,插拔的装置,为待测磁盘阵列创建一个RAID卷,逐一检查实体硬盘及RAID卷的状态是否健康,若RAID降级则创新创建RAID,直至所有RAID卷状态都正常时,测试成功。这种方法的缺点是只能检查磁盘阵列RAID的状态,已经不能满足生产需求。
有鉴于此,特提出本发明。
发明内容
针对现有技术中的缺陷,本发明提供一种RAID卡老化测试方法及系统,以有效提高Raid卡老化测试效率,提高测试结果准确性。
为实现上述目的,本发明的技术方案如下:
1.RAID卡老化测试方法,包括:
进行RAID卡的状态信息检查、PCIe链路检测和SAS链路phy error检测,根据检查和检测结果修复RAID卡直至RAID卡无故障,其中:
PCIe链路检测包括:通过Linux系统下第一命令行工具检查RAID卡的PCIe链路理论传输带宽和实际传输带宽是否一致,如果实际传输带宽中的速率与理论带宽中的速率不一致,则执行修复并且重新执行PCIe链路检测;如果实际传输带宽中的速率与理论带宽中的速率一致,则执行SAS链路phy error检测;
SAS链路phy error检测包括:通过Linux系统下第二命令行工具查看RAID卡的SAS链路phy error第一项计数、第二项计数和第三项计数,如果SAS链路phy error第一项计数、第二项计数、第三项计数至少有一项不为0,则执行修复并且重新执行SAS链路phyerror检测;如果SAS链路phy error第一项计数、第二项计数、第三项计数全部为0,则执行RAID卡IO性能测试。
RAID卡老化测试方法还包括:RAID卡IO性能测试和RAID卡日志检查,并且,按照顺序依次执行RAID卡的状态信息检查、PCIe链路检测、SAS链路phy error检测、RAID卡IO性能测试、RAID卡日志检查中的每一项,每一项没有错误或达到基准值后执行下一步,直至全部测试完成。
其中,RAID卡的状态信息检查包括:通过Linux系统下第二命令行工具storcli获取RAID卡的状态信息,其中,RAID卡的状态信息包括RAID卡的固件版本、缓存容量、芯片温度、RAID卷状态的至少一种;如果RAID卡的状态信息检查有错误,则重新刷写固件、更换新卡或查找错误原因修复问题,并且,重新执行RAID卡的状态信息检查;如果RAID卡的状态信息检查没有错误,则执行PCIe链路检测。
其中,Linux系统下第一命令行工具是指lspci工具。
其中,Linux系统下第二命令行工具是storcli,通过storcli/cx/pall show all命令查看RAID卡的SAS链路phy error,SAS链路phy error第一项计数是指Invalid DwordCount,第二项计数是指Running Disparity Error Count,第三项计数是指Loss of SyncCount。
RAID卡IO性能测试包括使用第三方IO测试软件FIO进行测试,其中:RAID卡IO性能测试包括:RAID卡SAS链路进行顺序读、顺序写BW(带宽)性能测试和随机读、随机写IOPS性能测试;如果RAID卡IO性能测试结果达不到RAID卡IO性能基准值,则更换RAID卡或查找错误原因修复问题,并且,重新执行RAID卡IO性能测试;如果RAID卡IO性能测试结果达到RAID卡IO性能基准值,则执行RAID卡日志检查。
RAID卡日志检查包括通过Linux系统下第二命令行工具storcli,利用storcli/cxshow termlog命令导出RAID卡日志,如果RAID卡日志有错误关键字,则更换RAID卡或查找错误原因修复问题,并且,重新执行RAID卡日志检查;如果RAID卡日志没有错误关键字,则完成测试。
一种RAID卡老化测试方法系统,包括存储介质,存储介质存储程序,程序被执行以实现上述的RAID卡老化测试方法。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:
本发明提供的RAID卡老化测试方法,基于linux测试系统下的storcli工具实现RAID卡状态信息的检查、phy error信息的检查、日志收集以及关键字的有效筛选;通过lspci工具进行RAID卡PCIe链路信息检测以及关键字段的有效选择,在出厂前完成RAID卡的状态信息检查、PCIe链路检测、SAS链路检测、IO性能测试以及日志检查,能够有效拦截硬件损伤、信号差的RAID卡,减少终端用户RAID掉盘事件的发生。在一定程度上提高产品质量,提升客户满意度,增加公司产品的竞争力;适用于RAID卡生产测试阶段以及服务器生产老化测试阶段;
本发明还提供了RAID卡老化测试方法系统,以完成对RAID卡出厂前的自动化检测,以确保出厂的RAID卡处于健康状态,能稳定工作;实现测试的自动化,减轻产线员工的压力;并在检测过程中对RAID卡问题原因快速诊断,有效提高Raid卡老化测试效率,提高测试结果准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中,类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中,各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
图1为现有技术中的测试方法流程图;
图2为本发明一种RAID卡老化测试方法的一个具体实施例示意图;
图3为图2中所示进行PCIe链路检测时得到的一个具体实施例中的代码信息示意图;
图4为图2中所示进行SAS链路检测时得到的一个具体实施例中的列表信息示意图;
图5为本发明一种RAID卡老化测试系统的逻辑框图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,因此只作为示例,而不能以此来限制本发明的保护范围。
需要注意的是,除非另有说明,本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域技术人员所理解的通常意义。
如图2所示的,一种RAID卡老化测试方法,包括
加载测试环境,接入待测试RAID卡,并在测试环境下,进行以下步骤:
RAID卡状态信息检查;
PCIe链路检测;
SAS链路检测;
RAID卡IO性能测试;
RAID卡日志检查。
具体的,S1.搭建测试系统,加载测试环境,包括以下步骤:
S11.将待测试RAID卡安装至测试工装(其为简易测试服务器主机);
S12.搭建linux测试系统;
S13.所述RAID卡(即待测试RAID卡,下文测试过程中进行检测的RAID卡均为该待测试RAID卡)通过SAS线缆依次连接硬盘背板、SAS硬盘;
S14.开机进入linux测试系统,恢复所述RAID卡默认配置,清空phy error(Phyerr,SAS链路物理层错误)信息。
将待测试RAID卡安装至测试工装后,在该服务器上搭建linux测试系统;通过linux测试系统对接入的待测试RAID卡进行后续测试。恢复所述RAID卡默认配置以及清空phy error信息,以避免无关数据或信息在测试过程中造成干扰,影响测试结果。
S2.RAID卡状态信息检查
通过storcli工具(linux测试系统中安装的管理工具,通过程序实现)获取所述RAID卡的状态信息,以检查RAID卡的固件版本、缓存容量、芯片温度、RAID卷状态等信息是否正常。
如果有信息异常,重新刷写固件、更换新卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果信息都正常,进入下一步骤。
S3.PCIe链路检测
使用lspci工具(linux测试系统中安装的查看工具,通过程序实现)检查RAID卡的PCIe链路理论带宽与实际传输带宽是否一致;lspci工具能够获取并显示系统中所有总线设备或连接到该总线上的所有设备的信息,如图3所示的,查看显示的信息中,LnkCap为RAID卡PCIe接口理论带宽,LnkSta为实际PCIe链路协商传输带宽。
其中如果实际传输带宽LnkSta中的Speed(速度)与理论带宽LnkCap中的Speed(速度)不一致,重插或更换RAID卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果信息一致没有错误,进入下一步骤。
S4.SAS链路检测
通过storcli/cx/pall show all命令(其为所述storcli工具中查看PHY信息的命名)查看RAID卡的phy error信息;如图4所示的,查看显示的列表信息中,其中如果phyerror三项计数Invalid Dword Count(无效的DWORD计数)、Running Disparity ErrorCount(运行视差错误计数)、Loss of Sync Count(同步数丢失)不全部为0,重插或更换RAID卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果phy error计数全部为0,进入下一步骤。
S5.RAID卡IO性能测试
使用第三方IO测试软件FIO(可在Linux及Windows下运行的块设备IO测试的程序),对RAID卡SAS链路进行顺序读、顺序写BW(带宽)性能测试,随机读、随机写IOPS性能测试,总共时长约4分钟;
将测试结果性能与基准值作比较,如果测试结果达不到基准值,更换RAID卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果测试结果可以达到基准值,进入下一步骤。
S6.RAID卡日志检查
通过storcli/cx show termlog命令(其为storcli工具中的查看term log日志配置或日志信息的命令)导出RAID卡的日志,检查其中是否有fail、degraded、fatal等错误关键字,如果检查有错误,更换RAID卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果检查日志没有错误,进入下一步。
S7.测试完成
全部测试内容完成,RAID卡无故障。
本发明提供的RAID卡老化测试方法,基于linux测试系统下的storcli工具实现RAID卡状态信息的检查、phy error信息的检查、日志收集以及关键字的有效筛选;通过lspci工具进行RAID卡PCIe链路信息检测以及关键字段的有效选择,在出厂前完成RAID卡的状态信息检查、PCIe链路检测、SAS链路检测、IO性能测试以及日志检查,能够有效拦截硬件损伤、信号差的RAID卡,减少终端用户RAID掉盘事件的发生。在一定程度上提高产品质量,提升客户满意度,增加公司产品的竞争力;适用于RAID卡生产测试阶段以及服务器生产老化测试阶段。
实施例2
另一方面,本发明还提供了用于实施上述测试方法的系统,如图5所示的,包括处理器和存储器,存储器中存储有程序,程序被处理器运行时,执行如下操作:
加载测试环境,获取待测试RAID卡信息,并在测试环境下,进行:
RAID卡状态信息检查;
和/或PCIe链路检测;
和/或SAS链路检测;
和/或RAID卡IO性能测试;
和/或RAID卡日志检查。
本发明给出的一个具体实施中,该系统为服务器设备,处理器搭载linux系统作为测试系统,服务器主机连接待测试RAID卡,所述RAID卡(即待测试RAID卡)通过SAS线缆依次连接硬盘背板、SAS硬盘;开机进入linux测试系统,通过程序恢复所述RAID卡默认配置并清空phy error(Phyerr,SAS链路物理层错误)信息,以避免无关数据或信息在测试过程中造成干扰,影响测试结果。
本实施例中,程序被处理器运行时,执行所述“RAID卡状态信息检查”步骤时,包括
通过storcli工具(linux测试系统中安装的管理工具,通过程序实现)获取所述RAID卡的状态信息,以检查RAID卡的固件版本、缓存容量、芯片温度、RAID卷状态等信息是否正常。
如果有信息异常,重新刷写固件、更换新卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果信息都正常,进入下一步骤。
本实施例中,程序被处理器运行时,执行所述“PCIe链路检测”步骤时,包括
使用lspci工具(linux测试系统中安装的查看工具,通过程序实现)检查RAID卡的PCIe链路理论带宽与实际传输带宽是否一致;lspci工具能够获取并显示系统中所有总线设备或连接到该总线上的所有设备的信息,如图3所示的,查看显示的信息中,LnkCap为RAID卡PCIe接口理论带宽,LnkSta为实际PCIe链路协商传输带宽。
如果实际传输带宽LnkSta中的Speed(速度)与理论带宽LnkCap中的Speed(速度)不一致,重插或更换RAID卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果信息一致没有错误,进入下一步骤。
本实施例中,程序被处理器运行时,执行所述“SAS链路检测”步骤时,包括
通过storcli/cx/pall show all命令(其为所述storcli工具中查看PHY信息的命名)查看RAID卡的phy error信息;查看得到如图4所示的列表信息,其中如果phy error三项计数Invalid Dword Count(无效的DWORD计数)、Running Disparity Error Count(运行视差错误计数)、Loss of Sync Count(同步数丢失)不全部为0,重插或更换RAID卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果phy error计数全部为0,进入下一步骤。
本实施例中,程序被处理器运行时,执行所述“RAID卡IO性能测试”步骤时,包括
使用第三方IO测试软件FIO(可在Linux及Windows下运行的块设备IO测试的程序),对RAID卡SAS链路进行顺序读、顺序写BW(带宽)性能测试,随机读、随机写IOPS性能测试,总共时长约4分钟;
将测试结果性能与基准值作比较,如果测试结果达不到基准值,更换RAID卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果测试结果可以达到基准值,进入下一步骤。
本实施例中,程序被处理器运行时,执行所述“RAID卡日志检查”步骤时,包括
通过storcli/cx show termlog命令(其为storcli工具中的查看term log日志配置或日志信息的命令)导出RAID卡的日志,检查其中是否有fail、degraded、fatal等错误关键字,如果检查有错误,更换RAID卡或查找具体原因修复问题,重新执行本步骤;
如果检查日志没有错误,进入下一步。
程序被处理器运行时,执行上述全部测试内容完成,则RAID卡无故障。
本发明系统用于实施上述本发明方法,完成对RAID卡出厂前的自动化检测,以确保出厂的RAID卡处于健康状态,能稳定工作;实现测试的自动化,减轻产线员工的压力;并在检测过程中对RAID卡问题原因快速诊断,有效提高Raid卡老化测试效率,提高测试结果准确性。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围,其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。

Claims (8)

1.RAID卡老化测试方法,其特征在于,包括:
进行RAID卡的状态信息检查、PCIe链路检测和SAS链路phy error检测,根据检查和检测结果修复所述RAID卡直至所述RAID卡无故障,其中:
所述PCIe链路检测包括:通过Linux系统下第一命令行工具检查RAID卡的PCIe链路理论传输带宽和实际传输带宽是否一致,如果所述实际传输带宽中的速率与所述理论带宽中的速率不一致,则执行修复并且重新执行所述PCIe链路检测;如果所述实际传输带宽中的速率与所述理论带宽中的速率一致,则执行所述SAS链路phy error检测;
所述SAS链路phy error检测包括:通过所述Linux系统下第二命令行工具查看RAID卡的SAS链路phy error第一项计数、第二项计数和第三项计数,如果所述SAS链路phy error第一项计数、第二项计数、第三项计数至少有一项不为0,则执行修复并且重新执行所述SAS链路phy error检测;如果所述SAS链路phy error第一项计数、第二项计数、第三项计数全部为0,则执行RAID卡IO性能测试。
2.根据权利要求1所述的RAID卡老化测试方法,其特征在于,还包括:RAID卡IO性能测试和RAID卡日志检查,并且,按照顺序依次执行所述RAID卡的状态信息检查、所述PCIe链路检测、所述SAS链路phy error检测、所述RAID卡IO性能测试、所述RAID卡日志检查中的每一项,所述每一项没有错误或达到基准值后执行下一步,直至全部测试完成。
3.根据权利要求1或2所述的RAID卡老化测试方法,其特征在于,所述RAID卡的状态信息检查包括:通过所述Linux系统下第二命令行工具storcli获取RAID卡的状态信息,其中,所述RAID卡的状态信息包括所述RAID卡的固件版本、缓存容量、芯片温度、RAID卷状态的至少一种;
如果所述RAID卡的状态信息检查有错误,则重新刷写固件、更换新卡或查找错误原因修复问题,并且,重新执行所述RAID卡的状态信息检查;如果所述RAID卡的状态信息检查没有错误,则执行所述PCIe链路检测。
4.根据权利要求1或2所述的RAID卡老化测试方法,其特征在于,所述Linux系统下第一命令行工具是指lspci工具。
5.根据权利要求1或2所述的RAID卡老化测试方法,其特征在于,所述Linux系统下第二命令行工具是storcli,通过storcli/cx/pall show all命令查看RAID卡的SAS链路phyerror,所述SAS链路phy error第一项计数是指Invalid Dword Count,第二项计数是指Running Disparity Error Count,第三项计数是指Loss of Sync Count。
6.根据权利要求2所述的RAID卡老化测试方法,其特征在于,所述RAID卡IO性能测试是指使用第三方IO测试软件FIO进行测试,其中:
所述RAID卡IO性能测试包括:所述RAID卡SAS链路进行顺序读、顺序写BW(带宽)性能测试和随机读、随机写IOPS性能测试;
如果所述RAID卡IO性能测试结果达不到所述RAID卡IO性能基准值,则更换RAID卡或查找错误原因修复问题,并且,重新执行所述RAID卡IO性能测试;如果所述RAID卡IO性能测试结果达到所述RAID卡IO性能基准值,则执行所述RAID卡日志检查。
7.根据权利要求2所述的RAID卡老化测试方法,其特征在于,所述RAID卡日志检查是指通过所述Linux系统下第二命令行工具storcli,利用storcli/cx show termlog命令导出所述RAID卡日志,如果所述RAID卡日志有错误关键字,则更换RAID卡或查找错误原因修复问题,并且,重新执行所述RAID卡日志检查;如果所述RAID卡日志没有错误关键字,则完成测试。
8.一种RAID卡老化测试方法系统,其特征在于,包括:存储介质,所述存储介质存储程序,所述程序被执行以实现权利要求1-7任一项所述的RAID卡老化测试方法。
CN201911338161.0A 2019-12-23 2019-12-23 一种raid卡老化测试方法及系统 Active CN111209146B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911338161.0A CN111209146B (zh) 2019-12-23 2019-12-23 一种raid卡老化测试方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911338161.0A CN111209146B (zh) 2019-12-23 2019-12-23 一种raid卡老化测试方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111209146A true CN111209146A (zh) 2020-05-29
CN111209146B CN111209146B (zh) 2023-08-22

Family

ID=70785051

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911338161.0A Active CN111209146B (zh) 2019-12-23 2019-12-23 一种raid卡老化测试方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111209146B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115756941A (zh) * 2023-01-09 2023-03-07 苏州浪潮智能科技有限公司 设备的自动修复方法、装置、电子设备及存储介质

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5574855A (en) * 1995-05-15 1996-11-12 Emc Corporation Method and apparatus for testing raid systems
TW200401115A (en) * 2002-05-03 2004-01-16 Atheros Comm Inc Method and apparatus for physical layer radar pulse detection and estimation
US20080162811A1 (en) * 2003-01-13 2008-07-03 Emulex Design And Manufacturing Corporation Alignment-unit-based virtual formatting methods and devices employing the methods
CN105223889A (zh) * 2015-10-13 2016-01-06 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种适用于产线的自动监控pmc raid卡日志的方法
CN106502844A (zh) * 2016-10-11 2017-03-15 郑州云海信息技术有限公司 一种测试RAID存储器IO的sAS端口带宽的方法
CN108009067A (zh) * 2017-11-30 2018-05-08 郑州云海信息技术有限公司 一种在服务器下查看raid卡详细信息的方法及系统
CN108804269A (zh) * 2018-06-11 2018-11-13 郑州云海信息技术有限公司 一种基于域控制测试raid板卡稳定性的系统及方法
CN109165126A (zh) * 2018-08-17 2019-01-08 郑州云海信息技术有限公司 一种Linux系统下自动测试RAID卡与硬盘链接速率的方法
US20190116690A1 (en) * 2017-10-12 2019-04-18 Quanta Computer Inc. Dynamically adjust maximum fan duty in a server system

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5574855A (en) * 1995-05-15 1996-11-12 Emc Corporation Method and apparatus for testing raid systems
TW200401115A (en) * 2002-05-03 2004-01-16 Atheros Comm Inc Method and apparatus for physical layer radar pulse detection and estimation
US20080162811A1 (en) * 2003-01-13 2008-07-03 Emulex Design And Manufacturing Corporation Alignment-unit-based virtual formatting methods and devices employing the methods
CN105223889A (zh) * 2015-10-13 2016-01-06 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种适用于产线的自动监控pmc raid卡日志的方法
CN106502844A (zh) * 2016-10-11 2017-03-15 郑州云海信息技术有限公司 一种测试RAID存储器IO的sAS端口带宽的方法
US20190116690A1 (en) * 2017-10-12 2019-04-18 Quanta Computer Inc. Dynamically adjust maximum fan duty in a server system
CN108009067A (zh) * 2017-11-30 2018-05-08 郑州云海信息技术有限公司 一种在服务器下查看raid卡详细信息的方法及系统
CN108804269A (zh) * 2018-06-11 2018-11-13 郑州云海信息技术有限公司 一种基于域控制测试raid板卡稳定性的系统及方法
CN109165126A (zh) * 2018-08-17 2019-01-08 郑州云海信息技术有限公司 一种Linux系统下自动测试RAID卡与硬盘链接速率的方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
赵雷: "块设备自动化测试系统的设计及优化" *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115756941A (zh) * 2023-01-09 2023-03-07 苏州浪潮智能科技有限公司 设备的自动修复方法、装置、电子设备及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN111209146B (zh) 2023-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5422890A (en) Method for dynamically measuring computer disk error rates
CN102662608B (zh) 一种降低读延时的方法及装置
US9317349B2 (en) SAN vulnerability assessment tool
US20090217086A1 (en) Disk array apparatus, disk array control method and disk array controller
US6738937B1 (en) Method for nondisruptive testing of device and host attachment to storage subsystems
US8843781B1 (en) Managing drive error information in data storage systems
CN112466382A (zh) 一种raid阵列的巡检方法和装置
CN104615514A (zh) 一种对raid卡各raid级别性能检验方法
CA2317821C (en) Methods and apparatus for locating a defective component in a data processing system during system startup
CN111209146B (zh) 一种raid卡老化测试方法及系统
CN107273251A (zh) 一种在生产环境下Rack机柜JBOD存储的测试方法
CN115206405A (zh) 固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质
US7546489B2 (en) Real time event logging and analysis in a software system
CN111223516B (zh) Raid卡检测方法以及装置
CN115658404A (zh) 一种测试方法及系统
CN115422091A (zh) 一种固件调试方法及装置、电子设备、存储介质
CN115757099A (zh) 平台固件保护恢复功能自动测试方法和装置
US6229743B1 (en) Method of a reassign block processing time determination test for storage device
US10922023B2 (en) Method for accessing code SRAM and electronic device
US11080136B2 (en) Dropped write error detection
CN1983208A (zh) 建构虚拟测试环境的系统及其方法
CN111190781A (zh) 服务器系统的测试自检方法
CN116665758B (zh) 硬盘数据测试方法、装置、系统及介质
CN114791868B (zh) 故障类型检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质
CN116303058A (zh) 一种测试环境检查方法、系统、电子设备及介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant