CN117433437B - 一种工件厚度均匀性检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及工件加工检测技术领域,具体涉及一种工件厚度均匀性检测装置。其中,旋转台安装于基座,立柱安装于基座,横臂连接于立柱的顶端。光束发射器设于横臂,凸透镜和光强度传感器均设于基座。凸透镜设于光强度传感器靠近光束发射器的一侧,以用于将光束发射器发出的光束汇聚于光强度传感器。旋转台用于安装待检测工件,使待检测工件的中心轴线与旋转台的转动轴心线重合,并使光束发射器发出的光束被待检测工件部分阻挡。控制器用于监控光强度传感器检测到的光强度数据,在检测过程中,若光强度数据发生变化,则控制器发出提示。其能同时对工件的厚度均匀性、轮廓精确度进行检测,具有更高的检测效率和灵敏度,对人工的依赖大大降低。
Description
技术领域
本发明涉及工件加工检测技术领域,具体而言,涉及一种工件厚度均匀性检测装置。
背景技术
对于圆形工件和环形工件,用于检测其厚度和轮廓精确性的手段比较局限,而且大多依赖于人工,对于不同经验的检测人员来说,检测结果可能不同,对检测人员的专业度的依赖程度也非常高。
另外,传统检测手段的效率和检测灵敏度也比较低,在检测过程中,有时会漏检微小瑕疵,这会对工件的使用过程埋下风险隐患。
有鉴于此,特提出本申请。
发明内容
本发明的目的在于提供一种工件厚度均匀性检测装置,其能够同时对圆形工件和环形工件的厚度均匀性、轮廓精确度进行检测,且具有更高的检测效率和检测灵敏度,对人工的依赖程度大大降低,有效地提高了检测过程的可信度,有助于保障工件产品质量。
本发明的实施例是这样实现的:
一种工件厚度均匀性检测装置,其包括:基座、旋转台、立柱、横臂、光束发射器、凸透镜、光强度传感器和控制器。
旋转台安装于基座并由驱动器驱动,立柱固定安装于基座的一侧并靠近旋转台设置,横臂固定连接于立柱的顶端,横臂平行于旋转台的台面设置并与旋转台间隔设置。
光束发射器设于横臂并朝向基座设置,凸透镜和光强度传感器均设于基座并朝向光束发射器设置。凸透镜设于光强度传感器靠近光束发射器的一侧,以用于将光束发射器发出的光束汇聚于光强度传感器。光强度传感器和控制器电性连接。
待检测工件为圆形工件或圆环形工件。旋转台用于安装待检测工件,使待检测工件的中心轴线与旋转台的转动轴心线重合,并使光束发射器发出的光束被待检测工件部分阻挡。
控制器用于监控光强度传感器检测到的光强度数据,在检测过程中,若光强度数据发生变化,则控制器发出提示。
进一步的,立柱设置有往复式直线驱动机构,往复式直线驱动机构的活动端朝向旋转台设置并连接有清洁组件。往复式直线驱动机构与控制器电性连接。
在检测过程中,若光强度数据发生变化,控制器控制往复式直线驱动机构驱动清洁组件朝待检测组件靠近,以对待检测组件的表面进行清理。
进一步的,在检测过程中,若光强度数据发生变化,控制器则将光强度数据发生变化时待检测工件的对应位置标记为缺陷部位。
控制器根据旋转台的转速确定缺陷部位下一次转动至光束发射器的光束处的时间,控制器控制往复式直线驱动机构驱动清洁组件在缺陷部位下一次转动至光束发射器的光束处时对待检测组件的表面进行清理。
进一步的,基座的顶部开设有第一凹陷区,横臂的底部开设有第二凹陷区,第一凹陷区内和第二凹陷区内均设置有调控组件,调控组件包括:丝杆、调节块、调控器、弹性件和调节座。
丝杆设于第一凹陷区/第二凹陷区的底部并沿旋转台的径向设置,丝杆的一端可转动地连接于第一凹陷区/第二凹陷区的侧壁,丝杆的另一端同轴固定连接有传动齿轮,传动齿轮与调控器传动配合。
调节块开设有与丝杆相适配的螺孔,丝杆穿过调节块,调节块可滑动地配合于第一凹陷区/第二凹陷区的底部。调节座开设有通孔,丝杆穿过通孔。沿丝杆的轴向,调节座可滑动地配合于丝杆,调节座的底部与第一凹陷区/第二凹陷区的底部贴合。调节座位于调节块远离传动齿轮的一侧,弹性件抵接于调节座和第一凹陷区/第二凹陷区的侧壁之间。
在第一凹陷区内,凸透镜和光强度传感器设于调节座。在第二凹陷区内,光束发射器设于调节座。
进一步的,立柱靠近旋转台的一侧开设有气腔,气腔内配合有第一活塞,第一活塞通过活塞杆与往复式直线驱动机构的活动端配合。
气腔的内端端壁还开设有连通通道,连通通道延伸至基座/横臂并贯穿至第一凹陷区/第二凹陷区的侧壁。调节座靠近弹性件的一侧固定连接有延伸柱,延伸柱延伸至连通通道内,延伸柱的端部连接有第二活塞,第二活塞配合于连通通道。
当往复式直线驱动机构驱动清洁组件对待检测组件的表面进行清理时,活塞杆拉动第一活塞,使第二活塞朝连通通道内部运动,从而使光束发射器发出的光束远离待检测工件,并使光束发射器、凸透镜和光强度传感器保持同步运动。
进一步的,第一活塞靠近活塞杆的一侧设有转动板,转动板的转动轴心线沿气腔的轴向设置,活塞杆偏心固定连接于第一活塞。气腔的内壁开设有环形凹槽,环形凹槽靠近气腔的口部设置,环形凹槽内可转动地容置有转动盘。活塞杆贯穿转动盘,沿活塞杆的轴向,活塞杆与转动盘滑动配合。
往复式直线驱动机构的活动端铰接有活动杆,活动杆的转动轴心线与旋转台的转动轴心线平行。清洁组件连接于活动杆远离往复式直线驱动机构的一端端部,活塞杆固定连接于活动杆。气腔的轴心线与往复式直线驱动机构的活动端的轴心线之间的夹角为锐角。
当往复式直线驱动机构驱动活动杆的过程中,活动杆相对往复式直线驱动机构的活动端偏转,活塞杆驱动转动盘转动并相对转动盘滑动,从而使活动杆远离往复式直线驱动机构的一端端部沿椭圆轨迹运动,从而使清洁组件对待检测组件的表面进行清理。
进一步的,第一凹陷区/第二凹陷区的侧壁还开设有安装缺口,安装缺口靠近连接通道设置,安装缺口靠近旋转台的一侧安装有转动柱,转动柱的转动轴心线与旋转台的转动轴心线平行。转动柱的外侧壁开设有环形的线槽以构成槽轮,转动柱的端部固定连接有清洁刷。
环形凹槽内还开设有延伸通道,延伸通道延伸至安装缺口并与安装缺口连通。
转动盘的外环壁开设有环形的线槽以构成槽轮,转动盘和转动柱之间通过传动绳传动配合,传动绳通过延伸通道传动。
当往复式直线驱动机构驱动清洁组件对待检测组件的表面进行清理时,活塞杆拉动第一活塞,使第二活塞朝连通通道内部运动,调节座朝安装缺口运动,转动盘驱动转动柱,使清洁刷转动至安装缺口之外对凸透镜/光束发射器的表面进行清洁。
本发明实施例的技术方案的有益效果包括:
本发明实施例提供的工件厚度均匀性检测装置的旋转台用于安装待检测工件,使待检测工件的中心轴线与旋转台的转动轴心线重合,将光束发射器发出的光束靠近待检测工件,使光束与待检测工件的边缘部分重合,使光束发射器发出的光束与待检测工件的外环壁相交,光束发射器发出的光束即被待检测工件部分阻挡,未被阻挡的光束则成功照射至凸透镜,并被汇聚至光强度传感器。
控制器用于监控光强度传感器检测到的光强度数据。若待检测工件是合格的,则待检测工件的厚度是均匀的,且待检测工件的轮廓也是标准的圆形。那么,在检测过程中,待检测工件对光束的遮挡情况是不会变化的。若光强度数据发生了变化,则说明在对应位置待检测工件的厚度发生了变化,或者外环壁的表面存在瑕疵(凸起或凹陷),或者轮廓发生了扭曲。此时,控制器发出提示,以便于提示检测人员。
总体而言,本发明实施例提供的工件厚度均匀性检测装置能够同时对圆形工件和环形工件的厚度均匀性、轮廓精确度进行检测,且具有更高的检测效率和检测灵敏度,对人工的依赖程度大大降低,有效地提高了检测过程的可信度,有助于保障工件产品质量。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本发明的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本发明实施例提供的工件厚度均匀性检测装置的整体结构示意图;
图2为图1中立柱所在一侧的结构示意图(清洁组件未伸出);
图3为图2中第一凹陷区处的结构示意图;
图4为图1中立柱所在一侧的结构示意图(清洁组件伸出时);
图5为图4中第一凹陷区处的结构示意图。
附图标记说明:
工件厚度均匀性检测装置1000;基座100;第一凹陷区110;凸透镜120;光强度传感器130;旋转台200;立柱300;气腔310;连通通道320;横臂400;第二凹陷区410;光束发射器420;往复式直线驱动机构500;活动杆510;清洁组件520;调控组件600;丝杆610;调节块611;调控器612;弹性件613;传动齿轮614;调节座620;延伸柱621;第二活塞622;第一活塞630;转动板631;活塞杆632;转动盘640;安装缺口650;转动柱651;清洁刷652;延伸通道660;传动绳670;待检测工件2000。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此,以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外,术语“平行”、“垂直”等并不表示要求部件绝对平行或垂直,而是可以稍微倾斜。如“平行”仅仅是指其方向相对“垂直”而言更加平行,并不是表示该结构一定要完全平行,而是可以稍微倾斜。
在本发明的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
请参照图1~图5,本实施例提供一种工件厚度均匀性检测装置1000,工件厚度均匀性检测装置1000包括:基座100、旋转台200、立柱300、横臂400、光束发射器420、凸透镜120、光强度传感器130和控制器(图中未示出)。
旋转台200安装于基座100的顶部并由驱动器(图中未示出)驱动,旋转台200的转动轴心线垂直于基座100设置,在本实施例中,旋转台200的转动轴心线沿竖直方向设置。
立柱300垂直固定安装于基座100的一侧并靠近旋转台200设置,立柱300与旋转台200之间间隔设置,横臂400固定连接于立柱300的顶端,横臂400平行于旋转台200的台面设置并与旋转台200间隔设置。
光束发射器420设于横臂400并朝向基座100设置,光束发射器420的光路沿竖直方向设置,即光束发射器420发出的光束沿竖直方向射向基座100。
凸透镜120和光强度传感器130均设于基座100并朝向光束发射器420设置,凸透镜120和光强度传感器130二者的光路相配合,凸透镜120设于光强度传感器130靠近光束发射器420的一侧,以用于将光束发射器420发出的光束汇聚于光强度传感器130。光强度传感器130和控制器电性连接。
待检测工件2000可以是圆形工件,也可以是圆环形工件。旋转台200用于安装待检测工件2000,使待检测工件2000的中心轴线与旋转台200的转动轴心线重合,将光束发射器420发出的光束靠近待检测工件2000,使光束与待检测工件2000的边缘部分重合,以图2所示的状态为例,待检测工件2000为圆环形工件,使光束发射器420发出的光束与待检测工件2000的外环壁相交,光束发射器420发出的光束即被待检测工件2000部分阻挡,未被阻挡的光束则成功照射至凸透镜120,并被汇聚至光强度传感器130。
控制器用于监控光强度传感器130检测到的光强度数据。若待检测工件2000是合格的,则待检测工件2000的厚度是均匀的,且待检测工件2000的轮廓也是标准的圆形。那么,在检测过程中,待检测工件2000对光束的遮挡情况是不会变化的。若光强度数据发生了变化,则说明在对应位置待检测工件2000的厚度发生了变化,或者外环壁的表面存在瑕疵(凸起或凹陷),或者轮廓发生了扭曲。此时,控制器发出提示,以便于提示检测人员。
其中,凸透镜120能够提高光强度传感器130对光束的被遮挡情况的感应灵敏度。
总体而言,本实施例提供的工件厚度均匀性检测装置1000能够同时对圆形工件和环形工件的厚度均匀性、轮廓精确度进行检测,且具有更高的检测效率和检测灵敏度,对人工的依赖程度大大降低,有效地提高了检测过程的可信度,有助于保障工件产品质量。
需要说明的是,为了保证检测结果的可信度,可以将工件厚度均匀性检测装置1000至于暗室或暗箱之中,以避免环境光的干扰。
另外,还可以在立柱300上设置标记组件(图中未示出),包括但不限于喷枪,当检测到光强度数据发生了变化,控制器则控制标记组件向待检测组件上对应位置喷涂标记,从而对瑕疵位置进行标记。在实际检测过程中,可以灵活地设置检测过程中旋转台200的转动速度,以达到所需的检测需求。
进一步的,立柱300设置有往复式直线驱动机构500,往复式直线驱动机构500的活动端沿水平方向设置并朝向旋转台200所在一侧设置,往复式直线驱动机构500的活动端连接有清洁组件520。往复式直线驱动机构500可以是气缸,清洁组件520可以是清洁海绵,但不限于此。
往复式直线驱动机构500与控制器电性连接。在检测过程中,若光强度数据发生变化,控制器控制往复式直线驱动机构500驱动清洁组件520朝待检测组件靠近,以对待检测组件的表面进行清理。
具体的,在首次检测到光强度数据发生变化时,控制器暂时不向检测人员发出提示,控制器将光强度数据发生变化时待检测工件2000的对应位置标记为缺陷部位。
此时,控制器根据旋转台200的转速确定缺陷部位下一次转动至光束发射器420的光束处的时间,控制器控制往复式直线驱动机构500驱动清洁组件520在缺陷部位下一次转动至光束发射器420的光束处时对待检测组件的表面的缺陷部位进行清理,清理后再对缺陷部位检测一次,若再次检测时光强度数据不再变化,那么之前发生变化就是表面污渍造成的,这种情况无需发出提示。若再次检测时光强度数据仍然发生了变化,那么可以初步判定缺陷部位处确实存在某种瑕疵,这种情况就需要利用标记组件做标记并发出提示。
通过以上设计,可以排除表面污渍造成的干扰。
进一步的,基座100的顶部开设有第一凹陷区110,横臂400的底部开设有第二凹陷区410。第一凹陷区110的底壁和第二凹陷区410的底壁均平行于旋转台200的表面设置。
第一凹陷区110内和第二凹陷区410内均设置有调控组件600,调控组件600包括:丝杆610、调节块611、调控器612、弹性件613和调节座620。
丝杆610设于第一凹陷区110/第二凹陷区410的底部并沿旋转台200的径向设置,丝杆610的一端可转动地连接于第一凹陷区110/第二凹陷区410的侧壁,丝杆610的另一端同轴固定连接有传动齿轮614,传动齿轮614与调控器612传动配合。调控器612可以采用伺服电机,但不限于此。
调节块611开设有与丝杆610相适配的螺孔,丝杆610穿过调节块611,丝杆610与调节块611螺纹配合,调节块611可滑动地配合于第一凹陷区110/第二凹陷区410的底部,调节块611的滑动方向沿丝杆610的轴向设置。
调节座620开设有通孔,丝杆610穿过通孔。沿丝杆610的轴向,调节座620可滑动地配合于丝杆610,调节座620的底部与第一凹陷区110/第二凹陷区410的底部贴合,以使调节座620不会沿丝杆610进行转动。
调节座620位于调节块611远离传动齿轮614的一侧,弹性件613抵接于调节座620和第一凹陷区110/第二凹陷区410的侧壁之间,在弹性件613的作用下,调节座620与调节块611相贴合。
在第一凹陷区110内,凸透镜120和光强度传感器130设于调节座620。在第二凹陷区410内,光束发射器420设于调节座620。
通过调控器612能够驱动丝杆610转动,从而调节调节块611在丝杆610上的位置,以达到调节调节座620的位置的目的。这样的话,对于不同直径的待检测工件2000,可以通过调节调节座620的位置来使待检测工件2000将光束部分遮挡,以便于对不同尺寸的工件进行检测。
其中,立柱300靠近旋转台200的一侧开设有气腔310,气腔310呈圆柱状,气腔310的口部朝向旋转台200所在的一侧,气腔310的内端朝立柱300内部延伸。往复式直线驱动机构500的上方和下方均设置有气腔310,位于往复式直线驱动机构500上方的气腔310,其内端同时朝横臂400延伸。位于往复式直线驱动机构500下方的气腔310,其内端同时朝基座100延伸。气腔310的轴心线与往复式直线驱动机构500的活动端的轴心线之间的夹角为锐角。
位于往复式直线驱动机构500上方和下方的气腔310分别用于与横臂400和基座100的调控组件600配合。
具体的,气腔310内均配合有第一活塞630,第一活塞630通过活塞杆632与往复式直线驱动机构500的活动端配合,活塞杆632沿气腔310的轴向设置。
气腔310的内端端壁还开设有连通通道320,连通通道320延伸至基座100/横臂400并贯穿至第一凹陷区110/第二凹陷区410的侧壁。调节座620靠近弹性件613的一侧固定连接有延伸柱621,延伸柱621延伸至连通通道320内,延伸柱621的端部连接有第二活塞622,第二活塞622配合于连通通道320。
当往复式直线驱动机构500驱动清洁组件520对待检测组件的表面进行清理时,活塞杆632拉动第一活塞630,使第二活塞622朝连通通道320内部运动,从而使光束发射器420发出的光束远离待检测工件2000,并使光束发射器420、凸透镜120和光强度传感器130保持同步运动。可以在第一凹陷区110/第二凹陷区410的侧壁开设用于容纳弹性件613的盲孔(图中未示出),当活塞杆632拉动第一活塞630时,气腔310内形成负压,使第二活塞622朝连通通道320内部运动,延伸柱621拉动调节座620贴合至第一凹陷区110/第二凹陷区410的侧壁,弹性件613被压缩至盲孔当中。
当往复式直线驱动机构500驱动清洁组件520对待检测组件的表面进行清理完毕并将清洁组件520复位后,第一活塞630、第二活塞622均可以复位,调节座620也顺利复位。
这样的话,不仅可以利用清洁组件520对待检测组件的表面进行清理,避免污渍干扰检测结果,同时调节座620在清洁过程中移开,可以避免污渍落到凸透镜120或光强度传感器130上。
进一步的,第一活塞630靠近活塞杆632的一侧设有转动板631,转动板631能够相对第一活塞630转动,转动板631的转动轴心线沿气腔310的轴向设置,活塞杆632偏心固定连接于第一活塞630。气腔310的内壁开设有环形凹槽,环形凹槽靠近气腔310的口部设置,环形凹槽内可转动地容置有转动盘640。活塞杆632贯穿转动盘640,沿活塞杆632的轴向,活塞杆632与转动盘640滑动配合。
往复式直线驱动机构500的活动端铰接有活动杆510,活动杆510的转动轴心线与旋转台200的转动轴心线平行。清洁组件520连接于活动杆510远离往复式直线驱动机构500的一端端部,活塞杆632固定连接于活动杆510。
当往复式直线驱动机构500驱动活动杆510的过程中,活动杆510相对往复式直线驱动机构500的活动端偏转,活塞杆632驱动转动盘640转动并相对转动盘640滑动,从而使活动杆510远离往复式直线驱动机构500的一端端部沿椭圆轨迹运动,从而使清洁组件520能够向待检测工件2000伸出并对待检测组件的表面进行清理。
第一凹陷区110/第二凹陷区410的侧壁还开设有安装缺口650,安装缺口650靠近连接通道设置,安装缺口650靠近旋转台200的一侧安装有转动柱651,转动柱651的转动轴心线与旋转台200的转动轴心线平行。转动柱651的外侧壁开设有环形的线槽以构成槽轮,转动柱651的端部固定连接有清洁刷652,清洁刷652沿转动柱651的径向设置。当清洁组件520未伸出时,即往复式直线驱动机构500不作动时,清洁刷652位于安装缺口650内。
环形凹槽内还开设有延伸通道660,延伸通道660延伸至安装缺口650并与安装缺口650连通。
转动盘640的外环壁开设有环形的线槽以构成槽轮,转动盘640和转动柱651之间通过传动绳670传动配合,传动绳670通过延伸通道660传动。可以理解,为了使传动绳670更顺利地通过延伸通道660,可以根据实际情况在延伸通道660内设置用于引导传动绳670的其他槽轮。
当往复式直线驱动机构500驱动清洁组件520对待检测组件的表面进行清理时,活塞杆632拉动第一活塞630,使第二活塞622朝连通通道320内部运动,调节座620朝安装缺口650运动,转动盘640被活塞杆632驱动,转动盘640驱动转动柱651,使清洁刷652转动至安装缺口650之外,从而对凸透镜120/光束发射器420的表面进行清洁。
通过该设计,可以消除凸透镜120和光束发射器420表面的灰尘对检测产生干扰。
综上所述,本发明实施例提供的工件厚度均匀性检测装置1000能够同时对圆形工件和环形工件的厚度均匀性、轮廓精确度进行检测,且具有更高的检测效率和检测灵敏度,对人工的依赖程度大大降低,有效地提高了检测过程的可信度,有助于保障工件产品质量。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种工件厚度均匀性检测装置,其特征在于,包括:基座、旋转台、立柱、横臂、光束发射器、凸透镜、光强度传感器和控制器;
所述旋转台安装于所述基座并由驱动器驱动,所述立柱固定安装于所述基座的一侧并靠近所述旋转台设置,所述横臂固定连接于所述立柱的顶端,所述横臂平行于所述旋转台的台面设置并与所述旋转台间隔设置;
所述光束发射器设于所述横臂并朝向所述基座设置,所述凸透镜和所述光强度传感器均设于所述基座并朝向所述光束发射器设置;所述凸透镜设于所述光强度传感器靠近所述光束发射器的一侧,以用于将所述光束发射器发出的光束汇聚于所述光强度传感器;所述光强度传感器和所述控制器电性连接;
待检测工件为圆形工件或圆环形工件;所述旋转台用于安装待检测工件,使待检测工件的中心轴线与所述旋转台的转动轴心线重合,并使所述光束发射器发出的光束被待检测工件部分阻挡;
所述控制器用于监控所述光强度传感器检测到的光强度数据,在检测过程中,若所述光强度数据发生变化,则所述控制器发出提示;
所述立柱设置有往复式直线驱动机构,所述往复式直线驱动机构的活动端朝向所述旋转台设置并连接有清洁组件;所述往复式直线驱动机构与所述控制器电性连接;
在检测过程中,若所述光强度数据发生变化,所述控制器控制所述往复式直线驱动机构驱动所述清洁组件朝待检测组件靠近,以对待检测组件的表面进行清理;
在检测过程中,若所述光强度数据发生变化,所述控制器则将所述光强度数据发生变化时待检测工件的对应位置标记为缺陷部位;
所述控制器根据所述旋转台的转速确定所述缺陷部位下一次转动至所述光束发射器的光束处的时间,所述控制器控制所述往复式直线驱动机构驱动所述清洁组件在所述缺陷部位下一次转动至所述光束发射器的光束处时对待检测组件的表面进行清理;
所述基座的顶部开设有第一凹陷区,所述横臂的底部开设有第二凹陷区,所述第一凹陷区内和所述第二凹陷区内均设置有调控组件,所述调控组件包括:丝杆、调节块、调控器、弹性件和调节座;
所述丝杆设于所述第一凹陷区/所述第二凹陷区的底部并沿所述旋转台的径向设置,所述丝杆的一端可转动地连接于所述第一凹陷区/所述第二凹陷区的侧壁,所述丝杆的另一端同轴固定连接有传动齿轮,所述传动齿轮与所述调控器传动配合;
所述调节块开设有与所述丝杆相适配的螺孔,所述丝杆穿过所述调节块,所述调节块可滑动地配合于所述第一凹陷区/所述第二凹陷区的底部;所述调节座开设有通孔,所述丝杆穿过所述通孔;沿所述丝杆的轴向,所述调节座可滑动地配合于所述丝杆,所述调节座的底部与所述第一凹陷区/所述第二凹陷区的底部贴合;所述调节座位于所述调节块远离所述传动齿轮的一侧,所述弹性件抵接于所述调节座和所述第一凹陷区/所述第二凹陷区的侧壁之间;
在所述第一凹陷区内,所述凸透镜和所述光强度传感器设于所述调节座;在所述第二凹陷区内,所述光束发射器设于所述调节座;
所述立柱靠近所述旋转台的一侧开设有气腔,所述气腔内配合有第一活塞,所述第一活塞通过活塞杆与所述往复式直线驱动机构的活动端配合;
所述气腔的内端端壁还开设有连通通道,所述连通通道延伸至所述基座/所述横臂并贯穿至所述第一凹陷区/所述第二凹陷区的侧壁;所述调节座靠近所述弹性件的一侧固定连接有延伸柱,所述延伸柱延伸至所述连通通道内,所述延伸柱的端部连接有第二活塞,所述第二活塞配合于所述连通通道;
当所述往复式直线驱动机构驱动所述清洁组件对待检测组件的表面进行清理时,所述活塞杆拉动所述第一活塞,使所述第二活塞朝所述连通通道内部运动,从而使所述光束发射器发出的光束远离待检测工件,并使所述光束发射器、所述凸透镜和所述光强度传感器保持同步运动。
2.根据权利要求1所述的工件厚度均匀性检测装置,其特征在于,所述第一活塞靠近所述活塞杆的一侧设有转动板,所述转动板的转动轴心线沿所述气腔的轴向设置,所述活塞杆偏心固定连接于所述第一活塞;所述气腔的内壁开设有环形凹槽,所述环形凹槽靠近所述气腔的口部设置,所述环形凹槽内可转动地容置有转动盘;所述活塞杆贯穿所述转动盘,沿所述活塞杆的轴向,所述活塞杆与所述转动盘滑动配合;
所述往复式直线驱动机构的活动端铰接有活动杆,所述活动杆的转动轴心线与所述旋转台的转动轴心线平行;所述清洁组件连接于所述活动杆远离所述往复式直线驱动机构的一端端部,所述活塞杆固定连接于所述活动杆;所述气腔的轴心线与所述往复式直线驱动机构的活动端的轴心线之间的夹角为锐角;
当所述往复式直线驱动机构驱动所述活动杆的过程中,所述活动杆相对所述往复式直线驱动机构的活动端偏转,所述活塞杆驱动所述转动盘转动并相对所述转动盘滑动,从而使所述活动杆远离所述往复式直线驱动机构的一端端部沿椭圆轨迹运动,从而使所述清洁组件对待检测组件的表面进行清理。
3.根据权利要求2所述的工件厚度均匀性检测装置,其特征在于,所述第一凹陷区/所述第二凹陷区的侧壁还开设有安装缺口,所述安装缺口靠近所述连通通道设置,所述安装缺口靠近所述旋转台的一侧安装有转动柱,所述转动柱的转动轴心线与所述旋转台的转动轴心线平行;所述转动柱的外侧壁开设有环形的线槽以构成槽轮,所述转动柱的端部固定连接有清洁刷;
所述环形凹槽内还开设有延伸通道,所述延伸通道延伸至所述安装缺口并与所述安装缺口连通;
所述转动盘的外环壁开设有环形的线槽以构成槽轮,所述转动盘和所述转动柱之间通过传动绳传动配合,所述传动绳通过所述延伸通道传动;
当所述往复式直线驱动机构驱动所述清洁组件对待检测组件的表面进行清理时,所述活塞杆拉动所述第一活塞,使所述第二活塞朝所述连通通道内部运动,所述调节座朝所述安装缺口运动,所述转动盘驱动所述转动柱,使所述清洁刷转动至所述安装缺口之外对所述凸透镜/光束发射器的表面进行清洁。
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