CN116661427B - 一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法及装置 - Google Patents

一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法及装置,涉及列车控制技术领域,主要目的在于实现测试效率和测试准确性。本发明主要的技术方案为:基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与所述测试结果是否一致;其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;若是,则确定测试合格;若否,则确定测试不合格。本发明用于列控中心区间逻辑占用检查。

Description

一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法及装置
技术领域
本发明涉及列车控制技术领域,尤其涉及一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法及装置。
背景技术
CTCS-2是基于轨道电路和应答器传输列车行车许可信息,并采用目标距离连续速度控制模式监控列车安全运行的中国列车控制系统(China Train Control System,CTCS)。列控中心(Train Control Centre,TCC)是中国列车控制系统(China TrainControlSystem,CTCS)的重要组成部分,该设备的重要功能之一是区间占用逻辑检查。区间逻辑占用检查是通过对相邻区段的先后占用顺序进行逻辑判别,即列车顺序压入区段,列车在区段运行时,根据闭塞分区列车占用、出清顺序,对区间闭塞分区的状态进行逻辑判定。当列车不满足此逻辑条件时,控制台进行区间逻辑占用检查错误报警,同时向后方列车传递禁止信号。列控中心的区间占用逻辑检查功能的测试是一项很重要的工作。
目前,区间逻辑占用检查的测试是依据铁总运 156号《列控中心区间占用逻辑检查暂行技术条件》,顺序模拟制造故障场景执行测试,测试主要依赖人工确认。
但是,上述处理方式中依据铁总运 156号《列控中心区间占用逻辑检查暂行技术条件》,顺序模拟制造故障场景执行测试存在重复操作较多,对于时间紧任务重的测试过程,影响测试进度,效率较低;并且通过人工进行测试存在看错或者漏测现象,准确性低。
发明内容
鉴于上述问题,本发明提供一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法及装置,主要目的是为了实现优化现有区间逻辑占用检查测试方法,提高测试效率和测试准确性。
为解决上述技术问题,本发明提出以下方案:
第一方面,本发明提供一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法,包括:
基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个所述预设测试项目对应的正确测试答案,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;所述预设测试项目是优化区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的;
获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与所述测试结果是否一致;其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;
若是,则确定测试合格;
若否,则确定测试不合格。
第二方面,本发明提供一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试装置,包括:
测试单元,用于基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个所述预设测试项目对应的正确测试答案,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;所述预设测试项目是优化区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的;
判断单元,用于获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与所述测试结果是否一致;其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;
第一确定单元,用于若所述待对比测试结果与所述测试结果一致,则确定测试合格;
第二确定单元,用于若所述待对比测试结果与所述测试结果不一致,则确定测试不合格。
为了实现上述目的,根据本发明的第三方面,提供了一种存储介质,所述存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行上述第一方面所述列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法。
为了实现上述目的,根据本发明的第四方面,提供了一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如第二方面所述用于列控中心区间逻辑占用检查并行测试装置的全部或部分步骤。
借由上述技术方案,本发明提供的列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法及装置,是由于目前对于区间逻辑占用检查的测试是依据铁总运 156号《列控中心区间占用逻辑检查暂行技术条件》,顺序模拟制造故障场景执行测试,测试主要依赖人工确认,存在测试效率较低和准确性低的问题。为此,本发明通过基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个所述预设测试项目对应的正确测试答案,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;所述预设测试项目是优化区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的;获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与所述测试结果是否一致;其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;若是,则确定测试合格;若否,则确定测试不合格。本发明通过优化测试序列的顺序,使前一步骤的结果是后一步骤的测试前提,避免重复制造相同的故障场景,提高测试效率;同时采用并行测试技术,即人工测试和软件测试同步进行,将软件测试的结果和人工测试的结果相比较,当且仅当二者的测试结果一致后通过测试。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
图1示出了本发明实施例提供的一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法流程图;
图2示出了本发明实施例提供的另一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法流程图;
图3示出了本发明实施例提供的一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试装置的组成框图;
图4示出了本发明实施例提供的另一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试装置的组成框图;
图5示出了本发明实施例提供的另一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试装置的实施例祥云站示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开,并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
术语解释:
TCC:列控中心(Train Control Center)。TCC以闭塞分区为基本单位进行区间占用逻辑检查状态判断。
区间逻辑状态确认命令:通过CTC调度台及车务终端人工拟定下达的区间逻辑状态操作命令的统称,包括闭塞分区确认无车占用、区间逻辑状态总解锁、区间逻辑检查开启/关闭的验证和执行命令。
轨道区段设备状态可分为占用和空闲两种状态,TCC按照《列控中心技术规范》进行判定。
闭塞分区设备状态分为占用和空闲,当闭塞分区所辖轨道区段设备状态均为空闲,该闭塞分区设备状态为空闲,闭塞分区所辖任意轨道区段设备状态为占用,该闭塞分区设备状态为占用。TCC根据闭塞分区所辖轨道区段设备状态进行判定。
闭塞分区逻辑状态分为空闲、正常占用、故障占用、失去分路四种状态。TCC按照闭塞分区占用逻辑检查原则进行判定。
1)空闲状态:列车未占用该闭塞分区,且闭塞分区设备状态为空闲;
2)正常占用状态:列车占用该闭塞分区,且闭塞分区设备状态为占用;
3)故障占用状态:列车未占用该闭塞分区,但闭塞分区设备状态为占用;
4)失去分路状态:列车占用该闭塞分区,但闭塞分区设备状态为空闲。
对于目前,区间逻辑占用检查的测试是依据铁总运 156号《列控中心区间占用逻辑检查暂行技术条件》,顺序模拟制造故障场景执行测试存在重复操作较多,对于时间紧任务重的测试过程,影响测试进度,效率较低;测试主要依赖人工确认存在看错或者漏测现象,准确性低。针对此问题,发明人想到优化测试序列的顺序,使前一步骤的结果是后一步骤的测试前提;同时采用并行测试技术,即人工测试和软件测试同步进行的方法提高测试效率和准确性。
为此,本发明实施例提供了一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法,通过该方法实现提高测试效率和测试准确性,其具体执行步骤如图1所示,包括:
101、基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个预设测试项目对应的测试结果。
其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个预设测试项目对应的正确测试答案至少包括,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件,例如:先测试闭塞分区的区间逻辑状态总解锁命令之后,该闭塞分区的逻辑状态为空闲,此时,再进行测试需要逻辑状态由空闲变为故障占用对应的测试项目,本实施例不做具体限定。
由于目前的测试方法,在进行不同项目测试时,需要重复地配置测试环境或测试条件,导致操作繁琐,效率低下,因此,本实施例优化测试顺序设计的所述预设测试策略可以避免重复的操作环节,提高测试效率。
所述预设测试项目是优化所述区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的,例如:所述预设测试项目为区间逻辑状态总解锁、闭塞分区无车占用等,本实施例不作具体限定。所述测试运行指令可以是列控区间占用逻辑检查操作命令。
在实际测试中,每个预设测试项目得到的测试结果包括测试正确和测试错误,而这个正确与否的判断依据就是基于所述正确测试答案。其中,测试正确的闭塞分区将继续后续测试;测试错误的闭塞分区不继续后续测试,且将测试错误的闭塞分区以及该闭塞分区对应的测试项目进行标记留存,用于后续与人工检测的测试结果进行对照,目的是查看软件测试与人工测试的结果是否一致,以保证测试的准确性。
102、获取待对比测试结果,且判断待对比测试结果与测试结果是否一致。
其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果。即人工测试与软件测试采用的测试顺序是完成相同的。
从步骤101可得软件测试的测试结果,为了提高测试的准确性,将人工测试与软件测试的结果进行对比,判断是否完全相同,当两方测试的结果完全相同时,则确定为“对比测试结果与测试结果一致”,否则,确定为“对比测试结果与测试结果不一致”。
103、若对比测试结果与测试结果一致,则确定测试合格。
从步骤102可得判断结果,对比测试结果与测试结果一致,则确定测试合格; 得到所述确定测试合格的信息后,可以发送提醒信息,用于告知测试结果。
104、若对比测试结果与测试结果不一致,则确定测试不合格。
从步骤102可得判断结果,对比测试结果与测试结果不一致,则确定测试不合格;得到所述确定测试不合格的信息后,可以发送提醒信息,用于告知测试结果。
基于上述图1实施例的实现方式可以看出,本发明提供一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法,本发明通过基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个所述预设测试项目对应的正确测试答案,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;所述预设测试项目是优化区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的;获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与所述测试结果是否一致;其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;若是,则确定测试合格;若否,则确定测试不合格。本发明通过优化测试序列的顺序,使前一步骤的结果是后一步骤的测试前提,避免重复制造相同的故障场景,提高测试效率;同时采用并行测试技术,即人工测试和软件测试同步进行,将软件测试的结果和人工测试的结果相比较,当且仅当二者的测试结果一致后通过测试。
进一步的,作为对图1所示实施例的细化及扩展,本发明实施例还提供了另一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法,如图2所示,其具体步骤如下:
201、基于测试运行指令,按照第一预设测试规则依次测试各个闭塞分区的逻辑状态保持空闲不变对应的预设测试项目和各个闭塞分区的逻辑状态由空闲变成故障占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为故障占用的闭塞分区。
基于所述测试运行指令,设置各个闭塞分区逻辑状态为空闲,依次根据区间总解锁命令、无车占用命令和改变行车方向命令测试所述各个闭塞分区的逻辑状态是否保持空闲不变,得到对应的测试结果,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持空闲不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
举例说明:
人工和软件测试同步开始执行,以图5祥云站X区间口闭塞分区为例进行说明:如图5所示,X区间口包括1424G、1408 G、1398 G、1392 G等;将上述所有闭塞分区设置成接车方向;当TCC收到CTC区间逻辑状态总解锁命令时,查看上述闭塞分区的逻辑状态是否保持空闲不变;当TCC收到CTC闭塞分区确认无车占用命令时,查看上述闭塞分区的逻辑状态是否保持空闲不变;将X区间口所有闭塞分区由接车方向更改为成发车方向,区间改变运行方向后,查看改方前处于空闲的闭塞区段的逻辑状态是否保持空闲不变。再将X区间口所有闭塞分区由发车方向更改为成接车方向,区间改变运行方向后,查看改方前处于空闲的闭塞区段的逻辑状态是否保持空闲不变。
基于所述逻辑状态为空闲的闭塞分区,依次按照接车方向继续测试红灯转移功能,依次将所述闭塞分区前方区段的设备状态变成占用,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否从空闲变成故障占用,得到对应的测试结果,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由空闲变为故障占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态不改变或改变为除了故障占用之外的其他逻辑状态。
其中,测试红灯转移功能的具体过程为:
在开始测试之前,已知目标区间口上的所有闭塞分区的逻辑状态均已设置为空闲状态,因此,为了完成本步骤测试,需要先设置在列车运行方向上位于目标闭塞分区前方的前方闭塞分区的逻辑状态为正常占用,即所述前方闭塞分区的设备状态为占用,对应的信号机点红灯;再将所述前方闭塞分区的信号机上的红灯断丝,发生红灯转移,红灯转移到所述目标闭塞分区对应的信号机,即所述目标闭塞分区对应的信号机由点黄灯变成点红灯 ,此时,所述目标闭塞分区的逻辑状态会发生变化;然后判断所述目标闭塞分区发生变化后的逻辑状态是否正确,具体判断方法为:正确情况:所述目标闭塞分区的逻辑状态由原来的“空闲”变为“故障占用”;错误情况:不符合上述正确情况的均为错误情况。
需要强调的是:目标区间口上的每个闭塞分区都可以作为所述目标闭塞分区。
举例说明:
如图5所示,以闭塞分区1408G和其对应的1408信号机为例说明,假设列车实际占用1408G,此时,1408信号机显示红灯,然后将1408信号机的红灯断丝,此时,将发生红灯转移,即1408信号机的红灯熄灭,在列车运行方向上,位于闭塞分区1408G后方的闭塞分区1424上的1424信号机由原来的点黄灯改变为点红灯,此时,闭塞分区1424G的逻辑状态由原来的“空闲状态”变成“故障占用状态”,符合正确情况,也就是说,闭塞分区1424的红灯丝断的逻辑占用检查合格,否则,就是不合格。
需要说明的是:按照上述红灯丝断的测试方法依次测试目标区间口上的其他闭塞分区,目的是查看各个闭塞分区的逻辑状态能否从空闲变成故障占用以及其信号机能否正常点红灯。测试完成后将1408信号机的红灯断丝变成正常点灯,用于方便后续测试使用。
202、基于逻辑状态为故障占用的闭塞分区,按照第二预设测试规则依次测试闭塞分区的逻辑状态保持故障占用不变对应的预设测试项目和闭塞分区的逻辑状态由故障占用变成空闲对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为空闲的闭塞分区。
从步骤201可得逻辑状态为故障占用的闭塞分区,基于所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,根据区间总解锁命令、无车占用命令和红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持故障占用不变,得到对应的测试结果,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持故障占用不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;再出清各个所述闭塞分区,测试各个所述闭塞分区的逻辑状态是否变成空闲,得到对应的测试结果,所述对应的测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态变为空闲,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为空闲。
举例说明:
先基于从步骤201得到的逻辑状态为故障占用的闭塞分区,TCC收到CTC区间逻辑状态总解锁命令时,X口区间闭塞分区逻辑状态保持故障占用不变;然后,TCC收到CTC闭塞分区确认无车占用命令时,X口区间闭塞分区逻辑状态保持故障占用不变。
其中,根据红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持故障占用不变的测试方法具体为:在开始测试之前,已知目标区间口上的所有闭塞分区的逻辑状态均为故障占用状态,此时所述前方闭塞分区的设备状态为故障占用,对应的信号机点红灯,再将所述前方闭塞分区的信号机上的红灯断丝,发生红灯转移,红灯转移到所述目标闭塞分区对应的信号机,由于所述目标闭塞分区对应的信号机原本就是点红灯,因此,发生红灯转移,所述目标闭塞分区对应的信号机仍然还是点红灯,此时,所述目标闭塞分区的逻辑状态不会发生变化,应该仍然保持故障占用,否则为错误情况。其中,所述目标闭塞分区为目标区间口上的每个闭塞分区。
举例说明:
如图5所示,以闭塞分区1408G和其对应的1408信号机为例说明,假设列车实际占用1408G,此时,1408信号机显示红灯,然后将1408信号机的红灯断丝,此时,将发生红灯转移,即1408信号机的红灯熄灭,在列车运行方向上,位于闭塞分区1408G后方的闭塞分区1424上的1424信号机由原来的点红灯仍然保持为点红灯,此时,闭塞分区1424的设备状态为空闲,1424信号机点红灯表示占用,闭塞分区1424G的逻辑状态保持原来的“故障占用状态”,符合正确情况,也就是说,闭塞分区1424的红灯断丝的逻辑占用检查合格,否则,就是不合格。
203、基于逻辑状态为空闲的闭塞分区,根据铁总运 156号《列控中心区间占用逻辑检查暂行技术条件》,按照正向运行模拟走车制造列车正常占用场景,测试逻辑状态为空闲的闭塞分区变成正常占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区。
从步骤202可得逻辑状态为空闲的闭塞分区,其中,测试逻辑状态为空闲的闭塞分区变成正常占用对应的预设测试项目,如下:
制造列车正常占用,用于测试“逻辑状态为空闲状态的闭塞分区,设备状态由空闲变为占用时,且满足所述预设条件时,逻辑状态变为正常占用,否则为故障占用状态”其中,所述预设条件如下:1、运行前方相邻闭塞分区与本分区属于同一个信号许可;2、运行后方相邻闭塞分区逻辑状态为正常占用(如果运行后方相邻的是站内区段,则条件为进路最末端轨道区段占用且锁闭)。
举例说明:
以闭塞分区1398G为例,此时X区间口为接车方向,先将闭塞分区1408G设置为“正常占用状态”,此时1398G为“空闲状态”, 1398G和1408G在同一个信号许可内,将闭塞分区1398G的设备状态设置为占用,此时1398G的逻辑状态变为 “正常占用状态”。
204、基于逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第三预设规则依次测试闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变对应的预设测试项目和闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成失去分路对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为失去分路的闭塞分区。
从步骤203可得逻辑状态为正常占用的闭塞分区,基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,依次根据区间总解锁命令、无车占用命令和红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持正常占用不变,得到对应的测试结果,所述对应的测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;再基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,依次将所述闭塞分区的设备状态由占用变为空闲,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否由正常占用变成失去分路,得到对应的测试结果,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变为失去分路,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为失去分路。
举例说明:
先基于每个闭塞分区设置为正常占用,TCC收到CTC区间逻辑状态总解锁命令时,逻辑状态保持正常占用不变(正确);再基于每个闭塞分区设置为正常占用,TCC收到CTC闭塞分区确认无车占用命令时,逻辑状态保持正常占用不变(正确);再基于每个闭塞分区设置为正常占用,测试正常占用条件下的红灯断丝,后方区段原逻辑状态为正常占用时,改变后的现逻辑状态为正常占用(正确);再基于每个闭塞分区设置为正常占用,逻辑状态为正常占用的闭塞分区,将设备状态由占用变为空闲,逻辑状态为失去分路(正确)。
205、基于逻辑状态为失去分路的闭塞分区,按照第四预设规则依次测试闭塞分区的逻辑状态保持失去分路不变对应的预设测试项目和闭塞分区的逻辑状态由失去分路变成正常占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区。
基于所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,依次根据红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持失去分路不变,得到对应的测试结果,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持失去分路不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
基于所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,依次将所述闭塞分区的设备状态由空闲变为占用,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否由失去分路变成正常占用,得到对应的测试结果,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由失去分路变成正常占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为正常占用。
206、基于逻辑状态为正常占用的闭塞分区,改变运行方向,测试闭塞分区的逻辑状态是否保持正常占用不变,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区。
从步骤205可得逻辑状态为正常占用的闭塞分区。其中,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变,所述测试错误是闭塞分区的逻辑状态改变。
207、基于逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第五预设规则依次测试在1个信号许可内的预设测试项目,得到对应的测试结果。
其中,所述预设测试项目为当运行前方闭塞分区的逻辑状态为正常占用时,与运行前方闭塞分区不连续的后方闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成故障占用对应的预设测试项目。
从步骤206可得逻辑状态为正常占用的闭塞分区,先模拟走车制造列车正常占用场景,按照运行方向依次正常占用各个闭塞分区,测试在1个信号许可内,当运行前方闭塞分区的逻辑状态为正常占用时,与所述运行前方闭塞分区不连续的后方所有仍处于正常占用逻辑状态的闭塞分区的逻辑状态是否变成故障占用,得到对应的测试结果,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成故障占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为故障占用;
举例说明:
以X口为例,中继1483发车,祥云站X口接车,依次将1424G、1408G、1398G、1392G的逻辑状态置成“正常占用状态”,再将“1392G”的状态设置为“空闲状态”此时1424G、1408G、1398G的逻辑状态变成“故障占用状态”。
208、获取待对比测试结果,且判断待对比测试结果与测试结果是否一致。
本步骤结合上述方法中102步骤的描述,在此相同的内容不赘述。
209、若对比测试结果与测试结果一致,则确定测试合格。
本步骤结合上述方法中103步骤的描述,在此相同的内容不赘述。
210、若对比测试结果与测试结果不一致,则确定测试不合格。
本步骤结合上述方法中104步骤的描述,在此相同的内容不赘述。
基于上述图2的实现方式可以看出,本发明提供一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法,本发明利用软件执行区间逻辑占用检查,将人工执行结果和软件执行结果进行比较,比较结果一致时,输出结果,如果不一致则不输出结果。通过优化测试序列的顺序,使前一步骤的结果是后一步骤的测试前提,避免重复制造相同的故障场景,提高测试效率。同时采用并行测试技术,即人工测试和软件测试同步进行,将软件测试的结果和人工测试的结果相比较,当且仅当二者的测试结果一致后通过测试。
进一步的,作为对上述图1所示方法的实现,本发明实施例还提供了一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试装置,用于对上述图1所示的方法进行实现。该装置实施例与前述方法实施例对应,为便于阅读,本装置实施例不再对前述方法实施例中的细节内容进行逐一赘述,但应当明确,本实施例中的装置能够对应实现前述方法实施例中的全部内容。如图3所示,该装置包括:
测试单元31,用于基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个所述预设测试项目对应的正确测试答案,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;所述预设测试项目是优化区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的;
判断单元32,用于获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与从所述测试单元31得到的所述测试结果是否一致;其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;
第一确定单元33,用于若从所述判断单元32得到的所述待对比测试结果与所述测试结果一致,则确定测试合格;
第二确定单元34,用于若从所述判断单元32得到的所述待对比测试结果与所述测试结果不一致,则确定测试不合格。
进一步的,作为对上述图2所示方法的实现,本发明实施例还提供了另一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试装置,用于对上述图2所示的方法进行实现。该装置实施例与前述方法实施例对应,为便于阅读,本装置实施例不再对前述方法实施例中的细节内容进行逐一赘述,但应当明确,本实施例中的装置能够对应实现前述方法实施例中的全部内容。如图4所示,该装置包括:
测试单元31,用于基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个所述预设测试项目对应的正确测试答案,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;所述预设测试项目是优化区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的;
判断单元32,用于获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与从所述测试单元31得到的所述测试结果是否一致;其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;
第一确定单元33,用于若从所述判断单元32得到的所述待对比测试结果与所述测试结果一致,则确定测试合格;
第二确定单元34,用于若从所述判断单元32得到的所述待对比测试结果与所述测试结果不一致,则确定测试不合格。
进一步的,所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试错误对应的闭塞分区不进行后续测试;所述测试单元31,包括:
第一测试模块311,用于基于所述测试运行指令,按照第一预设测试规则依次测试各个闭塞分区的逻辑状态保持空闲不变对应的预设测试项目和各个闭塞分区的逻辑状态由空闲变成故障占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为故障占用的闭塞分区;
第二测试模块312,用于基于从所述第一测试模块311得到的所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,按照第二预设测试规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持故障占用不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由故障占用变成空闲对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为空闲的闭塞分区;
第三测试模块313,用于基于从所述第二测试模块312得到的所述逻辑状态为空闲的闭塞分区,根据铁总运 156号《列控中心区间占用逻辑检查暂行技术条件》,按照正向运行模拟走车制造列车正常占用场景,测试逻辑状态为空闲的闭塞分区变成正常占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
第四测试模块314,用于基于从所述第三测试模块313得到的所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第三预设规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成失去分路对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为失去分路的闭塞分区;
第五测试模块315,用于基于从所述第四测试模块314得到的所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,按照第四预设规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持失去分路不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由失去分路变成正常占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
第六测试模块316,用于基于从所述第五测试模块315得到的所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,改变运行方向,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持正常占用不变,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
第七测试模块317,用于基于从所述第六测试模块316得到的所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第五预设规则依次测试在1个信号许可内的预设测试项目,得到对应的测试结果;所述预设测试项目为当运行前方闭塞分区的逻辑状态为正常占用时,与所述运行前方闭塞分区不连续的后方闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成故障占用对应的预设测试项目。
进一步的,所述第一测试模块311,包括:
第一测试子模块3111,用于基于所述测试运行指令,设置各个闭塞分区逻辑状态为空闲,依次根据区间总解锁命令、无车占用命令和改变行车方向命令测试所述各个闭塞分区的逻辑状态是否保持空闲不变,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持空闲不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
第二测试子模块3112,用于基于从所述第一测试子模块3111得到的所述逻辑状态为空闲的闭塞分区,继续测试红灯转移功能和将所述闭塞分区各个区段的设备状态变成占用 ,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否从空闲变成故障占用,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由空闲变为故障占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态不改变或改变为除了故障占用之外的其他逻辑状态。
进一步的,所述第二测试模块312,包括:
第一测试子模块3121,用于基于所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,依次根据区间总解锁命令、无车占用命令和红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持故障占用不变,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持故障占用不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
第二测试子模块3122,用于基于从所述第一测试子模块3121得到的所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,出清各个所述闭塞分区,测试从所述第一测试子模块3121得到的各个所述闭塞分区的逻辑状态是否变成空闲,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态变为空闲,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为空闲。
进一步的,所述第四测试模块314,包括:
第一测试子模块3141,用于基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,依次根据区间总解锁命令、无车占用命令和红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持正常占用不变,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
第二测试子模块3142,用于基于从所述第一测试子模块3141得到的所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,依次将所述闭塞分区的设备状态由占用变为空闲,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否由正常占用变成失去分路,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变为失去分路,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为失去分路。
进一步的,所述第五测试模块315,包括:
第一测试子模块3151,用于基于所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,按照发车方向依次根据红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持失去分路不变,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持失去分路不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
第二测试子模块3152,用于基于从所述第一测试子模块3151得到的所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,依次将所述闭塞分区的设备状态由空闲变为占用,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否由失去分路变成正常占用,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由失去分路变成正常占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为正常占用。
进一步的,所述第七测试模块317,还用于模拟走车制造列车正常占用场景,按照运行方向依次正常占用各个闭塞分区,测试在1个信号许可内,当运行前方闭塞分区的逻辑状态为正常占用时,与所述运行前方闭塞分区不连续的后方所有仍处于正常占用逻辑状态的闭塞分区的逻辑状态是否变成故障占用,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成故障占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为故障占用。
进一步的,本发明实施例还提供一种处理器,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行上述图1-2中所述的列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法。
进一步的,本发明实施例还提供一种存储介质,所述存储介质用于存储计算机程序,其中,所述计算机程序运行时控制所述存储介质所在设备执行上述图1-2中所述的列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
可以理解的是,上述方法及装置中的相关特征可以相互参考。另外,上述实施例中的“第一”、“第二”等是用于区分各实施例,而并不代表各实施例的优劣。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述,构造这类系统所要求的结构是显而易见的。此外,本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白,可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容,并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。
此外,存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM),存储器包括至少一个存储芯片。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中,计算设备包括一个或多个处理器 (CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存 (PRAM)、静态随机存取存储器 (SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器 (RAM)、只读存储器 (ROM)、电可擦除可编程只读存储器 (EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘 (DVD) 或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定,计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media),如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
本领域技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
以上仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (9)

1.一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法,其特征在于,所述方法包括:
基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个所述预设测试项目对应的正确测试答案,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;所述预设测试项目是通过优化区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的;
获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与所述测试结果是否一致;其中,所述待对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;
若是,则确定测试合格;
若否,则确定测试不合格;
所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试错误对应的闭塞分区不进行后续测试;
所述基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果,包括:
基于所述测试运行指令,按照第一预设测试规则依次测试各个闭塞分区的逻辑状态保持空闲不变对应的预设测试项目和各个闭塞分区的逻辑状态由空闲变成故障占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为故障占用的闭塞分区;
基于所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,按照第二预设测试规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持故障占用不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由故障占用变成空闲对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为空闲的闭塞分区;
基于所述逻辑状态为空闲的闭塞分区,根据铁总运 156号《列控中心区间占用逻辑检查暂行技术条件》,按照正向运行模拟走车制造列车正常占用场景,测试逻辑状态为空闲的闭塞分区变成正常占用的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第三预设规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成失去分路对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为失去分路的闭塞分区;
基于所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,按照第四预设规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持失去分路不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由失去分路变成正常占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,改变运行方向,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持正常占用不变,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第五预设规则依次测试在1个信号许可内的预设测试项目,得到对应的测试结果;所述预设测试项目为当运行前方闭塞分区的逻辑状态为正常占用时,与所述运行前方闭塞分区不连续的后方闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成故障占用对应的预设测试项目。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测试运行指令,按照第一预设测试规则依次测试各个闭塞分区的逻辑状态保持空闲不变对应的预设测试项目和各个闭塞分区的逻辑状态由空闲变成故障占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为故障占用的闭塞分区,包括:
基于所述测试运行指令,设置各个闭塞分区逻辑状态为空闲,依次根据区间总解锁命令、无车占用命令和改变行车方向命令测试所述各个闭塞分区的逻辑状态是否保持空闲不变,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持空闲不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
基于所述逻辑状态为空闲的闭塞分区,继续测试红灯转移功能和将所述闭塞分区各个区段的设备状态变成占用,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否从空闲变成故障占用,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由空闲变为故障占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态不改变或改变为除了故障占用之外的其他逻辑状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,按照第二预设测试规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持故障占用不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由故障占用变成空闲对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为空闲的闭塞分区,包括:
基于所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,依次根据区间总解锁命令、无车占用命令和红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持故障占用不变,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持故障占用不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
基于所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,出清各个所述闭塞分区,测试各个所述闭塞分区的逻辑状态是否变成空闲,得到对应的测试结果,所述对应的测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态变为空闲,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为空闲。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第三预设规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成失去分路对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为失去分路的闭塞分区,包括:
基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,根据区间总解锁命令、无车占用命令和红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持正常占用不变,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,依次将所述闭塞分区的设备状态由占用变为空闲,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否由正常占用变成失去分路,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变为失去分路,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为失去分路。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,按照第四预设规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持失去分路不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由失去分路变成正常占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区,包括:
基于所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,根据红灯转移命令测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持失去分路不变,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态保持失去分路不变,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态改变;
基于所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,依次将所述闭塞分区的设备状态由空闲变为占用,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否由失去分路变成正常占用,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由失去分路变成正常占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为正常占用。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第五预设规则依次测试在1个信号许可内的预设测试项目,得到对应的测试结果,包括:
模拟走车制造列车正常占用场景,按照运行方向依次正常占用各个闭塞分区,测试在1个信号许可内,当运行前方闭塞分区的逻辑状态为正常占用时,与所述运行前方闭塞分区不连续的后方所有仍处于正常占用逻辑状态的闭塞分区的逻辑状态是否变成故障占用,得到对应的测试结果,所述测试正确是所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成故障占用,所述测试错误是所述闭塞分区的逻辑状态未改变为故障占用。
7.一种列控中心区间逻辑占用检查并行测试装置,其特征在于,包括:
测试单元,用于基于测试运行指令,按照预设测试策略依次测试各个预设测试项目,得到每个所述预设测试项目对应的测试结果;其中,所述预设测试策略包括预设测试项目类别和测试顺序以及每个所述预设测试项目对应的正确测试答案,用于实现上一个所述预设测试项目对应的测试结果作为下一个所述预设测试项目的测试前提条件;所述预设测试项目是优化区间逻辑占用检查相关项目的测试序列得到的;
判断单元,用于获取待对比测试结果,且判断所述待对比测试结果与所述测试结果是否一致;其中,所述对比测试结果是人工按照所述预设测试策略依次测试各个所述预设测试项目得到的对应测试结果;
第一确定单元,用于若所述待对比测试结果与所述测试结果一致,则确定测试合格;
第二确定单元,用于若所述待对比测试结果与所述测试结果不一致,则确定测试不合格;
所述测试结果包括测试正确和测试错误,所述测试错误对应的闭塞分区不进行后续测试;所述测试单元,包括:
第一测试模块,用于基于所述测试运行指令,按照第一预设测试规则依次测试各个闭塞分区的逻辑状态保持空闲不变对应的预设测试项目和各个闭塞分区的逻辑状态由空闲变成故障占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为故障占用的闭塞分区;
第二测试模块,用于基于所述逻辑状态为故障占用的闭塞分区,按照第二预设测试规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持故障占用不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由故障占用变成空闲对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为空闲的闭塞分区;
第三测试模块,用于基于所述逻辑状态为空闲的闭塞分区,根据铁总运 156号《列控中心区间占用逻辑检查暂行技术条件》,按照正向运行模拟走车制造列车正常占用场景,测试逻辑状态为空闲的闭塞分区变成正常占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
第四测试模块,用于基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第三预设规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持正常占用不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成失去分路对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为失去分路的闭塞分区;
第五测试模块,用于基于所述逻辑状态为失去分路的闭塞分区,按照第四预设规则依次测试所述闭塞分区的逻辑状态保持失去分路不变对应的预设测试项目和所述闭塞分区的逻辑状态由失去分路变成正常占用对应的预设测试项目,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
第六测试模块,用于基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,改变运行方向,测试所述闭塞分区的逻辑状态是否保持正常占用不变,得到对应的测试结果和逻辑状态为正常占用的闭塞分区;
第七测试模块,用于基于所述逻辑状态为正常占用的闭塞分区,按照第五预设规则依次测试在1个信号许可内的预设测试项目,得到对应的测试结果;所述预设测试项目为当运行前方闭塞分区的逻辑状态为正常占用时,与所述运行前方闭塞分区不连续的后方闭塞分区的逻辑状态由正常占用变成故障占用对应的预设测试项目。
8.一种存储介质,所述存储介质包括存储的程序,其特征在于,在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至权利要求6中任一项所述列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法。
9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至权利要求6中任一项所述列控中心区间逻辑占用检查并行测试方法。
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