CN116773988A - 一种电极及一种测试组件 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电极，用于放置在待测件需要测试的面，所述电极朝向待测件的表面设有多个凸起结构，所述凸起结构由底部向顶部横截面逐渐缩小，所述凸起结构的底部靠近电极表面设置，凸起结构的顶部靠近待测件设置。本发明还提供一种测试组件，包括待测件与上述电极，所述电极置于待测件需要测试的面。电极表面经特殊设计，能够有效检测出有耐压缺陷的产品。

Description

一种电极及一种测试组件
技术领域
本发明涉及电器测试技术领域，尤其涉及一种电极及一种测试组件。
背景技术
CSA、UL、IEC等几乎各种电器安全标准都会要求对产品进行耐压测试，这就可以看出耐压测试是电器安全标准的一个重要组成部分。耐压测试(Dielectric VoltageWithstand Test)，也就是俗称的高压测试(High Voltage Test)，是通过对产品施加一个高于其额定值的电压并维持一定时间来判定设备的绝缘材料和空间距离是否符合要求的测试。现如今各种电器部件或者电器周边部件在出厂时都会做耐压测试，目的是为了检出塑胶产品的生产缺陷。
目前市面上大部分产品的耐压测试都是采用探针作为测试电极，部分塑胶件使用正负电极作为测试电极。但是现有现有采用正负电极的方式都只是用一个铜块做正负电极的载体放置在产品需要测试的面，对于铜块没有进行表面设计，针对耐压强度比较大的塑胶产品就很难将有生产缺陷的产品检测出来。
发明内容
鉴于现有技术的上述不足，本发明所要解决的技术问题是：提供一种电极以及一种测试组件，电极表面经特殊设计，能够有效检测出有耐压缺陷的产品。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
一种电极，用于放置在待测件需要测试的面，所述电极朝向待测件的表面设有多个凸起结构，所述凸起结构由底部向顶部横截面逐渐缩小，所述凸起结构的底部靠近电极表面设置，凸起结构的顶部靠近待测件设置。
本发明采用的另一个技术方案为：
一种测试组件，包括待测件与上述的电极，所述电极置于待测件需要测试的面。
本发明的有益效果在于：通过在电极表面设计特殊的凸起结构，相对于普通的光面设计，在测试有缺陷的待测件时，更容易产生电弧，从而达到击穿放电，检测出不良品的效果，因此能够有效检测出产品的耐压缺陷，适用不同的待测件，尤其对于较厚的塑胶材质或者不容易放电的产品。相对于探针式的测试电极，使用寿命更长，节省了电极的损耗和更换成本。并且可以通过适当调节电极与待测件之间的距离或者凸起结构之间的距离，以应对自身放电难易程度不同的产品，灵活性强。
附图说明
图1所示为本发明实施例的电极结构示意图；
图2所示为本发明实施例的测试组件的组装结构示意图；
图3所示为本发明实施例的测试组件的爆炸结构示意图。
标号说明：
1、电极；2、凸起结构；3、待测件；4、正电极；5、负电极。
具体实施方式
为了能更清楚地理解本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合具体实施方式并配合附图对本发明进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
请参照图1所示，本发明提供一种电极，用于放置在待测件需要测试的面，所述电极朝向待测件的表面设有多个凸起结构，所述凸起结构由底部向顶部横截面逐渐缩小，所述凸起结构的底部靠近电极表面设置，凸起结构的顶部靠近待测件设置。
从上述描述可知，通过在电极表面设计特殊的凸起结构，相对于普通的光面设计，在测试有缺陷的待测件时，更容易产生电弧，从而达到击穿放电，检测出不良品的效果，因此能够有效检测出产品的耐压缺陷，适用不同的待测件，尤其对于较厚的塑胶材质或者不容易放电的产品。相对于探针式的测试电极，使用寿命更长，节省了电极的损耗和更换成本。并且可以通过适当调节电极与待测件之间的距离或者凸起结构之间的距离，以应对自身放电难易程度不同的产品，灵活性强。
进一步的，所述凸起结构为锥形。
进一步的，所述凸起结构为金字塔形。
从上述描述可知，本发明的凸起结构优选为锥形，尤其是金字塔形，能够更有效地进行击穿放电，从而实现更有效的耐压测试。
进一步的，所述凸起结构的顶部与底部之间的距离为0.5mm-2mm。
从上述描述可知，上述凸起结构的高度设置，检测效果最佳。
进一步的，多个所述凸起结构均匀分布，相邻两个凸起结构其中心线之间的距离为1mm。
从上述描述可知，上述凸起结构之间的距离设置，检测效果最佳。通过上述凸起高度和间距设置，能够有效适用较厚的塑胶件或者不容易放电的产品。
进一步的，所述电极朝向待测件的表面设有凹槽，所述凸起结构设于所述凹槽内，所述凹槽的边缘高于凸起结构的顶部。
从上述描述可知，通过上述设置，凸起结构不用直接接触待测产品，可以减少对产品的压伤风险。
进一步的，所述凹槽的边缘与凸起结构的顶部的高度差为0.1mm。
从上述描述可知，通过上述高度差设置，既能够减少对产品的压伤风险，又能够确保检测的有效性。
请参照图2所示，本发明还提供一种测试组件，包括待测件与上述电极，所述电极置于待测件需要测试的面。
从上述描述可知，通过在电极表面设计特殊的凸起结构，相对于普通的光面设计，在测试有缺陷的待测件时，更容易产生电弧，从而达到击穿放电，检测出不良品的效果，因此能够有效检测出产品的耐压缺陷，适用不同的待测件，尤其对于较厚的塑胶材质或者不容易放电的产品。相对于探针式的测试电极，使用寿命更长，节省了电极的损耗和更换成本。并且可以通过适当调节电极与待测件之间的距离或者凸起结构之间的距离，以应对自身放电难易程度不同的产品，灵活性强。
进一步的，所述电极与待测件之间的距离为0.1mm。
进一步的，所述凸起结构的顶部与待测件之间的距离为0.2mm。
从上述描述可知，上述电极与产品之间的间隙设置，既可以有效检测出产品的耐压缺陷，又不会对产品造成压伤。
请参照图1，本发明的实施例一为：
一种电极1，用于放置在待测件需要测试的面。测试时，所述电极与待测件之间具有间隙。
所述电极1朝向待测件的表面设有多个均匀分布的凸起结构2，所述凸起结构2由底部向顶部横截面逐渐缩小，具体的，所述凸起结构2为金字塔形。所述凸起结构2的底部靠近电极1表面设置，凸起结构2的顶部靠近待测件设置。
所述凸起结构2的高度(即顶部与底部之间的距离)为0.5mm-2mm，如图1中a所示。相邻两个凸起结构2其中心线之间的距离为1mm，如图1中b所示。
在一优选设置中，所述电极1朝向待测件的表面设有凹槽，凸起结构2设于所述凹槽内，所述凹槽的边缘高于凸起结构2的顶部，所述凹槽的边缘与凸起结构2的顶部的高度差为0.1mm。
请参照图2和3，本发明的实施例二为：
一种测试组件，包括待测件3、正电极4和负电极5。所述正电极4和负电极5为实施例一所述的电极结构。所述正电极(负电极)与待测件之间的距离为0.1mm。所述凸起结构2的顶部与待测件之间的距离为0.2mm。
综上所述，本发明提供的电极和测试组件，具有如下优点：
1、可靠性高：金字塔形的凸起结构设计相对于普通的光面电极设计，在测试有缺陷的被测物时，更容易产生电弧，从而达到击穿放电，有效检测出耐压缺陷产品。
2、无压伤风险：电极表面的凸起结构设计不需要直接接触产品，相对于探针或者普通电极需直接接触产品，本发明有效减少了产品的压伤风险。
3、成本低：对比探针式的耐高压测试电极，本发明的电极使用寿命更长，有效节省了电极的损耗和更换成本。
4、通用性强：可适用不同的产品，尤其是较厚的塑胶材质或者不容易放电的产品。
5、灵活度高：可以通过适当调节电极和产品的间隙或者更改凸起的间距，以适用自身放电的难易程度不同的产品。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，故凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种电极，用于放置在待测件需要测试的面，其特征在于，所述电极朝向待测件的表面设有多个凸起结构，所述凸起结构由底部向顶部横截面逐渐缩小，所述凸起结构的底部靠近电极表面设置，凸起结构的顶部靠近待测件设置。
2.根据权利要求1所述的电极，其特征在于，所述凸起结构为锥形。
3.根据权利要求1所述的电极，其特征在于，所述凸起结构为金字塔形。
4.根据权利要求1所述的电极，其特征在于，所述凸起结构的顶部与底部之间的距离为0.5mm-2mm。
5.根据权利要求1所述的电极，其特征在于，多个所述凸起结构均匀分布，相邻两个凸起结构其中心线之间的距离为1mm。
6.根据权利要求1所述的电极，其特征在于，所述电极朝向待测件的表面设有凹槽，所述凸起结构设于所述凹槽内，所述凹槽的边缘高于凸起结构的顶部。
7.根据权利要求6所述的电极，其特征在于，所述凹槽的边缘与凸起结构的顶部的高度差为0.1mm。
8.一种测试组件，其特征在于，包括待测件与权利要求1-7任意一项所述的电极，所述电极置于待测件需要测试的面。
9.根据权利要求8所述的测试组件，其特征在于，所述电极与待测件之间的距离为0.1mm。
10.根据权利要求9所述的测试组件，其特征在于，所述凸起结构的顶部与待测件之间的距离为0.2mm。
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