CN117471217A - 一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 390
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 23
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 18
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 16
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 16
- 238000013523 data management Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 230000003862 health status Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
Landscapes
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
本申请公开了一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质,涉及电气自动化技术领域。该方法包括:在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备;根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。上述技术方案,通过待测对象设备获取目标卡件信息,并由测试操作终端生成测试指令,自动化测试设备进行测试,实现了卡件的自动化测试的同时,有助于提高测试效率。
Description
技术领域
本申请实施例涉及电气自动化技术领域,尤其涉及核电自动化测试技术领域,具体涉及一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
电站仪控系统是用于监测、控制和保护电力系统的一种集成化自动化控制系统。随着电站仪控系统运行年限增长,逐步面临电子类卡件故障率升高及部分卡件备件断产等问题。
针对故障卡件,电站运维人员目前无有效手段进一步自主分析定位故障点,无法进行自主修复,提高了生产成本;同时,针对故障卡件,无法进行故障复现和模拟排查、针对新买备件卡件尚无有效方式进行整体功能、性能验证。
发明内容
本申请提供了一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质,以实现卡件的自动化测试。
根据本申请的一方面,提供了一种卡件测试方法,该方法包括:
在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集所述目标卡件的状态信息,并将所述状态信息反馈至所述测试操作终端,以使所述测试操作终端根据所述状态信息,确定与所述状态信息对应的测试指令,并将所述测试指令发送至所述自动化测试设备;所述目标卡件插至待测对象设备;
根据所述测试指令,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果,并将所述测试结果反馈至所述测试操作终端。
根据本申请的另一方面,提供了一种卡件测试装置,该装置包括:
信息采集模块,用于在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集所述目标卡件的状态信息,并将所述状态信息反馈至所述测试操作终端,以使所述测试操作终端根据所述状态信息,确定与所述状态信息对应的测试指令,并将所述测试指令发送至自动化测试设备;所述目标卡件插至待测对象设备;
卡件测试模块,用于根据所述测试指令,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果,并将所述测试结果反馈至所述测试操作终端。
根据本申请的另一方面,提供了一种卡件测试系统,该系统包括:待测对象设备、自动化测试设备和测试操作终端;所述待测对象设备与所述自动化测试设备之间通信连接;所述自动化测试设备与所述测试操作终端之间通信连接;
所述待测对象设备用于接收目标卡件;
所述自动化测试设备用于在所述待测对象设备接收到所述目标卡件时,采集所述目标卡件的状态信息,并将所述状态信息反馈至所述测试操作终端;
所述测试操作终端用于根据所述状态信息,确定与所述状态信息对应的测试指令,并将所述测试指令发送至所述自动化测试设备;
所述自动化测试设备还用于根据所述测试指令,对所述目标进行测试,得到测试结果,并将所述测试结果反馈至所述测试操作终端。
根据本申请的另一方面,提供了一种电子设备,所述电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储器,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现本申请实施例所提供的任意一种卡件测试方法。
根据本申请的另一方面,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本申请实施例所提供的任意一种卡件测试方法。
本申请通过在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备;根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。上述技术方案,通过待测对象设备获取目标卡件信息,并由测试操作终端生成测试指令,自动化测试设备进行测试,实现了卡件的自动化测试的同时,有助于提高测试效率。
附图说明
图1是根据本申请实施例一提供的一种卡件测试方法的流程图;
图2是根据本申请实施例二提供的一种卡件测试方法的流程图;
图3是根据本申请实施例三提供的一种卡件测试装置的结构示意图;
图4是根据本申请实施例三提供的一种卡件测试系统的结构示意图;
图5是实现本申请实施例的卡件测试方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
此外,还需要说明的是,本申请的技术方案中,所涉及的状态信息和测试指令等相关数据的收集、存储、使用、加工、传输、提供和公开等处理,均符合相关法律法规的规定,且不违背公序良俗。
实施例一
图1是根据本申请实施例一提供的一种卡件测试方法的流程图,本实施例可适用于对卡件进行自动化测试的情况,可以由卡件测试装置来执行,该卡件测试装置可以采用硬件和/或软件的形式实现,该卡件测试装置可配置于计算机设备中,例如自动化测试设备中。如图1所示,该方法包括:
S110、在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备。
其中,待测对象设备是指插入和固定卡件的连接器件,用于连接不同的电路板和模块,实现信号传输和控制,可以包括插座、插头、卡架、电缆和面板等设备。目标卡件是指当前需要进行检测的卡件。状态信息是指目标卡件的当前工作状态、健康状况和其他相关信息的数据,可以包括上电状态、电压、电流和警告信息等中的至少一种。测试操作终端是指用于实现数据采集、处理和控制等相关功能的终端设备,可以包括上位机和工作站等中的至少一种。测试指令是指用于对目标卡件进行测试的信号。自动化测试设备是指用于自动执行测试任务的设备,可以包括NI(National Instruments Corporation,国家仪器公司)机箱和定制信号机箱等中的至少一种。
具体的,在待测对象设备检测到目标卡件插入时,向待测对象设备发送采集信号,对目标卡件的当前状态信息进行采集,得到目标卡件的状态信息,并将状态信息返回至测试操作终端,以使测试操作终端将目标卡件的状态信息进行实时显示,并根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,将测试指令发送至自动化测试设备。
示例性的,在待测对象设备检测到目标卡件插入时,向待测对象设备发送电流采集信号和电压采集信号,对目标卡件的电流和电压信息进行采集,得到目标卡件的电流和电压信息,并将目电流和电压信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端将目标卡件的电流和电压信息进行实时显示,并根据目标卡件的电流和电压信息进行判断,确定当前目标卡件是否处于正常的运行状态;根据目标卡件的电流和电压信息,确定测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备。
需要说明的是,测试指令可以根据实际情况或经验值预先编制,也可以是根据目标卡件的当前状态信息进行在线生成,本申请实施例对此不作具体限定。
可选的,待测对象设备包括硬件卡件接口和元器件卡件接口;硬件卡件接口用于接收卡件类型为硬件类型的卡件;元器件卡件接口用于接收卡件类型为元器件类型的卡件;待测对象设备的电压是基于目标卡件的类型所确定。
其中,硬件卡件接口是指用于接收硬件类型的卡件的物理接口。元器件卡件接口是指用于接收元器件类型的卡件的电路板接口。硬件类型是指可插拔的硬件模块类型。元器件类型是指构成电子电路、实现特定功能的基本电子元器件类型。硬件卡件可以包括采集卡、信号发生器卡和数字输入/输出卡等中的至少一种。元器件卡件可以包括晶体管、电阻和电容等中的至少一种。
可以理解的是,针对不同的卡件类型设置不同的卡件接口,提高了可用于自动化测试的卡件的适配度。
S120、根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。
其中,测试结果是指自动化测试执行一定周期后,生成的与目标卡件对应的测试结果;该一定周期是根据实际情况或经验值人为设定的。
具体的,根据测试指令,向待测对象设备下发采集/激励信号,以获取待测对象设备反馈的响应信号,并将响应信号反馈至测试操作终端,以使测试操作终端实时显示响应信号。
本申请实施例通过在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备;根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。上述技术方案,通过待测对象设备获取目标卡件信息,并由测试操作终端生成测试指令,自动化测试设备进行测试,实现了卡件的自动化测试的同时,有助于提高测试效率。
实施例二
图2是根据本申请实施例二提供的一种卡件测试方法的流程图,本实施例在上述各实施例的技术方案的基础上,将“根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果”细化为“获取测试指令中的常规信号,并根据常规信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果;和/或,获取测试指令中的定制信号,并根据定制信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果”。需要说明的是,在本申请实施例中未详述部分,可参见其他实施例的相关表述。如图2所示,该方法包括:
S210、在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备。
S220、获取测试指令中的常规信号,并根据常规信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果;和/或,获取测试指令中的定制信号,并根据定制信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果。
其中,常规信号是指针对目标卡件的基本功能的测试信号,可以包括电压采集信号、电压激励信号、电流采集信号和电流激励信号等中的至少一种。定制信号是指根据实际情况或经验值人为设定的,可以包括脉冲激励信号、电阻激励信号和热电偶激励信号等中的至少一种。
具体的,在获取到测试操作终端下发的测试指令时,对测试指令中的常规信号和/或定制信号进行区分;在仅有常规信号/定制信号的时候,根据常规信号/定制信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果;在同时拥有常规信号和定制信号的时候,分别根据常规信号和定制信号,对目标卡件进行测试,得到与常规信号对应的第一测试结果和与定制信号对应的第二测试结果;将第一测试结果和第二测试结果进行整合,得到最终的测试结果。
可选的,常规信号包括采集信号和/或激励信号;相应的,根据常规信号中的采集信号,对目标卡件进行状态采集,得到目标卡件的当前状态信息,并将当前状态信息作为测试结果;和/或,根据常规信号中的激励信号,对目标卡件进行激励,获取待测对象设备反馈的响应信号,将响应信号作为测试结果。
其中,采集信号是指目标卡件产生的信号,可以包括电压采集信号、电流采集信号和温度采集信号等中的至少一种。激励信号是指用于刺激目标卡件产生响应的信号,可以包括电压激励信号、脉冲激励信号和电阻激励信号等中的至少一种。当前状态信息是指目标卡件的当前工作状态、健康状况和其他相关信息的数据,可以包括上电状态、电压、电流和警告信息等中的至少一种。
具体的,由自动化测试设备中的采集模块,根据常规信号中的采集信号,对目标卡件的产生的信号进行采集,得到目标卡件的当前状态信息,并将当前状态信息作为第一测试结果;由自动化测试设备中的激励模块,根据常规信号中的激励信号,对目标卡件进行激励,获取待测对象设备反馈的响应信号,并将该响应信号作为第二测试结果;对第一测试结果和第二测试结果进行整合,得到最终的测试结果。
可选的,定制信号包括激励信号;相应的,根据定制信号中的激励信号,对目标卡件进行激励,获取待测对象设备反馈的响应信号,并将响应信号作为测试结果。
可以理解的是,通过对测试指令中不同的信号进行区分,可以确保测试的执行的有序性和条理性,有助于提高测试的效率。
S230、将测试结果反馈至测试操作终端。
本申请实施例通过在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备;获取测试指令中的常规信号,并根据常规信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果;和/或,获取测试指令中的定制信号,并根据定制信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。上述技术方案,。
实施例三
图3是根据本申请实施例三提供的一种卡件测试装置的结构示意图,可适用于对卡件进行自动化测试的情况,该卡件测试装置可以采用硬件和/或软件的形式实现,该卡件测试装置可配置于计算机设备中,例如自动化测试设备中。
如图3所示,该装置包括:
信息采集模块310,用于在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备;
卡件测试模块320,用于根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。
本申请实施例通过在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备;根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。上述技术方案,通过待测对象设备获取目标卡件信息,并由测试操作终端生成测试指令,自动化测试设备进行测试,实现了卡件的自动化测试的同时,有助于提高测试效率。
可选的,卡件测试模块320包括:
常规信号分析单元,用于获取测试指令中的常规信号,并根据常规信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果;
定制信号分析单元,用于获取测试指令中的定制信号,并根据定制信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果。
可选的,常规信号分析单元,具体用于:
根据常规信号中的采集信号,对目标卡件进行状态采集,得到目标卡件的当前状态信息,并将当前状态信息作为测试结果;
和/或,根据常规信号中的激励信号,对目标卡件进行激励,获取待测对象设备反馈的响应信号,将响应信号作为测试结果。
可选的,待测对象设备包括硬件卡件接口和元器件卡件接口;
硬件卡件接口用于接收卡件类型为硬件类型的卡件;
元器件卡件接口用于接收卡件类型为元器件类型的卡件;
待测对象设备的电压是基于目标卡件的类型所确定。
本申请实施例所提供的卡件测试装置可执行本申请任意实施例所提供的卡件测试方法,具备执行各卡件测试方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图4是根据本申请实施例三提供的一种卡件测试系统的结构示意图,可适用于对卡件进行自动化测试的情况。
如图4所示,该系统包括:待测对象设备410、自动化测试设备420和测试操作终端430;待测对象设备410与自动化测试设备420之间通信连接;自动化测试设备420与测试操作终端430之间通信连接;
待测对象设备410用于接收目标卡件;
自动化测试设备420用于在待测对象设备410接收到目标卡件时,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端430;
测试操作终端430用于根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备420;
自动化测试设备420还用于根据测试指令,对目标进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端430。
本申请实施例通过在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集目标卡件的状态信息,并将状态信息反馈至测试操作终端,以使测试操作终端根据状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并将测试指令发送至自动化测试设备;目标卡件插至待测对象设备;根据测试指令,对目标卡件进行测试,得到测试结果,并将测试结果反馈至测试操作终端。上述技术方案,通过待测对象设备获取目标卡件信息,并由测试操作终端生成测试指令,自动化测试设备进行测试,实现了卡件的自动化测试的同时,有助于提高测试效率。
可选的,自动化测试设备420包括常规信号测试模型和定制信号测试模型;
常规信号测试模型用于获取测试指令中的常规信号,并根据常规信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果;
定制信号测试模型用于获取测试指令中的定制信号,并根据定制信号,对目标卡件进行测试,得到测试结果。
可选的,常规信号测试模型包括至少一种采集信号模块和至少一种激励信号模块;定制信号模型包括至少一种激励信号模块;
采集信号模块用于根据测试指令中的采集信号,对目标卡件的当前状态信息进行采集,并将当前状态信息反馈至测试操作终端;
激励信号模块用于根据测试指令中的激励信号,对目标卡件进行激励,以获取待测对象设备410反馈的响应信号,并将响应信号反馈至测试操作终端430。
可选的,待测对象设备410包括硬件卡件接口和元器件卡件接口;
硬件卡件接口用于接收卡件类型为硬件类型的卡件;
元器件卡件接口用于接收卡件类型为元器件类型的卡件。
可选的,测试操作终端430包括控制模块和数据管理模块;数据管理模块与控制模块之间通信连接;数据管理模块与自动化测试设备之间通信连接;
控制模块用于根据目标卡件的状态信息,确定与状态信息对应的测试指令,并显示自动化测试设备420反馈的目标卡件的状态信息以及测试结果;
数据管理模块用于接收控制模块发送的测试指令,并根据测试指令控制自动化测试设备420对目标卡件进行测试,并将测试结果反馈至控制模块。
可选的,该系统还包括供电设备440;供电设备440与待测对象设备410之间电连接;
供电设备用于向待测对象设备提供不同类型的电压。
可选的,该系统还包括第一开关设备和第二开关设备;
第一开关设备用于控制卡件测试系统的供电;
第二开关设备用于控制待测对象设备410、自动化测试设备420、测试操作终端430以及供电设备440的供电。
本申请实施例所提供的卡件测试系统可执行本申请任意实施例所提供的卡件测试方法,具备执行各卡件测试方法相应的功能模块和有益效果。
实施例五
图5是实现本申请实施例的卡件测试方法的电子设备510的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机,诸如,膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置,诸如,个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例,并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本申请的实现。
如图5所示,电子设备510包括至少一个处理器511,以及与至少一个处理器511通信连接的存储器,如只读存储器(ROM)512、随机访问存储器(RAM)513等,其中,存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序,处理器511可以根据存储在只读存储器(ROM)512中的计算机程序或者从存储单元518加载到随机访问存储器(RAM)513中的计算机程序,来执行各种适当的动作和处理。在RAM513中,还可存储电子设备510操作所需的各种程序和数据。处理器511、ROM512以及RAM513通过总线515彼此相连。输入/输出(I/O)接口515也连接至总线515。
电子设备510中的多个部件连接至I/O接口515,包括:输入单元516,例如键盘、鼠标等;输出单元517,例如各种类型的显示器、扬声器等;存储单元518,例如磁盘、光盘等;以及通信单元519,例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元519允许电子设备510通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
处理器511可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器511的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器511执行上文所描述的各个方法和处理,例如卡件测试方法。
在一些实施例中,卡件测试方法可被实现为计算机程序,其被有形地包含于计算机可读存储介质,例如存储单元518。在一些实施例中,计算机程序的部分或者全部可以经由ROM512和/或通信单元519而被载入和/或安装到电子设备510上。当计算机程序加载到RAM513并由处理器511执行时,可以执行上文描述的卡件测试方法的一个或多个步骤。备选地,在其他实施例中,处理器511可以通过其他任何适当的方式(例如,借助于固件)而被配置为卡件测试方法。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括:实施在一个或者多个计算机程序中,该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释,该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器,可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令,并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本申请的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器,使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行,作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本申请的上下文中,计算机可读存储介质可以是有形的介质,其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备,或者上述内容的任何合适组合。备选地,计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互,可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术,该电子设备具有:用于向用户显示信息的显示装置(例如,CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器);以及键盘和指向装置(例如,鼠标或者轨迹球),用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互;例如,提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如,视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈);并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如,作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如,应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如,具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机,用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如,通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括:局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。
计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器,又称为云计算服务器或云主机,是云计算服务体系中的一项主机产品,以解决了传统物理主机与VPS服务中,存在的管理难度大,业务扩展性弱的缺陷。
应该理解,可以使用上面所示的各种形式的流程,重新排序、增加或删除步骤。例如,本申请中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行,只要能够实现本申请的技术方案所期望的结果,本文在此不进行限制。
上述具体实施方式,并不构成对本申请保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是,根据设计要求和其他因素,可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本申请的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在本申请保护范围之内。
Claims (10)
1.一种卡件测试方法,其特征在于,应用于自动化测试设备,包括:
在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集所述目标卡件的状态信息,并将所述状态信息反馈至所述测试操作终端,以使所述测试操作终端根据所述状态信息,确定与所述状态信息对应的测试指令,并将所述测试指令发送至所述自动化测试设备;所述目标卡件插至待测对象设备;
根据所述测试指令,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果,并将所述测试结果反馈至所述测试操作终端。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述测试指令,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果,包括:
获取测试指令中的常规信号,并根据所述常规信号,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果;
和/或,获取测试指令中的定制信号,并根据所述定制信号,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述常规信号包括采集信号和/或激励信号;相应的,获取测试指令中的常规信号,并根据所述常规信号,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果,包括:
根据所述常规信号中的采集信号,对所述目标卡件进行状态采集,得到所述目标卡件的当前状态信息,并将所述当前状态信息作为测试结果;
和/或,根据所述常规信号中的激励信号,对所述目标卡件进行激励,获取所述待测对象设备反馈的响应信号,将所述响应信号作为测试结果。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测对象设备包括硬件卡件接口和元器件卡件接口;
所述硬件卡件接口用于接收卡件类型为硬件类型的卡件;
所述元器件卡件接口用于接收卡件类型为元器件类型的卡件;
所述待测对象设备的电压是基于所述目标卡件的类型所确定。
5.一种卡件测试装置,其特征在于,包括:
信息采集模块,用于在待测对象设备接收到目标卡件的情况下,采集所述目标卡件的状态信息,并将所述状态信息反馈至所述测试操作终端,以使所述测试操作终端根据所述状态信息,确定与所述状态信息对应的测试指令,并将所述测试指令发送至自动化测试设备;所述目标卡件插至待测对象设备;
卡件测试模块,用于根据所述测试指令,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果,并将所述测试结果反馈至所述测试操作终端。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述卡件测试模块,包括:
第一测试单元,用于获取测试指令中的常规信号,并根据所述常规信号,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果;
第二测试单元,用于获取测试指令中的定制信号,并根据所述定制信号,对所述目标卡件进行测试,得到测试结果。
7.一种卡件测试系统,其特征在于,所述系统包括:待测对象设备、自动化测试设备和测试操作终端;所述待测对象设备与所述自动化测试设备之间通信连接;所述自动化测试设备与所述测试操作终端之间通信连接;
所述待测对象设备用于接收目标卡件;
所述自动化测试设备用于在所述待测对象设备接收到所述目标卡件时,采集所述目标卡件的状态信息,并将所述状态信息反馈至所述测试操作终端;
所述测试操作终端用于根据所述状态信息,确定与所述状态信息对应的测试指令,并将所述测试指令发送至所述自动化测试设备;
所述自动化测试设备还用于根据所述测试指令,对所述目标进行测试,得到测试结果,并将所述测试结果反馈至所述测试操作终端。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述测试操作终端包括控制模块和数据管理模块;所述数据管理模块与所述控制模块之间通信连接;所述数据管理模块与所述自动化测试设备之间通信连接;
所述控制模块用于根据所述目标卡件的状态信息,确定与所述状态信息对应的测试指令,并显示所述自动化测试设备反馈的目标卡件的状态信息以及测试结果;
所述数据管理模块用于接收控制模块发送的测试指令,并根据测试指令控制所述自动化测试设备对所述目标卡件进行测试,并将测试结果反馈至所述控制模块。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:
一个或多个处理器;
存储器,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-4任一项所述的卡件测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4任一项所述的卡件测试方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311446048.0A CN117471217A (zh) | 2023-11-01 | 2023-11-01 | 一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311446048.0A CN117471217A (zh) | 2023-11-01 | 2023-11-01 | 一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN117471217A true CN117471217A (zh) | 2024-01-30 |
Family
ID=89634430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202311446048.0A Pending CN117471217A (zh) | 2023-11-01 | 2023-11-01 | 一种卡件测试方法、装置、设备及存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN117471217A (zh) |
-
2023
- 2023-11-01 CN CN202311446048.0A patent/CN117471217A/zh active Pending
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