CN117491924B - 一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质。属于测量磁变量技术领域。解决绘制的磁滞回线误差较大的问题。包括，确定出磁性待测物的标定区域与检测区域；在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，以确定出旋转角度与透射光强之间的关系；开启磁场后，获取标定区域对应的实际灰度，将实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差；在灰度差大于预置阈值的情况下，基于旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转；直至灰度差不大于预置阈值，确定出检测区域对应的光强信息，以计算检测区域的磁性；根据磁场信息、检测区域的磁性信息，得到磁滞回线。

Description

一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质

技术领域

本发明涉及测量磁变量技术领域，尤其涉及一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质。

背景技术

基于磁光克尔效应，当偏振光照射至磁性物体，反射光受到磁性物体的磁性影响，偏振角度会发生变化。

现有的磁光克尔检测是指，利用磁光克尔效应检测被测物的磁性，一般包括光源、起偏器、检偏器、光传感器，利用检偏器对被测物反射的光进行处理，处理后的光进入光传感器，可以得到磁性信息。其中，针对点状的区域检测，光传感器可以采用光电探测器，以获得单点的磁性信息；针对一个小区域的检测，光传感器可以采用相机元件，以获得磁性分布信息。

现有技术中，被测物通常需要处于磁场中才能测得磁滞回线，但是，由于磁场的存在，会对检测结果造成干扰，影响磁滞回线的检测。

发明内容

在部分情形下，靠近被测物的透镜会处于磁场当中，磁场与透镜相结合会形成法拉第效应，对偏振光的偏振态造成影响，进而导致测得的磁滞回线中包含由法拉第效应造成的偏振改变信息，以致生成的磁滞回线误差较大。在此基础上，为了提高磁滞回线的检测精度，本发明实施例提供了一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质。

本发明实施例采用下述技术方案：

本发明实施例提供一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法。包括，确定出磁性待测物的标定区域与检测区域；其中，标定区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性不翻转的区域；检测区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性出现翻转的区域；在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于检偏器旋转角度与透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系；开启磁场后，获取标定区域对应的实际灰度，将标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差；其中，磁场覆盖标定区域与检测区域；在灰度差大于预置阈值的情况下，基于旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转；直至灰度差不大于预置阈值，确定出检测区域对应的光强信息，以计算检测区域的磁性；根据磁场信息、检测区域的磁性信息，得到磁滞回线。

本发明实施例通过确定出磁性待测物的标定区域与检测区域，以及通过测定标定区域的实际灰度，并通过确定出的旋转角度与光强之间的关系，对灰度差进行调节，以消除法拉第效应，提高绘制的磁滞回线的准确性。由于标定区域的磁性是大体不变的，因此检测到的标定区域的灰度应当是大体不变的。但是由于法拉第效应的影响，造成经过检偏器的反射光的偏振态发生变化，进而使得灰度发生了变化，如果超出阈值，说明法拉第效应的影响过大，则转动检偏器，使得灰度变化减小至阈值范围内，从而对法拉第效应的影响进行补偿。

在本发明的一种实现方式中，在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于检偏器旋转角度与透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系，具体包括：在无磁场环境中，将检偏器旋转至初始角度，对标定区域对应的光强进行分析，得到第一透射光强；对检偏器进行多次不同角度旋转，并在每次角度旋转完成后，对标定区域对应的光强进行分析，得到多个不同旋转角度分别对应的第二透射光强；基于第一透射光强、第二透射光强、检偏器旋转角度以及初始角度，确定出旋转角度与透射光强之间的关系。

在本发明的一种实现方式中，基于第一透射光强与第二透射光强、检偏器旋转角度以及初始角度，确定出旋转角度与透射光强之间的关系，具体包括：基于第一透射光强、第二透射光强、检偏器旋转角度以及初始角度，进行数据拟合；通过数据拟合得到检偏器旋转角度与透射光强之间的拟合曲线，以通过拟合曲线确定出旋转角度与透射光强之间的关系。

在本发明的一种实现方式中，基于旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转，具体包括：基于灰度差，确定出待修正光强值；在旋转角度与光强之间的关系中，确定出待修正光强值对应的检偏器参考旋转角度；基于参考旋转角度，对检偏器进行角度旋转。

在本发明的一种实现方式中，基于灰度差，确定出待修正光强值，具体包括：基于灰度差，确定出待修正误差的正负值；基于待修正误差的正负值，确定出光强调节方式；光强调节方式为调小、调大的其中之一；基于灰度差与光强调节方式，确定出待修正光强值。

在本发明的一种实现方式中直至灰度差不大于预置阈值，确定出检测区域对应的光强信息，以计算检测区域的磁性；根据磁场信息、检测区域的磁性信息，得到磁滞回线，具体包括：在灰度差不大于预置阈值的情况下，获取检测区域对应的光强信息；多次改变磁场、调整检偏器的旋转角度，根据检测区域对应的光强信息计算检测区域的磁性信息；根据磁场信息、检测区域对应的磁性信息，绘制磁滞回线。

在本发明的一种实现方式中，在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强之后，方法还包括：在无磁场环境中，根据处于初始位置的检偏器对应的透射光强，确定出标定区域对应的预置基准灰度。

在本发明的一种实现方式中，将标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差之后，方法还包括：在灰度差不大于预置阈值的情况下，基于标定区域对应的实际灰度，确定出检测区域的磁性信息。

本发明实施例提供一种磁滞回线检测设备，包括：至少一个处理器；以及，与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够：确定出磁性待测物的标定区域与检测区域；其中，标定区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性不翻转的区域；检测区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性出现翻转的区域；在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于检偏器旋转角度与透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系；开启磁场后，获取标定区域对应的实际灰度，将标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差；其中，磁场覆盖标定区域与检测区域；在灰度差大于预置阈值的情况下，基于旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转；直至灰度差不大于预置阈值，确定出检测区域对应的光强信息，以计算检测区域的磁性；根据磁场信息、检测区域的磁性信息，得到磁滞回线。

本发明实施例提供的一种非易失性计算机存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令设置为：确定出磁性待测物的标定区域与检测区域；其中，标定区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性不翻转的区域；检测区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性出现翻转的区域；在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于检偏器旋转角度与透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系；开启磁场后，获取标定区域对应的实际灰度，将标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差；其中，磁场覆盖标定区域与检测区域；在灰度差大于预置阈值的情况下，基于旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转；直至灰度差不大于预置阈值，确定出检测区域对应的光强信息，以计算检测区域的磁性；根据磁场信息、检测区域的磁性信息，得到磁滞回线。

本发明实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：本发明实施例通过确定出磁性待测物的标定区域与检测区域，以及通过测定标定区域的实际灰度，并通过确定出的旋转角度与光强之间的关系，对灰度差进行调节，以消除法拉第效应，提高绘制的磁滞回线的准确性。由于标定区域的磁性是不变的，因此检测到的标定区域的灰度是不变的。但是由于法拉第效应的影响，造成经过检偏器的反射光的偏振态发生变化，进而使得灰度发生了变化，如果超出阈值，说明法拉第效应的影响过大，则转动检偏器，使得灰度变化减小至阈值范围内，从而对法拉第效应的影响进行补偿。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1为本发明实施例提供的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法流程图；

图2为本发明实施例提供的一种磁性待测物不同区域划分第一示意图；

图3为本发明实施例提供的一种磁性待测物不同区域划分第二示意图；

图4为本发明实施例提供的一种克尔信号与磁场强度关系的第一示意图；

图5为本发明实施例提供的一种克尔信号与磁场强度关系的第二示意图；

图6为本发明实施例提供的一种基于磁光效应的磁滞回线检测设备的结构示意图。

附图标记：

1磁性待测物，2磁性待测物磁性区域，3磁性待测物的非磁性区域，4第一光斑区域，5第一成像区域，6第一磁滞回线检测区域，7第一磁滞回线标定区域；

8第二光斑区域，9第二成像区域，10第二磁滞回线检测区域，11第二磁滞回线标定区域；

200磁滞回线检测设备，201处理器，202存储器。

具体实施方式

本发明实施例提供一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法、设备及介质。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本说明书实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

下面通过附图对本发明实施例提出的技术方案进行详细的说明。

图1为本发明实施例提供的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法流程图，如图1所示，磁滞回线检测方法包括如下步骤：

步骤101、确定出磁性待测物的标定区域与检测区域。

在本发明的一个实施例中，将磁性待测物划分为标定区域与检测区域，其中，标定区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性不翻转的区域。检测区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性出现翻转的区域。

具体地，标定区域可以为钉扎点、缺陷点、非磁区域，或在磁场环境下磁畴大体不变的区域，标定区域的磁性在磁滞回线检测所用的磁场环境下不会发生翻转。但是由于法拉第效应的影响，造成经过检偏器的反射光的偏振态发生变化，进而使得标定区域的灰度发生了变化。此时，检测区域同样会受到法拉第效应的影响，因此，通过对标定区域的灰度进行调节可以确定出检测区域对应的法拉第效应补偿，降低检测区域法拉第效应的影响，使最终测得的检测区域的磁滞回线的准确性较高。

图2为本发明实施例提供的一种磁性待测物不同区域划分第一示意图。如图2所示，图中最大的矩形区域为磁性待测物1，矩形中间的部分为磁性待测物的磁性区域2，磁性待测物的磁性区域2两侧为磁性待测物的非磁性区域3。图2中的圆形区域为第一光斑区域4，第一光斑区域4中的矩形为第一成像区域5，即，通过相机可以对该第一成像区域5进行图像生成，在第一成像区域5与磁性待测物的磁性区域2的交集处，选取出第一磁滞回线检测区域6，在第一成像区域5与磁性待测物的非磁性区域3的交集处，选取出第一磁滞回线标定区域7。通过选取出的区域进行磁滞回线的检测。

图3为本发明实施例提供的一种磁性待测物不同区域划分第二示意图。如图3所示，圆形区域为第二光斑区域8，第二光斑区域8内的矩形区域为第二成像区域9，在第二成像区域9内选取出第二磁滞回线检测区域10与第二磁滞回线标定区域11。

需要说明的是，图2、图3中的各个区域均为示例，是为了便于理解本发明而设定的，并非对相应的区域位置的限定。

步骤102、在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于检偏器旋转角度与透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系。

在本发明的一个实施例中，在无磁场环境中，将检偏器旋转至初始角度，对标定区域对应的光强进行分析，得到第一透射光强。对检偏器进行多次不同角度旋转，并在每次角度旋转完成后，对标定区域对应的光强进行分析，得到多个不同旋转角度分别对应的第二透射光强。基于第一透射光强、第二透射光强、检偏器旋转角度以及初始角度，确定出旋转角度与透射光强之间的关系。

具体地，在无磁场环境中，将检偏器旋转至初始角度，记录下在该初始角度下，标定区域对应的第一透射光强。其次，对检偏器的角度进行旋转，并在旋转后，记录下相应的旋转角度，以及记录在旋转后的角度下，标定区域对应的第二透射光强。重复该步骤，多次对该检偏器进行角度旋转，并记录下相应的旋转角度与标定区域对应的透射光强。通过记录的数据，拟合旋转角度与光强之间的关系。

在本发明的一个实施例中，基于第一透射光强、第二透射光强、检偏器旋转角度以及初始角度，进行数据拟合。通过数据拟合得到检偏器旋转角度与透射光强之间的拟合曲线，以通过拟合曲线确定出旋转角度与透射光强之间的关系。

具体地，将初始角度与第一透射光强作为一组数据，将多个不同旋转角度以及该多个不同旋转角度分别对应的标定区域的第二透射光强，分别作为多组数据，以进行数据拟合。通过数据拟合可以得到旋转角度与光强信息之间的拟合曲线，从而通过该拟合曲线确定出旋转角度与光强之间的关系。通过旋转不同角度以及获取多组数据，可以提高拟合曲线的准确性，进而提高获取到的旋转角度与光强之间的关系的准确性。

在本发明的一个实施例中，在无磁场环境中，根据处于初始位置的检偏器对应的透射光强，确定出标定区域对应的预置基准灰度。

具体地，将检偏器转动至初始位置，并设定预置阈值。

进一步地，测量标定区域的基准灰度，其中，基准灰度为处于初始角度的检偏器所对应的透射光强，该光强在图片中表现为灰度。

步骤103、开启磁场后，获取标定区域对应的实际灰度，将标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差。

在本发明的一个实施例中，开启磁场，其中，磁场覆盖标定区域与检测区域。调整磁场强度至预设值，测量标定区域的实际灰度，并与预置基准灰度进行比对。即，将得到的实际灰度与该预置基准灰度进行差值计算，从而可以得到实际灰度与预置基准灰度之间的差值，即得到灰度差。

具体地，磁场开启后，测量区域由于法拉第效应的影响，造成经过检偏器的反射光的偏振态发生变化，进而使得检测区域对应的灰度发生了变化，通过该灰度变化的大小，可以确定出检测区域受法拉第效应的强弱。

在本发明的一个实施例中，在灰度差不大于预置阈值的情况下，基于标定区域对应的实际灰度，确定出检测区域的磁性信息。

具体地，开启磁场后，若测量得到的检测区域的实际灰度不大于该预置阈值，则说明检测区域受到法拉第效应的影响较小，此时可以根据测量得到的实际灰度直接计算出检测区域对应的磁性信息，并根据获取到的检测区域对应的磁场信息与磁性信息，绘制磁滞回线。

步骤104、在灰度差大于预置阈值的情况下，基于旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转。

在本发明的一个实施例中，基于灰度差，确定出待修正光强值。在旋转角度与光强之间的关系中，确定出待修正光强值对应的检偏器参考旋转角度。基于参考旋转角度，对检偏器进行角度旋转。

具体地，根据设定的预置阈值，将该灰度差与该预置阈值进行比对，在灰度差大于预置阈值的情况下，确定检测区域受法拉第效应影响较大，此时需要对检测区域的法拉第效应进行补偿。

进一步地，根据该灰度差，可以确定出待修正光强值，通过该待修正光强值，可以在旋转角度与光强之间的关系中确定出检偏器旋转角度，通过对检偏器进行角度旋转，调整检测区域的灰度。即，对检测区域的法拉第效应进行补偿。

在本发明的一个实施例中，基于灰度差，确定出待修正误差的正负值。基于待修正误差的正负值，确定出光强调节方式，光强调节方式为调小、调大的其中之一。基于灰度差与光强调节方式，确定出待修正光强值。

具体地，根据灰度差，可以得到灰度差的正负值，从而确定出该待修正误差的正负值，通过该正负值，采用不同的光强调节方式。若光强误差为正值，为了使得误差为0，则需要调小光强。若光强误差为负值，为了使得误差为0，则需要调大光强。

例如，灰度差值为1，需要修正误差使得误差值为0，此时就需要使光强减小1。在旋转角度与光强之间的关系中找到光强为-1时对应的检偏器角度，然后使用得到的角度旋转检偏器，使得误差趋向0。

步骤105、直至灰度差不大于预置阈值，确定出检测区域对应的光强信息，以计算检测区域的磁性；根据磁场信息、检测区域的磁性信息，得到磁滞回线。

在本发明的一个实施例中，在灰度差不大于预置阈值的情况下，获取检测区域对应的光强信息。多次改变磁场、调整检偏器的旋转角度，根据检测区域对应的光强信息计算检测区域的磁性信息。根据磁场信息、检测区域对应的磁性信息，绘制磁滞回线。

具体地，在对检偏器进行多次旋转，直至灰度差小于预置阈值时，根据得到的检测区域中的灰度，确定出检测区域的光强信息。

进一步地，多次改变磁场，以及多次对检偏器的旋转角度进行调整，以得到多个光强信息，根据多个光强信息计算得到检测区域对应的磁性信息。根据检测区域对应的磁场强度与磁性信息，绘制检测区域对应的磁滞回线。

图4为本发明实施例提供的一种克尔信号与磁场强度关系的第一示意图，图5为本发明实施例提供的一种克尔信号与磁场强度关系的第二示意图。如图4与图5所示，图中横坐标均为磁场强度，纵坐标均为克尔信号强度；由于克尔信号响应于被测的磁性，因而图4与图5所示出的磁场强度与克尔信号的关系，可以大体视为磁场强度与被测物磁性的关系，也就是说，图4与图5均可大体视为被测物的被测区域的磁滞回线。图4为未采用本发明时测得的磁滞回线图形，其中，磁滞回线中的饱和磁化段倾斜程度较大，表明即使被测物的磁性已到达饱和磁化时，测得的被测物的磁性仍随磁场变化，说明检测得到的磁滞回线受到法拉第效应的干扰而与实际磁性不符。图5中为采用本方案测得的磁滞回线，其中，磁滞回线的饱和磁化段明显更加水平，表明被测物的磁性达到饱和磁化时，采用本发明测得的被测物的磁性大体不变，明显更符合物理规律，表明本发明能够明显降低或消除法拉第效应对磁滞回线检测造成的干扰。

图6为本发明实施例提供的一种基于磁光效应的磁滞回线检测设备的结构示意图。如图6所示，基于磁光效应的磁滞回线检测设备200，包括：至少一个处理器201；以及，与至少一个处理器201通信连接的存储器202；其中，存储器202存储有可被至少一个处理器201执行的指令，指令被至少一个处理器201执行，以使至少一个处理器201能够：确定出磁性待测物的标定区域与检测区域；其中，标定区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性不翻转的区域；检测区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性出现翻转的区域；在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于检偏器旋转角度与透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系；开启磁场后，获取标定区域对应的实际灰度，将标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差；其中，磁场覆盖标定区域与检测区域；在灰度差大于预置阈值的情况下，基于旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转；直至灰度差不大于预置阈值，确定出检测区域对应的光强信息，以计算检测区域的磁性；根据磁场信息、检测区域的磁性信息，得到磁滞回线。

本发明实施例还提供一种非易失性计算机存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令设置为：确定出磁性待测物的标定区域与检测区域；其中，标定区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性不翻转的区域；检测区域为磁性待测物上的处于磁场环境时磁性出现翻转的区域；在无磁场环境中，获取标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于检偏器旋转角度与透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系；开启磁场后，获取标定区域对应的实际灰度，将标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差；其中，磁场覆盖标定区域与检测区域；在灰度差大于预置阈值的情况下，基于旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转；直至灰度差不大于预置阈值，确定出检测区域对应的光强信息，以计算检测区域的磁性；根据磁场信息、检测区域的磁性信息，得到磁滞回线。

本发明中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置、设备、非易失性计算机存储介质实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明。对于本领域技术人员来说，本发明的实施例可以有各种更改和变化。而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法，其特征在于，所述方法包括：

确定出磁性待测物的标定区域与检测区域；其中，所述标定区域为所述磁性待测物上的处于磁场环境时磁性不翻转的区域；所述检测区域为所述磁性待测物上的处于磁场环境时磁性出现翻转的区域；

在无磁场环境中，获取所述标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于所述检偏器旋转角度与所述透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系；

开启磁场后，获取所述标定区域对应的实际灰度，将所述标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差；其中，所述磁场覆盖所述标定区域与所述检测区域；

在所述灰度差大于预置阈值的情况下，基于所述旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转；

直至所述灰度差不大于所述预置阈值，确定出所述检测区域对应的光强信息，以计算所述检测区域的磁性；根据磁场信息、所述检测区域的磁性信息，得到磁滞回线；其中，所述磁场信息为所述检测区域对应的磁场强度。

2.根据权利要求1所述的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法，其特征在于，所述在无磁场环境中，获取所述标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强，基于所述检偏器旋转角度与所述透射光强，确定出旋转角度与透射光强之间的关系，具体包括：

在无磁场环境中，将检偏器旋转至初始角度，对所述标定区域对应的光强进行分析，得到第一透射光强；

对所述检偏器进行多次不同角度旋转，并在每次角度旋转完成后，对所述标定区域对应的光强进行分析，得到多个不同旋转角度分别对应的第二透射光强；

基于所述第一透射光强、所述第二透射光强、检偏器旋转角度以及初始角度，确定出所述旋转角度与透射光强之间的关系。

3.根据权利要求2所述的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法，其特征在于，所述基于所述第一透射光强与所述第二透射光强、检偏器旋转角度以及初始角度，确定出所述旋转角度与透射光强之间的关系，具体包括：

基于所述第一透射光强、所述第二透射光强、检偏器旋转角度以及初始角度，进行数据拟合；

通过数据拟合得到检偏器旋转角度与透射光强之间的拟合曲线，以通过所述拟合曲线确定出所述旋转角度与透射光强之间的关系。

4.根据权利要求1所述的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法，其特征在于，所述基于所述旋转角度与透射光强之间的关系，确定出检偏器旋转角度，以对检偏器进行角度旋转，具体包括：

基于所述灰度差，确定出待修正光强值；

在所述旋转角度与光强之间的关系中，确定出所述待修正光强值对应的检偏器参考旋转角度；

基于所述参考旋转角度，对所述检偏器进行角度旋转。

5.根据权利要求4所述的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法，其特征在于，所述基于所述灰度差，确定出待修正光强值，具体包括：

基于所述灰度差，确定出待修正误差的正负值；

基于所述待修正误差的正负值，确定出光强调节方式；所述光强调节方式为调小、调大的其中之一；

基于所述灰度差与所述光强调节方式，确定出所述待修正光强值。

6.根据权利要求1所述的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法，其特征在于，所述直至所述灰度差不大于所述预置阈值，确定出所述检测区域对应的光强信息，以计算所述检测区域的磁性；根据磁场信息、所述检测区域的磁性信息，得到磁滞回线，具体包括：

在所述灰度差不大于所述预置阈值的情况下，获取所述检测区域对应的光强信息；

多次改变磁场、调整所述检偏器的旋转角度，根据所述检测区域对应的光强信息计算所述检测区域的磁性信息；

根据磁场信息、所述检测区域对应的磁性信息，绘制磁滞回线。

7.根据权利要求1所述的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法，其特征在于，所述在无磁场环境中，获取所述标定区域对应的检偏器旋转角度与透射光强之后，所述方法还包括：

在无磁场环境中，根据处于初始位置的检偏器对应的透射光强，确定出所述标定区域对应的所述预置基准灰度。

8.根据权利要求1所述的一种基于磁光效应的磁滞回线检测方法，其特征在于，所述将所述标定区域对应的实际灰度与预置基准灰度进行比对，以得到灰度差之后，所述方法还包括：

在所述灰度差不大于所述预置阈值的情况下，基于所述标定区域对应的实际灰度，确定出所述检测区域的磁性信息。

9.一种基于磁光效应的磁滞回线检测设备，其特征在于，该设备包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发该设备执行权利要求1-8中的任一项所述的方法。

10.一种非易失性计算机存储介质，存储有计算机可执行指令，其特征在于，所述计算机可执行指令能够执行权利要求1-8任一项所述的方法。