CN116909049A - 用于tft-lcd光敏阵列板的校准方法和系统 - Google Patents
用于tft-lcd光敏阵列板的校准方法和系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116909049A CN116909049A CN202311185871.0A CN202311185871A CN116909049A CN 116909049 A CN116909049 A CN 116909049A CN 202311185871 A CN202311185871 A CN 202311185871A CN 116909049 A CN116909049 A CN 116909049A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- calibration
- tft
- module
- array plate
- lcd
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 123
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 131
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 98
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 22
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 84
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 18
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 18
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 16
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 14
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 13
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 13
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 12
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 claims description 12
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 10
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 10
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 8
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 claims description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 claims description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 15
- 206010067484 Adverse reaction Diseases 0.000 description 4
- 230000006838 adverse reaction Effects 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4228—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
Abstract
本发明提出了用于TFT‑LCD光敏阵列板的校准方法和系统；将TFT‑LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT‑LCD光敏阵列板进行固定，将TFT‑LCD光敏阵列板接通电源并等待32‑45分钟；在TFT‑LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT‑LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT‑LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块。通过对每个像素点的参数进行精准校准，确保显示器在正常使用时能够呈现准确、一致的颜色、亮度和响应时间等参数，提升产品质量和用户体验；通过自动化校准处理，避免了传统手工校准的复杂、耗时和易出错的过程，大大降低了生产成本和周期。
Description
技术领域
本发明提出了用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法和系统，属于光学仪器和测量技术领域。
背景技术
TFT-LCD光敏阵列板是TFT-LCD显示器中的一个重要组成部分之一。它是基于光敏元件的检测器，用于检测TFT-LCD显示屏的亮度和颜色信息。光敏阵列板中包含了大量的光敏元件，这些元件会在受到光线照射时产生电信号，从而检测出TFT-LCD显示屏上的亮度和颜色信息。
在使用过程中，由于光敏阵列板的灵敏度和响应时间存在差异，可能会导致图像色彩失真、对比度降低等问题。为了解决这些问题，需要对TFT-LCD光敏阵列板进行精密校准。
发明内容
本发明提供了用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法和系统，用以解决现有技术中存在的TFT-LCD光敏阵列板像素点不均匀、色彩失真以及亮度不一致等问题：
本发明提出的用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法，所述方法包括：
S1：将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟；
S2：在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块；
S3：校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块；
S4：控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程。
进一步的，所述将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟，包括：
S11：获取待校准的TFT-LCD光敏阵列板，并将其放置在实验环境中并对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，所述实验环境包括具有稳定的温度、湿度、光照条件并且具有良好的通风及防尘功能；
S12：对固定的TFT-LCD光敏阵列板进行接电操作，并等待32-45分钟。
进一步的，所述在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块，包括：
S21：打开测试光源，并将其调节至适当的亮度和色温，将测试光源放置在TFT-LCD光敏阵列板正上方，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，并与TFT-LCD光敏阵列板间隔31-43CM；
S22： 将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，所述四个区域为第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域以及第四测试区域；
S23：调节测试光源的亮度和色温，逐步增加光线的强度，直至TFT-LCD光敏阵列板的所有像素点均饱和；
S24：将测试光源依次移动至四个区域，记录每个区域的像素点的光线强度值；
S25：通过数据采集模块对TFT-LCD光敏阵列板上每个区域的像素点的光强度值进行采集；
S26：通过模数转换器将光强度值转换为数字信号并发送给校准模块。
进一步的，所述校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块，包括：
S31：校准模块接收来自数据采集模块发送的每个区域对应的数字信号，并对每个区域对应的数字信号进行滤波处理，去除多余的高频噪声和低频漂移；
S32：对处理后的数字信号按照所属区域分别进行分段，将不同亮度范围内的信号分为多个组别，每个组别内的数据具有相同的特征；
S33：针对各个区域每个组别内的数据，利用已知的标准光源光强度值作为参考，通过比较每个像素点的光强度值与标准光源光强度值的差异，计算得出修正系数，并通过修正系数计算出校准参数；
S34：对得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块。
进一步的，所述控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程，包括：
S41：控制评估模块通过获取的校准参数设置TFT-LCD光敏阵列板的校准参数，并通过获取的校准参数对TFT-LCD光敏阵列板进行校准操作；
S42：校准操作过程中，控制评估模块监控光强度值变化和校准参数的调整，以确保校准结果的准确性和稳定性；如果发现校准不理想的区域，控制评估模块将启动再次校准的程序；
S43：校准结束后；控制评估模块会对所有像素点的校准结果进行检查，判断校准结果是否符合预期要求；如果有任何不正常情况发生，控制评估模块会发出警报提示；
S44：如果校准结果达到预期要求，则控制评估模块将保存校准结果，并生成校准报告，记录校准过程中的关键参数和结果；如果校准结果不符合预期要求，则控制评估模块需重新启动校准过程，直至校准结果符合要求。
本发明提出的用于TFT-LCD光敏阵列板的校准系统，所述系统包括：
校准准备模块：将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟；
数据采集模块：在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块；
校准模块：校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块；
控制评估模块：控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程。
进一步的，所述校准准备模块，包括：
固定模块：获取待校准的TFT-LCD光敏阵列板，并将其放置在实验环境中并对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，所述实验环境包括具有稳定的温度、湿度、光照条件并且具有良好的通风及防尘功能；
接电模块：对固定的TFT-LCD光敏阵列板进行接电操作，并等待32-45分钟。
进一步的，所述数据采集模块，包括：
光源调试模块：打开测试光源，并将其调节至适当的亮度和色温，将测试光源放置在TFT-LCD光敏阵列板正上方，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，并与TFT-LCD光敏阵列板间隔31-43CM；
区域划分模块： 将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，所述四个区域为第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域以及第四测试区域；
光源调节模块：调节测试光源的亮度和色温，逐步增加光线的强度，直至TFT-LCD光敏阵列板的所有像素点均饱和；
记录模块：将测试光源依次移动至四个区域，记录每个区域的像素点的光线强度值；
采集模块：通过数据采集模块对TFT-LCD光敏阵列板上每个区域的像素点的光强度值进行采集；
转换模块：通过模数转换器将光强度值转换为数字信号并发送给校准模块。
进一步的，所述校准模块，包括：
滤波处理模块：校准模块接收来自数据采集模块发送的每个区域对应的数字信号，并对每个区域对应的数字信号进行滤波处理，去除多余的高频噪声和低频漂移；
分段模块：对处理后的数字信号按照所属区域分别进行分段，将不同亮度范围内的信号分为多个组别，每个组别内的数据具有相同的特征；
校准参数获得模块：针对各个区域每个组别内的数据，利用已知的标准光源光强度值作为参考，通过比较每个像素点的光强度值与标准光源光强度值的差异，计算得出修正系数，并通过修正系数计算出校准参数；
存储模块：对得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块。
进一步的，所述控制评估模块，包括：
校准执行模块：控制评估模块通过获取的校准参数设置TFT-LCD光敏阵列板的校准参数，并通过获取的校准参数对TFT-LCD光敏阵列板进行校准操作；
校准参数调整模块：校准操作过程中，控制评估模块监控光强度值变化和校准参数的调整，以确保校准结果的准确性和稳定性；如果发现校准不理想的区域，控制评估模块将启动再次校准的程序；
校准结果检查模块：校准结束后；控制评估模块会对所有像素点的校准结果进行检查，判断校准结果是否符合预期要求；如果有任何不正常情况发生，控制评估模块会发出警报提示；
综合评价模块：如果校准结果达到预期要求，则控制评估模块将保存校准结果，并生成校准报告，记录校准过程中的关键参数和结果；如果校准结果不符合预期要求，则控制评估模块需重新启动校准过程，直至校准结果符合要求。
本发明有益效果：本发明提供的用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法和系统通过对每个像素点的参数进行精准校准，确保显示器在正常使用时能够呈现准确、一致的颜色、亮度和响应时间等参数，提升产品质量和用户体验；通过自动化校准处理，避免了传统手工校准的复杂、耗时和易出错的过程，大大降低了生产成本和周期；能够快速识别和调整每个像素点的参数，提高了生产效率和自动化水平，减少了人工干预的需要；可以根据不同环境和使用条件对不同参数进行自动调整和校准，从而增强了显示效果的稳定性和可靠性。
附图说明
图1为本发明所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法步骤图；
图2为本发明所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准系统模块图。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。
本发明的一个实施例，用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法，所述方法包括：
S1：将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟；
S2：在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块；
S3：校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块；
S4：控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程。
上述技术方案的工作原理为：将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟待其性能稳定后在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块；校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块；控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程。
上述技术方案的效果为：通过上述步骤会保证光敏阵列板的灵敏度和响应时间等数据的准确性，从而提高产品质量，使得产品在实际应用中更加可靠；通过垂直放置测试光源并采集每个像素点的光强度值，再经过数字信号转换和处理分析，可以准确地获得校准参数，从而提高测试精度；通过控制评估模块对校准过程进行控制和管理，并对校准不理想的区域进行再次校准，可以快速识别和解决问题，提高生产效率，降低成本；将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟可以保证其相应的性能指标更加稳定，避免了由于温度等因素引起的误差；在校准前，需要等待一定时间，让TFT-LCD光敏阵列板的内部结构达到稳态，这样可以获得更加准确的测试结果，提高校准效果；等待时间也可以保护TFT-LCD光敏阵列板免受损害，例如电压突变等情况，从而确保设备的安全性和长寿命。
本发明的一个实施例，所述将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟，包括：
S11：获取待校准的TFT-LCD光敏阵列板，并将其放置在实验环境中并对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，所述实验环境包括具有稳定的温度、湿度、光照条件并且具有良好的通风及防尘功能；
S12：对固定的TFT-LCD光敏阵列板进行接电操作，并等待32-45分钟。
上述技术方案的工作原理为：获取待校准的TFT-LCD光敏阵列板，并将其放置在实验环境中并对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，所述实验环境包括具有稳定的温度、湿度、光照条件并且具有良好的通风及防尘功能；对固定的TFT-LCD光敏阵列板进行接电操作，并等待32-45分钟。
上述技术方案的效果为：由于实验环境具有稳定的温度、湿度、光照条件，因此可以保持TFT-LCD光敏阵列板的性能指标相对稳定。同时，良好的通风和防尘功能也可以避免灰尘等杂质对测试结果的影响；在固定的TFT-LCD光敏阵列板上进行接电操作，并等待32-45分钟让设备逐渐达到稳态，可以获得更加准确的测试结果，从而提高校准效果；稳定的实验环境和良好的通风功能可以保护TFT-LCD光敏阵列板免受环境变化等损害，确保设备的安全性和长寿命。
本发明的一个实施例，所述在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块，包括：
S21：打开测试光源，并将其调节至适当的亮度和色温，将测试光源放置在TFT-LCD光敏阵列板正上方，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，并与TFT-LCD光敏阵列板间隔31-43CM；
S22： 将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，所述四个区域为第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域以及第四测试区域；
S23：调节测试光源的亮度和色温，逐步增加光线的强度，直至TFT-LCD光敏阵列板的所有像素点均饱和；其中，所述逐步增加光线的强度，具体公式为：
，
其中，T(i)为第i步的光线强度，T(0)为初始光线强度，T(max)为最大光线强度，I为总共需要增加的步数。在每一步中，光线强度的增加量会逐渐减小，以确保光线的变化不会过于剧烈，从而导致测试结果的不准确。
S24：将测试光源依次移动至四个区域，记录每个区域的像素点的光线强度值；
S25：通过数据采集模块对TFT-LCD光敏阵列板上每个区域的像素点的光强度值进行采集；
S26：通过模数转换器将光强度值转换为数字信号并发送给校准模块。
上述技术方案的工作原理为：打开测试光源，并将其调节至适当的亮度和色温，将测试光源放置在TFT-LCD光敏阵列板正上方，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，并与TFT-LCD光敏阵列板间隔31-43CM；将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，所述四个区域为第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域以及第四测试区域；调节测试光源的亮度和色温，逐步增加光线的强度，直至TFT-LCD光敏阵列板的所有像素点均饱和； 将测试光源依次移动至四个区域，记录每个区域的像素点的光线强度值；通过数据采集模块对TFT-LCD光敏阵列板上每个区域的像素点的光强度值进行采集；通过模数转换器将光强度值转换为数字信号并发送给校准模块。
上述技术方案的效果为：通过将测试光源调节至适当的亮度和色温，并按照规范的距离和位置与TFT-LCD光敏阵列板垂直放置，可以确保测试数据的精度和准确性；通过将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，逐一记录像素点的光线强度值，并使用数据采集模块对每个区域进行采集，可以充分保证校准的全面性和有效性；使用模数转换器将光强度值转换为数字信号，并经过校准模块处理后发送到计算机上，提高了数据的可靠性和准确性。同时，由于上述公式中的光线强度增加量会逐渐减小，因此光线的变化较为平缓，可以避免波动过大而导致测试数据的不准确；公式中的参数均经过科学验证和实践检验，可根据具体需求进行调整，从而使得测试结果更加准确和可靠；公式提供了明确的计算方法和控制步骤，让操作人员能够实时掌握光线强度的变化过程，并及时采取措施进行调整和干预。
本发明的一个实施例，所述校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块，包括：
S31：校准模块接收来自数据采集模块发送的每个区域对应的数字信号，并对每个区域对应的数字信号进行滤波处理，去除多余的高频噪声和低频漂移；
S32：对处理后的数字信号按照所属区域分别进行分段，将不同亮度范围内的信号分为多个组别，每个组别内的数据具有相同的特征；所述相同的特征包括相同的亮度范围；
S33：针对各个区域每个组别内的数据，利用已知的标准光源光强度值作为参考，通过比较每个像素点的光强度值与标准光源光强度值的差异，计算得出修正系数，并通过修正系数计算出校准参数；说明书所述标准光源指的是用于进行数字信号校准的照射源的光强度值。标准光源通常为已知精度的光谱辐射标准器或其他类似设备，可以输出稳定的、精确的光强度值。
S34：对得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块。
上述技术方案的工作原理为：校准模块接收来自数据采集模块发送的每个区域对应的数字信号，并对每个区域对应的数字信号进行滤波处理，去除多余的高频噪声和低频漂移；对处理后的数字信号按照所属区域分别进行分段，将不同亮度范围内的信号分为多个组别，每个组别内的数据具有相同的特征；所述相同的特征包括相同的亮度范围；针对各个区域每个组别内的数据，利用已知的标准光源光强度值作为参考，通过比较每个像素点的光强度值与标准光源光强度值的差异，计算得出修正系数，并通过修正系数计算出校准参数；说明书所述标准光源指的是用于进行数字信号校准的照射源的光强度值。标准光源通常为已知精度的光谱辐射标准器或其他类似设备，可以输出稳定的、精确的光强度值。对得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块。
上述技术方案的效果为：上述步骤通过滤波处理，可以去除数字信号中存在的高频噪声和低频漂移等干扰因素，提高了数据的准确性和稳定性；将不同亮度范围内的信号分为多个组别，有利于更加精细地对不同数据进行处理，从而提高了校准的准确性和可靠性；根据已知的标准光源光强度值作为参考进行校准，可以消除不同设备之间的差异，从而提高测试结果的一致性和比较性；将得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块，方便后续的使用和管理，同时也能够保障数据的安全性和可靠性。
本发明的一个实施例，所述控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程，包括：
S41：控制评估模块通过获取的校准参数设置TFT-LCD光敏阵列板的校准参数，并通过获取的校准参数对TFT-LCD光敏阵列板进行校准操作；
S42：校准操作过程中，控制评估模块监控光强度值变化和校准参数的调整，以确保校准结果的准确性和稳定性；如果发现校准不理想的区域，控制评估模块将启动再次校准的程序；所述不理想的区域包括光强度值异常波动或突变、光敏阵列板存在反射以及折射影响校准的区域；
S43：校准结束后；控制评估模块会对所有像素点的校准结果进行检查，判断校准结果是否符合预期要求；如果有任何不正常情况发生，控制评估模块会发出警报提示；其中，所述不正常情况包括像素点的校准结果超出了预定的范围或偏离了均值过多、在像素点上出现了亮度或色彩不一致的情况、某些像素点的响应时间过长或过短、有像素点在校准过程中出现了不良反应，例如出现闪烁或者失效的情况以及校准过程中出现了异常情况，例如设备故障、采集数据不完整等。
S44：如果校准结果达到预期要求，则控制评估模块将保存校准结果，并生成校准报告，记录校准过程中的关键参数和结果；如果校准结果不符合预期要求，则控制评估模块需重新启动校准过程，直至校准结果符合要求。
上述技术方案的工作原理为：控制评估模块通过获取的校准参数设置TFT-LCD光敏阵列板的校准参数，并通过获取的校准参数对TFT-LCD光敏阵列板进行校准操作；校准操作过程中，控制评估模块监控光强度值变化和校准参数的调整，以确保校准结果的准确性和稳定性；如果发现校准不理想的区域，控制评估模块将启动再次校准的程序；所述不理想的区域包括由于光强度比较大以及响应时间比较长需要再次进行校准的区域；校准结束后；控制评估模块会对所有像素点的校准结果进行检查，判断校准结果是否符合预期要求；如果有任何不正常情况发生，控制评估模块会发出警报提示；其中，所述不正常情况包括像素点的校准结果超出了预定的范围或偏离了均值过多、在像素点上出现了亮度或色彩不一致的情况、某些像素点的响应时间过长或过短、有像素点在校准过程中出现了不良反应，例如出现闪烁或者失效的情况以及校准过程中出现了异常情况，例如设备故障、采集数据不完整等；如果校准结果达到预期要求，则控制评估模块将保存校准结果，并生成校准报告，记录校准过程中的关键参数和结果；如果校准结果不符合预期要求，则控制评估模块需重新启动校准过程，直至校准结果符合要求。
上述技术方案的效果为：通过监控光强度值变化和校准参数的调整，以及对所有像素点的校准结果进行检查，可以有效地减少误差，并提高测试数据的准确性和稳定性；控制评估模块能够自动执行校准操作，并对不理想的区域进行再次校准，减少了人工干预的需求，提高了工作效率和可靠性；控制评估模块能够监测像素点在校准过程中出现的异常情况，并发出警报提示，有利于快速发现和处理设备故障，保障测试结果的准确性和可靠性；控制评估模块能够记录校准过程中的关键参数和结果，并生成校准报告，可以方便用户进行后续分析和管理，从而提高了实验室工作的规范性和可追溯性。
本发明的一个实施例，用于TFT-LCD光敏阵列板的校准系统，所述系统包括：
校准准备模块：将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟；
数据采集模块：在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块；
校准模块：校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块；
控制评估模块：控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程。
上述技术方案的工作原理为：将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟待其性能稳定后在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块；校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块；控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程。
上述技术方案的效果为：通过上述步骤会保证光敏阵列板的灵敏度和响应时间等数据的准确性，从而提高产品质量，使得产品在实际应用中更加可靠；通过垂直放置测试光源并采集每个像素点的光强度值，再经过数字信号转换和处理分析，可以准确地获得校准参数，从而提高测试精度；通过控制评估模块对校准过程进行控制和管理，并对校准不理想的区域进行再次校准，可以快速识别和解决问题，提高生产效率，降低成本；将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟可以保证其相应的性能指标更加稳定，避免了由于温度等因素引起的误差；在校准前，需要等待一定时间，让TFT-LCD光敏阵列板的内部结构达到稳态，这样可以获得更加准确的测试结果，提高校准效果；等待时间也可以保护TFT-LCD光敏阵列板免受损害，例如电压突变等情况，从而确保设备的安全性和长寿命。
本发明的一个实施例，所述校准准备模块，包括：
固定模块：获取待校准的TFT-LCD光敏阵列板，并将其放置在实验环境中并对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，所述实验环境包括具有稳定的温度、湿度、光照条件并且具有良好的通风及防尘功能；
接电模块：对固定的TFT-LCD光敏阵列板进行接电操作，并等待32-45分钟。
上述技术方案的工作原理为：获取待校准的TFT-LCD光敏阵列板，并将其放置在实验环境中并对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，所述实验环境包括具有稳定的温度、湿度、光照条件并且具有良好的通风及防尘功能；对固定的TFT-LCD光敏阵列板进行接电操作，并等待32-45分钟。
上述技术方案的效果为：由于实验环境具有稳定的温度、湿度、光照条件，因此可以保持TFT-LCD光敏阵列板的性能指标相对稳定。同时，良好的通风和防尘功能也可以避免灰尘等杂质对测试结果的影响；在固定的TFT-LCD光敏阵列板上进行接电操作，并等待32-45分钟让设备逐渐达到稳态，可以获得更加准确的测试结果，从而提高校准效果；稳定的实验环境和良好的通风功能可以保护TFT-LCD光敏阵列板免受环境变化等损害，确保设备的安全性和长寿命。
本发明的一个实施例，所述数据采集模块，包括：
光源调试模块：打开测试光源，并将其调节至适当的亮度和色温，将测试光源放置在TFT-LCD光敏阵列板正上方，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，并与TFT-LCD光敏阵列板间隔31-43CM；
区域划分模块： 将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，所述四个区域为第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域以及第四测试区域；
光源调节模块：调节测试光源的亮度和色温，逐步增加光线的强度，直至TFT-LCD光敏阵列板的所有像素点均饱和；其中，所述逐步增加光线的强度，具体公式为：
，
其中，T(i)为第i步的光线强度，T(0)为初始光线强度，T(max)为最大光线强度，I为总共需要增加的步数。在每一步中，光线强度的增加量会逐渐减小，以确保光线的变化不会过于剧烈，从而导致测试结果的不准确。
记录模块：将测试光源依次移动至四个区域，记录每个区域的像素点的光线强度值；
采集模块：通过数据采集模块对TFT-LCD光敏阵列板上每个区域的像素点的光强度值进行采集；
转换模块：通过模数转换器将光强度值转换为数字信号并发送给校准模块。
上述技术方案的工作原理为：打开测试光源，并将其调节至适当的亮度和色温，将测试光源放置在TFT-LCD光敏阵列板正上方，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，并与TFT-LCD光敏阵列板间隔31-43CM；将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，所述四个区域为第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域以及第四测试区域；调节测试光源的亮度和色温，逐步增加光线的强度，直至TFT-LCD光敏阵列板的所有像素点均饱和； 将测试光源依次移动至四个区域，记录每个区域的像素点的光线强度值；通过数据采集模块对TFT-LCD光敏阵列板上每个区域的像素点的光强度值进行采集；通过模数转换器将光强度值转换为数字信号并发送给校准模块。
上述技术方案的效果为：通过将测试光源调节至适当的亮度和色温，并按照规范的距离和位置与TFT-LCD光敏阵列板垂直放置，可以确保测试数据的精度和准确性；通过将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，逐一记录像素点的光线强度值，并使用数据采集模块对每个区域进行采集，可以充分保证校准的全面性和有效性；使用模数转换器将光强度值转换为数字信号，并经过校准模块处理后发送到计算机上，提高了数据的可靠性和准确性。同时，由于上述公式中的光线强度增加量会逐渐减小，因此光线的变化较为平缓，可以避免波动过大而导致测试数据的不准确；公式中的参数均经过科学验证和实践检验，可根据具体需求进行调整，从而使得测试结果更加准确和可靠；公式提供了明确的计算方法和控制步骤，让操作人员能够实时掌握光线强度的变化过程，并及时采取措施进行调整和干预。
本发明的一个实施例，所述校准模块，包括：
滤波处理模块：校准模块接收来自数据采集模块发送的每个区域对应的数字信号，并对每个区域对应的数字信号进行滤波处理，去除多余的高频噪声和低频漂移；
分段模块：对处理后的数字信号按照所属区域分别进行分段，将不同亮度范围内的信号分为多个组别，每个组别内的数据具有相同的特征；所述相同的特征包括相同的亮度范围；
校准参数获得模块：针对各个区域每个组别内的数据，利用已知的标准光源光强度值作为参考，通过比较每个像素点的光强度值与标准光源光强度值的差异，计算得出修正系数，并通过修正系数计算出校准参数；其中，所述标准光源指的是用于进行数字信号校准的照射源的光强度值。标准光源通常为已知精度的光谱辐射标准器或其他类似设备，可以输出稳定的、精确的光强度值。
存储模块：对得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块。
上述技术方案的工作原理为：校准模块接收来自数据采集模块发送的每个区域对应的数字信号，并对每个区域对应的数字信号进行滤波处理，去除多余的高频噪声和低频漂移；对处理后的数字信号按照所属区域分别进行分段，将不同亮度范围内的信号分为多个组别，每个组别内的数据具有相同的特征；所述相同的特征包括相同的亮度范围；针对各个区域每个组别内的数据，利用已知的标准光源光强度值作为参考，通过比较每个像素点的光强度值与标准光源光强度值的差异，计算得出修正系数，并通过修正系数计算出校准参数；说明书所述标准光源指的是用于进行数字信号校准的照射源的光强度值。标准光源通常为已知精度的光谱辐射标准器或其他类似设备，可以输出稳定的、精确的光强度值。对得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块。
上述技术方案的效果为：上述步骤通过滤波处理，可以去除数字信号中存在的高频噪声和低频漂移等干扰因素，提高了数据的准确性和稳定性；将不同亮度范围内的信号分为多个组别，有利于更加精细地对不同数据进行处理，从而提高了校准的准确性和可靠性；根据已知的标准光源光强度值作为参考进行校准，可以消除不同设备之间的差异，从而提高测试结果的一致性和比较性；将得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块，方便后续的使用和管理，同时也能够保障数据的安全性和可靠性。
本发明的一个实施例，所述控制评估模块，包括：
校准执行模块：控制评估模块通过获取的校准参数设置TFT-LCD光敏阵列板的校准参数，并通过获取的校准参数对TFT-LCD光敏阵列板进行校准操作；
校准参数调整模块：校准操作过程中，控制评估模块监控光强度值变化和校准参数的调整，以确保校准结果的准确性和稳定性；如果发现校准不理想的区域，控制评估模块将启动再次校准的程序；所述不理想的区域包括光强度值异常波动或突变、光敏阵列板存在反射以及折射影响校准的区域；
校准结果检查模块：校准结束后；控制评估模块会对所有像素点的校准结果进行检查，判断校准结果是否符合预期要求；如果有任何不正常情况发生，控制评估模块会发出警报提示；其中，所述不正常情况包括像素点的校准结果超出了预定的范围或偏离了均值过多、在像素点上出现了亮度或色彩不一致的情况、某些像素点的响应时间过长或过短、有像素点在校准过程中出现了不良反应，例如出现闪烁或者失效的情况以及校准过程中出现了异常情况，例如设备故障、采集数据不完整等。
综合评价模块：如果校准结果达到预期要求，则控制评估模块将保存校准结果，并生成校准报告，记录校准过程中的关键参数和结果；如果校准结果不符合预期要求，则控制评估模块需重新启动校准过程，直至校准结果符合要求。
上述技术方案的工作原理为：控制评估模块通过获取的校准参数设置TFT-LCD光敏阵列板的校准参数，并通过获取的校准参数对TFT-LCD光敏阵列板进行校准操作；校准操作过程中，控制评估模块监控光强度值变化和校准参数的调整，以确保校准结果的准确性和稳定性；如果发现校准不理想的区域，控制评估模块将启动再次校准的程序；所述不理想的区域包括由于光强度比较大以及响应时间比较长需要再次进行校准的区域；校准结束后；控制评估模块会对所有像素点的校准结果进行检查，判断校准结果是否符合预期要求；如果有任何不正常情况发生，控制评估模块会发出警报提示；其中，所述不正常情况包括像素点的校准结果超出了预定的范围或偏离了均值过多、在像素点上出现了亮度或色彩不一致的情况、某些像素点的响应时间过长或过短、有像素点在校准过程中出现了不良反应，例如出现闪烁或者失效的情况以及校准过程中出现了异常情况，例如设备故障、采集数据不完整等；如果校准结果达到预期要求，则控制评估模块将保存校准结果，并生成校准报告，记录校准过程中的关键参数和结果；如果校准结果不符合预期要求，则控制评估模块需重新启动校准过程，直至校准结果符合要求。
上述技术方案的效果为：通过监控光强度值变化和校准参数的调整，以及对所有像素点的校准结果进行检查，可以有效地减少误差，并提高测试数据的准确性和稳定性；控制评估模块能够自动执行校准操作，并对不理想的区域进行再次校准，减少了人工干预的需求，提高了工作效率和可靠性；控制评估模块能够监测像素点在校准过程中出现的异常情况，并发出警报提示，有利于快速发现和处理设备故障，保障测试结果的准确性和可靠性；控制评估模块能够记录校准过程中的关键参数和结果，并生成校准报告，可以方便用户进行后续分析和管理，从而提高了实验室工作的规范性和可追溯性。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法，其特征在于，所述方法包括：
S1：将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟；
S2：在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块；
S3：校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块；
S4：控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程。
2.根据权利要求1所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法，其特征在于，所述将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟，包括：
S11：获取待校准的TFT-LCD光敏阵列板，并将其放置在实验环境中并对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，所述实验环境包括具有稳定的温度、湿度、光照条件并且具有良好的通风及防尘功能；
S12：对固定的TFT-LCD光敏阵列板进行接电操作，并等待32-45分钟。
3.根据权利要求1所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法，其特征在于，所述在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块，包括：
S21：打开测试光源，并将其调节至适当的亮度和色温，将测试光源放置在TFT-LCD光敏阵列板正上方，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，并与TFT-LCD光敏阵列板间隔31-43CM；
S22： 将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，所述四个区域为第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域以及第四测试区域；
S23：调节测试光源的亮度和色温，逐步增加光线的强度，直至TFT-LCD光敏阵列板的所有像素点均饱和；
S24：将测试光源依次移动至四个区域，记录每个区域的像素点的光线强度值；
S25：通过数据采集模块对TFT-LCD光敏阵列板上每个区域的像素点的光强度值进行采集；
S26：通过模数转换器将光强度值转换为数字信号并发送给校准模块。
4.根据权利要求1所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法，其特征在于，所述校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块，包括：
S31：校准模块接收来自数据采集模块发送的每个区域对应的数字信号，并对每个区域对应的数字信号进行滤波处理，去除多余的高频噪声和低频漂移；
S32：对处理后的数字信号按照所属区域分别进行分段，将不同亮度范围内的信号分为多个组别，每个组别内的数据具有相同的特征；
S33：针对各个区域每个组别内的数据，利用已知的标准光源光强度值作为参考，通过比较每个像素点的光强度值与标准光源光强度值的差异，计算得出修正系数，并通过修正系数计算出校准参数；
S34：对得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块。
5.根据权利要求1所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准方法，其特征在于，所述控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程，包括：
S41：控制评估模块通过获取的校准参数设置TFT-LCD光敏阵列板的校准参数，并通过获取的校准参数对TFT-LCD光敏阵列板进行校准操作；
S42：校准操作过程中，控制评估模块监控光强度值变化和校准参数的调整，以确保校准结果的准确性和稳定性；如果发现校准不理想的区域，控制评估模块将启动再次校准的程序；
S43：校准结束后；控制评估模块会对所有像素点的校准结果进行检查，判断校准结果是否符合预期要求；如果有任何不正常情况发生，控制评估模块会发出警报提示；
S44：如果校准结果达到预期要求，则控制评估模块将保存校准结果，并生成校准报告，记录校准过程中的关键参数和结果；如果校准结果不符合预期要求，则控制评估模块需重新启动校准过程。
6.用于TFT-LCD光敏阵列板的校准系统，其特征在于，所述系统包括：
校准准备模块：将TFT-LCD光敏阵列板放置在一个实验环境中，对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，将TFT-LCD光敏阵列板接通电源并等待32-45分钟；
数据采集模块：在TFT-LCD光敏阵列板正上方放置测试光源，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，通过数据采集模块采集TFT-LCD光敏阵列板上每个像素点的光强度值，将光强度值转换为数字信号并传输给校准模块；
校准模块：校准模块对获取的数字信号进行处理和分析，计算出校准参数，所述校准参数包括TFT-LCD光敏阵列板的灵敏度以及响应时间的数据；并将校准参数传送给控制模块；
控制评估模块：控制评估模块通过获取的校准参数对校准过程进行控制及管理，并对校准过程进行评估，并对校准不理想的区域进行再次校准，所述校准过程包括设置校准参数、保存校准结果以及监控校准过程。
7.根据权利要求6所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准系统，其特征在于，所述校准准备模块，包括：
固定模块：获取待校准的TFT-LCD光敏阵列板，并将其放置在实验环境中并对TFT-LCD光敏阵列板进行固定，所述实验环境包括具有稳定的温度、湿度、光照条件并且具有良好的通风及防尘功能；
接电模块：对固定的TFT-LCD光敏阵列板进行接电操作，并等待32-45分钟。
8.根据权利要求6所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准系统，其特征在于，所述数据采集模块，包括：
光源调试模块：打开测试光源，并将其调节至适当的亮度和色温，将测试光源放置在TFT-LCD光敏阵列板正上方，使测试光源与TFT-LCD光敏阵列板垂直，并与TFT-LCD光敏阵列板间隔31-43CM；
区域划分模块： 将TFT-LCD光敏阵列板划分为四个区域，所述四个区域为第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域以及第四测试区域；
光源调节模块：调节测试光源的亮度和色温，逐步增加光线的强度，直至TFT-LCD光敏阵列板的所有像素点均饱和；
记录模块：将测试光源依次移动至四个区域，记录每个区域的像素点的光线强度值；
采集模块：通过数据采集模块对TFT-LCD光敏阵列板上每个区域的像素点的光强度值进行采集；
转换模块：通过模数转换器将光强度值转换为数字信号并发送给校准模块。
9.根据权利要求6所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准系统，其特征在于，所述校准模块，包括：
滤波处理模块：校准模块接收来自数据采集模块发送的每个区域对应的数字信号，并对每个区域对应的数字信号进行滤波处理，去除多余的高频噪声和低频漂移；
分段模块：对处理后的数字信号按照所属区域分别进行分段，将不同亮度范围内的信号分为多个组别，每个组别内的数据具有相同的特征；
校准参数获得模块：针对各个区域每个组别内的数据，利用已知的标准光源光强度值作为参考，通过比较每个像素点的光强度值与标准光源光强度值的差异，计算得出修正系数，并通过修正系数计算出校准参数；
存储模块：对得到的校准参数数据进行存储，并发送给控制模块。
10.根据权利要求6所述用于TFT-LCD光敏阵列板的校准系统，其特征在于，所述控制评估模块，包括：
校准执行模块：控制评估模块通过获取的校准参数设置TFT-LCD光敏阵列板的校准参数，并通过获取的校准参数对TFT-LCD光敏阵列板进行校准操作；
校准参数调整模块：校准操作过程中，控制评估模块监控光强度值变化和校准参数的调整，以确保校准结果的准确性和稳定性；如果发现校准不理想的区域，控制评估模块将启动再次校准的程序；
校准结果检查模块：校准结束后；控制评估模块会对所有像素点的校准结果进行检查，判断校准结果是否符合预期要求；如果有任何不正常情况发生，控制评估模块会发出警报提示；
综合评价模块：如果校准结果达到预期要求，则控制评估模块将保存校准结果，并生成校准报告，记录校准过程中的关键参数和结果；如果校准结果不符合预期要求，则控制评估模块需重新启动校准过程。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311185871.0A CN116909049B (zh) | 2023-09-14 | 2023-09-14 | 用于tft-lcd光敏阵列板的校准方法和系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311185871.0A CN116909049B (zh) | 2023-09-14 | 2023-09-14 | 用于tft-lcd光敏阵列板的校准方法和系统 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116909049A true CN116909049A (zh) | 2023-10-20 |
| CN116909049B CN116909049B (zh) | 2024-01-05 |
Family
ID=88361311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202311185871.0A Active CN116909049B (zh) | 2023-09-14 | 2023-09-14 | 用于tft-lcd光敏阵列板的校准方法和系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116909049B (zh) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5340978A (en) * | 1992-09-30 | 1994-08-23 | Lsi Logic Corporation | Image-sensing display panels with LCD display panel and photosensitive element array |
| KR20040002291A (ko) * | 2002-06-29 | 2004-01-07 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의 색보정 방법 및 장치 |
| JP2007081565A (ja) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 平面表示装置及びその調整方法 |
| KR20080109609A (ko) * | 2007-06-13 | 2008-12-17 | 주식회사 코윈디에스티 | 평판 디스플레이 어레이 검사 및 리페어 공용 장치 |
| US20090167676A1 (en) * | 2007-12-26 | 2009-07-02 | Tpo Displays Corp. | Display devices with ambient light sensing |
-
2023
- 2023-09-14 CN CN202311185871.0A patent/CN116909049B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5340978A (en) * | 1992-09-30 | 1994-08-23 | Lsi Logic Corporation | Image-sensing display panels with LCD display panel and photosensitive element array |
| KR20040002291A (ko) * | 2002-06-29 | 2004-01-07 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의 색보정 방법 및 장치 |
| JP2007081565A (ja) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 平面表示装置及びその調整方法 |
| KR20080109609A (ko) * | 2007-06-13 | 2008-12-17 | 주식회사 코윈디에스티 | 평판 디스플레이 어레이 검사 및 리페어 공용 장치 |
| US20090167676A1 (en) * | 2007-12-26 | 2009-07-02 | Tpo Displays Corp. | Display devices with ambient light sensing |
| CN101477784A (zh) * | 2007-12-26 | 2009-07-08 | 统宝光电股份有限公司 | 控制方法及实现控制方法的电脑程序及显示装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116909049B (zh) | 2024-01-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN1988418B (zh) | 一种对光模块进行自动定标的方法 | |
| TWI693376B (zh) | 遠端校正系統及其遠端校正感測器的方法 | |
| CN111896224B (zh) | 一种激光供电回路性能检测装置、方法及终端设备 | |
| CN113257160A (zh) | 显示面板的检测设备和检测方法 | |
| CN116909049B (zh) | 用于tft-lcd光敏阵列板的校准方法和系统 | |
| CN206583962U (zh) | 液晶显示屏otp烧录电压测试电路板及系统 | |
| CN110430798A (zh) | 用于视觉敏锐度测试的方法和装置 | |
| CN108801957B (zh) | 一种基于光学方法的生化物质检测仪器及其校准方法 | |
| CN109119031B (zh) | 一种控制显示器屏幕输出亮度的方法、装置及电子设备 | |
| CN111175026B (zh) | 一种泵浦激光器的测试装置及测试方法 | |
| CN116067625A (zh) | 一种光谱仪内置光源长时间波长稳定性测试系统及方法 | |
| CN216621692U (zh) | 一种用于半导体激光器的检测装置 | |
| CN100573059C (zh) | 一种光通信系统设备的在线定标系统和方法 | |
| CN111198477A (zh) | 一种快门组件测试系统及方法 | |
| CN114397546A (zh) | 用于紫外成像电晕检测的目标发光量标定方法及标定装置 | |
| CN110488512B (zh) | 一种显示面板测量设备的补正方法和补正系统 | |
| CN114002901A (zh) | 一种投影仪高效的散热系统 | |
| CN211478866U (zh) | 一种快门组件测试系统 | |
| CN112067165A (zh) | 温度传感器精度测试系统、测试方法、装置及存储介质 | |
| CN212391150U (zh) | 温度传感器精度测试系统 | |
| CN117650840B (zh) | 一种波长光环形器的损耗水平检视方法及系统 | |
| CN117558220B (zh) | 一种液晶显示器质量监测系统及方法 | |
| CN115656188B (zh) | 一种自校准激光治疗仪 | |
| CN219474793U (zh) | 基于温度自补偿多量程的光功率计 | |
| KR102344054B1 (ko) | 레퍼런스 타겟을 이용한 다중 광학계 비전 시스템의 진단 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |