CN116027226A - 零部件测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种零部件测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。本发明实施例的技术方案，实现了减少零部件测试的时间成本和人工成本，提升零部件测试的准确率，进一步提高测试效率。

Description

零部件测试方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及设备测试技术领域，尤其涉及一种零部件测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

传统的零部件承载短路电气负荷试验，通常是需要测试人员手动拔除接线进行测试，且测试过程中需要测试人员长时间保持注意力进行测试。一旦出现连接线路有误或连接顺序失误，试验就需要重新开始。多次重复的试验会造成零部件的损耗，而且加大试验的时间成本。因此，现有的零件测试方法不仅存在时间成本较高和人工成本较高的问题，而且还存在测试准确率较低的技术问题，从而导致测试效率较低。

发明内容

鉴于上述技术问题，本发明提供了一种零部件测试方法、装置、电子设备及存储介质，以实现减少零部件测试的时间成本和人工成本，提升零部件测试的准确率，进一步提高测试效率。

根据本发明的一方面，提供了一种零部件测试方法，该方法包括：

响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；

针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；

在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。

可选地，所述通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，包括：

通过调用所述继电器控制方法，生成继电器控制指令；

基于所述继电器控制指令，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关。

可选地，所述继电器控制指令中包括针对所述正极继电器开关和所述负极继电器的开关的控制顺序和控制时长；所述基于所述继电器控制指令，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，包括：基于所述控制顺序和所述控制时长，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关。

可选地，所述响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚，包括：

响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定所述目标测试零部件的零件测试需求；

基于所述零件测试需求，确定目标测试零部件中的各待测针脚。

可选地，所述方法还包括：在接收到所述零件测试指令时，确定与各所述待测针脚电连接的正极继电器和负极继电器，控制所述各所述正极继电器的开关断开和/或各所述负极继电器的开关断开。

可选地，所述方法还包括：接收所述正极继电器和负极继电器反馈的针脚测试结果信号；基于所述针脚测试结果信号，生成针对所述目标测试零部件的试验报告。

可选地，所述基于所述针脚测试结果信号，生成针对所述目标测试零部件的试验报告，包括：

对所述针脚测试结果信号进行分析，得到所述目标测试零部件在针脚短路测试下的零件功能等级；

基于所述零件功能等级，生成针对所述目标测试零部件的试验报告。

根据本发明的另一方面，提供了一种零部件测试装置。该装置包括：

针脚确定模块，用于响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；

继电器确定模块，用于针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；

零件测试模块，用于在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。

根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的零部件测试方法。

根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的零部件测试方法。

本发明实施例的技术方案，响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。本发明实施例的技术方案，实现了减少零部件测试的时间成本和人工成本，提升零部件测试的准确率，进一步提高测试效率。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的一种零部件测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例一提供的一种适用于零部件测试方法的测试框架的结构示意图；

图3为本发明实施例二提供的一种零部件测试装置的结构示意图；

图4为本发明实施例三提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种零部件测试方法的流程示意图，本实施例可适用于对零部件进行测试的场景，尤其适应于对电子电气零部件进行测试的情况，该方法可以由零部件测试装置来执行，该零部件测试装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该零部件测试装置可配置于诸如计算机或者服务器等的电子设备中。

可以理解的是，在不同的应用场景中，零部件测试框架可能相同也可能不同。本发明实施例的零部件测试方法可适用于各种零部件测试框架。为了便于理解，本发明以一种零部件测试框架示例性进行介绍。在介绍本发明实施例的零部件测试方法之前，我们先对示例的零部件测试框架结构进行介绍。参见图2，本发明实施例中，零部件测试框架可以包括电子电气零部件插接件针脚短路试验自动化测试系统服务器、低压程控直流电源、电子电气零部件、至少一个电子电气零部件负载、单片机、继电器驱动卡板以及至少一个继电器。其中，电子电气零部件包括多个针脚。每个针脚可以与两个继电器连接。与单个针脚连接的继电器可以包括与电源正极连接的继电器和与电源负极连接的继电器。

为了便于理解本发明实施例，可以基于上述数据同步框架结构对数据同步进行简单的说明。本发明实施例中，可以通过电子电气零部件插接件针脚短路试验自动化测试系统服务器接收针对电子电气零部件进行测试的指令，并将所述指令发送给单片机。进而可以通过单片机根据预设零部件测试策略，控制与各针脚对应的继电器的开关，以对电子零部件进行短路测试。

如图1所示，本实施例的方法包括：

S110、响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚。

其中，目标测试零部件可以理解为需要进行测试的零部件。目标测试零部件的数量可以是一个、两个或两个以上。零件测试指令可以理解为用于对目标测试零部件进行测试的指令。零件测试指令可以携带目标零部件的标识和待测针脚的标识。目标零部件的标识可以包括目标零部件的编码号和名称。目标零部件的标识可以用区分不同的零件部。待测针脚的标识可以至少包括待测针脚的编码号。待测针脚的标识可以用于区分不同的待测针脚。目标零部件可以包括一个或多个待测针脚。待测针脚可以理解为需要进行测试的针脚。

具体的，接收用户输入的用于对目标零部件进行测试的零件测试指令。在接收到零件测试指令后，可以对零件测试指令进行解析。进而可以确定目标零部件的标识。进而可以确定与所述目标零部件的标识对应的各待测针脚的标识。进而可以将各所述待测针脚的标识对应的针脚作为待测针脚，即确定各待测针脚。

可选地，所述响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚，包括：响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定所述目标测试零部件的零件测试需求；基于所述零件测试需求，确定目标测试零部件中的各待测针脚。

其中，零件测试需求可以是预先配置的用于对目标测试零部件进行测试的需求。零件测试需求包括至少一个目标测试零部件的标识和与每个目标测试零部件标识对应的待测针脚的标识。

具体的，接收针对目标测试零部件的零件测试指令。在接收到零件测试指令后，可以对零件测试指令进行解析。进而可以得到目标测试零部件的标识，于预先配置的零件测试需求中确定与所述目标测试零部件的标识对应的各待测针脚的标识。将各所述待测针脚的标识所对应的针脚作为待测针脚。

S120、针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数。

其中，正极继电器可以理解为与电源正极连接的继电器。负极继电器可以理解为与电源负极连接的继电器。继电器控制方法可以理解为以预设编程语言开发完成的用于控制待测针脚与正极继电器的连接，和/或控制待测针脚与负极继电器的连接。继电器控制方法的入口参数可以理解为继电器控制方法的形式参数。继电器控制方法的入口参数可以包括正极继电器的标识和/或负极继电器的标识。继电器标识可以理解为继电器的标识。

具体的，在确定各待测针脚后，针对每个待测针脚，可以确定与所述待测针脚对应的正极继电器和负极继电器。进而可以将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识作为实际参数，传递给预先定义的继电器控制方法的形式参数。

S130、在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。

其中，预设测试模式可以理解为针对目标测试零部件预先设置的测试模式。预设测试模式包括带载测试模式和不带载测试模式。

带载测试模式可以理解为将负载设备与待测针脚连接后对待测针脚进行测试的模式。不带载测试模式可以理解为断开负载设备与待测针脚的连接后对待测针脚进行测试的模式。

具体的，在将正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数后，可以通过运行所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关。

本发明实施例中，可通过下述步骤控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关：

步骤一、于不带载模式下，可以控制与所述待测试针脚对应的正极继电器的开关断开，以及控制与所述待测针脚对应的负极继电器的开关断开。并保持开关的断开时长为预设断开时长。在断开时长达到预设断开时长后，可以控制与所述待测试针脚对应的正极继电器的开关吸合，以及控制与所述待测针脚对应的负极继电器的开关吸合。并保持开关的吸合时长为预设吸合时长。

其中，预设断开时长可以是根据实际需求设置的与待测试针脚对应的正极继电器或负极继电器的开关断开的时长，如，0.5S。预设吸合时长可以是根据实际需求设置的与待测试针脚对应的正极继电器或负极继电器的开关吸合的时长，如，60S。

步骤二、于带载模式下，可以控制带载的所述待测针脚对应的正极继电器的开关断开，以及控制带载的所述待测针脚对应的负极继电器的开关断开。并保持开关的断开时长为所述预设断开时长。在断开时长达到预设断开时长后，可以控制与带载的所述待测试针脚对应的正极继电器的开关吸合，以及控制与带载的所述待测针脚对应的负极继电器的开关吸合。并保持开关的吸合时长为预设吸合时长。

可选地，所述通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和所述负极继电器的开关，包括：通过调用所述继电器控制方法，生成继电器控制指令；基于所述继电器控制指令，控制在预设测试模式下所述正极继电器和/或所述负极继电器的开关。

其中，继电器控制指令可以理解为用于控制器继电器开关断开或吸合的指令。如果继电器控制指令用于控制继电器开关断开，此时，继电器控制指令可以包括断开开关的起始时刻和断开开关的断开时长。如果继电器控制指令用于控制继电器开关吸合，此时，继电器控制指令可以包括吸合开关的起始时刻和吸合开关的吸合时长。

具体的，通过调用继电器控制方法，可以生成继电器控制指令。进而可以基于继电器控制指令，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关。

在本发明实施例中，所述继电器控制指令中包括针对所述正极继电器开关和所述负极继电器的开关的控制顺序和控制时长；所述基于所述继电器控制指令，控制在预设测试模式下所述正极继电器和所述负极继电器的开关，包括：基于所述控制顺序和所述控制时长，控制在预设测试模式下所述正极继电器和所述负极继电器的开关。

可以理解的是，控制顺序可以理解为控制正极继电器开关和负极继电器开关的先后顺序。控制时长可以理解为控制继电器开关断开或吸合的时长。换言之，控制时长可以包括吸合时长和/或断开时长。

为了保证测试效果，在本发明实施例中，还包括：在接收到所述零件测试指令时，确定与各所述待测针脚电连接的正极继电器和负极继电器，控制所述各所述正极继电器的开关断开和各所述负极继电器的开关断开，可提升对目标测试零部件的测试准确率。

在本发明实施例，在对零部件进行测试后，还可以接收所述正极继电器和负极继电器反馈的针脚测试结果信号；基于所述针脚测试结果信号，生成针对所述目标测试零部件的试验报告。

其中，针脚测试结果信号可以理解为对针脚进行测试后生成的测试结果。试验报告的格式可根据实际需求进行设置，如pdf、word或xml等。

可选地，所述基于所述针脚测试结果信号，生成针对所述目标测试零部件的试验报告，包括：对所述针脚测试结果信号进行分析，得到所述目标测试零部件在针脚短路测试下的零件功能等级；基于所述零件功能等级，生成针对所述目标测试零部件的试验报告。

其中，零件功能等级可以表征目标测试零部件在针脚短路测试下的功能等级。基于所述零件功能等级，生成针对所述目标测试零部件的试验报告，包括：预先创建针对目标测试零部件的测试文档，将零件功能等级存储至所述测试文档，进而可以得到针对目标测试零部件的试验报告。

本发明实施例的技术方案，响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。本发明实施例的技术方案，实现了减少零部件测试的时间成本和人工成本，提升零部件测试的准确率，进一步提高测试效率。

实施例二

图3为本发明实施例二提供的一种零部件测试装置的结构示意图。如图3所示，该装置包括：针脚确定模块210、继电器确定模块220和零件测试模块230。

其中，针脚确定模块210，用于响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；

继电器确定模块220，用于针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；

零件测试模块230，用于在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。

本发明实施例的技术方案，响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。本发明实施例的技术方案，实现了减少零部件测试的时间成本和人工成本，提升零部件测试的准确率，进一步提高测试效率。

可选地，零件测试模块230，用于通过调用所述继电器控制方法，生成继电器控制指令；基于所述继电器控制指令，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关。

可选地，所述继电器控制指令中包括针对所述正极继电器开关和所述负极继电器的开关的控制顺序和控制时长；零件测试模块230，用于基于所述控制顺序和所述控制时长，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关。

可选地，针脚确定模块210，用于响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定所述目标测试零部件的零件测试需求；基于所述零件测试需求，确定目标测试零部件中的各待测针脚。

可选地，该装置还包括：开关断开模块，用于在接收到所述零件测试指令时，确定与各所述待测针脚电连接的正极继电器和负极继电器，控制所述各所述正极继电器的开关断开和/或各所述负极继电器的开关断开。

可选地，该装置还包括：试验报告生成模块，用于接收所述正极继电器和负极继电器反馈的针脚测试结果信号；基于所述针脚测试结果信号，生成针对所述目标测试零部件的试验报告。

可选地，试验报告生成模块包括试验报告生成单元，其中，试验生成单元用于对所述针脚测试结果信号进行分析，得到所述目标测试零部件在针脚短路测试下的零件功能等级；基于所述零件功能等级，生成针对所述目标测试零部件的试验报告。

本发明实施例所提供的零部件测试装置可执行本发明任意实施例所提供的零部件测试方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

值得注意的是，上述零部件测试装置所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明实施例的保护范围。

实施例三

图4示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备10的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。

如图4所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。

电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。

处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如零部件测试方法。

在一些实施例中，零部件测试方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的零部件测试方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行零部件测试方法。

本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。

用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。

可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。

计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。

应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。

上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种零部件测试方法，其特征在于，包括：

响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；

针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；

在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，包括：

通过调用所述继电器控制方法，生成继电器控制指令；

基于所述继电器控制指令，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述继电器控制指令中包括针对所述正极继电器开关和所述负极继电器的开关的控制顺序和控制时长；所述基于所述继电器控制指令，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，包括：

基于所述控制顺序和所述控制时长，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚，包括：

响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定所述目标测试零部件的零件测试需求；

基于所述零件测试需求，确定目标测试零部件中的各待测针脚。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在接收到所述零件测试指令时，确定与各所述待测针脚电连接的正极继电器和负极继电器，控制所述各所述正极继电器的开关断开和/或各所述负极继电器的开关断开。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收所述正极继电器和负极继电器反馈的针脚测试结果信号；

基于所述针脚测试结果信号，生成针对所述目标测试零部件的试验报告。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述针脚测试结果信号，生成针对所述目标测试零部件的试验报告，包括：

对所述针脚测试结果信号进行分析，得到所述目标测试零部件在针脚短路测试下的零件功能等级；

基于所述零件功能等级，生成针对所述目标测试零部件的试验报告。

8.一种零部件测试装置，其特征在于，包括：

针脚确定模块，用于响应于针对目标测试零部件的零件测试指令，确定目标测试零部件中的各待测针脚；

继电器确定模块，用于针对每个待测针脚，确定与所述待测针脚对应的正极继电器、负极继电器，并将所述正极继电器的继电器标识和负极继电器的继电器标识传递给预先定义的继电器控制方法的入口参数；

零件测试模块，用于在参数传递完成后，通过调用所述继电器控制方法，控制在预设测试模式下所述正极继电器的开关和/或所述负极继电器的开关，以对所述目标测试零部件中待测针脚进行短路测试。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的零部件测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的零部件测试方法。

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