CN117705703A - 小众专用金属检测针 - Google Patents

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CN117705703A CN202311721906.8A CN202311721906A CN117705703A CN 117705703 A CN117705703 A CN 117705703A CN 202311721906 A CN202311721906 A CN 202311721906A CN 117705703 A CN117705703 A CN 117705703A
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Inventor
李鸿辉
曹振兴
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Kalex MultiLayer Circuit Board Zhongshan Ltd
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Abstract

本申请涉及一种推出力测试装置,包括第一治具、顶杆、弹性件与驱动件,第一治具设有安装槽,安装槽的一端贯穿第一治具。顶杆可活动地设于安装槽。顶杆的一部分凸设于安装槽以形成推力端。弹性件设于安装槽,弹性件的一端与第一治具连接,另一端与顶杆连接,推力端能够在弹性件的作用下对电路板上的金属粒施加预定推力。本申请中当弹性件被压缩至最大变形量时,弹性件能够反向作用给顶杆一个预定推力,推力端能够将预定推力施加给金属粒以检测金属粒是否松动,进而完成对金属粒的推出力测试。因此,该推出力测试装置能够限定施加至金属粒的预定推力的大小,所以不会破坏合格的电路板,安全性高。故其能够对电路板进行全检,提高测试结果的准确性。

Description

小众专用金属检测针
技术领域
本申请涉及电路板测试技术领域,特别是涉及一种推出力测试装置。
背景技术
由于埋铜粒、嵌铜粒电路板中放置的铜粒与电路板基材的热膨胀系数不一致,所以铜粒与电路板的结合部位存在不牢固的风险。因此,针对镶嵌铜粒的电路板,为了预防铜粒脱落,需要使用推出力测试装置对铜粒进行推出力测试。
其中,推出力测试是指向电路板中的铜粒施加一个推力,以测试铜粒是否因为结合不牢固而被推出电路板。由于当前的推出力测试装置的检测方式大多为破坏性的检测,所以电路板在推出力测试后即报废。因此,当前的推出力测试装置只能对电路板进行抽检,而不能全检,这导致测试结果与实际情况存在偏差。
发明内容
基于此,有必要针对上述问题,提供一种能够提高测试精度的推出力测试装置。
一种推出力测试装置,包括:
第一治具,所述第一治具设有安装槽,所述安装槽的一端贯穿所述第一治具;
顶杆,所述顶杆可活动地设于所述安装槽;所述顶杆的一部分凸设于所述安装槽以形成推力端;及,
弹性件,所述弹性件设于所述安装槽,所述弹性件的一端与所述第一治具连接,另一端与所述顶杆连接,所述推力端能够在所述弹性件的作用下对电路板上的金属粒施加预定推力。
下面进一步对技术方案进行说明:
在其中一个实施例中,所述推出力测试装置还包括驱动件,所述驱动件与所述第一治具驱动连接。
在其中一个实施例中,所述推出力测试装置还包括第二治具,所述第二治具与所述第一治具相对设置,且与所述驱动件驱动连接,所述驱动件能够驱动所述第一治具与所述第二治具作相互靠近或相互远离的运动。
在其中一个实施例中,所述顶杆具有所述推力端与所述安装槽的槽口平齐的限位位置,在所述限位位置下,所述推力端能够对所述金属粒施加所述预定推力。
在其中一个实施例中,所述顶杆包括杆部以及凸设于所述杆部的外周面的台阶部,所述杆部插设于所述安装槽,且所述杆部的一端凸出于所述安装槽以形成所述推力端;所述弹性件与所述台阶部连接。
在其中一个实施例中,所述弹性件为弹簧,所述弹簧套设于所述顶杆上。
在其中一个实施例中,所述推出力测试装置还包括限位件,所述限位件设于所述安装槽并与所述第一治具连接,所述弹性件背离所述台阶部的一端与所述限位件抵接。
在其中一个实施例中,所述安装槽为通槽,所述限位件设于所述安装槽的一端,所述推出力测试装置还包括固定件,所述固定件用于固定所述第一治具与所述限位件。
在其中一个实施例中,所述第一治具上凸设有第一定位部,所述第一定位部用于与所述电路板上的第二定位部配合连接。
在其中一个实施例中,所述第一定位部的数量为多个,所述多个第一定位部沿所述安装槽的周向间隔布置。
上述的推出力测试装置中,当第一治具设于电路板的一侧,且推力端与设于电路板上的金属粒相对设置时,可以通过第一治具向电路板所在一侧移动的方式使得推力端与金属粒抵接。当推力端与金属粒抵接且第一治具继续移动时,在电路板压力作用下,顶杆会相对第一治具朝远离电路板的一侧移动,这使得顶杆会压缩弹性件,以使弹性件能够反向作用给顶杆一个与移动方向相反的推力,且推力端能够将该推力施加至金属粒。因此,当弹性件被压缩至最大变形量时,弹性件能够反向作用给顶杆一个预定推力,从而使得推力端能够将预定推力施加给金属粒,以检测金属粒是否松动,完成对金属粒的推出力测试。与传统的推出力测试装置相比,该推出力测试装置能够限定施加至金属粒的预定推力大小,所以不会破坏合格的电路板,安全性高。故其能够对电路板进行全检,提高测试结果的准确性。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
此外,附图并不是1:1的比例绘制,并且各个元件的相对尺寸在附图中仅示例地绘制,而不一定按照真实比例绘制。在附图中:
图1为本申请一实施例中的推出力测试装置的结构示意图。
图2为本申请一实施例中的顶杆与弹性件连接的结构示意图。
附图标记说明:
100、推出力测试装置;1、第一治具;1a、安装槽;2、固定件;3、限位件;4、弹性件;5、第一定位部;6、顶杆;61、杆部;61a、推力端;62、台阶部;200、电路板;201、金属粒。
具体实施方式
为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进,因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。
在本申请的描述中,需要理解的是,若有出现这些术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等,这些术语指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
此外,若有出现这些术语“第一”、“第二”,这些术语仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中,若有出现术语“多个”,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
在本申请中,除非另有明确的规定和限定,若有出现术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等,这些术语应做广义理解。例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请中,除非另有明确的规定和限定,若有出现第一特征在第二特征“上”或“下”等类似的描述,其含义可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
需要说明的是,若元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。若一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。如若存在,本申请所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
本申请一实施例提供一种推出力测试装置,用于对电路板上的金属粒推力出测试。其中,电路板上的金属粒嵌设在电路板的通孔中,金属粒用于电路散热或焊接电子元件,金属粒具体可以为铜粒或其他金属或合金颗粒,在此不做限制。
具体的,参阅图1和图2,其中,图1示出了本申请一实施例中的推出力测试装置100的结构示意图,图2示出了本申请一实施例中的顶杆6与弹性件4的结构示意图。本申请一实施例提供的推出力测试装置100,包括第一治具1、顶杆6与弹性件4。其中:
结合图1和图2所示,第一治具1设有安装槽1a,安装槽1a的一端贯穿第一治具1。顶杆6可活动地设于安装槽1a。顶杆6的一部分凸设于安装槽1a以形成推力端61a。弹性件4设于安装槽1a,弹性件4的一端与第一治具1连接,另一端与顶杆6连接,推力端61a能够在弹性件4的作用下对电路板200上的金属粒201施加预定推力。
具体的,当金属粒201设于电路板200的通孔上,推力端61a在通孔的一端与金属粒201相抵接并向金属粒201施加一个推力时,推力能够促使金属粒201产生一个与电路板200分离的趋势。其中,当推力大于金属粒201与电路板200之间的连接可承受的力时,金属粒201与电路板200分离。故为了测试金属粒201与电路板200之间的连接是否能够承受一定阈值内的力,需要对金属粒201进行推出力测试。其中,在推出力测试中,当金属粒201受到阈值上限的力仍可靠地连接于电路板200上时,则认为该金属粒201通过推出力测试,也即该金属粒201与电路板200之间的结合牢靠。当金属粒201受到阈值范围内的力时即与电路板200发生分离时,则认为该金属粒201未通过推出力测试,也认为该金属粒201与电路板200之间存在连接松动的情况。故为了准确地对金属粒201进行推出力测试,需要推出力测试装置100能够输出等于推出力测试中的阈值上限的力。然后,在推出力测试过程中,若由于推出力测试装置100施加至金属粒201的力大于阈值上限的力而导致金属粒201与电路板200脱离时,则会破坏合格的电路板200,导致电路板200报废。故为了准确且安全地对金属粒201进行推出力测试,需要限定推出力测试装置100施加至金属粒201上的力的大小,以保证测试结果的准确性。
结合图1和图2所示,当驱动第一治具1向电路板200的一侧移动,且推力端61a与金属粒201抵接时,推力端61a施加至金属粒201上的力实际上等于弹性件4受到压缩时产生的弹力,故该推出力测试装置100可以通过限制弹性件4被压缩至最大变形量时产生的弹力等于推出力测试中的阈值上限的力的方式,限制推出力测试装置100施加至金属粒201上的力的大小。可以理解的是,“预定推力”等于弹性件4被压缩时最大变形量时弹力,即等于上述的“推出力测试中的阈值上限的力”,故当金属粒201受到预定推力仍可靠地连接与电路板200时,金属粒201通过推出力测试。
上述的推出力测试装置100中,当第一治具1设于电路板200的一侧,且推力端61a与设于电路板200上的金属粒201相对设置时,可以通过第一治具1向电路板200所在一侧移动的方式使得推力端61a与金属粒201抵接。当推力端61a与金属粒201抵接且第一治具1继续移动时,在电路板200压力作用下,顶杆6会相对第一治具1朝远离电路板200的一侧移动,这使得顶杆6会压缩弹性件4,以使弹性件4能够反向作用给顶杆6一个与移动方向相反的推力,且推力端61a能够将该推力施加至金属粒201。因此,当弹性件4被压缩至最大变形量时,弹性件4能够反向作用给顶杆6一个预定推力,从而使得推力端61a能够将预定推力施加给金属粒201,以检测金属粒201是否松动,完成对金属粒201的推出力测试。与传统的推出力测试装置100相比,该推出力测试装置100能够限定施加至金属粒201的预定推力大小,所以不会破坏合格的电路板200,安全性高。故其能够对电路板200进行全检,提高测试结果的准确性。
可理解地,预定推力的大小与弹性件4的弹性系数相关,通过更换不同弹性系数的弹性件4,即可设定不同的预定推力,以适配不同型号的电路板200。其中,预定推力的大小可根据金属粒201的材料、大小、形状以及挤压工艺等因素按需设置,在此不做限定。在一实施例中,预定推力的大小可以为50N~70N,优选为60N。
在一种实施例中,如图1所示,推出力测试装置100还包括驱动件(图未注),驱动件与第一治具1驱动连接。驱动件用于驱动第一治具1向顶杆6中的推力端61a所在一侧移动,以使得第一治具1设于电路板200一侧,且推力端61a与金属粒201相对设置时,在驱动件的驱动作用下,推力端61a能够将预定推力施加至金属粒201,以完成推出力测试。
进一步地,在一种实施例中,推出力测试装置还包括第二治具(图未注),第二治具与第一治具相对设置,且与驱动件驱动连接,驱动件能够驱动第一治具与第二治具作相互靠近或相互远离的运动。如此,驱动件驱动第一治具1与第二治具相互远离时,可以将电路板200设于第一治具1与第二治具之间,并使金属粒201与顶杆6相对设置,以使得驱动件驱动第一治具1与第二治具相互靠近时,顶杆6的推力端61a能够将预定推力施加至金属粒201上,从而完成推出力测试。
在一种实施例中,顶杆6具有推力端61a与安装槽1a的槽口平齐的限位位置,在限位位置下,推力端61a能够对金属粒201施加预定推力。限位位置的设置能够限制顶杆6在受到电路板200压力时相对第一治具1移动的行程距离,从而避免因顶杆6相对第一治具1的行程过大而损害弹性件4的弹性性能。因此,限位位置的限定能够提高推出力测试装置100的可靠性以及使用寿命。
在一种实施例中,结合图1和图2所示,顶杆6包括杆部61以及凸设于杆部61的外周面的台阶部62,杆部61插设于安装槽1a,且杆部61的一端凸出于安装槽1a以形成推力端61a。弹性件4与台阶部62连接。如此,保证了顶杆6抵压到金属粒201时,顶杆6能够挤压弹性件4,从而使得弹性件4能通过推力端61a给金属粒201施加推力,同时也能够避免弹性件4释放弹性力时弹性件4以及顶杆6脱离安装槽1a。
可选的,台阶部62可以环设于杆部61的径向外周。安装槽1a的内径可以大于台阶部62的外径,以使得台阶部62可以在安装槽1a内移动。
可选的,在一种实施例中,弹性件4为弹簧,弹簧套设于顶杆6上。弹簧具有稳定性好、负载能力请以及尺寸精度高的特点,因此使用弹簧作为弹性件4时,能够保证弹性件4在使用过程中的稳定性,以及保证推出力测试装置100在使用过程中的可靠性。
在一种实施例中,如图1所示,推出力测试装置100还包括限位件3,限位件3设于安装槽1a并与第一治具1连接,弹性件4背离台阶部62的一端与限位件3抵接。限位件3的设置能够保证顶杆6相对第一治具向限位件3一侧移动时,顶杆6可以有效地压缩弹性件4,从而保证弹性件4能够将反作用力施加至推力端61a,推力端61a能够将力施加至金属粒201。因此,限位件3的设置能够提高推出力测试装置100的可靠性。
可选的,在一种实施例中,结合图1所示,限位件3上设有与安装槽1a连通的限位槽(图未注),限位槽的延伸方向与安装槽1a的延伸方向相同,杆部61朝向限位件3的一端能够穿入或退出限位槽。限位槽的延伸方向与安装槽1a的延伸方向相同,这使得杆部61相对第一治具1移动时能够顺畅地穿入或退出限位槽,从而使得限位槽能够在杆部61相对第一治具1移动时提供给杆部61一个避让空间,以避免因杆部61与限位件3的抵接而导致推力端61a施加至金属粒201的力不等于预定推力。因此,限位槽的设置能够保证推出力测试装置100工作时的可靠性以及测试结果的准确性。
可选的,在一种实施例中,结合图1所示,安装槽1a为通槽,限位件3设于安装槽1a的一端,推出力测试装置100还包括固定件2,固定件2用于固定第一治具1与限位件3。固定件2的设置能够保证限位件3与第一治具1可靠连接,从而保证限位件3能够可靠地抵接弹性件4,以使得弹性件4受到压力时能够实现压缩。
可选的,固定件2可以是螺钉、定位销等。
可选的,在其他实施例中,限位件3也可以与第一治具1一体成型,或者通过焊接或粘接的方式设于第一治具1上。
在一种实施例中,结合图1所示,第一治具1上凸设有第一定位部5,第一定位部5用于与电路板200上的第二定位部(图未注)配合连接。具体的,在驱动件驱动第一治具1之前,先将第一定位部5与第二定位部进行连接,以定位电路板200,并使得推力端61a能够与金属粒201相对设置。从而使得驱动件驱动第一治具1时,推力端61a能够与金属粒201抵接,弹性件4能够驱动推力端61a输出预定推力至金属粒201,检测金属粒201是否发生松动。
可选的,在一种实施例中,结合图1所示,第一定位部5的数量为多个,多个第一定位部5沿安装槽1a的周向间隔布置。当第一定位部5的数量为多个时能够提高对电路板200的定位精确度,以保证推力端61a能够向金属粒201施加预定推力。
优选的,第一定位部5的数量为四个。四个第一定位部5的位置可以根据需要进行布置,例如,四个第一定位部5可以分别对应电路板200的四个角布置,以使得四个第一定位部5一一对应地连接第二定位部时,能够有效地提高对电路板200的定位精确度。
可选的,在一种实施例中,结合图1所示,第一定位部5包括定位柱,第二定位部包括定位孔,定位柱用于与定位孔插接配合。具体的,在驱动件驱动第一治具1之前,先将定位柱插接于定位孔内,以定位电路板200,从而使得推力端61a能够与金属粒201相对设置。进而使得驱动件驱动第一治具1时,推力端61a能够与金属粒201抵接,以使得弹性件4能够促使推力端61a输出预定推力至金属粒201,完成金属粒201是否发生松动的检测。
可选的,在其他实施例中,第一定位部5也可以是定位凸起,第二限位部也可以限位槽,以使得定位凸起能够通过插设于限位槽的方式定位电路板200。或者,第一定位部5也可以使得卡扣,第二定位部为卡孔,以使得卡扣能够通过卡接于卡孔的方式定位电路板200。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种推出力测试装置,其特征在于,包括:
第一治具,所述第一治具设有安装槽,所述安装槽的一端贯穿所述第一治具;
顶杆,所述顶杆可活动地设于所述安装槽;所述顶杆的一部分凸设于所述安装槽以形成推力端;及,
弹性件,所述弹性件设于所述安装槽,所述弹性件的一端与所述第一治具连接,另一端与所述顶杆连接,所述推力端能够在所述弹性件的作用下对电路板上的金属粒施加预定推力。
2.根据权利要求1所述的推出力测试装置,其特征在于,所述推出力测试装置还包括驱动件,所述驱动件与所述第一治具驱动连接。
3.根据权利要求2所述的推出力测试装置,其特征在于,所述推出力测试装置还包括第二治具,所述第二治具与所述第一治具相对设置,且与所述驱动件驱动连接,所述驱动件能够驱动所述第一治具与所述第二治具作相互靠近或相互远离的运动。
4.根据权利要求1所述的推出力测试装置,其特征在于,所述顶杆具有所述推力端与所述安装槽的槽口平齐的限位位置,在所述限位位置下,所述推力端能够对所述金属粒施加所述预定推力。
5.根据权利要求1所述的推出力测试装置,其特征在于,所述顶杆包括杆部以及凸设于所述杆部的外周面的台阶部,所述杆部插设于所述安装槽,且所述杆部的一端凸出于所述安装槽以形成所述推力端;所述弹性件与所述台阶部连接。
6.根据权利要求5所述的推出力测试装置,其特征在于,所述弹性件为弹簧,所述弹簧套设于所述顶杆上。
7.根据权利要求5所述的推出力测试装置,其特征在于,所述推出力测试装置还包括限位件,所述限位件设于所述安装槽并与所述第一治具连接,所述弹性件背离所述台阶部的一端与所述限位件抵接。
8.根据权利要求7所述的推出力测试装置,其特征在于,所述安装槽为通槽,所述限位件设于所述安装槽的一端,所述推出力测试装置还包括固定件,所述固定件用于固定所述第一治具与所述限位件。
9.根据权利要求1所述的推出力测试装置,其特征在于,所述第一治具上凸设有第一定位部,所述第一定位部用于与所述电路板上的第二定位部配合连接。
10.根据权利要求9所述的推出力测试装置,其特征在于,所述第一定位部的数量为多个,所述多个第一定位部沿所述安装槽的周向间隔布置。
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