CN103870371A - 触摸屏平滑度的测试方法以及测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了触摸屏平滑度的测试方法，用于准确计算触摸屏的光标抖动量，并可以根据光标抖动量来得到触摸屏平滑度的测试结果，避免主观评估判断的主观因素影响，使得测试结果准确可靠。本发明实施例方法包括：在触摸屏上画一条连续的线条；通过光电技术获取线条的轨迹信息；获取触摸屏响应线条时产生的光标信息；计算出对应的第一坐标信息与对应的第二坐标信息的坐标距离；计算出坐标距离的标准方差，并将标准方差作为触摸屏的光标抖动量；判断光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。本发明实施例还提供触摸屏平滑度的测试装置。

Description

触摸屏平滑度的测试方法以及测试装置

技术领域

本发明涉及触摸屏领域，尤其涉及触摸屏平滑度的测试方法以及测试装置。

背景技术

触摸屏技术越来越多地应用于计算机、移动终端及各种手持设备中。它是目前最简单、方便、自然的一种人机交互方式。用户只需轻轻触摸图符或文字，就能实现对设备的操作。

在触摸屏的使用中，平滑度是评估触摸屏好坏的重要的指标。在触摸屏上写字和画线的效果好坏主要取决于平滑度，直接影响到触摸屏的使用效果及客户体验。平滑度指用户在触摸屏上画线时线条的平整和流畅性。目前测试触摸屏平滑度的方法主要是通过有经验的测试人员主观评估判定，通过在屏幕上画线，观察其画线时光标抖动量来判定该触摸屏的平滑度是否合格。

然而，主观评估判定的方法无法做到准确地测量光标抖动量，存在主观因素的影响，得到的平滑度测试结果并不准确可靠。

发明内容

本发明实施例提供了触摸屏平滑度的测试方法以及测试装置，能够准确计算触摸屏的光标抖动量，并可以根据所述光标抖动量来得到触摸屏平滑度的测试结果，避免主观评估判断的主观因素影响，使得测试结果准确可靠。

本发明实施例提供的一种触摸屏平滑度的测试方法，包括：

在触摸屏上画一条连续的线条；

通过光电技术获取所述线条的轨迹信息，所述轨迹信息包括所述线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；

获取所述触摸屏响应画线时产生的光标信息，所述光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识；

当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，计算出对应的所述第一坐标信息与对应的所述第二坐标信息的坐标距离；

计算出所述坐标距离的标准方差，并将所述标准方差作为所述触摸屏的光标抖动量；

判断所述光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。

可选地，所述计算出对应的所述第一坐标信息与对应的所述第二坐标信息的坐标距离具体包括：

获取对应的所述第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt；

获取对应的所述第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt；

将所述Xt、Yt、At、Bt代入坐标距离计算公式计算得到坐标距离。

可选地，所述计算出所述坐标距离的标准方差具体包括：

计算出N个所述坐标距离的平均值，N为所述光标信息的个数；

将所述N、N个所述坐标距离以及所述平均值代入标准方差公式计算得到标准方差。

可选地，所述方法还包括：

通过显示设备将所述光标抖动量以及测试结果显示出来，所述测试结果为触摸屏平滑度合格或者触摸屏平滑度不合格。

本发明实施例提供的一种触摸屏平滑度的测试装置，包括：

触摸笔，用于在触摸屏上画一条连续的线条；

光电传感器，用于捕捉所述触摸笔的移动轨迹，并将产生的轨迹信息发送给轨迹获取模块，所述轨迹信息包括所述线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；

所述轨迹获取模块，用于获取来自所述光电传感器的所述轨迹信息；

光标获取模块，用于获取所述触摸屏响应画线时产生的光标信息，所述光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识；

坐标距离计算模块，用于从所述轨迹获取模块和光标获取模块中获取到所述轨迹信息以及光标信息，并当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，计算出对应的所述第一坐标信息与对应的所述第二坐标信息的坐标距离；

抖动量计算模块，用于从所述坐标距离计算模块中获取所述坐标距离，并计算出所述坐标距离的标准方差，将所述标准方差作为所述触摸屏的光标抖动量；

平滑度评估模块，用于从所述抖动量计算模块中获取所述光标抖动量，并判断所述光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。

可选地，所述坐标距离计算模块具体包括：

第一获取单元，用于当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，获取对应的所述第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt；

第二获取单元，用于当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，获取对应的所述第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt；

距离计算单元，用于将所述Xt、Yt、At、Bt代入坐标距离计算公式计算得到坐标距离。

可选地，所述抖动量计算模块具体包括：

平均值计算单元，用于从所述坐标距离计算模块中获取N个所述坐标距离，并计算出N个所述坐标距离的平均值，N为所述光标信息的个数；

方差计算单元，用于将所述N、N个所述坐标距离以及所述平均值代入标准方差公式计算得到标准方差，并将所述标准方差作为所述触摸屏的光标抖动量。

可选地，所述触摸屏平滑度的测试装置还包括：

显示设备，用于将所述光标抖动量以及测试结果显示出来，所述测试结果为触摸屏平滑度合格或者触摸屏平滑度不合格。

本发明实施例提供的一种光标抖动量计算方法，包括：

获取测试坐标的坐标信息以及时间点；

获取参考坐标的坐标信息以及时间点；

计算所述测试坐标的坐标信息和所述参考坐标的坐标信息之间的坐标距离，所述参考坐标的时间点与所述测试坐标的时间点相同；

将所有所述测试坐标的时间点上计算得出的所述坐标距离组成一个坐标距离集；

计算所述坐标距离集的标准方差，将所述标准方差作为所述测试坐标的光标抖动量。

可选地，计算所述坐标距离集的标准方差具体包括：

计算所述坐标距离集中坐标距离的平均值；

将所述平均值、所述坐标距离集以及所述坐标距离集的元素个数代入标准方差公式计算得到标准方差。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：

本发明实施例中，首先在触摸屏上画一条连续的线条；然后通过光电技术获取所述线条的轨迹信息，所述轨迹信息包括所述线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；并且，获取所述触摸屏响应画线时产生的光标信息，所述光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识；当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，计算对应的所述第一坐标信息与对应的所述第二坐标信息的坐标距离；接着，计算所述坐标距离的标准方差，并将所述标准方差作为所述触摸屏的光标抖动量；最后，判断所述光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。在本发明实施例中，可以准确计算出触摸屏的光标抖动量，并可以根据所述光标抖动量来得到触摸屏平滑度的测试结果，避免了主观评估判断的主观因素影响，使得测试结果准确可靠。

附图说明

图1为本发明实施例中触摸屏平滑度的测试方法一个实施例流程图；

图2为本发明实施例中触摸屏平滑度的测试方法另一个实施例流程图；

图3为本发明实施例中触摸屏平滑度的测试装置一个实施例结构图；

图4为本发明实施例中触摸屏平滑度的测试装置另一个实施例结构图；

图5为本发明实施例中光标抖动量计算方法一个实施例流程图。

具体实施方式

本发明实施例提供了触摸屏平滑度的测试方法以及测试装置，用于准确计算触摸屏的光标抖动量，并可以根据所述光标抖动量来得到触摸屏平滑度的测试结果，避免主观评估判断的主观因素影响，使得测试结果准确可靠。

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明实施例中触摸屏平滑度的测试方法一个实施例包括：

101、在触摸屏上画一条连续的线条；

当开始测试时，测试装置可以在触摸屏上画一条连续的线条。

102、通过光电技术获取该线条的轨迹信息；

画好一条连续的线条以后，测试装置可以通过光电技术获取该线条的轨迹信息，该轨迹信息包括该线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识。需要说明的是，光电技术为公知常识，此处不再赘述。

103、获取该触摸屏响应画线时产生的光标信息；

画好一条连续的线条以后，测试装置还可以获取该触摸屏响应画线时产生的光标信息，该光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识。需要说明的是，本实施例中步骤102和步骤103的执行顺序可以互换。

104、当该第一时间标识等于该第二时间标识时，计算出对应的该第一坐标信息与对应的该第二坐标信息的坐标距离；

测试装置在获取到该轨迹信息和光标信息之后，当该第一时间标识等于该第二时间标识时，计算出对应的该第一坐标信息与对应的该第二坐标信息的坐标距离。可以理解的是，由于该第一坐标信息与第一时间标识一一对应，该第二坐标信息与第二时间标识一一对应，因此第一时间标识等于第二时间标识时，说明该第一坐标信息与该第二坐标信息是在同一个时刻被记录下来的。可以认为该第一坐标信息为该线条轨迹上的一个点，而该第二坐标信息则是触摸屏响应这个点产生的光标的坐标。

105、计算出该坐标距离的标准方差，并将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量；

测量装置在计算出该坐标距离后，可以计算出该坐标距离的标准方差，并将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量。可以理解的是，测量装置在计算出该坐标距离后，可以获取到所有该第二时间标识对应的光标信息与该轨迹信息之间的坐标距离，假设该第二时间标识共N个，则可以获取到N个该坐标距离，然后计算出N个该坐标距离的标准方差。

106、判断该光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则执行步骤107，若否，则执行步骤108；

在获得该触摸屏的光标抖动量之后，判断该光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则执行步骤107，若否，则执行步骤108。

107、触摸屏平滑度合格；

当该光标抖动量在预设的容错范围内时，可以认为该光标抖动量是合理的，触摸屏平滑度合格。

108、触摸屏平滑度不合格。

当该光标抖动量不在预设的容错范围内时，可以认为该光标抖动量是不合理的，触摸屏平滑度不合格。

本实施例中，前面所说的触摸屏平滑度的测试方法步骤为：首先在触摸屏上画一条连续的线条；然后通过光电技术获取该线条的轨迹信息，该轨迹信息包括该线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；并且，获取该触摸屏响应画线时产生的光标信息，该光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识；当该第一时间标识等于该第二时间标识时，计算对应的该第一坐标信息与对应的该第二坐标信息的坐标距离；接着，计算该坐标距离的标准方差，并将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量；最后，判断该光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。在本实施例中，可以准确计算出触摸屏的光标抖动量，并可以根据该光标抖动量来得到触摸屏平滑度的测试结果，避免了主观评估判断的主观因素影响，使得测试结果准确可靠。

为便于理解，下面对本发明实施例中的触摸屏平滑度的测试方法进行详细描述，请参阅图2，本发明实施例中触摸屏平滑度的测试方法另一个实施例包括：

201、在触摸屏上画一条连续的线条；

当开始测试时，测试装置可以在触摸屏上画一条连续的线条。

202、通过光电技术获取该线条的轨迹信息；

画好一条连续的线条以后，测试装置可以通过光电技术获取该线条的轨迹信息，该轨迹信息包括该线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识。

需要说明的是，一般光电技术的检测精度可以轻易达到0.06mm，而一般触摸屏的扫描频率只有5ms，检测精度只有2mm，光电技术的检测精度是触摸屏的33倍，因此可以选择使用光电技术获取该线条的轨迹信息，进而在本实施例的后续步骤中该轨迹信息可以作为参考坐标来计算触摸屏的光标抖动量。

需要说明的是，该第一时间标识与该第一坐标信息一一对应，可以认为第一时间标识记录了第一坐标信息的产生时间。可以理解的是，第一坐标信息记录了该线条的轨迹运行到某点上的坐标，而第一时间标识则是该线条的轨迹运行到该点的时间。

203、获取该触摸屏响应画线时产生的光标信息；

画好一条连续的线条以后，测试装置还可以获取该触摸屏响应画线时产生的光标信息，该光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识。需要说明的是，本实施例中步骤202和步骤203的执行顺序可以互换。

该第二坐标信息和第二时间标识的关系与步骤202中第一坐标信息和第一时间标识的关系类似，此处不再赘述。

204、当该第一时间标识等于该第二时间标识时，获取对应的该第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt；

当该第一时间标识等于该第二时间标识时，获取对应的该第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt。可以理解的是，当该第一时间标识等于该第二时间标识时即表示对应的第一坐标信息与对应的第二坐标信息在同一时刻，因此获取在同一时刻的该第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt，在步骤205中则获取在同一时刻的该第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt

205、当该第一时间标识等于该第二时间标识时，获取对应的该第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt；

当该第一时间标识等于该第二时间标识时，获取对应的该第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt。可以理解的是，当该第一时间标识等于该第二时间标识时即表示对应的第一坐标信息与对应的第二坐标信息在同一时刻，因此获取在同一时刻的该第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt，在步骤204中则获取在同一时刻的该第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt

206、将该Xt、Yt、At、Bt代入坐标距离计算公式计算得到坐标距离；

在获取到该Xt、Yt和对应同一时刻的At、Bt之后，将该Xt、Yt、At、Bt代入坐标距离计算公式计算得到坐标距离。

需要说明的是，在t时刻，轨迹信息的第一坐标信息为（Xt，Yt），而光标信息的第二坐标信息为（At，Bt），则t时刻这两点的坐标距离 $\mathrm{Pt}=\sqrt{{|\mathrm{Xt}-\mathrm{At}|}^2+{|\mathrm{Yt}-\mathrm{Bt}|}^2}.$

可以理解的是，可以将轨迹信息的第一坐标信息为（Xt，Yt）看做参考坐标，而光标信息的第二坐标信息为（At，Bt）则表示了触摸屏的响应坐标，Pt反应了响应坐标与参考坐标之间的偏差，也即该坐标点的抖动距离。

207、计算出N个该坐标距离的平均值；

测试装置获得N个该坐标距离之后，可以计算出N个该坐标距离的平均值，N为该光标信息的个数。可以理解的是，N为该光标信息的个数，则第二坐标信息可以为N个，第二时间标识也为N个。一般来说该轨迹信息的个数会远远多于该光标信息的个数，假设轨迹信息的个数为M，则M可能远远大于N。

208、将该N、N个该坐标距离以及该平均值代入标准方差公式计算得到标准方差，并将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量；

测试装置在计算得出该平均值之后，可以将该N、N个该坐标距离以及该平均值代入标准方差公式计算得到标准方差，并将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量。

需要说明的是，假设N个该坐标距离表示为Hn，该平均值表示为

该标准方差公式为

则触摸屏的光标抖动量

209、判断该光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则执行步骤210，若否，则执行步骤211；

在获得该触摸屏的光标抖动量之后，判断该光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则执行步骤210，若否，则执行步骤211。可以理解的是，该预设的容错范围可以根据实际情况进行设定。

210、触摸屏平滑度合格；

当该光标抖动量在预设的容错范围内时，可以认为该光标抖动量是合理的，触摸屏平滑度合格。

211、触摸屏平滑度不合格；

当该光标抖动量不在预设的容错范围内时，可以认为该光标抖动量是不合理的，触摸屏平滑度不合格。

212、通过显示设备将该光标抖动量以及测试结果显示出来。

测试装置获取到该光标抖动量以及测试结果以后，可以通过显示设备将该光标抖动量以及测试结果显示出来，该测试结果为触摸屏平滑度合格或者触摸屏平滑度不合格。

为便于理解，根据图2所描述的实施例，下面以一个实际应用场景对本发明实施例中触摸屏平滑度的测试方法进行描述：

使用测试装置测试触摸屏平滑度的步骤可以为：

A：先在测试装置上输入本次测试光标抖动量的容错范围；

B：测试装置在触摸屏上画一条连续的线条；

C：测试装置得出自身画出该线条时的轨迹信息；

D：测试装置从触摸屏中获取到响应该线条所产生的光标信息；

E：从轨迹信息中提取出t时刻的坐标信息（Xt，Yt）；

F：从光标信息中提取出t时刻的坐标信息（At，Bt）；

G：根据（Xt，Yt）和（At，Bt）计算出t时刻的坐标距离Ht；

H：将n个时刻的坐标距离Hn均计算出来后，计算Hn的平均值

I：根据n、Hn和

代入标准方差公式计算得到标准方差，该标准方差即为触摸屏的光标抖动量；

J：判断该光标抖动量是否在容错范围内，若是，则测试结果为触摸屏平滑度合格，若否，则测试结果为触摸屏平滑度不合格；

K：通过显示设备将该光标抖动量以及测试结果显示出来。

上面主要对触摸屏平滑度的测试方法进行描述，下面将对触摸屏平滑度的测试装置进行详细描述，请参阅图3，本发明实施例中触摸屏平滑度的测试装置一个实施例为：

触摸笔301，用于在触摸屏上画一条连续的线条；

光电传感器302，用于捕捉该触摸笔301的移动轨迹，并将产生的轨迹信息发送给轨迹获取模块303，该轨迹信息包括该线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；

该轨迹获取模块303，用于获取来自该光电传感器302的该轨迹信息；

光标获取模块304，用于获取该触摸屏响应画线时产生的光标信息，该光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识；

坐标距离计算模块305，用于从该轨迹获取模块303和光标获取模块304中获取到该轨迹信息以及光标信息，并当该第一时间标识等于该第二时间标识时，计算出对应的该第一坐标信息与对应的该第二坐标信息的坐标距离；

抖动量计算模块306，用于从该坐标距离计算模块305中获取该坐标距离，并计算出该坐标距离的标准方差，将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量；

平滑度评估模块307，用于从该抖动量计算模块306中获取该光标抖动量，并判断该光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。

本实施例中，触摸笔301在触摸屏上画一条连续的线条；然后光电传感器302捕捉该触摸笔301的移动轨迹，并将产生的轨迹信息发送给轨迹获取模块303，该轨迹信息包括该线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；接着该轨迹获取模块303获取来自该光电传感器302的该轨迹信息；而光标获取模块304获取该触摸屏响应画线时产生的光标信息，该光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识。坐标距离计算模块305从该轨迹获取模块303和光标获取模块304中获取到该轨迹信息以及光标信息，并当该第一时间标识等于该第二时间标识时，计算出对应的该第一坐标信息与对应的该第二坐标信息的坐标距离；然后抖动量计算模块306从该坐标距离计算模块305中获取该坐标距离，并计算出该坐标距离的标准方差，将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量；最后，平滑度评估模块307从该抖动量计算模块306中获取该光标抖动量，并判断该光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。在本实施例中，可以准确计算出触摸屏的光标抖动量，并可以根据该光标抖动量来得到触摸屏平滑度的测试结果，避免了主观评估判断的主观因素影响，使得测试结果准确可靠。

为便于理解，下面对本发明实施例中的触摸屏平滑度的测试装置进行详细描述，请参阅图4，本发明实施例中触摸屏平滑度的测试装置另一个实施例包括：

触摸笔401，用于在触摸屏上画一条连续的线条；

光电传感器402，用于捕捉该触摸笔401的移动轨迹，并将产生的轨迹信息发送给轨迹获取模块403，该轨迹信息包括该线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；

该轨迹获取模块403，用于获取来自该光电传感器402的该轨迹信息；

光标获取模块404，用于获取该触摸屏响应画线时产生的光标信息，该光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识；

坐标距离计算模块405，用于从该轨迹获取模块403和光标获取模块404中获取到该轨迹信息以及光标信息，并当该第一时间标识等于该第二时间标识时，计算出对应的该第一坐标信息与对应的该第二坐标信息的坐标距离；

抖动量计算模块406，用于从该坐标距离计算模块405中获取该坐标距离，并计算出该坐标距离的标准方差，将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量；

平滑度评估模块407，用于从该抖动量计算模块406中获取该光标抖动量，并判断该光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。

本实施例中该坐标距离计算模块405具体包括：

第一获取单元4051，用于当该第一时间标识等于该第二时间标识时，获取对应的该第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt；

第二获取单元4052，用于当该第一时间标识等于该第二时间标识时，获取对应的该第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt；

距离计算单元4053，用于将该Xt、Yt、At、Bt代入坐标距离计算公式计算得到坐标距离。

本实施例中该抖动量计算模块406具体包括：

平均值计算单元4061，用于从该坐标距离计算模块405中获取N个该坐标距离，并计算出N个该坐标距离的平均值，N为该光标信息的个数；

方差计算单元4062，用于将该N、N个该坐标距离以及该平均值代入标准方差公式计算得到标准方差，并将该标准方差作为该触摸屏的光标抖动量。

本实施例中触摸屏平滑度的测试装置还可以包括：

显示设备408，用于将该光标抖动量以及测试结果显示出来，该测试结果为触摸屏平滑度合格或者触摸屏平滑度不合格。

需要说明的是，该光电传感器可以集成于该触摸笔中。一般应用光电技术并且集成了光电传感器的该触摸笔的cpi都可以达到400，扫描频率可以达到0.5ms，cpi意思是每英寸的采样率。cpi用来表示触摸笔的分辨率，当我们把触摸笔向左移动一英寸时，400cpi的触摸笔会向测量装置发出400次“左移”信号，而800cpi的触摸笔就发送800次。做个假设，我们把触摸笔移动1/800英寸，那么800cpi的触摸笔会向测量装置传送一次移动信号，而400cpi的触摸笔却没有反应，我们必须再移动1/800英寸它才会传送移动信号，所以400cpi的触摸笔的检测精度为：1英寸/400=25.4mm/400=0.0635，即每移动0.0635mm，触摸笔向测量装置发一次移动的指令，即光电技术的检测精度可达0.06mm，检测精度比触摸屏的2mm大33倍，扫描频率大10倍（5ms/0.5ms），所以用光电技术记录触摸笔移动轨迹是最接近触摸笔的物理移动轨迹。

上面主要对触摸屏平滑度的测试装置进行描述，下面将对一种光标抖动量计算方法进行详细描述，请参阅图5，本发明实施例中一种光标抖动量计算方法用于图1至图4所示的实施例中提及的光标抖动量的计算方法，其一个实施例为：

501、获取测试坐标的坐标信息以及时间点；

在计算光标抖动量之前，需要获取测试坐标的坐标信息以及时间点。可以理解的是，该测试坐标即为光标抖动量中光标的坐标，具体地，若计算触摸屏的光标抖动量，则测试坐标为触摸屏上的响应坐标；若计算鼠标的光标抖动量，则测试坐标为计算机上鼠标的移动光标。

502、获取参考坐标的坐标信息以及时间点；

在计算光标抖动量之前，需要获取参考坐标的坐标信息以及时间点。可以理解的是，该参考坐标即为实际移动轨迹的坐标，或者认为其是实际移动轨迹的坐标。

503、计算该测试坐标的坐标信息和该参考坐标的坐标信息之间的坐标距离；

在获取到测试坐标的坐标信息以及时间点，参考坐标的坐标信息以及时间点之后，可以计算该测试坐标的坐标信息和该参考坐标的坐标信息之间的坐标距离，该参考坐标的时间点与该测试坐标的时间点相同。

需要说明的是，假设时间点为t，该测试坐标的坐标信息为（At，Bt），而参考坐标的坐标信息为（Xt，Yt），那么t时间点上该坐标距离 $\mathrm{Pt}=\sqrt{{|\mathrm{Xt}-\mathrm{At}|}^2+{|\mathrm{Yt}-\mathrm{Bt}|}^2}.$

504、将所有该测试坐标的时间点上计算得出的该坐标距离组成一个坐标距离集；

在计算出所有时间点上的该坐标距离后，将这些坐标距离组成过一个坐标距离集。可以理解的是，若有n个时间点，则该坐标距离集有n个元素，每个元素为一个坐标距离。

505、计算该坐标距离集的标准方差，将该标准方差作为该测试坐标的光标抖动量。

获得该坐标距离集后，可以计算该坐标距离集的标准方差，将该标准方差作为该测试坐标的光标抖动量。

需要说明的是，步骤505具体可以先计算该坐标距离集中坐标距离的平均值；然后将该平均值、该坐标距离集以及该坐标距离集的元素个数代入标准方差公式计算得到标准方差，并将该标准方差作为该测试坐标的光标抖动量。

假设该平均值为

该坐标距离集为K={H1，H2，H3，......，Hn，......}，元素个数为n，则标准方差公式为

则光标抖动量

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-OnlyMemory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种触摸屏平滑度的测试方法，其特征在于，包括：

在触摸屏上画一条连续的线条；

通过光电技术获取所述线条的轨迹信息，所述轨迹信息包括所述线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；

获取所述触摸屏响应画线时产生的光标信息，所述光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识；

当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，计算出对应的所述第一坐标信息与对应的所述第二坐标信息的坐标距离；

计算出所述坐标距离的标准方差，并将所述标准方差作为所述触摸屏的光标抖动量；

判断所述光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算出对应的所述第一坐标信息与对应的所述第二坐标信息的坐标距离具体包括：

获取对应的所述第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt；

获取对应的所述第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt；

将所述Xt、Yt、At、Bt代入坐标距离计算公式计算得到坐标距离。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算出所述坐标距离的标准方差具体包括：

计算出N个所述坐标距离的平均值，N为所述光标信息的个数；

将所述N、N个所述坐标距离以及所述平均值代入标准方差公式计算得到标准方差。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过显示设备将所述光标抖动量以及测试结果显示出来，所述测试结果为触摸屏平滑度合格或者触摸屏平滑度不合格。

5.一种触摸屏平滑度的测试装置，其特征在于，包括：

触摸笔，用于在触摸屏上画一条连续的线条；

光电传感器，用于捕捉所述触摸笔的移动轨迹，并将产生的轨迹信息发送给轨迹获取模块，所述轨迹信息包括所述线条的第一坐标信息以及对应的第一时间标识；

所述轨迹获取模块，用于获取来自所述光电传感器的所述轨迹信息；

光标获取模块，用于获取所述触摸屏响应画线时产生的光标信息，所述光标信息包括第二坐标信息以及对应的第二时间标识；

坐标距离计算模块，用于从所述轨迹获取模块和光标获取模块中获取到所述轨迹信息以及光标信息，并当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，计算出对应的所述第一坐标信息与对应的所述第二坐标信息的坐标距离；

抖动量计算模块，用于从所述坐标距离计算模块中获取所述坐标距离，并计算出所述坐标距离的标准方差，将所述标准方差作为所述触摸屏的光标抖动量；

平滑度评估模块，用于从所述抖动量计算模块中获取所述光标抖动量，并判断所述光标抖动量是否在预设的容错范围内，若是，则触摸屏平滑度合格，若否，则触摸屏平滑度不合格。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述坐标距离计算模块具体包括：

第一获取单元，用于当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，获取对应的所述第一坐标信息的X轴坐标的坐标值Xt和Y轴坐标的坐标值Yt；

第二获取单元，用于当所述第一时间标识等于所述第二时间标识时，获取对应的所述第二坐标信息的X轴坐标的坐标值At和Y轴坐标的坐标值Bt；

距离计算单元，用于将所述Xt、Yt、At、Bt代入坐标距离计算公式计算得到坐标距离。

7.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述抖动量计算模块具体包括：

平均值计算单元，用于从所述坐标距离计算模块中获取N个所述坐标距离，并计算出N个所述坐标距离的平均值，N为所述光标信息的个数；

方差计算单元，用于将所述N、N个所述坐标距离以及所述平均值代入标准方差公式计算得到标准方差，并将所述标准方差作为所述触摸屏的光标抖动量。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述触摸屏平滑度的测试装置还包括：

显示设备，用于将所述光标抖动量以及测试结果显示出来，所述测试结果为触摸屏平滑度合格或者触摸屏平滑度不合格。

9.一种光标抖动量计算方法，其特征在于，包括：

获取测试坐标的坐标信息以及时间点；

获取参考坐标的坐标信息以及时间点；

计算所述测试坐标的坐标信息和所述参考坐标的坐标信息之间的坐标距离，所述参考坐标的时间点与所述测试坐标的时间点相同；

将所有所述测试坐标的时间点上计算得出的所述坐标距离组成一个坐标距离集；

计算所述坐标距离集的标准方差，将所述标准方差作为所述测试坐标的光标抖动量。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，计算所述坐标距离集的标准方差具体包括：

计算所述坐标距离集中坐标距离的平均值；

将所述平均值、所述坐标距离集以及所述坐标距离集的元素个数代入标准方差公式计算得到标准方差。

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