CN116735855A - 一种双光路检测模组 - Google Patents

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余自如
于伟鹏
张�焕
王亚萍
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Abstract

本申请公开了一种双光路检测模组，包括：双光路产生组件和荧光接收组件；其中，所述双光路产生组件包括光源和分光器件；所述双光路产生组件用于通过所述光源产生激发光，并通过所述分光器件对所述激发光分光，获得第一激发光路和第二激发光路；其中，所述第一激发光路对应荧光测试卡上的控制线，并在所述控制线激发产生第一荧光光束；所述第二激发光路对应所述荧光测试卡上的检测线，并在所述检测线激发产生第二荧光光束；所述荧光接收组件用于探测所述第一荧光光束和所述第二荧光光束。该双光路检测模组能够在稳定条件下测量荧光强度，并且大大提高了检测效率，降低成本，有利于干式荧光免疫分析仪结构小型化。

Description

一种双光路检测模组
技术领域
本申请涉及光学检测技术领域，特别是涉及一种双光路检测模组。
背景技术
干式荧光检测技术以干式荧光测试卡为载体，干式荧光测试卡一般是划有控制线(C线)、检测线(T线)的条状纤维层材料，待测物质在T线处经过特异性免疫结合反应，并且混合游离物在C线处经过免疫反应。通过特定波长的激发光激发测试卡上的T线和C线区域，T线和C线区域上面的物质分子受激跃迁至激发态，处于激发态的分子以辐射的形式将富余能量以发光的方式释放出来，即产生荧光，而分子自身重新恢复到基态。干式荧光免疫分析仪就是通过测定T线和C线产生的荧光信号的强度，形成荧光免疫测定曲线，再通过计算机算法对测定曲线进行处理从而确定待测物的定量浓度。因此，准确测定干式荧光测试卡T线和C线产生的荧光信号强度对于确定待测物的定量浓度的最终结果具有十分关键的作用。
目前干式荧光免疫分析仪常用的测定方法是通过步进电机和皮带等传送装置使干式荧光测试卡的T线和C线先后位移到指定测试位置，利用测试位置上面的光路装置首先测量T线荧光强度，随后测试C线荧光强度。
但是随着这一测定方法的使用，其存在的问题也逐渐展现。步进电机和皮带等传送装置会造成仪器内部机械振动，使测量光路不稳定，不利于荧光信号的采集，最终降低测试结果准确度和重复性，测量方式耗费耗时，步进电机和皮带等传送装置占用仪器较大空间，不利于仪器的小型化发展。
发明内容
基于上述问题，本申请提供了一种双光路检测模组，以在稳定条件下测量荧光强度，提高了检测效率，降低成本，实现检测仪器结构的小型化。
本申请实施例公开了如下技术方案：
一种双光路检测模组，包括：双光路产生组件和荧光接收组件；其中，所述双光路产生组件包括光源和分光器件；
所述双光路产生组件用于通过所述光源产生激发光，并通过所述分光器件对所述激发光分光，获得第一激发光路和第二激发光路；
其中，所述第一激发光路对应荧光测试卡上的控制线，并在所述控制线激发产生第一荧光光束；所述第二激发光路对应所述荧光测试卡上的检测线，并在所述检测线激发产生第二荧光光束；
所述荧光接收组件用于探测所述第一荧光光束和所述第二荧光光束。
可选的，所述双光路产生组件还包括：第一反射器件，所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上或者设置在所述第二激发光路上；
当所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述控制线；
当所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述检测线。
可选的，所述第一反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行。
可选的，所述双光路产生组件还包括：第一准直镜，所述第一准直镜设置在所述光源与所述分光器件之间，用于将所述激发光准直后传输给所述分光器件。
可选的，所述双光路产生组件还包括：第一会聚透镜和第二会聚透镜，其中所述第一会聚透镜设置在所述第一激发光路上，用于将所述第一激发光路的光会聚到所述控制线；所述第二会聚透镜设置在所述第二激发光路上，用于将所述第二激发光路的光会聚到所述检测线。
可选的，所述荧光接收组件包括第一光电探测器和第二光电探测器；所述双光路检测模组还包括：第二反射器件和第三反射器件；所述第二反射器件用于将所述控制线产生的所述第一荧光光束反射至所述第一光电探测器；所述第三反射器件用于将所述检测线产生的所述第二荧光光束反射至所述第二光电探测器。
可选的，所述第二反射器件设置在所述第一激发光路上，所述第二反射器件对于第一激发光路起到透射作用；所述第三反射器件设置在所述第二激发光路上，所述第三反射器件用于对所述第二激发光路起到透射作用。
可选的，所述第一激发光路为所述分光器件的透射光路，所述第二激发光路为所述分光器件的反射光路；所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上；
所述第二反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行且朝向相反；所述第三反射器件的反射面与所述第二反射器件的反射面垂直；所述分光器件的反射面与所述激发光在所述分光器件成45°入射角。
可选的，还包括：滤光组件；所述滤光组件包括第一滤光片和第二滤光片，其中，所述第一滤光片设置在所述第一激发光路上，用于滤除所述第一激发光路上与所述控制线的荧光激发波长无关的光；所述第二滤光片设置在所述第二激发光路上，用于滤除所述第二激发光路上与所述检测线的荧光激发波长无关的光。
可选的，所述滤光组件还包括第三滤光片和第四滤光片，其中所述第三滤光片用于滤除所述第一荧光光束中与所述控制线的荧光发射波长无关的光；所述第四滤光片用于滤除所述第二荧光光束中与所述检测线的荧光发射波长无关的光。
可选的，所述荧光接收组件还包括：第三会聚透镜和第四会聚透镜；其中所述第三会聚透镜用于会聚所述第一荧光光束至所述第一光电探测器；所述第四会聚透镜用于会聚所述第二荧光光束至所述第二光电探测器；
所述双光路检测模组还包括第二准直镜和第三准直镜；所述第二准直镜设置在所述第三会聚透镜的第一侧，所述第三会聚透镜的第二侧设有所述第一光电探测器；所述第二准直镜用于在所述第一荧光光束进入所述第三会聚透镜之前，对所述第一荧光光束进行准直；所述第三准直镜设置在所述第四会聚透镜的第一侧，所述第四会聚透镜的第二侧设有所述第二光电探测器；所述第三准直镜用于在所述第二荧光光束进入所述第四会聚透镜之前，对所述第二荧光光束进行准直。
可选的，所述第一激发光路上设置的器件和所述第二激发光路上设置的器件分别位于两条相互平行的直线上；
所述第一激发光路上设置的器件共用第一位移装置，所述第二激发光路上设置的器件共用第二位移装置；所述第一激发光路和所述第二激发光路的距离受所述第一位移装置和/或所述第二位移装置的调节可变。
相较于现有技术，本申请具有以下有益效果：
本申请实施例提供的一种双光路检测模组采用双光路产生组件生成两激发光路，同时激发干式荧光测试卡上的检测线和控制线的荧光，使用荧光接收组件同时探测干式荧光测试卡上的检测线和控制线的两路荧光，能够在稳定条件下测量荧光强度，并且大大提高了检测效率，降低成本，由于双光路检测模组测量荧光强度不需要传送装置配合检测，将双光路检测模组应用于干式荧光免疫分析仪，有利于干式荧光免疫分析仪结构小型化。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种双光路检测模组的组成示意图；
图2为本申请实施例提供的一种双光路检测模组的结构示意图；
图3为本申请实施例提供的另一种双光路检测模组的结构示意图。
具体实施方式
正如前文描述，目前的干式荧光免疫分析仪需要通过步进电机和皮带等传送装置传送测试卡的检测线和控制线先后到固定位置的光路下进行荧光强度检测，步进机和皮带的机械振动会导致检测光路不稳定，影响荧光信号的采集，进而导致检测精度不准，且检测线和控制线先后检测效率不高，步进电机和皮带等传送装置占用空间较大，不利于干式荧光免疫分析仪小型化。
发明人经过研究提出一种双光路检测模组采用双光路产生组件生成两激发光路，同时激发干式荧光测试卡上的检测线和控制线的荧光，使用荧光接收组件同时探测干式荧光测试卡上的检测线和控制线的两路荧光，能够在稳定条件下测量荧光强度，并且大大提高了检测效率，降低成本，由于双光路检测模组测量荧光强度不需要传送装置配合检测，将双光路检测模组应用于干式荧光免疫分析仪，有利于干式荧光免疫分析仪结构小型化。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
如图1所示，本申请的一个实施例提供一种双光路检测模组，包括：双光路产生组件和荧光接收组件；
其中，所述双光路产生组件包括光源和分光器件。
在一个具体示例中，光源可以采用LED，激光器，分光器件可以采用半透半反镜。
所述双光路产生组件用于通过所述光源产生激发光，并通过所述分光器件对所述激发光分光，获得第一激发光路和第二激发光路。
在一个具体示例中，第一激发光路和第二激发光路光强比例为1：1。
所述第一激发光路对应荧光测试卡上的控制线(C线)，并在所述控制线(C线)激发产生第一荧光光束；所述第二激发光路对应所述荧光测试卡上的检测线(T线)，并在所述检测线(T线)激发产生第二荧光光束；所述荧光接收组件用于探测所述第一荧光光束和所述第二荧光光束。
激发光的波长一般与标记的荧光分子激发波长一致，目前常见荧光激发光波长为蓝紫光355nm-365nm，绿光480nm-500nm。
在一个可能的实现方式中，双光路产生组件还包括：第一反射器件，所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上或者设置在所述第二激发光路上；当所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述控制线；当所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述检测线。第一反射器件改变分光器件反射的第一激发光光路或者第二激发光光路的方向，使两激发光光路平行。
在一个具体示例中，第一反射器件是全反射镜。
在一个可能的实现方式中，所述第一反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行。
在一个可能的实现方式中，所述双光路产生组件还包括：第一准直镜，所述第一准直镜设置在所述光源与所述分光器件之间，用于将所述激发光准直后传输给所述分光器件。第一准直镜能够将来自光源的发散的激发光准直成一束平行光。
在一个可能的实现方式中，所述双光路产生组件还包括：第一会聚透镜和第二会聚透镜，其中所述第一会聚透镜设置在所述第一激发光路上，用于将所述第一激发光路的光会聚到所述控制线；所述第二会聚透镜设置在所述第二激发光路上，用于将所述第二激发光路的光会聚到所述检测线。控制线和检测线上的物质在激发光的激发下产生荧光。
在一个具体示例中，第一会聚透镜和第二会聚透镜为平凸透镜。
在一个可能的实现方式中，所述荧光接收组件包括第一光电探测器和第二光电探测器。
在一个具体示例中，光电探测器可采用光电二极管、光电倍增管等。本申请实施例中对于光电探测器的具体选用类型不做限制。
所述双光路检测模组还包括：第二反射器件和第三反射器件；所述第二反射器件用于将所述控制线产生的所述第一荧光光束反射至所述第一光电探测器；所述第三反射器件用于将所述检测线产生的所述第二荧光光束反射至所述第二光电探测器。
所述第二反射器件设置在所述第一激发光路上，所述第二反射器件对于第一激发光路起到透射作用；所述第三反射器件设置在所述第二激发光路上，所述第三反射器件用于对所述第二激发光路起到透射作用。
在一个可能的实现方式中，所述第一激发光路为所述分光器件的透射光路，所述第二激发光路为所述分光器件的反射光路；所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上；所述第二反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行且朝向相反；所述第三反射器件的反射面与所述第二反射器件的反射面垂直；所述分光器件的反射面与所述激发光在所述分光器件成45°入射角。本实施方式中分光器件采用半透半反镜，根据其光学原理，入射光与半透半反镜的反射面成45°入射角，半透半反镜将入射的激发光分为光强1：1的两束激发光。半透半反镜成本较低，易采购。
在一个具体示例中，所述第二反射器件非反射面第一激发光路呈45°入射角放置，所述第三反射器件非反射面与第二激发光路呈45°入射角放置，第二反射器件和第三反射器件对称放置。
在一个具体示例中，所述第二反射器件和所述第三反射器件均为二向色镜。二向色镜可通过镀膜等方式控制透射和反射的光束波长范围。本实施例中二向色镜可透过大部分的激发光，而反射大部分的荧光。
需要说明的是，第二反射器件的反射面与第一会聚透镜的中心距离为第一会聚透镜的焦距，来自控制线(C线)的第一荧光光束经第一会聚透镜到达第二反射器件的反射面；第三反射器件的反射面的与第二会聚透镜的中心距离为第二会聚透镜的焦距，来自检测线(T线)的第二荧光光束经第二会聚透镜到达第三反射器件的反射面。
还需要说明的是，本领域技术人员可以通过镀膜等方式控制分光器件、第一反射器件、第二反射器件和第三反射器件透射和/或反射的光束波长范围。
在一个可能的实现方式中，所述双光路检测模组还包括：滤光组件；所述滤光组件包括第一滤光片和第二滤光片，其中，所述第一滤光片设置在所述第一激发光路上，用于滤除所述第一激发光路上与所述控制线的荧光激发波长无关的光；所述第二滤光片设置在所述第二激发光路上，用于滤除所述第二激发光路上与所述检测线的荧光激发波长无关的光。
在一个具体示例中，当所述第一反射器件设置于第一激发光路，所述第一滤光片设置于第一反射器件与第二反射器件之间。所述第二滤光片设置于分光器件与第三反射器件之间。
在一个具体示例中，当所述第一反射器件设置于第二激发光路，所述第一滤光片设置于分光器件与第二反射器件之间，所述第二滤光片设置于第一反射器件与第三反射器件之间。
在一个可能的实现方式中，所述滤光组件还包括第三滤光片和第四滤光片，其中所述第三滤光片用于滤除所述第一荧光光束中与所述控制线的荧光发射波长无关的光；所述第四滤光片用于滤除所述第二荧光光束中与所述检测线的荧光发射波长无关的光。
在一个具体示例中，所述第三滤光片位于第一光电探测器与第二反射器件之间，所述第四滤光片位于第二光电探测器与第三反射器件之间。
在一个可能的实现方式中，所述荧光接收组件还包括：第三会聚透镜和第四会聚透镜；其中所述第三会聚透镜用于会聚所述第一荧光光束至所述第一光电探测器；所述第四会聚透镜用于会聚所述第二荧光光束至所述第二光电探测器；双光路检测模组还包括第二准直镜和第三准直镜；所述第二准直镜设置在所述第三会聚透镜的第一侧，所述第三会聚透镜的第二侧设有所述第一光电探测器；所述第二准直镜用于在所述第一荧光光束进入所述第三会聚透镜之前，对所述第一荧光光束进行准直；所述第三准直镜设置在所述第四会聚透镜的第一侧，所述第四会聚透镜的第二侧设有所述第二光电探测器；所述第三准直镜用于在所述第二荧光光束进入所述第四会聚透镜之前，对所述第二荧光光束进行准直。
在一个具体示例中，第三会聚透镜和第四会聚透镜均为平凸透镜。
在一个可能的实现方式中，所述第一激发光路上设置的器件和所述第二激发光路上设置的器件分别位于两条相互平行的直线上；
所述第一激发光路上设置的器件共用第一位移装置，所述第二激发光路上设置的器件共用第二位移装置；所述第一激发光路和所述第二激发光路的距离受所述第一位移装置和/或所述第二位移装置的调节可变。
本实施方式可以实现对控制线(C线)和检测线(T线)具有不同距离的干式荧光测试卡的通用性。
如图2所示，本申请一个实施例的双光路检测模组，包括：
双光路产生组件：光源1、第一准直镜2、分光器件3、第一反射器件4、第一会聚透镜71和第二会聚透镜72；
荧光接收组件：第一光电探测器111、第二光电探测器112、第三会聚透镜101和第四会聚透镜102；
滤光组件：第一滤光组件51、第二滤光组件52、第三滤光组件91、第四滤光组件92；
第二反射器件61、第三反射器件62、第二准直镜81和第三准直镜82。
光源1产生的激发光经过准直镜2准直成平行光后传输到呈45°角放置的分光器件3被分成强度相同的两束激发光路，一束激发光透过分光器件3，另一束激发光被分光器件3反射，被反射的一束激发光经过反射面与分光器件反射面平行的第一反射器件4的反射，与透过分光器件的一路激发光传输方向平行。将透过分光器件3的激发光路称为第一激发光路，被分光器件3反射的激发光路称为第二激发光路。
第一激发光路经过第一滤光片51滤除与所述控制线的荧光激发波长无关的光；第二激发光路经过第二滤光片52滤除与所述控制线的荧光激发波长无关的光。
第一激发光路透过第二反射器件61经过第一会聚透镜71会聚在荧光测试卡上的控制线(C线)，并在所述控制线(C线)激发产生第一荧光光束；第二激发光路透过第三反射器件62经过第二会聚透镜72会聚在荧光测试卡上的检测线(T线)，并在所述检测线(T线)激发产生第二荧光光束。
第一荧光光束经过第一会聚透镜71在第二反射器件61的反射面被反射，经过第二准直镜81准直后经过第三滤光片91滤除第一荧光光束中与所述控制线(C线)的荧光发射波长无关的光，经第三会聚透镜101会聚到第一光电探测器111，第一光电探测器测量第一荧光强度；第二荧光光束经过第二会聚透镜72在第三反射器件62的反射面被反射，经过第三准直镜82准直后经过第四滤光片92滤除第二荧光光束中与所述检测线(T线)的荧光发射波长无关的光，经第四会聚透镜102会聚到第二光电探测器112，第二光电探测器测量第二荧光强度。
如图3所示，本申请另一个实施例的双光路检测模组，包括：
双光路产生组件：光源01、第一准直镜02、分光器件03、第一反射器件04、第一会聚透镜071和第二会聚透镜072；
荧光接收组件：第一光电探测器0111、第二光电探测器0112、第三会聚透镜0101和第四会聚透镜0102；
滤光组件：第一滤光组件051、第二滤光组件052、第三滤光组件091、第四滤光组件092；
第二反射器件061、第三反射器件062、第二准直镜081和第三准直镜082。
光源01产生的激发光经过准直镜02准直成平行光后传输到呈45°角放置的分光器件03被分成强度相同的两束激发光路，一束激发光透过分光器件03，另一束激发光被分光器件03反射，被反射的一束激发光经过反射面与分光器件反射面平行的第一反射器件04的反射，与透过分光器件的一路激发光传输方向平行。将被分光器件03反射的激发光路称为第一激发光路，透过分光器件03的激发光路称为第二激发光路。
第一激发光路经过第一滤光片051滤除与所述控制线的荧光激发波长无关的光；第二激发光路经过第二滤光片052滤除与所述控制线的荧光激发波长无关的光。
第一激发光路透过第二反射器件061经过第一会聚透镜071会聚在荧光测试卡上的控制线(C线)，并在所述控制线(C线)激发产生第一荧光光束；第二激发光路透过第三反射器件062经过第二会聚透镜072会聚在荧光测试卡上的检测线(T线)，并在所述检测线(T线)激发产生第二荧光光束。
第一荧光光束经第一会聚透镜71在第二反射器件61的反射面被反射，经过第二准直镜81准直后经过第三滤光片91滤除第一荧光光束中与所述控制线(C线)的荧光发射波长无关的光，经第三会聚透镜101会聚到第一光电探测器111，第一光电探测器测量第一荧光强度；第二荧光光束经第二会聚透镜72在第三反射器件62的反射面被反射，经过第三准直镜82准直后经过第四滤光片92滤除第二荧光光束中与所述检测线(T线)的荧光发射波长无关的光，经第四会聚透镜102会聚到第二光电探测器112，第二光电探测器测量第二荧光强度。
本申请实施例提供的一种双光路检测模组采用双光路产生组件生成两激发光路，同时激发干式荧光测试卡上的检测线和控制线的荧光，使用荧光接收组件同时探测干式荧光测试卡上的检测线和控制线的两路荧光，能够在稳定条件下测量荧光强度，并且大大提高了检测效率，降低成本，由于双光路检测模组测量荧光强度不需要传送装置配合检测，将双光路检测模组应用于干式荧光免疫分析仪，有利于干式荧光免疫分析仪结构小型化。
还需要说明的是，在本申请的描述中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述，仅为本申请的一种具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种双光路检测模组，其特征在于，包括：双光路产生组件和荧光接收组件；其中，所述双光路产生组件包括光源和分光器件；
所述双光路产生组件用于通过所述光源产生激发光，并通过所述分光器件对所述激发光分光，获得第一激发光路和第二激发光路；
其中，所述第一激发光路对应荧光测试卡上的控制线，并在所述控制线激发产生第一荧光光束；所述第二激发光路对应所述荧光测试卡上的检测线，并在所述检测线激发产生第二荧光光束；
所述荧光接收组件用于探测所述第一荧光光束和所述第二荧光光束。
2.根据权利要求1所述的双光路检测模组，其特征在于，所述双光路产生组件还包括：第一反射器件，所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上或者设置在所述第二激发光路上；
当所述第一反射器件设置在所述第一激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述控制线；
当所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上时，所述第一反射器件具体用于将接收到的光束反射至所述检测线。
3.根据权利要求2所述的双光路检测模组，其特征在于，所述第一反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行。
4.根据权利要求2所述的双光路检测模组，其特征在于，所述双光路产生组件还包括：第一准直镜，所述第一准直镜设置在所述光源与所述分光器件之间，用于将所述激发光准直后传输给所述分光器件。
5.根据权利要求2所述的双光路检测模组，其特征在于，所述双光路产生组件还包括：第一会聚透镜和第二会聚透镜，其中所述第一会聚透镜设置在所述第一激发光路上，用于将所述第一激发光路的光会聚到所述控制线；所述第二会聚透镜设置在所述第二激发光路上，用于将所述第二激发光路的光会聚到所述检测线。
6.根据权利要求2所述的双光路检测模组，其特征在于，所述荧光接收组件包括第一光电探测器和第二光电探测器；所述双光路检测模组还包括：第二反射器件和第三反射器件；所述第二反射器件用于将所述控制线产生的所述第一荧光光束反射至所述第一光电探测器；所述第三反射器件用于将所述检测线产生的所述第二荧光光束反射至所述第二光电探测器。
7.根据权利要求6所述的双光路检测模组，其特征在于，所述第二反射器件设置在所述第一激发光路上，所述第二反射器件对于第一激发光路起到透射作用；所述第三反射器件设置在所述第二激发光路上，所述第三反射器件用于对所述第二激发光路起到透射作用。
8.根据权利要求7所述的双光路检测模组，其特征在于，所述第一激发光路为所述分光器件的透射光路，所述第二激发光路为所述分光器件的反射光路；所述第一反射器件设置在所述第二激发光路上；
所述第二反射器件的反射面与所述分光器件的反射面平行且朝向相反；所述第三反射器件的反射面与所述第二反射器件的反射面垂直。
9.根据权利要求1所述的双光路检测模组，其特征在于，还包括：滤光组件；所述滤光组件包括第一滤光片和第二滤光片，其中，所述第一滤光片设置在所述第一激发光路上，用于滤除所述第一激发光路上与所述控制线的荧光激发波长无关的光；所述第二滤光片设置在所述第二激发光路上，用于滤除所述第二激发光路上与所述检测线的荧光激发波长无关的光。
10.根据权利要求9所述的双光路检测模组，其特征在于，所述滤光组件还包括第三滤光片和第四滤光片，其中所述第三滤光片用于滤除所述第一荧光光束中与所述控制线的荧光发射波长无关的光；所述第四滤光片用于滤除所述第二荧光光束中与所述检测线的荧光发射波长无关的光。
11.根据权利要求6所述的双光路检测模组，其特征在于，所述荧光接收组件还包括：第三会聚透镜和第四会聚透镜；其中所述第三会聚透镜用于会聚所述第一荧光光束至所述第一光电探测器；所述第四会聚透镜用于会聚所述第二荧光光束至所述第二光电探测器；
所述双光路检测模组还包括第二准直镜和第三准直镜；所述第二准直镜设置在所述第三会聚透镜的第一侧，所述第三会聚透镜的第二侧设有所述第一光电探测器；所述第二准直镜用于在所述第一荧光光束进入所述第三会聚透镜之前，对所述第一荧光光束进行准直；所述第三准直镜设置在所述第四会聚透镜的第一侧，所述第四会聚透镜的第二侧设有所述第二光电探测器；所述第三准直镜用于在所述第二荧光光束进入所述第四会聚透镜之前，对所述第二荧光光束进行准直。
12.根据权利要求1-11任一项所述的双光路检测模组，其特征在于，所述第一激发光路上设置的器件和所述第二激发光路上设置的器件分别位于两条相互平行的直线上；
所述第一激发光路上设置的器件共用第一位移装置，所述第二激发光路上设置的器件共用第二位移装置；所述第一激发光路和所述第二激发光路的距离受所述第一位移装置和/或所述第二位移装置的调节可变。
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