CN116929227A - 厚度测量方法及厚度测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明属于厚度测量领域，提供一种厚度测量方法及厚度测量装置，方法包括：在接收到测量请求时，发送缓存指令至每一激光测距组件，并发送启动指令至控制器；在接收到正向扫描结束信号时，读取每一激光测距组件缓存的第一距离数据；在接收到反向扫描结束信号时，读取每一激光测距组件反向运行并同步缓存的第二距离数据；基于第一距离数据和第二距离数据计算得到每一采样点对应的厚度值，并基于预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值；将各个采样点的位置值和厚度值作为厚度测量结果。本发明提供的方案，能避免实时上报得到的测量值与位置信息不同步的问题，提高了各个采样点的测量值与位置值的对齐精度。

Description

厚度测量方法及厚度测量装置

技术领域

本发明涉及厚度测量技术领域，尤其涉及一种厚度测量方法及厚度测量装置。

背景技术

在厚度测量领域，常通过激光测距的原理对被测对象的厚度进行测量，从而获得被测对象上多个测量点的厚度值，以此测量得到被测对象的厚度。

相关技术中，由于激光测距环节自身的测量误差，同时，由于测量现场相关设备实时上报的测量点的测量值与位置信息不同步，导致厚度测量结果的准确性和可靠性较低。

发明内容

本发明提供一种厚度测量方法及厚度测量装置，用以解决传统测量方式得到的厚度测量结果准确性和可靠性较低的缺陷。

第一方面，本发明提供一种厚度测量方法，所述方法由监测终端执行，所述监测终端分别与控制器以及至少一组激光测距组件连接，所述至少一组激光测距组件与所述控制器连接；所述方法包括：

在接收到测量请求时，发送缓存指令至每一所述激光测距组件，并发送启动指令至所述控制器，以控制每一所述激光测距组件正向运行并同步缓存采集到的第一距离数据；

在接收到每一所述激光测距组件移动至设定位置时触发的正向扫描结束信号时，读取每一所述激光测距组件缓存的第一距离数据；

在接收到每一所述激光测距组件移动至原点位置时触发的反向扫描结束信号时，读取每一所述激光测距组件反向运行并同步缓存的第二距离数据；

基于所述第一距离数据和所述第二距离数据计算得到每一采样点对应的厚度值，并基于所述激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值；

将各个所述采样点的位置值和厚度值作为厚度测量结果。

根据本发明提供的厚度测量方法，所述基于所述第一距离数据和所述第二距离数据计算得到每一采样点对应的厚度值，包括：

将所述第二距离数据逆序排列，得到第三距离数据；

提取属于同一组的两个所述激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，建立距离数据组；

基于所述距离数据组中每一采样点对应的两个测量值、及同一组的两个所述激光测距组件的预设间距值，计算得到每一采样点对应的厚度值。

根据本发明提供的厚度测量方法，所述提取属于同一组的两个所述激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，建立距离数据组，包括：

提取属于同一组的两个所述激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，得到原始数据组；

将所述原始数据组中测量值为特定代码的无效数据移除，得到距离数据组；

其中，所述无效数据用于表征所述激光测距组件停止运行时对应的采样结果。

根据本发明提供的厚度测量方法，所述基于所述距离数据组中每一采样点对应的两个测量值、及同一组的两个所述激光测距组件的预设间距值，计算得到每一采样点对应的厚度值，包括：

将所述距离数据组中每一采样点对应的两个测量值相加，得到每一采样点的距离求和值；

将同一组的两个所述激光测距组件的预设间距值与所述距离求和值相减，得到每一采样点对应的厚度值。

根据本发明提供的厚度测量方法，所述基于所述激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值，包括：

将所述激光测距组件的预设扫描速度与预设测量频率作商，计算得到相邻两个采样点之间的采样间距值；

确定每一采样点对应的间距数量，将所述间距数量与所述采样间距值相乘，得到每一采样点的位置值。

根据本发明提供的厚度测量方法，在所述读取每一所述激光测距组件缓存的第一距离数据之后，所述方法还包括：

将每一所述激光测距组件中缓存的所述第一距离数据清除；

和/或，在所述读取每一所述激光测距组件反向运行并同步缓存的第二距离数据之后，所述方法还包括：

将每一所述激光测距组件中缓存的所述第二距离数据清除。

第二方面，本发明还提供一种厚度测量装置，该装置包括：

基座；

至少一组激光测距组件，相对间隔布设于所述基座上；

控制器，与所述至少一组激光测距组件连接，用于控制所述至少一组激光测距组件运行；

监测终端，分别与所述控制器和所述至少一组激光测距组件连接，用于执行如上任一种所述的厚度测量方法。

根据本发明提供的厚度测量装置，所述装置还包括原点开关，所述原点开关的一端与所述至少一组激光测距组件连接，所述原点开关的另一端与电源连接。

根据本发明提供的厚度测量装置，所述基座包括：至少一对直线模组、滑块板以及微调座；

所述直线模组、滑块板、微调座以及所述激光测距组件均一一对应，所述滑块板与所述直线模组可滑动的连接，所述微调座安装于所述滑块板，所述激光测距组件安装于所述微调座。

根据本发明提供的厚度测量装置，所述激光测距组件包括：激光测距传感器以及驱动电机；

所述激光测距传感器与所述驱动电机连接，所述驱动电机与所述控制器连接，所述激光测距传感器还与所述监测终端连接。

本发明提供的厚度测量方法及厚度测量装置，通过控制激光测距组件正向和反向运行，并读取正向运行采集到的第一距离数据以及反向运行采集到的第二距离数据，基于第一距离数据和第二距离数据计算得到采样点对应的厚度值，并结合数据先缓存后读入的方式，可以使各采样点对应的厚度值更加准确；同时，通过激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值，能够避免实时上报得到的测量值与位置信息不同步的问题，提高了各个采样点的测量值与位置值的对齐精度，进而提高了厚度测量结果的准确性和可靠性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的厚度测量方法的流程示意图；

图2是本发明实施例提供的厚度测量装置的结构示意图之一；

图3是原点开关与其他器件的连接关系示意图；

图4是本发明实施例提供的厚度测量装置的结构示意图之二；

图5是本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本发明的实施方式。虽然附图中显示了本发明的实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本发明更加透彻和完整，并且能够将本发明的范围完整地传达给本领域的技术人员。

在本发明使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本发明可能采用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本发明范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

本实施例涉及厚度测量领域，具体可以应用于利用激光测距原理对被测对象进行厚度测量的场景中。相关技术中，在利用多个激光测距设备对被测对象进行激光扫描的过程中，需要获得扫描环节各个采样点的位置信息，激光测距设备的相关位置信息通常存储于控制器中，通过控制器将位置信息实时上报至监测终端，而控制器与监测终端可以看作下位机与上位机的通讯关系，二者之间的通讯速率要远低于激光测距设备的数据采集频率，该种情形下，各采样点的位置信息与距离测量值不对应，将出现测量偏差，再加之测量本身的误差，将影响厚度测量精度，导致厚度测量结果的准确性和可靠性较低。

针对上述问题，下面结合图1至图5描述本发明提供的厚度测量方法及厚度测量装置的细节方案。

参见图1，本发明实施例一种厚度测量方法，该方法由监测终端执行，监测终端分别与控制器以及至少一组激光测距组件连接，至少一组激光测距组件与控制器连接；该方法具体包括：

步骤110：在接收到测量请求时，发送缓存指令至每一激光测距组件，并发送启动指令至控制器，以控制每一激光测距组件正向运行并同步缓存采集到的第一距离数据。

一些实例中，监测终端可以通过以太网分别与控制器以及至少一组激光测距组件通信连接。可以理解的是，测量请求可以通过用户在监测终端触发相关控制选项或者控制按键发出，或者也可以通过用户利用远程终端向监测终端发出。

本实施例中，控制器在接收到启动指令之后，将控制各个激光测距组件以相同的速度同步向设定位置移动。在每一激光测距组件的移动线路上均存在有原点位置以及终点位置，终点位置可以是设定位置，设定位置可以根据待测对象的长度确定。激光测距组件从原点位置向设置位置移动，即为正向运行；激光测距组件从设定位置向原点位置移动，即为反向运行。

步骤120：在接收到每一激光测距组件移动至设定位置时触发的正向扫描结束信号时，读取每一激光测距组件缓存的第一距离数据。

可以理解的是，当激光测距组件移动至设定位置时，此时正向扫描任务结束，激光测距组件上报正向扫描结束信号至监测终端，监测终端此时可以读取激光测距组件在正向运行时缓存的第一距离数据。

步骤130：在接收到每一激光测距组件移动至原点位置时触发的反向扫描结束信号时，读取每一激光测距组件反向运行并同步缓存的第二距离数据。

本实施例中，当激光测距组件移动至设定位置时，此时正向扫描任务结束，激光测距组件停止运行，在将缓存的第一距离数据上传至监测终端以后，控制器开始控制各个激光测距组件以设定位置为起点，按照相同的速度同步向原点位置运行，移动至原点位置后，此时反向扫描任务结束，激光测距组件停止运行，并将缓存的第二距离数据上传至监测终端。

可以理解的是，第一距离数据和第二距离数据均可以理解为包含各个采样点的距离值的数据序列，每一个距离值能够表征激光测距组件与被测对象在对应采样点处的间距。

通过数据先缓存后读取的方式，相较于实时上报数据的方式，数据传输过程更加稳定，距离数据更加完整、可靠。

步骤140：基于第一距离数据和第二距离数据计算得到每一采样点对应的厚度值，基于激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值。

一些实施例中，可以根据第一距离数据和第二距离数据中位置相对的两个距离值，并结合位置相对的两个激光测距组件之间的预设间距值，推断得到不同采样点对应的厚度值。

本实施例中，各个采样点的位置值通过预设测量频率以及预设扫描速度直接计算得到，而并没有采用由控制器实时上报的位置信息，由于直接计算得到的位置值与每一采样点一一对应，能够避免控制器上报的位置信息与激光测距组件上传的距离数据不同步引起的数据偏差，提高了厚度测量过程的准确性。

步骤150：将各个采样点的位置值和厚度值作为厚度测量结果。

本实施例提供的厚度测量方法，由于每一采样点对应的厚度值是基于激光测距组件正向扫描缓存的第一距离数据和反向扫描缓存第二数据计算得到的，且先缓存后读取的数据获取方式相较于实时上报的方式，数据更加完整和可靠，同时，结合直接计算获得各个采样点的位置值的方式，能够避免因控制器和激光测距组件与监测终端数据通讯速率不同引起的偏差，提高了厚度测量结果的准确性和可靠性。

在一实施例中，基于第一距离数据和第二距离数据计算得到每一采样点对应的厚度值，具体包括：

第一步，将第二距离数据逆序排列，得到第三距离数据。

实际应用中，由于第二距离数据是激光测距组件反向运行获得的，与正向运行获得的第一距离数据排序相反，为了便于对数据进行统一处理，并保证后续厚度值计算过程的准确性，需要先将第二距离数据逆序排列，由此得到的第三距离数据与第一距离数据排序相同。

第二步，提取属于同一组的两个激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，建立距离数据组。

以属于同一组的两个激光测距组件为例，第一激光测距组件获得的第一距离数据为U1，第二激光测距组件获得的第一距离数据为D1，第一激光测距组件获得的第二距离数据为U2，第二激光测距组件获得的第二距离数据为D2。由于两个激光测距组件同步运行，二者各自采集的数据序列中各子数据一一对应。

本实施例中，为了方便厚度值的计算，可以将第一距离数据和第三距离数据组合为一个大的数据序列，即距离数据组。当然，实际应用中，也可以分别对第一距离数据和第三距离数据进行处理，具体可以根据实际测量需求合理选择。

第三步，基于距离数据组中每一采样点对应的两个测量值、及同一组的两个激光测距组件的预设间距值，计算得到每一采样点对应的厚度值。

本实施例中，属于同一组的两个激光测距组件相对布置于被测对象的两侧，且均与被测对象的表面存在一定间距，两个激光测距组件采集到的测量值即是激光测距组件在不同采样点处与被测对象表面之间的间距值。

在测得两个激光测距组件在不同采样点处于被测对象之间的间距值后，结合已知的两个激光测距组件之间的预设间距值，即可求得每一采样点对应的厚度值，即每一采样点处被测对象的厚度值。

在一实施例中，提取属于同一组的两个激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，建立距离数据组，具体包括：

首先，提取属于同一组的两个激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，得到原始数据组。

然后，将原始数据组中测量值为特定代码的无效数据移除，得到距离数据组。

其中，无效数据用于表征激光测距组件停止运行时对应的采样结果。

本实施例中，第一激光测距组件获得的第一距离数据U1可以表示为：U1=（A,A,A,u₁,u₂,u₃,...,u_n），第二激光测距组件获得的第一距离数据D1可以表示为：D1=（A,A,A,d₁,d₂,d₃,...,d_n）。

与上述第一距离数据类似地，第三距离数据也可以通过上述方式进行表示，由此可知，原始数据组可以看做是一个两行多列的矩阵数组。上述数据序列中的A即是特定代码，用于表征激光测距组件停止运行后对应的测量值，由于特定代码对于计算厚度值来说，并无实际意义，因此，为了提高数据处理效率，可以将原始数据组中测量值为特定代码的无效数据剔除，由此得到距离数据组，用于后续厚度值的计算环节。

一些实施例中，如果对第一距离数据和第三距离数据单独进行处理，也可以分别将第一距离数据和第三距离数据中测量值为特定代码的无效数据剔除，以保证后续的数据计算效率和准确性。

在一实施例中，基于距离数据组中每一采样点对应的两个测量值、及同一组的两个激光测距组件的预设间距值，计算得到每一采样点对应的厚度值，具体包括：

首先，将距离数据组中每一采样点对应的两个测量值相加，得到每一采样点的距离求和值。

仍以第一激光测距组件获得的第一距离数据U1，以及第二激光测距组件获得的第一距离数据D1为例，其中一个采样点对应的距离求和值可以表示为：

h_i=u_i+d_i（1）

其中，h_i表示第i个采样点对应的距离求和值，u_i表示第i个采样点处第一激光测距组件获得的第一测量值，d_i表示第i个采样点处第二激光测距组件获得的第一测量值。

然后，将同一组的两个激光测距组件的预设间距值与距离求和值相减，得到每一采样点对应的厚度值。

设同一组的两个激光测距组件的预设间距值为H，其中一个采样点对应的厚度值可以表示为：

T_i=H-h_i（2）

其中，T_i表示第i个采样点对应的厚度值，H表示同一组的两个激光测距组件的预设间距值，h_i表示第i个采样点对应的距离求和值。

实际应用中，激光测距组件可以在原点位置与设定位置之间多次往复运行，如果将由原点位置至设定位置这一正向运行环节，以及由设定位置至原点位置这一反向运行环节这两个环节看做一个运行周期的话，其余运行周期内数据的处理方式可以与上述流程一致。

在一实施例中，基于激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值，具体包括：

首先，将激光测距组件的预设扫描速度与预设测量频率作商，计算得到相邻两个采样点之间的采样间距值。

设激光测距组件的预设扫描速度为V，预设测量频率为P，则相邻两个采样点之间的采样间距值可以表示为：

X=V/P（3）

其中，X表示相邻两个采样点之间的采样间距值，V表示激光测距组件的预设扫描速度，P表示预设测量频率。

然后，确定每一采样点对应的间距数量，将间距数量与采样间距值相乘，得到每一采样点的位置值。

可以理解的是，每一采样点对应的间距数量可以根据当前采样点在数据序列中的序号确定，比如当前采样点为距离数据组中第n个点，则间距数量为n-1，由此可知，某一采样点的位置值可以表示如下：

x_i=(i-1)X（4）

其中，x_i表示第i个采样点的位置值，X表示相邻两个采样点之间的采样间距值。

上述位置值的确定方式，相较于控制器实时上传位置信息的方式，由于位置值可以直接计算得到，不受激光测距传感器运行速度的影响，即使在激光测距组件高速扫描时仍可以保证位置信息的时效性，进而使得各个采样点的位置值与厚度值能够准确对应，提高了测量过程的准确性和可靠性。

在获得每个采样点对应的厚度值和位置值之后，即可得到厚度测量结果，本实施例中，厚度测量结果可以表示为：（x₁,T₁），（x₂,T₂），...，（x_n,T_n）；即厚度测量结果可以用于表征不同位置点处被测对象的厚度值。

在一实施例中，在读取每一激光测距组件缓存的第一距离数据之后，上述方法还可以包括：

将每一激光测距组件中缓存的第一距离数据清除。

和/或，在读取每一激光测距组件反向运行并同步缓存的第二距离数据之后，上述方法还可以包括：

将每一激光测距组件中缓存的第二距离数据清除。

可以理解是，由于激光测距组件自身的数据缓存空间有限，为了保证各个运行阶段结束后，该运行阶段的距离数据均能够被完整缓存，在将每一运行阶段的距离数据上报至监测终端之后，也就是监测终端读取完每一运行阶段的距离数据之后，可以控制激光测距组件将该运行阶段缓存的距离数据清除，以便留有足够的存储空间缓存下一运行阶段的距离数据，通过数据及时清除的方式，可以缓解激光测距组件的数据存储压力，并能够提高数据缓存环节的可靠性。

基于同一总的发明构思，本发明还保护一种厚度测量装置，下面对本发明提供的厚度测量装置进行描述，下文描述的厚度测量装置与上文描述的厚度测量方法可相互对应参照。

参见图2，本发明实施例提供的厚度测量装置，具体包括：

基座210；

至少一组激光测距组件220，相对间隔布设于基座210上；

控制器230，与至少一组激光测距组件220连接，用于控制至少一组激光测距组件220运行；

监测终端240，分别与控制器230和至少一组激光测距组件220连接，用于：在接收到测量请求时，发送缓存指令至每一激光测距组件，并发送启动指令至控制器，以控制每一激光测距组件正向运行并同步缓存采集到的第一距离数据；在接收到每一激光测距组件移动至设定位置时触发的正向扫描结束信号时，读取每一激光测距组件缓存的第一距离数据；在接收到每一激光测距组件移动至原点位置时触发的反向扫描结束信号时，读取每一激光测距组件反向运行并同步缓存的第二距离数据；基于第一距离数据和第二距离数据计算得到每一采样点对应的厚度值，并基于激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值；将各个采样点的位置值和厚度值作为厚度测量结果。

可以理解的是，基座210主要用于承载至少一组激光测距组件220，激光测距组件220可以通过基座配合，实现正向和反向移动。

激光测距组件220可以通过发射激光信号实现对被测对象表面的距离扫描，实际应用中，同一组内一般包含两个激光测距组件220，两个激光测距组件220相对布置，可以同步运行以对被测对象表面的两侧区域同步进行扫描，被测对象可以是常见的一些能够通过激光扫描实现厚度测量的物品。

控制器230可以控制激光测距组件220运行，一些实施例中，控制器230可以是工业用控制器，比如PLC（Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器）。

一些实施例中，监测终端240可以是部署于厚度测量现场或者现场以外的计算机，该监测终端240可以交换机与控制器230和至少一组激光测距组件220通讯，该监测终端240内可以安装测厚软件，该测厚软件被执行时可以实现上述实施例所描述的厚度测量方法。

在一实施例中，参见图3，本发明提供的厚度测量装置，还包括原点开关310，原点开关310的一端与至少一组激光测距组件220连接，原点开关310的另一端与电源320连接。

本实施例中，原点开关310主要用于控制至少一组激光测距组件220接通或者断开与电源320的连接，原点开关310安装于激光测距组件220移动路线的原点位置，在至少一组激光测距组件220移动至原点位置时，原点开关310打开，以断开激光测距组件220与电源320的连接，使激光测距组件220停止运行。

一些实施例中，原点开关310可以设置多个，比如每个激光测距组件220均对应设置一个原点开关310，图4示例性的示出了一种厚度测量装置的部分结构，参见图4，该装置包含一组激光测距组件，即设置了两个激光测距组件，相应地，设置了两个原点开关310。

实际应用中，在设置多个原点开关310的情形下，可以将其中一个原点开关310作为控制该组激光测距组件通断电的开关件。

在一实施例中，参见图4，基座具体可以包括：至少一对直线模组410、滑块板420以及微调座430；

直线模组410、滑块板420、微调座430以及激光测距组件均一一对应，滑块板420与直线模组410可滑动的连接，微调座430安装于滑块板420，激光测距组件安装于微调座430。

使用过程中，激光测距组件可以通过微调座430进行微调，以准确接近设定位置，并可以通过滑块板420在直线模组410上来回滑动实现正向或者反向移动。

本实施例中，激光测距组件设置了两个，相应地，直线模组410、滑块板420、微调座430均可以设置两个。

一些实施例中，基座还可以包括外围框架结构，比如图4所示的型材框架440，型材框架设于整个基座的外围四周，起到加固作用。图4中还示出了底部框架450和底部固定板460，可以对整个基座底部起到支撑作用，实际应用中，底部框架450和底部固定板460均可以采用大理石材质制成。

为了保证激光测距组件来回移动过程中所接线路的安全，基座还可以包括拖链槽490，实际应用中，拖链槽490的设置数量可以与激光测距组件的数量一致。

在一实施例中，参见图4，激光测距组件具体可以包括：激光测距传感器470以及驱动电机480；

激光测距传感器470与驱动电机480连接，驱动电机480与控制器连接，激光测距传感器470还与监测终端连接。

本实施例中，激光测距传感器470设有两个，两个激光测距传感器470相对布置，每一个激光测距传感器470均通过一个驱动电机480进行驱动，控制器可以通过控制驱动电机480运转以控制激光测距传感器470运行。一些实施例中，驱动电机480可以采用伺服电机。

为了保证激光测距传感器470安全运行，参见图4，本实施例提供的厚度测量装置还可以包括限位开关400，限位开关400可以设置多个，比如图4中设置了四个限位开关400，分别设于直线模组410上靠近两端的位置，具体可以设置于每个激光测距传感器470的移动路线上位于原点位置左侧的点位，以及激光测距传感器470向右侧能够运行的最远点位处，或者最远点位处稍靠左侧的某个点位。

当激光测距传感器470移动至限位开关400处时，限位开关400动作，激光测距传感器470将停止运行，可以避免激光测距传感器470因超出安全范围带来安全隐患，提高了激光测距组件的运行安全性。

为了满足厚度测量装置内相关电器件的运行安全，参见图4，本实施例提供的厚度测量装置还可以包括端头柜4010，端头柜4010可以设于基座的一侧，比如本实施例中端头柜4010设于基座的左侧，端头柜4010内可以放置相关电器件、电缆和电线等线路，从而可以保障相关电器件的工作安全性。

综上所述，本实施例提供的厚度测量装置，通过监测终端读取激光测距组件正向运行采集到的第一距离数据以及反向运行采集到的第二距离数据，基于第一距离数据和第二距离数据计算得到采样点对应的厚度值，并结合数据先缓存后读入的方式，可以使各采样点对应的厚度值更加准确；同时，通过激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值，能够避免实时上报得到的测量值与位置信息不同步的问题，提高了各个采样点的测量值与位置值的对齐精度，进而提高了厚度测量结果的准确性和可靠性。

图5是本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。

如图5所示，该电子设备可以包括：处理器(processor)510、通信接口(Communications Interface)520、存储器(memory)530和通信总线540，其中，处理器510，通信接口520，存储器530通过通信总线540完成相互间的通信。处理器510可以调用存储器530中的逻辑指令，以执行上述实施例提供的厚度测量方法对应的流程。

此外，上述的存储器530中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

另一方面，本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序可存储在非暂态计算机可读存储介质上，所述计算机程序被处理器执行时，计算机能够执行上述各实施例所提供的厚度测量方法。

又一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各实施例提供的厚度测量方法。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种厚度测量方法，其特征在于，所述方法由监测终端执行，所述监测终端分别与控制器以及至少一组激光测距组件连接，所述至少一组激光测距组件与所述控制器连接；所述方法包括：

在接收到测量请求时，发送缓存指令至每一所述激光测距组件，并发送启动指令至所述控制器，以控制每一所述激光测距组件正向运行并同步缓存采集到的第一距离数据；

在接收到每一所述激光测距组件移动至设定位置时触发的正向扫描结束信号时，读取每一所述激光测距组件缓存的第一距离数据；

在接收到每一所述激光测距组件移动至原点位置时触发的反向扫描结束信号时，读取每一所述激光测距组件反向运行并同步缓存的第二距离数据；

基于所述第一距离数据和所述第二距离数据计算得到每一采样点对应的厚度值，并基于所述激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值；

将各个所述采样点的位置值和厚度值作为厚度测量结果。

2.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，所述基于所述第一距离数据和所述第二距离数据计算得到每一采样点对应的厚度值，包括：

将所述第二距离数据逆序排列，得到第三距离数据；

提取属于同一组的两个所述激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，建立距离数据组；

基于所述距离数据组中每一采样点对应的两个测量值、及同一组的两个所述激光测距组件的预设间距值，计算得到每一采样点对应的厚度值。

3.根据权利要求2所述的厚度测量方法，其特征在于，所述提取属于同一组的两个所述激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，建立距离数据组，包括：

提取属于同一组的两个所述激光测距组件对应的第一距离数据和第三距离数据，得到原始数据组；

将所述原始数据组中测量值为特定代码的无效数据移除，得到距离数据组；

其中，所述无效数据用于表征所述激光测距组件停止运行时对应的采样结果。

4.根据权利要求2所述的厚度测量方法，其特征在于，所述基于所述距离数据组中每一采样点对应的两个测量值、及同一组的两个所述激光测距组件的预设间距值，计算得到每一采样点对应的厚度值，包括：

将所述距离数据组中每一采样点对应的两个测量值相加，得到每一采样点的距离求和值；

将同一组的两个所述激光测距组件的预设间距值与所述距离求和值相减，得到每一采样点对应的厚度值。

5.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光测距组件的预设测量频率和预设扫描速度计算得到每一采样点的位置值，包括：

将所述激光测距组件的预设扫描速度与预设测量频率作商，计算得到相邻两个采样点之间的采样间距值；

确定每一采样点对应的间距数量，将所述间距数量与所述采样间距值相乘，得到每一采样点的位置值。

6.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，在所述读取每一所述激光测距组件缓存的第一距离数据之后，所述方法还包括：

将每一所述激光测距组件中缓存的所述第一距离数据清除；

和/或，在所述读取每一所述激光测距组件反向运行并同步缓存的第二距离数据之后，所述方法还包括：

将每一所述激光测距组件中缓存的所述第二距离数据清除。

7.一种厚度测量装置，其特征在于，包括：

基座；

至少一组激光测距组件，相对间隔布设于所述基座上；

控制器，与所述至少一组激光测距组件连接，用于控制所述至少一组激光测距组件运行；

监测终端，分别与所述控制器和所述至少一组激光测距组件连接，用于执行如权利要求1至6中任一项所述的厚度测量方法。

8.根据权利要求7所述的厚度测量装置，其特征在于，所述装置还包括原点开关，所述原点开关的一端与所述至少一组激光测距组件连接，所述原点开关的另一端与电源连接。

9.根据权利要求7所述的厚度测量装置，其特征在于，所述基座包括：至少一对直线模组、滑块板以及微调座；

所述直线模组、滑块板、微调座以及所述激光测距组件均一一对应布置，所述滑块板与所述直线模组可滑动的连接，所述微调座安装于所述滑块板，所述激光测距组件安装于所述微调座。

10.根据权利要求7所述的厚度测量装置，其特征在于，所述激光测距组件包括：激光测距传感器以及驱动电机；

所述激光测距传感器与所述驱动电机连接，所述驱动电机与所述控制器连接，所述激光测距传感器还与所述监测终端连接。