CN117388585B - 一种暗室测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请涉及暗室测试技术领域，具体是一种暗室测试系统，包括：暗室；用于放置待测件的放置台，放置台设置在暗室的底面；检测机构包括第一检测组件和设置在第一检测组件上的补偿机构，第一检测组件设置在暗室的底面，第一检测组件的第一端靠近暗室的第一侧棱设置，第一检测组件的第二端靠近放置台设置，第一检测组件的布置方向与放置台的侧面间隔或抵接设置；第一检测组件能够带动补偿机构在第一侧棱和待测件之间移动；本申请降低第一检测组件的安装难度；同时补偿机构能够采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，实现检测机构采集完整的待测件周围的电磁信号，进而保证测试结果的准确性。

Description

一种暗室测试系统

技术领域

本申请涉及暗室测试技术领域，特别涉及一种暗室测试系统。

背景技术

随着智能终端产品数量的大量增长，智能终端呈现多品类、多层次和多厂家的趋势，产品数量和测试需求也大量增长；目前为了保证生产的智能终端的质量，生产厂家需要在智能终端研发阶段对智能终端进行全面的测试。

现有暗室测试系统测试为了保证测试结果的准确性，测试探头一般呈弧形布置，这将导致容纳测试探头的暗室的体积增加；即使少部分的暗室测试系统的探头呈非弧形布置，其能够避免暗室体积增加，但不能完整获取智能终端的测试数据，这将影响测试结果的准确性。

基于现有技术存在的缺点，急需研究一种暗室测试系统，来解决上述问题。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种暗室测试系统，本申请补偿机构能够在第一侧棱和待测件之间移动，使得补偿机构能够采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，实现检测机构采集完整的待测件周围的电磁信号，进而保证测试结果的准确性。

本申请提供了一种暗室测试系统，包括：

暗室；

用于放置待测件的放置台，所述放置台设置在所述暗室的底面；

用于采集所述待测件的电磁信号的检测机构，所述检测机构包括第一检测组件和设置在所述第一检测组件上的补偿机构，所述第一检测组件设置在所述暗室的底面，所述第一检测组件的第一端靠近所述暗室的第一侧棱设置，所述第一检测组件的第二端靠近所述放置台设置，所述第一检测组件的布置方向与所述放置台的侧面间隔或抵接设置；

所述第一检测组件能够带动所述补偿机构在所述第一侧棱和所述待测件之间移动。

进一步地，所述检测机构还包括第二检测组件和第三检测组件，所述第一检测组件、所述第二检测组件和所述第三检测组件设置在所述暗室的内壁上；

所述第一检测组件、所述第二检测组件和所述第三检测组件在所述暗室的侧壁上的投影呈匚型设置。

进一步地，所述第二检测组件包括第一支撑架和第一探测件，所述第一支撑架设置在所述暗室的顶部，所述第一探测件沿着所述第一支撑架的长度方向移动；

所述第三检测组件包括第二支撑架和第二探测件，所述第二支撑架设置在所述暗室的侧棱上，所述第二探测件沿着所述第二支撑架的长度方向移动。

进一步地，所述补偿机构包括第三支撑架；

所述第三支撑架的连接端与所述第一检测组件滑动连接，所述第三支撑架的检测端设置有用于采集所述待测件的电磁信号的探测组件。

进一步地，所述第三支撑架包括依次连接的第一连接杆、第二连接杆和第三连接杆；

所述第一连接杆沿着所述暗室的高度方向布置，所述第一连接杆的第一端与所述第一检测组件滑动连接，所述第三连接杆上设置有所述探测组件。

进一步地，所述第三连接杆的轴线方向与所述第一检测组件的布置方向平行设置。

进一步地，所述探测组件包括第三探测件和第四探测件；

所述第三探测件和所述第四探测件间隔设置，所述第三探测件和所述第四探测件分别设置在所述第三连接杆的两端。

进一步地，所述检测端的高度高于所述放置台的高度。

进一步地，所述放置台包括第一放置组件和第二放置组件；

所述第一放置组件和所述第二放置组件均能够放置所述待测件，沿着所述暗室的高度方向，所述第一放置组件和所述第二放置组件依次叠放在所述暗室的底面。

进一步地，所述第一检测组件包括第四支撑架和设置在所述第四支撑架上的驱动组件；

所述驱动组件固定设置在所述第四支撑架上，所述驱动组件能够带动所述补偿机构沿着所述第四支撑架的长度方向移动。

实施本申请实施例，具有如下有益效果：

本申请通过将第一检测组件的第一端靠近暗室的第一侧棱设置，第一检测组件的第二端靠近放置台设置，且第一检测组件的布置方向设置为与放置台的侧面间隔或抵接，避免第一检测组件的第一端设置在第一侧棱处，进而降低第一检测组件的安装难度；同时在第一检测组件上设置补偿机构，能够避免只设置第一检测组件时，第一检测组件和放置台之间产生了空间上的干涉，导致第一检测组件无法越过放置台靠近待测件，这将导致待测件和第一检测组件之间存在滞空段，导致第一检测组件无法完整采集待测件与第一侧棱之间的电磁信号；补偿机构在第一检测组件的带动下，补偿机构能够在第一侧棱和待测件之间移动，使得补偿机构能够采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，实现检测机构采集完整的待测件周围的电磁信号，进而保证测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还能够根据这些附图获得其它附图。

图1为本实施例提供的暗室测试系统的第一角度下的剖面图；

图2为本实施例提供的暗室测试系统的第二角度下的剖面图；

图3为本实施例提供的图1中的局部放大图。

其中，图中附图标记对应为：

1-暗室；2-放置台；3-检测机构；21-第一放置组件；22-第二放置组件；31-第一检测组件；32-第二检测组件；33-第三检测组件；34-补偿机构；35-探测组件；311-第四支撑架；312-驱动组件；321-第一支撑架；322-第一探测件；331-第二支撑架；332-第二探测件；341-第一连接杆；342-第二连接杆；343-第三连接杆；351-第三探测件；352-第四探测件。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

针对现有技术的缺陷，本申请通过将第一检测组件的第一端靠近暗室的第一侧棱设置，第一检测组件的第二端靠近放置台设置，且第一检测组件的布置方向设置为与放置台的侧面间隔或抵接，避免第一检测组件的第一端设置在第一侧棱处，进而降低第一检测组件的安装难度；同时在第一检测组件上设置补偿机构，能够避免只设置第一检测组件时，第一检测组件和放置台之间产生了空间上的干涉，导致第一检测组件无法越过放置台靠近待测件，这将导致待测件和第一检测组件之间存在滞空段，导致第一检测组件无法完整采集待测件与第一侧棱之间的电磁信号；补偿机构在第一检测组件的带动下，补偿机构能够在第一侧棱和待测件之间移动，使得补偿机构能够采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，实现检测机构采集完整的待测件周围的电磁信号，进而保证测试结果的准确性。

参见附图1～图3，本实施例提供了一种暗室测试系统，包括：暗室1；用于放置待测件的放置台2，放置台2设置在暗室1的底面；用于采集待测件的电磁信号的检测机构3，检测机构3包括第一检测组件31和设置在第一检测组件31上的补偿机构34，第一检测组件31设置在暗室1的底面，第一检测组件31的第一端靠近暗室1的第一侧棱设置，第一检测组件31的第二端靠近放置台2设置，第一检测组件31的布置方向与放置台2的侧面间隔或抵接设置；第一检测组件31能够带动补偿机构34在第一侧棱和待测件之间移动。

需要说明的是：在本实施例中通过将第一检测组件31的第一端靠近暗室1的第一侧棱设置，第一检测组件31的第二端靠近放置台2设置，且第一检测组件31的布置方向设置为与放置台2的侧面间隔或抵接，避免第一检测组件31的第一端设置在第一侧棱处，进而降低第一检测组件31的安装难度；同时在第一检测组件31上设置补偿机构34，能够避免只设置第一检测组件31时，第一检测组件31和放置台2之间产生了空间上的干涉，导致第一检测组件31无法越过放置台2靠近待测件，这将导致待测件和第一检测组件31之间存在滞空段，导致第一检测组件31无法完整采集待测件与第一侧棱之间的电磁信号；补偿机构34在第一检测组件31的带动下，补偿机构34能够在第一侧棱和待测件之间移动，使得补偿机构34能够采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，实现检测机构3采集完整的待测件周围的电磁信号，进而保证测试结果的准确性。

还需要说明的是：第一检测组件31与第一侧棱之间的距离不进行限定，具体距离根据实际情况设定只要保证第一检测组件31不与第一侧棱接触，两者间隔设置，且第一检测组件31与相邻的侧棱也不接触即可。

具体地，现有任何待测件均能够向四周辐射电磁信号，其形成一个方向图，方向图的球心向外辐射电磁信号。

更进一步地，待测件可以是智能化物联网模组、移动智能终端、车载智能终端、智能电视智能家电或可穿戴设备等。

还需要说明的是：检测机构3能够采集待测件的电磁信号，即检测机构3的采集区域能够覆盖待测件的方向图的球心；具体为检测机构3上的探测件对方向图上各条经线和纬线上的数据点进行检测，从而可以得到待测件的完整的电磁信号辐射参数，进而可以确定待测件的测试结果。

进一步地，暗室1上设置有密封门，操作人员可以通过打开或关闭密封门，实现暗室1状态的切换，当密封门打开时，操作人员可通过密封门12将待测件放置在放置台2上；当密封门关闭时，暗室1切换为密封状态，此时能够避免暗室1外部的干扰信号对待测件的测试结果的影响，进而提高了暗室测试系统的检测准确度。

在一些可能的实施例中，第一检测组件31的第一端靠近暗室1的第一侧棱设置，第一检测组件31的第二端靠近放置台2设置，且第一检测组件31的布置方向与放置台2的侧面抵接设置，使得第一检测组件31的第一端设置完成后，将第一检测组件31靠近其第二端的一侧与放置台2抵接，实现第一检测组件31的快速安装定位。

具体地，放置台2为圆台结构，第一检测组件31与放置台2抵接，即为第一检测组件31与放置台2相切设置。

在本实施例中，第一检测组件31的布置方向不与放置台2相交，避免第一检测组件31影响补偿机构34所检测的电磁信号的准确性，进而避免影响测试结果。

在一些可能的实施例中，检测机构3还包括第二检测组件32和第三检测组件33，第一检测组件31、第二检测组件32和第三检测组件33设置在暗室1的内壁上；第一检测组件31、第二检测组件32和第三检测组件33在暗室1的侧壁上的投影呈匚型设置；通过将第一检测组件31、第二检测组件32和第三检测组件33在暗室1的侧壁上的投影呈匚型设置，能够优化检测机构3的结构，实现提高暗室1的空间利用率，进而降低暗室1的体积，降低暗室测试系统的测试成本。

在一些可能的实施例中，第二检测组件32包括第一支撑架321和第一探测件322，第一支撑架321设置在暗室1的顶部，第一探测件322沿着第一支撑架321的长度方向移动；第三检测组件33包括第二支撑架331和第二探测件332，第二支撑架331设置在暗室1的侧棱上，第二探测件332沿着第二支撑架331的长度方向移动；在信号检测过程中，第一探测件322能够在第一支撑架321上移动，第二探测件332能够在第二支撑架331上移动，使得检测机构3的采集区域能够覆盖待测件的方向图的球心，提高暗室1的适配范围，还能够提高暗室1的空间利用率，进而降低暗室1的体积，降低暗室测试系统的测试成本。

进一步地，第二检测组件32还包括驱动电机，驱动电机设置在第一支撑架321上，驱动电机能够驱动第一探测件322沿第一支撑架321滑动；第三检测组件33还包括设置在第二支撑架331上的驱动电机，驱动电机能够驱动第二探测件332沿着第二支撑架331上滑动。

具体地，第一支撑架321和第二支撑架331的结构不进行具体限定，只要保证在驱动电机的驱动下，与其对应的探测件能够进行滑动即可。

优选地，第一支撑架321上设置有滑轨，第一探测件322上设置有与滑轨滑动连接的滑块；第二支撑架331上设置有滑轨，第二探测件332上设置有与滑轨滑动连接的滑块。

进一步地，第一探测件322沿着第一支撑架321的长度方向移动，形成第一采集区域，第二探测件332沿着第二支撑架331的长度方向移动，形成第二采集区域，探测组件35沿着第四支撑架311的长度方向移动，形成第三采集区域；第一采集区域、第二采集区域和第三采集区域能够覆盖待测件的方向图的球心。

具体地，第一支撑架321的第一端设置在待测件的顶部，且第一支撑架321的第一端设置在待测件形成的方向图的球心正上方；第一支撑架321的第二端与第二支撑架331的第一端间隔设置，且第一支撑架321的第二端靠近第一侧棱设置，第二支撑架331的第二端与暗室1的底面抵接，实现第一采集区域、第二采集区域和第三采集区域能够覆盖待测件的方向图的球心，避免出现检测死角，提高检测的准确度。

更进一步地，通过分别在暗室1的顶部设置第二检测组件32、暗室1的第一侧棱上设置有第三检测组件33和在暗室1的底面设置第一检测组件31，第一检测组件31、第二检测组件32和第三检测组件33无需一体设置，安装灵活性较高，且便于检测机构3的安装，能够提高暗室测试系统的安装效率。

具体地，第一支撑架321固定设置在暗室1的顶部，且第一支撑架321沿着放置台2的径向布置，且第一支撑架321与放置台2的转轴相交。

具体地，第一探测件322、第二探测件332、第三探测件351和第四探测件352可以为电磁辐射检测仪或示波器探头等。

需要说明的是：根据相关推导公式，例如远场公式可得知，检测组件距离放置台2的距离越远，所测出的数据会更加精准，为了提高数据的精准度，故将第二支撑架331放置在第一侧棱上，来提高暗室测试系统的检测精准度。

在一些可能的实施例中，补偿机构34包括第三支撑架；第三支撑架的连接端与第一检测组件31滑动连接，第三支撑架的检测端设置有用于采集待测件的电磁信号的探测组件35；在第一检测组件31的布置方向与放置台2的侧面间隔或抵接设置，降低第一检测组件31的安装难度的前提下，本实施例通过设置第三支撑架，使得第三支撑架上的探测组件35能够采集第一侧棱与待测件间的电磁信号，弥补第一检测组件31由于设置位置而不能完整采集第一侧棱与待测件间的电磁信号的缺点。

在一些可能的实施例中，第三支撑架包括依次连接的第一连接杆341、第二连接杆342和第三连接杆343；第一连接杆341沿着暗室1的高度方向布置，第一连接杆341的第一端与第一检测组件31滑动连接，第三连接杆343上设置有探测组件35；通过将第一连接杆341沿着暗室1的高度方向布置，能够抬高设置在第三连接杆343上的探测组件35的高度，使其高于放置台2的高度，避免放置台2影响待测件的电磁信号，保证探测组件35能够完整的检测到待测件的电磁信号，进而保证检测结果的准确性。

进一步地，第三连接杆343的轴线方向与第一检测组件31的布置方向平行设置。

进一步地，第二连接杆342的第一端与第一连接杆341连接，第二连接杆342朝向远离第一连接杆341的方向延伸，第三连接杆343与第一检测组件31在暗室1的底面上的投影延长线平行或相交设置。

在一些可能的实施例中，第一连接杆341、第二连接杆342和第三连接杆343依次连接，且相互连接位置相互固定；此时第三连接杆343的布置方向与第一检测组件31的布置方向平行设置，且第一检测组件31的一侧与放置台2的侧面抵接设置。

在另一些可能的实施例中，第二连接杆342与第三连接杆343铰接，第三连接杆343能够相对第二连接杆342进行转动，通过调节第三连接杆343的角度，使得探测组件35能够完整的采集到待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，通过调节探测组件35的位置，能够扩大探测组件35的检测范围，实现补偿机构34能够适配不同尺寸的待测件，进而提高探测组件35的适用范围。

进一步地，第二连接杆342为伸缩杆，第二连接杆342能够沿着其轴线方向进行伸缩，使得与其连接的第三连接杆343能够沿着第二连接杆342的轴线方向移动，这能够进一步扩大探测组件35的检测范围，实现补偿机构34能够适配不同尺寸的待测件，还能够通过调节第二连接杆342的长度和第三连接杆343的角度，实现补偿机构34能够适配不同安装位置的第一检测组件31，减少对第一检测组件31安装位置的限制，降低第一检测组件31的安装难度。

具体地，第一连接杆341为伸缩杆，第一连接杆341能够沿着其长度方向进行伸缩，使得第三连接杆343上的探测组件35能够随着第一连接杆341的伸缩而伸缩，保证探测组件35的高度能够总高于放置台2的高度。

在另一些可能的实施例中，第三连接杆343为伸缩杆，第三连接杆343能够沿着其长度方向进行伸缩，使得第三连接杆343上的探测组件35能够随着第三连接杆343的伸缩而伸缩，进而改变探测组件35与第一侧棱或待测件之间的距离，使得探测组件35能够完整的检测到待测件位于第一侧棱与待测件之间的电磁信号。

具体地 ，设置在第三连接杆343上的第三探测件351和第四探测件352，随着第三连接杆343的伸缩拉长，第三探测件351朝向第一侧棱移动，第四探测件352朝向放置台2移动。

在另一些可能的实施例中，第三支撑架包括依次连接的第一连接杆341和第三连接杆343，第一连接杆341沿着暗室1的高度方向布置，第三连接杆343的第一端与第一连接杆341连接，第三连接杆343的第二端朝向远离第一连接杆341的方向延伸。

具体地，探测组件35设置在第三连接杆343的第二端，通过第三支撑架在第一检测组件31的带动下，在第一侧棱和待测件之间运动，以采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号。

更进一步地，探测组件35只包括第三探测件351，由于第三探测件351设置在第三连接杆343的第二端，且由于第三连接杆343的布置方向；使得第三探测件351采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号时，第三连接杆343未对第三探测件351产生检测干涉，进而保证了待测件的检测结果的准确性。

本申请的暗室测试系统中的暗室1的尺寸不进行限定。

具体地，由于探测组件35受到其探测距离的影响，当暗室1的体积过大，第一侧棱与放置台2之间的距离过大时，无需改变第一检测组件31的长度，只需要保证第一检测组件31未设置在第一侧棱与待测件之间，且第一检测组件31未与放置台2相交即可。

更进一步地，对第三连接杆343进行伸缩调节，以使得其上的探测组件35能够完整采集待测件位于第一侧棱和放置台2之间的电磁信号。

具体地，第一连接杆341、第二连接杆342和第三连接杆343为伸缩杆结构，在此不进行具体结构限定，只要保证能够进行伸缩并在伸缩过后能够进行卡接固定即可。

在另一些可能的实施例中，第一检测组件31的第一端靠近暗室1的第一侧棱设置，第一检测组件31的第二端靠近放置台2设置，且第一检测组件31的布置方向与放置台2的侧面间隔设置，使得第一检测组件31无需根据放置台2的设置位置进行定位，能够扩大第一检测组件31在暗室1底面的安装范围。

进一步地，当第一检测组件31的布置方向与放置台2的侧面间隔设置时，第三连接杆343与第一检测组件31的布置方向非平行设置，通过调节第三连接杆343与第二连接杆342之间的角度，以使第三连接杆343的布置方向能够分别经过第一侧棱和待测件，实现设置在第三连接杆343上的探测组件35能够采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，进而保证检测结果的准确性。

在一些可能的实施例中，探测组件35包括第三探测件351和第四探测件352；第三探测件351和第四探测件352间隔设置，第三探测件351和第四探测件352分别设置在第三连接杆343的两端；通过同时设置第三探测件351和第四探测件352，能够实现第三探测件351和第四探测件352对第一侧棱和待测件之间进行分区检测，能够避免第三连接杆343对检测结果的影响，进而保证检测结果的准确性。

进一步地，暗室测试系统还包括控制器，控制器与探测组件35电连接，控制器用于控制第三探测件351和第四探测件352切换工作，由于待测件的尺寸不同，探测组件35在第三支撑架的带动下，能够沿着第一检测组件31的布置方向移动，进而改变探测组件35与待测件之间的距离并改变探测组件35与第一侧棱之间的距离，保证探测组件35准确采集第一侧棱与待测件之间的电磁信号，进而提高探测组件35的兼容性；探测组件35随着第三支撑架在第一极限位置和第二极限位置之间移动，当第三支撑架位于第一极限位置时，第四探测件352无法采集第一侧棱与第三探测件351之间的电磁信号，通过设置第三探测件351能够弥补第四探测件352无法采集的待测件的电磁信号，实现第三探测件351和第四探测件352相互弥补，这能够保证探测组件35所采集的电磁信号的准确性，进而保证测试结果的准确性；其中，第一极限位置为第三支撑架朝向第一侧棱移动的最远距离，第二极限位置为第三支撑架朝向放置台2移动的最远距离。

在一些可能的实施例中，检测端的高度高于放置台2的高度；通过将检测端的高度高于放置台2的高度，避免放置台2影响待测件的电磁信号，保证探测组件35能够完整的检测到待测件的电磁信号，进而保证检测结果的准确性。

在一些可能的实施例中，放置台2包括第一放置组件21和第二放置组件22；第一放置组件21和第二放置组件22均能够放置待测件，沿着暗室1的高度方向，第一放置组件21和第二放置组件22依次叠放在暗室1的底面；沿着暗室1的高度方向，依次设置第一放置组件21和第二放置组件22，能够实现根据待测件的尺寸，确定待测件的放置位置，进而提高放置台2的适配范围。

具体地，第一放置组件21为能够旋转的圆台结构。

更进一步地，第二放置组件22与第一放置组件21可拆卸连接，第二放置组件22为可升降结构，第二放置组件22能够沿着第一放置组件21的轴线方向做升降运动。

具体地，第二放置组件22包括升降结构和伸缩杆，伸缩杆的两端分别与升降结构和第一放置组件21连接，升降结构用于放置待测件，通过调节伸缩杆的长度进而调节升降结构的高度。

具体地，当待测件的尺寸较小时，将待测件放置在第二放置组件22上，当待测件的尺寸较大时，将待测件放置在第一放置组件21上。

在一些可能的实施例中，第一检测组件31包括第四支撑架311和设置在第四支撑架311上的驱动组件312；驱动组件312固定设置在第四支撑架311上，驱动组件312能够带动补偿机构34沿着第四支撑架311的长度方向移动；通过设置驱动组件312，能够实现自动化控制补偿机构34的位置，进而提高暗室测试系统整体的自动化程度。

具体地，第四支撑架311的结构不进行具体限定，只要保证在驱动组件312的驱动下，其上的补偿机构34能够沿着第四支撑架311的长度方向进行滑动即可。

优选地，第四支撑架311上设置有滑轨，补偿机构34上设置有与滑轨滑动连接的滑块。

具体地，驱动组件312为液压驱动、气动驱动或电机等。

在一些可能的实施例中，第一检测组件31还包括限位组件，限位组件可拆卸设置在第四支撑架311上；限位组件能够与补偿机构34抵接，以限制补偿机构34的移动距离；通过设置限位组件能够限制补偿机构34的移动范围，避免补偿机构34与暗室1或待测件发生碰撞，而导致损坏补偿机构34、待测件或暗室1，进而降低暗室测试系统的更换成本。

具体地，限位组件的结构不进行限定，只要保证其能够对补偿机构34进行限位即可。

优选地，限位组件为卡接结构，限位组件卡接在第四支撑架311上，实现对补偿机构34进行限位。

在一些可能的实施例中，控制器还分别与第一检测组件31、第二检测组件32、第三检测组件33、补偿机构34和放置台2电连接。

在对待测件的电磁信号检测过程中，控制器能够控制放置台2的驱动装置，进而使其驱动装置驱动放置台2按照预设转动方向和转动速度转动；控制器还能够控制第二检测组件32的驱动电机，进而使其驱动电机驱动第一探测件322沿着第一支撑架321滑动；控制器还能够控制第三检测组件33的驱动电机，进而使其驱动电机驱动第二探测件332沿着第二支撑架331滑动；控制器还能够控制第一检测组件31的驱动组件312，进而使其驱动组件312驱动补偿机构34沿着第四支撑架311滑动；同时控制器还能够获取第一探测件322、第二探测件332和探测组件35采集的电磁信号，并基于上述电磁信号得到待测件的检查结果，进而提高了信号检测的全面性和测试结果的准确性。

实施例1

请参考图1～图3，本实施例提供了一种暗室测试系统，包括：暗室1；用于放置待测件的放置台2，放置台2设置在暗室1的底面；用于采集待测件的电磁信号的检测机构3，检测机构3包括第一检测组件31和设置在第一检测组件31上的补偿机构34，第一检测组件31设置在暗室1的底面，第一检测组件31的第一端靠近暗室1的第一侧棱设置，第一检测组件31的第二端靠近放置台2设置，第一检测组件31的布置方向与放置台2的侧面间隔或抵接设置；第一检测组件31能够带动补偿机构34在第一侧棱和待测件之间移动，以采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号。

具体地，第一检测组件31的第一端靠近暗室1的第一侧棱设置，第一检测组件31的第二端靠近放置台2设置，且第一检测组件31的布置方向与放置台2的侧面抵接设置，使得第一检测组件31的第一端设置完成后，将第一检测组件31靠近其第二端的一侧与放置台2抵接，实现第一检测组件31的快速安装定位。

具体地，放置台2为圆台结构，第一检测组件31与放置台2抵接，即为第一检测组件31与放置台2相切设置。

在本实施例中，第一检测组件31的布置方向不与放置台2相交，避免第一检测组件31影响补偿机构34所检测的电磁信号的准确性，进而避免影响测试结果。

具体地，第一检测组件31包括第四支撑架311和设置在第四支撑架311上的驱动组件312；驱动组件312固定设置在第四支撑架311上，驱动组件312能够带动补偿机构34沿着第四支撑架311的长度方向移动。

具体地，第一检测组件31还包括限位组件，限位组件可拆卸设置在第四支撑架311上；限位组件能够与补偿机构34抵接，以限制补偿机构34的移动距离。

具体地，检测机构3还包括第二检测组件32和第三检测组件33，第一检测组件31、第二检测组件32和第三检测组件33设置在暗室1的内壁上；第一检测组件31、第二检测组件32和第三检测组件33在暗室1的侧壁上的投影呈匚型设置。

具体地，第一探测件322沿着第一支撑架321的长度方向移动，形成第一采集区域，第二探测件332沿着第二支撑架331的长度方向移动，形成第二采集区域，探测组件35沿着第四支撑架311的长度方向移动，形成第三采集区域；第一采集区域、第二采集区域和第三采集区域能够覆盖待测件的方向图的球心。

具体地，暗室测试系统还包括控制器，控制器还分别与第一检测组件31、第二检测组件32、第三检测组件33、补偿机构34和放置台2电连接

具体地，第二检测组件32包括第一支撑架321和第一探测件322，第一支撑架321设置在暗室1的顶部，第一探测件322沿着第一支撑架321的长度方向移动；第三检测组件33包括第二支撑架331和第二探测件332，第二支撑架331设置在暗室1的侧棱上，第二探测件332沿着第二支撑架331的长度方向移动。

具体地，第一支撑架321的第一端设置在待测件的顶部，第一支撑架321的第二端与第二支撑架331的第一端间隔设置，且第一支撑架321靠近所述第一侧棱设置，第二支撑架331的第二端与暗室1的底面抵接，实现第一采集区域、第二采集区域和第三采集区域能够覆盖待测件的方向图的球心。

具体地，第二检测组件32还包括驱动电机，驱动电机设置在第一支撑架321上，驱动电机能够驱动第一探测件322沿第一支撑架321滑动；第三检测组件33还包括设置在第二支撑架331上的驱动电机，驱动电机能够驱动第二探测件332沿着第二支撑架331上滑动。

具体地，补偿机构34包括第三支撑架；第三支撑架的连接端与第一检测组件31滑动连接，第三支撑架的检测端设置有用于采集待测件的电磁信号的探测组件35。

具体地，第三支撑架包括依次连接的第一连接杆341、第二连接杆342和第三连接杆343；第一连接杆341沿着暗室1的高度方向布置，第一连接杆341的第一端与第一检测组件31滑动连接，第三连接杆343上设置有探测组件35。

进一步地，第二连接杆342的第一端与第一连接杆341连接，第二连接杆342朝向远离第一连接杆341的方向延伸，第三连接杆343与第一检测组件31在暗室1的底面上的投影延长线平行设置。

具体地，第一连接杆341、第二连接杆342和第三连接杆343依次连接，且相互连接位置相互固定；此时第三连接杆343的布置方向与第一检测组件31的布置方向平行设置，且第一检测组件31的一侧与放置台2的侧面抵接设置。

具体地，探测组件35包括第三探测件351和第四探测件352；第三探测件351和第四探测件352间隔设置，第三探测件351和第四探测件352分别设置在第三连接杆343的两端。

具体地，检测端的高度高于放置台2的高度。

具体地，放置台2包括第一放置组件21和第二放置组件22；第一放置组件21和第二放置组件22均能够放置待测件，沿着暗室1的高度方向，第一放置组件21和第二放置组件22依次叠放在暗室1的底面。

实施例2

请参考图1～图3，本实施例提供了一种暗室测试系统，本实施例与实施例1的区别在于：第一连接杆341、第二连接杆342和第三连接杆343相互转动连接，且第一连接杆341、第二连接杆342和第三连接杆343为伸缩杆。

具体地，第二连接杆342与第三连接杆343铰接，第三连接杆343能够相对第二连接杆342进行转动，通过调节第三连接杆343的角度，使得探测组件35能够完整的采集到待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，通过调节探测组件35的位置，能够扩大探测组件35的检测范围，实现补偿机构34能够适配不同尺寸的待测件，进而提高探测组件35的适用范围。

进一步地，第二连接杆342为伸缩杆，第二连接杆342能够沿着其轴线方向进行伸缩，使得与其连接的第三连接杆343能够沿着第二连接杆342的轴线方向移动，这能够进一步扩大探测组件35的检测范围，实现补偿机构34能够适配不同尺寸的待测件，还能够通过调节第二连接杆342的长度和第三连接杆343的角度，实现补偿机构34能够适配不同安装位置的第一检测组件31，减少对第一检测组件31安装位置的限制，降低第一检测组件31的安装难度。

具体地，第一连接杆341为伸缩杆，第一连接杆341能够沿着其长度方向进行伸缩，使得第三连接杆343上的探测组件35能够随着第一连接杆341的伸缩而伸缩，保证探测组件35的高度能够总高于放置台2的高度。

进一步地，第三连接杆343为伸缩杆，第三连接杆343能够沿着其长度方向进行伸缩，使得第三连接杆343上的探测组件35能够随着第三连接杆343的伸缩而伸缩，进而改变探测组件35与第一侧棱或待测件之间的距离，使得探测组件35能够完整的检测到待测件位于第一侧棱与待测件之间的电磁信号。

具体地 ，设置在第三连接杆343上的第三探测件351和第四探测件352，随着第三连接杆343的伸缩拉长，第三探测件351朝向第一侧棱移动，第四探测件352朝向放置台2移动。

实施例3

请参考图1～图3，本实施例提供了一种暗室测试系统，本实施例与实施例1的区别在于：第三支撑架仅包括第一连接杆341和第三连接杆343。

具体地，第三支撑架包括依次连接的第一连接杆341和第三连接杆343，第一连接杆341沿着暗室1的高度方向布置，第三连接杆343的第一端与第一连接杆341连接，第三连接杆343的第二端朝向远离第一连接杆341的方向延伸。

具体地，探测组件35设置在第三连接杆343的第二端，通过第三支撑架在第一检测组件31的带动下，在第一侧棱和待测件之间运动，以采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号。

更进一步地，探测组件35只包括第三探测件351，由于第三探测件351设置在第三连接杆343的第二端，且由于第三连接杆343的布置方向；使得第三探测件351采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号时，第三连接杆343未对第三探测件351产生检测干涉，进而保证了待测件的检测结果的准确性。

实施例4

请参考图1～图3，本实施例提供了一种暗室测试系统，本实施例与实施例1的区别在于：本实施例中暗室1的体积过大，第一检测组件31未与放置台2接触，且第三连接杆343与第二连接杆342铰接，第三连接杆343为伸缩杆。

具体地，由于探测组件35受到其探测距离的影响，当暗室1的体积过大，第一侧棱与放置台2之间的距离过大时，无需改变第一检测组件31的长度，只需要保证第一检测组件31未设置在第一侧棱与待测件之间，且第一检测组件31未与放置台2相交即可。

更进一步地，对第三连接杆343进行伸缩调节，以使得其上的探测组件35能够完整采集待测件位于第一侧棱和放置台2之间的电磁信号。

具体地，第一连接杆341、第二连接杆342和第三连接杆343为伸缩杆结构，在此不进行具体结构限定，只要保证能够进行伸缩并在伸缩过后能够进行卡接固定即可。

进一步地，当第一检测组件31的布置方向与放置台2的侧面间隔设置时，第三连接杆343与第一检测组件31的布置方向非平行设置，通过调节第三连接杆343与第二连接杆342之间的角度，以使第三连接杆343的布置方向能够分别经过第一侧棱和待测件，实现设置在第三连接杆343上的探测组件35能够采集待测件位于第一侧棱与待测件间的电磁信号，进而保证检测结果的准确性。

虽然本申请已经通过优选实施例进行了描述，然而本申请并非局限于这里所描述的实施例，在不脱离本申请范围的情况下还包括所作出的各种改变以及变化。

在本文中，所涉及的前、后、上、下等方位词是以附图中零部件位于图中以及零部件相互之间的位置来定义的，只是为了表达技术方案的清楚及方便。应当理解，所述方位词的使用不应限制本申请请求保护的范围。

在不冲突的情况下，本文中上述实施例及实施例中的特征能够相互结合。

以上所揭露的仅为本申请一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本申请之权利范围，因此依本申请权利要求所作的等同变化，仍属本申请所涵盖的范围。

Claims (5)

1.一种暗室测试系统，包括：

暗室（1）；

用于放置待测件的放置台（2），所述放置台（2）设置在所述暗室（1）的底面；

用于采集所述待测件的电磁信号的检测机构（3），所述检测机构（3）包括第一检测组件（31）和设置在所述第一检测组件（31）上的补偿机构（34），所述第一检测组件（31）设置在所述暗室（1）的底面，所述第一检测组件（31）的第一端靠近所述暗室（1）的第一侧棱设置，所述第一检测组件（31）的第二端靠近所述放置台（2）设置，所述第一检测组件（31）的布置方向与所述放置台（2）的侧面间隔或抵接设置；

所述第一检测组件（31）包括第四支撑架（311）和设置在所述第四支撑架（311）上的驱动组件（312）；所述驱动组件（312）固定设置在所述第四支撑架（311）上，所述驱动组件（312）能够带动所述补偿机构（34）沿着所述第四支撑架（311）的长度方向移动；

所述补偿机构（34）包括第三支撑架；所述第三支撑架的连接端与所述第一检测组件（31）滑动连接，所述第三支撑架的检测端设置有用于采集所述待测件的电磁信号的探测组件（35）；

所述第三支撑架包括依次连接的第一连接杆（341）、第二连接杆（342）和第三连接杆（343）；所述第一连接杆（341）沿着所述暗室（1）的高度方向布置，所述第一连接杆（341）的第一端与所述第一检测组件（31）滑动连接；

所述第三连接杆（343）的轴线方向与所述第一检测组件（31）的布置方向平行设置；所述探测组件（35）包括第三探测件（351）和第四探测件（352）；所述第三探测件（351）和所述第四探测件（352）间隔设置，所述第三探测件（351）和所述第四探测件（352）分别设置在所述第三连接杆（343）的两端；所述第一检测组件（31）能够带动所述补偿机构（34）在所述第一侧棱和所述待测件之间移动。

2.根据权利要求1所述的暗室测试系统，其特征在于，所述检测机构（3）还包括第二检测组件（32）和第三检测组件（33），所述第一检测组件（31）、所述第二检测组件（32）和所述第三检测组件（33）设置在所述暗室（1）的内壁上；

所述第一检测组件（31）、所述第二检测组件（32）和所述第三检测组件（33）在所述暗室（1）的侧壁上的投影呈匚型设置。

3.根据权利要求2所述的暗室测试系统，其特征在于，所述第二检测组件（32）包括第一支撑架（321）和第一探测件（322），所述第一支撑架（321）设置在所述暗室（1）的顶部，所述第一探测件（322）沿着所述第一支撑架（321）的长度方向移动；

所述第三检测组件（33）包括第二支撑架（331）和第二探测件（332），所述第二支撑架（331）设置在所述暗室（1）的侧棱上，所述第二探测件（332）沿着所述第二支撑架（331）的长度方向移动。

4.根据权利要求1所述的暗室测试系统，其特征在于，所述检测端的高度高于所述放置台（2）的高度。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的暗室测试系统，其特征在于，所述放置台（2）包括第一放置组件（21）和第二放置组件（22）；

所述第一放置组件（21）和所述第二放置组件（22）均能够放置所述待测件，沿着所述暗室（1）的高度方向，所述第一放置组件（21）和所述第二放置组件（22）依次叠放在所述暗室（1）的底面。