CN116997801A - 输送装置以及检体分析系统 - Google Patents

Abstract

本发明准确地判定被输送体的输送速度降低的原因。输送装置具备：输送板，其能够沿着输送面输送被输送体；磁路部，其被配置在所述输送板的所述输送面的相反侧，并具有卷绕于齿的周围的绕组；位置检测部，其检测所述被输送体的位置；电流检测部，其检测所述绕组的电流；数据存储部，其存储表示所述输送板的输送面上的位置、流过所述绕组的电流和施加于所述被输送体的力的关系的数据；异常判定部，其基于由所述位置检测部检测出的位置、由所述电流检测部检测出的电流和所述数据，判定包含所述输送面的劣化或异常的与所述被输送体的输送相关的异常。

Description

输送装置以及检体分析系统

技术领域

本发明涉及进行血液、尿等生物体试样(以下称为“检体”)的分析的检体分析系统、或者在进行用于分析的预处理的检体预处理装置中使用的输送装置、以及具备这样的输送装置的检体分析系统。

背景技术

在检体分析系统和检体预处理装置中设置有用于输送检体的输送装置。在专利文献1中公开了这样的输送装置。专利文献1的输送装置具备多个容器载体。每个容器载体包含至少一个磁活性器件(优选至少一个永磁体)，用于输送包含生物试样的检体容器。输送装置包含适合于输送多个容器载体的输送平面和被配置在输送平面的下方的若干个电磁致动器。

电磁致动器适合于通过对容器载体施加磁力而使配设在输送平面上的容器载体移动。电磁致动器在控制设备的控制下，通过驱动容器载体，能够控制容器载体在输送平面上的移动。控制设备执行移动控制，使得三个以上的容器载体能够同时且相互独立地在输送平面上移动。

为了进行迅速的检体的检查，期望一种能够高速且大量地输送容器载体，且容器载体的停止少，能够迅速地修复错误的输送装置。现有的检体输送装置如专利文献1所记载的那样，搭载有用于检测检体输送的异常的功能。

在上述的专利文献1的装置中，通过对按照时间表的检体容器的位置与检测到的实际的检体容器的位置进行比较，例如检测基于由输送平面的污渍引起的摩擦的增加的、输送速度的缓慢的降低。在检测到缓慢的输送速度的降低的情况下，控制设备进行使由电磁致动器生成的磁力增加的控制，或者显示表示输送速度低于给定的阈值的错误消息。

然而，在现有的输送装置中，即使在检测到输送速度的降低的情况下，也难以准确地判定其原因。具体而言，难以判断输送速度的降低是由在输送平面产生的劣化或异常(污渍、损伤等)引起的，还是由于其他某些状况的变化而作用于检体容器的推力降低引起的。因此，期望提供一种能够判定输送速度降低的原因的输送装置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特表2015-502525号公报

发明内容

发明所要解决的课题

本发明提供能够准确地判定被输送体的输送速度降低的原因的输送装置以及检体分析系统。

用于解决课题的手段

本发明的输送装置具备：输送板，其能够沿着输送面输送被输送体；磁路部，其被配置在所述输送板的所述输送面相反侧，并具有卷绕于齿的周围的绕组；位置检测部，其检测所述被输送体的位置；电流检测部，其检测所述绕组的电流；数据存储部，其存储表示所述输送板的输送面上的位置、流过所述绕组的电流和施加于所述被输送体的力的关系的数据；异常判定部，其基于由所述位置检测部检测出的位置、由所述电流检测部检测出的电流和所述数据，判定包含所述输送面的劣化或异常的与所述被输送体的输送相关的异常。

发明效果

根据本发明，能够提供能够准确地判定被输送体的输送速度降低的原因的输送装置以及检体分析系统。

附图说明

图1是说明第一实施方式的检体分析系统100的概略图。

图2是说明第一实施方式的检体预处理装置150和检体分析系统200的概略图。

图3是表示第一实施方式的检体分析系统100、200以及检体预处理装置150中包含的输送装置102的结构的一例的立体图。

图4是示意性地表示输送装置102的截面构造的剖视图。

图5是说明在输送装置102中被输送体10从齿受到的力的概略图。

图6是说明在输送装置102中被输送体10从齿受到的力的概略图。

图7是表示推力61基于输送板15上的位置的变化的例子的图表。

图8是表示垂直力62基于输送板15上的位置的变化的例子的图表。

图9是说明第一实施方式的检体分析系统100的动作的流程图。

图10是在第二实施方式的检体分析系统中使用的、被输送体10与输送板15的输送面之间的垂直方向的距离Dg(间隙Dg)的大小的变化所引起的垂直力62的变化的图表。

图11是说明第三实施方式的检体分析系统100的概略图。

具体实施方式

以下，参照附图对本实施方式进行说明。在附图中，功能上相同的要素有时以相同的编号显示。此外，附图示出了按照本公开的原理的实施方式和安装例，但它们用于本公开的理解，绝不是用于限定性地解释本公开。本说明书的记述只不过是典型的例示，在任何意义上并不限定本公开的请求专利保护的范围或应用例。

在本实施方式中，对为了本领域技术人员实施本公开进行了充分详细的说明，但需要理解为也能够通过其他的安装/方式在不脱离本公开的技术思想的范围和精神的情况下进行结构/构造的变更或多种要素的置换。因此，不应将以下的记述限定解释于此。

[第一实施方式]

参照图1和图2说明第一实施方式的检体分析系统100。参照图1对检体分析系统100的整体结构进行说明，接着，参照图2对检体预处理装置150进行说明。

如图1所示，检体分析系统100是向反应容器分别分注检体和试剂并使其进行反应，来测定该反应后的液体的装置，具备：搬入部101、输送装置102(输送线)、收纳部103、缓冲器104、分析部105、紧急托架投入口113、显示部118、运算控制部120、数据库130以及驱动器140。

搬入部101是设置收纳有多个收容血液、尿等生物试样的检体容器122的检体托架111的装置。输送装置102是输送被设置在搬入部101的检体托架111的输送线路，通过控制磁路，能够输送具有永磁体或磁性体的检体托架111。其结构的详细情况将予以后述。紧急托架投入口113是用于将对搭载了标准液的检体托架(载体支架)或收容了需要紧急分析的检体的检体容器122进行收纳的检体托架111投入到分析部105内的投入口，并被设置于输送装置102。收纳部103是对检体托架111进行收纳的装置，该检体托架111收容有对由分析部105分析结束后的检体进行保持的检体容器122。此外，一个检体托架111能够保持的检体容器122的数量不限于特定数量。

缓冲器104是用于以能够变更检体托架111中的检体的分注顺序方式保持由输送装置102输送的多个检体托架111的装置。分析部105分析从缓冲器104经由输送线106输送的检体容器122中收容的检体。具体而言，作为一例，分析部105由输送线106、检体分注喷嘴107、反应盘108、试剂盘110、试剂分注喷嘴109、清洗机构112、试剂托盘114、试剂ID读取器115、试剂装载器116、分光光度计121等构成。

输送线106是将缓冲器104中的检体托架111搬入分析部105的输送路径。检体分注喷嘴107构成为能够以旋转轴为中心旋转并且也能够在上下方向上移动，并构成为从由输送线106输送的检体容器122向反应盘108的反应容器分注检体。反应盘108具备用于分注检体和试剂并使其进行反应的多个反应容器。

试剂盘110是用于架设多个试剂容器的构成为能够旋转的圆盘状的容器收容部。试剂分注喷嘴109是用于从试剂盘110内的试剂容器向反应盘108的反应容器分注试剂的喷嘴。清洗机构112清洗反应盘108的反应容器。分光光度计121通过测定从光源(省略图示)经由反应容器的反应液而得到的透过光，来测定反应容器中的反应液的吸光度。

试剂托盘114是在进行向检体分析系统100内的试剂注册的情况下用于设置试剂的托盘。试剂ID读取器115是用于读取被设置于试剂托盘114的试剂所附带的试剂ID而取得试剂信息的读取装置。试剂装载器116是将试剂搬入到试剂盘110的设备。显示部118是用于显示血液、尿等液体试样中的规定成分的浓度的分析结果的显示设备。运算控制部120由计算机等构成，经由驱动器140等控制检体分析系统100内的各机构的动作，并且进行求出血液、尿等检体中的规定成分的浓度的运算处理。进而，运算控制部120按照各种数据，检测在输送装置102的输送面产生的异常、由输送装置102输送的检体托架111的输送速度的降低等。数据库130是存储用于这样的检测的数据的数据库。

检体分析系统100对检体的分析处理一般按照以下的顺序执行。首先，检体托架111被设置于搬入部101或者紧急托架投入口113，通过输送装置102搬入到能够进行随机访问的缓冲器104。检体分析系统100从储存在缓冲器104中的检体托架111中按照优先顺序的规则，通过输送线106将优先顺序最高的检体托架111搬入分析部105。

到达分析部105的检体托架111进一步通过输送线106被移送至反应盘108附近的检体分取位置。收纳于检体托架111的检体容器122中的检体被检体分注喷嘴107吸引，并排出到反应盘108的反应容器。检体通过检体分注喷嘴107并根据该检体被委托的分析项目而吸引/排出(分取)所需要的次数。

在针对检体托架111中的所有检体容器122的分取处理结束时，检体托架111再次被输送到缓冲器104。包含自动再检在内全部的检体分取处理结束后的检体托架111通过输送线106以及输送装置102被移送到收纳部103。

被用于分析的试剂从试剂盘110上的试剂容器通过试剂分注喷嘴109被分取到先前已分取了检体的反应容器。当向反应容器注入检体和试剂时，通过未图示的搅拌机构搅拌反应容器内的检体与试剂的混合液。之后，从分光光度计121向搅拌后的混合液照射测定光。透过混合液的光被分光光度计121的受光器受光，按照其输出信号，执行与混合液有关的测定。受光器的输出信号经由未图示的A/D转换器和接口发送到运算控制部120。然后，由运算控制部120进行运算，求出检体的规定成分的浓度，并将其结果显示于显示部118等，或存储于存储部(省略图示)。

此外，图1的检体分析系统100的结构是一例，图1的结构要素可以适当变更为其他要素，或者删除一部分结构要素，或者追加其他要素。分析部105不限于生物化学分析用，也可以用于免疫分析。另外，分析部105无需为一个，可以具备两个以上。在该情况下，也能够通过输送装置102连接在分析部105与搬入部101之间，从搬入部101输送检体托架111。

接着，使用图2说明检体预处理装置150的整体结构。图2是概略地表示检体预处理装置150的整体结构的图。

检体预处理装置150是执行检体分析系统100中的分析所需的各种预处理的装置。作为一例，该检体预处理装置150从图2中的左侧朝向右侧具备闭栓单元152、检体收纳单元153、空支架储存器154、检体投入单元155、离心分离单元156、液量测定单元157、开栓单元158、子检体容器准备单元159、分注单元160、移载单元161的多个单元来作为基本要素。另外，作为控制这些多个单元的动作的控制部，具备操作部PC163。由检体预处理装置150处理后的检体被输送到检体分析系统100。

检体投入单元155是用于将收容有检体的检体容器122投入检体预处理装置150内的单元。离心分离单元156是对投入的检体容器122实施离心分离处理的单元。液量测定单元157是测定被收容在检体容器122中的检体的液量的单元。开栓单元158是对被投入的检体容器122进行开栓的单元。子检体容器准备单元159是进行为了在接下来的分注单元160中分注被投入的检体容器122中收容的检体所需的准备的单元。

分注单元160是为了在检体分析系统100中分析离心分离后的检体而进行细分，并且在细分后的检体容器122、子检体容器上粘贴条形码等的单元。移载单元161是进行分注的子检体容器的分类，进行向检体分析系统的移送准备的单元。闭栓单元152是将检体容器122、子检体容器闭栓的单元。检体收纳单元153是收纳被闭栓的检体容器122的单元。

作为在这些单元之间、检体预处理装置150与检体分析系统100之间输送保持检体容器122的检体托架111的机构，设置有输送装置102。此外，检体预处理装置150不需要具备上述的全部结构，可以进一步追加单元，或者删除一部分单元、一部分结构。

本实施方式的检体分析系统也可以是由如图2所示的检体预处理装置150和检体分析系统100构成的检体分析系统200。检体预处理装置150单体也是检体分析系统的一部分，因此检体预处理装置150单体也构成检体分析系统，能够将输送装置102包含在检体预处理装置的内部。在检体分析系统200中，不仅是检体预处理装置150和检体分析系统100各自的内部，也能够通过输送装置102连接两者之间，输送检体容器122。

本实施方式的检体分析系统100、检体分析系统200以及检体预处理装置150具备所述的输送装置102，由此能够高效地将检体容器122输送至输送目的地，能够缩短直至获得分析结果为止的时间。另外，输送故障也少，能够减轻检查技师的负担。

图3的立体图表示第一实施方式的检体分析系统100、200以及检体预处理装置150中包含的输送装置102的结构的一例。该输送装置102大致由输送板15、绕组30和磁轭40构成。

输送板15是其上表面为平滑的平面状的输送面的平板，包含磁性体或永磁体的被输送体10(例如检体容器122)能够在其上表面(输送面)滑动。绕组30卷绕在由磁性体构成的齿(未图示)的周围。齿在输送装置102的输送板15的下部(-Z方向)与由磁性体构成的磁轭40磁耦合。绕组30和齿构成产生用于输送被输送体10的磁通的磁路部。

绕组30与齿一起在输送板15的下表面侧沿X方向和Y方向排列。绕组30以及齿无需在X方向以及Y方向上平行地排列。沿着被输送体10的输送方向排列绕组30和齿，通过与配置于其下部的磁轭40的磁耦合，能够使被输送体10沿着输送板15的上表面滑动。通过使电流流过绕组30，在齿产生的磁通和被输送体10的永磁体、磁性体产生的磁通作用，产生被输送体10的推力。此外，被输送体10可以通过磁性体、非磁性体的罩等覆盖永磁体，只要能够在齿与被输送体10之间相对地产生力即可。在各绕组30连接有用于使电流流过绕组30的驱动电路(未图示)。

另外，通过利用滑动性良好的树脂等覆盖被输送体10，能够减小被输送体10与输送板15之间的摩擦力。另外，在被输送体10中，通过减小与输送板15接触的一侧的面积，例如设置凹部，能够减小摩擦力，能够实现稳定的输送、提高输送面的异常检测的灵敏度。

图3所示的输送装置102具备位置检测部51和电流检测部52。位置检测部51是检测被输送体10在输送板15上的位置的检测装置。作为一例，位置检测部51可以由通过磁的变化来检测被输送体10的移动的霍尔元件、探测线圈、测长仪、激光位移计、照相机等构成。只要能够检测被输送体10与各绕组30(齿)的相对位置关系，位置检测部51就不限定于特定的方式。

另外，电流检测部52是检测流过绕组30的电流和其时刻(timing)的装置。作为一例，电流检测部52可以是基于分流电阻的检测、CT式、PT式中的任一种，并不限定于特定的结构。

图4示意性地示出图3所示的输送装置102的XZ平面中的截面构造，并且图示了被输送体10沿X方向输送时的磁通的关系。表示被输送体10的永磁体或磁性体所形成的磁通11、卷绕于行进方向的前方(X方向)的齿的绕组30所形成的磁通21。通过这些磁通11、磁通21的相互作用，沿X方向输送被输送体10。此时，被输送体10通过作用于被输送体10的推力(X方向的力)而移动。

在此，参照图5对在某区间中被输送体10从齿受到的力进行说明。图5是在图4的示意图中将被输送体10沿X方向输送的示意性的图，记载了被输送体10从位置A向位置A’移动的期间的被输送体10受到的力。在被输送体10位于位置A时，使电流流过处于被输送体10的行进方向的位置A’的正下方的绕组30，使卷绕有该绕组30的齿产生磁通21。该齿的磁通21与被输送体10的磁通11相互作用，被输送体10在产生磁通21的齿的方向(X方向)上移动。

此时，如图6所示，被输送体10产生的力被分为使被输送体10沿着输送板15的表面(输送面)在X方向上移动的推力61和-Z方向的垂直力62。垂直力62一般与推力61相等或者比推力61大，能够成为非常大的力。将由该垂直力62和被输送体10的自重(质量)产生的重力所合成的力在垂直方向上作用于被输送体10。其结果是，在被输送体10要向X方向移动时，产生与该垂直方向的合成力成比例的力作为摩擦力63。摩擦力63具有对被输送体10与输送板15的表面之间的摩擦系数μ乘以上述的合成力而得到的值。即，使被输送体10沿X方向移动的有效的力是从推力61减去摩擦力63而得到的力。

作用于被输送体10的推力61和垂直力62能够通过基于磁场解析的模拟来计算。图7的图表表示位置A-A'之间的推力61基于位置的变化的例子，图8的图表表示垂直力62基于位置的变化的例子。在此，作为例子，横轴表示区间A-A'，位置A与A'之间的距离设为20mm。另外，图7的纵轴表示推力61的大小，图8的纵轴表示垂直力62的大小。

图7用曲线301表示在绕组30中流过额定电流(100％)时的推力61的变化，用曲线302表示在绕组30中流过额定电流的80％的电流时的推力61的变化。此外，用曲线303表示在绕组30中流过额定电流的60％的电流的情况下的推力61的变化，用曲线304表示在绕组30中流过额定电流的40％的电流的情况下的推力61的变化，用曲线305表示在绕组30中流过额定电流的20％的电流的情况下的推力61的变化，用曲线306表示在绕组30中流过额定电流的5％的电流的情况下的推力61的变化，用曲线307表示不向绕组30流过电流的情况下(0％)的推力61的变化。

另外，用曲线308表示使朝向与额定电流相反且大小为额定电流的20％(-20％)的电流流动的情况下的推力61的变化，用曲线309表示使朝向与额定电流相反且大小为额定电流的40％(-40％)的电流流动的情况下的推力61的变化，用曲线310表示使朝向与额定电流相反且大小为额定电流的60％(-60％)的电流流动的情况下的推力61的变化。这样，通过改变流过绕组30的电流，推力61变化。另外，即使在流过相同大小的电流的情况下，推力61也根据输送板15上的位置而变化。

图8是表示输送板15上的位置(区间A-A’)的垂直力62的变化的图表。用曲线410表示在绕组30中流过额定电流(100％)时的垂直力62的变化。同样地，用曲线409表示在绕组30中流过额定电流的80％的电流的情况下的垂直力62的变化，用曲线408表示在绕组30中流过额定电流的60％的电流的情况下的垂直力62的变化，用曲线407表示在绕组30中流过额定电流的40％的电流的情况下的垂直力62的变化，用曲线406表示在绕组30中流过额定电流的20％的电流的情况下的垂直力62的变化，用曲线405表示在绕组30中流过额定电流的5％的电流的情况下的垂直力62的变化，用曲线404表示在绕组30中没有流过电流的情况下(0％)的垂直力62的变化。

另外，用曲线403表示使朝向与额定电流相反且额定电流的20％的大小的电流在绕组30中流动的情况下(-20％)的垂直力62的变化，用曲线402表示使朝向与额定电流相反且额定电流的40％的大小的电流在绕组30中流动的情况下(-40％)的垂直力62的变化，用曲线401表示使朝向与额定电流相反且额定电流的60％的大小的电流在绕组30中流动的情况(-60％)。如图8所示，垂直力62的大小根据输送板15上的位置而不同，另外，即使在相同的位置，大小也因流过绕组30的电流而不同。

如图7和图8所示的推力61和垂直力62基于位置和电流的变化有关的数据被存储在数据库130中。各种数据既可以以图7以及图8那样的图表的形式存储于数据库130，也可以以表格形式存储。运算控制部120是根据存储于数据库130的各种数据、位置检测部51以及电流检测部52的检测结果来判定输送装置102有无异常的发生的异常判定部。这里，输送装置102中的异常例如为以下的异常。

(1)被输送的检体托架111等的输送速度降低

(2)输送装置102的输送板15的输送面的异常(摩擦系数的变化)

输送装置102的输送板15的输送面有时因损伤、异物而摩擦系数增加，相反，由于含有油、水分，有时摩擦系数反而减少。本实施方式的运算控制部120能够按照位置检测部51、电流检测部52的检测结果和数据库130的数据，检测输送面的摩擦系数的变化，由此判定输送面有无发生异常。

参照图9的流程图，对在区间A-A’中使被输送体10移动的情况下的异常判定的步骤进行说明。首先，运算控制部120在区间A’-A间使被输送体10移动的期间，按照位置检测部51的输出，检测被输送体10的位置(步骤S11)，并且按照电流检测部52的输出，以规定的时间间隔检测流过对应的绕组30的电流的大小(步骤S12)。此时，在更高精度地进行异常判定的执行的情况下，优选使质量已知的被输送体10在区间A-A’之间移动。除了质量已知之外，更优选在异常判定时使用下表面(滑动面)的形状已知的被输送体10。

接着，运算控制部120根据由电流检测部52在区间A-A’间的被输送体10的移动期间检测出的电流的变化相关的数据和存储于数据库130的数据，判定施加于被输送体10的推力61和垂直力62的变化(步骤S13)。然后，根据该推力61和垂直力62的变化的运算结果，运算在该垂直力62和被输送体10的自重下假定的摩擦力、以及被输送体10的平均速度。然后，对该运算出的平均速度与根据位置检测部51的检测输出运算出的实际的被输送体10的平均速度进行比较(步骤S14)。通过计算出的摩擦力，也能够高精度地推定被输送体10与输送面之间的摩擦系数(步骤S15)。通过该摩擦系数，能够检测输送面或被输送体10的滑动面的劣化(步骤S16)。此外，在步骤S14中，除了对假定的平均速度与由位置检测部51实际测量出的平均速度进行比较之外(或者取而代之地)，还能够对假定的被输送体10的位置与由位置检测部51实际测量出的被输送体10的位置进行比较。

由图7和图8可知，推力61和垂直力62根据在哪个绕组30中流过多少电流而变化较大。例如，推力61在区间A-A’的中央部(10mm)，相对于电流的变化的推力61的变化幅度大，在位置A及位置A’附近，相对于电流的变化的推力61的变化幅度小(参照图7)。另外，关于垂直力62，在从区间A-A’的中央部(10mm)向左侧，相对于电流的变化的垂直力62的变化幅度小，在右侧，相对于电流的变化的垂直力62的变化幅度大。因此，在图9的步骤S14中，也可以代替对区间A-A’的整体中的被输送体10的平均速度或位置进行比较，而对区间A-A’的中央部处的被输送体10的平均速度或位置进行比较。对中央部处的平均速度或位置进行比较能够更高精度地检测输送面的劣化等。

如以上说明的那样，根据第一实施方式，能够检测输送板15的输送面的摩擦系数的变化，由此能够准确地判定输送面有无产生异常。

[第二实施方式]

接着参照图10对第二实施方式的检体分析系统100或200进行说明。该第二实施方式的检体分析系统100或200在其内部具备与第一实施方式相同的输送装置102。但是，该第二实施方式构成为，在数据库130中，除了图7以及图8的数据之外，还保持有图10所示的数据，并按照该图10的数据来执行输送装置102的异常判定，在这一点上与第一实施方式不同。

图10的图表表示由被输送体10与输送板15的输送面之间的垂直方向的距离Dg(间隙Dg)的大小的变化所引起的垂直力62的变化。图10的图表将横轴设为区间A-A间的位置，将纵轴表示作用于被输送体10的垂直力。而且，曲线501～曲线506是表示将通过磁场解析模拟计算出的间隙Dg设定为不同的值的情况下的、基于位置的垂直力62的变化的曲线(假定曲线501～曲线506均为绕组30的电流为0的情况)。曲线501表示间隙Dg为正常值(100％)的情况下的垂直力62的变化。曲线502表示间隙Dg收缩至正常值的97.3％的情况下的垂直力62的变化。曲线503表示间隙Dg收缩至正常值的93.3％的情况下的垂直力62的变化。曲线504表示间隙Dg收缩至正常值的80％的情况下的垂直力62的变化。曲线505表示间隙Dg收缩至正常值的77.3％的情况下的垂直力62的变化。曲线506表示间隙Dg收缩至正常值的73.3％的情况下的垂直力62的变化。

如图10的曲线501～曲线506所示，当被输送体10与输送板15的输送面之间的间隙Dg变化时，在被输送体10与输送板15之间产生的垂直力62发生变化。因此，在第二实施方式中，在将流过绕组30的电流设定为0的状态下使被输送体10移动，比较此时的被输送体10的行为和图10的曲线501～506，运算控制部120推定在输送板15的输送面产生的间隙Dg的大小。之后，还考虑该推定出的间隙Dg来推定各位置处的垂直力62，以与第一实施方式相同的要领来推定输送面的摩擦系数。在第二实施方式中，按照图10的图表，按照间隙Dd的大小来推定垂直力62，因此与第一实施方式相比能够更高精度地推定输送面的摩擦系数。

此外，如图10所示，流过绕组30的电流为0的状态下的垂直力62在区间A-A’的中央部附近其绝对值变小，在位置A以及A’的附近绝对值变大。因此，通过取得区间A-A’的中央部附近的被输送体10的位置信息，进而取得位置A、A’处的位置信息，在其他位置进行线性插值，能够考虑垂直力的影响。其结果是，与第一实施方式相比，能够提高输送面的状态的检测精度。

[第三实施方式]

参照图11说明第三实施方式的检体分析系统100和检体预处理装置150。检体分析系统100的整体结构与第一实施方式(图1和图2)相同，因此省略重复的说明。

参照图11，说明第三实施方式的输送装置102的结构。对于与图3相同的结构要素，在图10中也标注相同的参照附图标记，因此省略重复的说明。该第三实施方式的输送装置102除了第一实施方式的结构要素之外，还具备检测被输送体10的质量的质量检测部53。

有时被输送体10的质量根据检体的类别而变化较大。另外，即使是同一种类的检体，检体容器的含量的偏差也大，或者搭载于一个检体托架111的检体容器的数量的偏差大。另外，即使检体容器的质量已知，通过在中途分注检体，其质量也可能变化。在这样的情况下，被输送体10的质量不同，由此，被输送体10的输送速度产生偏差。因此，在第三实施方式中，通过质量检测部53检测被输送体10的质量，还考虑与该质量相关的信息来判定输送装置102有无异常。质量检测部53通过重量传感器等检测被输送体10的质量，但也可以代替检测质量，而取入从外部得到的被输送体10的质量相关的信息。即，质量检测部53是取得质量的信息的质量信息取得部的一个方式。

根据该第三实施方式，通过质量检测部53取得与被输送体10的质量相关的信息，由此能够更高精度地分析与输送装置102的输送面相关的信息。除了与被输送体10的质量相关的信息之外，还取得与被输送体10的下表面的状态相关的信息，由此能够更高精度地检测输送面的状态。

<其他>

本发明并不限定于上述的实施方式，包含上述以外的各种变形例。例如，上述的实施方式是为了容易理解地说明本发明而详细说明的，并不一定限定于具备所说明的全部结构。另外，能够将某实施方式的结构的一部分置换为其他实施方式的结构，另外，也能够对某实施方式的结构追加其他实施方式的结构。另外，关于各实施方式的结构的一部分，能够进行其他结构的追加、删除、置换。

附图标记说明

10…被输送体

11…永磁体的磁通

15…输送板

21…绕组的齿的磁通

30…绕组

40…磁轭

51…位置检测部

52…电流检测部

53…质量检测部

61…推力

62…垂直力

63…摩擦力

100、200…检体分析系统

101…搬入部

102…输送装置

103…收纳部

104…缓冲器

105…分析部

106…输送线

107…检体分注喷嘴

108…反应盘

109…试剂分注喷嘴

110…试剂盘

111…检体托架(被输送体)

112…清洗机构

113…紧急托架投入口

114…试剂托盘

115…读取器

116…试剂装载器

118…显示部

120…运算控制部

121…分光光度计

122…检体容器、子检体容器

150…检体预处理装置

152…闭栓单元

153…检体收纳单元

154…空支架储存器

155…检体投入单元

156…离心分离单元

157…液量测定单元

158…开栓单元

159…子检体容器准备单元

160…分注单元

161…移载单元

163…操作部PC。

Claims (10)

1.一种输送装置，其特征在于，具备：

输送板，其能够沿着输送面输送被输送体；

磁路部，其被配置于所述输送板的所述输送面的相反侧，并具有卷绕于齿的周围的绕组；

位置检测部，其检测所述被输送体的位置；

电流检测部，其检测所述绕组的电流；

数据存储部，其存储表示所述输送板的输送面上的位置、流过所述绕组的电流和施加于所述被输送体的力的关系的数据；

异常判定部，其基于由所述位置检测部检测出的位置、由所述电流检测部检测出的电流和所述数据，判定包含所述输送面的劣化或异常的与所述被输送体的输送相关的异常。

2.根据权利要求1所述的输送装置，其特征在于，

所述异常判定部按照由所述电流检测部检测出的位置和由所述电流检测部检测出的电流，按照所述数据判定使所述被输送体沿着所述输送面移动的推力和在与所述输送面垂直的方向上作用于所述被输送体的垂直力，进而基于所述垂直力运算所述输送面的摩擦系数，由此判定所述异常。

3.根据权利要求1所述的输送装置，其特征在于，

所述输送装置还具备：间隙推定部，其推定所述被输送体与所述输送面之间的垂直方向的距离即间隙，

所述数据存储部存储表示所述输送板的输送面上的位置、施加于所述被输送体的力和所述间隙的大小的关系的数据，

所述异常判定部基于由所述间隙推定部推定出的所述间隙、由所述位置检测部检测出的位置、由所述电流检测部检测出的电流和所述数据，判定包含所述输送面的劣化或异常的与所述被输送体的输送相关的异常。

4.根据权利要求1所述的输送装置，其特征在于，

所述输送装置还具备：质量信息取得部，其取得与所述被输送体的质量相关的信息，

所述异常判定部基于由所述位置检测部检测出的位置、由所述电流检测部检测出的电流、所述数据和与所述质量相关的信息，判定包含所述输送面的劣化或异常的与所述被输送体的输送相关的异常。

5.根据权利要求1所述的输送装置，其特征在于，

所述异常判定部使质量已知的所述被输送体在所述输送面上移动并执行所述异常的判定。

6.一种检体分析系统，具备：

分析部，其从被输送体注入检体来分析所述检体；

输送装置，其向所述分析部输送所述被输送体，

其特征在于，

所述输送装置具备：

输送板，其能够沿着输送面输送所述被输送体；

磁路部，其被配置在所述输送板的所述输送面的相反侧，并具有卷绕在齿的周围的绕组；

位置检测部，其检测所述被输送体的位置；

电流检测部，其检测所述绕组的电流；

数据存储部，其存储表示所述输送板的输送面上的位置、流过所述绕组的电流和施加于所述被输送体的力的关系的数据；

异常判定部，其基于由所述位置检测部检测出的位置、由所述电流检测部检测出的电流和所述数据，判定包含所述输送面的劣化或异常的与所述被输送体的输送相关的异常。

7.根据权利要求6所述的检体分析系统，其特征在于，

所述异常判定部按照由所述电流检测部检测出的位置和由所述电流检测部检测出的电流，并按照所述数据判定使所述被输送体沿着所述输送面移动的推力和在与所述输送面垂直的方向上作用于所述被输送体的垂直力，进而基于所述垂直力运算所述输送面的摩擦系数，由此判定所述异常。

8.根据权利要求6所述的检体分析系统，其特征在于，

所述检体分析系统还具备：间隙推定部，其推定所述被输送体与所述输送面之间的垂直方向的距离即间隙，

所述数据存储部存储表示所述输送板的输送面上的位置、施加于所述被输送体的力和所述间隙的大小的关系的数据，

所述异常判定部基于由所述间隙推定部推定出的所述间隙、由所述位置检测部检测出的位置、由所述电流检测部检测出的电流和所述数据，判定包含所述输送面的劣化或异常的与所述被输送体的输送相关的异常。

9.根据权利要求6所述的检体分析系统，其特征在于，

所述检体分析系统还具备：质量信息取得部，其取得与所述被输送体的质量相关的信息，

所述异常判定部基于由所述位置检测部检测出的位置、由所述电流检测部检测出的电流、所述数据和与所述质量相关的信息，判定包含所述输送面的劣化或者异常的与所述被输送体的输送相关的异常。

10.根据权利要求6所述的检体分析系统，其特征在于，

所述异常判定部使质量已知的所述被输送体在所述输送面上移动并执行所述异常的判定。