CN116779020B - 一种存储器、测试方法、设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种存储器、测试方法、设备及介质，包括多个随机存储单元，所述随机存储单元至少被区分为第一运行存储单元、第二运行存储单元以及数据存储单元；以及主控制器，通信连接于所述随机存储单元，用以对所述随机存储单元进行测试；其中，当对所述第一运行存储单元进行测试时，所述主控制器用以向所述第二运行存储单元中写入测试代码以进行测试；当对所述第二运行存储单元或所述数据存储单元进行测试时，所述主控制器还用以向所述第一运行存储单元中写入测试代码以进行测试。通过本发明公开的一种存储器、测试方法、设备及介质，该存储器可以实现更加全面性的检测。
Description
技术领域
本发明涉及存储器件技术领域，特别是涉及一种存储器、测试方法、设备及介质。
背景技术
随着存储技术的发展，存储器被广泛应用在智能手机、平板电脑等电子产品内，用以存储数据。为了保证存储器的正常工作，在存储器出厂前后，需要对存储器进行测试，以规避故障产品。
然而目前，在对存储器进行检测时，存在检测范围不全面的问题，导致后期仍容易出现故障问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储器、测试方法、设备及介质，本发明中的存储器可以实现更全面性的检测。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储器，包括：
多个随机存储单元，所述随机存储单元至少被区分为第一运行存储单元、第二运行存储单元以及数据存储单元，所述第一运行存储单元与所述第二运行存储单元用以运行测试代码，所述数据存储单元用以存储数据；以及
主控制器，通信连接于所述随机存储单元，用以对所述随机存储单元进行测试；
其中，所述主控制器用以向所述第二运行存储单元中写入测试代码，以对所述第一运行存储单元进行测试；
所述主控制器还用以向所述第一运行存储单元中写入测试代码，以对所述第二运行存储单元或所述数据存储单元进行测试。
在本发明一实施例中，所述主控制器包括：
分类单元，用以对所有所述随机存储单元进行分类处理，以生成所述随机存储单元的类别信息。
在本发明一实施例中，所述主控制器还包括：
判断单元，用以在对所述随机存储单元进行测试前，基于所述类别信息判断所述随机存储单元是否为所述第一运行存储单元；以及
测试单元，用以基于所述判断单元的判断结果，向所述第一运行存储单元或所述第二运行存储单元中写入所述测试代码，以对所述随机存储单元进行测试。
在本发明一实施例中，所述主控制器包括：
数据读取单元，用以读取所述随机存储单元的测试数据；以及
处理单元，用以基于所述测试数据判断所述随机存储单元是否存在错误。
在本发明一实施例中，所述处理单元基于所述测试数据判断所述随机存储单元存在错误时，所述主控制器停止测试，所述处理单元基于所述测试数据判断所述随机存储单元不存在错误时，所述主控制器继续依次测试未测试的所述随机存储单元。
在本发明一实施例中，所述主控制器包括轮询单元，用以根据是否存在未测试的所述随机存储单元的判断结果，以使所述主控制器完成测试。
在本发明一实施例中，所述轮询单元判断存在未测试的所述随机存储单元时，所述主控制器依次测试未测试的随机存储单元，所述轮询单元判断不存在未测试的所述随机存储单元时，所述主控制器停止测试。
本发明还提供一种存储器测试方法，包括：
通过主控制器对存储器内的多个随机存储单元进行分类处理，以使所述随机存储单元至少被区分为第一运行存储单元、第二运行存储单元以及数据存储单元，所述第一运行存储单元与所述第二运行存储单元用以运行测试代码，所述数据存储单元用以存储数据；
通过所述主控制器向所述第二运行存储单元中写入测试代码，以对所述第一运行存储单元进行测试；
通过所述主控制器向所述第一运行存储单元中写入测试代码，以对所述第二运行存储单元或所述数据存储单元进行测试。
本发明还提供一种电子设备，包括：
一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述电子设备实现上述的存储器测试方法。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行上述的存储器测试方法。
如上所述，本发明提供一种存储器、测试方法、设备及介质，本发明中的存储器可以实现更加全面性的检测。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一实施例中存储器的结构示意图；
图2为本发明一实施例中主控制器的结构示意图；
图3为本发明一实施例中存储器测试方法的流程图；
图4为图2中步骤S10之后的流程图；
图5为图3中步骤S30之后的流程图；
图6为本发明一实施例中存储器测试方法的总体流程图。
元件标号说明：
10、主机；
20、存储器；
21、主控制器；211、分类单元；212、判断单元；213、测试单元；214、数据读取单元；215、处理单元；216、轮询单元；
22、随机存储单元；221、第一运行存储单元；222、第二运行存储单元；223、数据存储单元。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-6。需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
请参阅图1，本发明实施例提供的一种存储器，其中，存储器20可以包括主控制器21以及随机存储单元22。主控制器21可以通信连接于主机10，以接收主机10发出的测试指令，从而对随机存储单元22进行测试。随机存储单元22可以为多个，多个随机存储单元22可以至少被区分为第一运行存储单元221、第二运行存储单元222以及数据存储单元223。当对第一运行存储单元221进行测试时，主控制器21可以向第二运行存储单元222中写入测试代码以进行测试，保证用以运行测试代码的第一运行存储单元221也能得到测试。当对第二运行存储单元222进行测试时，主控制器21可以向第一运行存储单元221中写入测试代码以进行测试，保证用以运行测试代码的第二运行存储单元222也能得到测试。当对数据存储单元223进行测试时，主控制器21可以向第一运行存储单元221中写入测试代码以进行测试，保证普通的数据存储单元223可以得到测试。上述存储器结构可以对存储器20的所有随机存储单元22进行全面性检测，从而提高检测结果的准确度，最终保证存储器20内随机存储单元22的出货质量，减少存储器20后续使用过程中由于随机存储单元22故障所产生的问题。
请参阅图1，在本发明的一个实施例中，主机10可以为个人计算机、与网络连接的服务器等。存储器20可以是嵌入式存储器（EMMC）、通用闪存存储（UFS）、固态硬盘（SSD）等存储器。存储器20的主控制器21可以通信连接于主机10，以接收主机10发出的测试指令，从而对存储器20内的随机存储单元22进行测试。具体地，主控制器21内可以预先写入测试固件，主机10可以向主控制器21发出测试指令，以通过测试固件对随机存储单元22进行读写测试。在对随机存储单元22进行读写测试时，可以将测试代码写入随机存储单元22内进行测试，通过读取随机存储单元22的测试数据可以判断随机存储单元22是否存在错误。
请参阅图1及图2，在本发明的一个实施例中，为了更加全面地检测存储器20内的所有随机存储单元22，可以预先对所有随机存储单元22进行分类，以保证用以运行测试代码的随机存储单元22也可以进行测试。具体地，主控制器21可以包括分类单元211，用以预先对所有随机存储单元22进行分类处理，以生成每个随机存储单元22的类别信息。类别信息可以至少被区分为第一运行存储单元221、第二运行存储单元222以及数据存储单元223。第一运行存储单元221可以定义为原本用于运行测试代码的随机存储单元22，第二运行存储单元222可以定位为增加的另一个用于运行测试代码的随机存储单元22，数据存储单元223可以定义为普通的具有存储功能的随机存储单元22。通过将随机存储单元22分类为三类，在对用以运行测试代码的一类随机存储单元22进行测试时，可以改用其他类随机存储单元22运行测试代码，以对其进行测试。
请参阅图2，具体来说，主控制器21还可以包括判断单元212以及测试单元213，判断单元212可用以在对随机存储单元22进行测试前，基于每个待检测的随机存储单元22的类别信息判断该随机存储单元22是否为第一运行存储单元221。基于判断单元212的判断结果，测试单元213可以向第一运行存储单元221或第二运行存储单元222中写入测试代码，以对随机存储单元22进行测试。在对随机存储单元22进行测试时，若判断单元212判断该随机存储单元22为第一运行存储单元221，则测试单元213可以向第二运行存储单元222中写入测试代码以进行测试，保证用以运行测试代码的第一运行存储单元221也能得到测试。当判断单元212判断该随机存储单元22不是第一运行存储单元221时，测试单元213可以向第一运行存储单元221中写入测试代码以进行测试，保证用以运行测试代码的第二运行存储单元222或者普通的数据存储单元223可以进行测试。
请参阅图2，具体来说，主控制器21还可以包括数据读取单元214以及处理单元215。数据读取单元214可以读取随机存储单元22的测试数据。处理单元215可以基于测试数据判断随机存储单元22是否存在错误。当处理单元215基于测试数据判断随机存储单元22存在错误时，主控制器21可以停止测试，以对随机存储单元22的测试数据进行分析。当处理单元215基于测试数据判断随机存储单元22不存在错误时，主控制器21可以继续依次测试未测试的随机存储单元22。
请参阅图2，在本发明的一个实施例中，主控制器21还可以包括轮询单元216，用以在每次测试前，判断是否存在未测试的随机存储单元22。当轮询单元216判断存在未测试的随机存储单元22时，主控制器21可以继续依次测试未测试的随机存储单元。当轮询单元216判断不存在未测试的随机存储单元22时，主控制器21可以停止测试。
请参阅图3，本发明还提供一种存储器测试方法，该测试方法可以应用于上述实施例中的存储器中，以对存储器中的随机存储单元进行全面性检测。该存储器测试方法可以包括如下步骤：
步骤S10、通过主控制器对存储器内的多个随机存储单元进行分类处理，以使所述随机存储单元至少被区分为第一运行存储单元、第二运行存储单元以及数据存储单元。
步骤S20、当对所述第一运行存储单元进行测试时，所述主控制器向所述第二运行存储单元中写入测试代码以进行测试。
步骤S30、当对所述第二运行存储单元或所述数据存储单元进行测试时，所述主控制器向所述第一运行存储单元中写入测试代码以进行测试。
请参阅图3所示，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S10时，即通过主控制器21对存储器20内的多个随机存储单元22进行分类处理，以使随机存储单元22至少被区分为第一运行存储单元221、第二运行存储单元222以及数据存储单元223。具体地，主控制器21可以包括分类单元211，用以预先对所有随机存储单元22进行分类处理，以生成每个随机存储单元22的类别信息。类别信息可以至少被区分为第一运行存储单元221、第二运行存储单元222以及数据存储单元223。第一运行存储单元221可以定义为原本用于运行测试代码的随机存储单元22，第二运行存储单元222可以定位为增加的另一个用于运行测试代码的随机存储单元22，数据存储单元223可以定义为普通的具有存储功能的随机存储单元22。
需要说明的是，通过将随机存储单元22分类为三类，在对用以运行测试代码的一类随机存储单元22进行测试时，可以改用其他类随机存储单元22运行测试代码，以对其进行测试，以保证用以运行测试代码的随机存储单元22也能被测试。
请参阅图4所示，在本发明的一个实施例中，在执行步骤S10之后，还可以包括如下步骤：
步骤S11、通过主控制器的轮询单元判断是否存在未测试的随机存储单元。
步骤S12、当所述轮询单元判断存在未测试的所述随机存储单元时，所述主控制器依次测试未测试的随机存储单元，当所述轮询单元判断不存在未测试的所述随机存储单元时，所述主控制器停止测试。
步骤S13、当所述主控制器依次测试未测试的随机存储单元时，通过主控制器的判断单元基于类别信息判断所述随机存储单元是否为第一运行存储单元。
请参阅图4所示，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S11至步骤S12时，需要说明的是，在每次检测前，可以通过轮询单元216判断是否存在未测试的随机存储单元22。当轮询单元216判断存在未测试的随机存储单元22时，主控制器21可以继续依次测试未测试的随机存储单元22。当轮询单元216判断不存在未测试的随机存储单元22时，主控制器21可以停止测试。举例来说，待检测的随机存储单元22可以设定为包括第一运行存储单元srama、第二运行存储单元sram b以及数据存储单元sram c。当已测试第一运行存储单元sram a后，轮询单元216可以分析并判断还存在未测试的第二运行存储单元sram b以及数据存储单元sram c，此时主控制器21可以继续依次测试未测试的随机存储单元22。当已测试完第一运行存储单元sram a、第二运行存储单元sram b以及数据存储单元sram c后，轮询单元216可以分析并判断不存在未测试的随机存储单元22，此时主控制器21可以停止测试。
请参阅图4，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S13时，即当所述主控制器依次测试未测试的随机存储单元时，通过主控制器的判断单元基于类别信息判断所述随机存储单元是否为第一运行存储单元。需要说明的是，当主控制器21依次测试未测试的随机存储单元22时，可以通过主控制器21的判断单元212基于类别信息判断随机存储单元22是否为第一运行存储单元221。基于随机存储单元22是否为第一运行存储单元221的判断结果，可以针对性地在不同类型的随机存储单元22上运行测试代码，以进行测试。具体地，若判断单元212判断随机存储单元22为第一运行存储单元221，则测试单元213可以向第二运行存储单元222中写入测试代码以进行测试。若判断单元212判断随机存储单元22不是第一运行存储单元221，即当随机存储单元22是第二运行存储单元222或者数据存储单元223时，则测试单元213可以向第一运行存储单元221中写入测试代码以进行测试。
请参阅图3，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S20及步骤S30时，即当对所述第一运行存储单元进行测试时，所述主控制器向所述第二运行存储单元中写入测试代码以进行测试，当对所述第二运行存储单元或所述数据存储单元进行测试时，所述主控制器向所述第一运行存储单元中写入测试代码以进行测试。具体地，第一运行存储单元221可以定义为原本用于运行测试代码的随机存储单元22，第二运行存储单元222可以定位为增加的另一个用于运行测试代码的随机存储单元22，数据存储单元223可以定义为普通的具有存储功能的随机存储单元22。在对随机存储单元22进行测试时，若判断单元212判断该随机存储单元22为第一运行存储单元221，则测试单元213可以向第二运行存储单元222中写入测试代码以进行测试，保证用以运行测试代码的第一运行存储单元221也能得到测试。当判断单元212判断该随机存储单元22不是第一运行存储单元221，例如是第二运行存储单元222或者数据存储单元223时，测试单元213可以向第一运行存储单元221中写入测试代码以进行测试，保证用以运行测试代码的第二运行存储单元222或者普通的数据存储单元223可以进行测试。上述测试方法可以对存储器20的所有类型的随机存储单元22进行全面性检测，避免原本用于运行测试代码的第一运行随机存储单元221无法检测的问题，从而提高检测结果的准确度，最终保证存储器20内随机存储单元22的出货质量，减少存储器20后续使用过程中由于随机存储单元22故障所产生的问题。
请参阅图5及图6，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S30之后，具体地，可以包括如下步骤：
步骤S40、通过主控制器的数据读取单元读取所述随机存储单元的测试数据。
步骤S50、通过主控制器的处理单元基于所述测试数据判断所述随机存储单元是否存在错误。
在本发明的一个实施例中，当执行步骤S40及步骤S50时，具体地，主控制器的数据读取单元可以读取随机存储单元22的测试数据。当处理单元215基于所述测试数据判断随机存储单元22存在错误时，主控制器21可以停止测试。处理单元215基于测试数据判断所述随机存储单元22不存在错误时，所述主控制器21可以继续依次测试未测试的随机存储单元22，以测试其他随机存储单元22是否存在错误。
可见，在上述方案中，可以对存储器20的所有随机存储单元22进行全面性检测，从而提高检测结果的准确度，保证存储器20内随机存储单元22的出货质量，减少存储器20后续使用过程中由于随机存储单元22故障所产生的问题。
本发明还提出一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序用于执行上述存储器测试方法。计算机可读存储介质可以是电子介质、磁介质、光介质、电磁介质、红外介质或半导体系统或传播介质。计算机可读存储介质还可以包括半导体或固态存储器、磁带、可移动计算机磁盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、硬磁盘和光盘。光盘可以包括光盘-只读存储器(CD-ROM)、光盘-读/写(CD-RW)和DVD。
本发明还提供一种电子设备，包括处理器和存储装置，存储装置存储有程序指令，处理器运行程序指令实现上述的存储器测试方法。处理器可以是通用处理器，包括中央处理器（Central Processing Unit，简称CPU）、 网络处理器（Network Processor，简称NP）等；还可以是数字信号处理器（Digital Signal Processing，简称DSP）、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit，简称 ASIC）、现场可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array，简称FPGA）或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件；存储装置可能包含随机存取存储器 （Random Access Memory，简称RAM），也可能还包括非易失性存储器（Non-Volatile Memory），例如至少一个磁盘存储器。存储装置也可以为随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）类型的内部存储器，处理器、存储装置可以集成为一个或多个独立的电路或硬件，如：专用集成电路（ApplicationSpecificIntegrated Circuit，ASIC）。需要说明的是，存储装置中的计算机程序通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，电子设备或者网络设备等）执行本发明各个实施例方法的全部或部分步骤。
在本说明书的描述中，参考术语“本实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本发明实施例只是用于帮助阐述本发明。实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (10)
1.一种存储器，其特征在于，包括：
多个随机存储单元，所述随机存储单元至少被区分为第一运行存储单元、第二运行存储单元以及数据存储单元，所述第一运行存储单元与所述第二运行存储单元用以运行测试代码，所述数据存储单元用以存储数据；以及
主控制器，通信连接于所述随机存储单元，用以对所述随机存储单元进行测试；
其中，所述主控制器用以向所述第二运行存储单元中写入测试代码，以对所述第一运行存储单元进行测试；
所述主控制器还用以向所述第一运行存储单元中写入测试代码，以对所述第二运行存储单元或所述数据存储单元进行测试。
2.根据权利要求1所述的存储器，其特征在于，所述主控制器包括：
分类单元，用以对所有所述随机存储单元进行分类处理，以生成所述随机存储单元的类别信息。
3.根据权利要求2所述的存储器，其特征在于，所述主控制器还包括：
判断单元，用以在对所述随机存储单元进行测试前，基于所述类别信息判断所述随机存储单元是否为所述第一运行存储单元；以及
测试单元，用以基于所述判断单元的判断结果，向所述第一运行存储单元或所述第二运行存储单元中写入所述测试代码，以对所述随机存储单元进行测试。
4.根据权利要求1所述的存储器，其特征在于，所述主控制器包括：
数据读取单元，用以读取所述随机存储单元的测试数据；以及
处理单元，用以基于所述测试数据判断所述随机存储单元是否存在错误。
5.根据权利要求4所述的存储器，其特征在于，所述处理单元基于所述测试数据判断所述随机存储单元存在错误时，所述主控制器停止测试，所述处理单元基于所述测试数据判断所述随机存储单元不存在错误时，所述主控制器继续依次测试未测试的所述随机存储单元。
6.根据权利要求1所述的存储器，其特征在于，所述主控制器包括轮询单元，用以根据是否存在未测试的所述随机存储单元的判断结果，以使所述主控制器完成测试。
7.根据权利要求6所述的存储器，其特征在于，所述轮询单元判断存在未测试的所述随机存储单元时，所述主控制器依次测试未测试的随机存储单元，所述轮询单元判断不存在未测试的所述随机存储单元时，所述主控制器停止测试。
8.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：
通过主控制器对存储器内的多个随机存储单元进行分类处理，以使所述随机存储单元至少被区分为第一运行存储单元、第二运行存储单元以及数据存储单元，所述第一运行存储单元与所述第二运行存储单元用以运行测试代码，所述数据存储单元用以存储数据；
通过所述主控制器向所述第二运行存储单元中写入测试代码，以对所述第一运行存储单元进行测试；
通过所述主控制器向所述第一运行存储单元中写入测试代码，以对所述第二运行存储单元或所述数据存储单元进行测试。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述电子设备实现如权利要求8所述的存储器测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行权利要求8所述的存储器测试方法。
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