CN116566410A - 接收装置以及基于眼图的控制参数调整方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种接收装置以及基于眼图的控制参数调整方法。所述接收装置包括接收电路以及控制电路。控制电路进行迭代操作以决定经优化控制参数，以及在完成所述迭代操作后将接收电路的目前控制参数更新为经优化控制参数。接收电路依据目前控制参数处理输入信号以产生经恢复数据。其中，所述迭代操作包括：将接收电路的目前控制参数更新为候选控制参数；检查经优化眼图掩模与目前眼图的大小关系；以及当经优化眼图掩模不抵触目前眼图时，依据目前眼图增大经优化眼图掩模，以及将经优化控制参数更新为新眼图掩模所对应的候选控制参数。

Description

接收装置以及基于眼图的控制参数调整方法

技术领域

本发明涉及一种接收装置，以及涉及一种基于眼图的控制参数调整方法。

背景技术

传送装置可以通过信道将信号(输入信号)传送给接收装置。接收装置的接收电路可以依据控制参数处理输入信号以产生经恢复数据。现有接收装置针对控制参数的自适应算法大多数是基于信号理论，例如运用最小均方(Least Mean Square，LMS)算法(例如SS-LMS算法)去动态调整接收电路的控制参数。此类算法相对复杂，所需芯片面积也较大。再者，由于各参数间存在相互作用，因此选择不同的带宽与校准顺序往往会得到不同的结果。现有接收装置较难控制各参数间的平衡，得到稳定的优化结果。

发明内容

本发明是针对一种接收装置以及基于眼图的控制参数调整方法，以决定接收电路的经优化控制参数。

在根据本发明的实施例中，所述基于眼图的控制参数调整方法包括：由控制电路进行迭代操作，以决定经优化控制参数；以及在完成所述迭代操作后，将接收电路的目前控制参数更新为经优化控制参数。其中，所述迭代操作包括：将接收电路的目前控制参数更新为候选控制参数，以使接收电路依据目前控制参数处理输入信号以产生经恢复数据；检查经优化眼图掩模(eye mask)与经恢复数据所对应的目前眼图的大小关系；当经优化眼图掩模抵触目前眼图时，维持经优化眼图掩模以及经优化眼图掩模所对应的经优化控制参数；以及当经优化眼图掩模不抵触目前眼图时，依据目前眼图产生大于经优化眼图掩模的新眼图掩模，更新经优化眼图掩模为新眼图掩模，以及更新经优化控制参数为新眼图掩模所对应的候选控制参数。

在根据本发明的实施例中，所述接收装置包括接收电路以及控制电路。接收电路依据目前控制参数处理输入信号以产生经恢复数据。控制电路耦接至接收电路，以提供目前控制参数。控制电路进行迭代操作以决定经优化控制参数，以及在完成所述迭代操作后将接收电路的目前控制参数更新为经优化控制参数。其中，所述迭代操作包括：将接收电路的目前控制参数更新为候选控制参数；检查经优化眼图掩模与经恢复数据所对应的目前眼图的大小关系；当经优化眼图掩模抵触目前眼图时，维持经优化眼图掩模以及经优化眼图掩模所对应的经优化控制参数；以及当经优化眼图掩模不抵触目前眼图时，依据目前眼图产生大于经优化眼图掩模的新眼图掩模，将经优化眼图掩模更新为新眼图掩模，以及将经优化控制参数更新为新眼图掩模所对应的候选控制参数。

基于上述，本发明诸实施例所述接收装置可以进行基于眼图的控制参数调整方法。控制电路可以比较经优化眼图掩模与目前眼图。当经优化眼图掩模小于目前眼图(亦即经优化眼图掩模完全位于目前眼图的内边界所形成的封闭区域内)时，控制电路可以依据目前眼图调大经优化眼图掩模。控制电路可以遍历(sweep)多个候选控制参数，以找出具有最大眼图掩模的候选控制参数作为经优化控制参数。

附图说明

图1是依照本发明的一实施例的一种接收装置的电路方块(circuit block)示意图。

图2是依照本发明的一实施例的一种基于眼图的控制参数调整方法的流程示意图。

图3是依照本发明的一实施例的一种基于眼图的迭代操作的流程示意图。

图4是依照本发明的一实施例所绘示，目前眼图与经优化眼图掩模的示意图。

图5是依照本发明的另一实施例所绘示，目前眼图与经优化眼图掩模的示意图。

图6是依照本发明的一实施例所绘示，图1所示接收电路的电路方块示意图。

图7是依照本发明的一实施例的一种基于眼图的控制参数优化方法的状态流程示意图。

图8是依照本发明的一实施例所绘示，图7的线索优化的状态流程示意图。

图9是依照本发明的一实施例所绘示，表格遍历状态机的状态流程示意图。

图10是依照本发明的一实施例所绘示，眼图掩模检查状态机的状态流程示意图。

图11是依照本发明的一实施例所绘示，眼图检测点检查状态机的状态流程示意图。

图12是依照本发明的一实施例所绘示，眼界扫描状态机的状态流程示意图。

图13是依照本发明的一实施例所绘示，目前眼图的幅度与阈值的示意图。

图14是依照本发明的一实施例所绘示，幅度检查状态机的状态流程示意图。

图15是依照本发明的一实施例所绘示，幅度检测状态机的状态流程示意图。

图16是依照本发明的一实施例所绘示，图7的精细优化的状态流程示意图。

图17是依照本发明的一实施例所绘示，图7的扰动优化的状态流程示意图。

图18是依照本发明的一实施例所绘示，表格扰动状态机的状态流程示意图。

图19是依照本发明的一实施例所绘示，扰动检查状态机的状态流程示意图。

附图标记说明

10：传送装置

20：信道

100：接收装置

110：接收电路

111：片上终端负载电路(ODT)

112：连续时间线性均衡器(CTLE)

113：可变增益放大器(VGA)

114：判决反馈均衡器(DFE)

115：串行到并行(S2P)转换器

116：时钟数据恢复(CDR)电路

117：加法电路

118：相位内插器(PIs)

120：控制电路

130：功能电路

400、500：目前眼图

410、510：经优化眼图掩模

420：新眼图掩模

430：最大眼图掩模

A、B：幅度点

all_ones、all_zero_a、all_zeros、amp_chk_bypass、ctle_perturbation_bypass、ctle_sweep_byass、eye_mask_pass、eye_nx、eye_rerun、eye_scan_nx、fine_bypass、idx_nx、perturbation_bypass、perturbation_exit、perturbation_freeze、point_a_check、point_b_check、tap1_perturbation_bypass、tap1_sweep_bypass、vaild、vga_perturbation_bypass、vga_sweep_bypass：参数

amp_chk_num、ber_dat_num、eye_max、idx_end、iter_num：阈值

ck_0、ck_90、ck_190、ck_270、ck_s2p：时钟信号

ctle[l:0]、pi[i:0]、tap1[n:0]、tapn[n:0]、vga[m:0]、vref[j:0]：控制参数

dat_cnt、err_cnt、iter_cnt：计数值

data[k:0]、error[k:0]：并行数据

Dout：经恢复数据

err_dat_num：累计量

idx_eye_pt：指针

pi_dat[i:0]、pi_err[i:0]：控制信号

RXP、RXN：差分信号

SC：目前控制参数

Sin：输入信号

S210～S220、S310～S370：步骤

S710～S750、S810～S830、S910～S990、S1010～S1050、S1110、S1210～S1250、S1410～S1460、S1510～S1520、S1610～S1680、S1710～S1780、S1810～S1850、S1910～S1970：状态

具体实施方式

现将详细地参考本发明的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同组件符号在附图和描述中用来表示相同或相似部分。

在本申请说明书全文(包括权利要求)中所使用的“耦接(或连接)”一词可指任何直接或间接的连接手段。举例而言，若文中描述第一装置耦接(或连接)于第二装置，则应该被解释成该第一装置可以直接连接于该第二装置，或者该第一装置可以通过其他装置或某种连接手段而间接地连接至该第二装置。本申请说明书全文(包括权利要求)中提及的“第一”、“第二”等用语是用以命名组件(element)的名称，或区别不同实施例或范围，而并非用来限制组件数量的上限或下限，亦非用来限制组件的次序。另外，凡可能之处，在附图及实施方式中使用相同标号的组件/构件/步骤代表相同或类似部分。不同实施例中使用相同标号或使用相同用语的组件/构件/步骤可以相互参照相关说明。

图1是依照本发明的一实施例的一种接收装置100的电路方块(circuit block)示意图。传送装置10可以通过信道20将信号(输入信号Sin)传送给接收装置100。在图1所示实施例中，接收装置100包括接收电路110、控制电路120以及功能电路130。控制电路120耦接至接收电路110以提供目前控制参数SC。接收电路110可以依据目前控制参数SC处理信道20的输入信号Sin，以产生经恢复数据Dout给功能电路130。本实施例并不限制接收电路110与功能电路130的实施细节。举例来说，在一些实施例中，接收电路110可以包括片上终端负载电路、判决反馈均衡器(decision feedback equalizer，DFE)、可变增益放大器(variablegain amplifer，VGA)、连续时间线性均衡器(continuous time linear equalizer，CTLE)、串行到并行(serial to parallel，S2P)转换器、时钟数据恢复(clock data recovery，CDR)电路、相位内插器(phase interpolator，PI)以及(或是)其他接收接口电路。

图2是依照本发明的一实施例的一种基于眼图的控制参数调整方法的流程示意图。请参照图1与图2。在步骤S210中，控制电路120可以进行基于眼图的迭代操作，以决定经优化控制参数。控制电路可以在所述迭代操作中遍历(sweep)多个候选控制参数，以找出具有最大眼图掩模的候选控制参数作为经优化控制参数。在完成所述迭代操作后，控制电路120可以将接收电路110的目前控制参数SC更新为所述经优化控制参数(步骤S220)。因此，接收电路110可以依据经优化控制参数处理信道20的输入信号Sin，以产生经恢复数据Dout给功能电路130。

图3是依照本发明的一实施例的一种基于眼图的迭代操作的流程示意图。图2的步骤S210所述迭代操作可以参照图3的相关说明。请参照图1与图3。在步骤S310中，控制电路120可以将接收电路110的目前控制参数SC更新为任意一个候选控制参数，以使接收电路110依据目前控制参数SC处理输入信号Sin以产生经恢复数据Dout。在步骤S320中，控制电路120可以检查经优化眼图掩模与经恢复数据Dout所对应的目前眼图的大小关系。在迭代操作的第一次迭代中，“经优化眼图掩模”可以被设为某一个初始眼图掩模。举例来说，所述初始眼图掩模可以是依照实际设计来决定的一个最小眼图掩模。对应于初始眼图掩模，在迭代操作的第一次迭代中，“经优化控制参数”可以被设为某一个初始控制参数，而此初始控制参数可以依照实际设计来决定。

图4是依照本发明的一实施例所绘示，目前眼图400与经优化眼图掩模410的示意图。在图4所示实施例中，经优化眼图掩模410的几何形状是菱形，而图4所示菱形(经优化眼图掩模410)的顶点分别被标示为A、B、C与D。在其他实施例中，所述经优化眼图掩模410可以是矩形、椭圆形或是其他几何形。举例来说，图5是依照本发明的另一实施例所绘示，目前眼图500与经优化眼图掩模510的示意图。在图5所示实施例中，经优化眼图掩模510的几何形状是六角形，而图5所示六角形(经优化眼图掩模510)的顶点分别被标示为A、B、C、D、E与F。图5所示目前眼图500与经优化眼图掩模510可以参照图4所示目前眼图400与经优化眼图掩模410的相关说明并加以类推。

请参照图1、图3与图4。在步骤S320中，控制电路120可以检查经优化眼图掩模410与经恢复数据Dout所对应的目前眼图400的大小关系。举例来说，控制电路120可以检查经优化眼图掩模410的顶点A、B、C与D的每一个有无超出目前眼图400的内边界。当顶点A、B、C与D的任何一个超出目前眼图400的内边界时，控制电路120可以判断经优化眼图掩模410抵触了目前眼图400。当经优化眼图掩模410抵触目前眼图400时(步骤S330的判断结果为“是”)，控制电路120可以维持经优化眼图掩模410以及经优化眼图掩模410所对应的经优化控制参数，以及进行步骤S360。当经优化眼图掩模410不抵触目前眼图400时(步骤S330的判断结果为“否”)，控制电路120可以进行步骤S340，以依据目前眼图400产生大于经优化眼图掩模410的新眼图掩模420。图4所示新眼图掩模420的顶点分别被标示为A’、B’、C’与D’。在步骤S350中，控制电路120可以将经优化眼图掩模410更新为新眼图掩模420，以及将经优化控制参数更新为新眼图掩模420所对应的候选控制参数。

在步骤S360中，控制电路120可以判断是否所有候选控制参数都被选用过？当尚有候选控制参数未被选用时(步骤S360的判断结果为“否”)，控制电路120可以进行步骤S370。在步骤S370中，控制电路120可以从未被选用的候选控制参数中选择下一个候选控制参数，以便再一次进行步骤S310～S360。

基于上述，本发明诸实施例所述接收装置100可以进行基于眼图的控制参数调整方法。控制电路120可以比较经优化眼图掩模410与目前眼图400。当经优化眼图掩模410小于目前眼图400(亦即经优化眼图掩模410完全位于目前眼图400的内边界所形成的封闭区域内)时，控制电路120可以依据目前眼图400调大经优化眼图掩模410。控制电路120可以遍历(sweep)多个候选控制参数，以找出具有最大眼图掩模的候选控制参数作为经优化控制参数。

依照实际设计，接收电路110可以是任何信号接收接口电路。举例来说，图6是依照本发明的一实施例所绘示，图1所示接收电路110的电路方块示意图。在图6所示实施例中，接收电路110包括片上终端负载电路(on die termination，ODT)111、连续时间线性均衡器(CTLE)112、可变增益放大器(VGA)113、判决反馈均衡器(DFE)114、串行到并行(S2P)转换器115、时钟数据恢复(CDR)电路116、加法电路117以及相位内插器(PIs)118。连续时间线性均衡器112的输入端接收来自于信道20的差分信号RXP与RXN(输入信号Sin)。连续时间线性均衡器112的控制端耦接至控制电路120，以接收控制参数ctle[l:0](目前控制参数SC中的一个控制参数)。连续时间线性均衡器112的输出端耦接至可变增益放大器113的输入端。可变增益放大器113的控制端耦接至控制电路120，以接收控制参数vga[m:0](目前控制参数SC中的一个控制参数)。可变增益放大器113的输出端耦接至判决反馈均衡器114的输入端。

在图6所示实施例中，判决反馈均衡器114是n个抽头判决反馈均衡器，其中n可以是依照实际设计所决定的任何整数。判决反馈均衡器114的控制端耦接至控制电路120，以接收控制参数tap1[n:0]、…、tapn[n:0](目前控制参数SC中的n个控制参数)以及控制参数vref[j:0](目前控制参数SC中的一个控制参数)。判决反馈均衡器114的输出端耦接至串行到并行转换器115的输入端。串行到并行转换器115输出并行数据error[k:0]和data[k:0](经恢复数据Dout)给功能电路130与控制电路120。

时钟数据恢复电路116的输入端耦接至串行到并行转换器115的输出端，以接收并行数据error[k:0]和data[k:0]。加法电路117以及相位内插器118耦接至时钟数据恢复电路116的输出端，以接收控制信号pi_dat[i:0]。加法电路117还耦接至控制电路120，以接收控制参数pi[i:0](目前控制参数SC中的一个控制参数)。相位内插器118还耦接至加法电路117，以接收控制信号pi_err[i:0]。相位内插器118依据不同相位的时钟信号ck_0、ck_90、ck_190与ck_270产生采样时钟给判决反馈均衡器114和串行到并行转换器115。

图7是依照本发明的一实施例的一种基于眼图的控制参数优化方法的状态流程示意图。图7所示实施例包括两个前台优化状态(foreground optimization state)和一个后台优化状态(background optimization state)。前台优化包括状态S710的线索优化(hintoptimization)和状态S730的精细优化(fine optimization)。前台优化可以使用训练数据进行控制参数优化。状态S710的线索优化将详述于图8所示实施例。在状态S710完成后会进入状态S720，以产生线索结果记录(hint results record)。线索结果记录(状态S710产生的结果)将作为后一优化状态(状态S730)的初始值。状态S730的精细优化将详述于图16所示实施例。在状态S730完成后会进入状态S740，以产生精细结果记录(fine resultsrecord)。精细结果记录(状态S730产生的结果)将作为后一优化状态(状态S750)的初始值。后台优化状态包括状态S750的扰动优化(perturbation optimization)。状态S750的扰动优化将详述于图17所示实施例。后台优化在接收装置100进入正常数据收发后启动并一直保持工作(也可选择关闭)。后台优化状态可以使用正常传输数据进行控制参数优化。

依据不同的配置，状态S730(精细优化)与状态S750(扰动优化)中的任意一个可以被绕过(bypass)。例如，当图7中的参数fine_bypass为1时，精细优化(状态S730)将不会被执行。同样，当图7中的参数perturbation_bypass为1时，扰动优化(状态S750)将不会被执行。当精细优化被绕过时，状态S740所记录的精细结果记录是状态S720所记录的线索结果记录，包括线索优化后的最优参数索引和对应的经优化眼图掩模。

图8是依照本发明的一实施例所绘示，图7的线索优化(状态S710)的状态流程示意图。图8所示线索优化(即图7所示状态S710)可以用于在若干组预先设定的参数值组合中搜寻出最优的一组，以作为后续精细优化(即图7所示状态S730)的初始参数值。控制电路120可以进行图8所示线索优化，以调用表格遍历状态机遍历一个预先设定的线索表格(hinttable，例如下述表1)。表格遍历状态机将详述于图9所示实施例。表1所示线索表格包括线索索引字段index_hint与多个参数索引字段Index_vga、Index_ctle、Index_dfe、…。表1所示线索表格示范性地展示16组数据，其中这16组数据的线索索引index_hint分别为0、…、15。线索表格的数据组数可以依照实际设计来决定。线索表格的每一组数据报含多个参数索引。举例来说，线索索引“0”所指的参数索引组合包含参数索引“Index_vga_0”、“Index_ctle_0”、“Index_dfe_0”、…。同理可推，线索索引“15”所指的参数索引组合包含参数索引“Index_vga_15”、“Index_ctle_15”、“Index_dfe_15”、…。表1所示“Index_vga_0”、“Index_ctle_0”、“Index_dfe_0”、“Index_vga_15”、“Index_ctle_15”与“Index_dfe_15”分别表示依照实际设计所决定的任意整数。

表1：线索表格

表1的不同参数索引字段记录了不同控制参数表格的索引，而不同控制参数表格用以记录接收电路110的不同构件电路的控制参数。举例来说，表1所示参数索引字段Index_vga记录了下述表2所示VGA表格(控制参数表格)的索引字段Index_vga中的索引值；表1所示参数索引字段Index_ctle记录了下述表3所示CTLE表格(控制参数表格)的索引字段Index_ctle中的索引值；以及表1所示参数索引字段Index_dfe记录了下述表4所示DFE表格(控制参数表格)的索引字段Index_dfe中的索引值。表2所示VGA表格用以记录可变增益放大器113的控制参数vga[m:0]。举例来说，表2所示索引“0”所指的控制参数vga[m:0]为“vga_0”，而表2所示索引“15”所指的控制参数vga[m:0]为“vga_15”。表2所示“vga_0”与“vga_15”分别表示依照实际设计所决定的任意实数。表3所示CTLE表格用以记录连续时间线性均衡器112的控制参数ctle[l:0]。举例来说，表3所示索引“0”所指的控制参数ctle[l:0]为“ctle_0”，而表3所示索引“15”所指的控制参数ctle[l:0]为“ctle_15”。表3所示“ctle_0”与“ctle_15”分别表示依照实际设计所决定的任意实数。表4所示DFE表格用以记录判决反馈均衡器114的控制参数tap1[n:0]。举例来说，表4所示索引“0”所指的控制参数tap1[n:0]为“tap1_0”，而表4所示索引“15”所指的控制参数tap1[n:0]为“tap1_15”。表4所示“tap1_0”与“tap1_15”分别表示依照实际设计所决定的任意实数。

表2：VGA表格(控制参数表格)

表3：CTLE表格(控制参数表格)

表4：DFE表格(控制参数表格)

依据表1所示线索表格的线索索引字段index_hint所指的任何一个参数索引组合(控制参数组合)设定下的目前眼图400的大小，所述表格遍历状态机可以搜寻出性能最好的一个控制参数组合。图8所示状态S810的初始化操作用于设定有关于表1所示线索表格中线索索引字段index_hint的起始线索索引、终止线索索引以及线索索引步长。状态S810也可以将“经优化眼图掩模”设定为一个预先设定的初始眼图掩模，而此初始眼图掩模可以依照实际设计来决定。状态S820的线索表格遍历操作可以调用表格遍历状态机(详参图9的说明)遍历表1所示线索表格，以对表1所示线索表格进行所述迭代操作。举例来说，控制电路120可以依照起始线索索引、终止线索索引以及线索索引步长，从表1所示线索索引字段index_hint的多个线索索引(例如0～15，但不限于此)中选择一个(以下称经选线索索引)。控制电路120可以从表1所示线索表格的多个参数索引字段Index_vga、Index_ctle与Index_dfe提取所述经选线索索引所对应的多个参数索引，其中这些参数索引指示在多个控制参数表格中的多个控制参数。控制电路120可以使用这些参数索引所指的在这些控制参数表格中的多个控制参数作为图3所述候选控制参数。

举例来说，控制电路120可以从表1所示线索索引字段index_hint中选择线索索引“0”，然后从表1所示线索表格的多个参数索引字段Index_vga、Index_ctle与Index_dfe提取经选线索索引“0”所对应的参数索引Index_vga_0、Index_ctle_0与Index_dfe_0。在此假设(但不限于此)，参数索引Index_vga_0、Index_ctle_0与Index_dfe_0皆为索引值“0”。控制电路120可以使用参数索引字段Index_vga的索引值“0”所指的，在表2所示VGA表格(控制参数表格)中的控制参数vga_0作为图3所述候选控制参数的一个参数。控制电路120可以使用参数索引字段Index_ctle的索引值“0”所指的，在表3所示CTLE表格(控制参数表格)中的控制参数ctle_0作为图3所述候选控制参数的一个参数。控制电路120可以使用参数索引字段Index_dfe的索引值“0”所指的，在表4所示DFE表格(控制参数表格)中的控制参数tap1_0作为图3所述候选控制参数的一个参数。

在遍历表1所示线索表格的线索索引字段index_hint中的多个线索索引后，控制电路120可以搜寻出一组能给出最大眼图的参数索引组合作为经优化线索索引。在状态S820完成后，控制电路120可以进入状态S830，以产生线索结果记录。状态S830所记录的线索结果记录(状态S820所找出的经优化眼图掩模410以及经优化眼图掩模410所对应的经优化控制参数)可以供后面的状态S730(精细优化)使用。

图9是依照本发明的一实施例所绘示，表格遍历状态机的状态流程示意图。图8所示状态S820(线索表格遍历操作)以及图7所示状态S730对不同控制参数表格所进行的表格遍历操作(详参图15所示实施例)，都可以调用图9所示表格遍历状态机来搜寻各个参数的最优值。当图8所示状态S820调用图9所示表格遍历状态机时，表格遍历状态机的遍历对象(目标表格)是表1所示线索表格。当图15所示实施例的表格遍历操作调用图9所示表格遍历状态机时，表格遍历状态机的遍历对象(目标表格)是表2、表3或表4所示控制参数表格。依据调用表格遍历状态机的状态(父状态)，图9所示状态S910的初始化操作可以设定/加载有关于目标表格的起始索引、终止索引、索引步长以及初始眼图掩模。

完成初始值加载(状态S910)后，控制电路120可以进入状态S920以进行眼图掩模检查(eye mask check)操作。状态S920可以调用眼图掩模检查状态机检查在目前参数索引设定下的目前眼图400是否能通过经优化眼图掩模410的检测。举例来说，状态S920可以将目前眼图400与经优化眼图掩模410进行比较。若目前眼图400大于等于经优化眼图掩模410，控制电路120可以认为状态S920的检测为通过(否则，控制电路120认为检测不能通过)。状态S920所调用的眼图掩模检查状态机的细节请参见图10所示实施例的相关说明。

图10是依照本发明的一实施例所绘示，眼图掩模检查状态机的状态流程示意图。图10所示状态S1010的初始化操作可以将初始眼图掩模设定为调用眼图掩模检查状态机的状态(父状态)中的目前眼图掩模(例如图4所示经优化眼图掩模410)。请参照图4与图10。控制电路120可以在状态S1020进行眼图检测点检查(eye point check)。状态S1020可以检测经优化眼图掩模410的顶点(检测点)A、B、C与D其中一点(目前检测点)是否在目前眼图400的内边界的内侧。举例来说，状态S1020可以调用图11所示眼图检测点检查状态机对经优化眼图掩模410的目前检测点进行眼图检测点检查。

图11是依照本发明的一实施例所绘示，眼图检测点检查状态机的状态流程示意图。请参照图4与图11。图11所示眼图检测点检查状态机用于检测在经优化眼图掩模410的顶点(检测点)A、B、C与D上，接收电路110输出的并行数据data[k:0]，error[k:0](经恢复数据Dout)是否相同。每当串行到并行转换器115所输出的时钟信号ck_s2p的上升沿到来时，控制电路120可以进入状态S1110，以进行数据比较(data compare)操作。状态S1110用于比较并行数据data[k:0]和error[k:0]相对应的位是否一致，并累计不一致位的数目，即err_cnt＝sum(data[19:0]^error[19:0])+err_cnt，其中err_cnt为不一致位计数值。图11所示dat_cnt是并行数据data[k:0]的位数目的累计值，即dat_cnt＝dat_cnt+(k+1)。假设并行数据data[k:0]为20位数据，亦即假设k为19(data[19:0])，则累计值dat_cnt＝dat_cnt+20。若控制电路120在状态S1110判断累计值dat_cnt小于阈值ber_dat_num(阈值ber_dat_num可以依照实际设计来决定)并且不一致位计数值err_cnt为0，则控制电路120可以进行下一轮(下一时钟周期)的比较。若累计值dat_cnt大于等于阈值ber_dat_num或者不一致位计数值err_cnt不为0，则眼图检测点检查状态机可以进入结束状态(返回父状态)。

请参照图10。在完成状态S1020后，控制电路120可以检查不一致位计数值err_cnt。若经优化眼图掩模410的顶点(检测点)A、B、C与D在目前眼图400的内边界的内侧(err_cnt为0)，控制电路120可以进入状态S1030以进行眼图检测点更新(eye point update)操作。否则，控制电路120可以进入状态S1050以进行结果回传(results return)操作。状态S1030用于更新当前眼图检测点，以进行下个检测点的检查。若未遍历完经优化眼图掩模410上所有的顶点(检测点)A、B、C与D(指针idx_eye_pt小于4)，控制电路120可以再一次进入状态S1020以对下一个检测点进行眼图检测点检查。若已遍历完经优化眼图掩模410上所有的顶点(检测点)A、B、C与D(指针idx_eye_pt大于等于4)，则控制电路120可以进入状态S1040以更新眼图掩模检查次数。状态S1040会记录整个“眼图掩模检查”流程被重复执行的次数而产生计数值iter_cnt。若计数值iter_cnt小于预设定的循环次数(阈值iter_num)，整个“眼图掩模检查”流程会继续重复进行，直到完成预先设定的循环次数(计数值inter_cnt大于等于阈值iter_num)。当计数值inter_cnt大于等于阈值iter_num时，控制电路120可以进入状态S1050以将眼图掩模检查状态机的“眼图掩模检查”的结果回传给父状态。若“眼图掩模检查”的结果为通过，则参数eye_mask_pass被设置为1，否则参数eye_mask_pass被设置为0。

请参照图9。若状态S920的检查结果为“否”(经优化眼图掩模410抵触目前眼图400)，则参数eye_mask_pass为0。若未能通过眼图检测(亦即参数eye_mask_pass为0)，且是最后一次眼图检测(亦即参数eye_rerun为1)，则控制电路120进入下一状态S990以进行结果回传操作。控制电路120可以在状态S990将“表格遍历状态机”的结果(当前最优参数索引以及在该参数索引设定下的眼图掩模)回传给父状态。若未能通过眼图检测(亦即参数eye_mask_pass为0)，且不是最后一次眼图检测(亦即参数eye_rerun为0)，则控制电路120可以依据参数idx_nx与参数amp_chk_bypass的不同设定分别进行索引更新(index update，即状态S950)操作、幅度检查(amplitude check，即状态S955)操作与索引平均(indexaverage，即状态S960)操作。举例来说，当参数eye_mask_pass为0，且参数eye_rerun为0，且参数idx_nx小于等于阈值idx_end时，则控制电路120可以进入状态S950。阈值idx_end可以是依照实际设计所决定的任意实数。当参数eye_mask_pass为0，且参数eye_rerun为0，且参数idx_nx大于阈值idx_end，且参数amp_chk_bypass为0时，则控制电路120可以进入状态S955。当参数eye_mask_pass为0，且参数eye_rerun为0，且参数idx_nx大于阈值idx_end，且参数amp_chk_bypass为1时，则控制电路120可以进入状态S960。

若状态S920的检查结果为“是”(经优化眼图掩模410不抵触目前眼图400)，则参数eye_mask_pass为1，致使控制电路120进入状态S930以进行眼界扫描(eye boundary scan)操作。状态S930用于检测目前眼图400的内边界。状态S930可以调用眼界扫描状态机搜寻在目前参数索引设定下的眼图内边界，且在完成眼界扫描状态机后进入状态S940以进行眼图掩模与优化索引更新(eye mask&optimal index update)操作。状态S930所调用的眼界扫描状态机的细节请参见图12所示实施例的相关说明。

图12是依照本发明的一实施例所绘示，眼界扫描状态机的状态流程示意图。图12所示状态S1210的初始化操作可以加载父状态所设定的初始眼图掩模的检测点(例如图4所示经优化眼图掩模410的顶点A、B、C与D)，以及设定眼图步长。请参照图4与图12。控制电路120可以将经优化眼图掩模410作为目前眼图掩模。图12所示参数eye_scan_nx可以表示目前眼图掩模的其中一个顶点的X轴坐标或是Y轴坐标。若目前眼图掩模大于预设定的最大眼图掩模430(亦即eye_scan_nx>eye_max)，则控制电路120进入下一状态S1250以进行结果回传操作，以将“眼界扫描状态机”的结果回传给父状态。最大眼图掩模430可以依照实际设计来设定。图12所示阈值eye_max可以表示最大眼图掩模430的顶点的其中一个的X轴坐标或是Y轴坐标。若参数eye_scan_nx大于阈值eye_max，则控制电路120可以判定目前眼图掩模大于最大眼图掩模430。

若目前眼图掩模小于等于预设定的最大眼图掩模430(亦即eye_scan_nx<＝eye_max)，则控制电路120进入下一状态S1220以进行目前眼图掩模更新(eye update)操作。状态S1220用于更新目前眼图掩模，以便进行下一轮眼图检测。控制电路120可以在状态S1220中加大目前眼图掩模。举例来说，控制电路120可以将经优化眼图掩模410(目前眼图掩模)加大一个步长作为新眼图掩模420，然后将目前眼图掩模更新为新眼图掩模420。详而言之，控制电路120可以将经优化眼图掩模410的顶点A与D减少一个眼图步长作为新眼图掩模420的顶点A’与D’，以及将经优化眼图掩模410的顶点B与C增加一个眼图步长作为新眼图掩模420的顶点B’与C’。因此，控制电路120可以在状态S1220中将目前眼图掩模从经优化眼图掩模410加大至新眼图掩模420。

在完成状态S1220后，控制电路120可以进入状态S1230以进行眼图掩模检查操作。状态S1230可以调用图10所示眼图掩模检查状态机检查在目前参数索引设定下的目前眼图400是否能通过状态S1220所更新(加大)后的目前眼图掩模(例如图4所示新眼图掩模420)的检测。眼图掩模检查状态机可以将“眼图掩模检查”的结果回传给父状态(状态S1230)。若“眼图掩模检查”的结果为通过，则参数eye_mask_pass被设置为1，否则参数eye_mask_pass被设置为0。当参数eye_mask_pass为1且目前眼图掩模小于等于最大眼图掩模430(eye_scan_nx<＝eye_max)时，控制电路120可以再一次进入状态S1220以更新(加大)目前眼图掩模，例如加大图4所示新眼图掩模420，以便进行下一轮的眼图检测。

若目前眼图掩模大于最大眼图掩模430(eye_scan_nx>eye_max)，则控制电路120可以进入下一状态S1250以将“眼界扫描状态机”的结果回传给父状态，然后结束最大掩模的搜寻。若参数eye_mask_pass为0(“眼图掩模检查”的结果为不通过)，则控制电路120可以进入下一状态S1240以进行眼图掩模退返(eye mask rollback)操作。因为目前眼图掩模未通过对目前眼图400的检测，因此需要将目前眼图掩模调回前一轮检测中的眼图掩模(例如将目前眼图掩模调小一个步长)，以及将候选参数索引设定回前一轮检测中的参数索引。在完成状态S1240后，控制电路120可以进入状态S1250，以将“眼界扫描状态机”的结果回传给父状态。“眼界扫描状态机”的结果含优化候选眼图掩模，而此优化候选眼图掩模为最接近目前眼图400内边界的“目前眼图掩模”。

请参照图9。在完成状态S930后，控制电路120可以进入状态S940，以进行眼图掩模与优化索引更新操作。状态S940可以将目前通过眼图检测的候选参数索引作为经优化索引，同时将经优化眼图掩模更新为状态S930所得到的优化候选眼图掩模。若此前的眼图检测为最后一次眼图检测(亦即参数eye_rerun为1)，则控制电路120进入下一状态S990以进行结果回传操作。控制电路120可以在状态S990将“表格遍历状态机”的结果(当前最优参数索引以及在该参数索引设定下的眼图掩模)回传给父状态。

在完成状态S940后，在参数eye_rerun为0的情况下，若下一个眼图掩模大于最大眼图掩模430(亦即参数eye_nx>eye_max)或已遍历完所有的参数索引(亦即idx_nx>idx_end)，那么控制电路120可以依据参数amp_chek_bypass的设定选择进行幅度检查操作(状态S955)或是索引平均(状态S960)操作。举例来说，当参数amp_chek_bypass为0时，则控制电路120可以进入状态S955。当参数amp_chek_bypass为1时，则控制电路120可以进入状态S960。在完成状态S940后，在参数eye_rerun为0的情况下，若下一个眼图掩模小于等于最大眼图掩模430(亦即eye_nx<＝eye_max)且未遍历完所有的索引(亦即idx_nx<＝idx_end)，那么控制电路120可以进入状态S950以进行索引更新操作。在状态S950，目前参数索引会被更新为新的参数索引(idx_nx)，以便使用下一个参数索引idx_nx所对应的控制参数去进行眼图检测。完成参数索引更新后，控制电路120可以回到状态S920(眼图掩模检查)。

状态S955(幅度检查)可以调用幅度检查状态机去检查在目前索引设定下的目前眼图400的高度/幅度是否超过预先设定值。图13是依照本发明的一实施例所绘示，目前眼图400的幅度与阈值的示意图。幅度检查状态机可以用于检测在目前控制参数SC的设定下，目前眼图400的外边界是否在阈值(如图14中幅度点A和幅度点B)以内。图13所示幅度点A、B设定在眼图水平方向上的中间位置。幅度点A、B的位置可以依照实际设计来设定。若目前眼图400上半部分外边界在幅度点A下方且目前眼图400下半部分外边界在幅度点B上方，则控制电路120可以认为在目前控制参数SC设定下的目前眼图400是有效的，因此参数vaild被设为1。若目前眼图400的高度超过阈值(如图14中幅度点A和幅度点B)，则参数valid为0。因此，控制电路120可以检查目前眼图400的幅度有无超过阈值(如图14中幅度点A和幅度点B)。当目前眼图400的幅度超过所述阈值时，所述经优化眼图掩模410以及经优化眼图掩模410所对应的经优化控制参数会被维持(不改变)。状态S955所调用的幅度检查状态机细节可以参见图14所示实施例的相关说明。

图14是依照本发明的一实施例所绘示，幅度检查状态机的状态流程示意图。图14所示状态S1410的初始化操作可以加载预先设定的幅度点，例如图13所示幅度点A和幅度点B。请参照图13与图14。控制电路120可以在状态S1420中调用幅度点检查(amplitude pointcheck)状态机进行幅度点A检查操作。状态S1420可以检测目前控制参数SC设定下的目前眼图400外侧是否小于幅度点A。若目前眼图400外侧小于幅度点A，则参数all_zero_a为1，否则参数all_zero_a为0。幅度检测状态机的细节请参见图15所示实施例的相关说明。

图15是依照本发明的一实施例所绘示，幅度检测状态机的状态流程示意图。图15所示状态S1510的误差数据记录(error data record)操作可以记录当前的并行数据error[k:0]，并累计已经记录的并行数据error[k:0]的数量。在完成状态S1510后，控制电路120可以进入状态S1520，以进行误差数据检查(error data check)操作。状态S1520可以检测所记录的并行数据error[k:0]的每一位是否全为0(或全为1)。若全为0，参数all_zeros被设置为1。若全为1，参数all_ones被设置为1。当所检测的并行数据error[k:0]的累计量小于等于预设定值时(亦即累计量err_dat_num小于等于阈值amp_chk_num)，且当前处于S1420使用图15所示幅度检测状态机检测图13所示幅度点A的状态，以及并行数据error[k:0]数据全为0时(亦即point_a_check&all_zeros为逻辑真)，控制电路120回到状态S1510以进行误差数据记录操作。或者，若当前处于S1440使用图15所示幅度检测状态机检测图13所示幅度点B的状态，以及并行数据error[k:0]全为1时(亦即point_b_check&all_ones为逻辑真)，且当所检测的并行数据error[k:0]的累计量小于等于预设定值时(亦即err_dat_num<＝amp_chk_num)，控制电路120回到状态S1510以进行误差数据记录操作。当A点检测时并行数据error[k:0]数据不全为0时(亦即point_a_check&～all_zeros为逻辑真)，或者当B点检测时并行数据error[k:0]数据不全为1(亦即point_b_check&～all_ones为逻辑真)，或者当所检测的并行数据error[k:0]的数据累计量大于预设定值时(亦即err_dat_num>amp_chk_num)，控制电路120结束幅度检测状态机并返回父状态。

请参照图14。在完成状态S1420后，控制电路120进入状态S1430以进行幅度点A结果记录操作。状态S1430可以记录当前参数all_zero_a的值。若参数all_zero_a为0，则控制电路120进入下一状态S1460以进行结果回传操作，以将“幅度检查状态机”的结果回传给父状态。若参数all_zero_a为1，则控制电路120进入下一状态S1440。控制电路120可以在状态S1440中调用图15所示幅度检测状态机进行幅度点B检查操作。幅度检测状态机的细节请参见图15所示实施例的相关说明。状态S1440可以检测目前控制参数SC设定下的目前眼图400外侧是否大于幅度点B。若目前眼图400外侧大于幅度点B则参数all_ones_b为1；否则参数all_ones_b为0。状态S1450可以记录当前参数all_ones_b的值。状态S1460可以将“幅度检查状态机”的幅度检查结果回传给父状态。若幅度检查为通过，则幅度检查状态机回传给父状态的参数valid为1(反之为0)。参数valid、参数all_zeros_a与参数all_ones_b的关系为valid＝all_zeros_a&all_ones_b。

请参照图9。若状态S955的参数valid为0且未遍历完所有的索引(亦即idx_nx<＝idx_end)，则控制电路120进入下一状态S950以进行索引更新操作。若参数valid为0且已遍历完所有的索引(亦即idx_nx>idx_end)，则控制电路120进入下一状态S970以更新表格遍历次数。

若状态S955的参数vaild为1，则控制电路120进入下一状态S960以进行索引平均操作。在状态S960中，在当前循环的状态S940中得到的最优索引与其他循环中得到的最优索引将被放在一起取平均值，以作为最终的优化结果。状态S970会记录整个“表格遍历(table sweep)”流程被重复执行的次数而产生计数值iter_cnt。若计数值iter_cnt小于预设定的循环次数iter_num(亦即iter_cnt<iter_num)，控制电路120回到状态S910，使得图9所示整个流程会继续重复进行，直到完成预先设定的循环次数。若计数值iter_cnt大于预先设定的循环次数(亦即iter_cnt>＝iter_num)，则控制电路120进入下一状态S980以进行眼图重新运行请求(eye rerun request)操作。在状态S980中，参数eye_rerun会被设置为1，然后控制电路120回到状态S910。状态S980用于在得到最优参数索引后发起评估该参数索引设定下眼图大小的请求。

请参照图7，状态S730的精细优化操作可以包括：调用图9所示表格遍历状态机以对多个控制参数表格(例如上述表2、表3和/或表4)中的一个目标表格进行所述迭代操作，以在遍历所述目标表格的索引字段中的多个索引后决定经优化索引；以及对于所述多个控制参数表格中除了所述目标表格外的其他表格，依照所述线索表格中所述经优化线索索引所对应的所述多个参数索引从所述其他表格取用多个控制参数给所述接收电路的多个功能电路。所述迭代操作还包括：依照起始索引、终止索引以及索引步长，从所述目标表格中的索引字段的多个索引选择一个经选索引，其中所述目标表格中的参数字段的多个控制参数适用于所述多个功能电路中的一个；以及使用经选索引所指的在参数字段的一个控制参数作为候选控制参数中的一个参数。

举例来说，表格遍历状态机可以依照设定的起始索引、终止索引以及索引步长按顺序遍历各个控制参数表格的每一个，例如表2所示VGA表格、表3所示CTLE表格以及(或是)表4所示DFE表格。当遍历当前控制参数表格时，其余尚未开始遍历的控制参数表格的取值为线索表格(例如表1)中得到的最优参数索引所对应的参数值。例如在遍历表2所示VGA表格时，表3所示CTLE表格以及表4所示DFE表格的参数取值为，状态S710的线索优化中得到表1所示线索表格的最优参数索引Index_ctle、Index_dfe所对应的参数值。在遍历每个参数时，控制电路120可以依据眼图掩模的大小选出最优的控制参数以设定连续时间线性均衡器112、可变增益放大器113与判决反馈均衡器114。

图16是依照本发明的一实施例所绘示，图7的精细优化(状态S730)的状态流程示意图。图7所示状态S730可以参照图16的相关说明。请参照图6与图16。为使说明简单明了，图16所示实施例只列出了对于表2所示VGA表格、表3所示CTLE表格以及表4所示DFE表格所进行的表格遍历操作。在实际应用中，图16所示实施例可以包含更多可以影响接收电路110的性能的其他电路参数。

图16所示状态S1610的初始化操作可以设定/加载有关于精细优化中VGA表格、CTLE表格以及DFE表格的参数索引的起始索引、终止索引以及索引步长。亦即，初始化操作可以设定表2所示参数索引字段Index_vga的起始索引、终止索引以及索引步长，以及设定表3所示参数索引字段Index_ctle的起始索引、终止索引以及索引步长，以及设定表4所示参数索引字段Index_dfe的起始索引、终止索引以及索引步长。初始化操作还可以设定用于后续眼图大小比较操作的初始眼图掩模。

状态S1620的VGA表格遍历操作可以调用表格遍历状态机(详参图9的说明)遍历表2所示VGA表格，以对表2所示VGA表格进行所述迭代操作。举例来说，控制电路120可以依照VGA表格2的起始索引、终止索引以及索引步长，从表2所示VGA表格的参数索引字段Index_vga的多个参数索引(例如0～15，但不限于此)中选择一个(以下称经选索引)。在状态S1620完成后，控制电路120可以进入状态S1630，以产生精细VGA表格结果记录以供后续状态使用。在状态S1630完成后，控制电路120可以进入状态S1640，以调用表格遍历状态机(详参图9的说明)遍历表3所示CTLE表格，进而对表3所示CTLE表格进行所述迭代操作。在状态S1640中，控制电路120可以使用状态S1630所记录的结果(VGA表格的最优控制参数)去控制可变增益放大器113，以及使用状态S720所记录的结果(线索表格的最优线索索引所指的参数索引Index_dfe)去控制判决反馈均衡器114。在状态S1640完成后，控制电路120可以进入状态S1650，以产生精细CTLE表格结果记录以供后续状态使用。

在状态S1650完成后，控制电路120可以进入状态S1660，以调用表格遍历状态机(详参图9的说明)遍历表4所示DFE表格，进而对表4所示DFE表格进行所述迭代操作。在状态S1660中，控制电路120可以使用状态S1630所记录的结果(VGA表格的最优控制参数)去控制可变增益放大器113，以及使用状态S1650所记录的结果(CTLE表格的最优控制参数)去控制连续时间线性均衡器112。在状态S1660完成后，控制电路120可以进入状态S1670，以产生精细DFE表格结果记录以供后续状态使用。在状态S1670完成后，控制电路120进入下一状态S1680以更新精细表格遍历次数iter_cnt。状态S1680记录整个精细优化(fineoptimization)流程被执行的次数(iter_cnt)，并与预先设定的循环次数iter_num进行比较。若精细表格遍历次数iter_cnt小于循环次数iter_num(亦即iter_cnt<iter_num)，控制电路120再一次回到状态S1610。若精细表格遍历次数iter_cnt大于等于循环次数iter_num直到完成预先设定的循环次数(亦即iter_cnt>＝iter_num)，控制电路120结束图16所示精细优化操作并返回父状态。最终各个参数的最优索引会取各次循环中得到的各个参数的最优索引的平均值。例如，VGA参数的最终最优索引是各次循环中得到的最优VGA参数索引的平均值。

在一些实施例中，第一次循环中VGA表格遍历、CTLE表格遍历与DFE表格遍历使用的初始索引为状态S720所记录的结果(表1所示线索表格的最优线索索引所指的参数索引)。但在后续的循环中，当前循环中的各参数的初始索引为前一循环中记录的各参数的最优索引。例如在第二次循环中，VGA表格遍历、CTLE表格遍历与DFE表格遍历使用的初始索引分别为第一次循环中状态S1630、S1650与S1670所记录的最优参数索引。

对于VGA表格遍历、CTLE表格遍历与DFE表格遍历所使用的初始眼图掩模，都是前一记录状态中记录的优化眼图掩模。例如在第一次循环中VGA表格遍历(状态S1620)使用的初始眼图掩模是状态S720所记录的优化眼图掩模，CTLE表格遍历(状态S1640)使用的初始眼图掩模是状态S1630所记录的优化眼图掩模，而DFE表格遍历(状态S1660)使用的初始眼图掩模是状态S1650所记录的优化眼图掩模。在第二次循环中，VGA表格遍历(状态S1620)使用的初始眼图掩模是第一次循环中状态S1670所记录的眼图。

在一些应用情境中，依据不同的设定，某些状态可以被绕过(bypass)。例如当参数vga_sweep_bypass为1时，控制电路120将不执行控制参数vga[m:0]的优化(绕过状态S1620)。当参数ctle_sweep_byass为1时，控制电路120将不执行控制参数ctle[l:0]的优化(绕过状态S1640)。当参数tap1_sweep_bypass为1时，将不执行控制参数tap1[n:0]的优化(绕过状态S1660)。当某个状态被绕过时，该状态后的记录状态所记录的参数索引为状态S720所记录的对应参数的最优索引，所记录的眼图掩模为前一记录状态中记录的优化眼图掩模。例如在第一次精细优化中，当状态S1620被绕过时，状态S1630所记录的索引是状态S720所记录的参数索引Index_vga，而状态S1630所记录的眼图掩模为状态S720所记录的优化眼图掩模。当状态S1640被绕过时，状态S1650所记录的索引是状态S720所记录的参数索引Index_ctle，而状态S1650所记录的眼图掩模为状态S1630所记录的优化眼图掩模。

请参照图7，状态S750的扰动优化操作可以包括：调用扰动优化状态机以对所述多个控制参数表格的任一个目标表格从经优化索引开始进行第一方向扰动检查，以决定是否更新所述经优化索引；以及调用扰动优化状态机以对任一个目标表格从所述经优化索引开始进行第二方向扰动检查，以决定是否更新所述经优化索引。举例来说，状态S750(扰动优化)可以调用扰动优化状态机，以状态S740(精细优化)得到的那组最优参数索引作为初始索引，在各个控制参数表格的每一个中的最优参数索引的正负方向上进行扰动(在最优索引基础上加上或减去一个步长)。依照实际设计，所述控制参数表格例如包括表2所示VGA表格、表3所示CTLE表格以及(或是)表4所示DFE表格。若扰动后的新索引设可以使得眼图更大，则该新索引将被采用；反之则该新索引被丢弃。

图17是依照本发明的一实施例所绘示，图7的扰动优化(状态S750)的状态流程示意图。图7所示状态S750可以参照图17的相关说明。图17绘示了一个扰动优化状态机的状态流程图。请参照图6与图17。为使说明简单明了，图17所示实施例只列出了对于表2所示VGA表格、表3所示CTLE表格以及表4所示DFE表格所进行的表格遍历操作。在实际应用中，图17所示实施例可以包含更多可以影响接收电路110的性能的其他电路参数。

图17所示状态S1710的初始化操作可以设定/加载有关于扰动优化中VGA表格、CTLE表格以及DFE表格的参数索引的起始索引、终止索引以及索引步长。亦即，初始化操作可以设定表2所示参数索引字段Index_vga的起始索引、终止索引以及索引步长，以及设定表3所示参数索引字段Index_ctle的起始索引、终止索引以及索引步长，以及设定表4所示参数索引字段Index_dfe的起始索引、终止索引以及索引步长。初始化操作还可以设定用于后续眼图大小比较操作的初始眼图掩模。

状态S1720的VGA扰动操作、状态S1740的CTLE扰动操作与状态S1760的DFE扰动操作可以调用表格扰动(table perturbation)状态机，分别依次扰动表2、表3与表4中的参数索引Index_vga、Index_ctle与Index_dfe并检测当前索引设定下的目前眼图400的大小，以确定是否采纳新的参数索引。若新的参数索引使得目前眼图400变得更大，该新的索引被采纳；否则，该新的索引被丢弃。表格扰动状态机的细节可以参见图18所示实施例的相关说明。

图18是依照本发明的一实施例所绘示，表格扰动状态机的状态流程示意图。依据调用表格扰动状态机的状态(父状态)，图18所示状态S1810的初始化操作可以设定/加载有关于相应控制参数的起始索引、终止索引、索引步长以及初始眼图掩模。例如，当状态S1720(VGA表格扰动)调用图18所示表格扰动状态机时，表格扰动状态机会加载在扰动优化状态机中设定的VGA表格的初始索引、索引步长、索引终值和初始眼图掩模。当状态S1740(CTLE表格扰动)调用图18所示表格扰动状态机时，表格扰动状态机会加载在扰动优化状态机中设定的CTLE表格的初始索引、索引步长、索引终值和初始眼图掩模。完成状态S1810的初始化操作后，控制电路120可以进入状态S1820以进行正扰动检查(positive perturbationcheck)操作。

在状态S1820，表格扰动状态机可以调用扰动检查(perturbation check)状态机在当前索引值的基础上增加一个步长，并检查眼图大小。若眼图没有变得更大，状态S1820结束，并转入状态S1830以产生结果记录(results record)。反之，则继续增加一个步长并检查眼图大小，直到新的索引没有使眼图更大。扰动检查状态机的细节可以参见图19所示实施例的相关说明。

图19是依照本发明的一实施例所绘示，扰动检查状态机的状态流程示意图。依据调用扰动检查状态机的状态(父状态)，图19所示状态S1910的初始化操作可以设定/加载表格扰动状态机中设定的目标控制参数表格、初始索引、索引步长、索引终值和初始眼图掩模。图19所示参数eye_nx可以表示目前眼图掩模的其中一个顶点的X轴坐标或是Y轴坐标。图12所示阈值eye_max可以表示最大眼图掩模430的顶点的其中一个的X轴坐标或是Y轴坐标。最大眼图掩模430可以依照实际设计来设定。若目前眼图掩模大于预设定的最大眼图掩模430(亦即eye_nx>eye_max)或已遍历完所述目标控制参数表格的所有参数索引(亦即idx_nx>idx_end)，则控制电路120进入下一状态S1970以进行结果回传操作，以将“扰动检查状态机”的结果回传给父状态。若目前眼图掩模小于等于预设定的最大眼图掩模430(亦即eye_nx<＝eye_max)且未遍历完所述目标控制参数表格的所有参数索引(亦即idx_nx<＝idex_end)，则控制电路120进入下一状态S1920以进行索引和眼图掩模更新(index&eyemask update)操作。

状态S1920用于更新目前参数索引和目前眼图掩模。完成状态S1920后进入状态S1930以进行眼图掩模检查(eye mask check)操作。状态S1930可以调用图10所示眼图掩模检查状态机检查在目前参数索引设定下的目前眼图400是否能通过目前眼图掩模(例如经优化眼图掩模410)的检测。若状态S1930的检查结果为未通过(亦即参数eye_mask_pass为0)，则控制电路120进入下一状态S1960以进行索引和眼图掩模退返(index&eye maskrollback)操作。因为目前眼图掩模未通过对目前眼图400的检测，因此需要将目前眼图掩模调回前一轮检测中的眼图掩模(例如将目前眼图掩模调小一个步长)，以及将候选参数索引设定回前一轮检测中的参数索引。在完成状态S1960后，控制电路120可以进入状态S1970，以将“扰动检查状态机”的结果回传给父状态。

若状态S1930的检查结果为通过(亦即参数eye_mask_pass为1)以及参数amp_chk_bypass为1，则控制电路120绕过状态S1940而进入状态S1950。若状态S1930的检查结果为通过(亦即参数eye_mask_pass为1)以及参数amp_chk_bypass为0，则控制电路120进入下一状态S1940以进行幅度检查(amplitude check)。状态S1940可以调用图14所示幅度检查状态机去检查在目前参数索引设定下的目前眼图400的高度/幅度是否超过预先设定值。若是，参数valid为0；否则，参数valid为1。若状态S1940的参数valid为0，则控制电路120进入下一状态S1960以进行索引和眼图掩模退返操作。若状态S1940的参数valid为1，则控制电路120进入下一状态S1950以进行眼界扫描(eye boundary scan)。

状态S1950可以调用图12所示眼界扫描状态机搜寻在目前参数索引设定下的眼图内边界。若目前眼图掩模小于等于预设定的最大眼图掩模430(亦即eye_nx<＝eye_max)且未遍历完所述目标控制参数表格的所有参数索引(亦即idx_nx<＝idex_end)，则控制电路120回到状态S1920以进行索引和眼图掩模更新操作。若目前眼图掩模大于预设定的最大眼图掩模430(亦即eye_nx>eye_max)或已遍历完所述目标控制参数表格的所有的参数索引(亦即idx_nx>idx_end)，则控制电路120进入下一状态S1970，以将“扰动检查状态机”的结果(例如目前最优参数索引和目前眼图掩模)回传给父状态。

请参照图18，在状态S1820完后，控制电路120可以进入状态S1830以进行结果记录操作。状态S1830将会记录状态S1820(正扰动检查)中的最终优化索引及对应的眼图掩模，以作为状态S1840的初始值索引和初始眼图掩模。在状态S1830结束后，控制电路120进入下一状态S1840，以进行负扰动检查(negative perturbation check)操作。状态S1840可以调用图19所示扰动检查状态机，在目前参数索引值的基础上减去一个步长，并检查目前眼图大小。若目前眼图没有变得更大，此状态S1840结束，并转入状态S1850，以将“表格扰动状态机”的结果(例如目前最优参数索引和目前眼图掩模)回传给父状态。反之，则继续减去一个步长并检查眼图大小，直到新的索引没有使眼图更大。

请参照图17，在状态S1720完后，控制电路120可以进入状态S1730以进行扰动VGA结果记录(perturbation VGA results record)操作。在状态S1730中，最优VGA参数索引和对应的眼图掩模会被记录下来，以供后续状态使用。在状态S1730完后，控制电路120可以进入状态S1740，以调用图18所示表格扰动状态机进行CTLE表格扰动。在状态S1740完后，控制电路120可以进入状态S1750以进行扰动CTLE结果记录(perturbation CTLE resultsrecord)操作。在状态S1750中，最优CTLE参数索引和对应的眼图掩模会被记录下来，以供后续状态使用。在状态S1750完后，控制电路120可以进入状态S1760，以调用图18所示表格扰动状态机进行DFE表格扰动。在状态S1760完后，控制电路120可以进入状态S1770以进行扰动DFE表格结果记录(perturbation DFE results record状态)操作。在状态S1770中，最优DFE参数索引和对应的眼图掩模会被记录下来，以供后续状态使用。

在状态S1770完后，控制电路120可以依据参数perturbation_exit决定进入状态S1780或是结束扰动优化流程。若参数perturbation_exit为1，则图17所示扰动优化流程结束，而目前优化参数索引将会作为最终的经优化参数索引。若参数perturbation_exit为0，则控制电路120可以进入状态S1780以进行冻结检查(freeze check)操作。状态S1780会检查上层逻辑是否需要冻结(暂停)扰动优化操作而维持当前优化结果。若参数perturbation_freeze为1，则暂停扰动优化操作(不进行下一轮的循环)。若参数perturbation_freeze为0，则控制电路120可以回到状态S1710，以继续下一轮的循环。

依据不同的配置，状态S1720(VGA扰动)、状态S1740(CTLE扰动)与状态S1760(DFE扰动)中的任意一个可以被绕过(bypass)。例如，当图17中的参数vga_perturbation_bypass为1时，VGA扰动(状态S1720)将不会被执行。同样，当图17中的参数ctle_perturbation_bypass为1时，CTLE扰动(状态S1740)将不会被执行。当图17中的参数tap1_perturbation_bypass为1时，DFE扰动(状态S1760)将不会被执行。

需要说明的是，在第一次扰动优化循环中状态S1720(VGA扰动)、状态S1740(CTLE扰动)与状态S1760(DFE扰动)使用的初始索引为图7所示状态S740(精细结果记录)所记录的各最优参数索引值，即状态S730(精细优化)的最后一次循环中的精细VGA表格结果记录(状态S1630)、精细CTLE表格结果记录(状态S1650)与精细DFE表格结果记录(状态S1670)所记录的最优VGA参数索引值、最优CTLE参数索引值与最优DFE参数索引值。但在后续的循环中，当前循环中的各参数的初始索引为前一循环中记录的各参数的最优索引。例如在第二次扰动优化循环中，状态S1720(VGA扰动)、状态S1740(CTLE扰动)与状态S1760(DFE扰动)所使用的初始索引分别为第一次扰动优化循环中扰动VGA结果记录(状态S1730)、扰动CTLE结果记录(状态S1750)与扰动DFE结果记录(状态S1770)所记录的最优VGA参数索引值、最优CTLE参数索引值与最优DFE参数索引值。

对于状态S1720(VGA扰动)、状态S1740(CTLE扰动)与状态S1760(DFE扰动)所使用的初始眼图掩模，都是前一记录状态中记录的眼图掩模。例如在第一次扰动优化循环中状态S1720(VGA扰动)所使用的是图7所示状态S740(精细结果记录)所记录的经优化眼图掩模，即状态S730(精细优化)的最后一次循环中的精细DFE表格结果记录(状态S1670)所记录的经优化眼图掩模，状态S1740(CTLE扰动)所使用的是前一状态S1730(扰动VGA结果记录)中记录的经优化眼图掩模。以此类推，第二次扰动优化循环中状态S1720(VGA扰动)所使用的是第一次扰动优化循环中状态S1770(扰动DFE结果记录)所记录的经优化眼图掩模。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种基于眼图的控制参数调整方法，其特征在于，包括：

由控制电路进行迭代操作，以决定经优化控制参数；以及

在完成所述迭代操作后，将接收电路的目前控制参数更新为所述经优化控制参数，

其中所述迭代操作包括：

将所述接收电路的所述目前控制参数更新为候选控制参数，以使所述接收电路依据所述目前控制参数处理输入信号以产生经恢复数据；

检查经优化眼图掩模与所述经恢复数据所对应的目前眼图的大小关系；

当所述经优化眼图掩模抵触所述目前眼图时，维持所述经优化眼图掩模以及所述经优化眼图掩模所对应的所述经优化控制参数；以及

当所述经优化眼图掩模不抵触所述目前眼图时，依据所述目前眼图产生大于所述经优化眼图掩模的新眼图掩模，将所述经优化眼图掩模更新为所述新眼图掩模，以及将所述经优化控制参数更新为所述新眼图掩模所对应的所述候选控制参数。

2.根据权利要求1所述的基于眼图的控制参数调整方法，其特征在于，还包括进行线索优化，所述线索优化包括：

调用表格遍历状态机以对线索表格进行所述迭代操作，以在遍历所述线索表格的线索索引字段中的多个线索索引后决定经优化线索索引；

其中所述迭代操作还包括：

依照起始线索索引、终止线索索引以及线索索引步长，从所述线索索引字段的所述多个线索索引中选择一个经选线索索引；

从所述线索表格的多个参数索引字段提取所述经选线索索引所对应的多个参数索引，其中所述多个参数索引指示在多个控制参数表格中的多个控制参数；以及

使用所述多个参数索引所指的在所述多个控制参数表格中的所述多个控制参数作为所述候选控制参数。

3.根据权利要求2所述的基于眼图的控制参数调整方法，其特征在于，还包括进行精细优化，所述精细优化包括：

调用所述表格遍历状态机以对所述多个控制参数表格中的一个目标表格进行所述迭代操作，以在遍历所述目标表格的索引字段中的多个索引后决定经优化索引；以及

对于所述多个控制参数表格中除了所述目标表格外的其他表格，依照所述线索表格中所述经优化线索索引所对应的所述多个参数索引从所述其他表格取用多个控制参数给所述接收电路的多个功能电路，

其中所述迭代操作还包括：

依照起始索引、终止索引以及索引步长，从所述目标表格中的所述索引字段的多个索引选择一个经选索引，其中所述目标表格中的参数字段的多个控制参数适用于所述多个功能电路中的一个；以及

使用所述经选索引所指的在所述参数字段的一个控制参数作为所述候选控制参数中的一个参数。

4.根据权利要求3所述的基于眼图的控制参数调整方法，其特征在于，还包括进行扰动优化，所述扰动优化包括：

调用扰动优化状态机以对所述多个控制参数表格的任一个目标表格从所述经优化索引开始进行第一方向扰动检查，以决定是否更新所述经优化索引；以及

调用扰动优化状态机以对所述任一个目标表格从所述经优化索引开始进行第二方向扰动检查，以决定是否更新所述经优化索引。

5.根据权利要求1所述的基于眼图的控制参数调整方法，其特征在于，所述迭代操作还包括：

检查所述目前眼图的幅度有无超过阈值；以及

当所述目前眼图的幅度超过所述阈值时，维持所述经优化眼图掩模以及所述经优化眼图掩模所对应的所述经优化控制参数。

6.一种接收装置，其特征在于，所述接收装置包括：

接收电路，依据目前控制参数处理输入信号以产生经恢复数据；以及

控制电路，耦接至所述接收电路以提供所述目前控制参数，其中所述控制电路进行迭代操作以决定经优化控制参数，以及在完成所述迭代操作后将所述接收电路的所述目前控制参数更新为所述经优化控制参数，

其中所述迭代操作包括：

将所述接收电路的所述目前控制参数更新为候选控制参数；

检查经优化眼图掩模与所述经恢复数据所对应的目前眼图的大小关系；

当所述经优化眼图掩模抵触所述目前眼图时，维持所述经优化眼图掩模以及所述经优化眼图掩模所对应的所述经优化控制参数；以及

当所述经优化眼图掩模不抵触所述目前眼图时，依据所述目前眼图产生大于所述经优化眼图掩模的新眼图掩模，将所述经优化眼图掩模更新为所述新眼图掩模，以及将所述经优化控制参数更新为所述新眼图掩模所对应的所述候选控制参数。

7.根据权利要求6所述的接收装置，其特征在于，所述控制电路还进行线索优化，所述线索优化包括：

调用表格遍历状态机以对线索表格进行所述迭代操作，以在遍历所述线索表格的线索索引字段中的多个线索索引后决定经优化线索索引；

其中所述迭代操作还包括：

依照起始线索索引、终止线索索引以及线索索引步长，从所述线索索引字段的所述多个线索索引中选择一个经选线索索引；

从所述线索表格的多个参数索引字段提取所述经选线索索引所对应的多个参数索引，其中所述多个参数索引指示在多个控制参数表格中的多个控制参数；以及

使用所述多个参数索引所指的在所述多个控制参数表格中的所述多个控制参数作为所述候选控制参数。

8.根据权利要求7所述的接收装置，其特征在于，所述控制电路还进行精细优化，所述精细优化包括：

调用所述表格遍历状态机以对所述多个控制参数表格中的一个目标表格进行所述迭代操作，以在遍历所述目标表格的索引字段中的多个索引后决定经优化索引；以及

对于所述多个控制参数表格中除了所述目标表格外的其他表格，依照所述线索表格中所述经优化线索索引所对应的所述多个参数索引从所述其他表格取用多个控制参数给所述接收电路的多个功能电路，

其中所述迭代操作还包括：

依照起始索引、终止索引以及索引步长，从所述目标表格中的所述索引字段的多个索引选择一个经选索引，其中所述目标表格中的参数字段的多个控制参数适用于所述多个功能电路中的一个；以及

使用所述经选索引所指的在所述参数字段的一个控制参数作为所述候选控制参数中的一个参数。

9.根据权利要求8所述的接收装置，其特征在于，所述控制电路还进行扰动优化，所述扰动优化包括：

调用扰动优化状态机以对所述多个控制参数表格的任一个目标表格从所述经优化索引开始进行第一方向扰动检查，以决定是否更新所述经优化索引；以及

调用扰动优化状态机以对所述任一个目标表格从所述经优化索引开始进行第二方向扰动检查，以决定是否更新所述经优化索引。

10.根据权利要求6所述的接收装置，其特征在于，所述迭代操作还包括：

检查所述目前眼图的幅度有无超过阈值；以及

当所述目前眼图的幅度超过所述阈值时，维持所述经优化眼图掩模以及所述经优化眼图掩模所对应的所述经优化控制参数。