CN117234825A - 一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明属于屏幕测试技术领域，具体公开提供的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，该系统包括触摸屏测试预备模块、测试模式设定模块、测试场景设定模块、测试数据采集模块、测试数据分析模块和测试报告生成终端。本发明通过设定各测试模式和各体验测试场景，并根据各测试模式和各体验测试场景进行单项化触摸性能测试和融合化触摸性能测试，有效解决了当前测试环境较为单一和常规的问题，充分结合了触摸屏的实际使用场景和用户的触摸差异，实现了不同使用场景下的交错性和关联性测试，进而尽可能的减少了测试结果的误差，进而确保了目标触摸屏后续使用的稳定性和灵敏性，进一步提升了用户的使用体验。

Description

一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统

技术领域

本发明属于屏幕测试技术领域，涉及到一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统。

背景技术

大尺寸触摸屏是指较大尺寸的触摸屏设备，常见于电子白板、交互展示屏等场景，被广泛应用于教育、商业、娱乐等领域，对触摸性能的要求也相应提高。因此进行触摸性能测试的重要性不言而喻。

触摸性能测试是评估触摸屏设备响应速度、准确性和稳定性的过程。通过测试，可以确定触摸屏在用户触摸时是否能够准确地识别和响应，并确保其在长时间使用过程中的可靠性，但是当前中大屏触摸性能测试还存在以下几个方面的不足：1、测试环境单一和常规，未结合触摸屏的实际使用场景进行针对性测试，使得测试结果存在一定的误差性，进而导致测试结果的代表性不强，使得触摸屏后续使用的稳定性和灵敏性难以保障，进而无法确保用户的使用体验。

2、对用户触摸差异性考虑不足，未结合用户体验层面进行测试场景设置，而触摸屏在实际使用过程中需求响应不同触发方式，进而导致触摸性能测试的覆盖率不足，难以保障触摸屏后续面对不同用户的触摸反应情况，使得触摸屏触摸性能测试结果的参考性不强。

3、当前倾向于静态类型的触摸测试，即单点点击等，对实际使用场景中的动态测试不足，无法充分评估触摸屏在复杂手势操作下的性能表现，存在一定的片面性，进而无法确保触摸性能测试结果的合理性、真实性和有效性。

发明内容

鉴于此，为解决上述背景技术中所提出的问题，现提出一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：本发明提供一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，该系统包括：触摸屏测试预备模块，用于以目标测试触摸屏任意一端点为坐标原点，构建目标测试触摸参考坐标系。

测试模式设定模块，用于设置各测试模式，包括A类测试模式、B类测试模式和C类测试模式。

测试场景设定模块，用于设置各体验测试场景，各体验测试场景分别为Ⅰ号场景、Ⅱ号场景和Ⅲ号场景，记录各体验测试场景的各设定测试数据。

测试数据采集模块，用于设置测试类目，包括单项测试和融合测试，进而进行触摸性能测试，并记录各测试类目的触摸性能测试数据。

测试数据分析模块，用于分析各测试类目的触摸性能测试数据，得到目标测试触摸屏的触摸性能测试分析结果。

测试报告生成终端，用于生成目标测试触摸屏的触摸性能测试报告，并进行反馈。

于本发明一优选实施例，所述分析各测试类目的触摸性能测试数据，包括：S1、从单项测试的触摸性能测试数据中筛选出各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据，分析单项测试下各测试模式的触摸性能达标度。

S2、从融合测试的触摸性能测试数据中筛选出各体验测试场景对应各测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据，分析各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度。

S3、根据S1步骤和S2步骤的分析结果统计各测试模式的综合触摸性能达标度，分别记为、/>和/>。

S4、将、/>和/>导入测试评估模型中，输出目标测试触摸屏的触摸性能达标度。

S5、将S1步骤、S2步骤、S3步骤和S4步骤的分析结果整合得到目标测试触摸屏的触摸性能测试分析结果。

于本发明一优选实施例，所述分析单项测试下各测试模式的触摸性能达标度，包括：从各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出A类测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据，通过A类精准度评估模型评估得到各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度，/>表示测试次序编号，/>。

将各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度与设定触摸反应精准度进行作差，将差值记为触摸反应精度差。

若某次测试时A类测试模式的触摸反应精度差小于0且该次测试之前测试次序对应A类测试模式的触摸反应精度差大于或者等于0，同时该次测试之后测试次序对应A类测试模式的触摸反应精度差小于0，则将该次测试的所处测试次序作为目标测试次序，提取目标测试次序之前的测试次数。

将目标测试次序时A类测试模式的触摸反应精准度与的差值记为/>。

将目标测试次序次之前各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度进行均值计算，得到平均符合触摸反应精准度。

统计单项测试下A类测试模式的触摸性能达标度，/>，表示测试次数，/>表示参照触摸反应精准度偏差。

从各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出B类测试模式和C类测试模式的触摸性能测试数据，统计各次测试时B类测试模式和C类测试模式的触摸反应精准度，进而按照的统计方式同理统计得到单项测试类目B类测试模式和C类的触摸性能达标度。

于本发明一优选实施例，所述A类精准度评估模型的具体评估过程为：从A类测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中提取各A类测试点的实际位置坐标、检测位置坐标、触摸时间点、触摸响应时间点和触摸画面显示时间点。

通过两点之间的距离公式计算得到各次测试时各A类测试点的检测位置偏差距离，/>表示A类测试点编号，/>。

将触摸响应时间点与触摸时间点之间的间隔时长记为触摸响应间隔时长，将触摸画面显示时间点与触摸响应时间点之间的间隔时长记为触摸显示间隔时长。

将各次测试时各A类测试点的触摸响应间隔时长和触摸显示间隔时长分别记为和/>。

将、/>、/>导入A类精准度评估模型

中，得到各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度/>，/>为目标测试触摸屏固有检测偏差距离，/>为目标测试触摸屏固有触摸响应间隔时长，/>为目标测试触摸屏固有显示间隔时长，/>为A类测试点数，表示向下取整符号。

于本发明一优选实施例，所述分析各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度，包括：从各体验测试场景对应各测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据。

通过触摸反应限制评估规则评估得到Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据和触摸限制测试次数。

从Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据中筛选出最大触摸限制设定数据和最小触摸限制设定数据/>。

设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，统计Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸性能达标度/>，/>，为目标测试触摸屏在Ⅰ号场景下对应A类测试模式的固有最大触摸限制设定数据、固有最小触摸限制设定数据。

按照的统计方式同理统计得到Ⅰ号场景对应B类测试模式和C类测试模式的触摸性能达标度，以此得到Ⅰ号场景对应各测试模式的触摸性能达标度，进而按照此分析方式依次分析得到Ⅱ号场景和Ⅲ号场景对应各测试模式的触摸性能达标度。

于本发明一优选实施例，所述触摸反应限制评估规则的具体评估过程包括：将Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据与设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸性能测试指标进行对比。

若Ⅰ号场景对应A类测试模式在某设定测试数据下某次测试时的测试数据不符合其设定触摸性能测试指标，将该设定测试数据作为触摸限制设定数据，将该次测试之前的测试次数作为该触摸设定数据下的触摸限制测试次数，由此得到Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据。

从各触摸限制设定数据下的触摸限制测试次数中筛选出最大值，作为Ⅰ号场景对应A类测试模式下的触摸限制测试次数。

于本发明一优选实施例，所述设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，包括：按照的统计方式统计得到Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸反应精准度。

构建各设定测试数据下的触摸反应精准度变化曲线，从所述变化曲线中分别进行斜率和波动点数目提取，分别作为精准衰减率和波动次数，并分别记为和/>，/>表示设定测试数据编号，/>，统计各设定测试数据下的触摸反应稳定度/>。

设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，

，/>分别为设定参照的触摸反应稳定度、触摸反应稳定度偏差。

于本发明一优选实施例，所述统计各测试模式的综合触摸性能达标度，包括：从单项测试下各测试模式的触摸性能达标度中筛选出单项测试下A类测试模式的触摸性能达标度。

从各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度中筛选出Ⅰ号场景、Ⅱ号场景和Ⅲ号场景对应A类测试模式的触摸性能达标度，分别记为、/>和/>。

将触摸性能达标度大于或者等于设定参照临界触摸性能达标度的测试场景记为适应场景，统计A类测试模式的适应场景数目/>，同时将/>、/>和/>分别与/>进行作差，将差值分别记为/>、/>和/>。

统计A类测试模式的综合触摸性能达标度，

，/>为设定参照单项测试触摸性能达标度，/>分别为设定的参照的Ⅰ号场景、Ⅱ号场景、Ⅲ号场景对应的适宜触摸性能达标超出值。

按照的统计方式同理统计得到B类测试模式的综合触摸性能达标度/>和C类测试模式的综合触摸性能达标度/>。

于本发明一优选实施例，所述测试评估模型的具体表示公式为：

，/>、/>和/>分别为设定参照的A类测试模式、B类测试模式和C类测试模式的综合触摸性能达标度。

相较于现有技术，本发明的有益效果如下：（1）本发明通过设定各测试模式和各体验测试场景，并根据各测试模式和各体验测试场景进行单项化触摸性能测试和融合化触摸性能测试，有效解决了当前测试环境较为单一和常规的问题，充分结合了触摸屏的实际使用场景和用户的触摸差异，实现了不同使用场景下的交错性和关联性测试，尽可能的减少了测试结果的误差，同时加强了目标测试触摸屏测试结果的代表性，进而确保了目标测试触摸屏后续使用的稳定性和灵敏性，并且还进一步提升了用户的使用体验。

（2）本发明通过设置各测试模式，规避了静态化和单一化测试存在的不足，实现了目标测试触摸屏的多维度动态化测试，进而为目标测试触摸屏在复杂手势操作下的性能表现的评估提供了辅助，同时也打破了当前触摸屏触摸性能测试存在的片面性，从而提升了目标测试触摸屏测试的覆盖面，进而确保了触摸性能测试结果的合理性、真实性和有效性。

（3）本发明通过结合用户的体验层面设置各体验测试场景，弥补了当前对用户触摸差异性考虑不足的欠缺，直观的展示了目标测试触摸屏在不同体验测试场景下以及不同触发方式下的响应状态，确保了目标测试触摸屏面对不同用户触摸时触摸反应的稳定度和精准度，进而还提高了目标测试触摸屏触摸性能测试结果的参考性。

（4）本发明在进行触摸性能测试数据分析时，通过对不同测试模式在不同各体验测试场景下对应不同设定测试数据的多次重复性测试数据进行触摸响应精准度的规律性分析，实现了目标测试触摸屏多要素和精细化分析，从而提升了目标测试触摸屏触摸性能分析结果的有效性、真实性和准确性，减少了目标测试触摸屏触摸性能测试结果偶然性，便于更全面、真实、准确和可靠地评估目标测试触摸屏的性能以及及时发现目标测试触摸屏存在的问题和缺陷，并为目标测试触摸屏运维管理人员提供改进方向和建议。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明系统各模块连接示意图。

图2为本发明触摸屏触摸性能测试流程示意简图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1和图2所示，本发明提供了一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，该系统包括触摸屏测试预备模块、测试模式设定模块、测试场景设定模块、测试数据采集模块、测试数据分析模块和测试报告生成终端。

上述中，测试数据采集模块分别与触摸屏测试预备模块、测试模式设定模块、测试场景设定模块和测试数据分析模块连接，测试数据分析模块还与测试报告生成终端连接。

所述触摸屏测试预备模块，用于以目标测试触摸屏任意一端点为坐标原点，构建目标测试触摸参考坐标系。

所述测试模式设定模块，用于设置各测试模式，包括A类测试模式、B类测试模式和C类测试模式。

在一个具体实施例中，A类测试模式以多点测试模式为例，B类测试模式以单指滑动测试模式为例，C类测试模式以多指测试模式为例，多指滑动包括但不限于缩放和旋转。

本发明实施例通过设置各测试模式，规避了静态化和单一化测试存在的不足，实现了目标测试触摸屏的多维度动态化测试，进而为目标测试触摸屏在复杂手势操作下的性能表现的评估提供了辅助，同时也打破了当前触摸屏触摸性能测试存在的片面性，从而提升了目标测试触摸屏测试的覆盖面，进而确保了触摸性能测试结果的合理性、真实性和有效性。

所述测试场景设定模块，用于设置各体验测试场景，各体验测试场景分别为Ⅰ号场景、Ⅱ号场景和Ⅲ号场景，记录各体验测试场景的各设定测试数据。

在一个具体实施例中，Ⅰ号场景以触摸力度测试场景为例，Ⅱ号场景以触摸速度测试场景测试场景为例，Ⅲ号场景以触摸外部环境测试场景为例，其中，Ⅰ号场景对应的各设定测试数据为各设定测试触摸压力，Ⅱ号场景对应的各设定测试数据为各设定测试触摸速度，Ⅲ号场景对应的各设定测试数据为各设定测试光线亮度值。

本发明实施例通过结合用户的体验层面设置各体验测试场景，弥补了当前对用户触摸差异性考虑不足的欠缺，直观的展示了目标测试触摸屏在不同体验测试场景下以及不同触发方式下的响应状态，确保了目标测试触摸屏面对不同用户触摸时触摸反应的稳定度和精准度，进而还提高了目标测试触摸屏触摸性能测试结果的参考性。

所述测试数据采集模块，用于设置测试类目，包括单项测试和融合测试，进而进行触摸性能测试，并记录各测试类目的触摸性能测试数据。

需要说明的是，单项测试指进行各测试模式下的测试，所述融合测试指进行各测试模式和各体验测试场景的组合性测试。

在一个具体实施例中，单项测试时各体验测试场景按照目标测试触摸屏设定的响应触摸速度、触摸压力和外部光线亮度进行各测试模式下的测试。

所述测试数据分析模块，用于分析各测试类目的触摸性能测试数据，得到目标测试触摸屏的触摸性能测试分析结果。

示例性地，分析各测试类目的触摸性能测试数据，包括：S1、从单项测试的触摸性能测试数据中筛选出各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据，分析单项测试下各测试模式的触摸性能达标度。

可理解地，分析单项测试下各测试模式的触摸性能达标度，包括：S1-1、从各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出A类测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据，通过A类精准度评估模型评估得到各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度，/>表示测试次序编号，/>。

进一步地，A类精准度评估模型的具体评估过程为：R1、从A类测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中提取各A类测试点的实际位置坐标、检测位置坐标、触摸时间点、触摸响应时间点和触摸画面显示时间点。

R2、通过两点之间的距离公式计算得到各次测试时各A类测试点的检测位置偏差距离，/>表示A类测试点编号，/>。

在一个具体实施例中，检测位置偏差距离指检测位置坐标和实际位置坐标之间的距离。

R3、将触摸响应时间点与触摸时间点之间的间隔时长记为触摸响应间隔时长，将触摸画面显示时间点与触摸响应时间点之间的间隔时长记为触摸显示间隔时长。

R4、将各次测试时各A类测试点的触摸响应间隔时长和触摸显示间隔时长分别记为和/>。

R5、将、/>、/>导入A类精准度评估模型/>中，得到各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度/>，/>为目标测试触摸屏固有检测偏差距离，/>为目标测试触摸屏固有触摸响应间隔时长，/>为目标测试触摸屏固有显示间隔时长，/>为A类测试点数，/>表示向下取整符号。

S1-2、将各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度与设定触摸反应精准度进行作差，将差值记为触摸反应精度差。

S1-3、若某次测试时A类测试模式的触摸反应精度差小于0且该次测试之前测试次序对应A类测试模式的触摸反应精度差大于或者等于0，同时该次测试之后测试次序对应A类测试模式的触摸反应精度差小于0，则将该次测试的所处测试次序作为目标测试次序，提取目标测试次序之前的测试次数。

S1-4、将目标测试次序时A类测试模式的触摸反应精准度与的差值记为/>。

S1-5、将目标测试次序次之前各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度进行均值计算，得到平均符合触摸反应精准度。

S1-6、统计单项测试下A类测试模式的触摸性能达标度，/>，表示测试次数，/>表示参照触摸反应精准度偏差。

从各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出B类测试模式和C类测试模式的触摸性能测试数据，统计各次测试时B类测试模式和C类测试模式的触摸反应精准度，进而按照的统计方式同理统计得到单项测试类目B类测试模式和C类的触摸性能达标度。

在一个具体实施例中，单指滑动测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据包括但不限于各单指滑动距离对应的滑动时间点、滑动响应时间点和滑动画面显示时间点，多指滑动测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据包括但不限于各次测试时各多指滑动距离对应的滑动时间点、滑动响应时间点和滑动画面显示时间点。

在另一个具体实施例中，统计各次测试时B类测试模式和C类测试模式的触摸反应精准度的具体统计过程为：将各次测试时各单指滑动距离对应的滑动时间点、滑动响应时间点和滑动画面显示时间点分别记为、/>和/>，/>为单指滑动距离编号，，统计各次测试时B类测试模式触摸反应精准度/>，

，/>为单指滑动距离数目，/>分别为目标测试触摸屏单指滑动对应的固有触摸响应间隔时长、固有显示间隔时长。

按照各次测试时B类测试模式触摸反应精准度的统计方式同理统计得到各次测试时C类测试模式触摸反应精准度/>。

S2、从融合测试的触摸性能测试数据中筛选出各体验测试场景对应各测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据，分析各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度。

可理解地，分析各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度，包括：Q1、从各体验测试场景对应各测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据。

Q2、通过触摸反应限制评估规则评估得到Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据和触摸限制测试次数。

进一步地，触摸反应限制评估规则的具体评估过程包括：将Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据与设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸性能测试指标进行对比。

若Ⅰ号场景对应A类测试模式在某设定测试数据下某次测试时的测试数据不符合其设定触摸性能测试指标，将该设定测试数据作为触摸限制设定数据，将该次测试之前的测试次数作为该触摸设定数据下的触摸限制测试次数，由此得到Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据。

从各触摸限制设定数据下的触摸限制测试次数中筛选出最大值，作为Ⅰ号场景对应A类测试模式下的触摸限制测试次数。

Q3、从Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据中筛选出最大触摸限制设定数据和最小触摸限制设定数据/>。

Q4、设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，统计Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸性能达标度/>，/>，为目标测试触摸屏在Ⅰ号场景下对应A类测试模式的固有最大触摸限制设定数据、固有最小触摸限制设定数据。

在一个具体实施例中，触摸限制测试次数用以考量目标测试触摸屏的耐久性，触摸限制设定数据用以考量目标测试触摸屏的灵敏性。

进一步地，设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，包括：Q4-1、按照的统计方式统计得到Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸反应精准度。

Q4-2、以测试次序为横坐标，以触摸反应精准度为纵坐标，构建各设定测试数据下的触摸反应精准度变化曲线，从所述变化曲线中分别进行斜率和波动点数目提取，分别作为精准衰减率和波动次数，并分别记为和/>，/>表示设定测试数据编号，/>，统计各设定测试数据下的触摸反应稳定度/>，/>，/>、分别为设定的第/>个设定测试数据下参照精准衰减率、参照波动次数，/>、/>分别为设定参照精准衰减率偏差、波动次数差。

Q4-3、设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，

，/>分别为设定参照的触摸反应稳定度、触摸反应稳定度偏差。

Q5、按照的统计方式同理统计得到Ⅰ号场景对应B类测试模式和C类测试模式的触摸性能达标度，以此得到Ⅰ号场景对应各测试模式的触摸性能达标度，进而按照此分析方式依次分析得到Ⅱ号场景和Ⅲ号场景对应各测试模式的触摸性能达标度。

S3、根据S1步骤和S2步骤的分析结果统计各测试模式的综合触摸性能达标度，分别记为、/>和/>。

可理解地，统计各测试模式的综合触摸性能达标度，包括：S3-1、从单项测试下各测试模式的触摸性能达标度中筛选出单项测试下A类测试模式的触摸性能达标度。

S3-2、从各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度中筛选出Ⅰ号场景、Ⅱ号场景和Ⅲ号场景对应A类测试模式的触摸性能达标度，分别记为、/>和/>。

S3-3、将触摸性能达标度大于或者等于设定参照临界触摸性能达标度的测试场景记为适应场景，统计A类测试模式的适应场景数目/>，同时将/>、/>和/>分别与/>进行作差，将差值分别记为/>、/>和/>。

S3-4、统计A类测试模式的综合触摸性能达标度，

，/>为设定参照单项测试触摸性能达标度，/>分别为设定的参照的Ⅰ号场景、Ⅱ号场景、Ⅲ号场景对应的适宜触摸性能达标超出值。

S3-5、按照的统计方式同理统计得到B类测试模式的综合触摸性能达标度/>和C类测试模式的综合触摸性能达标度/>。

S4、将、/>和/>导入测试评估模型中，输出目标测试触摸屏的触摸性能达标度。

可理解地，测试评估模型的具体表示公式为：，、/>和/>分别为设定参照的A类测试模式、B类测试模式和C类测试模式的综合触摸性能达标度。

S5、将S1步骤、S2步骤、S3步骤和S4步骤的分析结果整合得到目标测试触摸屏的触摸性能测试分析结果。

本发明实施例在进行触摸性能测试数据分析时，通过对不同测试模式在不同各体验测试场景下对应不同设定测试数据的多次重复性测试数据进行触摸响应精准度的规律性分析，实现了目标测试触摸屏多要素和精细化分析，从而提升了目标测试触摸屏触摸性能分析结果的有效性、真实性和准确性，减少了目标测试触摸屏触摸性能测试结果偶然性，便于更全面、真实、准确和可靠地评估目标测试触摸屏的性能以及及时发现目标测试触摸屏存在的问题和缺陷，并为目标测试触摸屏运维管理人员提供改进方向和建议。

测试报告生成终端，用于生成目标测试触摸屏的触摸性能测试报告，并进行反馈。

本发明实施例通过设定各测试模式和各体验测试场景，并根据各测试模式和各体验测试场景进行单项化触摸性能测试和融合化触摸性能测试，有效解决了当前测试环境较为单一和常规的问题，充分结合了触摸屏的实际使用场景和用户的触摸差异，实现了不同使用场景下的交错性和关联性测试，尽可能的减少了测试结果的误差，同时加强了目标测试触摸屏测试结果的代表性，进而确保了目标测试触摸屏后续使用的稳定性和灵敏性，并且还进一步提升了用户的使用体验。

以上内容仅仅是对本发明的构思所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离发明的构思或者超越本发明所定义的范围，均应属于本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：该系统包括：

触摸屏测试预备模块，用于以目标测试触摸屏任意一端点为坐标原点，构建目标测试触摸参考坐标系；

测试模式设定模块，用于设置各测试模式，包括A类测试模式、B类测试模式和C类测试模式；

测试场景设定模块，用于设置各体验测试场景，各体验测试场景分别为Ⅰ号场景、Ⅱ号场景和Ⅲ号场景，记录各体验测试场景的各设定测试数据；

测试数据采集模块，用于设置测试类目，包括单项测试和融合测试，进而进行触摸性能测试，并记录各测试类目的触摸性能测试数据；

测试数据分析模块，用于分析各测试类目的触摸性能测试数据，得到目标测试触摸屏的触摸性能测试分析结果；

测试报告生成终端，用于生成目标测试触摸屏的触摸性能测试报告，并进行反馈。

2.如权利要求1所述的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：所述分析各测试类目的触摸性能测试数据，包括：

S1、从单项测试的触摸性能测试数据中筛选出各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据，分析单项测试下各测试模式的触摸性能达标度；

S2、从融合测试的触摸性能测试数据中筛选出各体验测试场景对应各测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据，分析各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度；

S3、根据S1步骤和S2步骤的分析结果统计各测试模式的综合触摸性能达标度，分别记为、/>和/>；

S4、将、/>和/>导入测试评估模型中，输出目标测试触摸屏的触摸性能达标度/>；

S5、将S1步骤、S2步骤、S3步骤和S4步骤的分析结果整合得到目标测试触摸屏的触摸性能测试分析结果。

3.如权利要求2所述的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：所述分析单项测试下各测试模式的触摸性能达标度，包括：

从各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出A类测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据，通过A类精准度评估模型评估得到各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度，/>表示测试次序编号，/>；

将各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度与设定触摸反应精准度进行作差，将差值记为触摸反应精度差；

若某次测试时A类测试模式的触摸反应精度差小于0且该次测试之前测试次序对应A类测试模式的触摸反应精度差大于或者等于0，同时该次测试之后测试次序对应A类测试模式的触摸反应精度差小于0，则将该次测试的所处测试次序作为目标测试次序，提取目标测试次序之前的测试次数；

将目标测试次序时A类测试模式的触摸反应精准度与的差值记为/>；

将目标测试次序次之前各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度进行均值计算，得到平均符合触摸反应精准度；

统计单项测试下A类测试模式的触摸性能达标度，/>，/>表示测试次数，/>表示参照触摸反应精准度偏差；

从各测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出B类测试模式和C类测试模式的触摸性能测试数据，统计各次测试时B类测试模式和C类测试模式的触摸反应精准度，进而按照的统计方式同理统计得到单项测试类目B类测试模式和C类的触摸性能达标度。

4.如权利要求3所述的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：所述A类精准度评估模型的具体评估过程为：

从A类测试模式在各次测试时的触摸性能测试数据中提取各A类测试点的实际位置坐标、检测位置坐标、触摸时间点、触摸响应时间点和触摸画面显示时间点；

通过两点之间的距离公式计算得到各次测试时各A类测试点的检测位置偏差距离，/>表示A类测试点编号，/>；

将触摸响应时间点与触摸时间点之间的间隔时长记为触摸响应间隔时长，将触摸画面显示时间点与触摸响应时间点之间的间隔时长记为触摸显示间隔时长；

将各次测试时各A类测试点的触摸响应间隔时长和触摸显示间隔时长分别记为和/>；

将、/>、/>导入A类精准度评估模型/>中，得到各次测试时A类测试模式的触摸反应精准度/>，/>为目标测试触摸屏固有检测偏差距离，/>为目标测试触摸屏固有触摸响应间隔时长，/>为目标测试触摸屏固有显示间隔时长，/>为A类测试点数，/>表示向下取整符号。

5.如权利要求3所述的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：所述分析各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度，包括：

从各体验测试场景对应各测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据中筛选出Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据；

通过触摸反应限制评估规则评估得到Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据和触摸限制测试次数；

从Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据中筛选出最大触摸限制设定数据和最小触摸限制设定数据/>；

设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，统计Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸性能达标度/>，/>，/>为目标测试触摸屏在Ⅰ号场景下对应A类测试模式的固有最大触摸限制设定数据、固有最小触摸限制设定数据；

按照的统计方式同理统计得到Ⅰ号场景对应B类测试模式和C类测试模式的触摸性能达标度，以此得到Ⅰ号场景对应各测试模式的触摸性能达标度，进而按照此分析方式依次分析得到Ⅱ号场景和Ⅲ号场景对应各测试模式的触摸性能达标度。

6.如权利要求5所述的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：所述触摸反应限制评估规则的具体评估过程包括：

将Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸性能测试数据与设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸性能测试指标进行对比；

若Ⅰ号场景对应A类测试模式在某设定测试数据下某次测试时的测试数据不符合其设定触摸性能测试指标，将该设定测试数据作为触摸限制设定数据，将该次测试之前的测试次数作为该触摸设定数据下的触摸限制测试次数，由此得到Ⅰ号场景对应A类测试模式的各触摸限制设定数据；

从各触摸限制设定数据下的触摸限制测试次数中筛选出最大值，作为Ⅰ号场景对应A类测试模式下的触摸限制测试次数。

7.如权利要求5所述的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：所述设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，包括：

按照的统计方式统计得到Ⅰ号场景对应A类测试模式在各设定测试数据下各次测试时的触摸反应精准度；

构建各设定测试数据下的触摸反应精准度变化曲线，从所述变化曲线中分别进行斜率和波动点数目提取，分别作为精准衰减率和波动次数，并分别记为和/>，/>表示设定测试数据编号，/>，统计各设定测试数据下的触摸反应稳定度/>；

设定Ⅰ号场景对应A类测试模式的触摸评估干扰因子，

，/>分别为设定参照的触摸反应稳定度、触摸反应稳定度偏差。

8.如权利要求5所述的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：所述统计各测试模式的综合触摸性能达标度，包括：

从单项测试下各测试模式的触摸性能达标度中筛选出单项测试下A类测试模式的触摸性能达标度；

从各体验测试场景对应各测试模式的触摸性能达标度中筛选出Ⅰ号场景、Ⅱ号场景和Ⅲ号场景对应A类测试模式的触摸性能达标度，分别记为、/>和/>；

将触摸性能达标度大于或者等于设定参照临界触摸性能达标度的测试场景记为适应场景，统计A类测试模式的适应场景数目/>，同时将/>、/>和/>分别与/>进行作差，将差值分别记为/>、/>和/>；

统计A类测试模式的综合触摸性能达标度，/>，为设定参照单项测试触摸性能达标度，/>分别为设定的参照的Ⅰ号场景、Ⅱ号场景、Ⅲ号场景对应的适宜触摸性能达标超出值；

按照的统计方式同理统计得到B类测试模式的综合触摸性能达标度/>和C类测试模式的综合触摸性能达标度/>。

9.如权利要求2所述的一种中大尺寸触摸屏触摸性能智能测试系统，其特征在于：所述测试评估模型的具体表示公式为：，/>、和/>分别为设定参照的A类测试模式、B类测试模式和C类测试模式的综合触摸性能达标度。