CN116413823A - 工件检查装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种工件检查装置和方法,其中工件检查装置包括检查本体、检查单元、比对单元、判断单元和策略调整单元,检查本体用于对待检查工件进行扫描检查,检查单元根据预设的检查策略利用检查本体对待检查工件进行扫描检查,比对单元中预先存储有无缺陷工件的质量参数并被配置为将检查单元扫描检查的结果与预先存储的质量参数进行比对,判断单元根据比对单元的比对结果判断是否能够确定待检查工件所存在的缺陷,策略调整单元在判断单元的判断结果为否时调整检查策略,以便检查单元根据调整后的检查策略对待检查工件再次进行扫描检查,直至找到待检查工件所存在的缺陷。
Description
技术领域
本发明涉及缺陷检测技术领域,尤其涉及一种工件检查装置和方法。
背景技术
大型工件的尺寸大、重量大,生产制造过程中一旦出现缺陷,很难进行检查。
以风力发电机的叶片为例,风力发电机作为一种清洁能源得到越来越广泛的应用。风力发电机的叶片作为风力发电的第一个环节,主要作用是将风力高效、安全地传送给发电机动力输入轴。叶片是风力发电机的一个重要部件,它的性能好坏直接影响到风力发电机的质量、寿命和使用成本。
风力发电机的叶片长度从50米到90米,高度从3米到6米,最大重量高达40-50吨,全部由碳纤维、玻璃纤维等复合材料通过特种胶粘结而成。复合材料风机叶片在粘合、转运过程中,不可避免地会出现气孔、裂纹、渗胶、脱粘等缺陷,影响叶片的质量和寿命,甚至可能造成不可估量的损失。因此,对风力发电机的叶片进行质量检测显得非常必要和重要。
大型风机叶片传统的检测方法是采用超声波、红外热成像技术或单视角X射线透视进行无损探伤。
超声波扫描方法一般采用单点回波式扫描,而大型叶片的表面积从300到500平米,全部采用逐点扫描的方法,耗时较长,而且劳动强度大,得到的波形信号还需要进一步处理分析,效率很低、效果不佳。
红外热成像技术则容易受到环境温度影响,对细小缺陷的检测能力弱,且只能测到叶片浅表层缺陷,无法准确获取叶片深度信息,对内部缺陷检测无能为力。
单视角X射线透视成像又分为传统的胶片成像和新兴的数字成像两种方式,胶片成像需要将工业胶片放到叶片局部的后面,射线源从正面进行出束,曝光后再进行显影、定影和烘干,从而得到一幅局部透视照片;数字成像方式则使用数字探测器替换胶片,加上机械移动装置,可以在一次扫描中获取一个视角的全长度叶片透视图像。无论是胶片照相方法获得的局部图像,还是一次DR扫描生成的叶片全长图像,都是叶片单角度图像信息,缺陷在单一角度下的成像会不可避免地产生重叠,无法准确判断缺陷的位置和尺寸。
因此,现有的超声、红外成像、单视角DR成像等方法均不能满足高速、高精度、高质量检测的需要。
目前的行包CT检查系统或者医疗CT检查系统尽管可以实现较高精度的CT检查,可以用在缺陷检查领域,但是由于口径小,无法以相同原理推及大型工件的缺陷检测。
需要说明的是,公开于本发明背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
发明内容
本发明实施例提供一种工件检查装置和方法,有效提高检测效果。
根据本发明的一个方面,提供一种工件检查装置,包括:
检查本体,用于对待检查工件进行扫描检查;
检查单元,与检查本体信号连接,被配置为根据预设的检查策略,并利用检查本体对待检查工件进行扫描检查;
比对单元,与检查单元信号连接,比对单元中预先存储有无缺陷工件的质量参数,比对单元被配置为将检查单元扫描检查的结果与预先存储的质量参数进行比对;
判断单元,与比对单元信号连接,被配置为根据比对单元的比对结果判断是否能够确定待检查工件所存在的缺陷;和
策略调整单元,与判断单元和检查单元信号连接,被配置为在判断单元的判断结果为否时调整检查策略,以便检查单元根据调整后的检查策略对待检查工件再次进行扫描检查,直至找到待检查工件所存在的缺陷。
在一些实施例中,检查本体包括:
检查组件,用于对待检查工件进行扫描检查;
驱动装置,用于驱动检查组件和/或待检查工件运动,以使检查组件和待检查工件发生相对运动;和
控制装置,与检查组件和驱动装置信号连接,控制装置用于控制检查组件和驱动装置,以完成预设的检查任务。
在一些实施例中,工件检查装置还包括第一支撑件和第二支撑件,驱动装置包括第一驱动装置和第二驱动装置,检查组件安装于第一支撑件上,第二支撑件用于支撑待检查工件,第一驱动装置驱动第一支撑件和第二支撑件发生相对转动,第二驱动装置驱动第一支撑件和第二支撑件沿待检查工件的轴线方向相对运动。
在一些实施例中,第一支撑件包括中心设有通孔的第一支撑环,检查组件包括射线源和探测器,射线源和探测器均安装于第一支撑环上且射线源和探测器相对布置,第二支撑件和待检查工件被配置为能够穿过通孔,第一驱动装置驱动第一支撑环相对于第二支撑件转动。
在一些实施例中,工件检查装置还包括第一行走轮,第一行走轮安装于第一支撑环的底部,第二驱动装置驱动第一支撑环相对于第二支撑件沿待检查工件的轴线方向运动;或者,第一行走轮安装于第二支撑件的底部,第二驱动装置驱动第二支撑件相对于第一支撑环沿待检查工件的轴线方向运动。
在一些实施例中,第二支撑件包括用于支撑待检查工件的第二支撑环,检查组件包括射线源和探测器,第一支撑件包括第一支撑架和第二支撑架,射线源安装于第一支撑架,探测器安装于第二支撑架,且第一支撑架和第二支撑架之间设有能够使第二支撑环和待检查工件穿过的通道,第一驱动装置驱动第二支撑环相对于第一支撑件转动。
在一些实施例中,工件检查装置还包括第二行走轮,第二行走轮安装于第二支撑环的底部,第二驱动装置驱动第二支撑环相对于第一支撑件沿待检查工件的轴线方向运动;或者,第二行走轮安装于第一支撑件的底部,第二驱动装置驱动第一支撑件相对于第二支撑环沿待检查工件的轴线方向运动。
在一些实施例中,工件检查装置还包括第一位置传感器,第一位置传感器用于检测检查组件和待检查工件相对转动的角度。
在一些实施例中,工件检查装置还包括第二位置传感器,第二位置传感器用于检测检查组件和待检查工件在沿待检查工件的轴线方向上的相对位置。
在一些实施例中,工件检查装置还包括与检查单元和比对单元信号连接的编号装置,编号装置被配置为对比对单元中预先存储的无缺陷工件在多个不同角度或不同位置处的质量参数和检查单元的多次检测结果分别进行编号,以使比对单元将检查单元扫描检查的结果与对应编号的预先存储的质量参数进行比对。
根据本发明的另一个方面,提供一种工件检查方法,包括:
步骤S1:提供检查本体,用于对待检查工件进行扫描检查;
步骤S2:预先存储无缺陷工件的质量参数;
步骤S3:提供包含多种检查策略的策略库,从策略库中选择检查策略,利用检查本体对待检查工件进行扫描检查;
步骤S4:将扫描检查的结果与预先存储的质量参数进行比对;
步骤S5:根据比对结果,判断是否能够确定待检查工件所存在的缺陷;
若是,检查结束;
若否,调整检查策略,并根据调整后的检查策略,对待检查工件再次进行扫描检查,然后返回步骤S4和S5,直至找到待检查工件所存在的缺陷。
在一些实施例中,策略库包括:
第一检查策略:对待检查工件的多个角度进行DR扫描检查;
第二检查策略:对待检查工件的多个位置进行CT切片扫描检查;
第三检查策略:对待检查工件的局部进行三维图像扫描检查;和
第四检查策略:对待检查工件的整体进行三维图像扫描检查。
在一些实施例中,策略库包括:
第五检查策略:对待检查工件的预设部位进行扫描检查;
第六检查策略:对待检查工件的可疑部位进行扫描检查;和
第七检查策略:先对待检查工件的预设部位进行扫描检查,然后再对待检查工件的可疑部位进行扫描检查;和
第八检查策略:先对待检查工件的可疑部位进行扫描检查,然后再对待检查工件的预设部位进行扫描检查。
在一些实施例中,步骤S3-S5的操作包括:
对待检查工件的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同角度的质量参数进行比对;
对待检查工件的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对;
经过比对后,若能够确定待检查工件所存在的缺陷,则检查结束;
若不能确定待检查工件所存在的缺陷,则对待检查工件的预设部位进行三维图像扫描检查,并将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对;
比对后,若能够确定待检查工件所存在的缺陷,则检查结束;
若不能确定待检查工件所存在的缺陷,则对待检查工件的整体进行三维图像扫描检查,并将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对,以确定待检查工件所存在的缺陷。
在一些实施例中,对待检查工件的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同角度的质量参数进行比对的操作包括:
对待检查工件的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,并将检查结果按照角度进行编号,然后将检查结果与对应编号的预先存储的相同角度的质量参数进行比对。
在一些实施例中,对待检查工件的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对的操作包括:
对待检查工件的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,并将检查结果按照角度进行编号,然后将检查结果与对应编号的预先存储的相同位置的质量参数进行比对。
基于上述技术方案,本发明实施例通过预先存储无缺陷工件的质量参数,可以将检查结果与预先存储的质量参数进行比对,以便判断是否能够确定工件所存在的缺陷;而且,本发明实施例设有策略调整步骤,通过不断调整检查策略,可以逐步确定工件所存在的缺陷,而不需要直接对工件进行全部地扫描检查,有利于减少检查时间,提高检查效率。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1为本发明工件检查装置第一实施例的结构示意图。
图2为本发明工件检查装置第二实施例的结构示意图。
图3为本发明工件检查装置第三实施例的结构示意图。
图4为本发明工件检查装置第四实施例的结构示意图。
图中:
10、待检查工件;21、射线源;22、探测器;31、第一支撑件;311、第一支撑架;312、第二支撑架;32、第二支撑件;41、第一驱动装置;51、第一行走轮;52、第二行走轮;61、第一支撑台;62、第二支撑台。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“横向”、“纵向”、“前”、“后”、“左”、“右”、“上”、“下”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明保护范围的限制。
参考图1至图4所示,在本发明提供的工件检查装置实施例中,该检查装置包括检查本体、检查单元、比对单元、判断单元和策略调整单元,检查本体用于对待检查工件10进行扫描检查,检查单元与检查本体信号连接,检查单元被配置为根据预设的检查策略,并利用检查本体对待检查工件10进行扫描检查,比对单元与检查单元信号连接,比对单元中预先存储有无缺陷工件的质量参数,比对单元被配置为将检查单元扫描检查的结果与预先存储的质量参数进行比对,判断单元与比对单元信号连接,判断单元被配置为根据比对单元的比对结果判断是否能够确定待检查工件10所存在的缺陷,策略调整单元与判断单元和检查单元信号连接,策略调整单元被配置为在判断单元的判断结果为否时调整检查策略,以便检查单元根据调整后的检查策略对待检查工件10再次进行扫描检查,直至找到待检查工件10所存在的缺陷。
其中,无缺陷工件为没有质量缺陷、可作为参考标准的工件,该工件的型号与待检查工件的型号相同,二者的外形、尺寸、材料和制造工艺等参数均相同。
在上述实施例中,通过预先存储无缺陷工件的质量参数,可以将检查结果与预先存储的质量参数进行比对,以便判断是否能够确定工件所存在的缺陷;而且,该实施例设有策略调整单元,通过不断调整检查策略,可以逐步确定工件所存在的缺陷,而不需要直接对工件进行全部地扫描检查,有利于减少检查时间,提高检查效率。
无缺陷工件的质量参数可以为预先存储于比对单元中的数据,比对单元将检查单元扫描检查的结果直接与预先存储的质量参数进行比对;无缺陷工件的质量参数也可以为存储于数据库中的数据,比对单元先从数据库中调用无缺陷工件的质量参数,然后再与检查单元扫描检查的结果进行比对。
无缺陷工件的质量参数可以通过对没有质量缺陷、可作为参考标准的工件进行直接测量获得,也可以通过对多个可能有缺陷的工件的扫描检查结果进行比对、拼接、优化而获得。质量参数包括尺寸、形状、位置、微结构等多个方面的参数。
在本发明实施例中,检查装置通过调整不同的检查策略,逐步确定工件所存在的缺陷以及缺陷位置,检查装置可以通过多种检查策略进行检查,有效提高检查的准确性。
在一些实施例中,工件检查装置还可以包括策略库,策略库中包括多种检查策略,检查单元可以从策略库中选择预设的检查策略。而且,策略调整单元在调整检查策略时,也可以从策略库中选择其他的检查策略。
通过设置策略库,可以提供多种不同的检查策略,以便逐步确定缺陷位置。
检查单元在选择检查策略时,可以从策略库中任选一种,也可以任选两种或更多种。策略调整单元在调整检查策略时,则可以从策略库中任选另外一种其他未选策略,也可以任选另外两种或更多种其他未选策略,还可以同时选择已选策略和未选策略。在选择了多种策略时,多种策略的顺序也可以进行自由调整。
在一些实施例中,策略库包括第一检查策略、第二检查策略、第三检查策略和第四检查策略。
第一检查策略为:对待检查工件10的多个角度进行DR扫描检查。DR扫描检查为利用数字X射线摄影技术对检查工件10进行扫描检查的方法。DR扫描检查通过对处于预设角度的待检查工件10拍摄图像的方式实现检查,其所拍摄的图像为待检查工件10在拍摄方向的投影。通过对多个角度进行DR扫描检查,可以从多个方向拍摄投影图像。
第二检查策略为:对待检查工件10的多个位置进行CT切片扫描检查。CT切片扫描检查为利用X射线束对待检查工件10的某一位置的切片层进行扫描检查的方法。通过对多个位置进行CT切片扫描检查,可以检查一定厚度内的质量缺陷。而且,CT切片扫描检查可以扫描出断层图像,部位之间无重叠。
第三检查策略为:对待检查工件10的局部进行三维图像扫描检查。通过对待检查工件10的局部进行三维图像扫描检查,可以更加准确地判断该局部的质量是否存在缺陷。
第四检查策略为:对待检查工件10的整体进行三维图像扫描检查。整体三维图像扫描检查对质量缺陷的检查准确度更高。
除了根据不同的检查手段可以形成多种检查策略之外,在检查方式上,也可以衍生出多种检查策略。
在一些实施例中,策略库包括第五检查策略、第六检查策略、第七检查策略和第八检查策略。第五检查策略为:对待检查工件10的预设部位进行扫描检查;第六检查策略为:对待检查工件10的可疑部位进行扫描检查;第七检查策略为:先对待检查工件10的预设部位进行扫描检查,然后再对预设部位中的可疑部位进行扫描检查;第八检查策略为:先对待检查工件10的可疑部位进行扫描检查,然后再对待检查工件10的预设部位进行扫描检查。
在检查质量缺陷时,可以仅对待检查工件10的预设部位进行扫描检查,预设部位为根据经验确定出现缺陷的概率较高的部位;也可以仅对在工作过程中发现的可疑部位进行扫描检查,以便提高检查效率。
当然,也可以先对预设部位进行扫描检查,然后再对可疑部位进行扫描检查;或者先对可疑部位进行扫描检查,然后再对预设部位进行扫描检查。
在先对预设部位进行扫描检查,然后再对可疑部位进行扫描检查的实施例中,在对预设部位进行扫描检查后,如果发现可能会存在质量缺陷的部位,可以将其列入后续将要进行扫描检查的可疑部位的序列中,以便对可疑部位进行进一步的检查,提高检查的准确性。
在先对可疑部位进行扫描检查,然后再对预设部位进行扫描检查的实施例中,可疑部位可能包含了后续将要进行扫描检查的某些预设部位,因此在后续检查中可以减少检查部位,提高检查效率。
在一些实施例中,检查本体包括检查组件、驱动装置和控制装置,检查组件用于对待检查工件10进行扫描检查,驱动装置用于驱动检查组件和/或待检查工件10运动,以使检查组件和待检查工件10发生相对运动,控制装置,与检查组件和驱动装置信号连接,控制装置用于控制检查组件和驱动装置,以完成预设的检查任务。
在一些实施例中,工件检查装置还包括第一支撑件31和第二支撑件32,驱动装置包括第一驱动装置41和第二驱动装置,检查组件安装于第一支撑件31上,第二支撑件32用于支撑待检查工件10,第一驱动装置41驱动第一支撑件31和第二支撑件32发生相对转动,第二驱动装置驱动第一支撑件31和第二支撑件32沿待检查工件10的轴线方向相对运动。
通过第一驱动装置41驱动第一支撑件31和第二支撑件32发生相对转动,第二驱动装置驱动第一支撑件31和第二支撑件32沿待检查工件10的轴线方向相对运动,可以实现对待检查工件10的三维图像扫描检查。
在一些实施例中,第一支撑件31包括中心设有通孔的第一支撑环,检查组件包括射线源21和探测器22,射线源21和探测器22均安装于第一支撑环上且射线源21和探测器22相对布置,第二支撑件32和待检查工件10被配置为能够穿过通孔,第一驱动装置41驱动第一支撑环相对于第二支撑件32转动。
在一些实施例中,第一支撑件31可以放置于第一支撑台61上,第二支撑件32可以放置于第二支撑台62上。
如图1所示,在一些实施例中,工件检查装置还包括第一行走轮51,第一行走轮51安装于第二支撑件32的底部,第二驱动装置驱动第二支撑件32相对于第一支撑环沿待检查工件10的轴线方向运动。
如图2所示,在一些实施例中,工件检查装置还包括第一行走轮51,第一行走轮51安装于第一支撑环的底部,第二驱动装置驱动第一支撑环相对于第二支撑件32沿待检查工件10的轴线方向运动。
在一些实施例中,第二支撑件32包括用于支撑待检查工件10的第二支撑环,检查组件包括射线源21和探测器22,第一支撑件31包括第一支撑架311和第二支撑架312,射线源21安装于第一支撑架311,探测器22安装于第二支撑架312,且第一支撑架311和第二支撑架312之间设有能够使第二支撑环和待检查工件10穿过的通道,第一驱动装置驱动第二支撑环相对于第一支撑件31转动。
如图3所示,在一些实施例中,工件检查装置还包括第二行走轮52,第二行走轮52安装于第二支撑环的底部,第二驱动装置驱动第二支撑环相对于第一支撑件31沿待检查工件10的轴线方向运动。
如图4所示,在一些实施例中,工件检查装置还包括第二行走轮52,第二行走轮52安装于第一支撑件31的底部,第二驱动装置驱动第一支撑件31相对于第二支撑环沿待检查工件10的轴线方向运动。
在一些实施例中,工件检查装置可以包括两组第二行走轮52,第一支撑架311和第二支撑架312的底部分别安装一组第二行走轮52,使得射线源21和探测器22可以分别通过对应的第二行走轮52运动。第二驱动装置可以被配置为同时驱动第一支撑架311和第二支撑架312运动,以便保持射线源21和探测器22的运动同步。
在一些实施例中,工件检查装置还包括第一位置传感器,第一位置传感器用于检测检查组件和待检查工件10相对转动的角度。通过设置第一位置传感器,可以对检查组件和待检查工件10相对转动的角度进行检测,便于在检测时记录检查组件和待检查工件10之间的相对角度,同时对不同角度进行编号,方便后续整理和数据调用。
在一些实施例中,工件检查装置还包括第二位置传感器,第二位置传感器用于检测检查组件和待检查工件10在沿待检查工件10的轴线方向上的相对位置。通过设置第二位置传感器,可以对检查组件和待检查工件10在沿待检查工件10的轴线方向上的相对位置进行检测,便于在检测时记录检查组件和待检查工件10在沿待检查工件10的轴线方向上的相对位置,同时对不同位置进行编号,方便后续整理和数据调用。
在一些实施例中,工件检查装置还包括与检查单元和比对单元信号连接的编号装置,编号装置被配置为对比对单元中预先存储的无缺陷工件在多个不同角度或不同位置处的质量参数和检查单元的多次检测结果分别进行编号,以使比对单元将检查单元扫描检查的结果与对应编号的预先存储的质量参数进行比对。
在一些实施例中,编号装置与第一位置传感器和/或第二位置传感器配合使用,编号装置根据第一位置传感器和/或第二位置传感器所检测的待检查工件10的角度或位置来进行编号。
不同的工件可以通过不同的扫描方式进行扫描检查,具体可以根据缺陷控制严格程度、检验时间要求等对工件进行逐步扫描。比如,从简到易,从可能发现的明显缺陷或大尺寸缺陷到不明显缺陷或小尺寸缺陷。
在一些实施例中,本发明检查装置的检查步骤为:
首先,进行无缺陷工件的数据库建立。此时要进行不同角度DR扫描、叶片轴线关键部位的CT切片图像,以及整个工件的三维重建图像。
其次,针对被检查的有潜在缺陷的待检查工件10时,先自动进行多个角度的DR扫描,然后和标准的无缺陷工件在相同位置角度下的DR图像进行比对,此时有可能会发现一些缺陷。
再次,针对轴线关键部位进行CT切片扫描,得到的CT切片图像和数据库中相同位置下的切片图像可以自动进行比对,此时可能会发现更多的缺陷。
针对关键部位或者根据前三个步骤下发现嫌疑缺陷,但是不是特别清晰或明确的情况下,可以针对局部区域分段进行局部多切片扫描或者螺旋CT扫描,然后生成局部三维图像,该图像可以和数据库中整个无缺陷工件三维图像中相应的局部三维图像进行比对。
如果还是不能确定缺陷位置,可以对整个待检查工件10进行全局多切片扫描或者螺旋扫描生成三维图像,然后和数据库中整个无缺陷工件三维图像进行比对,从而确定缺陷位置。
需要说明的是,以上各个步骤是否进行以及进行的顺序可以根据耗时和待检查工件10的缺陷大小等条件进行确定,比如根据要求进行顺序调整或者只进行个别步骤。譬如,如果仅关注某一个部位的细微缺陷,那就不需要进行DR扫描,可以仅对该部位轴向位置前后一定区域内做多切片CT扫描,重建出局部三维图像后与标准的无缺陷工件相应区域的三维图形进行比对。
本发明实施例可以对被检物实现任意角度DR成像,避免由于不同角度成像带来的重叠和错位,可从多角度直观的观察缺陷的透视图像;可以对被检物实现任意位置CT成像,避免DR图像在射线方向上的重叠,可准确判断缺陷的类型、位置、尺寸;通过多角度DR图像和多位置CT图像可分析被检物加工制造的质量,改进工艺流程,降低后期损失,避免安全事故;可预设位置及自动定位进行被检物CT扫描,提高扫描效率,降低人工成本。
本发明还提供一种工件检查方法,该方法包括:
步骤S1:提供检查本体,用于对待检查工件10进行扫描检查;
步骤S2:预先存储无缺陷工件的质量参数;
步骤S3:提供包含多种检查策略的策略库,从策略库中选择检查策略,利用检查本体对待检查工件10进行扫描检查;
步骤S4:将扫描检查的结果与预先存储的质量参数进行比对;
步骤S5:根据比对结果,判断是否能够确定待检查工件10所存在的缺陷;
若是,检查结束;
若否,调整检查策略,并根据调整后的检查策略,对待检查工件10再次进行扫描检查,然后返回步骤S4和S5,直至找到待检查工件10所存在的缺陷。
在一些实施例中,步骤S3-S5的操作包括:
对待检查工件10的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同角度的质量参数进行比对;
对待检查工件10的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对;
经过比对后,若能够确定待检查工件10所存在的缺陷,则检查结束;
若不能确定待检查工件10所存在的缺陷,则对待检查工件10的预设部位进行三维图像扫描检查,并将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对;
比对后,若能够确定待检查工件10所存在的缺陷,则检查结束;
若不能确定待检查工件10所存在的缺陷,则对待检查工件10的整体进行三维图像扫描检查,并将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对,以确定待检查工件10所存在的缺陷。
其中,比对操作包括:根据扫描图像的编号与预先存储的或数据库中相同编号的质量参数进行自动检索并匹配;根据比对结果,利用控制装置驱动检查单元自动定位于有缺陷或疑似有缺陷的部位进行再次检查。数据库可针对不同扫描模式建立,根据位置实时调用标准图像进行人工或自动比对。
在一些实施例中,对待检查工件10的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同角度的质量参数进行比对的操作包括:
对待检查工件10的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,并将检查结果按照角度进行编号,然后将检查结果与对应编号的预先存储的相同角度的质量参数进行比对。
在一些实施例中,对待检查工件10的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对的操作包括:
对待检查工件10的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,并将检查结果按照角度进行编号,然后将检查结果与对应编号的预先存储的相同位置的质量参数进行比对。
上述各个实施例中工件检查装置所具有的积极技术效果同样适用于工件检查方法,这里不再赘述。
在本发明各个实施例中,待检查工件10可以为风力发电机的叶片,也可以为飞机机翼、轮船机组叶片、火车机车车轴等大型工件。
在待检查工件10为风机叶片时,由于叶片长度较长,用于支撑风机叶片的第二支撑件32可以包括至少两个环形件,至少两个环形件分别沿轴向支撑于风机叶片的不同轴向位置,以便进行均匀支撑。
最后应当说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制;尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明,所属领域的普通技术人员应当理解:在不脱离本发明原理的前提下,依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者对部分技术特征进行等同替换,这些修改和等同替换均应涵盖在本发明请求保护的技术方案范围当中。
Claims (16)
1.一种工件检查装置,其特征在于,包括:
检查本体,用于对待检查工件(10)进行扫描检查;
检查单元,与所述检查本体信号连接,被配置为根据预设的检查策略利用所述检查本体对所述待检查工件(10)进行扫描检查;
比对单元,与所述检查单元信号连接,所述比对单元中预先存储有无缺陷工件的质量参数,所述比对单元被配置为将所述检查单元扫描检查的结果与预先存储的质量参数进行比对;
判断单元,与所述比对单元信号连接,被配置为根据所述比对单元的比对结果判断是否能够确定所述待检查工件(10)所存在的缺陷;和
策略调整单元,与所述判断单元和所述检查单元信号连接,被配置为在所述判断单元的判断结果为否时调整所述检查策略,以便所述检查单元根据调整后的所述检查策略对所述待检查工件(10)再次进行扫描检查,直至找到所述待检查工件(10)所存在的缺陷。
2.根据权利要求1所述的工件检查装置,其特征在于,所述检查本体包括:
检查组件,用于对所述待检查工件(10)进行扫描检查;
驱动装置,用于驱动所述检查组件和/或所述待检查工件(10)运动,以使所述检查组件和所述待检查工件(10)发生相对运动;和
控制装置,与所述检查组件和所述驱动装置信号连接,所述控制装置用于控制所述检查组件和所述驱动装置,以完成预设的检查任务。
3.根据权利要求2所述的工件检查装置,其特征在于,还包括第一支撑件(31)和第二支撑件(32),所述驱动装置包括第一驱动装置(41)和第二驱动装置,所述检查组件安装于所述第一支撑件(31)上,所述第二支撑件(32)用于支撑所述待检查工件(10),所述第一驱动装置(41)驱动所述第一支撑件(31)和所述第二支撑件(32)发生相对转动,所述第二驱动装置驱动所述第一支撑件(31)和所述第二支撑件(32)沿所述待检查工件(10)的轴线方向相对运动。
4.根据权利要求3所述的工件检查装置,其特征在于,所述第一支撑件(31)包括中心设有通孔的第一支撑环,所述检查组件包括射线源(21)和探测器(22),所述射线源(21)和所述探测器(22)均安装于所述第一支撑环上且所述射线源(21)和所述探测器(22)相对布置,所述第二支撑件(32)和所述待检查工件(10)被配置为能够穿过所述通孔,所述第一驱动装置(41)驱动所述第一支撑环相对于所述第二支撑件(32)转动。
5.根据权利要求4所述的工件检查装置,其特征在于,还包括第一行走轮(51),所述第一行走轮(51)安装于所述第一支撑环的底部,所述第二驱动装置驱动所述第一支撑环相对于所述第二支撑件(32)沿所述待检查工件(10)的轴线方向运动;或者,所述第一行走轮(51)安装于所述第二支撑件(32)的底部,所述第二驱动装置驱动所述第二支撑件(32)相对于所述第一支撑环沿所述待检查工件(10)的轴线方向运动。
6.根据权利要求3所述的工件检查装置,其特征在于,所述第二支撑件(32)包括用于支撑所述待检查工件(10)的第二支撑环,所述检查组件包括射线源(21)和探测器(22),所述第一支撑件(31)包括第一支撑架(311)和第二支撑架(312),所述射线源(21)安装于所述第一支撑架(311),所述探测器(22)安装于所述第二支撑架(312),且所述第一支撑架(311)和所述第二支撑架(312)之间设有能够使所述第二支撑环和所述待检查工件(10)穿过的通道,所述第一驱动装置(41)驱动所述第二支撑环相对于所述第一支撑件(31)转动。
7.根据权利要求6所述的工件检查装置,其特征在于,还包括第二行走轮(52),所述第二行走轮(52)安装于所述第二支撑环的底部,所述第二驱动装置驱动所述第二支撑环相对于所述第一支撑件(31)沿所述待检查工件(10)的轴线方向运动;或者,所述第二行走轮(52)安装于所述第一支撑件(31)的底部,所述第二驱动装置驱动所述第一支撑件(31)相对于所述第二支撑环沿所述待检查工件(10)的轴线方向运动。
8.根据权利要求2所述的工件检查装置,其特征在于,还包括第一位置传感器,所述第一位置传感器用于检测所述检查组件和所述待检查工件(10)相对转动的角度。
9.根据权利要求2所述的工件检查装置,其特征在于,还包括第二位置传感器,所述第二位置传感器用于检测所述检查组件和所述待检查工件(10)在沿所述待检查工件(10)的轴线方向上的相对位置。
10.根据权利要求1至9任一项所述的工件检查装置,其特征在于,还包括与所述检查单元和所述比对单元信号连接的编号装置,所述编号装置被配置为对所述比对单元中预先存储的无缺陷工件在多个不同角度或不同位置处的质量参数和所述检查单元的多次检测结果分别进行编号,以使所述比对单元将所述检查单元扫描检查的结果与对应编号的预先存储的质量参数进行比对。
11.一种工件检查方法,其特征在于,包括:
步骤S1:提供检查本体,用于对待检查工件(10)进行扫描检查;
步骤S2:预先存储无缺陷工件的质量参数;
步骤S3:提供包含多种检查策略的策略库,从所述策略库中选择所述检查策略,利用所述检查本体对所述待检查工件(10)进行扫描检查;
步骤S4:将扫描检查的结果与预先存储的质量参数进行比对;
步骤S5:根据比对结果,判断是否能够确定所述待检查工件(10)所存在的缺陷;
若是,检查结束;
若否,调整所述检查策略,并根据调整后的所述检查策略,对所述待检查工件(10)再次进行扫描检查,然后返回步骤S4和S5,直至找到所述待检查工件(10)所存在的缺陷。
12.根据权利要求11所述的工件检查方法,其特征在于,所述策略库包括:
第一检查策略:对所述待检查工件(10)的多个角度进行DR扫描检查;
第二检查策略:对所述待检查工件(10)的多个位置进行CT切片扫描检查;
第三检查策略:对所述待检查工件(10)的局部进行三维图像扫描检查;和
第四检查策略:对所述待检查工件(10)的整体进行三维图像扫描检查。
13.根据权利要求11所述的工件检查方法,其特征在于,所述策略库包括:
第五检查策略:对所述待检查工件(10)的预设部位进行扫描检查;
第六检查策略:对所述待检查工件(10)的可疑部位进行扫描检查;
第七检查策略:先对所述待检查工件(10)的预设部位进行扫描检查,然后再对所述待检查工件(10)的可疑部位进行扫描检查;和
第八检查策略:先对所述待检查工件(10)的可疑部位进行扫描检查,然后再对所述待检查工件(10)的预设部位进行扫描检查。
14.根据权利要求11所述的工件检查方法,其特征在于,所述步骤S3-S5的操作包括:
对所述待检查工件(10)的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同角度的质量参数进行比对;
对所述待检查工件(10)的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对;
经过比对后,若能够确定所述待检查工件(10)所存在的缺陷,则检查结束;
若不能确定所述待检查工件(10)所存在的缺陷,则对所述待检查工件(10)的预设部位进行三维图像扫描检查,并将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对;
比对后,若能够确定所述待检查工件(10)所存在的缺陷,则检查结束;
若不能确定所述待检查工件(10)所存在的缺陷,则对所述待检查工件(10)的整体进行三维图像扫描检查,并将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对,以确定所述待检查工件(10)所存在的缺陷。
15.根据权利要求14所述的工件检查方法,其特征在于,对所述待检查工件(10)的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同角度的质量参数进行比对的操作包括:
对所述待检查工件(10)的预设部位的多个角度进行DR扫描检查,并将检查结果按照角度进行编号,然后将检查结果与对应编号的预先存储的相同角度的质量参数进行比对。
16.根据权利要求14所述的工件检查方法,其特征在于,对所述待检查工件(10)的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,同时将检查结果与预先存储的相同位置的质量参数进行比对的操作包括:
对所述待检查工件(10)的预设部位的多个位置进行CT切片扫描检查,并将检查结果按照角度进行编号,然后将检查结果与对应编号的预先存储的相同位置的质量参数进行比对。
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