CN116647291A - WiFi芯片的测试方法、装置、存储介质及电子设备 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 144
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
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- H04B—TRANSMISSION
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- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
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- H—ELECTRICITY
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- H04B—TRANSMISSION
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Abstract
本申请实施例公开了一种WiFi芯片的测试方法、装置、存储介质及电子设备,涉及芯片测试领域。本申请的测试方法包括:根据多个WiFi芯片的分布位置,将多个WiFi芯片划分为至少两个测试组;其中,各个测试组内的芯片的分布位置互不相邻;利用同一频点分别在互不重合的时间区间内,对各个测试组中的WiFi芯片进行射频测试得到射频指标值;根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和射频测试结果,可以保证测试结果的一致性,同时可以减少测试WiFi芯片的带宽,可以有效减低外界其他信号的干扰。
Description
技术领域
本申请涉及芯片测试领域,尤其涉及一种WiFi芯片的测试方法、装置、存储介质及电子设备。
背景技术
WiFi芯片在烧录机台完成应用数据的烧录后,会利用测试机台进行功能性测试。为了提高测试效率,一般会同时对多个WiFi芯片进行测试,为了避免WiFi芯片之间的产生同频干扰,不同的WiFi芯片会使用不同的频点进行测试,这种测试方法存在的问题是:每个WiFi芯片测试的频点不同,无法保证测试结果的一致性。多个WiFi芯片在较宽的频段上工作,容易受到外界其他信号的干扰。
发明内容
本申请实施例提供了WiFi芯片的测试方法、装置、存储介质及电子设备,可以解决现有技术中WiFi芯片测试不满足测试一致性和容易受到外界其他信号干扰的问题。所述技术方案如下:
第一方面,本申请实施例提供了一种WiFi芯片的测试方法,包括:
根据多个WiFi芯片的分布位置,将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组;其中,各个测试组内的芯片的分布位置互不相邻;
利用同一频点分别在互不重合的时间区间内,对各个测试组中的WiFi芯片进行射频测试得到射频指标值;
根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和所述射频测试结果。
第二方面,本申请实施例提供了一种WiFi芯片的测试装置,其特征在于,包括:
分组单元,用于根据多个WiFi芯片的分布位置,将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组;其中,各个测试组内的芯片的分布位置互不相邻;
测试单元,用于利用同一频点分别在互不重合的时间区间内,对各个测试组中的WiFi芯片进行射频测试得到射频指标值;
确定单元,用于根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和所述射频测试结果。
第三方面,本申请实施例提供一种计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。
第四方面,本申请实施例提供一种电子设备,可包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。
本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括:
在对多个WiFi芯片进行测试时,将多个WiFi芯片划分为至少两个测试组,以保证空间上相邻的两个WiFi芯片位于不同的测试组,实现通过空间隔离的方式降低WiFi芯片之间的干扰,然后利用同一频点在不同时间区间内对各个测试组进行射频测试得到射频指标值,控制各个WiFi芯片在同一频点上进行测试,保证测试结果的一致性,同时可以减少测试WiFi芯片的带宽,可以有效减低外界其他信号的干扰。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本申请实施例提供的网络架构示意图;
图2是本申请实施例提供的WiFi芯片的测试方法的流程示意图;
图3是本申请实施例提供片WiFi芯片的烧录方法的流畅示意图;
图4是本申请提供的一种WiFi芯片的测试装置的结构示意图;
图5是本申请提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。
需要说明的是,本申请提供的WiFi芯片的测试方法一般由WiFi芯片的测试装置执行,相应的,WiFi芯片的测试装置一般设置于芯片中。
图1示出了可以应用于本申请的WiFi芯片的测试方法或WiFi芯片的测试装置的示例性系统架构。
如图1所示,系统架构可以包括:测试装置、多个烧录器(烧录器1~烧录器8)、多个WiFi芯片(WiFi芯片1~WiFi芯片8),烧录器和WiFi芯片之间为一一对应的关系。
其中,测试装置和各个烧录器之间通过有线方式连接,烧录器和对应的WiFi芯片之间通过有线方式连接,例如:测试装置和烧录器之间通过数据线相连,数据线用于传输基带数字信号,数据线的协议可以是通用机台烧录协议,包括但不限于串口通信协议为SPI(Serial Peripheral Interface,串行外设接口)协议。烧录器和对应的WiFi芯片之间通过射频线相连,射频线用于传输射频信号。
其中,测试装置首先通过并行方式通过烧录器将应用数据烧录到各个WiFi芯片中,然后对各个WiFi芯片进行功能性测试。
应理解,图1中的测试装置、烧录器和WiFi芯片的数目仅是示意性的。根据实现需要,可以是任意数量。
下面将结合附图2,对本申请实施例提供的WiFi芯片的测试方法进行详细介绍。其中,本申请实施例中的WiFi芯片的测试装置可以是图1所示的WiFi芯片的测试装置。
请参见图2,为本申请实施例提供了一种WiFi芯片的测试方法的流程示意图。如图2所示,本申请实施例的所述方法可以包括以下步骤:
S201、根据待测试的多个WiFi芯片的分布位置,将多个WiFi芯片划分为至少两个测试组。
其中,待测试的多个WiFi芯片的分布位置表示WiFi芯片在物理空间中的位置。
在一种可能的实施方式中,分布位置可以使用二维坐标来表示,测试装置预存储有待测试的各个WiFi芯片在建立的直角坐标系中的坐标,然后根据坐标计算任意两个WiFi芯片之间的距离,以及根据距离阈值将WiFi芯片划分为至少两个测试组,各个测试组内任意两个WiFi芯片的距离大于或等于该距离阈值,实现利用空间间隔的方式降低相邻的两个WiFi芯片之间的射频干扰。距离阈值可以根据实际需求而定,本申请不作限制。
在另一种可能的实施方式中,WiFi芯片的分布位置可以采用通道编号来表示,待测试的多个WiFi芯片采用等间隔方式垂直排列在平面上,一个WiFi芯片具有一个通道编号,测试装置预存储有通道编号,根据通道编号将多个WiFi芯片划分为至少两个测试组,每个测试组内任意两个WiFi芯片的通道间隔大于或等于2。
例如,待测试的多个WiFi芯片的数量为8,分别为WiFi芯片1~WiFi芯片8,8个WiFi芯片采用等间隔方式垂直排列,8个WiFi芯片从上到下的通道编号分别为1~8,即WiFi芯片1和WiFi芯片2相邻,WiFi芯片2和WiFi芯片3相邻,…,WiFi芯片7和WiFi芯片8相邻。将WiFi芯片1、WiFi芯片3、WiFi芯片5和WiFi芯片7划分为测试组1,将WiFi芯片2、WiFi芯片4、WiFi芯片6和WiFi芯片8划分为测试组2。以上分组方式仅为举例说明,具体的分组方式可以根据实际需求而定。
S202、利用同一频点分别在互不重合的时间区间内,对各个测试组中的WiFi芯片进行射频测试得到射频指标值。
其中,不同的测试组内的WiFi芯片利用同一频点进行测试,这样保证所有WiFi芯片射频测试结果的一致性。不同的测试组互不重合的时间区间内进行测试,这样可以通过空间间隔的方式减低相邻WiFi芯片之间的干扰。另外,利用同一频点对各个WiFi芯片进行测试,测试频点的数量少带宽小,也可以减少其他信号对测试过程造成干扰。时间区间的长度可以根据实际需求而定,本申请不作限制。射频指标值包括但不限于:发射功率(TXPower)、误差向量幅度(EVM)、频率误差(Frequency Error)、接收灵敏度(RXSensitivity)。
例如:根据S201中的例子,利用频点f0在时间区间1内对测试组1中WiFi芯片1、WiFi芯片3、WiFi芯片5和WiFi芯片7进行射频测试,然后利用频点f0在时间区间2内对测试组2中WiFi芯片2、WiFi芯片4、WiFi芯片6和WiFi芯片8进行射频测试,时间区间1和时间区间2的长度为15秒。
S203、根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和射频测试结果。
其中,测试装置预存储有射频标准值,比较射频标准值和测量的射频指标值得到射频测试结果,例如:射频指标值和射频标准值之间的误差小于预设范围时,则测试通过,否则测试不通过。测试装置在显示单元上显示各个WiFi芯片的射频指标值和射频测试结果。
在本申请的一些实施例中,测试装置采用并行方式对各个WiFi芯片执行并行烧录流程,具体流程参见图3所示的流程图,包括如下步骤:
S301、向各个烧录器发送应用数据。
S302、在发送成功后,向各个烧录器发送开始烧录指令。
其中,烧录指令用于指示各个烧录器将应用数据烧录至对应的WiFi芯片中。
S303、监测各个烧录器的烧录状态,以及通过显示单元显示烧录状态。
其中,测试装置和各个烧录器之间通过数据线相连,测试装置通过数据线将应用数据发送到各个烧录器进行存储,数据线可以基于GPIO协议进行数据传输。当烧录器执行烧录流程时,测试装置监测该烧录器的烧录状态为忙碌状态;当烧录器执行烧录流程结束时,根据烧录结果检测烧录状态,烧录状态分为烧录成功和烧录失败。测试装置在显示单元上显示各个WiFi芯片的烧录状态。测试装置通过并行方式对多个WiFi芯片进行烧录,可以提高芯片烧录效率。
其中,烧录开始信号通过预设长度的脉冲宽度信号来实现,烧录器检测到预设长度的脉冲宽度信号时,启动烧录流程,将本地存储的应用数据写入到对应的WiFi芯片中,同时将烧录器的烧录状态设置为忙碌状态,主机此时检测到烧录器为忙碌状态。在烧录器完成烧录流程后,更新烧录状态,烧录状态为烧录成功或烧录失败,测试装置也同步更新当前的烧录状态。进一步的,测试装置设置有超时检测机制,若测试装置在发送烧录开始指令后,预设时长内未接收到烧录器的烧录状态,则确定该烧录器的烧录状态为烧录失败,预设时长可以根据实际需求而定。
在本申请的一些实施例中,各个烧录器和对应的WiFi芯片之间通过射频线相连,烧录器在将应用数据烧录到对应的WiFi芯片时,可将位于基带的应用数据进行调制得到射频信号,然后将射频信号通过射频线传输和写入到WiFi芯片,这样烧录器和WiFi芯片之间可以通过射频线同时执行烧录流程和测试流程,可以降低测试系统内各个部件的连接复杂度和降低硬件成本。
本申请的实施例中测试设备对芯片进行测试时,在对多个WiFi芯片进行测试时,将多个WiFi芯片划分为至少两个测试组,以保证空间上相邻的两个WiFi芯片位于不同的测试组,实现通过空间隔离的方式降低WiFi芯片之间的干扰,然后利用同一频点在不同时间区间内对各个测试组进行射频测试得到射频指标值,减少测试WiFi芯片的带宽,可以有效减低外界其他信号的干扰。
下述为本申请装置实施例,可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节,请参照本申请方法实施例。
请参见图4,其示出了本申请一个示例性实施例提供的WiFi芯片的测试装置的结构示意图,以下简称装置4。该装置4可以通过软件、硬件或者两者的结合实现成为芯片的全部或一部分。装置4包括:分组单元401、测试单元402、确定单元403。
分组单元401,用于根据多个WiFi芯片的分布位置,将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组;其中,各个测试组内的芯片的分布位置互不相邻;
测试单元402,用于利用同一频点分别在互不重合的时间区间内,对各个测试组中的WiFi芯片进行射频测试得到射频指标值;
确定单元403,用于根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和所述射频测试结果。
在一个或多个可能的实施例中,还包括:
烧录单元,用于向所述多个WiFi芯片对应的各个烧录器发送应用数据;
发送成功后,向各个烧录器发送开始烧录指令;所述开始烧录指令用于指示烧录器将本地存储的应用数据烧录至对应的WiFi芯片;
监测各个烧录器的烧录结果,以及通过显示单元显示烧录结果。
在一个或多个可能的实施例中,各个烧录器通过射频线与对应的WiFi芯片相连,烧录器将应用数据进行调制后,将调制后的应用数据通过射频线发送给WiFi芯片。
在一个或多个可能的实施例中,所述根据多个WiFi芯片的分布位置,将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组,包括:
获取各个WiFi芯片的坐标;
计算所述多个WiFi芯片中任意两个WiFi芯片之间的距离;
根据计算结果将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组;其中,每个测试组中任意两个WiFi芯片的距离大于或等于距离阈值。
在一个或多个可能的实施例中,还包括:
设置单元,用于设置各个时隙的长度、距离阈值的大小和测试组的数量。
在一个或多个可能的实施例中,所述射频指标值包括:发射功率差向量幅度、频率误差和接收灵敏度。
在一个或多个可能的实施例中,所述根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和所述射频测试结果,包括:
计算射频指标值和预存储的射频标准值之间的误差值;
若所述误差值小于预设阈值,则该射频指标值的射频测试结果为通过;
若所述误差值不小于预设阈值,则该射频指标值的射频测试结果为不通过。
需要说明的是,上述实施例提供的装置4在执行WiFi芯片的测试方法时,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将设备的内部结构划分成不同的功能模块,以完成上述的全部或者部分功能。另外,上述实施例提供的WiFi芯片的测试装置与WiFi芯片的测试方法实施例属于同一构思,其体现实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
上述本申请实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
本申请实施例还提供了一种计算机存储介质,所述计算机存储介质可以存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行如上述图2所示实施例的方法步骤,具体执行过程可以参见图2所示实施例的具体说明,在此不进行赘述。
本申请还提供了一种计算机程序产品,该计算机程序产品存储有至少一条指令,所述至少一条指令由所述处理器加载并执行以实现如上各个实施例所述的WiFi芯片的测试方法。
请参见图5,为本申请实施例提供了一种计算机设备的结构示意图。如图5所示,所述电子设备500可以包括:至少一个处理器501,至少一个网络接口504,用户接口503,存储器505,至少一个通信总线502。
其中,通信总线502用于实现这些组件之间的连接通信。
其中,用户接口503可以包括显示屏(Display)、摄像头(Camera),可选用户接口503还可以包括标准的有线接口、无线接口。
其中,网络接口504可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。
其中,处理器501可以包括一个或者多个处理核心。处理器501利用各种接口和线路连接整个电子设备500内的各个部分,通过运行或执行存储在存储器505内的指令、程序、代码集或指令集,以及调用存储在存储器505内的数据,执行电子设备500的各种功能和处理数据。可选的,处理器501可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing,DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable Logic Array,PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器501可集成中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit,GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中,CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等;GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制;调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调器也可以不集成到处理器501中,单独通过一块芯片进行实现。
其中,存储器505可以包括随机存储器(Random Access Memory,RAM),也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的,该存储器505包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器505可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器505可包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等;存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及到的数据等。存储器505可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器501的存储装置。如图5所示,作为一种计算机存储介质的存储器505中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及应用程序。
在图5所示的电子设备500中,用户接口503主要用于为用户提供输入的接口,获取用户输入的数据;而处理器501可以用于调用存储器505中存储的应用程序,并具体执行如图2所示的方法,具体过程可参照图2所示,此处不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
以上所揭露的仅为本申请较佳实施例而已,当然不能以此来限定本申请之权利范围,因此依本申请权利要求所作的等同变化,仍属本申请所涵盖的范围。
Claims (10)
1.一种WiFi芯片的测试方法,其特征在于,包括:
根据多个WiFi芯片的分布位置,将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组;其中,各个测试组内的芯片的分布位置互不相邻;
利用同一频点分别在互不重合的时间区间内,对各个测试组中的WiFi芯片进行射频测试得到射频指标值;
根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和所述射频测试结果。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,之前,还包括:
向所述多个WiFi芯片对应的各个烧录器发送应用数据;
发送成功后,向各个烧录器发送开始烧录指令;所述开始烧录指令用于指示烧录器将本地存储的应用数据烧录至对应的WiFi芯片;
监测各个烧录器的烧录结果,以及通过显示单元显示烧录结果。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,各个烧录器通过射频线与对应的WiFi芯片相连,烧录器将应用数据进行调制后,将调制后的应用数据通过射频线发送给WiFi芯片。
4.根据权利要求1或2或3所述的测试方法,其特征在于,所述根据多个WiFi芯片的分布位置,将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组,包括:
获取各个WiFi芯片的坐标;
计算所述多个WiFi芯片中任意两个WiFi芯片之间的距离;
根据计算结果将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组;其中,每个测试组中任意两个WiFi芯片的距离大于或等于距离阈值。
5.根据权利要求4所述的测试方法,其特征在于,还包括:
设置各个时隙的长度、距离阈值的大小和测试组的数量。
6.根据权利要求1或2或3或5所述的测试方法,其特征在于,所述射频指标值包括:发射功率差向量幅度、频率误差和接收灵敏度。
7.根据权利要求6所述的测试方法,其特征在于,所述根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和所述射频测试结果,包括:
计算射频指标值和预存储的射频标准值之间的误差值;
若所述误差值小于预设阈值,则该射频指标值的射频测试结果为通过;
若所述误差值不小于预设阈值,则该射频指标值的射频测试结果为不通过。
8.一种WiFi芯片的测试装置,其特征在于,包括:
分组单元,用于根据多个WiFi芯片的分布位置,将所述多个WiFi芯片划分为至少两个测试组;其中,各个测试组内的芯片的分布位置互不相邻;
测试单元,用于利用同一频点分别在互不重合的时间区间内,对各个测试组中的WiFi芯片进行射频测试得到射频指标值;
确定单元,用于根据射频指标值确定射频测试结果,以及在显示单元显示各个WiFi芯片的射频指标值和所述射频测试结果。
9.一种计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1~7任意一项的方法步骤。
10.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1~7任意一项的方法步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310621996.7A CN116647291A (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | WiFi芯片的测试方法、装置、存储介质及电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202310621996.7A CN116647291A (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | WiFi芯片的测试方法、装置、存储介质及电子设备 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116647291A true CN116647291A (zh) | 2023-08-25 |
Family
ID=87618372
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310621996.7A Pending CN116647291A (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | WiFi芯片的测试方法、装置、存储介质及电子设备 |
Country Status (1)
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CN (1) | CN116647291A (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117538736A (zh) * | 2024-01-09 | 2024-02-09 | 杭州芯云半导体技术有限公司 | 一种射频芯片的测试方法及系统 |
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- 2023-05-30 CN CN202310621996.7A patent/CN116647291A/zh active Pending
Cited By (2)
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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