CN116501235B - 一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质 - Google Patents

一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质。该方法包括：调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；通过多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；根据测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；第一信号用于表征控制器发送至存储设备的信号；根据目标取值范围，确定目标采样点。本发明实施例能够获得最佳采样点，且不通过外接测试，缓解了外接测试带来的信号波动问题，有利于提升信号采集的准确度，可以广泛应用于计算机技术领域。

Description

一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质
技术领域
本发明涉及存储器技术领域，尤其是一种采样点的确定方法、系统、装置及存储介质。
背景技术
在信号采样中，采样点的选择至关重要，其影响着能否采对信号和采样的稳定性。示例性地，在eMMC内部，控制器和内部存储（NAND）要相互通信，其中控制器要确定采样点的配置（即选择哪一个位置进行采样）来准确接收NAND的信号。相关技术通过在NAND的信号中，将测试信号外引到基板上预留的测试位，再将测试仪器如示波器，逻辑分析仪等接上测试位进行采样测量。但因为外接测试本身就会对传输信号质量造成影响，且内部各模块之间相互通信信号很多，无法全部引出。造成测试结果偏差较大，无法准确得到采样点。
发明内容
本发明的目的在于至少一定程度上解决现有技术中存在的技术问题之一。
为此，本发明的目的在于提供一种准确的采样点的确定方法、系统、装置及存储介质。
为了达到上述技术目的，本发明实施例所采取的技术方案包括：
一方面，本发明实施例提供了一种采样点的确定方法，包括以下步骤：
本发明实施例的采样点的确定方法，该方法包括：调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；通过所述多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；所述测试数据用于表征在采样频率下接收到的存储设备发回的数据；所述测试采样结果集用于表征基于所述测试采样点和所述采样频率的采样结果集合；根据所述测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；所述第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；所述第一信号用于表征所述控制器发送至所述存储设备的信号；根据所述目标取值范围，确定目标采样点。本发明实施例通过在不同的频率下，结合控制器不同的档位对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；进而根据测试采样结果集得到目标采样点。本发明实施例能够获得最佳采样点，且不通过外接测试，缓解了外接测试带来的信号波动问题，有利于提升信号采集的准确度。
另外，根据本发明上述实施例的采样点的确定方法，还可以具有以下附加的技术特征：
进一步地，本发明实施例的采样点的确定方法，所述目标取值范围还可以通过下列步骤确定：
在第一频率下，通过所述多个测试采样点对第一数据进行采样，得到第一采样结果集；所述第一数据用于表征在第一频率下接收到的所述存储设备发回的数据；
根据所述第一采样结果集，得到第一时长的第一取值范围；
在第二频率下，通过所述多个测试采样点对第二数据进行采样，得到第二采样结果集；所述第二数据用于表征在第二频率下接收到的存储设备发回的数据；
根据所述第二采样结果集，得到所述第一时长的第二取值范围；
根据所述第一取值范围和所述第二取值范围，得到所述第一时长的目标取值范围。
进一步地，在本发明的一个实施例中，所述方法还包括：
在当前采样频率下，若在第一个采样点的采样结果为采样正确，确定所述第一时长小于第一数值；所述第一个采样点用于表征在当前频率下所述控制器的第一档位对应的采样点，所述第一档位用于表征在所述第一信号的第一个变化沿进行采样；所述第一数值用于表征当前采样频率对应的半个采样周期的时长；
或者，若当前采样频率下，若在第一个采样点的采样结果为采样不正确，且在第二个采样点的采样结果为采样正确，确定所述第一时长大于所述第一数值，且所述第一时长小于第二数值；所述第二数值用于表征当前采样频率对应的采样周期的时长。
进一步地，在本发明的一个实施例中，所述方法还包括以下步骤：
对所述第一取值范围和所述第二取值范围取交集，得到所述第一时长的目标取值范围；
调整采样频率，对所述目标取值范围进行更新操作。
进一步地，在本发明的一个实施例中，所述根据所述目标取值范围，确定目标采样点这一步骤，包括：
获取目标采样频率；
根据目标采样频率，确定目标数据采样窗口；
根据所述目标取值范围和所述目标数据采样窗口，确定目标采样点范围；
根据所述目标采样点范围，确定目标采样点。
进一步地，在本发明的一个实施例中，根据所述目标采样点范围，确定目标采样点，包括：
根据所述目标采样频率，确定各个采样点之间的第二时长；所述第二时长用于表征所述目标采样频率对应的半个采样周期；
根据所述第二时长，确定各个采样点的目标时间；
将落入所述目标采样点范围内的目标时间对应的采样点记为目标采样点，该目标采样点对应的档位为采样档位。
进一步地，在本发明的一个实施例中，所述目标取值范围包括第一极值和第二极值，所述第一极值和所述第二极值用于表征所述目标取值范围的两个端点值；所述根据所述目标取值范围和所述目标数据采样窗口，确定目标采样点范围，包括：
根据所述第一极值，确定第三极值；所述第三极值为所述第一极值与第三时长之和，所述第三极值用于表征所述目标采样点范围的一个端点值，所述第三时长小于所述目标数据采样窗口的时长；
根据所述第二极值，确定第四极值；所述第四极值为所述第二极值与第三时长之和，所述第四极值用于表征所述目标采样点范围的另一个端点值；
根据所述第三极值和所述第四极值，确定目标采样点范围。
另一方面，本发明实施例提出了一种采样点的确定系统，包括：
第一模块，用于调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；
第二模块，用于通过所述多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；所述测试数据用于表征在采样频率下接收到的存储设备发回的数据；所述测试采样结果集用于表征基于所述测试采样点和所述采样频率的采样结果集合；
第三模块，用于根据所述测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；所述第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；所述第一信号用于表征所述控制器发送至所述存储设备的信号；
第四模块，用于根据所述目标取值范围，确定目标采样点。
另一方面，本发明实施例提供了一种采样点的确定装置，包括：
至少一个处理器；
至少一个存储器，用于存储至少一个程序；
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行时，使得所述至少一个处理器实现上述的采样点的确定方法。
另一方面，本发明实施例提供了一种存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于实现上述的采样点的确定方法。
本发明实施例通过在不同的频率下，结合控制器不同的档位对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；进而根据测试采样结果集得到目标采样点。本发明实施例能够获得最佳采样点，且不通过外接测试，缓解了外接测试带来的信号波动问题，有利于提升信号采集的准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或者现有技术中的技术方案，下面对本发明实施例或者现有技术中的相关技术方案附图作以下介绍，应当理解的是，下面介绍中的附图仅仅为了方便清晰表述本发明的技术方案中的部分实施例，对于本领域的技术人员来说，在无需付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取到其他附图。
图1为本发明提供的数据采样窗口的一种实施例的状态示意图；
图2为本发明提供的数据采样窗口的另一种实施例的状态示意图；
图3为本发明提供的测试数据时序的一种实施例的状态示意图；
图4为本发明提供的采样点的确定方法的一种实施例的流程示意图；
图5为本发明提供的目标取值范围的确定的一种实施例的流程示意图；
图6为本发明提供的目标取值范围的确定的另一种实施例的流程示意图；
图7为本发明提供的采样点的确定系统的一种实施例的结构示意图；
图8为本发明提供的采样点的确定装置的一种实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。对于以下实施例中的步骤编号，其仅为了便于阐述说明而设置，对步骤之间的顺序不做任何限定，实施例中的各步骤的执行顺序均可根据本领域技术人员的理解来进行适应性调整。
在信号采样中，采样点的选择至关重要，其影响着能否采对信号和采样的稳定性（即温度，电压等在一定范围内变化时仍能采对信号）。在eMMC内部，控制器和NAND要相互通信，其中控制器要确定采样点的配置（即选择哪一个位置进行采样）来准确接收NAND的信号。而采样点的选择要根据RE信号（即第一信号，用于表征控制器发至NAND的读信号）中的参数tREA（即第一时长）来确定。当eMMC封装中没有将测试点引出时，则无法测量tREA的值，则无法确定最佳采样点。在eMMC的实际应用中，会出现内部控制器无法采对NAND信号的问题。在eMMC中，控制器和NAND要互相进行数据传输。接收数据的一方要选择采样点对接受的信号进行数据采样以采对数据。可以理解的是，参考图1，数据采样窗口（即数据单元窗口）的（眼图，数据UI）的一种实施例的状态图，其大小（A+B+C）在确定的频率下固定。当采样点落在B区域时可以采对信号，落在AC区域时无法采对信号。A，C为数据信号的上升沿/下降沿，其大小受线路阻抗，信号传输的频率等因素影响。当信号传输质量不好时，AC会变大，B会减小，如图2所示，为信号传输质量不好时的数据采样窗口图。其中，更小的框为缩小后的数据UI。如果采样点在图1中的AB交界处或BC交界处，如图2的“201”和“202”处，则基于图1的UI中，可以采对信号；但当信号传输受到影响，AC变大，B变小时，基于图2的UI中就会采不中信号。所以，当采样点落在B的中间时最佳，可以减小其他因素对采样结果的影响。
在NAND的信号测量中，如果要测量NAND和控制器之间传输信号的波形，则需要将测试信号外引到基板上预留的测试点test pin中，再将测试仪器如示波器，逻辑分析仪等接上test pin进行采样测量。但因为外接test pin本身就会对传输信号质量造成影响，且内部各模块之间相互通信信号很多，无法全部引出。因此在实际的芯片中，往往没有将需要测量的信号引出，也就无法使用示波器，逻辑分析仪等仪器进行测量。如在eMMC中，在实际的产品中，往往不会将RE信号，NAND端的数据信号引出，因此当采样出现问题，无法采对信号时，就无法通过仪器测量信号而直接确定tREA的值。
基于此，本发明实施例能够在没有外引测试点的情况下测量tREA的值，以确定最佳采样点。
下面参照附图详细描述根据本发明实施例提出的采样点的确定方法和系统，首先将参照附图描述根据本发明实施例提出的采样点的确定方法。
本发明实施例中提供一种采样点的确定方法，本发明实施例中的采样点的确定方法，可应用于终端中，也可应用于服务器中，还可以是运行于终端或服务器中的软件等。终端可以是平板电脑、笔记本电脑、台式计算机等，但并不局限于此。服务器可以是独立的物理服务器，也可以是多个物理服务器构成的服务器集群或者分布式系统，还可以是提供云服务、云数据库、云计算、云函数、云存储、网络服务、云通信、中间件服务、域名服务、安全服务、CDN、以及大数据和人工智能平台等基础云计算服务的云服务器。参照图4，本发明实施例中的采样点的确定方法主要包括以下步骤：
S100：调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；
S200：通过多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；测试数据用于表征在采样频率下接收到的存储设备发回的数据；测试采样结果集用于表征基于测试采样点和采样频率的采样结果集合；
S300：根据测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；第一信号用于表征控制器发送至存储设备的信号；
S400：根据目标取值范围，确定目标采样点。
在一些可能的实施方式中，参照图3所示，首先对图3中的各个参数进行解释说明：CE_n用于表征芯片使能（芯片片选信号）；RE_n用于表征读使能信号；R/B_n用于表征就绪/忙碌信号；IOx用于表征数据信号；tCEA用于表征片选信号访问时间；tCR用于表征片选信号低到读使能信号低；tRP用于表征读使能信号；tCHZ用于表征片选信号从高电平到高阻态时间；tCOH用于表征片选信号高到输出保持；tREH用于表征读使能信号高保持时间；tRHOH用于表征读使能信号高到输出保持；tRR用于表征数据输出准备周期；tRC用于表征读使能信号周期时间；tRHZ用于表征读使能信号高到输出高阻；tREA用于表征读使能信号访问时间；EDO用于表征扩展数据输出；DOUT0用于表征数据信号中的第1个数据单元窗口；DOUT1用于表征数据信号中的第2个数据单元窗口；DOUTn用于表征数据信号中的第n+1个数据单元窗口。需要说明的是，图3可以通过公开的相关规范（示例性地，如针对NAND型闪存的接口规范）获取；在芯片的读写过程中，主控读写NAND，或向NAND发送命令，行为必须符合相关规范定义的时序周期，负责无法如期控制NAND。具体地，图3给出了数据输出周期时序，描述了数据从NAND端发往主控端的过程：主控CE_n(片选信号)和R/B_n（就绪/忙碌信号）拉低，表明选中NAND进行操作，还表明该NAND正在忙碌中，不会受理其他指令。主控将按一定频率发送RE_n（读使能信号），NAND接收到RE_n（读使能信号）开始通过IO（数据传输线）向主控回传数据，回传频率与RE_n（读使能信号）的频率相同。可以理解的是，IOx表示数据线，图3中表示的是八条数据线传输数据的情况，即IO0~IO7。
可以理解的是，本发明实施例关注的是在读NAND时如何确认最佳采样点，所有的策略、方法都是基于相关规范制定的时序。示例性地，基于图3的时序，通过本发明实施例提供的方法能够判断出采样点位置情况、采样情况和各时序参数之间的关系。反之，本发明实施例能够根据时序图，结合不同采样点配置下的采样情况，倒推出各时序参数和最佳采样点的配置。
具体地，本发明实施例在NAND的SDR模式（Single Data Rate：用于表征写数据使用上升沿或下降沿来触发下读操作的模式），由控制器向NAND发送RE_n信号，NAND向控制器发送数据，控制器根据配置可以选择在RE_n信号的第几个上升沿或下降沿进行采样，图3中的301，302，303，304即表示在该位置采样。tREA表示NAND在接收到第一个RE下降沿（即301）后，经过tREA时间后输出第一个数据UI，所以控制器采样点的位置取决于tREA的大小，可以理解的是，tREA+1/2数据UI为最佳采样点(即图3中302线为最佳采样点)。测量信号的常用办法就是将芯片内的信号引出来，再通过示波器，逻辑分析仪等仪器进行直接测量，查看波形，记录信号参数。并通过计算，确定最佳采样点。当然，还可以遍历所有采样点，在可以采中数据的采样点中选择一个作为通用配置。但因缺少数据支持（tREA的值），所以常常无法找到最佳采样点，在实际使用中，选用这样的采样点，其采样的抗干扰性会下降。
可以理解的是，控制器端有多档EDO可以调节采样点。示例性地，参照图3，EDO=0时，将在RE信号第一个上升沿进行采样（即302号线处），EDO=1时，采样点将后延半个RE信号周期（即3号线处），EDO=2时，采样点将往后延一个RE信号周期（即304号线处），以此类推。因此，本发明实施例通过配置不同的EDO档位进行采样测试，并根据采样结果测算tREA的值。具体地，针对不同的频率，结合控制器的多个档位进行采样，并对采样结果进行判断，得到测试采样结果集。根据测试采样结果集，确定第一时长（即tREA）的目标取值范围；进而在具体的实施例中，可以根据目标取值范围，确定目标采样点。
示例性地，在10MHz下进行采样测试，分别用控制器的EDO=0,1,2,3....在不同档位下进行数据采样，并查看采样结果，是否采对数据。将频率调为20MHz, 分别用EDO=0,1,2,3....进行数据采样，并查看采样结果，是否采对数据。以此类推，在各个频率下遍历各个EDO的档位配置，记录采样情况（即测试采样结果集）计算出tREA的值，并根据tREA的值确定目标采样点。例如，分别在6MHZ，19MHZ，40MHZ，50MHZ的频率下采样，EDO有0，1，2三档，在每个频率下分别用EDO=0，1，2三档各采样一次，记录采样情况。采样情况表1所示，其中，对号用于该频率下的该档位的采样结果正确，叉号用于表示该频率下的该档位的采样结果不正确。根据表1中记录的测试采样结果集确定第一时长的目标取值范围，进而确定目标采样点。
表1
可选地，在本发明的一个实施例中，目标取值范围还可以通过下列步骤确定：
在第一频率下，通过多个测试采样点对第一数据进行采样，得到第一采样结果集；第一数据用于表征在第一频率下接收到的存储设备发回的数据；
根据第一采样结果集，得到第一时长的第一取值范围；
在第二频率下，通过多个测试采样点对第二数据进行采样，得到第二采样结果集；第二数据用于表征在第二频率下接收到的存储设备发回的数据；
根据第二采样结果集，得到第一时长的第二取值范围；
根据第一取值范围和第二取值范围，得到第一时长的目标取值范围。
在一些可能的实施方式中，本发明实施例还可以通过在不同频率下进行采样测试，得到第一时长的不同取值范围，对所有的取值范围进行综合后，确定第一时长的目标取值范围。具体地，将多个取值范围中重合的部分作为第一时长的目标取值范围。
可选地，在本发明的一个实施例中，该方法还包括：
在当前采样频率下，若在第一个采样点的采样结果为采样正确，确定第一时长小于第一数值；第一个采样点用于表征在当前频率下控制器的第一档位对应的采样点，第一档位用于表征在第一信号的第一个变化沿进行采样；第一数值用于表征当前采样频率对应的半个采样周期的时长；
或者，若当前采样频率下，若在第一个采样点的采样结果为采样不正确，且在第二个采样点的采样结果为采样正确，确定第一时长大于第一数值，且第一时长小于第二数值；第二数值用于表征当前采样频率对应的采样周期的时长。
在一些可能的实施方式中，可以理解的是，在控制器的不同档位下进行采样，能够预测第一时长的取值范围。可以理解的是，参照图5所示，其中EDO=0用于表征第一个采样点，EDO=1用于表征第二个采样点，EDO=2用于表征第三个采样点。可以知道的是，第二个采样点用于表征在当前频率下控制器的第二档位对应的采样点，第二档位用于表征在第一信号的第二个变化沿进行采样，同理，可以知道第三个采样点，第四个采样点的含义。参照图5所示的一种频率下，数据单元窗口与档位关系的一种实施例，若第一个采样点采样正确，那么第一时长小于当前采样频率对应的半个周期的时长，这样，在第一档位时，数据采样窗口才会出现，才能够实现数据的正确采样。同样地，参照图6所示的另一种频率下，数据单元窗口与档位关系的另一种实施例，若第一个采样点采样不正确，第二个采样点采样正确，那么，第一时长大于半个周期小于一个周期。可以理解的是，若当前采样频率下，若在第一个采样点和第二个采样点的采样结果均为采样不正确，且在第三个采样点的采样结果为采样正确，确定第一时长大于第二数值，且小于第三数值，可以理解的是，第三数值为第二数值的倍数，具体地，可以为1.5倍。以此类推，通过不同的采样点之间的采样结果，判断第一时长的取值范围。
具体地，以表1所示的数据为一具体实施例，可以知道的是，在采样频率为6MHZ，19MHZ时，在EDO=0，1（即第一档和第二档）的时候可以采对数据，在EDO=2（即第三档，对应的第三个采样点）的时候采不对数据，可以看出tREA的值一定小于EDO=0时的位置，即tREA一定小于半个RE_n周期。而当采样频率为40MHZ，50MHZ时，EDO=0时采不中，EDO=1，2时可以采中。因频率上升，RE_n周期变小，而tREA大小不变，所以数据UI相对于采样点向右移，采样情况如图6所示，可以看出tREA的值一定大于EDO=0时的位置，小于EDO=1时的位置，即tREA一定大于半个RE_n周期，小于一个RE_n周期。根据表1所示的实施例对第一时长的取值范围进行判断，得到第一时长的取值范围结果，如表2所示：
表2
可选地，在本发明的一个实施例中，该方法还包括：
对第一取值范围和第二取值范围取交集，得到第一时长的目标取值范围；
调整采样频率，对目标取值范围进行更新操作。
在一些可能的实施方式中，对第一取值范围和第二取值范围进行合并取交集后，还可以调整采样频率，对目标取值范围进行更新，通过逐次逼近的方式，优化目标取值范围，以精确判断目标采样点。
可选地，在本发明的一个实施例中，根据目标取值范围，确定目标采样点这一步骤，包括：
获取目标采样频率；
根据目标采样频率，确定目标数据采样窗口；
根据目标取值范围和目标数据采样窗口，确定目标采样点范围；
根据目标采样点范围，确定目标采样点。
在一些可能的实施方式中，可以理解的是，根据目标取值范围，结合目标采样频率，可以得到采样点的目标采样点范围；然后，结合控制器的不同档位对应的采样点的时长，确定最佳采样点。示例性地，对于表1所示的实施例，根据上面的方法可以得到第一时长tREA的值在12.5ns~20ns（即目标取值范围）之间（根据表2可得）。根据最佳采样点的选择公式：（tREA+1/2数据UI），在目标频率下进行采样点的确定：
若目标采样频率为20MHZ时，数据UI大小最小为20ns（即目标采样窗口，数据来自相关协议），所以其最佳采样点范围为22.5~30ns（即目标采样点范围）。而该目标采样频率下RE_n的周期为50ns，即EDO=0时，第一档对应的第一采样点，在RE_n=25ns处采样；EDO=1时在RE_n=50ns处采样。所以此时最佳采样点应为EDO=0，第一采样点。同样，在40MHZ时，数据UI大小最小为15ns，所以其最佳采样点范围为（20~27.5ns），而该频率下RE_n的周期为25ns，即EDO=0时在RE_n=12.5ns处采样，EDO=1时在RE_n=25ns处采样；EDO=2时在RE_n=37.5ns处采样。所以此时最佳采样点应为EDO=1。
可选地，在本发明的一个实施例中，根据目标采样点范围，确定目标采样点，包括：
根据目标采样频率，确定各个采样点之间的第二时长；第二时长用于表征目标采样频率对应的半个采样周期；
根据第二时长，确定各个采样点的目标时间；
将落入目标采样点范围内的目标时间对应的采样点记为目标采样点，该目标采样点对应的档位为采样档位。
在一些可能的实施方式中，根据目标采样频率，可以得到每个档位下的采样点之间的第二时长，进而确定每个档位下的采样点的位置，以便于确定目标采样点。
可选地，在本发明的一个实施例中，目标取值范围包括第一极值和第二极值，第一极值和第二极值用于表征目标取值范围的两个端点值；根据目标取值范围和目标数据采样窗口，确定目标采样点范围，包括：
根据第一极值，确定第三极值；第三极值为第一极值与第三时长之和，第三极值用于表征目标采样点范围的一个端点值，第三时长小于目标数据采样窗口的时长；
根据第二极值，确定第四极值；第四极值为第二极值与第三时长之和，第四极值用于表征目标采样点范围的另一个端点值；
根据第三极值和第四极值，确定目标采样点范围。
在一些可能的实施方式中，根据目标取值范围，结合目标频率下的数据采样窗口，可以得到目标采样点范围，进而确定最佳采样点。
综上可知，本发明实施例通过各个采样点的采样结果确定关键参数的范围，并通过不断提高频率，逼近关键参数的准确值。同时，本发明实施例实现了不在基板上引出testpin而对特定参数进行测算，使采样点接近最佳采样点。可以理解的是，外接test pin会对芯片内部信号本身造成影响，本发明实施例有利于缓解上述影响。本发明实施例通过在不同的频率下，结合控制器不同的档位对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；进而根据测试采样结果集得到目标采样点。本发明实施例能够获得最佳采样点，且不通过外接测试，缓解了外接测试带来的信号波动问题，有利于提升信号采集的准确度。
其次，参照附图7描述根据本发明实施例提出的一种采样点的确定系统。
图7是本发明一个实施例的采样点的确定系统结构示意图，系统具体包括：
第一模块710，用于调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；
第二模块720，用于通过多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；测试数据用于表征在采样频率下接收到的存储设备发回的数据；测试采样结果集用于表征基于测试采样点和采样频率的采样结果集合；
第三模块730，用于根据测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；第一信号用于表征控制器发送至存储设备的信号；
第四模块740，用于根据目标取值范围，确定目标采样点。
可见，上述方法实施例中的内容均适用于本系统实施例中，本系统实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。
参照图8，本发明实施例提供了一种采样点的确定装置，包括：
至少一个处理器810；
至少一个存储器820，用于存储至少一个程序；
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器810执行时，使得所述至少一个处理器810实现所述的采样点的确定方法。
同理，上述方法实施例中的内容均适用于本装置实施例中，本装置实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行上述的采样点的确定方法。
同理，上述方法实施例中的内容均适用于本存储介质实施例中，本存储介质实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。
在一些可选择的实施例中，在方框图中提到的功能/操作可以不按照操作示图提到的顺序发生。例如，取决于所涉及的功能/操作，连续示出的两个方框实际上可以被大体上同时地执行或所述方框有时能以相反顺序被执行。此外，在本发明的流程图中所呈现和描述的实施例以示例的方式被提供，目的在于提供对技术更全面的理解。所公开的方法不限于本文所呈现的操作和逻辑流程。可选择的实施例是可预期的，其中各种操作的顺序被改变以及其中被描述为较大操作的一部分的子操作被独立地执行。
此外，虽然在功能性模块的背景下描述了本发明，但应当理解的是，除非另有相反说明，功能和/或特征中的一个或多个可以被集成在单个物理装置和/或软件模块中，或者一个或多个功能和/或特征可以在单独的物理装置或软件模块中被实现。还可以理解的是，有关每个模块的实际实现的详细讨论对于理解本发明是不必要的。更确切地说，考虑到在本文中公开的装置中各种功能模块的属性、功能和内部关系的情况下，在工程师的常规技术内将会了解该模块的实际实现。因此，本领域技术人员运用普通技术就能够在无需过度试验的情况下实现在权利要求书中所阐明的本发明。还可以理解的是，所公开的特定概念仅仅是说明性的，并不意在限制本发明的范围，本发明的范围由所附权利要求书及其等同方案的全部范围来决定。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干程序用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行程序的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供程序执行系统、装置或设备（如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从程序执行系统、装置或设备取程序并执行程序的系统）使用，或结合这些程序执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供程序执行系统、装置或设备或结合这些程序执行系统、装置或设备而使用的装置。
计算机可读介质的更具体的示例（非穷尽性列表）包括以下：具有一个或多个布线的电连接部（电子装置），便携式计算机盘盒（磁装置），随机存取存储器（RAM），只读存储器（ROM），可擦除可编辑只读存储器（EPROM或闪速存储器），光纤装置，以及便携式光盘只读存储器（CDROM）。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的程序执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列（PGA），现场可编程门阵列（FPGA）等。
在本说明书的上述描述中，参考术语“一个实施方式/实施例”、“另一实施方式/实施例”或“某些实施方式/实施例”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。
尽管已经示出和描述了本发明的实施方式，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施方式进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可做作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本发明权利要求所限定的范围内。

Claims (9)

1.一种采样点的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：
调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；
通过所述多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；所述测试数据用于表征在采样频率下接收到的存储设备发回的数据；所述测试采样结果集用于表征基于所述测试采样点和所述采样频率的采样结果集合；
根据所述测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；所述第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；所述第一信号用于表征所述控制器发送至所述存储设备的信号；
根据所述目标取值范围，确定目标采样点；
所述目标取值范围还可以通过下列步骤确定：
在第一频率下，通过所述多个测试采样点对第一数据进行采样，得到第一采样结果集；所述第一数据用于表征在第一频率下接收到的所述存储设备发回的数据；
根据所述第一采样结果集，得到第一时长的第一取值范围；
在第二频率下，通过所述多个测试采样点对第二数据进行采样，得到第二采样结果集；所述第二数据用于表征在第二频率下接收到的存储设备发回的数据；
根据所述第二采样结果集，得到所述第一时长的第二取值范围；
根据所述第一取值范围和所述第二取值范围，得到所述第一时长的目标取值范围。
2.根据权利要求1所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述方法还包括：
在当前采样频率下，若在第一个采样点的采样结果为采样正确，确定所述第一时长小于第一数值；所述第一个采样点用于表征在当前频率下所述控制器的第一档位对应的采样点，所述第一档位用于表征在所述第一信号的第一个变化沿进行采样；所述第一数值用于表征当前采样频率对应的半个采样周期的时长；
或者，若当前采样频率下，若在第一个采样点的采样结果为采样不正确，且在第二个采样点的采样结果为采样正确，确定所述第一时长大于所述第一数值，且所述第一时长小于第二数值；所述第二数值用于表征当前采样频率对应的采样周期的时长。
3.根据权利要求1所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述方法还包括：
对所述第一取值范围和所述第二取值范围取交集，得到所述第一时长的目标取值范围；
调整采样频率，对所述目标取值范围进行更新操作。
4.根据权利要求1所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述根据所述目标取值范围，确定目标采样点这一步骤，包括：
获取目标采样频率；
根据目标采样频率，确定目标数据采样窗口；
根据所述目标取值范围和所述目标数据采样窗口，确定目标采样点范围；
根据所述目标采样点范围，确定目标采样点。
5.根据权利要求4所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述根据所述目标采样点范围，确定目标采样点，包括：
根据所述目标采样频率，确定各个采样点之间的第二时长；所述第二时长用于表征所述目标采样频率对应的半个采样周期；
根据所述第二时长，确定各个采样点的目标时间；
将落入所述目标采样点范围内的目标时间对应的采样点记为目标采样点，该目标采样点对应的档位为采样档位。
6.根据权利要求4所述的采样点的确定方法，其特征在于，所述目标取值范围包括第一极值和第二极值，所述第一极值和所述第二极值用于表征所述目标取值范围的两个端点值；所述根据所述目标取值范围和所述目标数据采样窗口，确定目标采样点范围，包括：
根据所述第一极值，确定第三极值；所述第三极值为所述第一极值与第三时长之和，所述第三极值用于表征所述目标采样点范围的一个端点值，所述第三时长小于所述目标数据采样窗口的时长；
根据所述第二极值，确定第四极值；所述第四极值为所述第二极值与第三时长之和，所述第四极值用于表征所述目标采样点范围的另一个端点值；
根据所述第三极值和所述第四极值，确定目标采样点范围。
7.一种采样点的确定系统，其特征在于，包括：
第一模块，用于调整采样频率，在每个采样频率下，通过控制器的多个档位确定多个测试采样点；
第二模块，用于通过所述多个测试采样点对测试数据进行采样，得到测试采样结果集；所述测试数据用于表征在采样频率下接收到的存储设备发回的数据；所述测试采样结果集用于表征基于所述测试采样点和所述采样频率的采样结果集合；
第三模块，用于根据所述测试采样结果集，确定第一时长的目标取值范围；所述第一时长用于表征从第一信号的第一个信号变化沿起，至存储设备开始输出数据采样窗口所经过的时长；所述第一信号用于表征所述控制器发送至所述存储设备的信号；
第四模块，用于根据所述目标取值范围，确定目标采样点；
所述第三模块还用于：在第一频率下，通过所述多个测试采样点对第一数据进行采样，得到第一采样结果集；所述第一数据用于表征在第一频率下接收到的所述存储设备发回的数据；
根据所述第一采样结果集，得到第一时长的第一取值范围；
在第二频率下，通过所述多个测试采样点对第二数据进行采样，得到第二采样结果集；所述第二数据用于表征在第二频率下接收到的存储设备发回的数据；
根据所述第二采样结果集，得到所述第一时长的第二取值范围；
根据所述第一取值范围和所述第二取值范围，得到所述第一时长的目标取值范围。
8.一种采样点的确定装置，其特征在于，包括：
至少一个处理器；
至少一个存储器，用于存储至少一个程序；
当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如权利要求1至6中任一项所述的采样点的确定方法。
9.一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于实现如权利要求1至6中任一项所述的采样点的确定方法。
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