CN109346122B - 固态硬盘性能的测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种固态硬盘性能的测试方法及装置，该方法首先将固态硬盘初始化；其后，向所述固态硬盘持续写数据；当固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据；性能测试数据包括：固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或固态硬盘达到稳态所写入的数据量。由于稳态阶段的固态硬盘展现的性能是固态硬盘的正常性能，因此，向固态硬盘持续写数据，待固态硬盘达到稳态时，获得的性能测试数据能够反映该固态硬盘的正常性能。由此，提高固态硬盘性能测试的准确性。固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间越短，固态硬盘达到稳态所写入的数据量越少，固态硬盘的性能越佳。

Description

固态硬盘性能的测试方法及装置

技术领域

本申请涉及硬件测试技术领域，特别是涉及一种固态硬盘性能的测试方法及装置。

背景技术

随着信息技术的快速发展，人们对于固态硬盘(Solid-state Disk,SSD)的数据传输速度提出了更高的要求。进阶主机控制器接口(Advanced HostController Interface,AHCI)标准的固态硬盘以及串行先进技术附件(SerialAdvanced Technology Attachment,SATA)规范的固态硬盘的数据传输速度难以满足人们的需求。

为了充分挖掘外设部件互联标准(PeripheralComponent Interconnectexpress,PCIe)接口的性能，Intel联合多家公司制定了非易失性内存主机控制器接口规范(Non-volatile Memory express,NVMe)。NVMe SSD相比于SATASSD，在读写性能上具备显著的优势。

NVMe SSD通常会历经三个阶段：刚拆箱(Fresh out of the Box,FOB)阶段，过渡阶段以及稳态阶段。目前对于NVMe SSD的性能测试方法通常忽略了硬盘所处的阶段对于性能测试准确性的影响，因而导致性能测试结果的准确性不足，进而，影响对于NVMe SSD性能评价的正确性。因此，如何提高NVMe SSD性能测试的准确性已成为本领域当前急需解决的技术问题。

发明内容

基于上述问题，本申请提供了一种固态硬盘性能的测试方法及装置，以提高NVMe固态硬盘性能测试的准确性。

本申请实施例公开了如下技术方案：

第一方面，本申请提供一种固态硬盘性能的测试方法，包括：

将固态硬盘初始化；

向所述固态硬盘持续写数据；

当所述固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据；所述性能测试数据包括：所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或所述固态硬盘达到稳态所写入的数据量。

作为一种可能的实现方式，所述向所述固态硬盘持续写数据，具体可以包括：

以第一预设速度向所述固态硬盘持续写数据，或，以第一预设数据量为目标写入数据量向所述固态硬盘持续写数据；所述第一预设数据量为所述固态硬盘的容量的N倍，所述N为正数。

作为一种可能的实现方式，在所述获得所述固态硬盘的性能测试数据之前，所述方法还可以包括：

确定测试窗口；每个所述测试窗口为第一预设时长，每个所述测试窗口包含多个测试时间单元；

在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态。

作为一种可能的实现方式，所述在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态，具体可以包括：

判断在所述测试窗口内，第一稳态条件和第二稳态条件是否同时满足，如果同时满足，则确定所述固态硬盘达到稳态；如果不同时满足，则判断下一个所述测试窗口内，所述第一稳态条件和所述第二稳态条件是否同时满足；

所述第一稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的最大值与最小值之差，不大于每秒读写次数的平均值与第一预设倍数之积；所述测试窗口的每个所述测试时间单元对应至少一个所述每秒读写次数；

所述第二稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的斜率，小于所述每秒读写次数的平均值与第二预设倍数之积。

作为一种可能的实现方式，所述性能测试数据，还可以包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内每秒读写次数的平均值。

作为一种可能的实现方式，所述性能测试数据，还可以包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内的最大延迟和平均延迟。

作为一种可能的实现方式，上述方法还可以包括：

根据所述性能测试数据确定所述固态硬盘的性能。

第二方面，本申请提供一种固态硬盘性能的测试装置，包括：

初始化单元，用于将固态硬盘初始化；

数据写入单元，用于向所述固态硬盘持续写数据；

测试数据获取单元，用于当所述固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据；所述性能测试数据包括：所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或所述固态硬盘达到稳态所写入的数据量。

作为一种可能的实现方式，所述数据写入单元，具体可以包括：

第一数据写入子单元，用于以第一预设速度向所述固态硬盘持续写数据，或，以第一预设数据量为目标写入数据量向所述固态硬盘持续写数据；所述第一预设数据量为所述固态硬盘的容量的N倍，所述N为正数。

作为一种可能的实现方式，所述装置还可以包括：

测试窗口确定单元，用于确定测试窗口；每个所述测试窗口为第一预设时长，每个所述测试窗口包含多个测试时间单元；

硬盘状态判断单元，用于在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态。

作为一种可能的实现方式，所述硬盘状态判断单元，具体可以包括：

硬盘状态判断子单元，用于判断在所述测试窗口内，第一稳态条件和第二稳态条件是否同时满足，如果同时满足，则确定所述固态硬盘达到稳态；如果不同时满足，则判断下一个所述测试窗口内，所述第一稳态条件和所述第二稳态条件是否同时满足；所述第一稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的最大值与最小值之差，不大于每秒读写次数的平均值与第一预设倍数之积；所述测试窗口的每个所述测试时间单元对应至少一个所述每秒读写次数；所述第二稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的斜率，小于所述每秒读写次数的平均值与第二预设倍数之积。

作为一种可能的实现方式，所述性能测试数据，还可以包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内每秒读写次数的平均值。

作为一种可能的实现方式，所述性能测试数据，还可以包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内的最大延迟和平均延迟。

作为一种可能的实现方式，上述装置还可以包括：

性能评价单元，用于根据所述性能测试数据确定所述固态硬盘的性能。

相较于现有技术，本申请具有以下有益效果：

本申请提供的固态硬盘性能的测试方法，首先将固态硬盘初始化；其后，向所述固态硬盘持续写数据；当固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据；性能测试数据包括：固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或固态硬盘达到稳态所写入的数据量。

由于稳态阶段的固态硬盘展现的性能是固态硬盘的正常性能，因此，向固态硬盘持续写数据，待固态硬盘达到稳态时，获得的性能测试数据能够反映该固态硬盘的正常性能。由此，提高固态硬盘性能测试的准确性。固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间越短，固态硬盘达到稳态所写入的数据量越少，固态硬盘的性能越佳。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种固态硬盘性能的测试方法流程图；

图2为本申请实施例提供的另一种固态硬盘性能的测试方法流程图；

图3为本申请实施例提供的测试时间与每秒读写次数的关系图；

图4为本申请实施例提供的写入数据量与每秒读写次数的关系图；

图5为本申请实施例提供的一种固态硬盘性能的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

基于目前NVMe SSD性能测试准确性较低的问题，经过研究发现，稳态阶段的性能才是固态硬盘正常性能的反映。稳态阶段之前，FOB阶段或过渡阶段的高性能不能代表硬盘的正常性能。因此，为提高NVMe SSD性能测试的准确性，需要获取SSD在稳态阶段的性能测试数据。本申请提供了一种固态硬盘性能的测试方法及装置。下面结合实施例和附图进行说明和描述。

第一实施例

参见图1，该图为本申请实施例提供的一种固态硬盘性能的测试方法流程图。

如图1所示，本实施例提供的固态硬盘性能的测试方法，包括：

步骤101：将固态硬盘初始化。

为避免SSD存储的数据对SSD性能测试准确性的造成影响，在测试SSD性能之前，需要对SSD进行初始化。

作为示例，可以采用安全擦除或低级格式化等操作，对待测的SSD进行初始化，使得SSD相比于初始化之前，处于一个更加干净、统一的状态。可以理解的是，在实际应用中还可以采用其他方式对固态磁硬盘进行初始化，因此，本实施例中，对于初始化固态硬盘的具体实现方式不进行限定。

步骤102：向固态硬盘持续写数据。

为获知固态硬盘的性能，本实施例中主要对于固态硬盘的饱和写性能进行测试。SSD写饱和，即SSD达到稳态。本步骤中，采取持续向固态硬盘写入数据的方式，以逼近SSD的写饱和状态。

步骤103：当固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据。

本实施例中，性能测试数据可以包括：固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或所述固态硬盘达到稳态所写入的数据量。

固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，以及固态硬盘达到稳态所写入的数据量，分别与固态硬盘的性能存在对应的关系：

(1)SSD从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间越短，SSD性能越佳；SSD从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间越长，SSD性能越差。SSD达到稳态所写入的数据量越少，SSD性能越佳。

(2)SSD达到稳态所写入的数据量越小，SSD性能越佳；SSD达到稳态所写入的数据量越大，SSD性能越差。

以上，为本申请提供的固态硬盘性能的测试方法。该方法首先将固态硬盘初始化；其后，向所述固态硬盘持续写数据；当固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据；性能测试数据包括：固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或固态硬盘达到稳态所写入的数据量。

由于稳态阶段的固态硬盘展现的性能是固态硬盘的正常性能，因此，向固态硬盘持续写数据，待固态硬盘达到稳态时，获得的性能测试数据能够反映该固态硬盘的正常性能。由此，提高固态硬盘性能测试的准确性。固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间越短，固态硬盘达到稳态所写入的数据量越少，固态硬盘的性能越佳。

在前述实施例提供的固态硬盘性能的测试方法中，当固态硬盘达到稳态，获取得到固态硬盘的性能测试数据。本申请进一步提供了另一种固态硬盘性能的测试方法，通过预先设定的条件衡量固态硬盘是否达到稳态。下面结合实施例和附图对该方法进行详细说明。

第二实施例

参见图2，该图为本申请实施例提供的另一种固态硬盘性能的测试方法流程图。

如图2所示，本实施例提供的固态硬盘性能的测试方法，包括：

步骤201：将固态硬盘初始化。

本实施例中，步骤201与前述实施例中步骤101实现方式相同，步骤201相关描述可参见前述实施例，此处不再赘述。

SSD初始化后，可进行数据的写入。本实施例中，写入数据的过程具体可按照步骤202中的方式实施。

步骤202：以第一预设速度向所述固态硬盘持续写数据，或，以第一预设数据量为目标写入数据量向所述固态硬盘持续写数据。

需要说明的是，当以第一预设速度向SSD持续写数据时，具体可以限定持续写的目标写数据时间。例如，以24小时为目标写数据时间，从开始写入数据为初始时间，24小时内持续写入，如果24小时后SSD仍未达到稳态，则停止写数据。

作为示例，第一预设速度写数据可以为，以4k为单位写数据，4k指的是blocksize，即SSD的I/O块的大小。当然，第一预设速度也可以是以8k、2k等为单位。本实施例中第一预设速度的具体数值不进行限定。

需要说明的是，以第一预设速度向SSD持续写数据的过程中，要求保证100％写操作，即在写操作的同时不进行读取数据的操作。

另外，除上述方式外，本步骤还可以采用另一种方式进行写数据：以第一预设数据量为目标写入数据量向SSD持续写数据。需要说明的是第一预设数据量为所述固态硬盘的容量的N倍，N为正数。例如，SSD容量为500G，取N＝4，则第一预设数据量(目标写入数据量)为2000G。进行数据写入时，向SSD写入2000G的数据量。可以理解的是，第一预设数据量写完之前，或写入数据量达到SSD容量之前，SSD便有可能达到稳定状态，即写饱和状态。

步骤203：确定测试窗口。

本实施例中，测试窗口是用于确定SSD是否达到稳态的基本单位。从SSD开始写入数据至达到稳态之前的时间内设置了多个测试窗口。每个所述测试窗口为第一预设时长，每个所述测试窗口包含多个测试时间单元。

作为示例，第一预设时长为5分钟，即测试窗口为5分钟的时长。如果每个测试窗口包含5个测试时间单元，则相邻的测试时间单元的时间相差为1分钟。各个测试窗口可以为：[T1,T6)，[T2,T7)，[T3,T8)，[T4,T9)等，其中T1，T2，T3，T4，T5，T6等为测试时间单元。可以理解的是，上述第一预设时长、测试时间单元的数量以及各个测试窗口之间的时间差仅为示例，在实际应用中，还可以设置不同的数值，因此本实施例中对于低于预设时长、测试时间单元的数量以及各个测试窗口之间的时间差的具体数值不进行限定。

另外，本实施例中对于步骤203相对于步骤201和步骤202的执行顺序不进行限定，图2中的执行顺序仅为示例，当然步骤203还可与步骤201或步骤202同时执行，也可以在步骤201或步骤202之前执行。

步骤204：在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态。

在实际应用中，可以按照时间先后顺序在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态。例如，在各个测试窗口[T1,T6)，[T2,T7)，[T3,T8)，[T4,T9)内逐一判断SSD是否达到稳态。

具体地，步骤204可以按照如下方式实施：

判断在测试窗口内，第一稳态条件和第二稳态条件是否同时满足，如果同时满足，则确定固态硬盘达到稳态；如果不同时满足，则判断下一个所述测试窗口内，第一稳态条件和第二稳态条件是否同时满足。

也就是说，如果前一个测试窗口内，SSD没有达到稳态，则对下一个测试窗口执行相同的判断操作，如此重复执行直到在某一个测试窗口内判断确定SSD达到稳态。

下面对用于确定SSD达到稳态的第一稳态条件和第二稳态条件分别进行解释说明。

在本实施例中，第一稳态条件为，在测试窗口内固态硬盘的每秒读写次数(Input/Output Operations Per Second,IOPS)的最大值与最小值之差，不大于每秒读写次数的平均值与第一预设倍数之积。第一稳态条件可由公式表示为：

IOPS_MAX-IOPS_MIN≤IOPS_AVE*K₁ 公式(1)

公式(1)中，IOPS_MAX表示测试窗口内固态硬盘的IOPS的最大值，IOPS_MIN表示测试窗口内固态硬盘的IOPS的最小值，IOPS_AVE表示测试窗口内固态硬盘的IOPS的平均值，K₁表示第一预设倍数。

第一预设倍数为根据测试经验预设的倍数。作为示例，第一稳态条件中第一预设倍数可以为0.2。需要说明的是，测试窗口的每个测试时间单元对应至少一个每秒读写次数，例如对于测试窗口[T1,T6)中每一个测试时间单元T1，T2，T3，T4，T5，分别对应一个IOPS，根据各个IOPS可以获得其中的最大值、最小值以及平均值。

在本实施例中，第二稳态条件为，在测试窗口内固态硬盘的每秒读写次数的斜率，小于每秒读写次数的平均值与第二预设倍数之积。第二稳态条件可由公式表示为：

Slope_IOPS≤IOPS_AVE*K₂ 公式(2)

公式(2)中，Slope_IOPS表示测试窗口内固态硬盘的IOPS的斜率，IOPS_AVE表示测试窗口内固态硬盘的IOPS的平均值，K₂表示第二预设倍数。第二预设倍数为根据测试经验预设的倍数。作为示例，第二稳态条件中第二预设倍数可以为0.1。

作为一种示例方式，测试窗口内SSD的IOPS的斜率可采用如下方式获得：根据测试窗口内每个测试时间单元对应的IOPS拟合一条直线，将拟合直线的斜率作为测试窗口内SSD的IOPS的斜率。

参见图3，该图为本实施例提供的测试时间与每秒读写次数的关系图。测试时间上包含了多个测试窗口。从图3可知，当每秒读写次数开始趋于平稳时，对应的测试时间为SSD达到稳态的测试窗口。

参见图4，该图为本实施例提供的写入数据量与每秒读写次数的关系图。从图4中可知，当每秒读写次数趋于平稳时，对应的写入数据量为达到稳态(SSD写饱和)的数据量。

步骤205：当固态硬盘达到稳态，获得固态硬盘的性能测试数据。

本实施例中，性能测试数据可以包括：从开始写入数据至SSD达到稳态所耗用的时间内每秒读写次数的平均值

从开始写入数据至SSD达到稳态所耗用的时间内的最大延迟L_MAX和平均延迟

以及以下至少一个：固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间、固态硬盘达到稳态所写入的数据量。

需要说明的是，写入数据的过程中，延迟表示向SSD发出数据写入请求与数据写入SSD中的时间差。

步骤206：根据性能测试数据确定固态硬盘的性能。

从开始写入数据至SSD达到稳态所耗用的时间内每秒读写次数的平均值

从开始写入数据至SSD达到稳态所耗用的时间内的最大延迟L_MAX和平均延迟

以及固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间和固态硬盘达到稳态所写入的数据量，分别与固态硬盘的性能存在对应的关系：

(1)

越大，SSD性能越佳；

越小，SSD性能越差。

(2)L_MAX越短，SSD性能越佳；L_MAX越长，性能越差。

(3)

越短，SSD性能越佳；

越长，性能越差。

(4)SSD从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间越短，SSD性能越佳；SSD从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间越长，SSD性能越差。SSD达到稳态所写入的数据量越少，SSD性能越佳。

(5)SSD达到稳态所写入的数据量越小，SSD性能越佳；SSD达到稳态所写入的数据量越大，SSD性能越差。

步骤206中，具体可以根据性能测试数据以及性能测试数据与固态硬盘性能地对应关系，确定固态硬盘性能的优劣。

以上为本实施例提供的固态硬盘性能的测试方法。该方法设定了第一稳态条件和第二稳态条件，通过第一稳态条件和第二稳态条件共同确定SSD是否达到稳态。在每个测试窗口判断确定SSD的状态，进而能够及时确定达到稳态的SSD。该测试方法能够依据第一稳态条件和第二稳态条件确定SSD的状态是否为稳态，使得NVMe SSD的性能测试规范化。依据该方法获得的性能测试数据，能够准确地衡量SSD的性能。

基于前述实施例提供的固态硬盘性能的测试方法，相应地，本申请还提供一种固态硬盘性能的测试装置。下面结合实施例和附图对该装置进行详细说明。

第三实施例

参见图5，该图为本申请实施例提供的一种固态硬盘性能的测试装置的结构示意图。

如图5所示，本实施例提供的固态硬盘性能的测试装置，包括：初始化单元501、数据写入单元502以及测试数据获取单元503。

其中，初始化单元501，用于将固态硬盘初始化；

数据写入单元502，用于向所述固态硬盘持续写数据；

测试数据获取单元503，用于当所述固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据。其中，所述性能测试数据包括：所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或所述固态硬盘达到稳态所写入的数据量。

以上为本实施例提供的固态硬盘性能的测试装置。由于稳态阶段的固态硬盘展现的性能是固态硬盘的正常性能，因此，该装置通过向固态硬盘持续写数据，待固态硬盘达到稳态时，获得的性能测试数据能够反映该固态硬盘的正常性能。由此，该装置能够提高固态硬盘性能测试的准确性。固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间越短，固态硬盘达到稳态所写入的数据量越少，固态硬盘的性能越佳。

作为一种可能的实现方式，所述数据写入单元502，具体可以包括：

第一数据写入子单元，用于以第一预设速度向所述固态硬盘持续写数据，或，以第一预设数据量为目标写入数据量向所述固态硬盘持续写数据；所述第一预设数据量为所述固态硬盘的容量的N倍，所述N为正数。

作为一种可能的实现方式，所述装置还可以包括：

测试窗口确定单元，用于确定测试窗口；每个所述测试窗口为第一预设时长，每个所述测试窗口包含多个测试时间单元；

硬盘状态判断单元，用于在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态。

作为一种可能的实现方式，所述硬盘状态判断单元，具体可以包括：

硬盘状态判断子单元，用于判断在所述测试窗口内，第一稳态条件和第二稳态条件是否同时满足，如果同时满足，则确定所述固态硬盘达到稳态；如果不同时满足，则判断下一个所述测试窗口内，所述第一稳态条件和所述第二稳态条件是否同时满足；所述第一稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的最大值与最小值之差，不大于每秒读写次数的平均值与第一预设倍数之积；所述测试窗口的每个所述测试时间单元对应至少一个所述每秒读写次数；所述第二稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的斜率，小于所述每秒读写次数的平均值与第二预设倍数之积。

作为一种可能的实现方式，所述性能测试数据，还可以包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内每秒读写次数的平均值。

作为一种可能的实现方式，所述性能测试数据，还可以包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内的最大延迟和平均延迟。

作为一种可能的实现方式，该装置还可以包括：

性能评价单元，用于根据所述性能测试数据确定所述固态硬盘的性能。

上述测试装置通过第一稳态条件和第二稳态条件共同确定SSD是否达到稳态。通过在每个测试窗口判断确定SSD的状态，能够及时确定达到稳态的SSD。该测试装置能够依据第一稳态条件和第二稳态条件确定SSD的状态是否为稳态，使得NVMe SSD的性能测试规范化。依据该测试装置获得的性能测试数据，能够准确地衡量SSD的性能。

需要说明的是，本申请提供的固态硬盘性能的测试方法和装置并不限制用于NVMeSSD，也可应用于其他固态硬盘。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于设备及系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的设备及系统实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元提示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述，仅为本申请的一种具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种固态硬盘性能的测试方法，其特征在于，包括：

将固态硬盘初始化；

向所述固态硬盘持续写数据；

当所述固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据；所述性能测试数据包括：所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或所述固态硬盘达到稳态所写入的数据量；

在所述获得所述固态硬盘的性能测试数据之前，所述方法还包括：

确定测试窗口；每个所述测试窗口为第一预设时长，每个所述测试窗口包含多个测试时间单元；

在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态；

所述在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态，具体包括：

判断在所述测试窗口内，第一稳态条件和第二稳态条件是否同时满足，如果同时满足，则确定所述固态硬盘达到稳态；如果不同时满足，则判断下一个所述测试窗口内，所述第一稳态条件和所述第二稳态条件是否同时满足；

所述第一稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的最大值与最小值之差，不大于每秒读写次数的平均值与第一预设倍数之积；所述测试窗口的每个所述测试时间单元对应至少一个所述每秒读写次数；

所述第二稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的斜率，小于所述每秒读写次数的平均值与第二预设倍数之积。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述固态硬盘持续写数据，具体包括：

以第一预设速度向所述固态硬盘持续写数据，或，以第一预设数据量为目标写入数据量向所述固态硬盘持续写数据；所述第一预设数据量为所述固态硬盘的容量的N倍，所述N为正数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能测试数据，还包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内每秒读写次数的平均值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能测试数据，还包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内的最大延迟和平均延迟。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述性能测试数据确定所述固态硬盘的性能。

6.一种固态硬盘性能的测试装置，其特征在于，包括：

初始化单元，用于将固态硬盘初始化；

数据写入单元，用于向所述固态硬盘持续写数据；

测试数据获取单元，用于当所述固态硬盘达到稳态，获得所述固态硬盘的性能测试数据；所述性能测试数据包括：所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间，和/或所述固态硬盘达到稳态所写入的数据量；

所述装置还包括：

测试窗口确定单元，用于确定测试窗口；每个所述测试窗口为第一预设时长，每个所述测试窗口包含多个测试时间单元；

硬盘状态判断单元，用于在每个所述测试窗口内判断所述固态硬盘是否达到稳态；

所述硬盘状态判断单元，具体包括：

硬盘状态判断子单元，用于判断在所述测试窗口内，第一稳态条件和第二稳态条件是否同时满足，如果同时满足，则确定所述固态硬盘达到稳态；如果不同时满足，则判断下一个所述测试窗口内，所述第一稳态条件和所述第二稳态条件是否同时满足；所述第一稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的最大值与最小值之差，不大于每秒读写次数的平均值与第一预设倍数之积；所述测试窗口的每个所述测试时间单元对应至少一个所述每秒读写次数；所述第二稳态条件为，在所述测试窗口内所述固态硬盘的每秒读写次数的斜率，小于所述每秒读写次数的平均值与第二预设倍数之积。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述数据写入单元，具体包括：

第一数据写入子单元，用于以第一预设速度向所述固态硬盘持续写数据，或，以第一预设数据量为目标写入数据量向所述固态硬盘持续写数据；所述第一预设数据量为所述固态硬盘的容量的N倍，所述N为正数。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述性能测试数据，还包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内每秒读写次数的平均值。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述性能测试数据，还包括：

所述固态硬盘从开始写入数据至达到稳态所耗用的时间内的最大延迟和平均延迟。

10.根据权利要求6-9任一项所述的装置，其特征在于，还包括：

性能评价单元，用于根据所述性能测试数据确定所述固态硬盘的性能。

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