CN116466122B - 电流检测电路、方法、芯片、电子部件及电子设备 - Google Patents

电流检测电路、方法、芯片、电子部件及电子设备 Download PDF

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Abstract

本申请提供一种电流检测电路、方法、芯片、电子部件及电子设备，电流检测电路包括：与待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路；电流输入装置，与取样电路连接，以向取样电路输出电流；比较器，分别与取样电路和待检测的数字电路的供电电源连接，以比较取样电路和待检测的数字电路的电压；电流输入装置用于在比较器输出比较结果信号或输出第二比较结果信号时，调整向取样电路输出的电流；计算单元，与电流输入装置连接，并与比较器的输出端连接，用于在比较器输出的信号跳变时，根据电流输入装置向取样电路输出的电流，确定待检测的数字电路的电流。本申请的电流检测电路可以较为准确地还原出数字电路的电流，实现对于数字电路的电流的检测。

Description

电流检测电路、方法、芯片、电子部件及电子设备
技术领域
本申请涉及数字集成电路领域，具体而言，涉及一种电流检测电路、方法、芯片、电子部件及电子设备。
背景技术
随着数字集成电路的发展，数字电路在CPU(Central Processing Unit，中央处理器)，DCU(Domain Controller Unit，域控制器)，AI(Artificial Intelligence，人工智能)处理器等大规模集成电路中占比越来越大，其功耗越来越大，对数字电路的功耗检测和分析对集成电路的设计越来越重要。
数字电路的功耗检测包括电压检测和电流检测，而数字电路供电电压通常较容易获得，但是电流很难直接测量。
目前为了测量数字电路的电流，通常是在数字集成电路外的供电电路上串联一个电阻，通过采用电压计或万用表等工具来测量该电阻的电压以获取数字电路的电流。但是，该方案在每一次测量时，必须将数字集成电路接入串联有电阻的片外供电电路中，并需要额外采用电压计或万用表等工具进行测量，无法实现在片上自动测试电流，测试效率低下。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种电流检测电路、方法、芯片、电子部件及电子设备，用以实现数字电路中的电流检测。
本申请实施例提供了一种电流检测电路，包括：取样电路，所述取样电路的电流特性与待检测的数字电路的电流特性一致；电流输入装置，与所述取样电路连接，以向所述取样电路输出电流；比较器，分别与所述取样电路和所述待检测的数字电路的供电电源连接，以比较所述取样电路的电压VDD_sensor和所述待检测的数字电路的电压VDD；所述电流输入装置与所述比较器的输出端连接，用于在所述比较器输出第一比较结果信号或输出第二比较结果信号时，调整向所述取样电路输出的电流；所述第一比较结果信号为所述VDD_sensor小于所述VDD时所述比较器输出的信号，所述第二比较结果信号为所述VDD_sensor大于所述VDD时所述比较器输出的信号；计算单元，与所述电流输入装置连接，并与所述比较器的输出端连接，用于在所述比较器输出的信号跳变时，根据所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流，确定所述待检测的数字电路的电流。
在上述实现结构中，通过设置与待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路，然后通过电流输入装置和比较器调控输入至取样电路的电流大小直至取样电路的电压与待检测的数字电路的电压基本一致(即比较器输出的信号跳变)，此时由于取样电路的电压与待检测的数字电路的电压基本一致，且取样电路与待检测的数字电路的电流特性也一致，因此基于此时输入至取样电路中的电流大小，可以基于电流特性较为准确地还原出待检测的数字电路的电流，从而实现对于待检测的数字电路的电流的检测。此外，本申请实施例所提供的上述电流检测电路可以与数字电路一并设置于芯片内，从而支持片内自动测试电流，测试效率较背景技术中记载的相关技术而言更高。
进一步地，所述电流检测电路还包括控制电路；所述电流输入装置通过所述控制电路与所述比较器的输出端连接，所述计算单元通过所述控制器分别与所述电流输入装置以及所述比较器的输出端连接；所述控制电路用于在所述比较器输出所述第一比较结果信号或所述第二比较结果信号时，向所述电流输入装置输出触发信号，以触发所述电流输入装置调整向所述取样电路输出的电流，在所述比较器输出的信号跳变时，将所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流值上报所述计算单元。
在上述实现结构中，通过一个控制电路来进行比较器与电流输入装置之间的衔接，以及通过控制电路进行电流输入装置向取样电路输出的电流值上报，可以利用控制电路实现信号的中转，降低信号传输过程的衰减，避免出现电流输入装置无法正确触发的风险，以及出现计算单元接收到无法识别的信号的风险。
进一步地，所述计算单元为控制器；所述电流输入装置通过所述控制器与所述比较器的输出端连接，所述控制器用于在所述比较器输出所述第一比较结果信号或所述第二比较结果信号时，向所述电流输入装置输出触发信号，以触发所述电流输入装置调整向所述取样电路输出的电流。
在上述实现结构中，通过直接将控制器作为计算单元，并与电流输入装置和比较器连接，从而一方面利用控制器直接进行触发控制，以及电流计算，可以提高控制可靠性，另一方面也无需再额外设置用于中转的电路，可以节约面积开销。
进一步地，所述电流输入装置为电流型数模转换器。
在上述实现结构中，通过采用电流型数模转换器作为电流输入装置，可以有效保证对于输出至取样电路的电流的可控性，从而保证整个电流检测电路的可靠性。
进一步地，所述取样电路的电路结构为：对所述待检测的数字电路的电路结构进行简化后的电路结构。
在上述实现结构中，通过采用对待检测的数字电路的电路结构进行简化后的电路结构作为取样电路，一方面可以比较容易地得到与待检测的数字电路电流特性一致的取样电路，另一方面也可以使得取样电路的面积较待检测的数字电路更小，从而可以保证电流输入装置可以带动取样电路，并可以减少需要增加的面积开销。
进一步地，与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路为多个。
在上述实现结构中，通过采用多个取样电路来共同对待检测的数字电路进行检测，这样就使得后续可以具有综合这多个取样电路的检测结果来最终确定待检测的数字电路的电流的能力。
进一步地，所述待检测的数字电路为多个，每个所述待检测的数字电路具有一个或多个与该待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路。从而通过上述实现结构可以支持对多个数字电路的电流检测。
本申请实施例还提供了一种电流检测方法，包括：向取样电路输出电流；所述取样电路的电流特性与待检测的数字电路的电流特性一致；通过比较器比较所述取样电路的电压VDD_sensor和所述待检测的数字电路的电压VDD；在所述比较器输出第一比较结果信号或输出第二比较结果信号时，调整向所述取样电路输出的电流；所述第一比较结果信号为所述VDD_sensor小于所述VDD时所述比较器输出的信号，所述第二比较结果信号为所述VDD_sensor大于所述VDD时所述比较器输出的信号；在所述比较器输出的信号跳变时，根据所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流，确定所述待检测的数字电路的电流。
在上述实现方式中，通过设置与待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路，然后通过比较器调控输入至取样电路的电流大小直至取样电路的电压与待检测的数字电路的电压基本一致(即比较器输出的信号跳变)，此时由于取样电路的电压与待检测的数字电路的电压基本一致，且取样电路与待检测的数字电路的电流特性也一致，因此基于此时输入至取样电路中的电流大小，可以基于电流特性较为准确地还原出待检测的数字电路的电流，实现对于待检测的数字电路的电流的检测。
进一步地，根据所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流，确定所述待检测的数字电路的电流，包括：对所述取样电路输出的电流进行拟合，得到所述待检测的数字电路的电流。
在上述实现方式中，通过对取样电路输出的电流进行拟合可以较准确地得到待检测的数字电路的电流。
进一步地，对所述取样电路输出的电流进行拟合，得到所述待检测的数字电路的电流，包括：按照公式拟合得到所述待检测的数字电路的电流；其中fi(I_SENSOR)＝A*Ii_SENSOR+B*Ii_SENSOR+C，Ii_SENSOR，Ii_SENSOR为所述电流输入装置向与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路中的第i个取样电路的输出的电流值，I_DIGITAL为所述待检测的数字电路的电流，A、B、C均为预设常数，K为与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路的总数。
进一步地，所述待检测的数字电路为多个，每个所述待检测的数字电路具有一个或多个与该待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路；在确定出各所述待检测的数字电路的电流之后，所述方法还包括：计算各所述待检测的数字电路的电流之和。
基于上述方式，可以将大规模集成电路芯片拆分成多个不同的数字电路，进而分别进行测量，这样测量可以有效消除芯片上区域内晶体管因为工艺或温度等因素导致器件漏电特性不一致而导致的测量偏差，从而使得测量结果更可信。
本申请实施例还提供了一种芯片，所述芯片包括上述任一种的电流检测电路。
本申请实施例还提供了一种电子部件，包括上述芯片。
本申请实施例中还提供了一种电子设备，包括上述芯片，或包括上述电子部件。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的一种电流检测电路的基本结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种可选的较具体的电流检测电路的结构示意图；
图3为本申请实施例提供的另一种可选的较具体的电流检测电路的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的一种具体的可对多个数字电路进行电流检测的电流检测电路的结构示意图；
图5为本申请实施例提供的一种电流检测方法的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
为了检测芯片内数字电路中的电流，本申请实施例中提供了一种电流检测电路，可以参见图1所示，该电流检测电路包括取样电路、电流输入装置、比较器和计算单元。其中：
取样电路为电流特性与待检测的数字电路的电流特性一致的电路，从而可以基于取样电路的电流较为准确地还原出待检测的数字电路的电流。
电流输入装置与取样电路连接，用于向取样电路输出电流。
比较器分别与取样电路和待检测的数字电路的供电电源连接，以比较取样电路的电压VDD_sensor和待检测的数字电路的电压VDD(即待检测的数字电路的供电电源输出的电压)。
可以理解，比较器可以在VDD_sensor小于VDD时输出第一比较结果信号，而在VDD_sensor大于VDD时输出第二比较结果信号。其中，第一比较结果信号和第二比较结果信号应当为相反的信号。例如第一比较结果信号可以为高电平信号，而第二比较结果信号可以为低电平信号；或者，第一比较结果信号可以为低电平信号，而第二比较结果信号为高电平信号。
请继续参见图1所示，电流输入装置还与比较器的输出端连接，从而在比较器输出第一比较结果信号或输出第二比较结果信号时，调整向取样电路输出的电流。
具体而言，当比较器输出第一比较结果信号时，此时VDD_sensor小于VDD，从而电流输入装置可以增大向取样电路输出的电流。当比较器输出第二比较结果信号时，此时VDD_sensor大于VDD，从而电流输入装置可以减小向取样电路输出的电流。
可以理解，电流输入装置可以是按照等量的电流增加量或者减少量进行调整。为此，在本申请实施例中，电流输入装置可以采用电流型数模转换器实现，但不作为限制。
还可以理解，对于比较器而言，受电路原理以及信号波动性的限制，比较结果只会存在VDD_sensor小于VDD或者VDD_sensor大于VDD这两种，并不会存在绝对意义上的VDD_sensor等于VDD的情况，因此当比较器的输出信号出现信号跳变时，即从第一信号跳变成为第二信号，或者从第二信号跳变成为第一信号时，即可以认为VDD_sensor等于VDD了。
请继续参见图1所示，计算单元与电流输入装置连接，并与比较器的输出端连接，用于在比较器输出的信号跳变时，根据电流输入装置向取样电路输出的电流，确定待检测的数字电路的电流。
可以理解，电流输入装置向取样电路输出的电流为模拟信号，而计算单元是基于电流值进行的计算，因此在电流输入装置采用诸如电流型数模转换器实现时，可以根据电流型数模转换器的数字码确定电流型数模转换器输出的电路值，从而上报该电流值。而对于未记录有电流对应的数字码的电流输入装置，由于电流输入装置每次调整的值是固定的，而电流输入装置初始状态下输出的电流大小是可以配置的，因此可以通过在电路中设诸如计数器等模块，通过记录增大或减小的次数使得计算单元可以计算出电流输入装置的电流值。
还可以理解，计算单元可以通过芯片内具有计算能力的计算电路，例如处理器核心、流处理器、协处理器等实现，但不作为限制。
值得注意的是，为得到取样电路，在本申请实施例的一种可行实施方式中，可以对待检测的数字电路的电路结构进行简化，从而得到电流特性与待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路。
可以理解，构成取样电路的各单元应当与待检测的数字电路中的单元一致(单元可以包括但不限于缓存器，反相器，与门、或非门等逻辑电路等，单元一致包括构成这些单元的晶体类型也一致)，且单元间的连接结构也与待检测的数字电路中的单元间的连接结构一致，区别仅在于单元数量减少而已。例如，数字电路中存在100万个缓存器，100万个反相器，100万个与门相连，那么取样电路中可以仅1000个缓存器，1000个反相器，1000个与门相连。
这样，一方面可以比较容易地得到与待检测的数字电路电流特性一致的取样电路，另一方面也可以使得取样电路的面积较待检测的数字电路更小，从而可以保证电流输入装置可以带动取样电路，并可以减少需要增加的面积开销。
此时，可以通过以下拟合公式计算出待检测的数字电路的电流：
I_DIGITAL＝f(I_SENSOR)＝A*I_SENSOR+B*I_SENSOR+C，其中：I_SENSOR为电流输入装置向取样电路输出的电流值，I_DIGITAL为待检测的数字电路的电流，A、B、C是校准参数，可通过测试获取，测试方式可参考现有技术，本申请实施例不作赘述。
在本申请实施例的另一种可行实施方式中，也可以直接复制一份待检测的数字电路以得到取样电路，或者也可以直接将待检测的数字电路作为取样电路。此时可以采用电流输出能力足够大的电流输入装置，以提供可以供整个数字电路运作的电流，保证方案可以正常实施。
可以理解，在直接将待检测的数字电路作为取样电路时，可以在待检测的数字电路的供电电源与待检测的数字电路之间设置受控开关，从而在检测时，断开供电电源与待检测的数字电路之间的通路，使用电流输入装置向待检测的数字电路供电(此时待检测的数字电路即作为取样电路)，并通过比较器比较待检测的数字电路的电压和该供电电源的电压，在比较器的信号跳变时，得到电流输入装置向待检测的数字电路输出的电流。此时电流输入装置输出的电流值即可以认为等于待检测的数字电路正常运行时的电流。
类似的，在直接复制一份待检测的数字电路以得到取样电路的方式中，由于取样电路与待检测的数字电路完全一致，因此在比较器的信号跳变时，电流输入装置输出的电流值即可以认为等于待检测的数字电路正常运行时的电流。
在上述直接复制一份待检测的数字电路以得到取样电路，或者也可以直接将待检测的数字电路作为取样电路的可选实施方式中，计算单元可以采用具有数据读取能力的电路结构实现，可以不必要求其具有计算能力。
可以理解，受实际使用的电流输入装置的结构影响，可能存在某些电流输入装置对输出的电流大小的调整并不能直接依据比较器输出的高电平信号和低电平信号进行触发。
为此，在本申请实施例的一种可选实施方式中，如图2所示，电流检测电路中还可以包括控制电路，电流输入装置通过该控制电路与比较器的输出端连接，从而比较器将第一比较结果信号或者第二比较结果信号先输出给控制电路，由控制电路将第一比较结果信号或者第二比较结果信号转换为符合电流输入装置的输入要求的信号形式输出给电流输入装置，以触发电流输入装置增大输出至取样电路的电流，或减小输出至取样电路的电流。这样，一方面可以保证电流输入装置可被正确触发，另一方面可以降低信号传输过程的衰减，避免出现电流输入装置无法正确触发的风险。
此外，控制电路还与计算单元连接，从而在比较器输出的信号跳变时，将电流输入装置向所述取样电路输出的电流值上报计算单元。
可以理解，在本申请实施例中，控制电路可以通过已有的格式转换电路以及判断电路构成，其中格式转换电路用于进行第一比较结果信号或者第二比较结果信号的转换，而判断电路用于进行比较器输出的信号是否跳变的判断。
在本申请实施例的另一种可选实施方式中，如图3所示，可以采用控制器来作为计算单元，并且电流输入装置通过控制器与比较器的输出端连接。此时，比较器将第一比较结果信号或者第二比较结果信号先输出给控制器，由控制器将第一比较结果信号或者第二比较结果信号转换为符合电流输入装置的输入要求的信号形式输出给电流输入装置，以触发电流输入装置增大输出至取样电路的电流，或减小输出至取样电路的电流。这样，一方面可以保证电流输入装置可被正确触发，另一方面可以降低信号传输过程的衰减，避免出现电流输入装置无法正确触发的风险，此外相比于前一可选实施方式还可以节约面积开销。
在本申请实施例中，控制器可以是处理器、处理器核心、协处理器、流处理器等具有计算以及控制功能的器件实现，但不作为限制。
可以理解，在实际应用过程中，可能存在着某些数字电路的面积很大情况，对于这类数字电路，在实际应用过程中，数字电路的各部分的温度等因素可能不均匀，从而通过单一的取样电路进行模拟时可能出现不准确地情况。为此，在本申请实施例的一种可选实施例中，针对待检测的数字电路，可以设置多个与该待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路，例如图4所示。这样，由于每个取样电路均可以得到一个检测结果，这样就使得后续可以具有综合这多个取样电路的检测结果来最终确定待检测的数字电路的电流的能力，即具有提高检测准确性的能力。
可选的，这多个取样电路可以分别分布在待检测的数字电路的不同方位，从而均衡不同的环境因素。例如，可以设置4个取样电路，分别布设于待检测的数字电路的4个角上。
此时，可以按照公式拟合得到该待检测的数字电路的电流；其中fi(I_SENSOR)＝A*Ii_SENSOR+B*Ii_SENSOR+C，Ii_SENSOR，Ii_SENSOR为电流输入装置向与待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路中的第i个取样电路的输出的电流值，I_DIGITAL为所述待检测的数字电路的电流，A、B、C均为预设常数，K为与该待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路的总数，例如上例中，K即等于4。
可以理解，在实际应用过程中，芯片内可能存在大量的数字电路，为此，在本申请实施例中，待检测的数字电路可以为多个，且每个待检测的数字电路具有一个或多个与该待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路。此时，针对每一个取样电路均可按照前述方式与比较器以及电流输入装置连接，支持对多个数字电路中每个数字电路的电流检测以及支持对多个数字电路中的总电流的检测。
可以理解，如图4所示，在电流输入装置与取样电路之间可以设置受控开关K1，以通过受控开关K1控制各取样电路与电流输入装置之间的导通。类似的，在比较器与取样电路之间也可以设置受控开关K2，以通过受控开关K2控制各取样电路与比较器之间的导通。类似的，在各数字电路的供电电源与比较器之间也可以设置受控开关K3，以通过受控开关K3控制各供电电源与比较器之间的导通。
可以理解，在本申请实施例中，受控开孔K1、K2、K3可以如图4所示全部进行设置，但是也可以仅设置其中的一种或两种，例如可以仅设置K1，或仅设置K2，或仅设置K3，又例如可以仅设置K1和K2，或者仅设置K2和K3，但不作为限制。
可以理解，本申请实施例所提供的电流检测电路可以与数字电路一起设置于芯片内，但是也可以单独设置于芯片外，作为一个单独的电流检测装置与芯片配合实现对于芯片内的数字电路的电流的检测。
还可以理解，本申请实施例中的电流检测电路可以测量数字电路的静态功耗，也可以测量数字电路的动态功耗。其中，在测量数字电路的静态功耗时，取样电路中的所有时钟信号保持一个状态不变，此时由于数字电路的静态功耗主要与电流中的电流有关，与电路中各单元的工作频率等无关，因此可以检测得到准确的数字电路的静态电流值，并且相关校准参数可以适用于不同工艺角的芯片。在测量数字电路的动态功耗时，取样电路中的所有时钟信号需按照该取样电路对应的数字电路中的时钟信号进行变化，此时可以检测得到较准确的数字电路的动态电流值。
基于同一发明构思，本申请实施例中还提供了一种电流检测方法，可参见图5所示，包括：
S501：向取样电路输出电流。
可以立即接，取样电路的电流特性与待检测的数字电路的电流特性一致。
S502：通过比较器比较取样电路的电压VDD_sensor和待检测的数字电路的电压VDD。
S503：在所述比较器输出第一比较结果信号或输出第二比较结果信号时，调整向所述取样电路输出的电流。
如前文所述，第一比较结果信号为VDD_sensor小于VDD时比较器输出的信号，第二比较结果信号为VDD_sensor大于VDD时比较器输出的信号。
S504：在比较器输出的信号跳变时，根据电流输入装置向所述取样电路输出的电流，确定待检测的数字电路的电流。
可选的，根据电流输入装置向取样电路输出的电流，确定待检测的数字电路的电流的过程可以包括：对取样电路输出的电流进行拟合，得到待检测的数字电路的电流。
示例性的，可以按照公式拟合得到所述待检测的数字电路的电流；
其中fi(I_SENSOR)＝A*Ii_SENSOR+B*Ii_SENSOR+C，Ii_SENSOR，Ii_SENSOR为向与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路中的第i个取样电路的输出的电流值，I_DIGITAL为所述待检测的数字电路的电流，A、B、C均为预设常数，K为与待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路的总数。
可以理解，如前文所述，待检测的数字电路可以为多个，因此在确定出各待检测的数字电路的电流之后，还可以计算各待检测的数字电路的电流之和。示例性的，可以将大规模集成电路芯片中的每一个数字电路对应构建一个或多个取样电路，进而计算出每一个数字电路的电流。然后对所有数字电路的电流求和即可得到数字电路的电流的总电流。
可以理解，上述电流检测方法可以应用于前述的电流检测电路中。
本申请实施例所提供的电流检测电路和电流检测方法，通过设置与待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路，然后通过电流输入装置和比较器调控输入至取样电路的电流大小直至取样电路的电压与待检测的数字电路的电压基本一致(即比较器输出的信号跳变)，此时由于取样电路的电压与待检测的数字电路的电压基本一致，且取样电路与待检测的数字电路的电流特性也一致，因此基于此时输入至取样电路中的电流大小，可以基于电流特性较为准确地还原出待检测的数字电路的电流，从而实现对于待检测的数字电路的电流的检测。此外，本申请实施例所提供的上述电流检测电路可以与数字电路一并设置于芯片内，从而支持片内自动测试电流，测试效率较背景技术中记载的相关技术而言更高。
基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种芯片，该芯片包括前述的数据传输电路。
可以理解，本申请实施例中所述的芯片可以是但不限于计算芯片(如GPU(Graphics Processing Unit，图形处理器)、CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、MCU(Microcontroller Unit，微控制器)、AI(人工智能)等芯片)、存储芯片(如DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器)、SDRAM(Synchronous DynamicRandom Access Memory，同步动态随机存取内存)、ROM(Read-Only Memory，只读存储器)、NAND(计算机闪存设备)等)、通信芯片(如蓝牙芯片、WiFi芯片、HDMI(High DefinitionMultimedia Interface，高清多媒体接口)芯片等)、感知芯片(如MEMS(MicroelectroMechanical Systems，微机电系统)传感器芯片等)等。
还应理解，在本申请实施例中，芯片上还可以具有诸如I/O总线等部件，以实现芯片内各电路会器件之间的连接，或实现芯片与片外的组件的连接，但不作为限制。
基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种电子部件，包括前述芯片。
可以理解，在本申请实施例中，电子部件可以是但不限于为可独立生产制造的具有前述芯片的通信模组、计算模组、存储模组、板卡等。
基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括前述芯片，或包括前述电子部件。
在本申请实施例中，电子设备可以是但不限于为诸如终端、服务器、路由器等具有芯片设置需要的电子设备。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。所显示或讨论的相互之间的连接可以是通过一些接口焊点进行的连接，可以是电性的。
在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体与另一个实体区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
在本文中，多个是指两个或两个以上。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：
取样电路，所述取样电路的电流特性与待检测的数字电路的电流特性一致；其中，与所述待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路为：与所述待检测的数字电路中的单元一致，且单元间的连接结构也一致，但单元数量更少的电路；
电流输入装置，与所述取样电路连接，以向所述取样电路输出电流；
比较器，分别与所述取样电路和所述待检测的数字电路的供电电源连接，以比较所述取样电路的电压VDD_sensor和所述待检测的数字电路的电压VDD；
所述电流输入装置与所述比较器的输出端连接，用于在所述比较器输出第一比较结果信号或输出第二比较结果信号时，调整向所述取样电路输出的电流；所述第一比较结果信号为所述VDD_sensor小于所述VDD时所述比较器输出的信号，所述第二比较结果信号为所述VDD_sensor大于所述VDD时所述比较器输出的信号；
计算单元，与所述电流输入装置连接，并与所述比较器的输出端连接，用于在所述比较器输出的信号跳变时，对所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流进行拟合，得到所述待检测的数字电路的电流；
其中，对所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流进行拟合，得到所述待检测的数字电路的电流，包括：
按照公式I_DIGITAL=拟合得到所述待检测的数字电路的电流；
其中=A*/>_SENSOR+B*/>_SENSOR+C，/>_SENSOR为向与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路中的第i个取样电路的输出的电流值，I_DIGITAL为所述待检测的数字电路的电流，A、B、C均为预设常数，K为与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路的总数。
2.如权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流检测电路还包括控制电路；
所述电流输入装置通过所述控制电路与所述比较器的输出端连接，所述计算单元通过所述控制电路分别与所述电流输入装置以及所述比较器的输出端连接；
所述控制电路用于在所述比较器输出所述第一比较结果信号或所述第二比较结果信号时，向所述电流输入装置输出触发信号，以触发所述电流输入装置调整向所述取样电路输出的电流，在所述比较器输出的信号跳变时，将所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流值上报所述计算单元。
3.如权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述计算单元为控制器；
所述电流输入装置通过所述控制器与所述比较器的输出端连接，所述控制器用于在所述比较器输出所述第一比较结果信号或所述第二比较结果信号时，向所述电流输入装置输出触发信号，以触发所述电流输入装置调整向所述取样电路输出的电流。
4.如权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流输入装置为电流型数模转换器。
5.如权利要求1-4任一项所述的电流检测电路，其特征在于，与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路为多个。
6.如权利要求1-4任一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述待检测的数字电路为多个，每个所述待检测的数字电路具有一个或多个与该待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路。
7.一种电流检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1-6任一项所述的电流检测电路中，所述方法包括：
向所述取样电路输出电流；所述取样电路的电流特性与待检测的数字电路的电流特性一致；其中，与所述待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路为：与所述待检测的数字电路中的单元一致，且单元间的连接结构也一致，但单元数量更少的电路；
通过所述比较器比较所述取样电路的电压VDD_sensor和所述待检测的数字电路的电压VDD；
在所述比较器输出第一比较结果信号或输出第二比较结果信号时，调整向所述取样电路输出的电流；所述第一比较结果信号为所述VDD_sensor小于所述VDD时所述比较器输出的信号，所述第二比较结果信号为所述VDD_sensor大于所述VDD时所述比较器输出的信号；
在所述比较器输出的信号跳变时，对所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流进行拟合，得到所述待检测的数字电路的电流；
对所述电流输入装置向所述取样电路输出的电流进行拟合，得到所述待检测的数字电路的电流，包括：
按照公式I_DIGITAL=拟合得到所述待检测的数字电路的电流；
其中=A*/>_SENSOR+B*/>_SENSOR+C，/>_SENSOR为向与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路中的第i个取样电路的输出的电流值，I_DIGITAL为所述待检测的数字电路的电流，A、B、C均为预设常数，K为与所述待检测的数字电路的电流特性一致的所述取样电路的总数。
8.如权利要求7所述的电流检测方法，其特征在于，所述待检测的数字电路为多个；在确定出各所述待检测的数字电路的电流之后，所述方法还包括：
计算各所述待检测的数字电路的电流之和。
9.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括待检测的数字电路，以及如权利要求1-6任一项所述的电流检测电路。
10.一种电子部件，其特征在于，包括如权利要求9所述的芯片。
11.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求9所述的芯片，或包括如权利要求10所述的电子部件。
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