CN116700226A - 一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质，涉及车辆诊断技术领域，包括：确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；预设时间周期为与目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；在预设时间周期之前控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第一状态；在预设时间周期之后控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第二状态；若第一状态为目标状态且第二状态为预设状态，则判定预设时间周期满足测试要求。本申请能够精确测出诊断故障码的时间参数以判定时间参数是否满足测试要求。

Description

一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质

技术领域

本发明涉及车辆诊断技术领域，特别涉及一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质。

背景技术

诊断故障码(Diagnostic trouble code，即DTC)用于在汽车不解体的条件下，确定汽车技术状况，查明故障部位及原语的检查。诊断故障码的时间参数包括故障成熟时间周期和故障恢复时间周期等，其中，故障成熟时间周期指的是当故障发生时到DTC存储到存储器中所花的时间，故障恢复时间周期指的是当故障恢复时，DTC状态从当前状态变为历史状态时所花的时间。

当前在台架上测试DTC时创造了触发DTC的条件，以故障发生时间为起点时间，定时的去读待测电子控制单元(Electronic Control Unit，即ECU)中的DTC，直至读到DTC，记下当前时间，再减去起点时间，去除一定的时间偏差，认为是DTC的故障成熟时间周期。并且由于有时间偏差，所以故障成熟时间周期无论正确与否，会放大正确值的取值区间，偏差时间包括软件内部处理逻辑的运行时间；读取DTC的诊断回复所花的时间；以及包括定时读DTC时，读取间隔大小引入的误差等。另外，在测试DTC的故障恢复时间周期时，也存在同样的问题。

综上，如何精确的测试诊断故障码的时间参数，以进一步判断时间参数是否满足测试要求是目前有待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质，能够精确的测试诊断故障码的时间参数，以进一步判断时间参数是否满足测试要求。其具体方案如下：

第一方面，本申请公开了一种诊断故障码的时间参数测试方法，应用于诊断设备，包括：

确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；

在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态；

在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态；

若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。

可选的，所述在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，包括：

在所述预设时间周期的前一个报文周期控制所述目标功能变化当前的功能状态；

相应的，所述在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，包括：

在所述预设时间周期的后一个报文周期控制所述目标功能变化当前的功能状态。

可选的，所述预设时间周期包括故障成熟时间周期和故障恢复时间周期，所述功能状态包括故障状态和无故障状态。

可选的，所述故障成熟时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从未触发状态变为当前状态时所需要的时间；

相应的，所述若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求，包括：

若所述第一状态为未触发状态，且所述第二状态为当前状态，则判定所述故障成熟时间周期满足测试要求。

可选的，所述故障恢复时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从当前状态变为历史状态时所需要的时间；

相应的，所述若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求，包括：

若所述第一状态为当前状态，且所述第二状态为历史状态，则判定所述故障恢复时间周期满足测试要求。

可选的，所述控制所述目标功能变化当前的功能状态，包括：

当所述预设时间周期为故障成熟时间周期时，控制所述目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态；

当所述预设时间周期为故障恢复时间周期时，控制所述目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态。

可选的，所述向所述待测电子控制单元发送诊断请求之后，还包括：

获取待测电子控制单元回复的当前诊断故障码，并根据当前诊断故障码的目标比特位确定对应的状态信息；其中，所述状态信息包括第一状态和第二状态，若所述待测电子控制单元回复当前无诊断故障码，则对应的状态信息为未触发状态。

第二方面，本申请公开了一种诊断故障码的时间参数测试装置，应用于诊断设备，包括：

时间周期确定模块，用于确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；

第一状态读取模块，用于在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态；

第二状态读取模块，用于在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态；

判断模块，用于若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。

第三方面，本申请公开了一种电子设备，包括：

存储器，用于保存计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序，以实现前述公开的诊断故障码的时间参数测试方法的步骤。

第四方面，本申请公开了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序；其中，所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的诊断故障码的时间参数测试方法的步骤。

可见，本申请中通过诊断设备确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态；在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态；若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。由此可见，本申请中预先确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期，预设时间周期指的是与目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间，然后在预设时间周期之前控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第一状态，以及在预设时间周期之后控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第二状态，如果第一状态为目标状态，第二状态为预设状态，则判定诊断故障码的预设时间周期满足测试要求。如此一来，本申请通过在两次测试中分别读取预设时间周期前和预设时间周期后的诊断故障码的状态，能够精确测出诊断故障码的时间参数，以进一步判断时间参数是否满足测试要求。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请公开的一种当前测试DTC故障成熟时间周期的示意图；

图2为本申请公开的一种当前测试DTC故障恢复时间周期的示意图；

图3为本申请公开的一种诊断故障码的时间参数测试方法流程图；

图4为本申请公开的一种诊断设备与电子控制单元的通信示意图；

图5为本申请公开的一种故障成熟时间周期的测试方法流程图；

图6为本申请公开的一种具体的测试DTC故障成熟时间周期的示意图；

图7为本申请公开的一种故障恢复时间周期的测试方法流程图；

图8为本申请公开的一种具体的测试DTC故障恢复时间周期的示意图；

图9为本申请公开的一种诊断故障码的时间参数测试装置结构示意图；

图10为本申请公开的一种电子设备结构图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

当前在台架上测试DTC时创造了触发DTC的条件，以故障发生时间为起点时间，定时的去读DTC，直至读到DTC，记下当前时间，再减去起点时间，去除一定的时间偏差，认为是DTC的故障成熟时间周期。并且由于有时间偏差，所以故障成熟时间周期无论正确与否，会放大正确值的取值区间，偏差时间包括软件内部处理逻辑的运行时间；读取DTC的诊断回复所花的时间；以及包括定时读DTC时，读取间隔大小引入的误差等。另外，在测试DTC的故障恢复时间周期时，也存在同样的问题。

以报文周期为10ms，DTC的故障成熟时间周期为10个报文周期，故障恢复时间周期为5个报文周期为例，具体可参见图1和图2中所示。现有方案在发生故障，即造错后，诊断设备会不间断的读取DTC来测试故障成熟时间周期，恢复后，再不间断的读取DTC来测试故障恢复时间周期。然而按照现有方案进行测试，测试到的时间参数会延迟T1+T2的时间。T1是软件在轮巡处理过程中带来的延时，大概在10～20ms之间；T2是发送诊断请求后，诊断回复的延时，大概在50ms以上。为此，本申请实施例公开了一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及介质，能够精确的测试诊断故障码的时间参数，以进一步判断时间参数是否满足测试要求。

参见图3所示，本申请实施例公开了一种诊断故障码的时间参数测试方法，应用于诊断设备，该方法包括：

步骤S11：确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间。

本实施例中，确定待测电子控制单元中预先设置的与目标功能对应的预设时间周期。需要指出的是，该预设时间周期是预先定义的一个标准值，预设时间周期指的是与目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时应当所需要花费的时间，而预设时间周期具体又包括故障成熟时间周期和故障恢复时间周期。

在一种具体实施方式中，诊断设备在与待测电子控制单元建立通信后，则可以获取到待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；在另一种具体实施方式中，可以预先在诊断设备本地建立一张对应关系表，表中记录了与不同电子控制单元的不同功能对应的预设时间周期，那么在确定当前需要测试的电子控制单元的功能信息后，则可确定出相应的预设时间周期。

步骤S12：在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态。

本实施例中，在预设时间周期之前控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态。需要指出的是，上述功能状态包括故障状态和无故障状态。也即，若当前目标功能的功能状态为故障状态，则控制其变为无故障状态；若当前目标功能的功能状态为无故障状态，则控制其变为故障状态。

步骤S13：在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态。

本实施例中，在预设时间周期之后控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态。需要指出的是，诊断设备与被测ECU通过CAN(Controller Area Network，即控制器局域网总线)总线进行通信，诊断设备中设有车身报文仿真模块、自动测试脚本模块、诊断协议模块以及CAN通信模块，具体如图4所示。

在具体实施方式中，上述向所述待测电子控制单元发送诊断请求之后，还包括：获取待测电子控制单元回复的当前诊断故障码，并根据当前诊断故障码的目标比特位确定对应的状态信息；其中，所述状态信息包括第一状态和第二状态，若所述待测电子控制单元回复当前无诊断故障码，则对应的状态信息为未触发状态。也即，诊断设备在向待测电子控制单元发送诊断请求后，则获取待测电子控制单元返回的当前诊断故障码，诊断故障码由8个比特位组成，通过当前诊断故障码的目标比特位能够确定出对应的状态信息，也即可以确定出在预设时间周期之前读取到的第一状态，以及在预设时间周期之后读取到的第二状态；其中，目标比特位指的是诊断故障码的第1位和第4位，即bit0和bit3，如果bit0和bit3均为1，则表示目标功能还处于故障状态，那么诊断故障码仍处于当前状态；如果bit0为0，bit3,为1，则表示故障已经发生过，但当前不在持续，即目标功能已处于无故障状态那么诊断故障码已处于历史状态。另外，如果待测电子控制单元回复当前无诊断故障码，则说明当前诊断故障码还未触发，那么对应的状态信息为未触发状态。

步骤S14：若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。

本实施例中，由于预设时间周期指的是与目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时应当所需要花费的时间。因此，如果在该预设时间周期前读取到的诊断故障码的第一状态为目标状态，而在预设时间周期后读取到的诊断故障码的第一状态为预设状态，则可说明预设时间周期满足测试要求，符合定义；否则，在其他的状态组合下，则说明预设时间周期不满足测试要求，不符合定义。

可见，本申请中通过诊断设备确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态；在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态；若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。由此可见，本申请中预先确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期，预设时间周期指的是与目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间，然后在预设时间周期之前控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第一状态，以及在预设时间周期之后控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第二状态，如果第一状态为目标状态，第二状态为预设状态，则判定诊断故障码的预设时间周期满足测试要求。如此一来，本申请通过在两次测试中分别读取预设时间周期前和预设时间周期后的诊断故障码的状态，能够精确测出诊断故障码的时间参数，以进一步判断时间参数是否满足测试要求。

参见图5所示，本申请实施例公开了一种具体的诊断故障码的时间参数测试方法，相对于上一实施例，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化。具体包括：

步骤S21：确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的故障成熟时间周期；所述故障成熟时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从未触发状态变为当前状态时所需要的时间。

本实施例中，确定与待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的故障成熟时间周期，故障成熟时间周期为与目标功能对应的诊断故障码从未触发状态变为当前状态时所需要的时间。以故障成熟时间周期为10个报文周期为例，那么按照上述定义，应当在造错10个报文周期后，读取到诊断故障码，且诊断故障码处于当前状态。

步骤S22：在所述故障成熟时间周期的前一个报文周期控制所述目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态。

本实施例中，具体是在故障成熟时间周期的前一个报文周期控制目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态。以定义的故障成熟时间周期为10个报文周期为例，具体参见图6所示，那么则在造错9个报文周期后，停止造错，即控制目标功能此时的功能状态从故障状态变为无故障状态，然后向待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态。

步骤S23：在所述故障成熟时间周期的后一个报文周期控制所述目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态。

本实施例中，具体是在故障成熟时间周期的后一个报文周期控制目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态，以定义的故障成熟时间周期为10个报文周期为例，如图6所示，那么则在造错11个报文周期后，停止造错，即控制目标功能此时的功能状态从故障状态变为无故障状态，然后向待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态。

步骤S24：若所述第一状态为未触发状态，且所述第二状态为当前状态，则判定所述故障成熟时间周期满足测试要求。

本实施例中，若在故障成熟时间周期的前一个报文周期待测电子控制单元回复当前无诊断故障码，即读取到的当前诊断故障码为未触发状态，并且在故障成熟时间周期的后一个报文周期读取到的当前诊断故障码为当前状态，则可判定故障成熟时间周期满足测试要求。以前述提到的例子为例，若在造错9个报文周期后，DTC为未触发，而在造错11个报文周期后，DTC触发且为当前状态，则能够说明DTC的故障成熟时间周期为10个报文周期，误差控制在一个报文周期内，也即通过本申请的技术方案，时间精度能够控制在一个报文周期内，消除了软件内部处理时间偏差和响应诊断回复带来的偏差。

并且，只有在第一状态为未触发状态，第二状态为当前状态的情况下，才可判定故障成熟时间周期满足测试要求。例如，若第一状态和第二状态均为未触发状态，或者是均为当前状态，则均不满足测试要求。

可见，本申请在测试诊断故障码的故障成熟时间时，首先确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的故障成熟时间周期，然后在该故障成熟时间周期的前一个报文周期控制目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第一状态，以及在故障成熟时间周期的后一个报文周期控制目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第二状态，若第一状态为未触发状态，且第二状态为当前状态，则判定故障成熟时间周期满足测试要求。通过本申请的技术方案，能够精确的测试出诊断故障码的故障成熟时间周期，能够将误差控制在一个报文周期内，并且消除了软件内部处理时间偏差和响应诊断回复带来的偏差。

参见图7所示，本申请实施例公开了一种具体的诊断故障码的时间参数测试方法，相对于上一实施例，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化。具体包括：

步骤S31：确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的故障恢复时间周期；所述故障恢复时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从当前状态变为历史状态时所需要的时间。

本实施例中，确定与待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的故障恢复时间周期，故障恢复时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从当前状态变为历史状态时所需要的时间。以故障恢复时间周期为5个报文周期为例，那么按照上述定义，应当在故障恢复满5个报文周期后，读取到的诊断故障码应当处于历史状态。

步骤S32：在所述预设时间周期的前一个报文周期控制所述目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态。

本实施例中，具体是在故障恢复时间周期的前一个报文周期控制目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态。以定义的故障恢复时间周期为5个报文周期为例，具体参见图8所示，那么则在恢复满4个报文周期后，再继续造错，即控制目标功能此时的功能状态从无故障状态变为故障状态，然后向待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态。

步骤S33：在所述预设时间周期的后一个报文周期控制所述目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态。

本实施例中，具体是在故障恢复时间周期的后一个报文周期控制目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态，以定义的故障恢复时间周期为5个报文周期为例，如图8所示，那么则在恢复满6个报文周期后，再继续造错，即控制目标功能此时的功能状态从无故障状态变为故障状态，然后向待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态。

步骤S34：若所述第一状态为当前状态，且所述第二状态为所述历史状态，则判定所述故障恢复时间周期满足测试要求。

本实施例中，若在故障恢复时间周期读取到的当前诊断故障码为当前状态，并且在故障成熟时间周期的后一个报文周期读取到的当前诊断故障码为历史状态，则可判定故障恢复时间周期满足测试要求。以前述提到的例子为例，若在恢复满4个报文周期后，DTC为当前状态，而在恢复满6个报文周期后，DTC为历史状态，则能够说明DTC的故障恢复时间周期为5个报文周期，误差控制在一个报文周期内，也即通过本申请的技术方案，时间精度能够控制在一个报文周期内，消除了软件内部处理时间偏差和响应诊断回复带来的偏差。

并且，只有在第一状态为当前状态，第二状态为历史状态的情况下，才可判定故障恢复时间周期满足测试要求。例如，若第一状态和第二状态均为当前状态，或者是均为历史状态，则均不满足测试要求。

可见，本申请在测试诊断故障码的故障恢复时间时，首先确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的故障恢复时间周期，然后在该故障恢复时间周期的前一个报文周期控制目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第一状态，以及在故障恢复时间周期的后一个报文周期控制目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第二状态，若第一状态为当前状态，且第二状态为历史状态，则判定故障恢复时间周期满足测试要求。通过本申请的技术方案，能够精确的测试出诊断故障码的故障恢复时间周期，能够将误差控制在一个报文周期内，并且消除了软件内部处理时间偏差和响应诊断回复带来的偏差。

参见图9所示，本申请实施例公开了一种诊断故障码的时间参数测试装置，应用于诊断设备，该装置包括：

时间周期确定模块11，用于确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；

第一状态读取模块12，用于在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态；

第二状态读取模块13，用于在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态；

判断模块14，用于若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。

可见，本申请中通过诊断设备确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态；在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态；若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。由此可见，本申请中预先确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期，预设时间周期指的是与目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间，然后在预设时间周期之前控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第一状态，以及在预设时间周期之后控制目标功能变化当前的功能状态，并向待测电子控制单元发送诊断请求以读取当前诊断故障码的第二状态，如果第一状态为目标状态，第二状态为预设状态，则判定诊断故障码的预设时间周期满足测试要求。如此一来，本申请通过在两次测试中分别读取预设时间周期前和预设时间周期后的诊断故障码的状态，能够精确测出诊断故障码的时间参数，以进一步判断时间参数是否满足测试要求。

图10为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体可以包括：至少一个处理器21、至少一个存储器22、电源23、通信接口24、输入输出接口25和通信总线26。其中，所述存储器22用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器21加载并执行，以实现前述任一实施例公开的由电子设备执行的诊断故障码的时间参数测试方法中的相关步骤。

本实施例中，电源23用于为电子设备20上的各硬件设备提供工作电压；通信接口24能够为电子设备20创建与外界设备之间的数据传输通道，其所遵循的通信协议是能够适用于本申请技术方案的任意通信协议，在此不对其进行具体限定；输入输出接口25，用于获取外界输入数据或向外界输出数据，其具体的接口类型可以根据具体应用需要进行选取，在此不进行具体限定。

其中，处理器21可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器21可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器21也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器21可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器21还可以包括AI(Artificial Intelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。

另外，存储器22作为资源存储的载体，可以是只读存储器、随机存储器、磁盘或者光盘等，其上所存储的资源包括操作系统221、计算机程序222及数据223等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。

其中，操作系统221用于管理与控制电子设备20上的各硬件设备以及计算机程序222，以实现处理器21对存储器22中海量数据223的运算与处理，其可以是Windows、Unix、Linux等。计算机程序222除了包括能够用于完成前述任一实施例公开的由电子设备20执行的诊断故障码的时间参数测试方法的计算机程序之外，还可以进一步包括能够用于完成其他特定工作的计算机程序。数据223除了可以包括电子设备接收到的由外部设备传输进来的数据，也可以包括由自身输入输出接口25采集到的数据等。

进一步的，本申请实施例还公开了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时，实现前述任一实施例公开的由诊断故障码的时间参数测试过程中执行的方法步骤。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种诊断故障码的时间参数测试方法、装置、设备及存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种诊断故障码的时间参数测试方法，其特征在于，应用于诊断设备，包括：

确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；

在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态；

在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态；

若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。

2.根据权利要求1所述的诊断故障码的时间参数测试方法，其特征在于，所述在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，包括：

在所述预设时间周期的前一个报文周期控制所述目标功能变化当前的功能状态；

相应的，所述在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，包括：

在所述预设时间周期的后一个报文周期控制所述目标功能变化当前的功能状态。

3.根据权利要求1所述的诊断故障码的时间参数测试方法，其特征在于，所述预设时间周期包括故障成熟时间周期和故障恢复时间周期，所述功能状态包括故障状态和无故障状态。

4.根据权利要求3所述的诊断故障码的时间参数测试方法，其特征在于，所述故障成熟时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从未触发状态变为当前状态时所需要的时间；

相应的，所述若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求，包括：

若所述第一状态为未触发状态，且所述第二状态为当前状态，则判定所述故障成熟时间周期满足测试要求。

5.根据权利要求3所述的诊断故障码的时间参数测试方法，其特征在于，所述故障恢复时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从当前状态变为历史状态时所需要的时间；

相应的，所述若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求，包括：

若所述第一状态为当前状态，且所述第二状态为历史状态，则判定所述故障恢复时间周期满足测试要求。

6.根据权利要求3所述的诊断故障码的时间参数测试方法，其特征在于，所述控制所述目标功能变化当前的功能状态，包括：

当所述预设时间周期为故障成熟时间周期时，控制所述目标功能当前的功能状态从故障状态变为无故障状态；

当所述预设时间周期为故障恢复时间周期时，控制所述目标功能当前的功能状态从无故障状态变为故障状态。

7.根据权利要求1至6任一项所述的诊断故障码的时间参数测试方法，其特征在于，所述向所述待测电子控制单元发送诊断请求之后，还包括：

获取待测电子控制单元回复的当前诊断故障码，并根据当前诊断故障码的目标比特位确定对应的状态信息；其中，所述状态信息包括第一状态和第二状态，若所述待测电子控制单元回复当前无诊断故障码，则对应的状态信息为未触发状态。

8.一种诊断故障码的时间参数测试装置，其特征在于，应用于诊断设备，包括：

时间周期确定模块，用于确定待测电子控制单元中设置的与目标功能对应的预设时间周期；所述预设时间周期为与所述目标功能对应的诊断故障码从目标状态变为预设状态时所需要的时间；

第一状态读取模块，用于在所述预设时间周期之前控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第一状态；

第二状态读取模块，用于在所述预设时间周期之后控制所述目标功能变化当前的功能状态，并向所述待测电子控制单元发送诊断请求，以读取当前诊断故障码的第二状态；

判断模块，用于若所述第一状态为所述目标状态，且所述第二状态为所述预设状态，则判定所述预设时间周期满足测试要求。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器，用于保存计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序，以实现如权利要求1至7任一项所述的诊断故障码的时间参数测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于存储计算机程序；其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的诊断故障码的时间参数测试方法的步骤。