CN116414636A - 一种电子产品延寿所需备份件数量计算系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一电子产品延寿所需备份件数量计算系统，属于交付验收检测试技术领域，解决了现有技术中不能有效计算电子产品延寿所需备份件数量的问题。该系统包括：数据获取模块，用于获取待计算备份件数量的电子产品的贮存寿命的寿命数据类型；可靠度计算模块，用于计算所需延寿时间的可靠度，并判断当前可靠度是否大于可靠度阈值，若否，则调整延寿时间，重新计算从产品交付使用时开始到所需延寿时间的可靠度，直至计算出的可靠度大于可靠度阈值，输出最终的延寿时间至备份数量计算模块；备份数量计算模块，用于根据电子产品的贮存寿命的寿命数据类型、延寿时间、产品所需装配的数量以及备份件要求的满足率计算所需延寿时间的备份件数量。
Description
技术领域
本发明涉及交付验收检测试技术领域，尤其涉及一种电子产品延寿所需备份件数量计算系统。
背景技术
随着当代高新技术的快速进步的加速变革，对各类电子产品系统提出了更新、更高、更严的技术要求，对于分系统级、重要设备级产品要求的使用完好率更高，可靠性指标也更高。
当前，电子产品系统的研制工作已经转向以全面提升系统使用效能、满足实际使用需求为主，对整个系统全寿命期的综合效能提出了更高的要求。为了降低的保障难度、缩短技术准备时间，新研制的产品要求以全寿命周期状态出厂、进行测试维护，这就需要所属分系统、重要设备具有更高的交付可靠性。为了满足使用完好性和任务成功性，必须了解产品交付可靠性，以便有效提高其使用可靠性。
国内设备交付可靠性研究的水平与国外相比存在较大差距，交付可靠性测试与评价能力严重不足。由于基础材料数据和相应性能数据的不全，严重影响了系统级、分系统级、重要设备级产品交付可靠性测试的开展进度。
电子产品从正式交付之日起，在规定的包装、维护和贮存条件下，需要满足技术性能要求的存放期限。合格产品在规定的保管、维护和贮存条件下，在规定的贮存时间内维持规定功能的能力。用概率度量这种能力时称为贮存可靠度。在产品通过贮存期鉴定之前，综合利用与产品贮存有关的各种信息，对产品贮存可靠度进行的相关分析、计算和测试成为了当前迫切需要解决的问题。当前的实践中，确定电子产品的延寿所需备份件数量通常是获取较多的备份件数量以备不时之需。然而这种方法的缺点是造成资源的浪费。因此，确定电子产品的延寿所需备份件数量也是当前需要解决的难题。
发明内容
鉴于上述的分析，本发明实施例旨在提供一种电子产品延寿所需备份件数量计算系统，用以解决现有不能有效计算电子产品延寿所需备份件数量的问题。
一方面，本发明实施例提供了一种电子产品延寿所需备份件数量计算系统，包括：
数据获取模块，用于获取待计算备份件数量的电子产品贮存寿命的寿命数据类型；
可靠度计算模块，用于根据所述电子产品贮存寿命的数据类型，以及所述电子产品从交付使用至最后一次检测和维修的时间，计算从产品交付使用时开始到所需延寿时间的可靠度，并判断当前可靠度是否大于可靠度阈值，若否，则调整所述延寿时间，重新计算从产品交付使用时开始到所需延寿时间的可靠度，直至计算出的可靠度大于可靠度阈值，输出最终的延寿时间至备份件数量计算模块；
备份件数量计算模块，用于根据所述电子产品贮存寿命的寿命数据类型、延寿时间、产品所需装配的数量以及备份件要求的满足率计算所需延寿时间的备份件数量。
进一步地，所述系统还包括产品可靠性保证测试装置，所述装置用于对产品进行可靠性保证测试，当测试通过时将产品交付使用，并将产品交付使用时间设定为所需延寿时间的开始时间，记录产品从交付使用至最后一次检测和维修的时间。
进一步地，所述产品可靠性保证测试装置包括控制器、加电模块以及高低温振动试验台；所述加电模块和高低温振动试验台均与控制器连接；
加电模块，在控制器的控制下实现对所述电子产品进行通电，以实现对所述电子产品进行通电测试；
高低温振动试验台，在控制器的控制下对所述电子产品进行加热或制冷，以提供所述电子产品进行测试所需的温度应力环境；以及，在控制器的控制下产生所述电子产品进行振动测试所需的振动应力环境。
进一步地，通过如下公式计算备份件数量：
其中，n为所述电子产品所需装配的数量，所述电子产品的贮存寿命T服从失效率为λ的指数分布，t为产品所需延寿时间，所述延寿时间是从产品交付使用时开始计算的，KP为概率为P的正态分布分位点，P为电子产品的备份件要求的满足率。
进一步地，所述控制器控制所述加电模块和高低温振动试验台实现产品可靠性保证测试，所述可靠性保证测试包括N个循环测试，每个循环测试周期内包括一个温度应力测试、p个振动应力测试和q个电应力测试。
进一步地，所述产品可靠性保证测试N个循环测试，包括：
第一阶段循环测试，包括一个循环测试，测试完成后进行通电测试，若产品没有发生故障则继续测试，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试；
第二阶段循环测试，包括两个循环测试，测试完成后进行通电测试，如果产品没有发生故障则继续测试，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试；
第三阶段循环测试，从第四个循环测试开始至达到规定的测试时间为止，测试完成后进行通电测试，如果产品没有发生故障则认定产品可靠，交付使用，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试。
进一步地，所述控制器，还用于在所述温度应力测试中，控制所述高低温振动试验台的温度变化速率为5℃/min。
进一步地，所述控制器中预先存储有测试时间，所述测试时间为产品的0.212MTBF。
进一步地，所述可靠度计算模块，还用于通过如下公式计算产品可靠度：
其中，产品的寿命数据类型为服从失效率为λ的指数寿命型，t0为从交付使用至最后一次检测和维修的时间，t为产品所需延寿时间，所述延寿时间是从产品交付使用时开始计算的，且t≥t0≥0。
进一步地，所述控制器控制所述高低温振动试验台实现一个温度应力测试，所述温度应力测试依次包括：一个低温应力测试段、一个常温应力测试段、两个高温应力测试段、一个常温应力测试段和一个低温应力测试段的测试；相邻两个温度应力测试段中间还包括温度变化阶段和保温阶段；所述控制器控制高低温振动试验台在各不同温度应力阶段均保持T1时间，在所述温度变化阶段和保温阶段共保持T2时间；
在进行温度应力测试的各个应力测试段，所述控制器控制所述高低温振动试验台实现一个周期振动应力测试，所述一个周期振动应力测试包括：以功率谱密度为W1 g2/Hz的振动应力保持T3时间，以功率谱密度为W2 g2/Hz的振动应力持续T4时间，以功率谱密度为W3g2/Hz的振动应力持续T5时间，以及不施加振动应力持续T2时间，其中，T1＝T3+T4+T5；
在进行温度应力测试的各个应力测试段，所述控制器控制所述加电模块依次执行以下电应力测试：电压为V上限的第一电压应力测试段保持T1时间；电压为V标称的第二电压应力测试段，保持T1时间；电压为V下限的第三电压应力测试段，保持T1时间；不同电压应力测试段之间不施加电压应力持续T2时间。
与现有技术相比，本发明至少可实现如下有益效果之一：
1、本发明提供了一种确定电子产品延寿所需备份件数量的系统，与传统系统相比，通过该系统可以更加合理实现对产品的可靠性的测试，计算得到的产品可靠度更加精确，且大大节省了测试所需的人力物力等资源；
2、本发明提出由电子产品的可靠度来确定延寿所需备份件数量计算模块，从而解决了现有技术中确定数量不够准确的问题；
3、本发明提供的可靠度的计算中采用了在待计算备份件数量的电子产品的0.212MTBF作为规定的测试时间内将N个循环周期分为三阶段检测法作为可靠性检测的方法，能够有效的避免产品出现故障时导致的测试成本过高的问题，可以大大的降低测试的成本。
本发明中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
附图说明
附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本发明的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。
图1为本申请一个实施例所示的电子产品延寿所需备份件数量计算系统框图；
图2为本申请一个实施例所示的电子产品可靠性保障测试方法剖面示意图；
图3为本申请一个实施例所示的电子产品电应力测试剖面图。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理，并非用于限定本发明的范围。
本发明的一个具体实施例，公开了一种电子产品延寿所需备份件数量计算系统，如图1所示。
数据获取模块10，用于获取待计算备份件数量的电子产品的贮存寿命的寿命数据类型；
可靠度计算模块20，用于根据所述电子产品贮存寿命的数据类型，以及所述电子产品从交付使用至最后一次检测和维修的时间，计算从产品交付使用时开始到所需延寿时间的可靠度，并判断当前可靠度是否大于可靠度阈值，若否，则调整所述延寿时间，重新计算从产品交付使用时开始到所需延寿时间的可靠度，直至计算出的可靠度大于可靠度阈值，输出最终的延寿时间至备份件数量计算模块；
具体地，如果通过产品可靠性保证测试的产品没有出现故障，则认为产品合格。通常将合格的产品直接交付使用，并将交付时间设定为计算产品可靠度的开始时间，也是所需延寿时间的开始时间。从产品交付使用后，可以对产品进行一次或多次检测和维修，并分别记录其对应的时间。采用本发明的方法进行测试后的产品可以直接交付使用，并不影响其使用性能。这是本方法与现有技术之间相比所具有的优势，其在方便测试的同时还极大的节省了经济成本。
具体地，将所述产品的可靠度与可靠度阈值相比较是为计算所述产品的延寿所需备份件的数量做准备。如果可靠度过低，则表明不能将产品保存到所需的时间，进而需要调整产品的延寿时间。只有可靠度大于可靠度阈值时，计算所述产品的延寿所需备份件的数量才具有实际的意义。可选地，可靠度阈值应满足电子产品的可靠度在0.75以上。否则，在实际应用中将会出现资源耗费过大的情况。
具体地，当所述可靠度小于等于可靠度阈值时，调整待计算备份件数量的电子产品所需延寿的时间，重新依据调整后的所需延寿时间计算产品的可靠度，直至调整后的所需延寿时间对应的所述可靠度大于所述可靠度阈值；如果所述产品的可靠度小于可靠度阈值，则确定所述产品的延寿所需备份件的数量为无穷大。
具体地，所述可靠度计算模块20，还用于通过如下公式计算产品可靠度：
其中，产品的寿命数据类型为服从失效率为λ的指数寿命型，t0为从交付使用至最后一次检测和维修的时间，t为产品所需延寿时间，所述延寿时间是从产品交付使用时开始计算的，且t≥t0≥0。
具体地，备份件数量计算模块30，用于根据所述电子产品贮存寿命的寿命数据类型、延寿时间、产品所需装配的数量以及备份件要求的满足率计算所需延寿时间的备份件数量。
具体地，通过如下公式计算备份件数量：
其中，n为所述电子产品所需装配的数量，所述电子产品的贮存寿命T服从失效率为λ的指数分布，t为产品所需延寿时间，所述延寿时间是从产品交付使用时开始计算的，KP为概率为P的正态分布分位点，P为电子产品的备份件要求的满足率，可选地，P为0.7。
具体地，为实现产品的可靠性保证测试，所述系统还包括产品可靠性保证测试装置40，所述测试装置40用于对产品进行可靠性保证测试，当测试通过时将产品交付使用，并将产品交付使用时间设定为所需延寿时间的开始时间，记录产品从交付使用至最后一次检测和维修的时间。
具体地，所述产品可靠性保证测试装置40包括控制器、加电模块以及高低温振动试验台；具体地，高低温振动试验台为综合温度和振动环境应力的试验台，具有极宽大的温度控制范围，可获得安全、精准的温度环境，同时在试验箱内将电振动应力按规定的周期施加到电子产品上，可同时实现对电子产品的温度、振动综合应力试验。所述加电模块和高低温振动试验台均与控制器连接；具体地：
加电模块，在控制器的控制下实现对所述电子产品进行通电，以实现对所述电子产品进行通电测试；同时，所述加电模块还可以输出不同等级的电压，试验时，控制器根据试验要求控制加电模块输出不同等级的电压以实现不同电应力测试；
高低温振动试验台，在控制器的控制下对所述电子产品进行加热或制冷，以提供所述电子产品进行测试所需的温度应力环境；以及，在控制器的控制下产生所述电子产品进行振动测试所需的振动应力环境。
具体地，所述控制器控制所述加电模块和高低温振动试验台实现产品可靠性保证测试，所述可靠性保证测试包括N个循环测试，每个循环测试周期内包括一个温度应力测试、p个振动应力测试和q个电应力测试。
具体地，所述控制器控制所述高低温振动试验台实现一个温度应力测试，所述温度应力测试依次包括：一个低温应力测试段、一个常温应力测试段、两个高温应力测试段、一个常温应力测试段和一个低温应力测试段的测试；相邻两个温度应力测试段中间还包括温度变化阶段和保温阶段；所述控制器控制高低温振动试验台在各不同温度应力阶段均保持T1时间，在所述温度变化阶段和保温阶段共保持T2时间；具体地，所述控制器，还用于在所述温度应力测试中，控制所述高低温振动试验台的温度变化速率为5℃/min。
在进行温度应力测试的各个应力测试段，所述控制器控制所述高低温振动试验台实现一个周期振动应力测试，所述一个周期振动应力测试包括：以功率谱密度为W1 g2/Hz的振动应力保持T3时间，以功率谱密度为W2 g2/Hz的振动应力持续T4时间，以功率谱密度为W3g2/Hz的振动应力持续T5时间，以及不施加振动应力持续T2时间，其中，T1＝T3+T4+T5；
在进行温度应力测试的各个应力测试段，所述控制器控制所述加电模块依次执行以下电应力测试：电压为V上限的第一电压应力测试段保持T1时间；电压为V标称的第二电压应力测试段，保持T1时间；电压为V下限的第三电压应力测试段，保持T1时间；不同电压应力测试段之间不施加电压应力持续T2时间。
具体地，所述产品可靠性保证测试N个循环测试，包括：
第一阶段循环测试，包括一个循环测试，测试完成后进行通电测试，若产品没有发生故障则继续测试，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试；
第二阶段循环测试，包括两个循环测试，测试完成后进行通电测试，如果产品没有发生故障则继续测试，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试；
第三阶段循环测试，从第四个循环测试开始至达到规定的测试时间为止，测试完成后进行通电测试，如果产品没有发生故障则认定产品可靠，交付使用，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试。具体地，所述控制器中预先存储有测试时间，所述测试时间为产品的0.212MTBF。
具体地，可靠性保证测试采用一种无失效区间的概念来检验MTBF(平均故障间隔时间)，能保证批产后产品达到某一种规定的最小的MTBF值。保证测试用于可靠性验收的前提条件是产品在定型阶段必须经过可靠性鉴定测试，将可靠性鉴定测试信息作为批产品的先验信息。一般说来，最佳时间要选择得能够为购买方提供一个非常高的通过测试的概率(即98％)，因此规定的测试时间的优选值为产品MTBF值的0.212倍。本实施例中，待评估电子产品的MTBF＝821h，由此可计算得出规定的测试时间为174.06h。
具体地，故障机理分析具体为判断故障是A类故障还是B类故障：
(1)A类故障
参试产品在测试中出现的由于生产不当、元器件缺陷等原因造成的故障，是判断参试产品环境应力极限值的依据。A类故障包括：
a.零部件生产不当、元器件缺陷引起的故障；
b.未证实的故障：指无法重现或尚未查清原因的故障。
更具体地，A类故障又分为：
A1:与寿命有关的责任故障；A2:与寿命无关的责任故障；
其中仅将A1类的故障用于测试统计。
(2)B类故障
由于非设计原因所引起的参试产品故障。B类故障不作为判断参试产品环境应力极限值的依据。B类故障包括：
c.由于测试室提供的测试设备，以及用于检测的仪器、仪表故障引起参试产品的故障；
d.人为对参试产品操作、维护和修理不当引起的故障。
当认定产品可靠时，可以得出产品具有高交付可靠性的结论，满足军事上的关于交付产品在免维护状态下较高的开箱合格率和任务成功率的需求。
与现有技术相比，本发明提供了一种确定电子产品延寿所需备份件数量的系统，与传统系统相比，通过该系统可以更加合理实现对产品的可靠性的测试，计算得到的产品可靠度更加精确，且大大节省了测试所需的人力物力等资源；本发明提出由电子产品的可靠度来确定延寿所需备份件数量的方法，从而解决了现有技术中确定数量不够准确的问题；本发明提供的可靠度的计算中采用了在待计算备份件数量的电子产品的0.212MTBF作为规定的测试时间内将N个循环周期分为三阶段检测法作为可靠性检测的方法，能够有效的避免产品出现故障时导致的测试成本过高的问题，可以大大的降低测试的成本。
具体地，下文中，以具体实施例的方式对电子产品延寿所需备份件数量计算方法中如何进行产品可靠性保证测试进行详细描述：
具体地，在本实施例中，以电子测量设备为例进行具体的说明，测试方案参见表1，电子测量设备的MTBF＝821h，由此可计算得出规定的测试时间为174.06h。具体地，对于其他的电子产品进行的可靠性保障测试，应遵循其对应的任务剖面和使用保管条件要求，因此其测试的具体数值也将因电子产品的不同而各不相同。
表1
| 测试阶段 | 测试条件 | 累计测试时间 |
| 第一阶段循环测试 | 1个冷标热循环测试 | 18h |
| 第二阶段循环测试 | 2个冷标热循环测试 | 54h |
| 第三阶段循环测试 | 继续测试到0.212MTBF | 174.06h |
本发明的技术方案中可靠性测试阶段包括第一阶段循环测试-第三阶段循环测试。将所述可靠性测试阶段分为三个阶段循环测试，能够有效的避免产品出现故障时导致的测试成本过高的问题，可以大大的降低测试的成本。所述三个阶段中循环周期个数的设定是经过对多次实验的数据进行分析得到的，并非本领域技术人员的一种公知常识或者惯用的技术手段，也并非是常规技术选择，其设定相比于其他的设定具有更高的测试效率以及更低的测试成本。
如图2所示，在进行一个循环周期测试的过程中，控制器控制加电模块和高低温振动试验台同时进行温度应力、振动应力和电应力共三种应力的测试。
一、控制器控制高低温振动试验台的温度变化速率为5℃/min，控制器控制高低温振动试验台进行温度应力测试的具体过程如下：
1、以低温-35℃作为温度循环的开始；
2、在低温-35℃保持150分钟进行低温应力测试；
3、将温度升高到常温15℃并保持20分钟；
4、在常温15℃保持150分钟进行常温应力测试；
5、将温度升高到55℃并保持22分钟；
6、在高温55℃保持150分钟进行高温应力测试；
7、保持30分钟(保温阶段，不进行测试)；
8、继续在高温55℃保持150分钟进行高温应力测试；
9、将温度降低到15℃并保持22分钟；
10、在常温15℃保持150分钟进行常温应力测试；
11、将温度降低到-35℃并保持20分钟；
12、在低温-35℃保持150分钟进行低温应力测试。
经过实验确定，温度变化速率的绝对值为3-8℃/分钟效果比较好，而在5℃/分钟时避免测试过程中出现温度冲击的效果为最佳。可选地，本实施例中为避免测试过程中出现温度冲击的情况发生，升温变化速率为5℃/分钟，降温变化速率为-5℃/分钟。
二、控制器控制高低温振动试验台进行振动应力测试的具体过程如下：
(1)施加53分钟加速度功率谱密度为0.00260g2/Hz的振动应力；
(2)施加40分钟加速度功率谱密度为0.00353g2/Hz的振动应力；
(3)施加57分钟加速度功率谱密度为0.00217g2/Hz的振动应力；
保持每个温度段累计振动150分钟。
三、控制器控制加电模块进行电应力测试的具体过程如下：
标称电压为+28.5V，上限电压为+31.5V，下限电压为+25V。
(1)第一循环：直流，31.5V；
(2)第二循环：直流，28.5V；
(3)第三循环：直流，25.5V；
(4)以后各循环(循环数为n>3)，如图3所示，电应力按下述顺序施加：
(5)第n/3余1循环：直流，31.5V
(6)第n/3余2循环：直流，28.5V
(7)第n/3余3循环：直流，25.5V
每个温度段共计通电150分钟；
在本发明的具体实施方式中，通过控制器的控制保证一个温度应力循环的时间中应包括若干振动应力循环和电应力循环。一个温度应力循环的时间恰好为一个循环周期的时间。
如果产品没有出现故障，则认为产品合格。通常将合格的产品直接交付使用，并将交付时间设定为计算产品可靠度的开始时间。从产品交付使用后，可以对产品进行一次或多次检测和维修，并分别记录其对应的时间。
如果产品出现故障，则进行故障机理分析，并中断测试，填写故障报告表后重新进行测试。
本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读存储介质中。其中，所述计算机可读存储介质为磁盘、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，包括：
数据获取模块，用于获取待计算备份件数量的电子产品贮存寿命的寿命数据类型；
可靠度计算模块，用于根据所述电子产品贮存寿命的数据类型，以及所述电子产品从交付使用至最后一次检测和维修的时间，计算从产品交付使用时开始到所需延寿时间的可靠度，并判断当前可靠度是否大于可靠度阈值，若否，则调整所述延寿时间，重新计算从产品交付使用时开始到所需延寿时间的可靠度，直至计算出的可靠度大于可靠度阈值，输出最终的延寿时间至备份件数量计算模块；
备份件数量计算模块，用于根据所述电子产品贮存寿命的寿命数据类型、延寿时间、产品所需装配的数量以及备份件要求的满足率计算所需延寿时间的备份件数量。
2.根据权利要求1所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，所述系统还包括产品可靠性保证测试装置，所述装置用于对产品进行可靠性保证测试，当测试通过时将产品交付使用，并将产品交付使用时间设定为所需延寿时间的开始时间，记录产品从交付使用至最后一次检测和维修的时间。
3.根据权利要求2所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，所述产品可靠性保证测试装置包括控制器、加电模块以及高低温振动试验台；所述加电模块和高低温振动试验台均与控制器连接；
加电模块，在控制器的控制下实现对所述电子产品进行通电，以实现对所述电子产品进行通电测试；
高低温振动试验台，在控制器的控制下对所述电子产品进行加热或制冷，以提供所述电子产品进行测试所需的温度应力环境；以及，在控制器的控制下产生所述电子产品进行振动测试所需的振动应力环境。
4.根据权利要求1所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，
通过如下公式计算备份件数量：
其中，n为所述电子产品所需装配的数量，所述电子产品的贮存寿命T服从失效率为λ的指数分布，t为产品所需延寿时间，所述延寿时间是从产品交付使用时开始计算的，KP为概率为P的正态分布分位点，P为电子产品的备份件要求的满足率。
5.根据权利要求3所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，
所述控制器控制所述加电模块和高低温振动试验台实现产品可靠性保证测试，所述可靠性保证测试包括N个循环测试，每个循环测试周期内包括一个温度应力测试、p个振动应力测试和q个电应力测试。
6.根据权利要求5所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，
所述产品可靠性保证测试N个循环测试，包括：
第一阶段循环测试，包括一个循环测试，测试完成后进行通电测试，若产品没有发生故障则继续测试，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试；
第二阶段循环测试，包括两个循环测试，测试完成后进行通电测试，如果产品没有发生故障则继续测试，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试；
第三阶段循环测试，从第四个循环测试开始至达到规定的测试时间为止，测试完成后进行通电测试，如果产品没有发生故障则认定产品可靠，交付使用，如果出现故障，则中断测试进行故障机理分析后重新进行测试。
7.根据权利要求6所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，
所述控制器，还用于在所述温度应力测试中，控制所述高低温振动试验台的温度变化速率为5℃/min。
8.根据权利要求6所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，
所述控制器中预先存储有测试时间，所述测试时间为产品的0.212MTBF。
9.根据权利要求1所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，
所述可靠度计算模块，还用于通过如下公式计算产品可靠度：
其中，产品的寿命数据类型为服从失效率为λ的指数寿命型，t0为从交付使用至最后一次检测和维修的时间，t为产品所需延寿时间，所述延寿时间是从产品交付使用时开始计算的，且t≥t0≥0。
10.根据权利要求6所述的电子产品延寿所需备份件数量计算系统，其特征在于，
所述控制器控制所述高低温振动试验台实现一个温度应力测试，所述温度应力测试依次包括：一个低温应力测试段、一个常温应力测试段、两个高温应力测试段、一个常温应力测试段和一个低温应力测试段的测试；相邻两个温度应力测试段中间还包括温度变化阶段和保温阶段；所述控制器控制高低温振动试验台在各不同温度应力阶段均保持T1时间，在所述温度变化阶段和保温阶段共保持T2时间；
在进行温度应力测试的各个应力测试段，所述控制器控制所述高低温振动试验台实现一个周期振动应力测试，所述一个周期振动应力测试包括：以功率谱密度为W1 g2/Hz的振动应力保持T3时间，以功率谱密度为W2 g2/Hz的振动应力持续T4时间，以功率谱密度为W3g2/Hz的振动应力持续T5时间，以及不施加振动应力持续T2时间，其中，T1＝T3+T4+T5；
在进行温度应力测试的各个应力测试段，所述控制器控制所述加电模块依次执行以下电应力测试：电压为V上限的第一电压应力测试段保持T1时间；电压为V标称的第二电压应力测试段，保持T1时间；电压为V下限的第三电压应力测试段，保持T1时间；不同电压应力测试段之间不施加电压应力持续T2时间。
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