CN216621692U - 一种用于半导体激光器的检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于半导体激光器的检测装置，包括：固定座；以及支撑架，其固定安装于所述固定座的底部；安装座，其设置于所述固定座的顶部，且位于所述固定座的一端，用于安装被检测的激光器；稳定结构，其与所述安装座固定连接，用于稳定被安装的激光器；检测结构，其设置于所述固定座的顶部，且位于所述固定座的另一端，用于检测激光器发出的激光；调节结构，其设置于所述固定座的中部，并位于所述安装座和所述检测结构之间。本实用新型提供的一种用于半导体激光器的检测装置，能够根据使用者的需要检测半导体激光器发出的激光在不同的透光环境和距离下的达到效果，测试范围更广，检测的数据更准确，更便于使用者进行检测。

Description

一种用于半导体激光器的检测装置

技术领域

本实用新型涉及半导体激光器检测技术领域，具体为一种用于半导体激光器的检测装置。

背景技术

半导体激光器又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器，由于物质结构上的差异，不同种类产生激光的具体过程比较特殊，常用工作物质有砷化镓、硫化镉、磷化铟和硫化锌等，半导体激光器广泛使用于光纤通信、光盘、激光打印机、激光扫描器和激光指示器等领域，而半导体激光器在生产加工和投入使用之前，需要对半导体激光器进行检测，以保证半导体激光器的质量与准确性，便需要用到检测装置。

现有的检测设备在使用时，不能够根据不同的环境检测不同的数据，检测数据单一，容易存在误差，不利于使用者对半导体激光器进行检测。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于半导体激光器的检测装置，目的是解决现有的检测设备在使用时，不能够根据不同的环境检测不同的数据，检测数据单一，容易存在误差，不利于使用者对半导体激光器进行检测的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种用于半导体激光器的检测装置，包括：

固定座；以及

支撑架，其固定安装于所述固定座的底部；

安装座，其设置于所述固定座的顶部，且位于所述固定座的一端，用于安装被检测的激光器；

稳定结构，其与所述安装座固定连接，用于稳定被安装的激光器；

检测结构，其设置于所述固定座的顶部，且位于所述固定座的另一端，用于检测激光器发出的激光；

调节结构，其设置于所述固定座的中部，并位于所述安装座和所述检测结构之间，用于调整透光率，以检测不同的数据。

优选的，所述固定座的底部固定连接有控制器，用于检测激光器的电子数据。

优选的，所述安装座包括：

安装板，其可滑动的安装于所述固定座的顶部；

接电座，其与所述安装板固定连接，并与所述控制连通；

滑座，其可滑动的安装于所述固定座的内部，并与所述安装板固定连接；

第一电机，其固定安装于所述固定座的内部；

螺纹杆，其一端与所述第一电机的输出轴固定连接，另一端贯穿所述滑座；

固定板，其与所述安装板固定连接。

优选的，所述螺纹杆与所述滑座螺纹连接。

优选的，所述固定板的内部开设有透光孔。

优选的，所述稳定结构包括：

连接板，其与所述固定板的顶部固定连接；

气缸，其与所述连接板固定连接；

压板，其与所述气缸的输出端固定连接。

优选的，所述压板的底部固定连接有软垫。

优选的，所述调节结构包括：

转动座，其可转动的安装于所述固定座的内部；

多个滤光板，其呈环形均匀安装于所述转动座的外部；

转轴，其与所述转动座固定连接；

蜗轮，其与所述转轴固定连接；

第二电机，其固定安装于所述固定座的内部；

蜗杆，其与所述第二电机的输出轴固定连接，并与所述蜗轮啮合。

优选的，每个所述滤光板的透光率均不一样。

优选的，所述检测结构包括：

伸缩杆，其与所述固定座固定连接；

激光检测器，其与所述伸缩杆固定连接。

与现有技术相比，本实用新型具备以下有益效果：

本实用新型提供的一种用于半导体激光器的检测装置，能够根据使用者的需要检测半导体激光器发出的激光在不同的透光环境和距离下的达到效果，测试范围更广，检测的数据更准确，更便于使用者进行检测。

附图说明

图1为本实用新型所述一种用于半导体激光器的检测装置的结构示意图；

图2为图1中A处结构放大示意图。

图中：10固定座、20支撑架、30安装座、31安装板、32接电座、33滑座、34第一电机、35螺纹杆、36固定板、40稳定结构、41连接板、42气缸、43压板、50调节结构、51转动座、52滤光板、53转轴、54蜗轮、55第二电机、56蜗杆、60检测结构、61伸缩杆、62激光检测器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，一种用于半导体激光器的检测装置，包括：固定座10；以及支撑架20，其固定安装于固定座10的底部；安装座30，其设置于固定座10的顶部，且位于固定座10的一端，用于安装被检测的激光器；稳定结构40，其与安装座30固定连接，用于稳定被安装的激光器；检测结构60，其设置于固定座10的顶部，且位于固定座10的另一端，用于检测激光器发出的激光；调节结构50，其设置于固定座10的中部，并位于安装座30和检测结构60之间，用于调整透光率，以检测不同的数据；固定座10的底部固定连接有控制器，用于检测激光器的电子数据。

在使用时，将半导体激光器安装于固定座10处，然后通过稳定结构40进行稳定，然后半导体激光器发出激光穿过调节结构50后被检测结构60检测，通过调节调节结构50改变透光率，即可测得半导体激光器发出的激光在不同的透光环境下的达到效果，测试范围更广，适应能力更好。

安装座30包括：安装板31，其可滑动的安装于固定座10的顶部；接电座32，其与安装板31固定连接，并与控制连通；滑座33，其可滑动的安装于固定座10的内部，并与安装板31固定连接；第一电机34，其固定安装于固定座10的内部；螺纹杆35，其一端与第一电机34的输出轴固定连接，另一端贯穿滑座33；固定板36，其与安装板31固定连接；螺纹杆35与滑座33螺纹连接；固定板36的内部开设有透光孔。

将半导体激光器放置于安装板31顶部，然后使得激光发射端对准透光孔，通过启动第一电机34可带动螺纹杆35转动，即可带动滑座33滑动，从而可带动安装板31滑动，即可即可调节半导体激光器距离检测结构60的距离，即可适应不同的检测需求，将半导体激光器连接接电座32，然后控制器即可实时检测半导体激光器的各项工作数据。

稳定结构40包括：连接板41，其与固定板36的顶部固定连接；气缸42，其与连接板41固定连接；压板43，其与气缸42的输出端固定连接；压板43的底部固定连接有软垫。

通过启动气缸42可带动压板43移动，从而可将半导体激光器夹持在压板43和安装板31之间即可固定成功。

调节结构50包括：转动座51，其可转动的安装于固定座10的内部；多个滤光板52，其呈环形均匀安装于转动座51的外部；转轴53，其与转动座51固定连接；蜗轮54，其与转轴53固定连接；第二电机55，其固定安装于固定座10的内部；蜗杆56，其与第二电机55的输出轴固定连接，并与蜗轮54啮合；每个滤光板52的透光率均不一样。

检测结构60包括：伸缩杆61，其与固定座10固定连接；激光检测器62，其与伸缩杆61固定连接。

在检测的过程中，启动第二电机55可带动蜗杆56转动，从而可带动蜗轮54转动，即可带动转轴53和滤光板52转动，不同的滤光板52遮挡在半导体激光器和激光检测器62之间，即可达到调节透光率的目的，从而即可测得不同的数据。

综上所述，本实用新型提供的一种用于半导体激光器的检测装置，能够根据使用者的需要检测半导体激光器发出的激光在不同的透光环境和距离下的达到效果，测试范围更广，检测的数据更准确，更便于使用者进行检测。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，包括：

固定座(10)；以及

支撑架(20)，其固定安装于所述固定座(10)的底部；

安装座(30)，其设置于所述固定座(10)的顶部，且位于所述固定座(10)的一端，用于安装被检测的激光器；

稳定结构(40)，其与所述安装座(30)固定连接，用于稳定被安装的激光器；

检测结构(60)，其设置于所述固定座(10)的顶部，且位于所述固定座(10)的另一端，用于检测激光器发出的激光；

调节结构(50)，其设置于所述固定座(10)的中部，并位于所述安装座(30)和所述检测结构(60)之间，用于调整透光率，以检测不同的数据。

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，所述固定座(10)的底部固定连接有控制器，用于检测激光器的电子数据。

3.根据权利要求2所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，所述安装座(30)包括：

安装板(31)，其可滑动的安装于所述固定座(10)的顶部；

接电座(32)，其与所述安装板(31)固定连接，并与所述控制连通；

滑座(33)，其可滑动的安装于所述固定座(10)的内部，并与所述安装板(31)固定连接；

第一电机(34)，其固定安装于所述固定座(10)的内部；

螺纹杆(35)，其一端与所述第一电机(34)的输出轴固定连接，另一端贯穿所述滑座(33)；

固定板(36)，其与所述安装板(31)固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，所述螺纹杆(35)与所述滑座(33)螺纹连接。

5.根据权利要求3所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，所述固定板(36)的内部开设有透光孔。

6.根据权利要求3所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，所述稳定结构(40)包括：

连接板(41)，其与所述固定板(36)的顶部固定连接；

气缸(42)，其与所述连接板(41)固定连接；

压板(43)，其与所述气缸(42)的输出端固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，所述压板(43)的底部固定连接有软垫。

8.根据权利要求1所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，所述调节结构(50)包括：

转动座(51)，其可转动的安装于所述固定座(10)的内部；

多个滤光板(52)，其呈环形均匀安装于所述转动座(51)的外部；

转轴(53)，其与所述转动座(51)固定连接；

蜗轮(54)，其与所述转轴(53)固定连接；

第二电机(55)，其固定安装于所述固定座(10)的内部；

蜗杆(56)，其与所述第二电机(55)的输出轴固定连接，并与所述蜗轮(54)啮合。

9.根据权利要求8所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，每个所述滤光板(52)的透光率均不一样。

10.根据权利要求1所述的一种用于半导体激光器的检测装置，其特征在于，所述检测结构(60)包括：

伸缩杆(61)，其与所述固定座(10)固定连接；

激光检测器(62)，其与所述伸缩杆(61)固定连接。

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