CN117148030A - 晶振抽检装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及晶振测试技术领域，尤其涉及一种晶振抽检装置，包括：底座；载料机构，载料机构包括位置可调地安装于底座的载盘以及安装于载盘的侧部且供收集次品晶振的回收盒，晶振放置于载盘；测试机构，测试机构包括位置可调地安装于底座的第一移动板以及高度可调地安装于第一移动板的测试件；吸取机构，吸取机构包括位置可调地安装于底座的第二移动板以及高度可调地安装于第二移动板的吸取件。本发明提供一种晶振抽检装置，提高了对晶振的检测效率，节约了晶振的检测时间，提高了对晶振生产时的工序控制效果。

Description

晶振抽检装置

技术领域

本发明涉及晶振测试技术领域，尤其涉及一种晶振抽检装置。

背景技术

晶振是一种石英压电元件，晶振在生产后，需要对其进行电气性能检测，目前的检测手段是由后段测试设备进行整体产品检测，对上段工序生产的该批次产品无法及时监测，同时抽检方式为人工抽检，该方式抽检数量少且耗时，测试时间长效率低，不适合大批量抽检。

发明内容

本发明旨在至少解决相关技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提供一种晶振抽检装置，提高了对晶振的检测效率，节约了晶振的检测时间，提高了对晶振生产时的工序控制效果。

本发明提供一种晶振抽检装置，包括：

底座；

载料机构，所述载料机构包括位置可调地安装于所述底座的载盘以及安装于所述载盘的侧部且供收集次品晶振的回收盒，所述晶振放置于所述载盘；

测试机构，所述测试机构包括位置可调地安装于所述底座的第一移动板以及高度可调地安装于所述第一移动板的测试件，通过所述载盘沿所述底座的第一方向移动且所述第一移动板沿所述底座的第二方向移动，以使得所述测试件对应于所述载盘，进而所述测试件向下移动以检测所述晶振并判断为合格晶振或次品晶振；

吸取机构，所述吸取机构包括位置可调地安装于所述底座的第二移动板以及高度可调地安装于所述第二移动板的吸取件，通过所述第二移动板沿所述底座的第二方向移动，以带动所述吸取件对应于所述次品晶振，进而所述吸取件向下移动并吸取所述晶振，进而所述吸取件将所述次品晶振移动至回收盒。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，所述测试件包括连接于所述第一移动板的侧面且沿竖直向延伸的第一滑轨、滑设于所述第一滑轨的第一滑板、连接于所述第一滑板远离所述第一滑轨的侧面且沿竖直向延伸的第二滑轨、滑设于所述第二滑轨的第二滑板以及连接于所述第二滑板的探针，所述探针用于检测所述晶振。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，所述第二滑轨间隔设置有多个，所述第二滑板和所述第二滑轨一一对应设置，所述探针和所述第二滑板一一对应设置。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括开设有于所述第二滑板的第一限位孔以及穿设于所述第一限位孔的限位栓，所述第一滑板上开设有第二限位孔；

通过按压所述限位栓，以使得所述限位栓卡设于所述第二限位孔，以固定连接所述第一滑板和所述第二滑板。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，所述吸取件包括连接于所述第二移动板的侧面且沿竖直向延伸的第三滑轨、滑设于所述第三滑轨的第三滑板、连接于所述第三滑板远离所述第三滑轨的侧面且沿竖直向延伸的第四滑轨、滑设于所述第四滑轨的第四滑板以及连接于所述第四滑板的吸头，所述底座上设置有真空泵，所述吸头的第一端和所述真空泵连通，所述吸头的第二端用于吸取所述晶振。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括设置于所述载盘的侧部的料盘检测装置，所述料盘检测装置包括固定于所述底座的第一安装架以及设置于所述第一安装架的第一传感器，所述第一传感器用以检测所述载盘的位置。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括设置于所述底座且对应于所述测试件的校准机构，所述校准机构包括固定于所述底座的第二安装架、安装于所述第二安装架的校正板以及安装于所述第二安装架的标准晶振，通过所述测试件接通所述校正板，以校准所述测试件，进而所述测试件接通所述标准晶振以获得检测标准值。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括沿所述第一方向设置于所述底座的第一驱动机构，所述第一驱动机构包括设置于所述底座且沿所述第一方向延伸的第一导轨、安装于所述第一导轨的第一电机以及滑设于所述第一导轨且驱动连接于所述第一电机的托板，所述载盘可拆卸地安装于所述托板，所述回收盒连接于所述托板的侧部；

通过所述第一电机驱动所述托板沿所述第一导轨移动，以带动所述托板沿第一方向移动。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括：

固定于所述托板的侧部的壳体，所述壳体的侧部开设有第一开口，所述壳体的顶部开设有第二开口；

自所述第一开口滑设于所述壳体内的抽板，所述回收盒放置于所述抽板且位于所述壳体内，所述次品晶振能够自所述第二开口掉落至所述回收盒内；

旋拧于所述壳体的侧壁的限位旋钮，通过旋拧所述限位旋钮以对应于所述第一开口，以使得所述限位旋钮挡住所述抽板。

本发明晶振抽检装置的进一步改进在于，还包括沿所述第二方向设置于所述底座的第二驱动机构，所述第二驱动机构包括设置于所述底座且沿所述第二方向延伸的第二导轨、安装于所述第二导轨的第二电机以及滑设于所述第二导轨且驱动连接于所述第二电机的安装板，所述第一移动板和所述第二移动板连接于所述安装板的侧部且沿竖直向设置；

通过所述第二电机驱动所述安装板沿所述第二导轨移动，以带动所述第一移动板和所述第二移动板沿所述第二方向移动。

本发明晶振抽检装置通过将上一道工序生产的晶振放置在载盘上，通过移动载盘以将晶振移动至对应测试件和戏曲进的移动路径的位置，通过校准机构以校准测试件，进而通过测试件抽测放置于载盘上的晶振，当检测到次品晶振时，通过吸取件将次品晶振转移至回收盒进行回收，并根据抽测结果以方便调整上一道工序的生产参数，从而提高了晶振的合格率，且该方式为全自动检测方式，能够对每一道工序生产后的晶振进行检测，提高了晶振的生产效率，且全自动检测方式大幅度提高了晶振的检测效率，从而提高了晶振的生产效率。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明晶振抽检装置的示意图一。

图2是本发明晶振抽检装置的示意图二，其中省略了底座。

图3是本发明晶振抽检装置中第二驱动机构、测试机构和吸取机构的示意图。

图4是本发明晶振抽检装置中测试机构的示意图一。

图5是本发明晶振抽检装置中测试机构的示意图二。

图6是本发明晶振抽检装置中吸取机构的示意图一。

图7是本发明晶振抽检装置中吸取机构的示意图二。

图8是本发明晶振抽检装置中第一驱动机构和载料机构的示意图。

图9是本发明晶振抽检装置中校准机构的示意图。

附图标记：

1、第二驱动机构；11、第二导轨；12、第二电机；13、安装板；14、第一支撑板；15、拱形板；16、第二支撑板；

2、测试机构；21、第一移动板；211、第一位置传感器；212、第一固定板；213、第一滑轨；214、第一限位螺母；

22、第一滑板；221、第一条形孔；222、第二滑轨；223、第一滑动块；

23、第二滑板；231、第二滑动块；232、限位栓；233、第三固定板；24、探针；25、第三电机；251、第一曲轴；26、第二位置传感器；261、第二固定板；

3、吸取机构；31、第二移动板；311、第三位置传感器；312、第四固定板；313、第一固定杆；314、第一弹簧；315、第三滑轨；

32、第三滑板；321、第二条形孔；322、第二固定杆；323、第二弹簧；324、第三滑动块；325、第四滑轨；

33、第四滑板；331、第四滑动块；34、吸头；35、第四电机；351、第二曲轴；352、第二限位螺母；36、真空泵；

4、第一驱动机构；41、第一导轨；42、第一电机；43、托板；

5、载料机构；51、载盘；52、壳体；521、第二开口；53、抽板；54、限位旋钮；55、回收盒；

6、料盘检测装置；61、第一安装架；62、第一传感器；

7、校准机构；71、第二安装架；72、第三支撑板；73、校正板；74、容纳槽；

8、底座；

9、箱体；91、支腿；92、滚轮；93、控制器。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。以下实施例用于说明本发明，但不能用来限制本发明的范围。

在本发明实施例的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明实施例的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明实施例中的具体含义。

在本发明实施例中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明实施例的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

下面结合图1和图2描述本发明的一种晶振抽检装置，包括：

底座8；

载料机构5，载料机构5包括位置可调地安装于底座8的载盘51以及安装于载盘51的侧部且供收集次品晶振的回收盒55，晶振放置于载盘51；

测试机构2，测试机构2包括位置可调地安装于底座8的第一移动板21以及高度可调地安装于第一移动板21的测试件，通过载盘51沿底座8的第一方向移动且第一移动板21沿底座8的第二方向移动，以使得测试件对应于载盘51，进而测试件向下移动以检测晶振并判断为合格晶振或次品晶振；

吸取机构3，吸取机构3包括位置可调地安装于底座8的第二移动板31以及高度可调地安装于第二移动板31的吸取件，通过第二移动板31沿底座8的第二方向移动，以带动吸取件对应于次品晶振，进而吸取件向下移动并吸取晶振，进而吸取件将次品晶振移动至回收盒55。

本发明晶振抽检装置的一种较佳实施案例为，如图4和图5所示，测试件包括连接于第一移动板21的侧面且沿竖直向延伸的第一滑轨213、滑设于第一滑轨213的第一滑板22、连接于第一滑板22远离第一滑轨213的侧面且沿竖直向延伸的第二滑轨222、滑设于第二滑轨222的第二滑板23以及连接于第二滑板23的探针24，探针24用于检测晶振。

具体地，如图4和图5所示，第一滑轨213的横截面呈工字型，第一滑轨213上滑设有第一滑动块223，第一滑动块223的横截面呈C型，第一滑板22固定于第一滑动块223，通过第一滑动块223沿第一滑轨213移动，以带动第一滑板22移动，且避免了第一滑动块223与第一滑轨213脱离。

具体地，如图4和图5所示，第二滑轨222的横截面呈工字型，第二滑轨222上滑设有第二滑动块231，第二滑动块231的横截面呈C型，第二滑板23固定于第二滑动块231，通过第二滑动块231沿第二滑轨222移动，以带动第二滑板23移动，且避免了第二滑动块231与第二滑轨222脱离。

具体地，如图4和图5所示，第二滑轨222间隔设置有多个，第二滑板23和第二滑轨222一一对应设置，探针24和第二滑板23一一对应设置。

具体地，如图4和图5所示，还包括开设于第二滑板23的第一限位孔以及穿设于第一限位孔的限位栓232，第一滑板22上开设有第二限位孔；

通过按压限位栓232，以使得限位栓232卡设于第二限位孔，以固定连接第一滑板22和第二滑板23。

较佳地，第二限位孔沿高度方向间隔开设有多个，通过限位栓232卡设于不同的第二限位孔，以调节第二滑板23相对于第一滑板22的高度。

具体地，如图4和图5所示，第一滑板22的侧部固定有第二位置传感器26，第二滑板23的侧部固定有第二固定板261，通过第二位置传感器26识别第二固定板261的位置，以识别第二滑板23相对于第一滑板22的高度。

具体地，如图4和图5所示，第二滑板23上固定有呈水平状的第三固定板233，探针24固定于第三固定板233。

较佳地，第二滑板23间隔设置有三个，探针24对应设置有三个，在一种具体实施案例中，探针24分别用于测量不同规格的晶振，当需要测量对应规格的晶振时，通过拉动限位栓232，以使得限位栓232脱离于第二限位孔，从而第二滑动块231沿第二滑轨222进行滑动，以使得第二滑板23位于第一滑板22的指定高度处，进而按压限位栓232，以使得限位栓232卡设于对应的第二限位孔，以固定连接第一滑板22和第二滑板23，进而通过第三电机25以带动第一滑板22沿高度方向移动，从而带动探针24沿高度方向移动。

进一步地，如图3所示，还包括沿第二方向设置于底座8的第二驱动机构1，第二驱动机构1包括设置于底座8且沿第二方向延伸的第二导轨11、安装于第二导轨11的第二电机12以及滑设于第二导轨11且驱动连接于第二电机12的安装板13，第一移动板21和第二移动板31连接于安装板13的侧部且沿竖直向设置；

通过第二电机12驱动安装板13沿第二导轨11移动，以带动第一移动板21和第二移动板31沿第二方向移动。

具体地，如图3所示，底座8的顶面还固定有第一支撑板14,第一支撑板14对应第二导轨11的位置开设有孔洞，第二导轨11穿设于孔洞，第一支撑板14的顶部固定有呈拱形的拱形板15，安装板13的侧部还固定有与第一支撑板14对应设置的第二支撑板16,第二支撑板16远离吸取机构3的侧部设置有真空泵36，吸头34与真空泵36连通。

具体地，如图3、图4和图5所示，安装板13的顶部固定有第三电机25，第三电机25具有可旋转的第一曲轴251，第一移动板21上开设有第一通孔，第一曲轴251穿设于第一移动板21。

具体地，如图4和图5所示，第一滑板22对应第一曲轴251的位置开设有沿水平向延伸的第一条形孔221，第一曲轴251穿设于第一条形孔221，第一曲轴251的端部螺合有第一限位螺母214，以避免第一滑板22和第一曲轴251错位，通过第一曲轴251转动，以使得第一曲轴251沿第一条形孔221转动，并带动第一滑板22沿第一滑轨213上下滑动。

具体地，如图4和图5所示，第一移动板21的侧部固定有第一位置传感器211，第一滑板22的侧部固定有第一固定板212，通过第一位置传感器211识别第一固定板212的位置，以识别第一滑板22的移动高度。

进一步地，如图6和图7所示，吸取件包括连接于第二移动板31的侧面且沿竖直向延伸的第三滑轨315、滑设于第三滑轨315的第三滑板32、连接于第三滑板32远离第三滑轨315的侧面且沿竖直向延伸的第四滑轨325、滑设于第四滑轨325的第四滑板33以及连接于第四滑板33的吸头34，底座8上设置有真空泵36，吸头34的第一端和真空泵36连通，吸头34的第二端用于吸取晶振。

具体地，如图6和图7所示，第三滑轨315的横截面呈工字型，第三滑轨315上滑设有第三滑动块324，第三滑动块324的横截面呈C型，第三滑板32固定于第三滑动块324，通过第三滑动块324沿第三滑轨315移动，以带动第三滑板32移动，且避免了第三滑动块324与第三滑轨315脱离。

具体地，如图6和图7所示，第四滑轨325的横截面呈工字型，第四滑轨325上滑设有第四滑动块331，第四滑动块331的横截面呈C型，第四滑板33固定于第四滑动块331，通过第四滑动块331沿第四滑轨325移动，以带动第四滑板33移动，且避免了第四滑动块331与第四滑轨325脱离。

具体地，如图3、图6和图7所示，安装板13的顶部固定有第四电机35，第四电机35具有可旋转的第二曲轴351，第二移动板31上开设有第二通孔，第二曲轴351穿设于第二移动板31。

具体地，如图6和图7所示，第三滑板32对应第二曲轴351的位置开设有沿水平向延伸的第二条形孔321，第二曲轴351穿设于第二条形孔321，第二曲轴351的端部螺合有第二限位螺母352，以避免第三滑板32和第二曲轴351错位，通过第二曲轴351转动，以使得第二曲轴351沿第二条形孔321转动，并带动第三滑板32沿第三滑轨315上下滑动。

具体地，如图6和图7所示，第二移动板31的侧部固定有第三位置传感器311，第三滑板32的侧部固定有第四固定板312，通过第三位置传感器311识别第四固定板312的位置，以识别第三滑板32的移动高度。

具体地，如图6和图7所示，第二移动板31的侧部固定有第一固定杆313，第一固定杆313上开设有第一固定孔，第三滑板32的侧部固定有第二固定杆322，第二固定杆322上开设有第二固定孔，第一固定孔和第二固定孔之间设置有第一弹簧314，以提供第三滑板32相对于第二移动板31滑动时的缓冲作用力，提高了第三滑板32移动时的稳定性。

具体地，如图6和图7所示，第四滑板33的侧部设置有第四固定块，第四固定块上固定有第二弹簧323，第二弹簧323的外侧套设有套筒，通过第三滑板32沿第三滑轨315移动，以带动吸头34对应于晶振，并使得第四滑板33沿第四滑轨325向上滑动并压缩第二弹簧323，同时第二弹簧323发生回弹，以向下推顶第四滑板33，并使得吸头34能吸住晶振，且第二弹簧323提供了吸头34缓冲作用力，避免吸头34将晶振压碎。

进一步地，如图8所示，还包括设置于载盘51的侧部的料盘检测装置6，该料盘检测装置6包括固定于底座8的第一安装架61以及设置于第一安装架61的第一传感器62，第一传感器62用以检测载盘51的位置。

进一步地，如图2和图8所示，还包括沿第一方向设置于底座8的第一驱动机构4，第一驱动机构4包括设置于底座8且沿第一方向延伸的第一导轨41、安装于第一导轨41的第一电机42以及滑设于第一导轨41且驱动连接于第一电机42的托板43，载盘51可拆卸地安装于托板43，回收盒55连接于托板43的侧部；

通过第一电机42驱动托板43沿第一导轨41移动，以带动托板43沿第一方向移动。

较佳地，托板43上开设有卡槽，载盘51上设置于卡柱，通过卡柱卡设于卡槽内，以连接载盘51和托板43，通过第一传感器62感应载盘51的水平度和位置，以避免载盘51发生倾斜，避免晶振在随托板43移动过程中掉落。

进一步地，如图2和图9所示，还包括设置于底座8且对应于测试件的校准机构7，校准机构7包括固定于底座8的第二安装架71、安装于第二安装架71的校正板73以及安装于第二安装架71的标准晶振，通过测试件接通校正板73，以校准测试件，进而测试件接通标准晶振以获得检测标准值。

较佳地，第二安装架71的侧部设置有第三支撑板72，校正板73设置于承接板的顶部且设置有两个，分别为0欧姆校正板和50欧姆校正板。

较佳地，第三支撑板72上设置有三个标准板，标准板的中间开设有容纳槽74，标准晶振放置于容纳槽74内。

进一步地，如图2和图8所示，还包括：

固定于托板43的侧部的壳体52，壳体52的侧部开设有第一开口，壳体52的顶部开设有第二开口521；

自第一开口滑设于壳体52内的抽板53，回收盒55放置于抽板53且位于壳体52内，次品晶振能够自第二开口521掉落至回收盒55内；

旋拧于壳体52的侧壁的限位旋钮54，通过旋拧限位旋钮54以对应于第一开口，以使得限位旋钮54挡住抽板53。

较佳地，回收盒55间隔设置有多个，第二开口521间隔开设有多个，多个回收盒55方便收集不同规格的晶振。

进一步地，如图1所示，底座8的底部设置有箱体9，该箱体9内设置有控制模块，底座8的顶部设置有盖体，盖体上设置有控制器93，控制器93和控制模块连接，控制模块与第一驱动机构4、第二驱动机构1、载料机构5、测试机构2以及吸取机构3连接，通过控制器93以给控制模块传输控制指令，进而控制模块控制第一驱动机构4、第二驱动机构1、载料机构5、测试机构2以及吸取机构3对晶振进行测试。

较佳地，该箱体9内还设有数据处理模块，该数据处理模块与第一驱动机构4、第二驱动机构1、载料机构5、测试机构2以及吸取机构3连接，以识别放置于载盘51的晶振的合格率，并根据该合格率指导生产。

较佳地，箱体9的底部设置有高度可变的支腿91以及滚轮92，通过推动箱体9以将该晶振抽检装置移动至对应待测工序的位置，进而支腿91伸长，以将该晶振抽检装置固定。

本发明晶振抽检装置的一种具体实施案例中，推动箱体9以将该晶振抽检装置移动至对应待测工序的位置，进而支腿91伸长，以将该晶振抽检装置固定；

工人取出部分晶振放置于载盘51上，并根据晶振的规格选取对应的探针24，并将限位栓232穿设于对应的第二限位孔，将对应该规格的标准晶振放置于容纳槽74内，进而通过控制器93以启动该晶振抽检装置进行工作；

第一电机42驱动托板43沿第一导轨41移动，同时第一传感器62检测经过的载盘51的位置，当载盘51的卡柱完全卡设于卡槽内时，托板43继续沿第一导轨41移动，当载盘51的卡柱未卡设于卡槽内导致载盘51发生倾斜时，第一传感器62传递给控制模块信号，控制模块控制第一电机42停止，进而工人调整载盘51的位置并通过控制器93重新启动该晶振抽检装置，以带动载盘51移动至对应探针24的行进路径的位置；

第二电机12驱动安装板13沿第二导轨11移动板，以带动探针24对应于校正板73的位置，进而第三电机25驱动第一滑板22沿第一滑轨213向下移动，以带动探针24向下移动并接触校正板73进行校正，进而第三电机25驱动第一滑板22沿第一滑轨213向上移动，第二电机12驱动安装板13沿第二导轨11移动，以带动探针24对应于标准晶振的位置，进而第三电机25驱动第一滑板22沿第一滑轨213向下移动，以使得探针24接触标准晶振并获取该规格下的检测标准值；

第三电机25驱动第一滑板22沿第一滑轨213向上移动，第二电机12驱动安装板13沿第二导轨11移动，以带动探针24对应于载盘51上的晶振，并对位于载盘51的晶振进行检测，当检测的数值与检测标准值之间的差值在设定范围内时，该晶体为合格晶体，当检测的数值与检测标准值之间的差值大于设定范围时，判定该晶振为次品晶振，进而第二电机12驱动安装板13沿第二导轨11移动，以带动吸头34对应于次品晶振的位置，进而第三滑板32沿第三滑轨315移动，以带动吸头34对应于晶振并吸住晶振，进而第二电机12驱动安装板13沿第二导轨11移动，以带动吸头34对应于待收集该规格的回收盒55的位置，并将该次品晶振放置于回收盒55内，重复该步骤以检测位于载盘51上的所有晶振；

数据处理装置根据上述探针24检测的晶振的数值，以计算得出位于载盘51上的晶振的合格率，并在控制器93上显示测量的晶振的数值以及合格率，工人根据该控制器93的内容以指导晶振生产。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种晶振抽检装置，其特征在于，包括：

底座；

载料机构，所述载料机构包括位置可调地安装于所述底座的载盘以及安装于所述载盘的侧部且供收集次品晶振的回收盒，所述晶振放置于所述载盘；

测试机构，所述测试机构包括位置可调地安装于所述底座的第一移动板以及高度可调地安装于所述第一移动板的测试件，通过所述载盘沿所述底座的第一方向移动且所述第一移动板沿所述底座的第二方向移动，以使得所述测试件对应于所述载盘，进而所述测试件向下移动以检测所述晶振并判断为合格晶振或次品晶振；

吸取机构，所述吸取机构包括位置可调地安装于所述底座的第二移动板以及高度可调地安装于所述第二移动板的吸取件，通过所述第二移动板沿所述底座的第二方向移动，以带动所述吸取件对应于所述次品晶振，进而所述吸取件向下移动并吸取所述晶振，进而所述吸取件将所述次品晶振移动至回收盒。

2.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，所述测试件包括连接于所述第一移动板的侧面且沿竖直向延伸的第一滑轨、滑设于所述第一滑轨的第一滑板、连接于所述第一滑板远离所述第一滑轨的侧面且沿竖直向延伸的第二滑轨、滑设于所述第二滑轨的第二滑板以及连接于所述第二滑板的探针，所述探针用于检测所述晶振。

3.根据权利要求2所述的晶振抽检装置，其特征在于，所述第二滑轨间隔设置有多个，所述第二滑板和所述第二滑轨一一对应设置，所述探针和所述第二滑板一一对应设置。

4.根据权利要求3所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括开设于所述第二滑板的第一限位孔以及穿设于所述第一限位孔的限位栓，所述第一滑板上开设有第二限位孔；

通过按压所述限位栓，以使得所述限位栓卡设于所述第二限位孔，以固定连接所述第一滑板和所述第二滑板。

5.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，所述吸取件包括连接于所述第二移动板的侧面且沿竖直向延伸的第三滑轨、滑设于所述第三滑轨的第三滑板、连接于所述第三滑板远离所述第三滑轨的侧面且沿竖直向延伸的第四滑轨、滑设于所述第四滑轨的第四滑板以及连接于所述第四滑板的吸头，所述底座上设置有真空泵，所述吸头的第一端和所述真空泵连通，所述吸头的第二端用于吸取所述晶振。

6.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括设置于所述载盘的侧部的料盘检测装置，所述料盘检测装置包括固定于所述底座的第一安装架以及设置于所述第一安装架的第一传感器，所述第一传感器用以检测所述载盘的位置。

7.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括设置于所述底座且对应于所述测试件的校准机构，所述校准机构包括固定于所述底座的第二安装架、安装于所述第二安装架的校正板以及安装于所述第二安装架的标准晶振，通过所述测试件接通所述校正板，以校准所述测试件，进而所述测试件接通所述标准晶振以获得检测标准值。

8.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括沿所述第一方向设置于所述底座的第一驱动机构，所述第一驱动机构包括设置于所述底座且沿所述第一方向延伸的第一导轨、安装于所述第一导轨的第一电机以及滑设于所述第一导轨且驱动连接于所述第一电机的托板，所述载盘可拆卸地安装于所述托板，所述回收盒连接于所述托板的侧部；

通过所述第一电机驱动所述托板沿所述第一导轨移动，以带动所述托板沿第一方向移动。

9.根据权利要求8所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括：

固定于所述托板的侧部的壳体，所述壳体的侧部开设有第一开口，所述壳体的顶部开设有第二开口；

自所述第一开口滑设于所述壳体内的抽板，所述回收盒放置于所述抽板且位于所述壳体内，所述次品晶振能够自所述第二开口掉落至所述回收盒内；

旋拧于所述壳体的侧壁的限位旋钮，通过旋拧所述限位旋钮以对应于所述第一开口，以使得所述限位旋钮挡住所述抽板。

10.根据权利要求1所述的晶振抽检装置，其特征在于，还包括沿所述第二方向设置于所述底座的第二驱动机构，所述第二驱动机构包括设置于所述底座且沿所述第二方向延伸的第二导轨、安装于所述第二导轨的第二电机以及滑设于所述第二导轨且驱动连接于所述第二电机的安装板，所述第一移动板和所述第二移动板连接于所述安装板的侧部且沿竖直向设置；

通过所述第二电机驱动所述安装板沿所述第二导轨移动，以带动所述第一移动板和所述第二移动板沿所述第二方向移动。