CN117223049A - 显示装置 - Google Patents

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上野雅史
守屋政明
盐原直树
川井雅史
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Abstract

显示装置具有：显示面板，其具有一组像素；控制部，其能够执行劣化监控和第一高速监控，所述劣化监控检测所述组像素的发光效率的降低，所述第一高速监控以比所述劣化监控高的速度执行，以判定是否应该进行所述劣化监控；以及存储部，其存储确定了执行所述劣化监控的允许范围的参考数据，如果由所述第一高速监控得到的第一高速监控测定值在所述允许范围内，则所述控制部执行所述劣化监控。

Description

显示装置
技术领域
本发明涉及显示装置。
背景技术
在专利文献1中，公开了具有包括驱动晶体管的电路元件的显示装置。在所述显示装置中，测定包含驱动晶体管的电路元件的电流电压特性，根据测定的结果得到的特性数据修正输入影像信号。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：国际公开第2017/104631号
发明内容
发明所要解决的课题
包含驱动晶体管的一组像素，根据所使用的环境，电流电压特性有时会发生变化。因此，在进行劣化补偿时，根据进行一组像素的电流电压测定的时机，有时不能得到正确的测定结果。根据专利文献1所公开的显示装置，无法判断是否是能够正确测定包含驱动晶体管的电路元件的电流电压特性的状态。根据本公开的一个方式所涉及的显示装置，在一组像素的发光效率暂时变化的状态下，抑制执行检测一组像素的发光效率降低的劣化监控。
用于解决课题的方案
本发明的一个方式所涉及的显示装置具有：显示面板，其具有一组像素；控制部，其能够执行劣化监控和第一高速监控，所述劣化监控检测所述组像素的发光效率的降低，所述第一高速监控以比所述劣化监控高的速度执行，以判定是否应该进行所述劣化监控；以及存储部，其存储确定了执行所述劣化监控的允许范围的参考数据。如果由所述第一高速监控得到的第一高速监控测定值在所述允许范围内，则所述控制部执行所述劣化监控。
附图说明
图1是表示实施方式所涉及的显示装置的概略结构的图。
图2是表示实施方式所涉及的像素电路、源极驱动器以及控制部的概略结构的图。
图3是表示实施方式所涉及的像素的电流电压特性的图。
图4是表示实施方式所涉及的像素的电流亮度特性的图。
图5是表示实施方式所涉及的、在灰阶电压的写入期间根据影像信号显示图像时的像素电路的动作的图。
图6是表示在劣化监控的执行时以及第一高速监控的执行时，测定在驱动晶体管的漏极端子以及源极端子间流动的电流时的像素电路的动作的图。
图7是表示在劣化监控的执行时以及第一高速监控的执行时，测定流过发光元件的电流时的像素电路的动作的图。
图8是表示实施方式所涉及的从第一高速监控到得到劣化补偿后的影像信号为止的控制部的处理的概略流程的图。
图9是表示实施方式所涉及的执行第一高速监控并取得第一高速监控电流值的处理的概略流程的图。
图10是表示实施方式所涉及的执行劣化监控并取得补偿电压值的处理的概略流程的图。
图11是表示实施方式的变形例1所涉及的控制部的处理的概略流程的图。
图12是表示实施方式的变形例2所涉及的显示装置的概略结构的图。
图13是表示实施方式的变形例2所涉及的控制部的处理的概略流程的图。
图14是表示实施方式的变形例3所涉及的控制部的处理的概略流程的图。
图15是表示实施方式的变形例4所涉及的显示装置的概略结构的图。
图16是表示实施方式的变形例5所涉及的显示装置的概略结构的图。
图17是表示实施方式的变形例5所涉及的控制部的处理的概略流程的图。
具体实施方式
〔实施方式〕
图1是表示实施方式所涉及的显示装置1的概略结构的图。显示装置1具备显示面板10、源极驱动器30、控制部40以及存储部50。显示面板10具有一组像素PX、栅极驱动器13、栅极线G1(1)～G1(N)、监控控制线G2(1)～G2(N)以及数据线S(1)～S(M)。一组像素PX呈矩阵状地设置在显示面板10中的图像的显示区域11。一组像素PX各自具有包括发光元件的像素电路20。
显示面板10例如通过一组像素Px自发光而在显示区域11上显示图像。作为显示面板10，例如可列举发光元件使用了OLED(Organic Light Emitting Diode：有机发光二极管)的有机EL(electro-luminescence：电致发光)显示面板、或者发光元件使用了QLED(Quantum dot Light Emitting Diode：有机发光二极管)的QLED显示面板。此外，显示面板10只要是具备发光元件的显示面板即可，并不限定于有机EL显示面板或QLED显示面板。
栅极线G1(1)～G1(N)和监控控制线G2(1)～G2(N)一一对应，分别大致平行地延伸设置。数据线S(1)～S(M)以与栅极线G1(1)～G1(N)以及监控控制线G2(1)～G(N)交叉的方式延伸地设置。各像素PX设置于数据线S(1)～S(M)及栅极线G1(1)～G1(N)、和数据线S(1)～S(M)交叉的部分。
栅极线G1(1)～G1(N)是从栅极驱动器13向一组像素PX分别输出用于按行选择一组像素PX的扫描信号的布线。监控控制线G2(1)～G2(N)是在执行劣化监控以及第一高速监控时，从栅极驱动器13向一组像素PX分别输出用于逐行选择一组像素PX的监控控制信号的布线。
另外，劣化监控是检测一组像素PX各自的发光效率的降低，并得到用于对一组像素PX各自的降低的发光效率进行劣化补偿的补偿电压值(劣化监控测定值)VC(参照图2)的处理。如后所述，由于补偿电压值VC在生成用于将输入影像信号VDb劣化补偿到影像信号VDa的补偿数据51(参照图2)时使用，所以要求以相对高精度检测一组像素PX各自的发光效率的变化(例如电流电压特性的变化)。因此，劣化监控的处理时间相对长于第一高速监控。
另外，例如，当显示装置1的使用环境的温度上升时，通过一组像素PX中流动的电流的量增加，电流电压特性变化。这样，在劣化监控的执行前或执行中，例如，当由于显示装置1的使用环境的温度变化等而一组像素PX各自的发光效率暂且大幅变化(例如，电流电压特性大幅变化)时，有时不能准确地得到补偿电压值VC。
另一方面，第一高速监控例如是在劣化监控之前进行的处理，以判断一组像素PX各自的发光效率是否暂时变化较大(例如，电流电压特性变化较大)，即显示装置1是否处于能够执行劣化监控的状态。因此，与劣化监控相比，第一高速监控更简单地检测一组像素PX各自的发光效率的变化(例如，电流电压特性的变化)。因此，第一高速监控检测一组像素PX各自发光效率的变化(例如，电流电压特性的变化)的速度比劣化监控更快。另外，劣化监控和第一高速监控的详细情况使用图8～图10等后述。
数据线S(1)～S(M)是用于为了显示图像，从源极驱动器30向一组像素PX分别传输与影像信号相应的灰阶信号的布线。另外，数据线S(1)～S(M)是在劣化监控的执行时传输作为针对一组像素PX的每一个的输入信号的劣化监控电压、或从一组像素PX分别将作为输出信号的劣化监控电流向源极驱动器30传输的布线。而且，数据线S(1)～S(M)也是在第一高速监控的执行时，传输作为针对一组像素PX的每一个的输入信号的规定电压、或将作为来自一组像素PX的每一个的输出信号的第一高速监控电流向源极驱动器30传输的布线。
另外，未必需要用同一布线进行影像信号的传输、劣化监控电压以及劣化监控电流的传输、以及第一高速监控电压以及第一高速监控电流的传输，也可以用各自不同的布线进行。
栅极驱动器13例如也可以设置在显示面板10所具有的基板上。或者，栅极驱动器13也可以设置在显示面板10所具有的基板的外部。栅极驱动器13与栅极线G1(1)～G1(N)以及监控控制线G2(1)～G2(N)的各自的一个端部连接。栅极驱动器13例如具有移位寄存器和逻辑电路等。栅极驱动器13基于从控制部40输出的栅极控制信号GCTL，驱动栅极线G1(1)～G1(N)以及监控控制线G2(1)～G2(N)。
源极驱动器30与数据线S(1)～S(M)各自的一个端部连接。源极驱动器30基于从控制部40输出的源极控制信号SCTL，经由数据线S(1)～S(M)驱动一组像素PX。例如，源极驱动器30在从控制部40接收到影像信号VDa时，将与影像信号VDa相应的灰阶信号(灰阶电压)分别提供给数据线S(1)～S(M)。由此，一组像素PX分别发光，在显示区域11上显示图像。
另外，源极驱动器30在劣化监控的执行时，基于来自控制部40的指示信号，将劣化监控电压提供给数据线S(1)～S(M)，或将作为从1组像素PX分别输出并分别从数据线S(1)～S(M)传送的模拟信号的劣化监控电流变换为数字信号，作为劣化监控电流值Mo输出到控制部40。
另外，源极驱动器30在执行第一高速监控时，根据来自控制部40的指示信号，将第一高速监控电压供给至数据线S(1)～S(M)，或者将作为从1组像素PX分别输出并分别从数据线S(1)～S(M)传送的模拟信号的第一高速监控电流转换成数字信号，并作为第一高速监控电流值(第一高速监控测定值)FMO1向控制部40输出。
作为存储部50，例如可以使用闪存等。另外，存储部50不限于闪存，可以是SRAM(Static Random Access Memory：静态随机存取存储器)、DRAM(Dynamic Random AccessMemory：动态随机存取存储器)、ROM(Read Only Memory：只读存储器)、SSD(Solid StateDrive：固态硬盘)等的半导体存储器，也可以是寄存器，也可以是硬盘装置(HDD：Hard DiskDrive：硬盘驱动器)等的磁性存储装置，还可以是光盘装置等的光学式存储装置。
控制部40通过控制栅极驱动器13和源极驱动器30的动作，在显示区域11显示图像、执行劣化监控或者执行第一高速监控。控制部40通过向栅极驱动器13输出栅极控制信号GCTL来控制栅极驱动器13的驱动。另外，控制部40通过向源极驱动器30输出源极控制信号SCTL来控制源极驱动器30的驱动。
控制部40例如具有进行图像处理的图像处理部、控制栅极驱动器13以及源极驱动器30的动作的时机控制器等。例如，图像处理部可以使用GPU(Graphics Processing Unit：图形处理单元)等的LSI(Large Scale Integration：大规模集成电路)来构成。例如，时机控制器可以使用LSI来构成。
在此，一组像素PX由于受到温度变化的影响或者产生老化等，发光效率降低。因此，控制部40若取得作为从外部输入的影像信号的输入影像信号VDb，则根据一组像素PX的发光效率的降低状态，对输入影像信号VDb进行劣化补偿(即校正)，生成应该向一组像素PX供给的影像信号VDa。然后，控制部40将进行了劣化补偿的影像信号VDa输出到源极驱动器30，从源极驱动器30向一组像素PX分别输出与影像信号VDa对应的灰阶信号。
图2是表示实施方式所涉及的像素电路20、源极驱动器30以及控制部40的概略构成的图。在图2中，表示多个像素电路20中的第i行j列的像素电路20。例如，像素电路20包括发光元件21、电容器C1、选择晶体管Tr1、驱动晶体管Tr2以及监控控制晶体管Tr3。控制部40具有补偿部41、比较部42、监控控制部43以及补偿数据生成部44。
发光元件21例如是OLED(Organic Light Emitting Diode：有机发光二极管)或QLED(Quantum dot Light Emitting Diode：有机发光二极管)等的自发光元件。发光元件21中，阳极与驱动晶体管Tr2的源极端子以及监控控制晶体管Tr3的漏极端子连接，阴极与低电平电源线ELVSS连接。
电容器C1中的一个端子与高电平电源线ELVDD以及驱动晶体管Tr2的漏极端子连接，另一个端子与选择晶体管Tr1的漏极端子以及驱动晶体管Tr2的栅极端子连接。
选择晶体管Tr1设置在数据线S(j)与电容器C1及驱动晶体管Tr2的栅极端子之间。选择晶体管Tr1中的栅极端子与栅极线G1(i)连接，源极端子与数据线S(j)连接，漏极端子与驱动晶体管Tr2的栅极端子以及电容器C1的另一个端子连接。
驱动晶体管Tr2与发光元件21串联连接。在驱动晶体管Tr2中，栅极端子与选择晶体管Tr1的漏极端子以及电容器C1的另一个端子连接，漏极端子与高电平电源线ELVDD以及电容器的一个端子连接，源极端子与发光元件21的阳极以及监控控制晶体管Tr3的漏极端子连接。
监控控制晶体管Tr3设置于驱动晶体管Tr2的源极端子及发光元件21的阳极、与数据线S(j)之间。监控控制晶体管Tr3中，栅极端子与监控控制线G2(i)连接，漏极端子与驱动晶体管Tr2的源极端子以及发光元件21的阳极连接，源极端子与数据线S(j)连接。
例如，补偿数据51和参考数据52存储在存储部50中。补偿数据51是用于补偿一组像素PX的发光效率的降低的数据。具体而言，补偿数据51是用于将输入影像信号VDb向影像信号VDa进行劣化补偿(即校正)的数据。补偿数据51例如可以是表示包含显示了输入影像信号VDb和影像信号VDa的对应关系(例如，修正前后的灰阶电压的对应关系)的信息的查找表的数据，也可以是包含用于从输入影像信号VDb得到影像信号VDa(例如，从输入的灰阶电压得到修正后的灰阶电压)的运算式所示的信息的数据。
参考数据52是用于确定执行劣化监控的允许范围的数据。参考数据52只要是能够确定执行劣化监控的允许范围的数据即可，例如，参考数据52也可以包括表示规定的基准值的基准值数据52a和表示用于确定相对于基准值的允许范围的规定范围的规定范围数据52b。例如，基准值和规定范围是对能够允许劣化监控的执行的、针对规定电压的一组像素PX各自的输出电流值进行了规定的值及其范围。
补偿部41通过使用存储于存储部50的补偿数据51对作为从外部输入的影像信号的输入影像信号VDb(劣化补偿前的影像信号)进行劣化补偿(即校正)，生成劣化补偿后的影像信号VDa。然后，控制部40将影像信号VDa输出到源极驱动器30。
比较部42基于存储部50中存储的参考数据52，判定控制部40从源极驱动器30取得的第一高速监控电流值FMo1是否在能够执行劣化监控的允许范围内，并向监控控制部43输出判定结果。
监控控制部43通过向源极驱动器30输出指示信号，来执行第一高速监控、或执行劣化监控。监控控制部43执行第一高速监控以及劣化监控的时机并不特别限定，例如能够列举图像的显示期间中、垂直回扫期间中、显示装置1的电源刚接通后或者显示装置1的电源断开时等。但是，第一高速监控是为了判定是否能够执行劣化监控而执行的，因此在执行劣化监控之前被执行。
监控控制部43在执行第一高速监控时，向源极驱动器30供给预先设定的预定电压。由此，控制部40从源极驱动器30得到第一高速监控电流值FMo1，该第一高速监控电流值FMo1是供给了规定电压时来自像素电路20的输出电流。这样，控制部40简单地以高速测定像素电路20(即，一组像素PX)的电流电压特性。并且，当从比较部42取得第一高速监控电流值FMo1在可执行劣化监控的允许范围内的判定结果时，监控控制部43执行劣化监控。另外，当从比较部42取得第一高速监控电流值FMo1不在可执行劣化监控的允许范围内的判定结果时，监控控制部43不执行劣化监控，而再次执行第一高速监控，或者也不执行第一高速监控。
另外，当执行劣化监控时，监控控制部43对每个监控控制线G2(i)线向源极驱动器30供给规定次数(例如平均次数)的劣化监控电压。由此，控制部40从源极驱动器30取得劣化监控电流值Mo，该劣化监控电流值Mo是监控控制线G2(i)每1行规定次数(例如平均次数)的来自像素电路20的输出电流。然后，监控控制部43变更(扫频)劣化监控电压并向监控控制线G2(i)供给，直到与一行监控控制线G2(i)连接的所有像素电路20的各自的平均的劣化监控电流值Mo达到规定的电流值以上。并且，监控控制部43取得与监控控制线G2(i)1线连接的所有像素电路20的各自的平均的劣化监控电流值Mo成为规定的电流值以上时的劣化监控电压，作为补偿电压值VC。这样，控制部40比第一高速监控更高精度地测定多个像素电路20(即，一组像素PX)的电流电压特性。然后，监控控制部43将表示所取得的补偿电压值VC的信息输出到补偿数据生成部44。
另外，由于补偿电压值VC根据多个像素电路20(即一组像素PX)的发光效率的降低而变化，因此能够表现为检测出多个像素电路20(即一组像素PX)的发光效率的降低的数据。
当从监控控制部43取得表示补偿电压值VC的信息时，补偿数据生成部44基于补偿电压值VC生成补偿数据51。然后，补偿数据生成部44将生成的补偿数据51作为新的补偿数据51，更新已经存储于存储部50的补偿数据51。
另外，作为补偿数据生成部44更新已经存储于存储部50的补偿数据51的方法，既可以将已经存储于存储部50的补偿数据51覆盖到新的补偿数据51进行保存，也可以为了残留已经存储的补偿数据51而将新的补偿数据51保存在与已经存储的补偿数据51不同的存储区域。
接着，使用图3和图4，对一组像素PX的发光效率的降低和劣化补偿进行说明。
图3是表示实施方式涉及的像素PX的电流电压特性的图。此外，在图3中，为了容易理解低灰阶的劣化前后的差异，将纵轴作为对数表示的图表。图3所示的数据A1表示劣化前的像素PX的电流电压特性，数据A2表示劣化时的像素PX的电流电压特性。如图3所示，当像素PX由于老化等而劣化时，电流难以流动，为了使与因劣化前向像素PX供给的电压V1而流入像素PX的电流值相同的电流值流入劣化后的像素PX，需要向像素PX供给比电压V1高的电压V2。
图4是表示实施方式涉及的像素PX的电流亮度特性的图。在图4所示的数据B1表示劣化前的像素PX的电流亮度特性，数据B2表示劣化时的像素PX的电流亮度特性。如图4所示，当像素PX由于老化等而劣化时，发光效率降低，为了以与由劣化前流过像素PX的电流I1所得到的亮度相同的亮度，使劣化后的像素PX发光，需要使高于电流I1的电流I2流过像素PX。
为了掌握这样的像素PX的劣化状态，控制部40为了检测一组像素PX的发光效率的降低，测定像素电路20中的以下的⑴～(3)中的至少任意一个。
(1)在驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子之间流动的电流的下降量
(2)流至发光元件21的电流的降低量
(3)发光元件21的发光效率的降低量
关于(1)(2)，对各像素电路20的驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子之间、或者向发光元件21施加劣化监控电压，将此时的电流值作为劣化监控电流值Mo来获得，从而测定驱动晶体管Tr2和发光元件21中的至少一方的电流电压特性。
(3)的发光元件21的发光效率的下降量能够根据(2)所示的流过发光元件21的电流的下降量来推测。另外，为了更加可靠地测定(3)的发光元件21的发光效率的降低量，例如，也可以在显示面板10上对各像素电路20设置测定发光元件21的发光亮度的亮度测定传感器，控制部40也可以测定发光元件21实际发光的亮度。
另外，在本说明书中，“像素PX的发光效率”包含上述(1)～(3)，“发光元件21的发光效率”包含上述的(3)，不包含上述的(1)以及(2)。
接着，使用图5至图7，对设置于像素PX的像素电路20的动作进行说明。图5是表示实施方式所涉及的、在灰阶电压的写入期间(图像的显示期间)中基于影像信号VDa显示图像时的像素电路20的动作的图。即，图5表示不在执行劣化监控以及第一高速监控时，而在显示区域11显示图像时的像素电路20的动作。
在灰阶信号的写入期间，栅极线G1(i)为有效状态(被选择的状态)，监控控制线G2(i)为非有效状态(非选择的状态)。由此，选择晶体管Tr1成为导通状态，监控控制晶体管Tr3成为截止状态。然后，根据影像信号VDa，向数据线S(j)供给与发光元件21的目标亮度对应的灰阶电压。由此，驱动晶体管Tr2成为导通状态。其结果，电流61通过驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子之间，进而在发光元件21的阳极和阴极之间流动。由此，发光元件21以目标亮度发光。
图6是表示在执行劣化监控时和执行第一高速监控时，测定在驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子之间流动的电流62时的像素电路20的动作的图。
在劣化监控的执行时及第一高速监控的执行时，首先，栅极线G1(i)设为激活状态(被选择的状态)，监控控制线G2(i)设为非激活状态(非选择的状态)。
并且，当通过监控控制部43将用于测定驱动晶体管Tr2的电流电压特性的劣化监控电压(劣化监控的执行时)或规定电压(第一高速监控的执行时)提供给数据线S(j)时，通过所提供的劣化监控电压(劣化监控的执行时)或规定电压(第一高速监控的执行时)对电容器C1进行充电。由此，驱动晶体管Tr2成为导通状态。
接着，栅极线G1(i)为非激活状态(非选择的状态)，驱动晶体管Tr2以导通状态固定。而且，监控控制部43停止提供给数据线S(j)的劣化监控电压(劣化监控的执行时)或规定电压(第一高速监控的执行时)的供给。而且，监控控制部43将源极驱动器30切换到能够测定电流的模式。
接着，监控控制线G2(i)为有源状态(被选择的状态)，监控控制晶体管Tr3为导通状态。其结果，电流62通过驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子之间，不向发光元件21流动，而在监控控制晶体管Tr3的漏极端子和源极端子之间流动，通过数据线S(j)被供给至源极驱动器30。然后，由源极驱动器30测定电流62，控制部40得到由源极驱动器30测定的电流62的测定值即劣化监控电流值Mo或第一高速监控电流值FMo1。以此方式，获得在驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子之间流动的劣化监控电流值Mo或第一高速监控电流值FMo1。即，测定驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子之间的电流电压特性。
图7是表示在执行劣化监控时和执行第一高速监控时，测定流过发光元件21的电流63时的像素电路20的动作的图。
在劣化监控的执行时及第一高速监控的执行时，首先，栅极线G1(i)设为激活状态(被选择的状态)，监控控制线G2(i)设为非激活状态(非选择的状态)。
并且，当通过监控控制部43将用于使驱动晶体管Tr2成为截止状态的电压(例如0V)提供给数据线S(j)时，驱动晶体管Tr2成为截止状态。
接着，栅极线G1(i)成为非激活状态(非选择的状态)，驱动晶体管Tr2以截止状态被固定。而且，监控控制线G2(i)被设为激活状态(被选择的状态)，监控控制晶体管Tr3成为导通状态。
然后，当通过监控控制部43，向数据线S(j)供给用于测定发光元件21的电流电压特性的劣化监控电压(执行劣化监控时)或规定电压(执行第一高速监控时)时，从源极驱动器30，电流63通过监控控制晶体管Tr3的源极端子和漏极端子之间，在发光元件21的阳极和阴极之间流动。由此，发光元件21发光。然后，通过源极驱动器30测定电流63，控制部40得到由源极驱动器30测定的电流63的测定值即劣化监控电流值Mo或第一高速监控电流值FMo1。这样，可以得到在发光元件21的阳极和阴极之间流动的劣化监控电流值Mo或第一高速监控电流值FMo1。即，测定发光元件21的电流电压特性。
在执行第一高速监控时，控制部40只要将图6所示的驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子间的电流电压特性、以及图7所示的发光元件21的电流电压特性中的至少一方测定为一组像素PX的电流电压特性即可。
另外，优选在执行劣化监控时，控制部40通过测定图6所示的驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子间的电流电压特性、和图7所示的发光元件21的电流电压特性这两者，得到一组像素PX的电流电压特性。由此，能够更高精度地得到一组像素PX的电流电压特性。或者，在执行劣化监控时，控制部40在图6所示的驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子间的电流电压特性、和图7所示的发光元件21的电流电压特性中，通过仅测定图6所示的驱动晶体管Tr2的漏极端子和源极端子之间的电流电压特性，也可以得到一组像素PX的电流电压特性。由此，在得到一组像素PX的电流电压特性时，能够抑制发光元件21发光而被视听者视觉识别，同时能够得到一组像素PX的电流电压特性的测定值。
接着，使用图1、图2以及图8等，对控制部40的处理的概略流程进行说明。图8是表示实施方式所涉及的从第一高速监控到得到劣化补偿后的影像信号VDa为止的控制部40的处理的概略流程的图。
首先，在步骤S1中，控制部40执行第一高速监控，进行获取第一高速监控电流值FMo1的处理。即，在步骤S1中，监控控制部43执行经由源极驱动器30向各像素电路20供给规定电压的第一高速监控，控制部40经由源极驱动器30从被供给规定电压的、与监控控制线G2(1)至G2(N)的各个连接的全部的像素电路20分别取得作为输出电流值的第一高速监控电流值FMo1。
例如，在步骤S1中，使用图9后述详情，但第一高速监控不变更供给的电压，而仅将预先设定的规定电压供给至与监控控制线G2(1)至G2(N)分别连接的全部的像素电路20，因此与使供给的电压扫频等多次将电压供给到像素电路20的劣化监控相比，从执行开始到执行结束所需的时间短。这样，第一高速监控能够以比劣化监控高的速度进行处理。
接着，在步骤S2中，比较部42参照存储于存储部50的参考数据52，判定控制部40从源极驱动器30取得的第一高速监控电流值FM01是否在允许范围内。
然后，在步骤S2中，比较部42在判断为从源极驱动器30获取到的第一高速监控电流值FM01不在允许范围内的情况下(步骤S2中的否的情况下)，将该判断结果输出给监控控制部43。在取得了该判定结果的情况下，监控控制部43例如因显示装置1的使用环境的温度变化等而使一组像素PX的发光效率暂时大幅变化，能够判断为不是能够执行劣化监控的状态，因此不执行劣化监控而再次返回到步骤S1的处理。即，返回步骤S1的处理，控制部40执行第一高速监控，获取第一高速监控电流值FMo1。
此外，在步骤S2中，在比较部42判定为第一高速监控电流值FMol不在允许范围内的情况下(步骤S2中的“否”的情况下)，也可以不返回到步骤S1的处理，而结束图8所示的一系列的处理。此外，也可以在将步骤S2的No的处理和步骤S1的处理重复规定次数之后，结束图8所示的一系列的处理。
接着，在步骤S2中，比较部42在判定为从源极驱动器30取得的第一高速监控电流值FMo1在允许范围内的情况下(在步骤S2中为“是”的情况下)，将该判定结果输出到监控控制部43。在取得了该判定结果情况下，由于监控控制部43能够判断为一组像素PX的发光效率的变化在能够执行劣化监控的范围内，所以判断为是能够执行劣化监控的状态，接着，在步骤S3中，控制部40执行劣化监控，获得补偿电压值VC。然后，监控控制部43将表示补偿电压值VC的信息输出到补偿数据生成部44。
例如，在步骤S3中，详细使用图10后述，劣化监控从监控控制线G2(1)到G2(N)中对每1行供给平均次数、劣化监控电压，或者使供给的劣化监控电压扫频，直到从1行全部的像素电路20的平均的劣化监控电流值Mo成为规定的电流值以上为止，因此与第一高速监控相比，从执行开始到执行结束所需的时间长，但检测一组像素PX的发光效率的变化的精度高。
接着，在步骤S4中，补偿数据生成部44基于监控控制部43取得的补偿电压值VC，生成补偿数据51，并通过生成的补偿数据51更新已经存储于存储部50的补偿数据51。然后，在步骤S5中，补偿部41从外部基于输入影像信号VDb和存储于存储部50的补偿数据51，生成影像信号VDa。
如上所述，本实施方式所涉及的显示装置1包括具有一组像素PX的显示面板10、控制部40以及存储部50。并且，控制部40具有监控控制部43，监控控制部43能够执行检测一组像素PX的发光效率的降低的劣化监控、和为了判定是否应该进行劣化监控而以比劣化监控更快的速度执行的第一高速监控。此外，存储部50存储有确定了执行劣化监控的允许范围的参考数据52，如果由第一高速监控得到的第一高速监控电流值(第一高速监控测定值)FMo1在由参考数据52确定的允许范围内(步骤S2的“是”的情况下)，则监控控制部43执行劣化监控(步骤S3)。
这样，根据本实施方式的显示装置1，在执行劣化监控之前，执行能够以比劣化监控更快的速度执行的第一高速监控，在由第一高速监控得到的第一高速监控电流值FMo1处于由参考数据52确定的允许范围内的情况下，由于能够判断为是能够执行劣化监控的状态，所以执行劣化监控。即，根据显示装置1，能够高速地进行用于检测一组像素PX的发光效率的降低的劣化监控的可执行状态的判定。其结果，根据显示装置1，能够抑制劣化监控被执行的情况，该劣化监控在因显示装置的使用环境的温度变化等，一组像素的发光效率暂时变化的状态下，检测该一组像素的发光效率的降低。由此，显示装置1能够正确地生成补偿数据51，并进行一组像素PX的劣化补偿。
另外，监控控制部43基于执行劣化监控而得到的补偿电压值(劣化监控测定值)VC，生成新的补偿数据51，将存储于存储部50的补偿数据51更新为新的补偿数据51(步骤S4)。由此，对应根据一组像素PX的使用状态而变化的发光效率(例如电流电压特性)，存储于存储部50的补偿数据51被更新，因此能够根据一组像素PX的发光效率更准确地进行一组像素PX的劣化补偿。
接下来，使用图1、图2、图9以及图10等，对执行第一高速监控并获取第一高速监控电流值FMo1的处理(图8的步骤S1的处理)、以及执行劣化监控并获取补偿电压值VC的处理(图8的步骤S3)各自的详细情况进行说明。
图9是表示实施方式所涉及的执行第一高速监控并取得第一高速监控电流值FMo1的处理(图8的步骤S1的处理)的概略流程的图。首先，在步骤S11中，监控控制部43设定监控控制线G2(1)～G2(N)中开始第一高速监控的最初的监控控制线。例如，监控控制部43将设置在监控控制线G2(1)～G2(N)中的一端的监控控制线G2(1)设定为开始第一高速监控的最初的监控控制线。
接着，在步骤S12中，监控控制部43经由源极驱动器30向设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))供给预先设定的规定电压。
然后，在步骤S13中，控制部40获取来自连接于被供给规定电压的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的全部像素PX的输出电流、即第一高速监控电流值FMo1。由此，控制部40获取来自设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))1行的全部像素PX的第一高速监控电流值FM01。
接着，在步骤S14中，监控控制部43判定所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))是否为最终的监控控制线(例如，监控控制线G2(N))。在步骤S14中，如果判定为所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))不是最终的监控控制线(例如，设置于另一端的监控控制线G2(N))(步骤S14的“否”的情况)，则接着在步骤S15中，监控控制部43通过栅极驱动器13选择一个相邻的监控控制线(例如，监控控制线G2(2))，由此变更监控控制线，返回步骤S12处理。然后，经过步骤S12、S13、步骤S14的“否”的情况下的处理、以及步骤S15的处理，从而重复进行每一行的规定电压的供给、和从与一行的监控控制线连接的全部像素PX获取第一高速监控电流值FMo1，直到到达最终的监控控制线(例如，设置于另一端的监控控制线G2(N))为止。
然后，在步骤S14中，当判定为所设定的监控控制线(例如，设置于另一端的监控控制线G2(N))是最终的监控控制线时(步骤S14的“是”的情况下)，监控控制部43结束第一高速监控的执行，进入步骤S2的处理(参照图8)。
这样，在第一高速监控中，控制部40对监控控制线G2(1)～G2(N)分别按每一行供给预先设定的通用的电压、即规定电压，按每一行获取第一高速监控电流值FM01。这样，在第一高速监控中，由于不使分别向监控控制线G2(1)～G2(N)供给的电压变化，因此与劣化监控相比，能够高速地进行处理。
例如，在显示装置1的帧频率为60Hz的情况下，且在图像的显示期间执行第一高速监控的情况下，每一行的所需时间为16.67msec左右。这是因为，需要按每一行在帧期间中的回扫期间进行规定电压的供给和第一高速监控电流值FMo1的获取。
而且，例如，若监控控制线G2(1)～G2(N)的行数为720行，则所有行的第一高速监控的执行开始到结束所需的时间约为12秒。
图10是表示实施方式所涉及的执行劣化监测并取得补偿电压值VC的处理(图8的步骤S3的处理)的概略流程的图。步骤S2(参照图8)的“是”之后，接着，在步骤S31中，监控控制部43设定监控控制线G2(1)～G2(N)中的开始劣化监控的最初的监控控制线。例如，监控控制部43将监控控制线G2(1)～G2(N)中的设置于一端的监控控制线G2(1)设定为开始劣化监控的最初的监控控制线。
接着，在步骤S32中，监控控制部43经由源极驱动器30向设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))供给劣化监控电压。最初供给的扫频前的劣化监控电压既可以被预先设定，也可以反映上次的劣化监控的结果而进行设定。
然后，在步骤S33中，控制部40从与被供给了劣化监控电压的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))连接的全部像素PX，获取作为输出电流的劣化监控电流值Mo。由此，控制部40获取来自被设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))1行的全部像素PX的劣化监控电流值Mo。
接着，在步骤S34中，监控控制部43判定是否在设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的每一条线执行了预先设定的平均次数量的劣化监控。在步骤S34中，监控控制部43在判定为每一条所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))按预先设定的平均次数没有执行劣化监控的情况下(步骤S34的“否”的情况)，返回步骤S32的处理。然后，经过步骤S32、步骤S33以及步骤S34的“否”的处理，控制部40针对每一条设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))，按照预先设定的平均次数量，进行劣化监控电压的供给和劣化监控电流值Mo的取得。
然后，在步骤S34中，当监控控制部43判定为针对所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的每一条线执行了预先设定的平均次数的劣化监控时(步骤S34的“是”的情况下)，接着，在步骤S35中，监控控制部43针对与所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的全部像素PX的每一个，对获取到的劣化监控电流值Mo进行平均。
然后，在步骤S36中，监控控制部43针对与所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的全部像素PX的每一个，判定平均后的劣化监控电流值Mo是否为规定的电流值以上。另外，在步骤S36中，将与所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的全部像素PX中的、平均后的劣化监控电流值Mo成为规定的电流值以上的像素PX的劣化监控电压，作为补偿电压值的候选值而存储在临时的行存储器等中。
在步骤S36中，当判定为与所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的全部像素PX各自的平均后的劣化监控电流值Mo未成为规定的电流值以上时(在步骤S36的“否”的情况下)，在步骤S37中，监控控制部43使劣化监控电压变更、即扫频。例如，监控控制部43提高劣化监控电压的电压。此外，在提高劣化监控的电压的情况下，已经达到规定的电流值的像素PX中的、存储在临时的行存储器中的补偿电压值的候选值不进行更新，而保持原样。然后，返回到步骤S32的处理，监控控制部43将在步骤S37中变更后的劣化监控电压经由源极驱动器30供给至所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))。然后，重复步骤S32～S37的处理，即重复进行劣化监控电压的变更、即劣化监控电压的扫频，直到对与所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的多个像素PX的每一个像素PX进行平均而得到的劣化监控电流值Mo成为规定的电流值以上为止。
然后，在步骤S36中，当判定为与所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的全部像素PX的每一个平均后的劣化监控电流值Mo全部为规定的电流值以上时(步骤S36的“是”的情况)，接着，在步骤S38中，监控控制部43将存储于临时的行存储器中的补偿电压值的候选值作为补偿电压值VC而存储于存储部50等。由此，监控控制部43获取设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))每一行的补偿电压值VC。
然后，在步骤S39中，监控控制部43判定所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))是否为最终的监控控制线(例如，监控控制线G2(N))。在步骤S39中，当判定为所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))不是最终的监控控制线(例如，监控控制线G2(N))时(步骤S39的“否”的情况)，接着，在步骤S40中，通过栅极驱动器13选择一个相邻的监控控制线(例如，监控控制线G2(2))，由此变更监控控制线，返回步骤S32的处理。然后，经过步骤S32～S38、步骤S39的“否”情况下的处理以及步骤S40的处理，从而直到成为最终的监控控制线(例如，监控控制线G2(N))为止，按每一行，重复进行平均次数量的扫频后的劣化监控电压的供给、以及基于来自各像素电路20的劣化监控电流值Mo的补偿电压值VC的取得。
然后，在步骤S39中，若判断为所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(N))是最终的监控控制线(步骤S39的“是”的情况下)，则监控控制部43结束劣化监控的执行，进入步骤S4的处理(参照图8)。
这样，在劣化监控中，控制部40针对监控控制线G2(1)～G2(N)分别按每一条线供给平均次数量的劣化监控电压，取得平均次数量的劣化监控电流值Mo。并且，控制部40在监控控制线G2(1)～G2(N)的各自中，按每一行，重复劣化监控电压的变更和供给，直到全部的像素电路20各自的劣化监控电流值Mo的平均值成为规定的电流值以上。由此，按每一行的监控控制线G2(1)～G2(N)获取补偿电压值VC。
这样，劣化监控与第一高速监控相比，向监控控制线G2(1)～G2(N)分别供给电压的次数、即测定一组像素PX各自的电流电压特性的次数多，因此从执行开始到结束需要耗费时间，但能够准确地进行电流电压特性的测定(即一组像素PX的发光效率的降低的检测)。
例如，在显示装置1的帧频率为60Hz的情况下，且在图像的显示期间执行劣化监控的情况下，每一行的所需时间为16.67msec左右。这与第一高速监控同样，需要在每一行帧期间中的回扫期间进行劣化监控电压的供给和补偿电压值VC的取得。
并且，例如，在每一行监控控制线G2(1)～G2(N)中，将平均次数设为8次，将劣化监控电压的扫频次数设为12次。另外，监控控制线G2(1)～G2(N)的行数为720行。这样，从全部行的劣化监控的执行开始到结束所需的时间约为19.2分钟。如上所述，从全部行的第一高速监控的执行开始到结束所需的时间约为12秒，因此可知第一高速监控比劣化监控更高速。
另外，作为其他方法，在能够对与设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的全部像素PX的每一个改变供给电压的结构的情况下，也可以采用以下的方法。即，在步骤S36中，关于平均后的劣化监控电流值Mo成为规定的电流值以上的像素PX，在步骤S37中，劣化监控电压不上升，而仅使未成为规定的电流值以上的像素PX提高劣化监控电压。然后，关于步骤S32～S37的处理，重复劣化监控电压的变更、即劣化监控电压的扫频，直到按与所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的多个像素PX的每个像素平均后的劣化监控电流值Mo全部成为规定的电流值以上为止，并将在与所设定的监控控制线(例如，监控控制线G2(1))的一行连接的多个像素PX的全部成为规定的电流值以上的时刻所设定的劣化监控电压作为补偿电压值VC，存储于存储部50等。
此外，在步骤S37中，由于多个像素PX的每一个存在电流偏差(例如也包含烧屏等)，因此针对多个监控控制线的每一个，对劣化监控电压进行扫频的次数不同。
此外，上述的劣化监控以及第一高速监控的处理内容和处理时间只不过是一个例子，并不限定于上述的例子。
这样，在第一高速监控中，监控控制部43仅以比劣化监控少的次数，测定一组像素PX的电流电压特性，即取得规定电压的供给和第一高速监控电流值(第一高速监控测定值)FM01。在使用图9说明的例子中，监控控制线G2(1)～G2(N)分别按每一条线仅获取一次规定电压的供给和第一高速监控电流值FM01。因此，能够迅速地判定劣化监控是否为能够执行的状态。
图11是表示实施方式的变形例1所涉及的控制部40的处理的概略流程的图。控制部40也可以基于第一高速监控电流值FM01，更新存储于存储部50的参考数据52。
控制部40进行使用图8等所说明的步骤S1以及步骤S2的处理。在步骤S2中，比较部42在判断为从源极驱动器30获取到的第一高速监控电流值FM01处于允许范围内的情况下(步骤S2中的“是”的情况下)，将该判断结果输出至监控控制部43，进而，在步骤S2中，基于判断为处于允许范围内的第一高速监控电流值FM01，对存储于存储部50的参考数据52进行更新。具体而言，例如，比较部42对存储于存储部50的、表示规定的基准值的基准值数据52a、和表示用于确定相对于基准值的允许范围的规定范围的规定范围数据52b进行更新。之后，控制部40执行使用图8说明的步骤S3～S5的处理，并结束一系列的处理。
此外，执行步骤S2A的处理的时机只要在步骤S2的“是”的处理之后即可，并不限定于在步骤S3之前执行的情况，也可以是步骤S3与步骤S4之间，也可以是步骤S4与步骤S5之间，还可以是步骤S5之后。
这样，如果第一高速监控电流值(第一高速监控测定值)FM01处于劣化监控可执行的允许范围内，则比较部42基于第一高速监控电流值FM01，对存储于存储部50的参考数据52进行更新。由此，根据按照一组像素PX的使用状态而变化的发光效率(例如电流电压特性)，存储于存储部50的参考数据52被更新，因此比较部42能够判定是否能够更准确地执行劣化监控。
另外，作为比较部42对已经存储于存储部50的参考数据52进行更新的方法，可以将已经存储于存储部50的参考数据52覆盖到新的参考数据52来进行保存，也可以将新的参考数据52保存到与为了保留已经存储的参考数据52而已经存储的参考数据52不同的存储区域。
图12是表示实施方式的变形例2所涉及的像素电路、源极驱动器以及控制部的概略结构的图。控制部40也可以执行劣化监控的执行前和执行后的两次高速监控，根据对两次高速监控的结果进行比较的结果，更新存储于存储部50的补偿数据51。如图12所示，若监控控制部43执行第二次的第二高速监控，则控制部40从源极驱动器30获取第二高速监控电流值(第二高速监控测定值)FM02。
图13是表示实施方式的变形例2所涉及的控制部40的处理的概略流程的图。如图13所示，控制部40通过进行使用图8说明的步骤S1的处理，首先执行作为第一次的高速监控的第一高速监控，获取监控第一高速监控电流值FMo1。然后，在步骤S2中，比较部42参照存储于存储部50的参考数据52，判定为第一高速监控电流值FMol在允许范围内时(步骤S2的“是”的情况下)，在步骤S3中，获取了判定结果的监控控制部43执行劣化监控，获取补偿电压值VC。
接着，在步骤S51中，监控控制部43执行第二次的高速监控、即第二高速监控，进行获取第二高速监控电流值FMo2的处理。即，在步骤S51中，监控控制部43执行经由源极驱动器30向各像素电路20供给规定电压的第二高速监控，控制部40经由源极驱动器30获取来自被供给规定电压的各像素电路20的输出电流值、即第二高速监控电流值FMo2。
此外，步骤S51中的执行第二高速监控并取得第二高速监控电流值FMo2的处理的具体内容与执行使用图8以及图9所说明的第一高速监控并取得第一高速监控电流值FMo1的处理(步骤S1的处理)相同。
接着，在步骤S52中，比较部42判定第二高速监控电流值FMo2是否相对于第一高速监控电流值FMol在规定范围内。在步骤S52中，比较部42在判定为第二高速监控电流值FMo2相对于第一高速监控电流值FMo1不在规定范围内的情况下(步骤S52的“否”的情况下)，能够判断为在劣化监控的执行中一组的像素PX的发光效率较大地变化，因此在步骤S3中，不使用控制部40取得的补偿电压值VC，而再次返回到步骤S1的处理。即，返回步骤S1的处理，控制部40再次执行作为第一次的高速监控的第一高速监控，获取第一高速监控电流值FMo1。
另外，在步骤S52中，比较部42在判定为第二高速监控电流值FMo2相对于第一高速监控电流值FMo1不在规定范围内的情况下(步骤S52的“否”的情况下)，不返回到步骤S1的处理，也可以结束图13所示的一系列的处理。此外，也可以在将步骤S52的“否”的处理进行了规定次数之后，结束图13所示的一系列的处理。
在步骤S52中，比较部42在判断为第二高速监控电流值FMo2相对于第一高速监控电流值FMo1在规定范围内的情况下(步骤S52的“是”的情况下)，能够在劣化监控的执行前后，判断为一组的像素PX的发光效率没有大幅变化，接着，在步骤S4中，补偿数据生成部44通过步骤3的处理，根据由监控控制部43取得的补偿电压值VC，生成补偿数据51，并通过生成的补偿数据51更新已经存储于存储部50的补偿数据51。然后，在步骤S5中，补偿部41从外部基于输入影像信号VDb和存储于存储部50的补偿数据51，生成影像信号VDa。
这样，控制部40执行第二高速监控，该第二高速监控用于在执行劣化监控后，基于执行劣化监控而得到的补偿电压值(劣化监控测定值)VC，生成补偿数据51并判定是否存储于存储部50，以比劣化监控高的速度执行。然后，如果由第二高速监控得到的第二高速监控电流值(第二高速监控测定值)FM02相对于第一高速监控电流值(第一高速监控测定值)FM01处于规定范围的话，则控制部40基于补偿电压值VC，生成新的补偿数据51，并将存储于存储部50的补偿数据51更新为新的补偿数据51。
由此，在劣化监控的执行中，能够判定一组的像素PX的发光效率是否突发性地进行了较大的变化(例如，电流电压特性的变化)。然后，在劣化监控的执行中，在一组的像素PX没有突发性地进行较大的发光效率的变化(例如，电流电压特性的变化)的情况下，更新存储于存储部50的补偿数据51。因此，能够更准确地进行一组像素PX的劣化补偿。
另外，也可以是，在步骤S52的“是”中，比较部42在判断为第二高速监控电流值FMo2相对于第一高速监控电流值FMol在规定范围内的情况下，进而，比较部42参照存储于存储部50的参考数据52，在判断为第二高速监控电流值FMo2在允许范围内之后，进入步骤S4的处理。由此，能够更准确地进行一组像素PX的劣化补偿。
图14为示出实施方式的变形例3所涉及的控制部40的处理的概略流程的图。如图14所示，也可以在使用图13所说明的一系列的处理中，追加使用图11所说明的步骤S2A的处理，即，比较部42基于判定为处于劣化监控的可执行的允许范围内的第一高速监控电流值FMo1，对存储于存储部50的参考数据52进行更新的处理。
此外，执行步骤S2A的处理的时机只要在步骤S2的“是”的处理之后即可，并不限定于在步骤S3之前执行的情况，可以是步骤S3与步骤S51之间，可以是步骤S51与步骤S52之间，可以是步骤S52的“是”与步骤S4之间，可以是步骤S4与步骤S5之间，也可以是步骤S5之后。此外，步骤S2A的处理也可以与步骤S3、S51、S52、S4、S5各自的处理并行地执行。
图15是表示实施方式的变形例4所涉及的显示装置1的概略结构的图。显示装置1具备：一组虚拟像素(DPX)，其对图像的显示没有贡献；以及虚拟数据线(SD1、SD2)，其与一组虚拟像素DPX分别连接。监控控制部43(参照图2)也可以在第一高速监控中，测定一组虚拟像素DPX的电流电压特性，而不是一组像素PX。
虚拟数据线SD1、SD2以夹着数据线S(1)～S(M)的方式设置在数据线S(1)～S(M)的外侧，一个端部与源极驱动器30连接。一组的虚拟像素DPX分别设置在虚拟数据线SD1、SD2与栅极线G1(1)～G1(N)、监控控制线G2(1)～G2(N)交叉的部分。
虚拟数据线SD1例如在显示区域11外，以与数据线S(1)邻接的方式，与栅极线G1(1)～G1(N)及监控控制线G2(1)～G2(N)交叉。将设有沿着虚拟数据线SD1而成列的多个虚拟像素DPX的区域、以及设有沿着虚拟数据线SD1而成列的多个虚拟像素DPX的区域分别称为虚拟像素区域11D。
在此，一组像素PX由于在显示装置1的通常的显示动作时发出的光到达显示装置1的视听者，因此是有助于显示图像的像素。另一方面，在显示装置1进行正常显示操作时，一组虚拟像素DPX是不发光的像素，并且是无助于图像显示的像素。一组虚拟像素DPX分别具备虚拟像素电路20D。虚拟像素电路20D的结构与使用图2所说明的像素电路20的结构相同。
另外，一组虚拟像素DPX可以是例如被设置为与壳体的遮光部分重叠等、被设置为不被显示装置1的观看者看到的、对图像的显示没有贡献的像素。
另外，在图15中，示出了虚拟像素区域11D分别沿与显示区域11外的左右、即数据线S(1)及数据线S(N)相邻的方式延伸的例子，但虚拟像素区域11D的位置并不限定于此。例如，虚拟像素区域11D也可以分别沿与显示区域11外的上下、即上端的栅极线G1(1)以及下端的监控控制线G2(N)相邻的方式延伸。
实施方式的变形例4所涉及的显示装置1的控制部40的处理也可以使用图8、图13、或者图14所示的任一处理。但是，在步骤S1中，控制部40不是从一组像素PX的各像素取得第一高速监控电流值FMo1，而是从一组虚拟像素DPX的每一个取得第一高速监控电流值FMo1。此外，在使用图13或图14所示的处理的情况下，在步骤S51中，控制部40不是从一组像素PX的每一个取得第二高速监控电流值FMo2，而是从一组虚拟像素DPX的每一个取得第二高速监控电流值FMo2。
这样，在第一高速监控中，控制部40可以测量一组虚拟像素DPX的电流电压特性。一组虚拟像素DPX的数量比一组像素PX的数量少，因此与使用一组像素PX执行第一高速监控的情况相比，能够更高速地执行第一高速监控。由此，能够更迅速地判定劣化监控的执行是否可能。
此外，一组虚拟像素DPX的数量比一组像素PX的数量少，因此，用于判定分别从一组虚拟像素DPX的每一个得到的第一高速监控电流值FMo1是否在允许范围内的参考数据52的容量小，也能够缩小参考数据52的存储所需的存储部50内的容量。
并且，通过使一组虚拟像素DPX成为在显示装置1进行通常的显示动作时也不发光的像素，能够设为从显示装置1的产品出厂时几乎不存在发光效率的劣化的像素。由此，如果在相同的温度环境下测定第一高速监控电流值FM01，则能够持续使用在显示装置1的产品出厂时设定的参考数据52。即，由于能够不考虑一组虚拟像素DPX的发光效率的降低而判定第一高速监控电流值FMo1是否在允许范围内，因此容易进行是否为能够执行劣化监控的状态的判定。
图16是表示实施方式的变形例5所涉及的显示装置1的概略结构的图。由于一组像素PX的电流电压特性也根据显示面板10的温度而变化，因此作为第一高速监控，控制部40也可以不测定一组像素PX的电流电压特性或一组虚拟像素DPX的电流电压特性，而测定显示面板10的温度。
本实施方式的变形例5所涉及的显示面板10也可以具备一个或多个温度传感器15。在图16所示的例子中，一组温度传感器15在显示面板10的背面(与设置有显示区域11的面相反侧的面)设置为矩阵状。
另外，控制部40也可以具有温度数据获取部48。温度数据获取部48取得来自一组温度传感器15的输出，并作为第一温度测定值(第一高速监控测定值)Tm1以及第二温度测定值(第二高速监控测定值)Tm2。另外，在本实施方式的变形例5中，参考数据52中，基准值数据52a所示的基准值和规定范围数据52b所示的规定范围是对能够允许执行劣化监控的显示面板10的温度(例如稳定环境下的常温)进行了规定的值及其范围。
图17是示出实施方式的变形例5所涉及的控制部40的处理的概略流程的图。首先，在步骤S61中，作为第一高速监控，控制部40从一组温度传感器15取得第一温度测定值Tm1的处理。即，在步骤S61中，当监控控制部43执行第一高速监控时，温度数据获取部48获取来自温度传感器15的输出，并作为测定了显示面板10的温度的第一温度测定值Tm1。
接着，在步骤S62中，比较部42参照存储于存储部50的参考数据52，判定温度数据获取部48获取的第一温度测定值Tm1是否处于可执行劣化监控的允许范围内。
然后，在步骤S2中，比较部42在判定为温度数据获取部48获取到的第一温度测定值Tm1不是可执行劣化监控的允许范围内的情况下(步骤S62中的“否”的情况下)，将该判定结果向监控控制部43输出。在取得了该判定结果的情况下，能够判断为例如显示面板10的温度由于显示装置1的使用环境的变化等而变化、一组像素PX的发光效率暂时大幅变化，即，能够判断为不是能够执行劣化监控的状态，因此不执行劣化监控，再次返回到步骤S1的处理。即，返回步骤S1的处理，控制部40执行第一高速监控，获取第一温度测定值Tm1。
此外，在步骤S62中，在比较部42判定为第一温度测定值Tm1不在允许范围内的情况下(步骤S62中的“否”的情况下)，也可以不返回到步骤S61的处理，而结束图17所示的一系列的处理。此外，也可以在将步骤S62的“否”的处理和步骤S61的处理重复了规定次数之后，结束图17所示的一系列的处理。
接着，在步骤S62中，比较部42在判断为第一温度测定值Tm1处于允许范围内的情况下(步骤S62中的“是”的情况)，将该判断结果输出给监控控制部43。在取得该判定结果的情况下，监控控制部43能够判断为显示面板10的温度没有大幅变化、即一组像素PX的发光效率的变化处于可执行劣化监控的范围内，换言之，能够判断为处于能够执行劣化监控的状态，因此接下来在步骤S63中，控制部40执行劣化监控，获取补偿电压值VC。然后，监控控制部43将表示补偿电压值VC的信息向补偿数据生成部44输出。此外，步骤S63的处理与使用图8和图11～图14等所说明的步骤S3是相同的。
接着，在步骤S64中，监控控制部43进行从一组温度传感器15获取第二温度测定值Tm2，并作为第二次的高速监控的第二高速监控的处理。即，在步骤S64中，当监控控制部43执行第二高速监控时，温度数据获取部48获取来自温度传感器15的输出，作为测定了显示面板10的温度的第二温度测定值Tm2。
此外，步骤S64中的执行第二高速监控并获取第二温度测定值Tm2的处理与步骤S61中的执行第一高速监控并获取第一温度测定值Tm1的处理相同。
接着，在步骤S65中，比较部42判定第二温度测定值Tm2是否相对于第一温度测定值Tm1处于规定范围内。在步骤S65中，比较部42在判断为第二温度测定值Tm2相对于第一温度测定值Tm1不在规定范围内的情况下(步骤S65的“否”的情况)，能够判断为在劣化监控的执行中显示面板10的温度较大地变化、即一组像素PX的发光效率较大地变化，因此在步骤S63中控制部40取得的补偿电压值VC不使用，再次返回步骤S61的处理。即，返回步骤S61的处理，控制部40再次执行作为第一次的高速监控的第一高速监控，获取第一温度测定值Tm1。
此外，在步骤S65中，比较部42在判断为第二温度测定值Tm2相对于第一温度测定值Tm1不在规定范围内的情况下(步骤S65的“否”的情况)，也可以不返回到步骤S61的处理，而结束图17所示的一系列的处理。此外，也可以在将步骤S65的“否”的处理进行了规定次数之后，结束图17所示的一系列的处理。
在步骤S65中，比较部42在判断为第二温度测定值Tm2相对于第一温度测定值Tm1位于规定范围内的情况下(步骤S65的“是”的情况)，能够判断为在劣化监控的执行前后，显示面板10的温度没有大幅变化、即一组像素PX的发光效率没有大幅变化，因此接下来在步骤S66中，补偿数据生成部44基于通过步骤63的处理由监控控制部43获取的补偿电压值VC，生成补偿数据51，并通过生成的补偿数据51更新已经存储于存储部50的补偿数据51。然后，在步骤S67中，补偿部41根据外部的输入影像信号VDb和存储于存储部50的补偿数据51，生成影像信号VDa。
此外，也可以省略执行第二次的高速监控的步骤S64的处理以及步骤S65的处理。
这样，显示面板10也可以具有温度传感器15。并且，温度数据获取部48可以获取来自温度传感器15的输出，并将其作为第一温度测量值(第一高速监控测量值)Tm1。
如上所述，第一高速监控与像劣化监控那样的向一组像素PX多次供给电压的处理不同，仅取得来自温度传感器15的输出，因此与劣化监控相比能够高速地进行处理。即，根据显示装置1，能够高速地进行用于检测一组像素PX的发光效率的降低的劣化监控的可执行的状态的判定。其结果，根据显示装置1，能够抑制由于显示装置的使用环境的温度变化等而在一组像素的发光效率暂时变化的状态下执行检测一组像素的发光效率的降低的劣化监控。
另外，控制部40在执行劣化监控后，基于执行劣化监控而得到的补偿电压值(劣化监控测定值)VC，执行用于生成补偿数据51并判定是否存储在存储部50的、比劣化监控更高速地被执行的第二高速监控。然后，如果由第二高速监控得到的第二温度测定值(第二高速监控测定值)Tm2相对于第一温度测定值(第一高速监控测定值)Tm1处于规定范围内，则控制部40基于补偿电压值VC，生成新的补偿数据51，并将存储于存储部50的补偿数据51更新为新的补偿数据51。
由此，能够在劣化监控的执行中，判定由于显示面板10的温度变化，一组像素PX是否突发性地产生了大的发光效率的变化(例如，电流电压特性的变化)。然后，在劣化监控的执行中，在一组像素PX没有突发性地产生较大的发光效率的变化(例如，电流电压特性的变化)的情况下，更新存储于存储部50的补偿数据51。因此，能够更准确地进行一组像素PX的劣化补偿。
另外，存储部50也可以非暂时性地存储作为计算机能够读取的存储介质、且是显示装置1的外部的存储介质或者从能够与显示装置1进行通信的服务器安装的显示程序。显示程序使控制部40作为补偿部41、比较部42、监控控制部43、补偿数据生成部44以及温度数据获取部48发挥功能。控制部40具有计算机作为硬件构成。计算机通过执行显示程序，可以具有使控制部40作为补偿部41、比较部42、监控控制部43、补偿数据生成部44、以及温度数据获取部48而发挥功能的处理器。处理器只要能够通过执行显示程序来实现功能，则不管其种类如何。作为处理器，可以使用CPU(Central Processing Unit：中央处理器)、GPU(Graphics Processing Unit：图形处理单元)、DSP(Digital Signal Processor：数字信号处理器)、ASIC(application specific integrated circuit：专用集成电路)等的各种处理器。此外，处理器除了CPU、GPU、DSP等之外，还可以包括外围电路装置。外围电路装置可以是IC(Integrated Circuit：集成电路)，也可以包括电阻、电容器等。
另外，也可以在不产生矛盾的范围内适当地组合上述实施方式或变形例中登场的各要素。
附图标记说明
1：显示装置
10：显示面板
11：显示区域
11D：虚拟像素区域
15：温度传感器
21：发光元件
40：控制部
41：补偿部
42：比较部
43：监控控制部
44：补偿数据生成部
48：温度数据获取部
50：存储部
51：补偿数据
52：参考数据
DPX：虚拟像素
FMo1：第一高速监控电流值(第一高速监控测定值)
FMo2：第二高速监控电流值(第二高速监控测定值)
Mo：劣化监控电流值
PX：像素
Tm1：第一温度测定值(第一高速监控测定值)
Tm2：第二温度测定值(第二高速监控测定值)
VDa：影像信号
VC：补偿电压值(劣化监控测定值)
VDb：输入影像信号

Claims (8)

1.一种显示装置，其特征在于，具有：
显示面板，其具有一组像素；
控制部，所述控制部能够执行劣化监控和第一高速监控，所述劣化监控检测所述一组像素的发光效率的降低，所述第一高速监控以比所述劣化监控高的速度被执行，以判定是否应该进行所述劣化监控；以及
存储部，其存储对执行所述劣化监控的允许范围进行了确定的参考数据；
如果由所述第一高速监控得到的第一高速监控测定值在所述允许范围内，则所述控制部执行所述劣化监控。
2.根据权利要求l所述的显示装置，其特征在于，所述控制部在所述第一高速监控中，通过以比所述劣化监控少的次数测定所述一组像素的电流电压特性，从而取得所述第一高速监控测定值。
3.根据权利要求1或2所述的显示装置，其特征在于，还具有对图像的显示没有贡献的一组虚拟像素，所述控制部在所述第一高速监控中，通过测定所述一组虚拟像素的电流电压特性，从而取得所述第一高速监控测定值。
4.根据权利要求1至3的任意一项所述的显示装置，其特征在于，
所述显示面板具有温度传感器，
所述第一高速监控测定值是来自所述温度传感器的输出。
5.根据权利要求1至4的任意一项所述的显示装置，其特征在于，如果所述第一高速监控测定值在所述允许范围内，则所述控制部基于所述第一高速监控测定值，更新存储于所述存储部中的所述参考数据。
6.根据权利要求1至5的任意一项所述的显示装置，其特征在于，
所述存储部存储补偿所述一组像素的发光效率的降低的补偿数据，
所述控制部在执行了所述劣化监控后，基于执行所述劣化监控而得到的劣化监控测定值生成新的补偿数据，将存储于所述存储部的所述补偿数据更新为所述新的补偿数据。
7.根据权利要求1至6的任意一项所述的显示装置，其特征在于：
所述存储部存储补偿所述一组像素的发光效率的降低的补偿数据，
所述控制部进行如下动作：
在执行了所述劣化监控后，以比所述劣化监控高的速度来执行第二高速监控，用于基于执行所述劣化监控而得到的劣化监控测定值来生成补偿数据并判定是否存储于所述存储部；
如果由所述第二高速监控得到的第二高速监控测定值相对于所述第一高速监控测定值在规定范围内，则根据所述劣化监控测定值生成新的补偿数据，并将存储于所述存储部的所述补偿数据更新为所述新的补偿数据。
8.根据权利要求1至7的任意一项所述的显示装置，其特征在于，所述显示面板是有机EL显示面板或QLED显示面板。
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