CN116347928A - 发光显示设备 - Google Patents

Abstract

一种发光显示设备，包括：包括像素和沿第一方向布置的信号线的第一基板；以及设置在第一基板的背面上的第二基板，其中在第一基板的第1‑1侧面和第二基板的第2‑1侧面上设置有包括布线的布线部分。在第一基板中，与第1‑1侧面相邻的第一焊盘部分包括与信号线和布线连接的第一焊盘、以及用于确定布线是否发生缺陷的第一测试焊盘。在第二基板中，与第2‑1侧面相邻的第二焊盘部分包括与布线连接的第二焊盘、以及与第一测试焊盘连接的第二测试焊盘。

Description

发光显示设备

相关申请的交叉引用

本申请要求于2021年12月23日提交的韩国专利申请No.10-2021-0186126的权益，通过引用将该申请并入本文，如同在本文完全阐述一样。

技术领域

本发明涉及一种发光显示设备。

背景技术

在发光显示面板的边界或边缘设置有不显示图像的非显示区域。

为了增加用户的沉浸感(immersion)，非显示区域的宽度已逐渐减小，并且近来提出了不包括非显示区域的发光显示面板。

为了制造不包括非显示区域的发光显示面板，用于将显示图像的第一基板连接至与第一基板结合且装配有各种驱动器的第二基板的布线应设置在第一基板的侧面和第二基板的侧面上。

在这种情况下，需要用于检查布线的质量的结构。

发明内容

因此，本发明旨在提供一种基本上克服了由于相关技术的局限性和缺点而导致的一个或多个问题的发光显示设备。

本发明的一个方面旨在提供一种其中在设置于发光显示面板的侧面中的焊盘之间设置有用于测量布线的电阻的测试焊盘的发光显示设备。

在下面的描述中将部分列出本发明的其它优点和特征，这些优点和特征的一部分在研究以下内容之后对于所属领域普通技术人员将变得显而易见或者可通过本发明的实践领会到。本发明的目的和其他优点可通过所撰写的说明书及其权利要求书以及附图中具体指出的结构来实现和获得。

为了实现这些和其他优点并根据本发明的目的，如在此具体化和概括描述的，提供了一种发光显示设备，包括：包括像素和沿第一方向布置的信号线的第一基板；以及设置在所述第一基板的背面上的第二基板，其中在所述第一基板的第1-1侧面和所述第二基板的第2-1侧面上设置有包括布线的布线部分。在所述第一基板中，与所述第1-1侧面相邻的第一焊盘部分包括与所述信号线和所述布线连接的第一焊盘、以及用于确定所述布线是否发生缺陷的第一测试焊盘。在所述第二基板中，与所述第2-1侧面相邻的第二焊盘部分包括与所述布线连接的第二焊盘、以及与所述第一测试焊盘连接的第二测试焊盘。

应当理解，本发明前面的概括描述和下面的详细描述都是例示性的和解释性的，旨在对本发明提供进一步的解释。

附图说明

被包括用来提供本发明的进一步理解并且并入本申请组成本申请一部分的附图图解了本发明的实施方式，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

在附图中：

图1是图解根据本发明的发光显示设备的配置的示例图；

图2是图解应用于根据本发明的发光显示设备的像素的结构的示例图；

图3是图解根据本发明的发光显示设备的正面和侧面的透视图；

图4是图解根据本发明的发光显示设备的背面和侧面的透视图；

图5是图解根据本发明的发光显示设备的正面的示例图；

图6是示意性图解根据本发明的发光显示设备的背面和侧面的示例图；

图7是图解沿图6中所示的线A-A’截取的剖面的示例图；

图8是图解沿图6中所示的线B-B’截取的剖面的示例图；

图9至图11是图解根据本发明的发光显示设备的背面和侧面的其他示例图。

具体实施方式

现在将详细参考本发明的示例性实施方式，附图中图解了这些实施方式的一些例子。在整个附图中将尽可能使用相同的参考标记指代相同或相似的部件。

将通过参照附图描述的以下实施方式阐明本发明的优点和特征以及其实现方法。然而，本发明可以以不同的形式实施，不应解释为限于在此列出的实施方式。而是，提供这些实施方式是为了使本公开内容全面和完整，并将本发明的范围充分地传递给所属领域技术人员。

为了描述本发明的实施方式而在附图中公开的形状、大小、比例、角度和数量仅仅是示例，因而本发明不限于图解的细节。相同的参考标记通篇指代相同的要素。在下面的描述中，当确定对相关已知功能或构造的详细描述会不必要地使本发明的重点模糊不清时，将省略该详细描述。当在本申请中使用“包括”、“具有”和“包含”描述时，可添加其他部分，除非使用了“仅”。单数形式的术语可包括复数形式，除非有相反指示。

在解释一要素时，该要素解释为包含误差或公差范围，尽管没有明确说明这种误差或公差范围。

在描述位置关系时，例如，当两部分之间的位置关系被描述为“在……上”、“在……上方”、“在……下方”和“在……之后”时，可在这两部分之间设置一个或多个其他部分，除非使用了诸如“正好”或“直接”之类的更限制性的术语。

在描述时间关系时，例如，当时间顺序被描述为“在……之后”、“随后”、“接下来”和“在……之前”时，可包括不连续的情况，除非使用了诸如“紧接”或“直接”之类的更限制性的术语。

将理解到，尽管在此可使用术语“第一”、“第二”等来描述各种要素，但这些要素不应被这些术语限制。这些术语仅仅是用来将一要素与另一要素区分开。例如，在不背离本发明的范围的情况下，第一要素可能被称为第二要素，类似地，第二要素可能被称为第一要素。

在描述本发明的要素时，可使用术语“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(a)”、“(b)”等。这些术语旨在将相应要素与其他要素区分开，这些术语不限制相应要素的本质、次序或序号。当一要素或层“连接至”、“结合至”或“附着至”另一要素或层时，该一要素或层不仅可直接连接或附着至该另一要素或层，而且还可在这些要素或层之间“设置”或“插置”一个或多个中间要素或层的情况下间接连接或附着至该另一要素或层，除非另有说明。

术语“至少一个”应当理解为包括相关所列项目中的一个或多个中的任意一个和所有组合。例如，“第一项目、第二项目和第三项目中的至少一个”表示选自第一项目、第二项目和第三项目中的两个或更多个项目的所有组合以及第一项目、第二项目或第三项目。

所属领域技术人员能够充分理解到，本发明各实施方式的特征可彼此部分或整体地结合或组合，且可在技术上彼此进行各种互操作和驱动。本发明的实施方式可彼此独立实施，或者以相互依赖的关系共同实施。

下文中，将参照附图详细描述本发明的实施方式。

图1是图解根据本发明的发光显示设备的配置的示例图，图2是图解应用于根据本发明的发光显示设备的像素的结构的示例图。

根据本发明的发光显示设备可构成各种电子装置。电子装置例如可包括智能电话、平板电脑(PC)、电视(TV)和显示器。

如图1中所示，根据本发明的发光显示设备可包括：发光显示面板100，发光显示面板100包括显示图像的显示区域120和设置在显示区域120外部的非显示区域130；栅极驱动器200，栅极驱动器200给设置在发光显示面板100的显示区域120中的多条栅极线GL1至GLg提供栅极信号；数据驱动器300，数据驱动器300给设置在发光显示面板100中的多条数据线DL1至DLd提供数据电压；控制器400，控制器400控制栅极驱动器200和数据驱动器300的驱动；以及电源500，电源500给控制器、栅极驱动器、数据驱动器和发光显示面板提供电力。特别是，在根据本发明的发光显示设备中，栅极驱动器200中包括的各级可设置在显示区域120中，并且与各级连接的栅极线GL1至GLg可设置在发光显示面板100中。

首先，发光显示面板100可包括显示区域120和非显示区域130。

在显示区域120中可设置有显示图像的多个像素109，并且非显示区域130可围绕显示区域120。

在本发明中，因为栅极驱动器200中包括的各级设置在显示区域120中，所以非显示区域130的宽度可被最小化。

特别是，在本发明中，可省略非显示区域130。就是说，显示区域120可设置在发光显示面板100的正面的整个表面中。在这种情况下，如上所述，因为与栅极线连接的栅极驱动器200设置在显示区域中，所以可省略用于栅极驱动器200的非显示区域。此外，例如，与数据驱动器300连接的数据线的端部可延伸到图1中所示的发光显示面板100的上端并经由与上端连接的侧面延伸到发光显示面板的背面，并且可连接至在发光显示面板的背面处的数据驱动器300。因此，在发光显示面板100的正面中可不设置用于栅极驱动器200和数据驱动器300的非显示区域以及用于将栅极线和数据线与栅极驱动器200和数据驱动器300连接的焊盘。因此，在本发明中，可省略非显示区域130。

然而，本发明不限于此。因此，可在显示区域120外部设置用于布置各种线和焊盘的非显示区域130。

栅极线GL1至GLg、数据线DL1至DLd和像素109可设置在显示区域120中。此外，构成栅极驱动器200的各级可设置在显示区域120中。因此，显示区域120可显示图像。在此，g和d可分别为自然数。

如图2中所示，发光显示面板100中包括的像素109可包括发光区域，发光区域包括像素驱动电路PDC和发光器件ED，像素驱动电路PDC包括开关晶体管Tsw1、存储电容器Cst、驱动晶体管Tdr和感测晶体管Tsw2。

驱动晶体管Tdr的第一端子可连接至提供高电压EVDD的高电压电源线PLA，并且驱动晶体管Tdr的第二端子可连接至发光器件ED。发光器件ED的阳极可连接至驱动晶体管Tdr的第二端子，并且发光器件ED的阴极可连接至提供低电压EVSS的低电压电源线PLB。

开关晶体管Tsw1的第一端子可连接至数据线DL，开关晶体管Tsw1的第二端子可连接至驱动晶体管Tdr的栅极，并且开关晶体管Tsw1的栅极可连接至栅极线GL。

数据线DL可被提供数据电压Vdata，并且栅极线GL可被提供栅极信号GS。

感测晶体管Tsw2可设置为用于测量驱动晶体管的阈值电压或迁移率。感测晶体管Tsw2的第一端子可连接至驱动晶体管Tdr的第二端子和发光期间ED，感测晶体管Tsw2的第二端子可连接至提供基准电压Vref的基准电压线SL，并且感测晶体管Tsw2的栅极可连接至提供感测控制信号SS的感测控制线SCL。

发光显示面板100中包括的像素109的结构不限于图2中示出的结构。因此，像素109的结构可变为各种形态。

构成像素109的各种绝缘层和电极可设置在诸如玻璃基板或膜之类的衬底基板(下文中简称为基板)上。就是说，发光显示面板100可包括：基板、设置在基板上的多个绝缘层、以及设置在基板上的多个电极。

数据驱动器300可给数据线提供数据电压。

控制器400可通过使用从外部系统传输的时序同步信号重新排列从外部系统传输的输入视频数据并且可产生要被提供至数据驱动器300的数据控制信号DCS和要被提供至栅极驱动器200的栅极控制信号GCS。

为此，控制器400可包括：数据排列器(data aligner)，数据排列器重新排列输入视频数据以产生图像数据Data并且将图像数据Data提供至数据驱动器300；控制信号产生器，控制信号产生器通过使用时序同步信号产生栅极控制信号GCS和数据控制信号DCS；输入单元，输入单元接收从外部系统传输的时序同步信号和输入视频数据，并且分别将时序同步信号和输入视频数据传输至控制信号产生器和数据排列器；以及输出单元，输出单元将由数据排列器产生的图像数据Data和由控制信号产生器产生的数据控制信号DCS提供给数据驱动器300，并且将由控制信号产生器产生的栅极控制信号GCS提供给栅极驱动器200。

外部系统可执行驱动控制器400和电子装置的功能。例如，当电子装置是TV时，外部系统可通过通信网络接收各种语音信息、影像信息和文字信息并且可将接收的影像信息传输至控制器400。在这种情况下，图像信息可包括输入的影像信息。

电源500可产生各种电力并且可将产生的电力提供至控制器400、栅极驱动器200、数据驱动器300和发光显示面板100。

栅极驱动器200可给栅极线GL1至GLg提供栅极脉冲。当由栅极驱动器200产生的栅极脉冲提供至像素109中包括的开关晶体管Tsw1的栅极时，开关晶体管Tsw1可导通。当开关晶体管Tsw1导通时，通过数据线提供的数据电压可被提供至像素109。当由栅极驱动器200产生的栅极截止信号(gate-off signal)提供至开关晶体管Tsw1的栅极时，开关晶体管Tsw1可截止。当开关晶体管Tsw1截止时，可不再给像素109提供数据电压。被提供至栅极线GL的栅极信号GS可包括栅极脉冲和栅极截止信号。

栅极驱动器200可包括多个级，并且这些级可连接至栅极线GL1至GLg。

这些级可包括在发光显示面板100中，特别是，可设置在显示区域120中。

图3是图解根据本发明的发光显示设备的正面和侧面的透视图，图4是图解根据本发明的发光显示设备的背面和侧面的透视图，图5是图解根据本发明的发光显示设备的正面的示例图。

根据本发明的发光显示设备可包括：包括沿第一方向布置的信号线190的第一基板100；以及设置在第一基板100的背面上的第二基板600。第一基板100可通过结合构件900结合至第二基板600。

第一基板100可以是上面参照图1和图2描述的发光显示面板100。因此，在下面的描述中，被分配给发光显示面板的参考标记“100”可被用作第一基板的参考标记。

信号线190可包括：给像素109传输数据电压的数据线DL1至DLd、给像素109传输驱动电压的电源线、给栅极驱动器200传输栅极时钟的栅极时钟线、和给栅极驱动器200传输栅极驱动电压的栅极电源线。

电源线可包括图1和图2中所示的高电压电源线PLA和低电压电源线PLB。

首先，在第一基板100的第1-1侧面和第二基板600的第2-1侧面上可设置有包括多条布线710的布线部分700。

因此，在图3和图4中，第1-1侧面和第2-1侧面可表示设置布线部分700的侧面。

在第一基板100中，与第1-1侧面相邻的第一焊盘部分110可包括与信号线190和布线710连接的多个第一焊盘101。

此外，第一焊盘部分110可包括第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112、以及设置在第1-1主测试焊盘111与第1-2主测试焊盘112之间的第1-1测试焊盘部115。

就是说，第一焊盘部分110可包括第一焊盘101、第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112和第1-1测试焊盘部115。

例如，如图3中所示，第1-1主测试焊盘111可设置在第一焊盘部分110的一端，并且第1-2主测试焊盘112可设置在第一焊盘部分110的另一端。

第1-1测试焊盘部115可设置在第一焊盘部分110的各种位置，例如，可设置在第一焊盘部分110的中央部分。

在第二基板600中，与第2-1侧面相邻的第二焊盘部分610可包括与布线710连接的多个第二焊盘601。

此外，第二焊盘部分610可包括第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612、以及设置在第2-1主测试焊盘611与第2-2主测试焊盘612之间的第2-1测试焊盘部615。

就是说，第二焊盘部分610可包括第二焊盘601、第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612和第2-1测试焊盘部615。

在此，第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112和第1-1测试焊盘部115可以是用于确定布线710是否发生缺陷的第一测试焊盘。就是说，第一焊盘部分110可包括用于确定布线710是否发生缺陷的第一测试焊盘，第一测试焊盘可包括第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112和第1-1测试焊盘部115。

在这种情况下，第二焊盘部分610可包括第二测试焊盘，第二测试焊盘与第一测试焊盘连接并且用于确定布线710是否发生缺陷。就是说，第二焊盘部分610可包括用于确定布线710是否发生缺陷的第二测试焊盘，第二测试焊盘可包括第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612和第2-1测试焊盘部615。

例如，如图4中所示，第2-1主测试焊盘611可设置在第二焊盘部分610的一端，并且第2-2主测试焊盘612可设置在第二焊盘部分610的另一端。

第2-1测试焊盘部615可设置在第二焊盘部分610的各种位置，例如，可设置在第二焊盘部分610的中央部分。

特别是，第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612和第2-1测试焊盘部615可设置为面对第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112和第1-1测试焊盘部115。

因此，第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612和第2-1测试焊盘部615可通过布线部分700中包括的测试布线720分别与第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112和第1-1测试焊盘部115连接。

就是说，第2-1主测试焊盘611可通过相应的测试布线720与第1-1主测试焊盘111连接，并且第2-2主测试焊盘612可通过相应的测试布线720与第1-2主测试焊盘112连接。

提供额外的描述，第1-1主测试焊盘111与第2-1主测试焊盘611可成对地设置并且可通过相应的测试布线720彼此连接。

第1-2主测试焊盘112与第2-2主测试焊盘612可成对地设置并且可通过相应的测试布线720彼此连接。

此外，第1-1测试焊盘部115与第2-1测试焊盘部615可成对地设置并且可彼此电连接。

此外，第一焊盘101与第二焊盘601可成对地设置并且可通过相应的布线710彼此连接。

第1-1测试焊盘部115可包括彼此相邻的两个第1-1测试焊盘113。

第2-1测试焊盘部615可包括彼此相邻并且彼此连接的两个第2-1测试焊盘613。就是说，两个第2-1测试焊盘613可通过第2-1测试焊盘部615中包括的测试焊盘连接线616彼此连接。

两个第1-1测试焊盘113中的每一个可通过布线部分中包括的测试布线720与两个第2-1测试焊盘613之中的彼此面对的第2-1测试焊盘613连接。

就是说，第2-1主测试焊盘611可通过相应的测试布线720与第1-1主测试焊盘111连接，第2-2主测试焊盘612可通过相应的测试布线720与第1-2主测试焊盘112连接，并且两个第1-1测试焊盘113可通过相应的测试布线720与彼此面对的两个第2-1测试焊盘613连接。

最后，如图4中所示，在第二基板600中可设置有包括与第二焊盘601连接的连线640的连线部分690。

除了连线640以外，连线部分690还可包括第2-1测试连线620和第2-2测试连线630。

就是说，如图4中所示，在第二基板600的背面中可设置有与第二焊盘601连接的连线640、与第2-1主测试焊盘611连接的第2-1测试连线620、以及与第2-2主测试焊盘612连接的第2-2测试连线630。

在第2-1测试连线620的末端可设置有与电阻测量装置连接的第2-1测量焊盘621，并且在第2-2测试连线630的末端可设置有与电阻测量装置连接的第2-2测量焊盘631。

在这种情况下，连线640可设置在第2-1测试连线620与第2-2测试连线630之间。

连线640可连接至至少一个驱动器。

连线640中的一些连线可连接至数据驱动器300，连线640中的一些连线可连接至控制器400，并且连线640中的一些连线可连接至电源500。

例如，在图4中，作为本发明的示例，发光显示设备被图解为其中连线640经由装配有数据驱动器300的第一印刷电路板(PCB)301连接至数据驱动器300，并且第一PCB 301连接至装配有控制器400的第二PCB 410。

在这种情况下，电源500可安装在第二PCB 410上。

此外，连线640之中的与控制器400和电源500连接的连线640可经由第一PCB 301和第二PCB 410连接至控制器400和电源500。

为此，在第一PCB 301和第二PCB 410中可设置有与连线640连接的线。

如图4中所示，第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631可直接设置在第二基板600的背面上，但是也可安装在第一PCB 301或第二PCB 410上。当在第一PCB 301或第二PCB410中包括第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631时，在第一PCB 301或第二PCB 410上可安装有与第2-1测试连线620和第2-2测试连线630连接的线。

下文中，将参照图1至图5描述包括上述要素的根据本发明的发光显示设备的结构(特别是，第一基板100的结构)。

如上所述，根据本发明的发光显示设备可包括：包括像素109和沿第一方向布置的信号线190的第一基板100；以及设置在第一基板100的背面上的第二基板600。

在第一基板100中可包括信号线190和像素109。信号线190可包括：给像素109传输数据电压的数据线DL1至DLd、给像素109传输驱动电压的电源线、给栅极驱动器200传输栅极时钟的栅极时钟线、和给栅极驱动器200传输栅极驱动电压的栅极电源线。下文中，为了便于描述，作为本发明的示例，将描述信号线190是数据线的发光显示设备。

就是说，如图3和图5中所示，在第一基板100中可设置有像素109，并且在第一基板100中可设置有与第一焊盘101连接的数据线DL。

第一焊盘部分110中可包括第一焊盘101，并且除了第一焊盘101以外，在第一焊盘部分110中还可设置有第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112和第1-1测试焊盘部115。

栅极驱动器200可包括用于顺序地输出栅极脉冲的级。

每个级可包括多个级晶体管。

在这种情况下，这些级晶体管可设置在第一基板的显示区域120中。

例如，如图5中所示，第m级Stage m可包括多个第m分支电路单元(branch circuitunit)BCm，每个第m分支电路单元BCm都可包括第m级Stage m中所包括的至少一个级晶体管。然而，当第m级Stage m中包括的级晶体管的数量小于第m分支电路单元BCm的数量时，可在至少一个第m分支电路单元BCm中不包括级晶体管。

如图5中所示，第m分支电路单元BCm可设置在由四个像素109构成的单位像素109a之间。例如，单位像素109a可包括白色像素、红色像素、绿色像素和蓝色像素。

就是说，单位像素109a可沿着布置在与数据线DL1至DLd不同的方向上的栅极线GL设置，因而第m分支电路单元BCm也可沿着栅极线GL设置。

在这种情况下，包括与第m分支电路单元BCm连接的级线(stage line)的级线部分可沿着栅极线GL设置。

此外，可与数据线DL1至DLd平行布置与所有级连接并且给所有级传输栅极时钟的栅极时钟线以及给栅极驱动器200传输栅极驱动电压的栅极电源线。栅极时钟线和栅极电源线可与第一焊盘101连接。在这种情况下，栅极时钟线和栅极电源线可包括在信号线190中。

就是说，在根据本发明的发光显示设备中，栅极驱动器200可设置在第一基板100的显示区域120中，并且上述的各种线可以是信号线190。

在这种情况下，信号线190可与第一基板100的第一焊盘部分110中包括的第一焊盘101连接。

第一焊盘101可通过设置在第一基板100的第1-1侧面和第二基板600的第2-1侧面上的布线710与第二基板600的第二焊盘部分610中包括的第二焊盘601连接。

与第二焊盘601连接的连线640可连接至设置在第二基板600的背面上的数据驱动器300、控制器400和电源500。

在这种情况下，第一焊盘部分110中包括的第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112和第1-1测试焊盘113可通过设置在第一基板100的第1-1侧面和第二基板600的第2-1侧面上的测试布线720分别与第二焊盘部分610中包括的第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612和第2-1测试焊盘613连接。

在第二基板600的背面中，与电阻测量装置连接的第2-1测量焊盘621可设置在与第2-1主测试焊盘611连接的第2-1测试连线620的末端，并且与电阻测量装置连接的第2-2测量焊盘631可设置在与第2-2主测试焊盘612连接的第2-2测试连线630的末端。

如图4中所示，第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631可直接设置在第二基板600的背面上，或者可安装在第一PCB 301或第二PCB 410上。

下文中，将参照图6至图11描述根据本发明的发光显示设备的各个示例。在下面的描述中，省略或将简要描述与上面参照图1至图5描述的细节相同或相似的细节。

图6是示意性图解根据本发明的发光显示设备的背面和侧面的示例图,图7是图解沿图6中所示的线A-A’截取的剖面的示例图，图8是图解沿图6中所示的线B-B’截取的剖面的示例图。

特别是，在图6中，作为本发明的示例图解了包括一个第1-1测试焊盘部115和一个第2-1测试焊盘部615的发光显示设备。此外，为了便于描述，作为本发明的示例在图6中图解了其中设置在侧面上的布线710和测试布线720的数量为18的发光显示设备。然而，布线710和测试布线720的数量可根据发光显示设备的尺寸而进行各种设定。

如上所述，第1-1测试焊盘部115可包括彼此相邻的两个第1-1测试焊盘113，并且第2-1测试焊盘部615可包括彼此相邻并且通过测试焊盘连接线616彼此连接的两个第2-1测试焊盘613。

两个第1-1测试焊盘113可通过测试布线720分别与彼此面对的两个第2-1测试焊盘613连接。

就是说，根据本发明的发光显示设备可包括一个第1-1测试焊盘部115和一个第2-1测试焊盘部615。

在这种情况下，两个第1-1测试焊盘113中的一个可与第1-1主测试焊盘111连接，并且两个第1-1测试焊盘113中的另一个可与第1-2主测试焊盘112连接。

例如，在图6所示的发光显示设备中，一个第1-1测试焊盘113可与设置在发光显示设备的右侧的第1-1主测试焊盘111连接，并且另一个第1-1测试焊盘113可与设置在发光显示设备的左侧的第1-2主测试焊盘112连接。

在这种情况下，两个第1-1测试焊盘113中的一个和第1-1主测试焊盘111可通过第1-1主连接线116a彼此连接，并且两个第1-1测试焊盘113中的另一个和第1-2主测试焊盘112可通过第1-2主连接线116b彼此连接。

例如，如图6中所示，第1-1主测试焊盘111和一个第1-1测试焊盘113可通过第1-1主连接线116a彼此连接，并且第1-2主测试焊盘112和另一个第1-1测试焊盘113可通过第1-2主连接线116b彼此连接。

就是说，第1-2主连接线116b可与第1-2主测试焊盘112连接，并且如图7中所示，第1-1主连接线116a可与第1-1主测试焊盘111连接。

在这种情况下，第1-1主测试焊盘111可与第1-1主连接线116a连接，或者如图7中所示可通过第1-1主测试焊盘电极114与第1-1主连接线116a连接。第1-1主测试焊盘电极114可形成在与信号线190相同的层上。

此外，第1-1主连接线116a可与第一焊盘101绝缘，并且第1-2主连接线116b可与第一焊盘101绝缘。

例如，如图8中所示，第1-1主连接线116a可隔着绝缘层193与第一焊盘101重叠，此外，第1-2主连接线116b可隔着绝缘层193与第一焊盘101重叠。

提供额外的描述，在图7和图8中，第一基板100可包括第一衬底基板191、缓冲层192、绝缘层193、第一钝化层194、堰部(dam)195、第二钝化层196和封装层197。例如，可在缓冲层192、绝缘层193和第一钝化层194之间设置各种电极。因此，可提供构成上面参照图2描述的像素驱动电路PDC的各种晶体管和上面参照图5描述的级晶体管。发光器件ED可设置在第一钝化层194上并且可被第二钝化层196保护，最后可在第二钝化层196上设置封装层197。此外，用于支撑第二钝化层196的堰部195可设置在显示区域120的端部。

在这种情况下，第1-1主连接线116a可设置在缓冲层192与绝缘层193之间，信号线190和第1-1主测试焊盘电极114可设置在绝缘层193与第一钝化层194之间，并且第一焊盘101、第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112和第1-1测试焊盘113可设置在第一钝化层194上。

因此，第1-1主连接线116a可隔着绝缘层193与第一焊盘101重叠。

然而，除图7和图8中所示的结构以外，第一基板100还可形成为各种结构。

此外，在图7和图8中，第二基板600可包括第二衬底基板691、第一层692和第二层693。

例如，连线640、第2-1测试连线620和第2-2测试连线630可设置在第二衬底基板691与第一层692之间。

第二焊盘601、第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612和第2-1测试焊盘613可设置在第一层692和第二层693之一上。

在这种情况下，布线710、测试布线720、第一焊盘101、第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112、第1-1测试焊盘113、第二焊盘601、第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612和第2-1测试焊盘613可如图7和图8中所示被涂层800保护。

在根据如上参照图6至图8描述的本发明的发光显示设备中，第2-1测量焊盘621可通过第2-1测试连线620、第2-1主测试焊盘611、测试布线720、第1-1主测试焊盘111、第1-1主连接线116a、第1-1测试焊盘113、测试布线720、第2-1测试焊盘613、测试焊盘连接线616、第2-1测试焊盘613、测试布线720、第1-1测试焊盘113、第1-2主连接线116b、第1-2主测试焊盘112、测试布线720、第2-2主测试焊盘612和第2-2测试连线630与第2-2测量焊盘631电连接。

在这种情况下，第1-1测试焊盘113和第2-1测试焊盘613的位置可根据要测量布线的电阻的位置而进行各种变化。

例如，在制造的发光显示设备中，第1-1测试焊盘113和第2-1测试焊盘613可设置在布线缺陷较多的位置。在这种情况下，当从与测试布线720电连接的第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631的每一个测量的电阻值在预定电阻值范围内时，可确定设置在发光显示设备的侧面上的所有布线710是正常的。

然而，当从与测试布线720电连接的第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631的每一个测量的电阻值在预定电阻值范围之外时，可确定设置在发光显示设备的侧面上的其他布线710中发生缺陷。在这种情况下，可通过更准确的测试确定布线710是否发生缺陷。

在根据如上参照图6至图8描述的本发明的发光显示设备中，第1-1测试焊盘113和第2-1测试焊盘613可设置在发光显示设备的侧面的各种位置中的仅一个位置。

在这种情况下，即使测量的电阻值正常，设置在其他位置的布线710中也可能发生缺陷。

因此，在本发明中，如下所述，测试布线720可设置在发光显示设备的侧面的两个或更多个位置。

图9至图11是图解根据本发明的发光显示设备的背面和侧面的其他示例图。

首先，在图9中，图解了其中除了第1-1测试焊盘部115和第2-1测试焊盘部615以外进一步设置有第1-2测试焊盘部125和第2-2测试焊盘部625的发光显示设备。

就是说，除了第1-1测试焊盘部115以外，第一焊盘部分110可进一步包括设置在第1-1主测试焊盘111与第1-2主测试焊盘112之间的第1-2测试焊盘部125，并且除了第2-1测试焊盘部615以外，第二焊盘部分610可进一步包括设置在第2-1主测试焊盘611与第2-2主测试焊盘612之间的第2-2测试焊盘部625。第1-2测试焊盘部125可包括彼此相邻的两个第1-2测试焊盘123。第2-2测试焊盘部625可包括彼此相邻并且通过第2-2测试焊盘连接线626彼此连接的两个第2-2测试焊盘623。

两个第1-2测试焊盘123中的每一个可通过测试布线720与两个第2-2测试焊盘623之中的彼此面对的第2-2测试焊盘623连接。

在这种情况下，两个第1-1测试焊盘113中的一个可通过第1-1主连接线116a与第1-1主测试焊盘111连接，两个第1-2测试焊盘123中的一个可通过第1-2主连接线116b与第1-2主测试焊盘112连接，并且两个第1-1测试焊盘113中的另一个可通过第1-3主连接线116c与两个第1-2测试焊盘123中的另一个连接。

根据如上所述的本发明，测试布线720可设置在发光显示设备的侧面的两个部分(例如，发光显示设备的侧面的左部和右部)处，如图9中所示。

在这种情况下，当从设置在两个部分处的每条测试布线720测量的电阻值在预定范围内时，可预测设置在两个部分处的测试布线720附近的布线710是正常的。因此，可提高布线710的测试可靠性。

其次，为了更加提高布线710的测试可靠性，除了第1-1测试焊盘部115、第2-1测试焊盘部615、第1-2测试焊盘部125和第2-2测试焊盘部625以外，可在发光显示设备的侧面上进一步设置至少一个第1-3测试焊盘部135和至少一个第2-3测试焊盘部635。

就是说，第一焊盘部分110可进一步包括设置在第1-1主测试焊盘111与第1-2主测试焊盘112之间的至少一个第1-3测试焊盘部135，并且第二焊盘部分610可进一步包括设置在第2-1主测试焊盘611与第2-2主测试焊盘612之间的至少一个第2-3测试焊盘部635。

例如，如图10中所示，图解了其中除了第1-1测试焊盘部115、第2-1测试焊盘部615、第1-2测试焊盘部125和第2-2测试焊盘部625以外进一步设置有至少一个第1-3测试焊盘部135和至少一个第2-3测试焊盘部635的发光显示设备。

在这种情况下，将第1-3测试焊盘部135和第2-3测试焊盘部635与其他元件连接的方法与将第1-2测试焊盘部125和第2-2测试焊盘部625与其他元件连接的方法相似，因此省略其详细描述。

根据如上所述的本发明，测试布线720可设置在发光显示设备的侧面的三个部分处，并且可进一步设置对应于第1-3测试焊盘部135和第2-3测试焊盘部635的测试焊盘部。因此，测试布线720可设置在发光显示设备的侧面的三个或更多个部分处。

在这种情况下，当从设置在三个或更多个部分处的每条测试布线720测量的电阻值在预定范围内时，可预测设置在三个或更多个部分处的测试布线720附近的布线710是正常的。因此，可提高布线710的测试可靠性。

第三，根据如上参照图9和图10描述的本发明的发光显示设备可包括第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631。

然而，如图11中所示，除了第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631以外，根据本发明的发光显示设备可进一步包括第4-1测量焊盘621a和第4-2测量焊盘631a。

为此，根据本发明的发光显示设备可进一步包括分别与第1-1主测试焊盘111、第1-2主测试焊盘112、第1-1测试焊盘部115、第2-1主测试焊盘611、第2-2主测试焊盘612和第2-1测试焊盘部615对应的第3-1主测试焊盘111a、第3-2主测试焊盘112a、第3-1测试焊盘部115a、第4-1主测试焊盘611a、第4-2主测试焊盘612a和第4-1测试焊盘部615a。

在这种情况下，第2-1主测试焊盘611可设置在第二焊盘部分610的一端，第2-2主测试焊盘612可设置在第二焊盘部分610的中央部分，第4-1主测试焊盘611a可与第2-2主测试焊盘612相邻设置第二焊盘部分610的中央部分，并且第4-2主测试焊盘612a可设置在第二焊盘部分610的另一端。

例如，如图11中所示，第2-1主测试焊盘611可设置在第二焊盘部分610的右端，第2-2主测试焊盘612可设置在第二焊盘部分610的中央部分，第4-1主测试焊盘611a可与第2-2主测试焊盘612相邻设置第二焊盘部分610的中央部分，并且第4-2主测试焊盘612a可设置在第二焊盘部分610的左端。

此外，第1-1主测试焊盘111可设置在第一焊盘部分110的右端，第1-2主测试焊盘112可设置在第一焊盘部分110的中央部分，第3-1主测试焊盘111a可与第1-2主测试焊盘112相邻设置第一焊盘部分110的中央部分，并且第3-2主测试焊盘112a可设置在第一焊盘部分110的左端。

在这种情况下，与电阻测量装置连接的第2-1测量焊盘621可设置在与第2-1主测试焊盘611连接的第2-1测试连线620的末端，并且与电阻测量装置连接的第2-2测量焊盘631可设置在与第2-2主测试焊盘612连接的第2-2测试连线630的末端。此外，与电阻测量装置连接的第4-1测量焊盘621a可设置在与第4-1主测试焊盘611a连接的第4-1测试连线620a的末端，并且与电阻测量装置连接的第4-2测量焊盘631a可设置在与第4-2主测试焊盘612a连接的第4-2测试连线630a的末端。

在这种情况下，在图11所示的发光显示设备中，测试布线720可设置在第2-1主测试焊盘611与第2-2主测试焊盘612之间的两个或更多个部分处，并且测试布线720可设置在第4-1主测试焊盘611a与第4-2主测试焊盘612a之间的两个或更多个部分处。因此，可提高布线710的测试可靠性。

与构成数据驱动器300的第一数据驱动器IC 310连接的连线640可设置在与第2-1主测试焊盘611连接的第2-1测试连线620和与第2-2主测试焊盘612连接的第2-2测试连线630之间，并且与构成数据驱动器300的第二数据驱动器IC 320连接的连线640可设置在与第4-1主测试焊盘611a连接的第4-1测试连线620a和与第4-2主测试焊盘612a连接的第4-2测试连线630a之间。

第一数据驱动器IC 310和第二数据驱动器IC 320可设置在不同的PCB上。

就是说，构成数据驱动器300的第一数据驱动器IC 310和第二数据驱动器IC 320的位置可根据连线640、第2-1测试连线620、第2-2测试连线630、第4-1测试连线620a和第4-2测试连线630a的布置结构而进行各种变化。

此外，在图11中，图解了包括两个数据驱动器IC 310和320的发光显示设备，但是不限于此，根据本发明的发光显示设备可包括三个或更多个数据驱动器IC。

就是说，根据本发明的发光显示设备可进一步包括分别与第3-1主测试焊盘111a、第3-2主测试焊盘112a、第3-1测试焊盘部115a、第4-1主测试焊盘611a、第4-2主测试焊盘612a和第4-1测试焊盘部615a对应的至少一个第5-1主测试焊盘、至少一个第5-2主测试焊盘、至少一个第5-1测试焊盘部、至少一个第6-1主测试焊盘、至少一个第6-2主测试焊盘和至少一个第6-1测试焊盘部。

当进一步设置上述元件时，设置测试布线720的位置的数量可更多增加。

如上所述，随着设置测试布线720的位置的数量增加，可更加提高布线710的测试可靠性。

提供额外的描述，根据本发明的发光显示设备可包括与电阻测量装置和第二焊盘部分610连接的至少两个测量焊盘部分。

至少两个测量焊盘部分的每一个可与第二焊盘部分连接。

在这种情况下，至少两个测量焊盘部分的每一个可包括与电阻测量装置连接的两个测量焊盘。

例如，在图11中，图解了包括两个测量焊盘部分的发光显示设备。在这种情况下，两个测量焊盘部分中的一个测量焊盘部分可包括与电阻测量装置连接的第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631，并且两个测量焊盘部分中的另一个测量焊盘部分可包括与电阻测量装置连接的第4-1测量焊盘621a和第4-2测量焊盘631a。

在这种情况下，一个测量焊盘部分中包括的两个测量焊盘(例如，第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631)可与第二焊盘部分610连接，并且第二焊盘部分610可通过布线部分700中包括的至少两条测试布线720与第一焊盘部分110连接。

就是说，一个测量焊盘部分中包括的两个测量焊盘(例如，第2-1测量焊盘621和第2-2测量焊盘631)可与第二焊盘部分610中包括的第2-1主测试焊盘611和第2-2主测试焊盘612连接，并且第2-1主测试焊盘611和第2-2主测试焊盘612可通过至少两条测试布线720与第一焊盘部分110中包括的第1-1主测试焊盘111和第1-2主测试焊盘112连接，从而可形成一条电阻测量线。

根据本发明，因为在设置于发光显示面板的侧面上的焊盘之间设置有用于测量布线的电阻的测试焊盘，所以可比相关技术更准确地确定设置在侧面上的布线是否发生缺陷。

因此，可准确地确定在布线中发生缺陷的发光显示设备，因而可降低有缺陷的发光显示设备被出货的概率。

此外，可对在布线中发生缺陷的发光显示设备执行修复工序，因而可降低发光显示设备的缺陷率。

本发明的上述特征、结构和效果包括在本发明的至少一个实施方式中，但不仅限于一个实施方式。此外，所属领域技术人员可通过其他实施方式的组合或修改实现在本发明的至少一个实施方式中描述的特征、结构和效果。因此，与组合和修改相关的内容应当解释为在本发明的范围内。

在不背离本发明的精神或范围的情况下，可在本发明中进行各种修改和变化，这对于所属领域技术人员来说将是显而易见的。因而，本发明旨在覆盖落入所附权利要求的范围及其等同范围内的本发明的修改和变化。

Claims (14)

1.一种发光显示设备，包括：

包括像素和沿第一方向布置的信号线的第一基板；以及

设置在所述第一基板的背面上的第二基板，

其中在所述第一基板的第1-1侧面和所述第二基板的第2-1侧面上设置有包括布线的布线部分，

在所述第一基板中，与所述第1-1侧面相邻的第一焊盘部分包括与所述信号线和所述布线连接的第一焊盘、以及用于确定所述布线是否发生缺陷的第一测试焊盘，并且

在所述第二基板中，与所述第2-1侧面相邻的第二焊盘部分包括与所述布线连接的第二焊盘、以及与所述第一测试焊盘连接的第二测试焊盘。

2.根据权利要求1所述的发光显示设备，其中所述第一焊盘部分包括第1-1主测试焊盘、第1-2主测试焊盘、以及设置在所述第1-1主测试焊盘与所述第1-2主测试焊盘之间的第1-1测试焊盘部，并且

所述第二焊盘部分包括第2-1主测试焊盘、第2-2主测试焊盘、以及设置在所述第2-1主测试焊盘与所述第2-2主测试焊盘之间的第2-1测试焊盘部。

3.根据权利要求2所述的发光显示设备，其中所述第1-1测试焊盘部包括彼此相邻的两个第1-1测试焊盘，所述第2-1测试焊盘部包括彼此相邻并且彼此连接的两个第2-1测试焊盘，并且

所述两个第1-1测试焊盘中的每一个通过所述布线部分中包括的测试布线与所述两个第2-1测试焊盘之中的彼此面对的第2-1测试焊盘连接。

4.根据权利要求3所述的发光显示设备，其中所述两个第1-1测试焊盘中的一个与所述第1-1主测试焊盘连接，并且所述两个第1-1测试焊盘中的另一个与所述第1-2主测试焊盘连接。

5.根据权利要求4所述的发光显示设备，其中所述两个第1-1测试焊盘中的一个通过第1-1主连接线与所述第1-1主测试焊盘连接，

所述两个第1-1测试焊盘中的另一个通过第1-2主连接线与所述第1-2主测试焊盘连接，

所述第1-1主连接线与所述第一焊盘绝缘，并且

所述第1-2主连接线与所述第一焊盘绝缘。

6.根据权利要求3所述的发光显示设备，其中所述第一焊盘部分进一步包括设置在所述第1-1主测试焊盘与所述第1-2主测试焊盘之间的第1-2测试焊盘部，并且

所述第二焊盘部分进一步包括设置在所述第2-1主测试焊盘与所述第2-2主测试焊盘之间的第2-2测试焊盘部。

7.根据权利要求6所述的发光显示设备，其中所述第1-2测试焊盘部包括彼此相邻的两个第1-2测试焊盘，所述第2-2测试焊盘部包括彼此相邻并且彼此连接的两个第2-2测试焊盘，并且

所述两个第1-2测试焊盘中的每一个可通过所述布线部分中包括的测试布线与所述两个第2-2测试焊盘之中的彼此面对的第2-2测试焊盘连接。

8.根据权利要求7所述的发光显示设备，其中所述两个第1-1测试焊盘中的一个通过第1-1主连接线与所述第1-1主测试焊盘连接，

所述两个第1-2测试焊盘中的一个通过第1-2主连接线与所述第1-2主测试焊盘连接，并且

所述两个第1-1测试焊盘中的另一个通过第1-3主连接线与所述两个第1-2测试焊盘中的另一个连接。

9.根据权利要求6所述的发光显示设备，其中第一焊盘部分进一步包括设置在所述第1-1主测试焊盘与所述第1-2主测试焊盘之间的至少一个第1-3测试焊盘部，并且

所述第二焊盘部分进一步包括设置在所述第2-1主测试焊盘与所述第2-2主测试焊盘之间的至少一个第2-3测试焊盘部。

10.根据权利要求2所述的发光显示设备，其中所述第二基板包括：

与所述第二焊盘连接的连线；

与所述第2-1主测试焊盘连接的第2-1测试连线；和

与所述第2-2主测试焊盘连接的第2-2测试连线。

11.根据权利要求10所述的发光显示设备，其中在所述第2-1测试连线的末端设置有与电阻测量装置连接的第2-1测量焊盘，并且

在所述第2-2测试连线的末端设置有与所述电阻测量装置连接的第2-2测量焊盘。

12.根据权利要求10所述的发光显示设备，其中所述连线设置在所述第2-1测试连线与所述第2-2测试连线之间。

13.根据权利要求1所述的发光显示设备，其中所述第二基板包括：

与所述第二焊盘连接的连线；和

与电阻测量装置和所述第二焊盘部分连接的至少两个测量焊盘部分，并且

所述至少两个测量焊盘部分的每一个与所述第二焊盘部分连接。

14.根据权利要求13所述的发光显示设备，其中所述至少两个测量焊盘部分的每一个包括与所述电阻测量装置连接的两个测量焊盘，

所述两个测量焊盘与所述第二焊盘部分连接，并且

所述第二焊盘部分通过所述布线部分中包括的至少两条测试布线与所述第一焊盘部分连接。

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