CN117706333A - 一种pcb板测试台 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及PCB板测试技术领域,具体涉及一种PCB板测试台,包括设置在工作台上的下压组件和载物组件;下压组件包括升降框和翻盖,升降框沿竖直方向活动地设置在工作台上,升降框具有一载物空间,翻盖的一侧边与升降框的顶部铰接,翻盖与升降框的顶部贴合时,翻盖覆盖在载物空间上方,翻盖朝向升降框的一端面上设置有顶柱;载物组件位于所述载物空间内,载物组件包括载物板和测试探针,载物板沿竖直方向活动地设置在工作台上,且载物板的顶面至工作台之间的最大距离小于升降框的顶部至工作台之间的最大距离,载物板的顶面具有仿形槽,测试探针设置在工作台上,测试探针的探测端能够伸入至所述仿形槽内。本发明能够便于PCB板压紧进行测试。
Description
技术领域
本发明涉及PCB板测试技术领域,尤其涉及一种PCB板测试台。
背景技术
PCB板是印制电路板的简称,它是一种基于非导电材料上涂覆导电材料形成的一种电路板,其主要功能是将电子元器件电气连接在一起,因此对PCB板上的电路检测尤为重要。目前对于PCB板测试台上的测试探针与PCB板上的测试点接触是采用快速夹下压或者气缸下压的方式。然而快速夹下压与气缸下压的方式,均存在工装体积占用空间较大,不利于空间比较受限制的流水线中使用,以及存在遮挡视线,使得工作人员在放置PCB板时,容易让PCB板上电路和电子元器件与工装发生摩擦或者碰撞。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种PCB板测试台,能够便于PCB板压紧进行测试。
为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:一种PCB板测试台,包括分别设置在工作台的台面上的下压组件和载物组件;
所述下压组件包括升降框和翻盖,所述升降框沿竖直方向活动地设置在工作台的台面上,所述升降框具有一载物空间,所述翻盖的一侧边与升降框的顶部铰接,所述翻盖与升降框的顶部贴合时,所述翻盖覆盖在所述载物空间上方,所述翻盖朝向升降框的一端面上设置有顶柱;
所述载物组件位于所述载物空间内,所述载物组件包括载物板和测试探针,所述载物板沿竖直方向活动地设置在工作台的台面上,且所述载物板的顶面至工作台的台面之间的最大距离小于升降框的顶部至工作台的台面之间的最大距离,所述载物板的顶面具有仿形槽,所述测试探针设置在工作台上,所述测试探针的探测端能够伸入至所述仿形槽内。
本发明的有益效果在于:在工作台的台面上增设下压组件和载物组件;测试PCB板的过程中,将翻盖从升降框上打开,使位于升降框的载物空间内的载物组件暴露出,从而避免PCB板放置到载物板的仿形槽内时与其他物件发生摩擦或者碰撞。待PCB板放置在载物板的仿形槽内后,工作人员操作翻盖,使翻盖与升降框的顶部贴合,然后让升降框下降,使翻盖上的顶柱与PCB板接触;接着继续让升降框下降,由于位于载物板的仿形槽内的PCB板与顶柱接触,因此升降框下降的同时载物板也会随之下降,直到测试探针的探测端与PCB板上的测试点接触。
附图说明
图1为本发明在具体实施方式中的一种PCB板测试台的翻盖打开状态结构示意图;
图2为本发明在具体实施方式中的一种PCB板测试台的翻盖与升降框的顶部贴合状态结构示意图;
图3为图2一种PCB板测试台的A部放大图;
图4为本发明在具体实施方式中的一种PCB板测试台的下压组件的主视结构示意图;
图5为本发明在具体实施方式中的一种PCB板测试台的下压组件的侧视结构示意图;
图6为本发明在具体实施方式中的一种PCB板测试台的载物组件结构示意图;
标号说明:
1、工作台;
2、下压组件;21、升降框;22、翻盖;221、顶柱;222、避让口;223、滑槽;224、滑块;2241、装配孔;23、第一导向柱;24、第一弹簧;25、扫码器;
3、载物组件;31、载物板;32、测试探针;33、第二导向柱;34、第二弹簧;
4、安装块;41、固定块;411、波珠螺丝;42、活动块;
5、压杆组件;51、手柄;511、挂钩;512、压块;513、主柄;514、副柄;52、限位钩;53、安装架;531、缓冲块;
6、弹性支撑件;7、第三弹簧;8、PCB板。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。
PCB板是印制电路板的简称,它是一种基于非导电材料上涂覆导电材料形成的一种电路板,其主要功能是将电子元器件电气连接在一起,因此对PCB板上的电路检测尤为重要。目前对于PCB板测试台上的测试探针与PCB板上的测试点接触是采用快速夹下压或者气缸下压的方式。然而快速夹下压与气缸下压的方式,均存在工装体积占用空间较大,不利于空间比较受限制的流水线中使用,以及存在遮挡视线,使得工作人员在放置PCB板时,容易让PCB板上电路和电子元器件与工装发生摩擦或者碰撞。
基于此,本申请提供一种PCB板测试台,能够解决PCB板放置压紧过程中容易与工装发生摩擦或者碰撞的问题。
请参照图1、图2、图4至图6所示,本发明一种PCB板测试台,包括分别设置在工作台1的台面上的下压组件2和载物组件3;
所述下压组件2包括升降框21和翻盖22,所述升降框21沿竖直方向活动地设置在工作台1的台面上,所述升降框21具有一载物空间,所述翻盖22的一侧边与升降框21的顶部铰接,所述翻盖22与升降框21的顶部贴合时,所述翻盖22覆盖在所述载物空间上方,所述翻盖22朝向升降框21的一端面上设置有顶柱221;
所述载物组件3位于所述载物空间内,所述载物组件3包括载物板31和测试探针32,所述载物板31沿竖直方向活动地设置在工作台1的台面上,且所述载物板31的顶面至工作台1的台面之间的最大距离小于升降框21的顶部至工作台1的台面之间的最大距离,所述载物板31的顶面具有仿形槽,所述测试探针32设置在工作台1上,所述测试探针32的探测端能够伸入至所述仿形槽内。
其中,与测试探针32电连接用以测试PCB板8的控制板可以设置在工作台1的内部,也可以是外部单独连接。
从上述描述可知,本发明的有益效果在于:在工作台1的台面上增设下压组件2和载物组件3;测试PCB板8的过程中,将翻盖22从升降框21上打开,使位于升降框21的载物空间内的载物组件3暴露出,从而避免PCB板8放置到载物板31的仿形槽内时与其他物件发生摩擦或者碰撞。待PCB板8放置在载物板31的仿形槽内后,工作人员操作翻盖22,使翻盖22与升降框21的顶部贴合,然后让升降框21下降,使翻盖22上的顶柱221与PCB板8接触;接着继续让升降框21下降,由于位于载物板31的仿形槽内的PCB板8与顶柱221接触,因此升降框21下降的同时载物板31也会随之下降,直到测试探针32的探测端与PCB板8上的测试点接触。
请参照图4和图5所示,进一步地,所述下压组件2还包括第一导向柱23和第一弹簧24,所述第一导向柱23设置在工作台1上,所述升降框21滑动地设在第一导向柱23的柱身上,所述第一弹簧24套设在第一导向柱23的柱身上,且所述第一弹簧24位于升降框21与工作台1之间。
由上述描述可知,在对升降框21施加向下的力时,利用第一导向柱23能够确保升降框21在工作台1的台面上方的活动方向。在撤去对升降框21向下的力时,利用第一弹簧24的弹力能够使升降框21自动复位。
请参照图6所示,进一步地,所述载物组件3还包括第二导向柱33和第二弹簧34,所述第二导向柱33设置在工作台1上,所述载物板31滑动地设在第二导向柱33的柱身上,所述第二弹簧34套设在第二导向柱33的柱身上,且所述第二弹簧34位于载物板31与工作台1之间。
由上述描述可知,在顶柱221通过PCB板8对载物板31施加向下的力时,利用第二导向柱33能够确保载物板31在工作台1的台面上方的活动方向。在撤去对载物板31向下的力时,利用第二弹簧34的弹力能够使载物板31自动复位。
请参照图1、图2、图4和图5所示,进一步地,所述下压组件2还包括扫码器25,所述扫码器25设置在翻盖22上,所述翻盖22至少覆盖在所述载物空间正上方的区域为透明材质和/或所述翻盖22上设置有避让口222;当翻盖22与升降框21的顶部贴合时,所述扫码器25的镜头朝向所述载物空间。
由上述描述可知,通过设置扫码器25对放置在载物板31上PCB板8上的识别码进行扫码,以便于产品生产管理与产品追溯。
请参照图3至图5所示,进一步地,上述一种PCB板测试台还包括安装块4,所述翻盖22上设置有沿第一方向设置的滑槽223,以及滑动地设置在滑槽223上的滑块224,所述滑块224的顶部沿第二方向设置有多个装配孔2241,所述安装块4通过部分所述装配孔2241与滑块224连接,所述扫码器25设置在安装块4上,所述第二方向垂直于第一方向。其中,第一方向为翻盖22的长度方向,第一方向为翻盖22的宽度方向。
由上述描述可知,通过滑块224在滑槽223上的滑动,以及安装块4选用不同的装配孔2241在滑块224上的连接,能够使扫码器25适应多种PCB板8上识别码的扫描。
进一步地,所述扫码器25转动地设置在安装块4上。
由上述描述可知,转动安装的扫码器25能够进一步的便于工作人员调整扫码器25,以便于扫码器25扫描PCB板8上的识别码。
在一种可选的实施方式中,安装块4分为通过螺丝与装配孔2241螺纹连接的固定块41,以及与扫码器25底部连接的活动块42,固定块41通过波珠螺丝411与活动块42连接,且波珠螺丝411的球体端与活动块42嵌合。活动块42利用波珠螺丝411的球体实现在固定块41的摆动。
请参照图1和图2所示,进一步地,上述一种PCB板测试台还包括压杆组件5,所述压杆组件5包括手柄51和限位钩52;所述手柄51的一端铰接在工作台1的台面上,所述手柄51的柄身上铰接有与限位钩52适配的挂钩511,所述手柄51的柄身上设置有压块512;
所述翻盖22远离升降框21的一端面与压块512相抵靠,所述翻盖22与升降框21之间设置有弹性支撑件6,当所述翻盖22与升降框21的顶部贴合时,所述弹性支撑件6对翻盖22施加远离升降框21的顶部的弹力。
其中,所述压块512优选为转动地设置在手柄51上的轴承。以便于压块512在翻盖22上移动,从而保证翻盖22沿竖直方向上移动时的顺畅。
由上述描述可知,在下压夹紧PCB板8的过程中,工作人员通过操作手柄51下压,由压块512通过翻盖22对升降框21施加向下的力。并且利用限位钩52与挂钩511的配合能够省去在测试探针32与PCB板8在通电测试过程中,工作人员一直操作手柄51,从而降低了工作人员的作业难度,并保证了测试质量。
利用弹性支撑件6的弹力,能够在撤去对翻盖22向下的力后,翻盖22能够自行的在升降框21上打开,从而方便工作人员更换载物板31上的PCB板8。
请参照图1和图2所示,进一步地,上述一种PCB板测试台还包括第三弹簧7;所述手柄51包括主柄513和副柄514;所述主柄513的一端与工作台1的台面铰接,所述压块512设置在主柄513的柄身上,所述副柄514的一端与主柄513的柄身铰接,所述副柄514与主柄513的柄身铰接的一端具有挂钩511;
所述第三弹簧7的一端与主柄513的柄身连接,所述第三弹簧7的另一端与副柄514具有挂钩511的一端连接;
当所述主柄513的自由端与副柄514的自由端相互靠近时,所述第三弹簧7被拉伸。
由上述描述可知,将手柄51分为相互铰接的主柄513和副柄514,同时增设第三弹簧7。当工作人员手需要操作手柄51的过程中,由手掌握紧主柄513和副柄514的自由端,使主柄513和副柄514的自由端相互靠近,从而让第三弹簧7被拉伸产生弹性势能,当测试探针32与PCB板8的测试点接触后,工作人员手掌松开主柄513和副柄514的自由端,此时副柄514会在第三弹簧7的弹力作用下,使副柄514的自由端开始远离主柄513的自由端,即副柄514上的挂钩511活动,使自行的使挂钩511与限位钩52钩在一起,从而完成自锁。
请参照图1和图2所示,进一步地,所述压杆组件5还包括设置在工作台1的台面上的安装架53,所述手柄51的一端与安装架53铰接,所述安装架53上设置有能够与手柄51相抵靠的缓冲块531;当手柄51抵靠至缓冲块531时,所述翻盖22在升降框21上的开启程度达到最大。
由上述描述可知,由缓冲块531限制手柄51在工作台1的台面上活动范围。
实施例一
一种PCB板测试台,请参照图1、图2、图4至图6所示,包括分别设置在工作台1的台面上的下压组件2和载物组件3;所述下压组件2包括升降框21和翻盖22,所述升降框21沿竖直方向活动地设置在工作台1的台面上,所述升降框21具有一载物空间,所述翻盖22的一侧边与升降框21的顶部铰接,所述翻盖22与升降框21的顶部贴合时,所述翻盖22覆盖在所述载物空间上方,所述翻盖22朝向升降框21的一端面上设置有顶柱221;所述载物组件3位于所述载物空间内,所述载物组件3包括载物板31和测试探针32,所述载物板31沿竖直方向活动地设置在工作台1的台面上,且所述载物板31的顶面至工作台1的台面之间的最大距离小于升降框21的顶部至工作台1的台面之间的最大距离,所述载物板31的顶面具有仿形槽,所述测试探针32设置在工作台1上,所述测试探针32的探测端能够伸入至所述仿形槽内。
实施例二
本实施例在实施例一的基础上进一限定了升降框21在工作台1的台面上移动的结构,具体如下:
请参照图4和图5所示,所述第一导向柱23设置在工作台1上,所述升降框21滑动地设在第一导向柱23的柱身上,所述第一弹簧24套设在第一导向柱23的柱身上,且所述第一弹簧24位于升降框21与工作台1之间。
实施例三
本实施例在实施例一的基础上进一限定了载物板31在工作台1的台面上移动的结构,具体如下:
请参照图6所示,所述第二导向柱33设置在工作台1上,所述载物板31滑动地设在第二导向柱33的柱身上,所述第二弹簧34套设在第二导向柱33的柱身上,且所述第二弹簧34位于载物板31与工作台1之间。
实施例四
本实施例在实施例一的基础上进一限定了下压组件2还包括扫码器25,具体如下:
请参照图3至图5所示,所述翻盖22上设置有沿自身长度方向的滑槽223,以及滑动地设置在滑槽223上的滑块224,所述滑块224的顶部沿第二方向设置有多个装配孔2241,所述安装块4通过部分所述装配孔2241与滑块224连接,所述扫码器25转动地设置在安装块4上。所述翻盖22至少覆盖在所述载物空间正上方的区域为透明材质和/或所述翻盖22上设置有避让口222;当翻盖22与升降框21的顶部贴合时,所述扫码器25的镜头朝向所述载物空间。
实施例五
本实施例在实施例一的基础上进一限定了PCB板测试台还包括压杆组件5和第三弹簧7,具体如下:
请参照图1和图2所示,所述压杆组件5包括手柄51和限位钩52;所述手柄51的一端铰接在工作台1的台面上,所述手柄51包括主柄513和副柄514;所述主柄513的一端与工作台1的台面铰接,所述压块512设置在主柄513的柄身上,所述副柄514的一端与主柄513的柄身铰接,所述副柄514与主柄513的柄身铰接的一端具有挂钩511;所述第三弹簧7的一端与主柄513的柄身连接,所述第三弹簧7的另一端与副柄514具有挂钩511的一端连接;当所述主柄513的自由端与副柄514的自由端相互靠近时,所述第三弹簧7被拉伸。所述翻盖22远离升降框21的一端面与压块512相抵靠,所述翻盖22与升降框21之间设置有弹性支撑件6,当所述翻盖22与升降框21的顶部贴合时,所述弹性支撑件6对翻盖22施加远离升降框21的顶部的弹力。
实施例六
本实施例在实施例五的基础上进一限定了压杆组件5还包括设置在工作台1的台面上的安装架53,具体如下:
请参照图1和图2所示,所述主柄513的一端与安装架53铰接,所述安装架53上设置有能够与主柄513相抵靠的缓冲块531;当主柄513抵靠至缓冲块531时,所述翻盖22在升降框21上的开启程度达到最大。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换,或直接或间接运用在相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种PCB板测试台,其特征在于:包括分别设置在工作台的台面上的下压组件和载物组件;
所述下压组件包括升降框和翻盖,所述升降框沿竖直方向活动地设置在工作台的台面上,所述升降框具有一载物空间,所述翻盖的一侧边与升降框的顶部铰接,所述翻盖与升降框的顶部贴合时,所述翻盖覆盖在所述载物空间上方,所述翻盖朝向升降框的一端面上设置有顶柱;
所述载物组件位于所述载物空间内,所述载物组件包括载物板和测试探针,所述载物板沿竖直方向活动地设置在工作台的台面上,且所述载物板的顶面至工作台的台面之间的最大距离小于升降框的顶部至工作台的台面之间的最大距离,所述载物板的顶面具有仿形槽,所述测试探针设置在工作台上,所述测试探针的探测端能够伸入至所述仿形槽内。
2.根据权利要求1所述PCB板测试台,其特征在于:所述下压组件还包括第一导向柱和第一弹簧,所述第一导向柱设置在工作台上,所述升降框滑动地设在第一导向柱的柱身上,所述第一弹簧套设在第一导向柱的柱身上,且所述第一弹簧位于升降框与工作台之间。
3.根据权利要求1所述PCB板测试台,其特征在于:所述载物组件还包括第二导向柱和第二弹簧,所述第二导向柱设置在工作台上,所述载物板滑动地设在第二导向柱的柱身上,所述第二弹簧套设在第二导向柱的柱身上,且所述第二弹簧位于载物板与工作台之间。
4.根据权利要求1所述PCB板测试台,其特征在于:所述下压组件还包括扫码器,所述扫码器设置在翻盖上,所述翻盖至少覆盖在所述载物空间正上方的区域为透明材质和/或所述翻盖上设置有避让口;当翻盖与升降框的顶部贴合时,所述扫码器的镜头朝向所述载物空间。
5.根据权利要求4所述PCB板测试台,其特征在于:还包括安装块,所述翻盖上设置有沿第一方向设置的滑槽,以及滑动地设置在滑槽上的滑块,所述滑块的顶部沿第二方向设置有多个装配孔,所述安装块通过部分所述装配孔与滑块连接,所述扫码器设置在安装块上,所述第二方向垂直于第一方向。
6.根据权利要求5所述PCB板测试台,其特征在于:所述扫码器转动地设置在安装块上。
7.根据权利要求1所述PCB板测试台,其特征在于:还包括压杆组件,所述压杆组件包括手柄和限位钩;所述手柄的一端铰接在工作台的台面上,所述手柄的柄身上铰接有与限位钩适配的挂钩,所述手柄的柄身上设置有压块;
所述翻盖远离升降框的一端面与压块相抵靠,所述翻盖与升降框之间设置有弹性支撑件,当所述翻盖与升降框的顶部贴合时,所述弹性支撑件对翻盖施加远离升降框的顶部的弹力。
8.根据权利要求7所述PCB板测试台,其特征在于:还包括第三弹簧;所述手柄包括主柄和副柄;所述主柄的一端与工作台的台面铰接,所述压块设置在主柄的柄身上,所述副柄的一端与主柄的柄身铰接,所述副柄与主柄的柄身铰接的一端具有挂钩;
所述第三弹簧的一端与主柄的柄身连接,所述第三弹簧的另一端与副柄具有挂钩的一端连接;
当所述主柄的自由端与副柄的自由端相互靠近时,所述第三弹簧被拉伸。
9.根据权利要求7所述PCB板测试台,其特征在于:所述压杆组件还包括设置在工作台的台面上的安装架,所述手柄的一端与安装支架铰接,所述安装架上设置有能够与手柄相抵靠的缓冲块;当手柄抵靠至缓冲块时,所述翻盖在升降框上的开启程度达到最大。
10.根据权利要求7所述PCB板测试台,其特征在于:所述压块为转动地设置在手柄上的轴承。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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